半导体激光器常用参数的测定

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半导体激光器特性测量

半导体激光器特性测量

半导体激光器特性测量实验摘要:激光器的三个基本组成部分是:增益介质、谐振腔、激励能源。

本实验通过测量半导体激光器的输出特性、偏振度和光谱特性,进一步了解半导体激光器的发光原理,并掌握半导体激光器性能的测试方法。

关键字:半导体激光器偏振度阈值光谱特性一、引言半导体激光器是用半导体材料作为工作物质的激光器,常用工作物质有砷化镓(GaAs)、硫化镉(CdS)、磷化铟(InP)、硫化锌(ZnS)等。

激励方式有电注入、电子束激励和光泵浦三种形式。

半导体激光器件,可分为同质结、单异质结、双异质结等几种。

半导体激光器发射激光必须具备三个基本条件:(1)产生足够的粒子数反转分布;(2)合适的谐振腔起反馈作用,使受激辐射光子增生,从而产生激光震荡;(3)满足阀值条件,使光子的增益≥损耗。

半导体激光器工作原理是用某种激励方式,将介质的某一对能级间形成粒子数反转分布,在自发辐射和受激辐射的作用下,将有某一频率的光波产生(用半导体晶体的解理面形成两个平行反射镜面作为反射镜,组成谐振腔),在腔内传播,并被增益介质逐渐增强、放大,输出激光。

二、实验仪器半导体激光器装置、WGD-6型光学多道分析器、电脑、光功率指示仪等。

三、实验原理3.1半导体激光器的基本结构半导体激光器大多数用的是GaAs或Gal-xAlxAs材料,p-n结激光器的基本结构如图1所示,p-n结通常在n型衬底上生长p型层而形成。

在p区和n区都要制作欧姆接触,使激励电流能够通过,这电流使结区附近的有源区内产生粒子数反转,还需要制成两个平行的端面其镜面作用,为形成激光模提供必须的光反馈。

图1中的器件是分立的激光器结构,它可以与光纤传输连成线,如果设计成更完整的多层结构,可以提供更复杂的光反馈,更适合单片集成光电路。

3.2半导体激光器的阈值条件当半导体激光器加正向偏置并导通时,器件不会立即呈现激光振荡。

小电流时发射光大都是自发辐射,光谱线宽在数百埃米数量级。

随着激励电流的增大,结区大量粒子数反转,发射更多的光子。

激光实验六半导体激光器激光谱线特性的测量

激光实验六半导体激光器激光谱线特性的测量

激光实验六半导体激光器激光谱线特性的测量实验目的(1)掌握使用单色仪和F-P标准测量半导体激光器激光谱线的办法;(2)学习从CCD-计算机图像采集系统获取的图像文件得到相关物理参数的图像分析方法。

实验原理半导体激光器的工作原理不考虑光源的话,一个激光器主要由两部分组成。

一是工作介质,用于产生受激辐射,要求粒子数反转以实现增益放大;另一个是谐振腔,用于控制电磁波的传播特性,只有被选择的少数电磁场模式能够传播。

在半导体激光器中,增益介质是半导体材料;并且在一般的半导体激光器中,构成谐振腔的也是半导体材料。

1.半导体作为光的增益介质电子在两个态之间跃迁产生光的吸收或发射。

在半导体中有若干种不同的跃迁机理,电子—空穴复合发光(即能带间的跃迁)是其中最主要的一种。

此时,产生电子跃迁的上下能态是半导体的导带和价带。

半导体中若是掺杂了施主杂质,使材料比未掺杂时(本征半导体)具有更多的电子,则成为n型半导体;若掺杂了受主介质,使材料比未掺杂时具有更多的空穴,则成为p型半导体。

在制作半导体激光器时,控制掺杂的种类和浓度,可以使一块半导体材料的一侧成为n型区,另一侧成为p型区,形成p-n结。

图1p-n 结如果在两侧加上正向电压,则使势垒降低,外加电源向n 区注入电子,向p 区注入空穴。

大量注入电子和空穴的半导体的状态与系统处于热平衡是的状态时不同的,此时,电子和空穴处于非平衡态,有各自的费米分布()e f E 和()h f E 以及不同的准费米能级n F E 和p F E 。

n 区的电子会经过p-n 结向p 区运动,p 区的空穴也会经p-n 结向n 区运动,在p-n 结处,即激活区(或称为有源层)产生粒子数反转,电子和空穴复合,以光子形式释放出能量。

