材料现代测试方法

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材料现代分析测试方法-rietveld

材料现代分析测试方法-rietveld

材料A的Rietveld分析
通过Rietveld分析确定了材料 A的晶格参数和晶体结构。对定量 分析,确定了多相材料的不 同相的含量。
应力分析中的Rietveld 分析
利用Rietveld分析和细致的晶 格参数测定,研究了材料内 部应力分布的变化。
材料现代分析测试方法rietveld
欢迎来到本次演讲,我们将介绍材料现代分析测试方法中的一种重要技术— —Rietveld分析。让我们一起探索这个引人入胜的领域。
什么是Rietveld分析
Rietveld分析是一种用于材料结构精确测定和相对定量分析的X射线衍射技术。它通过模拟实验光 谱与理论衍射谱之间的匹配,获得材料中的晶格参数、晶体结构和物相信息。
高分子材料
用于聚合物晶体结构、配位化合物和疏水 材料的分析。
Rietveld分析的优势和局限性
优势
• 高精度的结构测定 • 广泛适用于不同材料和结构类型 • 非破坏性分析
局限性
• 对样品质量和衍射数据的要求较高 • 无法解析非晶态或非结晶态样品 • 需要对实验结果进行仔细解释
Rietveld分析的实例和案例研究
总结和展望
Rietveld分析作为一种先进的材料现代分析测试方法,在材料科学和许多其他领域具有广泛应用前 景。希望本次演讲能为大家提供了对Rietveld分析的全面了解和启发。
3 模型优化
4 结构分析
通过最小二乘法将实验和计算的衍射谱 拟合。
从拟合结果中提取材料的晶格参数和晶 体结构信息。
Rietveld分析的应用领域
材料科学
用于研究材料的晶体结构、相变以及材料 表征。
地球科学
用于研究岩石、矿石和地质样品的晶体结 构和相组成。
药物化学

现代材料测试技术测试方法1精选全文

现代材料测试技术测试方法1精选全文

4.1差热分析
4.1.1差热分析的基本原理
2、差热分析的基本理论
ΔH=KS
差热曲线的峰谷面积S和 反应热效应△H成正比, 反应热效应越大,峰谷 面积越大。
具有相同热效应的反应, 传热系数K越小,峰谷面 积越大,灵敏度越高。
4.1差热分析
4.1.2差热分析曲线
1、DTA曲线的特征 DTA曲线是将试样和参比物置于
2、DTA曲线的温度测定及标定:外推法(反应起点、转变点、 终点) 外延起始温度——表示反应的起始温度
3、DTA曲线的影响因素 差热分析是一种热动态技术,在测试过程中体系的温度不断变 化,引起物质热性能变化。因此,许多因素都可影响DTA曲 线的基线、峰形和温度。归纳起来,影响DTA曲线的主要因 素有下列几方面:
用相同质量的试样和升温速度对不同粒度的胆矾进 行研究(如图)。说明颗粒大小影响反应产物的扩散 速度,过大的颗粒和过小的颗粒都可能导致反应温 度改变,相邻峰谷合并,分辨率下降。
4.1差热分析
4.1.2差热分析曲线
试样用量的多少与颗粒大 小对DTA曲线有着类似的 影响,试样用量多,放热 效应大,峰顶温度滞后, 容易掩盖邻近小峰谷,特 别是对在反应过程中有气 体放出的热分解反应。
(1)仪器方面的因素:包括加热炉的形状和尺寸,坩埚材料及大 小,热电偶的位置等。
(2)试样因素:包括试样的热容量、热导率和试样的纯度、结晶 度或离子取代以及试样的颗粒度、用量及装填密度等。
(3)实验条件:包括加热速度、气氛、压力和量程、纸速等。
4.1差热分析
4.1.2差热分析曲线
(1)热容和热导率的变化: 试样的热容和热导率的变化会引起 差热曲线的基线变化,一台性能良 好的差热仪的基线应是一条水平直 线,但试样差热曲线的基线在反应 的前后往往不会停留在同一水平上, 这是由于试样在反应前后热容或热 导率变化的缘故。

材料现代分析测试方法1-1

材料现代分析测试方法1-1

L-S耦合
称总自旋量子数,表征 的大小。 称总自旋量子数,表征PS的大小。 称总(轨道)角量子数,表征P 的大小。 称总(轨道)角量子数,表征 L的大小。 称内量子数(或总量子数),表征P 的大小, ),表征 称内量子数(或总量子数),表征 J的大小, 为正整数或半整数,取值为: 为正整数或半整数,取值为:L+S,L+S-1, , , L+S-2,…,│L-S│, , , , 个值; 若L≥S,则J有2S+1个值; , 有 个值 个值。 若L<S,则J有2L+1个值。 < , 有 个值 MJ 称总磁量子数,表征 J沿外磁场方向分量大小, 称总磁量子数,表征P 沿外磁场方向分量大小, MJ 取值为:0,±1,±2,…,±J(当J为整数时) 取值为: , 为整数时) , , , ( 为整数时 或±1/2,±3/2,…,±J(当J为半整数时)。 , , , ( 为半整数时)。 为半整数时 S L J J
L-S耦合可记为: 耦合可记为:
)(l )=(S, )= )=J (s1,s2, …)( 1,l2, …)=( ,L)= )( )=( 将各电子自旋角动量( 将各电子自旋角动量(Ps1,Ps2,…)与各电 ) 子轨道角动量( 子轨道角动量 ( Pl1 , Pl1 , …) 分别加和 ( 矢量 ) 分别加和( 获得原子的总自旋角动量 和),获得原子的总自旋角动量PS和总轨道角动量 PL,然后再由PS与PL合成总(自旋-轨道)角动量PJ 合成总 自旋-轨道) (即P J=P S+P L)。 耦合, 按L-S耦合,得到S、L、J、MJ等表征原子运动 状态的原子量子数。 状态的原子量子数。
或任意正整数; 1)主量子数变化Δn=0或任意正整数; 主量子数变化Δ 2)总角量子数变化ΔL=±1; 总角量子数变化Δ 3)内量子数变化ΔJ=0,±1(但J=0时,ΔJ=0的跃 内量子数变化Δ 迁是禁阻的); 迁是禁阻的); 4)总自旋量子数的变化ΔS=0。 总自旋量子数的变化Δ

材料现代分析测试方法教学设计

材料现代分析测试方法教学设计

材料现代分析测试方法教学设计1. 引言材料现代分析测试方法是材料科学中的重要领域,它不仅关系到材料的性能评估、质量控制、过程优化等方面,也与材料基础研究密切相关。

本文旨在探讨如何针对材料现代分析测试方法的教学设计,提高学生的实验技能、科学素养和综合素质。

2. 教学目标1.了解材料现代分析测试方法的技术基础、原理和应用;2.掌握现代分析测试方法的基本技能,包括样品制备、测试操作、数据处理等;3.培养学生的实验思维、实验技能和科学态度;4.提高学生的综合素质,包括团队协作、口头表达、写作能力等。

3. 教学内容3.1 材料现代分析测试方法概述介绍材料现代分析测试方法的发展历程、技术分类、应用领域等,使学生了解不同的现代测试方法的特点和优势。

3.2 样品制备与仪器调试掌握样品制备的基本方法和实验技巧,包括样品收集、样品制备、样品保存等方面内容。

同时,对仪器操作、仪器调试等方面进行详细介绍和演示,以保证实验数据的准确性和稳定性。

3.3 现代分析测试方法基础实验介绍常见的材料现代分析测试方法,包括SEM、TEM、XRD、XRF等方法,通过实验演示的方式来掌握分析测试方法的基本操作技能。

3.4 分析测试方法的综合应用选取一些案例,通过现代分析测试方法对材料进行分析测试,提高学生对分析测试方法的综合应用能力。

4. 教学方法与手段该课程以理论与实践相结合的方式进行,顺序讲解每个部分内容,进行示范,引导学生进行操作练习。

同时,结合课程设计,设计习题,让学生进行思考、探讨和解决问题。

5. 教学评价本课程的教学评价是单项评估和综合评估相结合的方式,主要由实验操作能力、实验报告写作和课堂表现三个方面来综合考察学生的综合素质。

6. 教学效果预期通过本次课程的学习,学生将对材料现代分析测试方法有了新的认识和理解,掌握了相关的基本技能和知识。

这将为他们未来的学习学术研究和实践应用打下基础,并有助于提高他们实验技能、科学素养和综合素质。

材料现代分析测试方法

材料现代分析测试方法

材料现代分析方法深圳大学材料学院主讲:李均钦材料现代分析方法主要参考书:1. 周玉主编,材料分析方法,哈工大出版社2007年版。

2. 黄新民、解挺编,材料分析测试方法,国防工业出版社2006年版。

3. 王富耻主编材料现代分析测试方法,北京理工大学出版社2006年版。

4. 梁敬魁编,粉末衍射法测定晶体结构,科学出版社2003年版。

绪论能源人类文明的三大支柱{{信息材料结构材料功能材料材料:用以制造有用构件、器件或其它物品的物质结构材料: 耐高温、耐高压、高强度材料等功能材料: 磁性材料、半导体材料、超导体材料化学成分材料的性能主要取决于{结构组织形态为了了解所获材料的化学组成、物相组成、结构、组织形态及各种研究技术对材料性能的影响,需要采用相应的分析表征方法。

材料现代分析方法是一门技术性实验方法性的课程。

绪论材料现代分析测试方法的含义:广义:技术路线、实验技术、数据分析狭义:测试组成和结构的仪器方法如:X射线衍射分析电子显微分析表面分析热分析光谱分析(光谱和色谱-高分子方向单独开)绪论化学成分材料的性能主要取决于{结构组织形态本课程主要介绍研究材料化学组成、物相组成、结构、组织形态的现代分析方法。

本课程的内容主要有:1、X射线粉末衍射分析(XRD:X-ray diffraction)主要用于物相分析和晶体结构的测定。

它所获取的所有信息都基于材料的结构。

绪论本课程的内容主要有:1、X射线粉末衍射分析(XRD:X-ray diffraction)主要用于物相分析和晶体结构的测定。

它所获取的所有信息都基于材料的结构。

绪论本课程的内容主要有:2、透射电子显微镜(TEM)(transition electron microscope)电子束透过薄膜样品,用于观察样品的形态,通过电子衍射测定材料的结构,从而确定材料的物相。

分辨率:0.34nm● 加速电压:75kV-200kV;放大倍数:25万倍● 能谱仪:EDAX -9100;扫描附件:S7010 透射电镜绪论本课程的内容主要有:3)扫描电子显微镜(SEM)电子束在样品表面扫描,用于观察样品的形貌(具有立体感);通过电子束激发样品的特征X射线获取样品的成分信息。

SEM和EDS的现代分析测试方法

SEM和EDS的现代分析测试方法

第四节 SEM的构造
一. 电子光学系统
组成: 电子枪, 电磁聚光镜, 光阑, 样品室等.
作用: 用来获得扫描电子束, 作为 使样品产生各种物理信号的 激发源.
1. 电子枪 2. 聚光镜(电磁透镜) 3. 光阑 4. 样品室
用于SEM的电子枪有两种类型
热电子发射型: 普通热阴极三极电子枪 六硼化镧阴极电子枪
一. 导电材料试样制备
1. 试样尺寸尽可能小些,以减轻 仪器污染和保持良好真空。
2. 切取试样时,要避免因受热引 起试样塑性变形,或在观察面 生成氧化层;要防止机械损伤 或引进水、油污及尘埃等污物。
3. 观察表面,特别是各种断口间 隙处存在污物时,要用无水乙 醇、丙酮或超声波清洗法清理 干净。
4. 故障构件断口或电器触点处存 在的氧化层及腐蚀产物,不要 轻易清除。
三. 波谱仪与能谱仪比较
与波谱仪相比,能谱仪的缺点: 1. 能量分辨率低. 2. 峰背比差、检测极限高,定量 分析精度差. 3. Be窗. 4. LN2冷却.
三. 信号检测放大系统
作用:检测样品在入射电子束作 用下产生的物理信号,然 后经视频放大,作为显象 系统的调制信号。
检测器类型
1. 电子检测器:由闪烁体、光导 管和光电倍增器组成。
2. 阴极荧光检测器:由光导管、 光电倍增器组成。
3. X射线检测系统:由谱仪和检测 器两部分组成。
四. 图象显示和记录系统
组成:显示器、照相机、打印机 等。
作用:把信号检测系统输出的调 制信号转换为在阴极射线 管荧光屏上显示的样品表 面某种特征的扫描图象, 供观察或照相记录。
五. 电源系统
组成:稳压、稳流及相应的安全 保护电路等。
作用:提供扫描电子显微镜各部 分所需要的电源。