这是半导体作为增益介质,在电流注入时的电子-空穴发光机理。

图1与图2是在坐标空间中的能级图,横坐标眼垂直于p-n 结方向;用以说明电子空穴对的符合发光是在p-n 结的区域中发生的。

半导体激光器测试方法

半导体激光器测试方法

半导体激光器测试方法
半导体激光器是一种常见的光电器件,通过将电能转化为光能产生激光。

为了确保半导体激光器的性能和质量,需要进行各种测试。

以下是常见的半导体激光器测试方法:
1.激光器波长测试:使用光谱仪进行激光器波长的检测,以确保激光器的波长符合要求。

2.光功率测试:测量激光器的输出功率,以确保激光器的输出功率符合要求。

这可以使用功率计或功率传感器进行测量。

3.光电特性测试:通过测量激光器的光电流和光谱特性等参数,来确定激光器的光电特性。

4.稳定性测试:对激光器进行长时间的稳定性测试,以确保激光器的性能和可靠性。

5.阈值电流测试:测试激光器的阈值电流,以确定激光器的启动电流和电压。

6.温度测试:测试激光器在不同温度下的性能,以确定激光器在各种环境下的工作条件。

半导体激光器测试是半导体激光器制造过程中非常重要的一环,只有通过严格的测试可以确保激光器的性能和质量。

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实验一 半导体激光器P-I特性曲线测量

实验一 半导体激光器P-I特性曲线测量

实验一半导体激光器P-I特性曲线测量一、实验目的:1.了解半导体光源和光电探测器的物理基础;2.了解发光二极管(LED)和半导体激光二极管(LD)的发光原理和相关特性;3.了解PIN光电二极管和雪崩光电二极管(APD)的工作原理和相关特性;4.掌握有源光电子器件特性参数的测量方法;二、实验原理:光纤通信中的有源光电子器件主要涉及光的发送和接收,发光二极管(LED)和半导体激光二极管(LD)是最重要的光发送器件,PIN光电二极管和APD光电二极管则是最重要的光接收器件。

1.发光二极管(LED)和半导体激光二极管(LD):LED是一种直接注入电流的电致发光器件,其半导体晶体内部受激电子从高能级回复到低能级时发射出光子,属自发辐射跃迁。

LED为非相干光源,具有较宽的谱宽(30~60nm)和较大的发射角(≈100°),常用于低速、短距离光波系统。

LD通过受激辐射发光,是一种阈值器件。

LD不仅能产生高功率(≥10mW)辐射,而且输出光发散角窄,与单模光纤的耦合效率高(约30%—50%),辐射光谱线窄(Δλ=0.1-1.0nm),适用于高比特工作,载流子复合寿命短,能进行高速(>20GHz)直接调制,非常适合于作高速长距离光纤通信系统的光源。

使粒子数反转从而产生光增益是激光器稳定工作的必要条件,对于处于泵浦条件下的原子系统,当满足粒子数反转条件时将会产生占优势的(超过受激吸收)受激辐射。

在半导体激光器中,这个条件是通过向P型和N型限制层重掺杂使费密能级间隔在PN结正向偏置下超过带隙实现的。

当有源层载流子浓度超过一定值(称为透明值),就实现了粒子数反转,由此在有源区产生了光增益,在半导体内传播的输入信号将得到放大。

如果将增益介质放入光学谐振腔中提供反馈,就可以得到稳定的激光输出。

(1) LED和LD的P-I特性与发光效率:图1是LED和LD的P-I特性曲线。

LED是自发辐射光,所以P-I曲线的线性范围较大。

激光器的常用指标及半导体激光器

激光器的常用指标及半导体激光器

一、激光器的常用性能指标1、激光器的门限电流与功率输出激光的输出光功率与驱动电流并不成直线比例关系。

在门限电流(或称阈值电流)以下,激光器工作于自发射,输出光功率极小,在门限电流以上,激光器工作于受激发射、输出激光、功率随电流的增大而上升,基本上成直线对应关系,在实际应用中,我们要求门限电流越小越好。

激光器功率特性的线性程度对模拟光纤传输系统的非线性失真指标影响很大。

2、激光器的调制增益激光器的调制增益是指输出光功率与输入射频驱动电流的比值,如0.42mW/mA,表示输入驱动电流1mA,输出0.42mW的光功率,调制增益一般越大越好。

3、激光器的相对强度噪声RIN激光器的相对强度噪声定义为单位频带宽度中噪声与输出光强的比值。

常用dB/HZ 作单位,激光器的噪声主要来源于激光器内光子涨落的量子噪声,相对强度噪声是描述激光器量子噪声特性的参数,我们希望它越小越好。

4、激光器的线性范围激光器的线性范围指激光器能线性工作的最大范围,通常它越大越好,我们可以用饱和电流(即激光器输出饱和时对应的激励电流,当激励电流超过饱和电流时,再加大激励,也不能使输出光功率增加,这时可能会造成激光器的损坏)与阈值电流之差来近似的代表其线性范围,实际上在线性范围内,激光器的输出光功率随注入电流变化的曲线,也不是绝对的直线,我们总是希望它尽量接近直线,使其非线性失真指标尽可能小,当温度升高时,阈值电流以1%—2%/ ºC的速度增大,而饱和电流则相应降低,使激光器的线性范围减小,因此在激光器内部要加温控装置,保持其工作稳定。

5、带内平坦度普封装的激光器由于引线电感等分布参数的影响,频率响应并不理想,一般为±1dB (750MHZ带宽),在CATV领域,激光器的封装形式一般为蝶形封装,这种封装引线最短。

6、激光器的温度特性激光器的特性对温度相当敏感,随着结温的升高,其输出功率将降低,当结温过高时,其输出功率将急剧减小,甚至损坏激光器,另外,随着结温的升高,其门限电流也将增大,噪声增加,波长变化。

[DOC] 半导体激光器参数测量(二)

[DOC] 半导体激光器参数测量(二)

半导体激光器参数测量(二)一 实验目的测量半导体激光器的谱线特性和远场特性 二 实验原理1、半导体的纵模设激光器的腔长为L ,内部充满折射率为n 的半导体材料。

部分反射的两个腔面的反射系数为R 1和R 2,如图1所示。

在腔内传播的平面波可用下式描写])exp[(]2exp[z g nzi i αλπφ-=式中0λ是自由空间波长,i α是内部损耗系数,通常是由自由载流子吸收和光学不均匀散射。

引起的,g 为增益系数。

在该系统中能够形成自持振荡条件是:当波在两个腔面间经过多次反射回到原处时,波的振幅至少应等于起始值。

这个条件可用下式表示:1])(2exp[]4exp[021=-L g nLi R R i αλπ因此振荡的相位条件,即形成稳定振荡的驻波条件为:πλπm nL240=式中m 为正整数,该式表明光子在谐振腔内来回一周所经历的光程必须是波长的整数倍;因此当腔长和n 一定时,每一个m 对应一个振荡波长或频率,或者对应一个振荡的纵模模式。

由此可见如果腔长较长,则可能有多个波长的波能够满足驻波条件;即所谓的多纵模。

对上式微分可以得到相邻纵模间隔)])((1[20200λλλλd dnn nL d -=式中方括号内所代表的是材料的色散,0/λd dn 表示每个纵模间隔是不同的。

该式表明,纵模与腔长成反比。

2、激光器的发射光谱、峰值波长、中心波长、平均波长(1)发射光谱激光器的发射光谱取决于激光器光腔的特定参数,大多数半导体激光器是多纵模振荡即其发光谱线中有多个峰的光谱(波长)如图2所示(2)峰值波长在规定输出光功率时,光谱内若干发射模式中强度最大的光谱波长被定义为峰值波长(p λ)。

(3)中心波长在激光器光谱中,连接50%最大幅度值线段的中点所对应的波长称为中心波长(c λ),用统计加权可表示为i ni i c E E λλ∑==10]1[式中,i λ为第i 个峰值的波长;i E 为第i 个峰值的能量;0E 为所有峰值的能量;∑==ni i P E 10。

实验一-半导体激光器P-I特性测试实验

实验一-半导体激光器P-I特性测试实验

常用光纤器件特性测试实验 实验一 半导体激光器P-I 特性测试实验一、实验目的1、学习半导体激光器发光原理和光纤通信中激光光源工作原理2、了解半导体激光器平均输出光功率与注入驱动电流的关系3、掌握半导体激光器P 〔平均发送光功率〕-I 〔注入电流〕曲线的测试方法二、实验内容1、测量半导体激光器输出功率和注入电流,并画出P-I 关系曲线。

2、根据P -I 特性曲线,找出半导体激光器阈值电流,计算半导体激光器斜率效率。

三、预备知识1、光源的种类2、半导体激光器的特性、内部结构、发光原理四、实验仪器1、ZY12OF13BG3型光纤通信原理实验箱 1台2、FC 接口光功率计 1台3、FC/PC-FC/PC 单模光跳线 1根4、万用表 1台5、连接导线20根五、实验原理半导体激光二极管〔LD 〕或简称半导体激光器,它通过受激辐射发光,是一种阈值器件。

处于高能级E 2的电子在光场的感应下发射一个和感应光子一模一样的光子,而跃迁到低能级E 1,这个过程称为光的受激辐射,所谓一模一样,是指发射光子和感应光子不仅频率一样,而且相位、偏振方向和传播方向都一样,它和感应光子是相干的。

由于受激辐射与自发辐射的本质不同,导致了半导体激光器不仅能产生高功率〔≥10mW 〕辐射,而且输出光发散角窄〔垂直发散角为30~50°,水平发散角为0~30°〕,与单模光纤的耦合效率高〔约30%~50%〕,辐射光谱线窄〔Δλnm 〕,适用于高比特工作,载流子复合寿命短,能进展高速信号〔>20GHz 〕直接调制,非常适合于作高速长距离光纤通信系统的光源。

阈值电流是非常重要的特性参数。

图1-1上A 段与B 段的交点表示开始发射激光,它对应的电流就是阈值电流th I 。

半导体激光器可以看作为一种光学振荡器,要形成光的振荡,就必须要有光放大机制,也即激活介质处于粒子数反转分布,而且产生的增益足以抵消所有的损耗。

将开始出现净增益的条件称为阈值条件。

激光实验六半导体激光器激光谱线特性的测量

激光实验六半导体激光器激光谱线特性的测量

激光实验六半导体激光器激光谱线特性的测量实验目的(1)掌握使用单色仪和F-P标准测量半导体激光器激光谱线的办法;(2)学习从CCD-计算机图像采集系统获取的图像文件得到相关物理参数的图像分析方法。