“材料现代分析测试方法”精品课程建设实践

“材料现代分析测试方法”精品课程建设实践

起到领军作 用 ; 过 配备 一定 比例 的辅 导教 师 和实 验教 通 师, 除辅导学 生基础 理论 知识 和实验 操作 过程外 , 可 以 还
启 发 学 生 进 行 创 造 性学 习 和 研 究 , 如 带 领 学 生 进 行 科 技 例
发 明创造 , 鼓励他们 申请专 利、 加科技竞 赛等 ; 参 鼓励博士 研究生参与到精 品课 程建设 中来 , 任助 教工 作 , 仅能 担 不 够锻炼他们在教育教学方面 的组 织表达 能力 , 能够促进 还
第2 卷 第 1 4 期
2 1年 1 0 0 月
教 育 与 教 学研 究
Ed c to n e c i g Re e r h u ai n a d T a hn s ac
V_ . 4 0 2 No 1 1 .
J n. a 2O1 0
‘ 料 现代 分析 测 试 方法 ” 品课 程 建 设 实 践 * ‘ 材 精
一材料现代分析测试方法课程概述教材是课里程碑现代文明的重要支柱内容体系为基础注重理论与实践的结合集纸质教材多发展高新技术的基础和先导材料的分析测试技术亦随时媒体课件网络课程资源库教学参考书等教材的综合优代的变迁日益高科技化和现代化发挥着越来越重要的作势形成以纸质教材为主电子和音像教材相依托的立体用
之上 , 利用 自身发展优势 , 先后开展 了“ 液压伺 服与 比例控
制系统” “ 、材料现 代分 析测试 方法 ” 等多 项 国家级 和省 级 精品课程建设 , 取得 了实质性进展 。


精 品课程建设应关 注的焦点 问题
到大幅提高 ;3 举办名师教学观摩、 () 示范课 , 中青年教师 对 提高精品课程教学 质量起 到带动 和促进作用 ;4举 办青年 () 教师教学基本 功竞 赛 , 既能 起到 互相学 习 的作用 , 能起 又

材料现代分析测试方法

材料现代分析测试方法

材料现代分析测试方法材料的现代分析测试方法是为了研究材料的组成、结构、性质以及相应的测试手段。

通过分析测试方法,我们可以深入了解材料的特点,进而为材料的研发、优化和应用提供有效的数据支持。

下面将介绍几种常用的材料现代分析测试方法。

一、质谱分析法质谱分析法是一种通过测量样品中不同质荷比(m/z)的离子的相对丰度来确定样品组成和结构的分析方法。

质谱分析法适用于分析有机物和无机物。

其优点是能快速分析出物质组成,提供准确的质量数据,对于结构复杂的样品仍能有效分析。

二、核磁共振(NMR)谱学核磁共振谱学是一种通过测量样品中核自旋与磁场相互作用的现象来分析样品结构和组成的方法。

不同核的共振频率和强度可以提供关于样品分子结构和组成的信息。

核磁共振谱学适用于有机物和无机物的分析。

由于从核磁共振谱图中可以获得丰富的结构信息,所以核磁共振谱学被广泛应用于有机化学、药物研发和材料科学等领域。

三、红外光谱学红外光谱学是一种通过测量样品对不同波长的红外辐射的吸收情况来分析样品结构和组成的方法。

不同官能团在红外区域会有特定的吸收峰位,因此红外光谱能提供有关样品中化学键和官能团的信息。

红外光谱学适用于有机物和无机物的分析。

它具有非破坏性、快速、易于操作等特点,在化学、生物和材料科学领域得到了广泛应用。

四、X射线衍射(XRD)X射线衍射是一种通过测量样品对入射X射线的衍射现象来研究样品结构和晶体结构的方法。

不同物质的晶格结构具有不同的衍射图样,通过分析衍射图样可以获得样品的晶体结构信息。

X射线衍射适用于分析有晶体结构的材料,如金属、陶瓷、单晶等。

它能提供关于晶体结构、晶粒尺寸和应力等信息,被广泛应用于材料科学、地质学和能源领域。

五、扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)扫描电子显微镜和透射电子显微镜是一种通过聚焦电子束对材料进行观察和分析的方法。

扫描电子显微镜主要用于获得材料的表面形貌、颗粒分布和成分分析。

透射电子显微镜则能提供材料的内部结构和界面微观结构的信息。

材料现代分析测试方法习题答案

材料现代分析测试方法习题答案

第一章1. X 射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?2. 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射;(2)用CuK βX 射线激发CuK α荧光辐射;(3)用CuK αX 射线激发CuL α荧光辐射。

3. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”?4. X 射线的本质是什么?它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在?用哪些物理量描述它?5. 产生X 射线需具备什么条件?6. Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中?7. 计算当管电压为50 kv 时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。

8. 特征X 射线与荧光X 射线的产生机理有何异同?某物质的K 系荧光X 射线波长是否等于它的K 系特征X 射线波长?9. 连续谱是怎样产生的?其短波限V eV hc 301024.1⨯==λ与某物质的吸收限kk k V eV hc 31024.1⨯==λ有何不同(V 和V K 以kv 为单位)? 10. Ⅹ射线与物质有哪些相互作用?规律如何?对x 射线分析有何影响?反冲电子、光电子和俄歇电子有何不同?11. 试计算当管压为50kv 时,Ⅹ射线管中电子击靶时的速度和动能,以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大能量是多少?12. 为什么会出现吸收限?K 吸收限为什么只有一个而L 吸收限有三个?当激发X 系荧光Ⅹ射线时,能否伴生L 系?当L 系激发时能否伴生K 系?13. 已知钼的λK α=0.71Å,铁的λK α=1.93Å及钴的λK α=1.79Å,试求光子的频率和能量。

试计算钼的K 激发电压,已知钼的λK =0.619Å。

已知钴的K 激发电压V K =7.71kv ,试求其λK 。

14. X 射线实验室用防护铅屏厚度通常至少为lmm ,试计算这种铅屏对CuK α、MoK α辐射的透射系数各为多少?15. 如果用1mm 厚的铅作防护屏,试求Cr K α和Mo K α的穿透系数。

材料现代分析测试方法-rietveld

材料现代分析测试方法-rietveld

进行Rietveld精修的前提
衍射数据: 一套步进的衍射数据:2=10-120˚ 或更宽,步长 2 = 0.02˚,扫描时间1-50s (由仪器决定); 大致精确的初始结构模型 正确的空间群 大致的晶胞参数 大致的原子参数 熟悉的Rietveld精修软件 Fullprof; GSAS; Rietaca; Topas……
– /srd/nist3.h tm – Inorganic & Organic
•Over 230000 entries
A new structural database(2003): aimed at freely retrieving data
18000 Patterns already!
Cobalt Antimonide (1/3)
H 0 0
结构文件(CIF)主要信息
Structured Co Sb3 Unit Cell 9.0347(6) 9.0347(6) 9.0347(6) 90. 90. 90. Vol 737.46 ; Z 8 Space Group I m -3; SG Number 204 Cryst Sys cubic Atom # OX SITE x y z SOF Co 1 +0 8 c 0.25 0.25 0.25 1. Sb 1 +0 24 g 0 0.3351(10) 0.1602(10) 1.
•ICSD (Minerals and Inorganics) •ICDD diffraction data
– http://www.fizkarlsruhe.de/
– Minerals and Inorganic
– Over 60000 entries
•Cambridge Structure Data Bank)