实验原理半导体激光器的工作原理不考虑光源的话,一个激光器主要由两部分组成。

一是工作介质,用于产生受激辐射,要求粒子数反转以实现增益放大;另一个是谐振腔,用于控制电磁波的传播特性,只有被选择的少数电磁场模式能够传播。

在半导体激光器中,增益介质是半导体材料;并且在一般的半导体激光器中,构成谐振腔的也是半导体材料。

1.半导体作为光的增益介质电子在两个态之间跃迁产生光的吸收或发射。

在半导体中有若干种不同的跃迁机理,电子—空穴复合发光(即能带间的跃迁)是其中最主要的一种。

此时,产生电子跃迁的上下能态是半导体的导带和价带。

半导体中若是掺杂了施主杂质,使材料比未掺杂时(本征半导体)具有更多的电子,则成为n型半导体;若掺杂了受主介质,使材料比未掺杂时具有更多的空穴,则成为p型半导体。

在制作半导体激光器时,控制掺杂的种类和浓度,可以使一块半导体材料的一侧成为n型区,另一侧成为p型区,形成p-n结。

图1p-n 结如果在两侧加上正向电压,则使势垒降低,外加电源向n 区注入电子,向p 区注入空穴。

大量注入电子和空穴的半导体的状态与系统处于热平衡是的状态时不同的,此时,电子和空穴处于非平衡态,有各自的费米分布()e f E 和()h f E 以及不同的准费米能级n F E 和p F E 。

n 区的电子会经过p-n 结向p 区运动,p 区的空穴也会经p-n 结向n 区运动,在p-n 结处,即激活区(或称为有源层)产生粒子数反转,电子和空穴复合,以光子形式释放出能量。

这是半导体作为增益介质,在电流注入时的电子-空穴发光机理。

图1与图2是在坐标空间中的能级图,横坐标眼垂直于p-n 结方向;用以说明电子空穴对的符合发光是在p-n 结的区域中发生的。

半导体激光器电学特性的测量实验

半导体激光器电学特性的测量实验

半导体激光器电学特性的测量实验一、测试实验原理半导体激光器的核心是PN 结,当用光照和电子束激励或电注入等方式使半导体中的载流子从平衡状态时的基态跃迁到非平衡状态时的激发态,此过程称为激发或激励,它的逆过程就是处于非平衡态激发态上的非平衡载流子回复到较低的能态而放出光子的过程,这就是复合辐射。

半导体发光器件的本质就是注入到半导体PN 结中的非平衡载流子——电子空穴对复合发光。

这是一种非平衡载流子复合的自发辐射,激光器则是上述的非平衡载流子的复合发光在激光器的具有增益的光介质谐振腔作用下形成相干振荡而输出激光,所以发光管的发光效率决定于半导体材料的自发辐射系数的大小。

激光器辐射发光除与材料的增益系数有关外还与谐振腔的特性和结构尺寸有关。

半导体材料的增益系数为:jm g β=β为增益因子,m 为与结构有关的指数,j 为电流密度。

激光器的阈值条件为:)/1()2/1(21R R L L a g n +=a 为腔内的其它损耗,L为腔长,1R 2R 为腔端面的反射系数,所以激光器的阈值电流密度为:()()[]21/12/1/1R R L L j n mth +=αβ由上可知一个制作好的激光器件或发光管,它既是一个PN 结二极管,又是一个电光转换器,它们的工作过程是,当给它正向注入载流子时则在二极管中产生电 子空穴对的复合跃迁而发射光子,光子的能量由二极管的材料的禁带宽度gE 决定,hvE g =,h 为普朗克常数,v 为光频率,发射的同时还存在光的吸收,称为吸收跃迁。

注入小时,吸收大于发射,没有光输出,当注入载流子增大时随发射的增加将逐渐大于吸收而得到荧光输出,发光管就是这样工作的。

但对于激光器由于有介质谐振腔存在,则输入载流子达到激光器的阈值电流时则产生激光输出,再继续增加注入电流,输出光功率也增大,同理,管的功率发热也增加,注入过大时则管子因发热而损坏,从这里我们可以看出,半导体激光器件的特性包括PN 结二极管的I —V 特性和载流子注入而产生的电光转换特性,测量其特性参数可采用两种电注入方法:第一种为脉冲法、第二种为直流法。

半导体激光器常用参数的测定

半导体激光器常用参数的测定

半导体激光器常用参数的测定半导体激光器是一种利用半导体材料作为激光发射媒介的激光器件,其具有体积小、功耗低、效率高、寿命长等优点,因而广泛应用于通信、显示、医疗、测量等领域。

要对半导体激光器进行准确的性能评估和优化设计,需要对其常见参数进行测定和分析。

以下是常用参数的测定方法。

1.阈值电流阈值电流是指激光器开始工作并产生激射的电流值。

常用方法是在不同电流下,通过测量输出光功率与电流之间的关系曲线,找到电流达到稳定值时的临界点。

2.工作电流范围工作电流范围是指激光器可以稳定工作的电流范围。

方法是在不同电流下,测量激光器的输出光功率和电流之间的关系曲线,确定允许的工作电流范围。

3.工作温度范围工作温度范围是指激光器可以稳定工作的温度范围。

方法是在不同温度下,测量激光器的输出光功率与温度之间的关系曲线,确定允许的工作温度范围。

4.光谱特性光谱特性包括波长、谱线宽度等参数。

波长可以通过光谱仪精确测量,谱线宽度可以通过测量激光器输出光功率随波长的变化规律来评估。

5.输出功率输出功率是指激光器的实际输出功率。

测量方法是将激光器的输出光功率直接测量或者通过标定其他光源进行对比测量。

6.效率效率是指激光器将输入电功率转换为输出光功率的比值。

测量方法是通过测量激光器的输入电功率和输出光功率来计算效率。

7.时域特性时域特性包括上升时间、下降时间等参数,用来评估激光器的调制响应能力。

常见方法是通过测量激光器的脉冲响应曲线来获取。

8.光束质量光束质量是指激光器输出光束的直径、发散角等参数,可以通过光学系统和束探在对应测距仪等获取。

9.寿命寿命是指激光器长时间稳定工作的能力,可以通过对激光器在一定时间内的功率衰减进行监测和检测来评估。

总之,半导体激光器的性能评估和优化设计需要测定一系列的参数,如阈值电流、工作电流范围、工作温度范围、光谱特性、输出功率、效率、时域特性、光束质量和寿命等。

通过准确测量和分析这些参数,可以评估激光器的性能,并为激光器的应用提供参考和指导。

半导体激光器特性测量实验报告

半导体激光器特性测量实验报告

半导体激光器特性测量一、实验目的:1.通过本实验学习半导体激光器原理。

2.测量半导体激光器的几个主要特性。

3.掌握半导体激光器性能的测试方法。

二、实验仪器:半导体激光器装置、WGD-6型光学多道分析器、电脑等。

三、实验原理:WGD-6 型光学多道分析器,由光栅单色仪,CCD 接收单元,扫描系统,电子放大器,A/D 采集单元,计算机组成。

该设备集光学、精密机械、电子学、计算机技术于一体。

光学系统采用C-T 型,如图M1 反射镜、M2 准光镜、M3 物镜、M4 转镜、G 平面衍射光栅、S1 入射狭缝、S2 光电倍增管接收、S3 CCD 接收。

入射狭缝、出射狭缝均为直狭缝,宽度范围0-2mm 连续可调,光源发出的光束进入入射狭缝S1、S1 位于反射式准光镜M2 的焦面上,通过S1 射入的光束经M2 反射成平行光束投向平面光栅G 上,衍射后的平行光束经物镜 M3 成像在S2 上。

四、实验内容及数据分析1.半导体激光器输出特性的测量:a)将各仪器按照要求连接好;b)打开直流稳压电源,打开光多用仪;c) 将激光器的偏置电流输入插头接于稳压电源的电流输出端;d) 将激光器与光多用仪的输入端相连并使探头正好对激光器输出端,打开光多用仪; e) 缓慢增加激光器输入电流(0mA~36mA ),注意电流不要超过LD的最大限定电流(实验中不超过38mA )。

从功率计观察输出大小随电流变化的情况; f) 记录数据; g) 绘图绘成曲线。

实验数据及结果分析: I (mA ) 1.02.03.04.05.06.07.0 8.09.010.011.0 12.0 P (uW) 0.40 0.80 1.25 1.75 2.25 2.85 3.54.255.05 5.956.98.0I (mA ) 13.0 14.0 15.0 16.0 17.0 18.0 19.0 20.0 21.0 22.0 23.0 24.0 P (uW) 9.310.7512.4514.5517.8522.941.0311.5753.51179.51594.51845.0根据以上实验数据绘制I —P 曲线:半导体激光器输出特性2004006008001000120014001600180020000510152025I(mA)P(uW)实验结果分析:通过半导体激光器的控制电源改变它的工作电流I ,测量对应的发光功率P ,以P 为纵轴,I 为横轴作图,描成曲线。