期末考试:现代材料测试分析方法及答案

期末考试:现代材料测试分析方法及答案

期末考试:材料现代测试分析法及答案一、考试说明本次期末考试主要考察学生对材料现代测试分析法的理解和掌握程度。

考试内容涵盖各种现代测试分析方法的基本原理、测试步骤、数据处理及结果分析等方面。

二、考试内容1. X射线衍射分析法(XRD)基本原理: XRD是一种利用X射线在晶体中的衍射效应来分析晶体结构的方法。

测试步骤:样品准备、X射线发生与检测、数据收集与处理。

答案: XRD主要用于分析材料的晶体结构、相组成、晶粒大小等。

2. 扫描电子显微镜(SEM)基本原理: SEM利用电子束扫描样品表面,通过探测器收集信号,从而获得样品的形貌和成分信息。

测试步骤:样品制备、电子束聚焦与扫描、信号采集与处理。

答案: SEM适用于观察材料的微观形貌、表面成分和晶体结构等。

3. 透射电子显微镜(TEM)基本原理: TEM利用电子束透过样品,通过电磁透镜聚焦和放大,观察样品内部的微观结构。

测试步骤:样品制备、电子束聚焦与传输、图像采集与处理。

答案:TEM适用于研究材料内部的晶体结构、界面、缺陷等。

4. 能谱分析法(EDS)基本原理: EDS利用高能电子束激发样品,产生二次电子、特征X射线等,通过能量色散分析这些信号,获取样品成分信息。

测试步骤:样品制备、电子束激发、信号检测与分析。

答案: EDS用于分析材料的元素组成和化学成分。

5. 原子力显微镜(AFM)基本原理: AFM利用原子力探针扫描样品表面,通过检测探针与样品间的相互作用力,获得样品表面的形貌和力学信息。

测试步骤:样品准备、原子力探针扫描、信号采集与处理。

答案: AFM适用于观察材料表面的形貌、粗糙度、力学性质等。

三、考试要求1. 掌握各种现代测试分析方法的基本原理。

2. 熟悉相关测试设备的操作步骤和注意事项。

3. 能够对测试数据进行处理和结果分析。

四、考试形式本次考试采用闭卷形式,包括选择题、填空题、简答题和计算题。

五、考试时间120分钟。

六、答案解析1. XRD主要用于分析材料的晶体结构、相组成、晶粒大小等。

现代材料测试方法

现代材料测试方法

现代材料测试方法现代材料测试方法随着科技的不断进步,材料的种类也越来越多,而对于这些材料的性能和质量的测试也变得越来越重要。

现代材料测试方法主要包括以下几种:1.力学性能测试力学性能测试是对材料的强度、硬度、韧性等方面进行的测试。

常用的测试方法包括拉伸试验、压缩试验、弯曲试验等。

这些试验可以帮助人们了解材料在受力情况下的行为和性能。

2.物理性能测试物理性能测试是对材料的热膨胀系数、导热系数、电阻率等方面进行的测试。

常用的测试方法包括热膨胀系数测定仪、导热系数测定仪、电阻率测定仪等。

这些试验可以帮助人们了解材料在不同温度和电场下的行为和性能。

3.化学性能测试化学性能测试是对材料在不同环境中化学稳定性和耐腐蚀性进行的测试。

常用的测试方法包括酸碱溶液浸泡试验、盐雾腐蚀试验等。

这些试验可以帮助人们了解材料在不同化学环境中的稳定性和耐腐蚀性。

4.表面性能测试表面性能测试是对材料表面的光泽度、粗糙度、摩擦系数等方面进行的测试。

常用的测试方法包括表面粗糙度测量仪、摩擦系数测量仪等。

这些试验可以帮助人们了解材料表面的质量和特性。

5.非破坏性测试非破坏性测试是对材料进行无损检测,以了解其内部结构和缺陷情况。

常用的测试方法包括超声波检测、X射线检测、磁粉探伤等。

这些试验可以帮助人们了解材料内部的缺陷情况,从而判断其质量和可靠性。

总之,现代材料测试方法涵盖了多个方面,每种测试方法都有其特定的目的和适用范围。

通过这些测试,可以更好地了解材料的性能和质量,为实际应用提供有力支持。

材料现代分析测试方法

材料现代分析测试方法

材料现代分析测试方法材料现代分析测试方法是指利用现代科学技术手段对材料进行分析和测试的方法。

随着科学技术的不断发展,材料分析测试方法也在不断更新和完善。

现代材料分析测试方法的发展,为材料科学研究和工程应用提供了更加精准、高效的手段,对于提高材料性能、改善材料品质、保障产品质量具有重要意义。

一、光学显微镜分析。

光学显微镜是一种常用的材料分析测试仪器,通过观察材料的微观形貌和结构特征,可以对材料的晶体结构、晶粒大小、晶界分布等进行分析。

通过光学显微镜观察,可以直观地了解材料的表面形貌、断口形貌等信息,为进一步的分析提供基础数据。

二、扫描电子显微镜分析。

扫描电子显微镜是一种高分辨率的显微镜,可以对材料进行高清晰度的表面形貌观察和微区分析。

通过扫描电子显微镜,可以观察到材料的微观形貌、晶粒形貌、晶界形貌等细节特征,对于材料的微观结构分析具有重要意义。

三、X射线衍射分析。

X射线衍射是一种常用的材料结构分析方法,通过测定材料对X射线的衍射图样,可以得到材料的晶体结构信息。

X射线衍射可以确定材料的晶格常数、晶体结构类型、晶面取向等重要参数,对于材料的结构表征具有重要意义。

四、质谱分析。

质谱分析是一种对材料进行成分分析的方法,通过质谱仪对材料进行分子离子的质量分析,可以确定材料的成分组成和相对含量。

质谱分析可以对材料的有机成分、无机成分、杂质成分等进行准确的定性和定量分析,为材料的成分表征提供重要依据。

五、热分析。

热分析是一种通过对材料在不同温度下的热性能进行测试和分析的方法,包括热重分析、差热分析、热膨胀分析等。

通过热分析,可以了解材料的热稳定性、热分解特性、热膨胀性能等重要参数,为材料的热性能评价提供重要依据。

六、表面分析。

表面分析是一种对材料表面成分、结构和性能进行分析的方法,包括X射线光电子能谱分析、原子力显微镜分析、电子探针分析等。

通过表面分析,可以了解材料表面的成分分布、表面形貌、表面粗糙度等重要信息,为材料的表面性能评价提供重要依据。

期末考试:现代材料测试分析方法及答案

期末考试:现代材料测试分析方法及答案

期末考试:现代材料测试分析方法及答案一、引言本文旨在介绍现代材料测试分析方法,并提供相关。

现代材料测试分析方法是材料科学与工程领域的重要内容之一,它帮助我们了解材料的性质和特性,为材料的设计和应用提供依据。

本文将首先介绍几种常见的现代材料测试分析方法,然后给出相应的。

二、现代材料测试分析方法1. 机械性能测试方法机械性能是材料的重要指标之一,它包括材料的强度、硬度、韧性等方面。

常见的机械性能测试方法包括拉伸试验、压缩试验、冲击试验等。

这些测试方法通过施加外力或载荷,测量材料在不同条件下的变形和破坏行为,从而评估材料的机械性能。

2. 热性能测试方法热性能是材料在高温或低温条件下的表现,它包括热膨胀性、热导率、热稳定性等方面。

常见的热性能测试方法包括热膨胀试验、热导率测试、热分析等。

这些测试方法通过加热或冷却材料,测量其在不同温度下的性能变化,从而评估材料的热性能。

3. 化学性能测试方法化学性能是材料在不同化学环境中的表现,它包括耐腐蚀性、化学稳定性等方面。

常见的化学性能测试方法包括腐蚀试验、酸碱浸泡试验等。

这些测试方法通过将材料置于不同的化学介质中,观察其在化学环境下的变化,从而评估材料的化学性能。

三、1. 机械性能测试方法的应用机械性能测试方法广泛应用于材料工程领域。

例如,在汽车工业中,拉伸试验可以评估材料的抗拉强度和延伸性,从而选择合适的材料制造汽车零部件。

在建筑工程中,压缩试验可以评估材料的抗压强度,确保建筑结构的稳定性和安全性。

在航空航天领域,冲击试验可以评估材料的抗冲击性能,确保飞机在遭受外力冲击时不会破坏。

2. 热性能测试方法的意义热性能测试方法对于材料的设计和应用非常重要。

通过热膨胀试验,我们可以了解材料在高温条件下的膨胀性,从而避免热膨胀引起的构件变形和破坏。

通过热导率测试,我们可以评估材料的导热性能,为热传导设备的设计提供依据。

通过热分析,我们可以了解材料在不同温度下的热行为,为材料的热稳定性评估提供依据。

材料现代分析测试方法知识总结

材料现代分析测试方法知识总结

材料现代分析测试方法知识总结现代分析测试方法是指在材料研究和应用过程中,通过各种仪器和设备对材料进行精确分析和测试的方法。

这些方法包括物理测试方法、化学测试方法和电子显微镜技术等。

以下是对现代分析测试方法的一些知识的总结。

一、物理测试方法:1.X射线衍射:通过X射线的衍射绘制出材料的结晶结构,确定材料的晶格常数、晶胞参数和晶体的相位等。

2.热重分析:通过加热材料并测量其重量的变化,判断其热稳定性、热分解性和可能的热分解产物。

3.红外光谱:通过测量材料在红外波段的吸收光谱,推断材料的分子结构、官能团以及物质的存在状态和纯度。

4.核磁共振:通过测量核磁共振信号,确定物质的结构、官能团和化学环境。

二、化学测试方法:1.光谱分析:包括紫外可见光谱、原子吸收光谱和发射光谱等,通过测量材料吸收或发射的光的波长和强度,确定材料的化学成分和浓度。

2.色谱分析:包括气相色谱、液相色谱和超高效液相色谱等,通过物质在固定相和流动相之间的相互作用,分离并测定材料中的组分。

3.原子力显微镜:通过测量微米和亚微米级尺寸范围内的力的作用,观察材料表面的形貌和物理特性。

4.微量元素分析:通过原子吸收光谱、荧光光谱和电感耦合等离子体发射光谱等方法,测量材料中的微量元素浓度。

三、电子显微镜技术:1.扫描电子显微镜:通过扫描电子束和样品表面之间的相互作用,观察材料表面的形貌、组成和结构。

2.透射电子显微镜:通过电子束穿透样品并与样品内部的原子发生相互作用,观察材料的晶格结构、晶格缺陷和界面等微观结构。

以上是现代材料分析测试方法的一些知识总结。

通过这些方法,我们可以准确地了解材料的组成、结构和性能,为材料的研究、设计和应用提供有力的支持。

现代材料测试方法

现代材料测试方法

现代材料测试方法现代材料测试方法是指对于各种材料进行科学、系统、准确地测试和评估的方法。

它旨在确定材料的性能、力学特性、物理性质、化学性质等,以及评估其适用性和可靠性。

以下将介绍一些常见的现代材料测试方法。

首先,力学性能测试是衡量材料力学性能的基本方法之一。

常见的力学性能测试包括拉伸试验、压缩试验、弯曲试验、剪切试验等。

这些试验可用于测定材料的强度、韧性、刚度、弹性等力学性能。

其次,物理性质测试是对材料物理性质进行测试的方法之一。

物理性质包括热性质、电性质、磁性质等。

常见的物理性质测试方法包括热膨胀系数测试、电导率测试、磁化强度测试等。

这些测试可用于评估材料在不同物理环境条件下的响应和行为。

此外,化学性质测试是对材料化学特性进行测试的方法之一。

化学性质包括化学稳定性、酸碱性、氧化性等。

常见的化学性质测试方法包括酸碱性测试、化学腐蚀性测试、氧化性测试等。

这些测试可用于评估材料在不同化学环境中的稳定性和耐久性。

另外,非破坏性测试是一种重要的材料测试方法。

它通过对材料进行无损检测,即在不破坏材料的情况下测量其性能。

非破坏性测试方法包括超声波检测、磁粉检测、射线检测等。

这些测试方法可用于检测材料内部的缺陷、裂纹、组织结构等。

此外,现代材料测试方法还包括表面性状测试、微观结构测试、电子显微镜观察等。

表面性状测试可用于评估材料的光洁度、粗糙度、表面质量等。

微观结构测试可用于观察材料的晶体结构、晶粒大小、相分布等。

电子显微镜观察可用于观察材料的表面形貌、微观结构以及材料间的界面情况。

总结来说,现代材料测试方法是一个综合性的科学技术领域,它通过对各种材料进行力学性能测试、物理性质测试、化学性质测试、非破坏性测试、表面性状测试、微观结构测试等,来评估材料的性能和适用性。