用半导体激光器测量普朗克常量

用半导体激光器测量普朗克常量

用半导体激光器测量普朗克常量普朗克常量是物理学中重要的常数之一,它在量子力学和光学领域中扮演着非常重要的角色。

普朗克常量的精确测量对于理论物理和应用物理都有着重要的意义。

近年来,科学家们尝试使用半导体激光器来测量普朗克常量,这种新的测量方法在实验中显示出了很好的效果和潜力。

本文将介绍普朗克常量的重要性、半导体激光器的工作原理以及用半导体激光器测量普朗克常量的方法和实验结果。

1. 普朗克常量的重要性普朗克常量由德国物理学家马克斯·普朗克在1900年提出,它是量子力学的基本常数之一,用符号h表示。

普朗克常量的精确值约为6.62607015×10^-34 J·s。

普朗克常量在量子力学中出现的频率-能量关系中,它与光子的能量和频率之间的关系密切相关,也与电子的能级和轨道之间的能量差密切相关。

普朗克常量在量子力学和光学领域中有着非常重要的作用。

在实际应用中,普朗克常量在光学计量学、半导体器件设计、纳米材料研究等领域都有着广泛的应用。

精确测量普朗克常量对于这些领域的研究和应用具有重要的意义。

普朗克常量的精确测量也有助于验证量子力学理论,并且可以为新的物理学和应用技术的发展提供重要的数据支持。

2. 半导体激光器的工作原理半导体激光器是一种能够产生高纯度、高光强度的激光的器件,它由p型半导体和n 型半导体交界处的PN结构组成。

当外加电压通过PN结时,激发了半导体中的载流子,使得电子与空穴发生复合,从而产生激光的放射。

半导体激光器的激光波长、频率和谱线宽度等特性都可以精确地控制和调节,因此在科学研究和应用领域都有着广泛的应用。

3. 用半导体激光器测量普朗克常量的方法近年来,科学家们开始尝试使用半导体激光器来测量普朗克常量。

这种方法的基本原理是利用激光的频率和波长与普朗克常量之间的关系,通过精确测量激光的频率和波长来间接地获得普朗克常量的值。

具体的实验方法包括以下几个步骤:(1)激光频率测量:利用频率可调的半导体激光器产生一定频率范围内的激光,然后利用频率计或干涉仪等设备对激光的频率进行精确测量。

用半导体激光器测量普朗克常量

用半导体激光器测量普朗克常量

用半导体激光器测量普朗克常量普朗克常量是基本物理常数之一,是描述能量量子化的一个重要参数。

在微观领域,粒子的能量是以离散的形式存在的,而不是连续的。

普朗克常量的值为6.62607015×10^-34 J·s。

为了准确测量普朗克常量,科学家们经过多年努力,发展出了各种各样的测量方法。

半导体激光器测量普朗克常量的方法被广泛使用。

半导体激光器是一种在半导体材料中利用受激辐射产生的激光器。

它具有体积小,效率高,工作稳定等优点,广泛应用在光通信、光储存等领域。

半导体激光器在测量普朗克常量中的应用是基于能量的量子化性质。

在半导体激光器测量普朗克常量的实验中,首先需要构建一个实验装置。

该装置主要包括半导体激光器、功率计、衰减器、反射镜、光电探测器等组成。

半导体激光器产生的激光光束经过反射镜反射后,通过功率计测量其功率。

然后,通过调节衰减器的衰减程度,使激光光束的能量降低,这样就可以得到一系列不同能量的光束。

将这些光束照射到光电探测器上,测量探测器的电流信号。

根据能量和电流的关系,可以得到一个能量和电流的曲线。

根据普朗克-爱因斯坦关系E=hν,其中E为能量,h为普朗克常量,ν为光的频率。

我们可以得到一个能量和频率的关系曲线。

利用半导体激光器在不同能量下产生的光束,通过测量光的频率,就可以得到不同能量下的普朗克常量值。

具体测量步骤如下:通过半导体激光器测量普朗克常量的方法,可以获得较高的测量精度。

半导体激光器具有体积小,操作简便等优点,使得该方法在实验中得到广泛应用。

通过对普朗克常量的准确测量,可以进一步推动和深化对量子力学的理解,以及应用于其他领域的相关研究。

用半导体激光器测量普朗克常量

用半导体激光器测量普朗克常量

用半导体激光器测量普朗克常量普朗克常量是物理学中的一个重要常数,用于描述能量与频率之间的关系。

准确测量普朗克常量对于理解量子力学、开发新型材料和实现计量学上的精确度至关重要。

在传统的实验中,普朗克常量通常使用电子、中子和X射线等粒子来测量。

但是,这些方法具有局限性,因为它们难以精确地控制比例以及环境干扰。

半导体激光器是一种具有优越性能的测量普朗克常量的新型工具。

半导体激光器是一种非常普遍的激光器类型,被广泛应用于光学通讯、信息处理和医学成像等领域。

现在,它们也被应用于原子和分子光谱学中的精密测量学。

这种激光器具有可重复性强、精度高、小型化、低成本和易于操作等优点,这使得它们成为测量普朗克常量的理想选择。

测量普朗克常量的方法基于 Planck-Einstein 公式和滤光器法。

按照Planck-Einstein 公式,能量(E)与频率(ν)之间的关系为:E=hν,其中h是普朗克常量。

在测量普朗克常量的过程中,可以先测量出光线的频率,然后求得与频率(ν)相应的能量(E‘)。

接着,在滤光器法的帮助下,可以筛选出与能量(E‘)匹配的波长的光线,从而得到普朗克常量的测量结果。

第一步:制备工作。

(1)先要制备出激光器,连接激光器与波长计、功率计;(2)安装滤光器并连接电源和检测器用于检测;(3)准备好所需的化学品和实验仪器,确保实验区域干净、安全。

第二步:确定光线的频率。

(1)使用半导体激光器,通过改变其电流来调节光的频率;(2)利用波长计对光线的频率进行测量。

第三步:筛选出所需波长的光。