这些测试方法的发展和应用,为材料研究、产品开发和质量控制提供了重要的技术支持。

随着科技的不断进步和发展,材料测试方法也会不断创新和完善,为材料科学和工程领域的发展做出更大的贡献。

材料现代分析测试方法

材料现代分析测试方法

主要内容
信号发生器使样品产生(原始)分析信号; 检测器则将原始分析信号转换为更易于测量的信 号(如光电管将光信号转换为电信号)并加以检 测; 被检测信号经信号处理器放大、运算、比较等后 由读出装置转变为可被人读出的信号被记录或显 示出来。 依据检测信号与材料的特征关系,分析、处理读 出信号,即可实现材料分析的目的。
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主要内容


材料现代分析测试方法涉及的分析测试技术和方法种类繁多,内容 极其广泛。 对于传统方法、近代方法和现代方法的划分问题,不同的专家学者 认识不同,且随科学技术的发展而变化。 因此,相近内容的教材或专著的名称多种多样,比如,“材料分析 测试方法”、“材料现代分析方法”、“材料近代分析测试方法”、 “材料分析测试技术”、“现代分析技术”、“现代仪器分析原理 与技术”等等。 材料分析是通过对表征材料的物理性质或物理化学性质参数及其变 化(称为测量信号或特征信息)的检测实现的。 换言之,材料分析的基本原理(或称技术基础)是指测量信号与材 料成分、结构等的特征关系。 采用各种不同的测量信号(相应地具有与材料的不同特征关系)形 成了各种不同的材料分析方法。
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主要内容




基于电磁辐射及运动粒子束与物质相互作用的各种性质建 立的各种分析方法已成为材料现代分析方法的重要组成部 分,大体可分为光谱分析、电子能谱分析、衍射分析与电 子显微分析等四大类方法。 此外,基于其它物理性质或电化学性质与材料的特征关系 建立的色谱分析、质谱分析及热分析等方法也是材料现代 分析的重要方法。 尽管不同方法的分析原理(检测信号及其与材料的特征关 系)不同及具体的检测操作过程和相应的检测分析仪器不 同,但各种方法的分析、检测过程均可大体分为信号发生、 信号检测、信号处理及信号读出等几个步骤。 相应的分析仪器则由信号发生器、检测器、信号处理器与 5 读出装置等几部分组成。

材料现代分析测试方法北京理工大学课后答案

材料现代分析测试方法北京理工大学课后答案

材料现代分析测试方法北京理工大学课后答案
1.水溶液滴定实验:
问题:滴定实验用来测定溶液中其中一种离子或其他物质的浓度。


定分析的思路是,先将溶液中参与滴定反应的一种物质(用试剂)滴入溶
液中,直到发生滴定的终点,终点发生时需要用到特定的指示剂(也称指
示器),以这时候物质的浓度令指示剂有一定的变色反应,以此来判断终
点位置。

答案:滴定实验可以用来测定溶液中其中一种离子或其他物质的浓度。

在滴定实验中,将参与滴定反应的物质(用试剂)滴入溶液中,直到发生
滴定的终点,利用指示剂(指示器)的变色反应判断终点位置,以测定溶
液中其中一种物质的浓度。

2.色谱分析:
问题:色谱分析是一种用于分离和测定微量物质的分析技术,其原理
是利用物质在不同立体环境下的溶解性及其与其中一物质的相互作用,在
特定的溶剂中溶解物质,然后将其注入色谱仪中,利用仪器检测溶液的物
质组成及浓度,从而实现物质的分离和测定。

答案:色谱分析是一种用于分离和测定微量物质的分析技术。

材料现代测试分析技术和方法(第一大部分)

材料现代测试分析技术和方法(第一大部分)

材料现代测试分析技术第一讲本课程概述及教学安排❑材料现代测试分析技术概述❑本课程的教学内容和教学要求❑教学计划与主要参考书材料现代测试分析技术概述材料、信息和能源是现代科学技术重点发展的三大领域,而材料又是信息和能源发展的物质基础,是重中之重,可以说没有先进材料就没有现代科技。

然而,对材料的科学分析是获得先进材料的核心环节。

----引自《材料现代分析技术》(朱和国等编著)前言第一节一般原理材料现代测试分析技术是关于材料成分、结构、微观形貌与缺陷等的现代分析、测试技术及其有关理论基础的科学。

●不仅包括材料(整体的)成分、结构分析,也包括材料表面与界面分析、微区分析、形貌分析等诸多内容。

●创立新的理论,发明新的技术和方法科学技术上的重大成就和科学研究新领域的开辟,往往是以测试方法和仪器的突破为先导,“在诺贝尔物理和化学奖中,大约有四分之一是属于测试方法和仪器创新的”材料分析是如何实现的?⏹通过对表征材料的物理性质参数及其变化(称为测量信号或特征信息)的检测实现的。

即,材料分析的基本原理是指测量信号与材料成分、结构等的特征关系。

⏹采用各种不同的测量信号(相应地具有与材料的不同特征关系)形成了各种不同的材料分析方法。

基于电磁辐射及运动粒子束与物质相互作用的各种性质建立的各种分析方法已成为材料现代测试分析方法的重要组成部分:⏹衍射分析⏹光谱分析⏹电子能谱分析⏹电子显微分析基于其它物理性质与材料的特征关系建立的分析方法:⏹色谱分析⏹质谱分析⏹热分析第二节衍射分析方法概述⏹基本目的:衍射分析方法是以材料结构分析为基本目的的现代分析方法。

⏹技术基础:衍射——电磁辐射或运动的电子束、中子束与材料相互作用产生相干散射(弹性散射),相干散射相互干涉的结果⏹X射线衍射分析电子衍射分析中子衍射分析是材料结构分析工作的两个基本特征X射线衍射仪13⏹高能电子衍射分析(HEED)入射电子能量10~200keV●透射电子显微镜(TEM)——可实现样品选定区域的电子衍射分析实现微区样品结构分析与形貌观察相对应⏹低能电子衍射分析(LEED)入射电子能量10~1000eV●样品表面1~5个原子层的结构信息;是晶体表面结构分析的重要方法,应用于表面吸附、腐蚀、催化、外延生长、表面处理等领域●衍射线方向由布拉格方程描述⏹反射式高能电子衍射分析(RHEED)●以高能电子照射较厚固体样品来研究分析其表面结构●为获得表面信息,入射电子采用掠射方式(<5。

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一,名词解释1,化学位移:共振频率发生了变化,在谱图上反映出了谱峰位置的移动。

2,特征吸收峰:通常把能代表基团存在,并有较高强度的吸收谱带称为基团频率,其所在的位置一般又称为特征吸收峰。

3,熔融指数:指在一定的温度下和规定负荷下,10min内从规定直径和长度的标准毛细管内流出的聚合物的熔体的质量,用MI表示,单位为g/10min。

4,平衡熔点:理论上将在熔点温度附近经长时间结晶得到的晶体完全熔融的温度称之为该聚合物的平衡熔点5,普适标准曲线:流力学体积与保留体积的关系曲线具有普适性。

6,依数性:依数性是指溶液的热力学性质只与溶质的数量有关而与其性质、种类无关7,基频性:分子吸收红外辐射后,由基态振动能级(v=0)跃迁至第一振动激发态(v=1)时,所产生的吸收峰8,入口效应:聚合物熔体在流入一个直径较小的口模时,在管道入口处流线出现收敛,压力降突然增大。

二,填空1,溶液的依数性包括沸点上升, 冰点下降, 蒸气压和渗透压。

高分子溶液只有在浓度极低的情况下才近似与理想溶液的依数性相同利用依数性测得的分子量为数均分子量2,测定链结构的方法有X射线衍射法、电子衍射法、中心散射法、裂解色谱-质谱、紫外吸收光谱、红外吸收光谱、拉曼光谱、微波分光法、核磁共振法、顺磁共振法、荧光光谱、偶极距法、旋光分光法、电子能谱等。