(1)利用滤光器的特性,筛出与能量(E‘)相称的波长的光;(2)用检测器检测波长的光线强度以确认所得波长是否准确;第四步:计算普朗克常量。

(1)根据筛选的波长和波长计测量的频率,计算与能量(E‘)相应的值;(2)将能量值代入 Planck-Einstein 公式中,计算普朗克常量的值。

值得注意的是,使用半导体激光器测量普朗克常量的过程中,各项操作都需要严格控制,以确保测量精度和可靠性。

半导体激光器发射光谱测量

半导体激光器发射光谱测量

实验C 半导体激光器发射光谱测量实验简介:半导体激光器是以半导体材料作为工作物质的激光器,也是近年来发展得最快的激光器之一。

1962年夏,通用电气实验室的Holonyak在温度为77K的条件下,实现时间短暂的注入受激辐射。

当时的半导体激光器采用同质结结构,由于它在室温下的阈值电流密度高达104A/cm2量级,故只能在液氮温度下才能连续工作,因而是没有实用价值的。

随着半导体工艺的发展,后来出现了能在室温下进行脉冲工作的半导体激光器。

1970 年研制成功的双异质结半导体激光器可在室温下连续工作,其阈值电流密度几乎降低了两个数量级。

20 世纪70年代中期开始出现了一些高功率、具有不同特点、频率响应特性好、热稳定性好的单模激光器,如分布反馈(DFB)、分布布拉格反射(DBR)、解理耦合腔、双有源层和量子阱等结构的半导体激光器。

其振荡波长已能覆盖从30µm的红外到0.32µm的紫外这样大的范围。

实验目的:1、了解半导体激光器的基本原理及基本参数;2、测量半导体激光器的输出特性和光谱特性;3、了解外腔选模的机理,熟悉光栅外腔选模技术;4、熟悉压窄谱线宽度的方法。

实验仪器:650半导体激光器、激光功率计、MS9001B/B光谱仪、闪耀光栅、透镜、He—Ne激光器、470 型扫描干涉仪。

实验原理:(一)半导体激光器的辐射机理从激光物理学中,我们知道产生激光的必要条件是粒子数反转,在半导体激光器中称作载流子数反转分布。

正常条件下,电子总是从低能态的价带填充起,填满价带后才能填充到高能态的导带;而空穴则相反。

如果用光注入或电注入的方法,使p-n结附近区域形成大量的非平衡载流子,即在小于复合寿命的时间内,电子可在导带,空穴可在价带分别达到平衡(如图1),那么在此注入区内,这些简并化分布的导带电子和价带空穴就处于相对反转分布,也称之为载流子反转分布。

注入区称为载流子分布反转区或作用区。

结型半导体激光器通常用与p-n结平面相垂直的一对相互平行的自然解理面构成平面腔。

半导体激光器的参数测量

半导体激光器的参数测量

1.2
2.5
V-I
2
0.8 1.5
输出功率(m W ) 工 作 电 压 ( mV)
1 0.4
P-I
0.5
0
0
0
5
10
15
20
25
工 作 电 流 ( m A)
图 3 半导体激光器的工作特性曲线
图 3 中给出了典型的半导体激光器的工作特性示意图,其中实线是输出光功率和工作电 流的关系(实线);图中的虚线是工作电压和工作电流的关系曲线(V-I 曲线),它基本是由 两段斜率不同的直线构成,一般 LD 在极小的电流状态下,电压已经较大了,所以一般测量 时,只能看到第二段,第二段是 LD 的串联电阻(LD 本身的电阻特性)与通过 LD 的电流 的结果。
(2)效率
a) 外量子效率:
η ex
=
激光器每秒钟发射的光子数 = Pex / hν 激光器每秒钟注入的电子 − 空穴对数 I / e0
其中 Pex 为激光器输出光功率,h 为普朗克常数,e0 为电荷常数,I 为工作电流。一
般 77K 时,GaAs 激光器外量子效率达 70%-80%;300K 时,降到 30%左右。
p-n 结电注入激发机理。若在形成了 p-n 结的半导体材料上加上正向偏压,p 区接正极, n 区接负极。显然,正向电压的电场与 p-n 结的自建电场方向相反,它削弱了自建电场对晶
图 1 自建电场的示意图
体中电子扩散运动的阻碍作用,使 n 区中的自由电子在正向电压的作用下,又源源不断地通 过 p-n 结向 p 区扩散,在结区内同时存在着大量导带中的电子和价带中的空穴时,它们将在 注入区产生复合,当导带中的电子跃迁到价带时,多余的能量就以光的形式发射出来。这就 是半导体场致发光的机理,这种自发复合的发光称为自发辐射。

半导体激光器光谱特性测量

半导体激光器光谱特性测量

光谱特性的测试方法 1一、实验目的:1、学习AQ6319光谱分析仪(optical spectrum analyzer)的使用。

2、熟悉激光器光谱特性的有关概念,并用相应的方法进行测量。

二、实验仪器说明:1、AQ6319光谱分析仪的示意图:2、几个常用按钮的使用说明:(1)SPAN键:可以观测扫描波长范围(SPAN WL)、扫描的起始波长(START WL)、扫描的结束波长(STOP WL)以及扫描的平均时间等参数;比如:SPAN WL 10.0nm;START WL 1313.708nm;STOP WL 1323.708nm;SWEEP TIME 2 sec;(2)LEVEL键:点击后屏幕右侧会出现多个选项○1REF LEVEL:通过数值键输入可以改变纵坐标显示的最大值;○2LOG SCALE-10.0dB/D:纵坐标以dBm显示;○3LIN SCALE-mw:纵坐标以mw显示;○4PEAK-REF LEVEL:以光源的功率最大值作为纵坐标的最大值;○5AUTO REF LEVEL OFF/ON:光谱分析仪内置有光衰减器,当输入光功率超过仪器的允许范围时,应开启内置衰减器,OFF表示未开启,ON表示开启。