测定聚集态结构的方法有X射线小角衍射、电子衍射法、电子显微镜、光学显微镜、原子力显微镜、固体小角激光光散射等。

测定结晶度的方法有X射线衍射法、电子衍射法、核磁共振吸收、红外吸收光谱、密度法、热分析法。

测定高聚物取向程度的方法有双折射法、X射线衍射法、圆二色性法、红外二色性法。

相对分子质量的测定方法:溶液光散射法、凝胶渗透色谱法、粘度法、扩散法、超速离心法、溶液激光小角散射法、渗透压法、气相渗透压法、沸点升高法、端基滴定法。

支化度的测定方法:化学反应法、红外光谱法、凝胶渗透色谱法、粘度法。

交联度测定方法:溶胀法、力学测定法。

相对分子质量分布的测定方法:凝胶渗透色谱法、熔体流变行为、分级沉淀法、超速离心法。

3,高聚物的力学性能主要是测定材料的强度和模量以及变形。

材料本体粘流行为主要是测定粘度以及切变速率的关系、剪应力与切变速率的关系等。

采用的仪器有旋转粘度计、熔融指数测定仪、各种毛细管流变仪。

材料的热性能主要测材料的导热系数、比热容、热膨胀剂系数、耐热性、耐燃性、分解温度等。

测试仪器有:高低温导热系数测定仪、差示扫描量热仪、量热计、线膨胀和体膨胀测定仪、马丁耐热仪、热失重仪、硅碳耐燃烧试验机。

材料的电学性能主要测材料的电阻、介电常数、介电损耗角正切、击穿电压。

采用仪器有高阻计、电容电桥介电性能测定仪、高压电击穿试验机。

测定材料的密度,采用密度计法和密度梯度管法。

测定透光度采用透光度计。

测定透气性采用透气性测定仪。

测定吸湿性采用吸湿计。

测定吸音系统采用声衰减测定仪。

三,问答1,红外光谱如何表示?峰强、峰位、峰数受什么因素的影响?答:横坐标:波数(υ)400~4000 cm-1;表示吸收峰的位置。

纵坐标:透过率(T%),表示吸收强度。

T↓,表明吸收的越好,故曲线低谷表示是一个好的吸收带。

峰位——化学键的力常数越大,原子折合质量越小,键的振动频率越大,吸收峰将出现在高波数区;反之,出现在低波数区。

峰数——与分子自由度有关,无偶极距变化没有红外吸收;不同的分子振动方式在不同的峰位会表现出不同的吸收峰。

峰强——偶极距变化大,分子数目越多,能级的跃迁几率越大,吸收峰强。

2,产生红外吸收的条件:只有当红外辐射频率等于振动量子数的差值与分子振动频率的乘积时,分子才能吸收红外辐射,产生红外吸收光谱。

只有发生偶极矩变化(Δμ≠0)的振动才能引起可观察的红外吸收光谱。

3,电子效应对红外基团频率的影响:电子效应:包括诱导效应、共轭效应和中介效应,她们都是由于化学键的电子分布不均匀而引起的。

诱导效应:由于取代基具有不同的电负性,通过静电诱导作用,引起分子中电子分布的变化。

从而改变了键力常数,使基团的特征频率发生了位移。

共轭效应:使共轭体系中的电子云密度平均化,结果使原来的双键略有伸长(即电子云密度降低)、力常数减小,使其吸收频率向低波数方向移动。

中介效应:当含有孤对电子的原子(O、S、N等)与具有多重键的原子相连时,也可起类似的共轭作用。

3,影响TG曲线的因素。

(热重分析测试的影响因素)答:仪器因素—浮力、试样盘、挥发物的冷凝等;浮力及对流:热天平内外温差造成的对流会影响称量的精确度。

浮力和对流引起热重曲线的基线漂移。

试样盘的影响包括盘的大小形状和材料的性质等。

盘的大小形状主要影响热传导和热扩散;试样盘应是惰性材料制作的,常用的材料有铂、铝、石英和陶瓷等。

挥发物的冷凝:试样受热分解或升华,逸出的挥发物往往在热重分析仪的低温区冷凝,这不仅污染仪器,而且使实验结果产生严重的偏差。

尤其是挥发物在支撑杆上的冷凝,会使测定结果毫无意义。

实验条件—升温速率、气氛等;升温速率越大,滞后现象越严重,导致热重曲线上的起始温度Ti和终止温度Tf偏高。

升温速率快往往不利于中间产物的检测,因为TG曲线上的拐点很不明显。

气氛:热重法通常可在晶态气氛或动态气氛下进行测定。

为了获得重复性好的实验结果,一般在严格控制的条件下采用动态气氛。

气氛对TG曲线的影响与反应类型,分解产物的性质和所通气体的类型有关。

试样的影响—试样质量、粒度等。

用量大,因吸、放热引起的温度偏差大,且不利于热扩散和热传递。

粒度细,反应速率快,反应起始和终止温度降低,反应区间变窄。

粒度粗则反应较慢,反应滞后。

试样颗粒间接触好,利于热传导,但不利于扩散。

要求装填薄而均匀。

4,电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。

球差又称球面相差,是因为电磁透镜近轴区域磁场和远轴区域磁场对电子束的折射能力不同而产生。

像散是由透镜磁场的非旋转对称引起的像差。

色差是由于成像电子的能量不同或变化,从而在透镜磁场中运动轨迹不同以致不能聚焦在一点而形成的像差。

5,电镜三要素。

答:1)分辨率分辨率是SEM的主要性能指标。

对微分成分分析而言,是指能分析的最小区域;对成像而言,是指能分辨两点的最小距离;这两者主要取决于入射电子束直径,电子束直径越小,分辨率越高;2)放大倍数放大倍数=屏幕的分辨率/电子束直径为了保证在肉眼分辨率以上,SEM的最大放大倍数为2万左右。

3)衬度衬度包括表面形貌衬度和原子序数衬度。

表面形貌衬度主要是样品表面的凹凸决定的。

原子序数衬度指扫描电子束入射试样时产生的背景电子、吸收电子、X射线,对微区内原子序数的差异相当敏感,而二次电子不敏感。

5,透射电镜(TEM)和扫描电镜(SEM)的基本原理。

透射电镜工作原理:由电子枪和两个聚光镜组成照明系统,产生一束聚焦很细、亮度高、发散度小的电子束,穿透样品,经物镜、中间镜和投影镜三个透镜组成三级放大后成像于荧光屏。

扫描电镜的工作原理:以电子束作为照明源,把聚焦得很细的电子束以光栅状扫描方式照射到试样上,产生各种与试样性质有关的信息,然后加以收集和处理从而获得微观形貌放大像。

6,写出DSC和DTA这两种热分析测试方法的全称。

两者有何区别?答:DSC示差扫描量热法DTA差热分析区别:DSC和DTA的测定原理不同DSC是在控制温度变化情况下,以温度(或时间)为横坐标,以样品与参比物间温差为零所需供给的热量为纵坐标所得的扫描曲线。

DTA是测量△T-T的关系,而DSC是保持△T=0,测定△H-T的关系。

两者最大的差别是DTA只能定性或半定量,而DSC的结果可用于定量分析7,列出至少四种测定高聚物玻璃化转变温度的实验方法,并详述影响非晶态高聚物玻璃化温度的因素。

答:1)示差扫描量热法(DSC)2)动态力学分析(DMA)3)热机械分析法(TMA)4)热膨胀剂(TD)影响非晶聚合物Tg的因素。

1.化学结构(1) 主链分子链的柔顺性是决定高聚物Tg的最重要的因素。

主链柔顺性越好,玻璃化温度越低。

主链由饱和单键构成的高聚物,Tg都不高,特别是没有极性侧基取代时,其T g更低。

不同的单键中,内旋转位垒较小的,T g较低主链中含有孤立双键的高聚物,虽然双键本身不能内旋转,但双键旁的α单键更易旋转,所以T g都比较低(2)取代基侧基的极性越强,Tg越高。

增加极性基团的数量,也能提高T g 当高聚物中存在柔性侧基时,随着侧基的增大,由于柔性侧基使分子间距离加大,相互作用减弱,即产生“内增塑”作用,所以,T g反而下降。

(3)几何异构一般,全同立构的T g较低,间同立构的T g较高。

在顺反异构中,往往反式分子链较硬,T g较大。

(4)离子键的引入分子链间有离子键可以显著提高T g。

2,其他结构因素的影响(1) 共聚无规共聚物的T g介于两种共聚组分单体的T g之间,,交替共聚,只有一个T g。

(2)交联随着交联点的增加,高聚物自由体积减少,分子链的运动受到约束的程度也增加,所以T g升高。

(3)分子量分子量的增加使T g增加,。

(4)增塑剂和稀释剂增塑剂对Tg的影响也是相当显著的,玻璃化温度较高的聚合物在加入增塑剂后,可以使Tg明显下降。

8.为什么毛细管流变仪需要作入口校正?写出表观剪切速率和真实剪切速率的数学表达式。

答:当熔体以收敛方式进入直径较小的管道时,为了保持体积流速率不变:(1) 必须增加熔体的流速,而流速的增加会消耗更多的能量;(2) 增加熔体内的剪切速率,使大分子链沿流动方向更快地伸展、滑移,这也要消耗一定的能量;由于熔体在入口处的能量消耗增加,产生一定的压力降,因此需要进行入口校正 表观剪切速率为:V R d R Q p w ∙=='3234πγ 真实剪切速率为:V Rd n n n n p w w ∙∙+='∙+=32413413γγ 9,红外光谱试样制备:(1)气体样品气态样品可在玻璃气槽内进行测定,它的两端粘有红外透光的NaCl 或KBr 窗片。

先将气槽抽真空,再将试样注入。

(2)液体和溶液试样液体池法:沸点较低,挥发性较大的试样,可注入封闭液体池中,液层厚度一般为0.01-1mm 。

液膜法:沸点较高的试样,直接滴在两片盐片之间,形成液膜。

对于一些吸收很强的液体,当用调整厚度的方法仍然得不到满意的谱图时,可用适当的溶剂配成稀溶液进行测定。

一些固体也可以溶液的形式进行测定。

常用的红外光谱溶剂应在所测光谱区呢本身没有强烈的吸收,不侵蚀盐窗,对试样没有强烈的溶剂化效应等。

(3)固体试样压片法:将1-2mg 试样与200mg 纯KBr 研细均匀,置于模具中,用(5-10)*107Pa 压力在油压机上压成透明薄片,即可用于测定。

试样和KBr 都应经干燥处理,研磨到粒度小于2微米,以免散射光影响。

石蜡糊法:将干燥处理后的试样研细,与液体石蜡或全氟代烃混合,调成糊状,夹在盐片中测定。

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