(3)ZOOM键:点击后屏幕右侧会出现多个选项○1ZOOM CENTER WL:表示屏幕横轴显示的波长中心值○2ZOOM SPAN WL:表示屏幕横轴显示的波长扫描范围;○3ZOOM START WL:表示屏幕横轴显示的波长初始值;○4ZOOM STOP WL:表示屏幕横轴显示的波长结束值;(4)SWEEP键:点击后屏幕右侧出现开机时的多个默认选项○1AUTO:自动扫描光谱○2STOP:让不停扫描的光谱停止下来;○3REPEAT键:重复扫描被测光源;(5)PEAK SEARCH键:点击屏幕右侧的PEAK SEARCH键和BOTTOM SEARCH键,可以分别观测到光谱功率的最大值和最小值;(6)ANALYSIS键:点击后屏幕右侧会出现多个选项○1SPEC WIDTH THRESH:有THRESH、ENVELOPE、RMS、PEAK RMS、NOTCH多个键,选择THRESH即可;○2ANALYSIS1 ***:最开始显示的值是上次结束时选择的值;它有DFB-LD、FP-LD、LED、SMSR(最小边模抑制比)、POWER多个键,根据不同的需要进行选择;○3SPEC WIDTH THRESH:通过数值键可以设置你想要的dB,比如当需要测量中心波长时,就需要设置成3dB;○4ANALYSIS EXECUTE THRESH:点击使你重新设置的值生效;○5PARAMETER SETTING:其中有THRESH LEVEL、K、MODE FIT等值需要设定三、光谱特性的具体测量步骤:1、测试准备:(1)打开光源和光谱分析仪;(2)测试之前,应先检测一下光源的光功率,确保输入光功率不超过光谱分析仪的输入允许范围,否则会损坏光谱分析仪的光口;(3)将被测光源的输出端用跳线连接到OPTICAL INPUT;(4)按AUTO键;(5)按STOP键;(6)按SPAN键,观测扫描波长范围(SPAN WL)、扫描的起始波长(START WL)、扫描的结束波长(STOP WL)以及扫描的平均时间。

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半导体激光器常用参数的测定一 实验目的:掌握半导体激光器常用的电学参数及其测试方法一 实验基本原理1、 普通光源的发光——受激吸收和自发辐射普通常见光源的发光(如电灯、火焰、太阳等地发光)是由于物质在受到外来能量(如光能、电能、热能等)作用时,原子中的电子就会吸收外来能量而从低能级跃迁到高能级,即原子被激发。

激发的过程是一个“受激吸收”过程。

处在高能级(E2)的电子寿命很短(一般为10-8~10-9秒),在没有外界作用下会自发地向低能级(E1)跃迁,跃迁时将产生光(电磁波)辐射。

辐射光子能量为12E E h -=ν这种辐射称为自发辐射。

原子的自发辐射过程完全是一种随机过程,各发光原子的发光过程各自独立,互不关联,即所辐射的光在发射方向上是无规则的射向四面八方,另外未位相、偏振状态也各不相同。

由于激发能级有一个宽度,所以发射光的频率也不是单一的,而有一个范围。

在通常热平衡条件下,处于高能级E2上的原子数密度N2,远比处于低能级的原子数密度低,这是因为处于能级E 的原子数密度N 的大小时随能级E 的增加而指数减小,即N ∝exp(-E/kT),这是著名的波耳兹曼分布规律。

于是在上、下两个能级上的原子数密度比为]/)(ex p[/1212kT E E N N --∝式中k 为波耳兹曼常量,T 为绝对温度。

因为E2>E1,所以N2《N1。

例如,已知氢原子基态能量为E1=-13.6eV ,第一激发态能量为E2=-3.4eV ,在20℃时,kT≈0.025eV,则0)400ex p(/12≈-∝N N可见,在20℃时,全部氢原子几乎都处于基态,要使原子发光,必须外界提供能量使原子到达激发态,所以普通广义的发光是包含了受激吸收和自发辐射两个过程。

一般说来,这种光源所辐射光的能量是不强的,加上向四面八方发射,更使能量分散了。

2、 受激辐射和光的放大由量子理论知识知道,一个能级对应电子的一个能量状态。

电子能量由主量子数n(n=1,2,…)决定。

但是实际描写原子中电子运动状态,除能量外,还有轨道角动量L 和自旋角动量s ,它们都是量子化的,由相应的量子数来描述。

对轨道角动量,波尔曾给出了量子化公式Ln =nh ,但这不严格,因这个式子还是在把电子运动看作轨道运动基础上得到的。

严格的能量量子化以及角动量量子化都应该有量子力学理论来推导。

量子理论告诉我们,电子从高能态向低能态跃迁时只能发生在l (角动量量子数)量子数相差±1的两个状态之间,这就是一种选择规则。

如果选择规则不满足,则跃迁的几率很小,甚至接近零。

在原子中可能存在这样一些能级,一旦电子被激发到这种能级上时,由于不满足跃迁的选择规则,可使它在这种能级上的寿命很长,不易发生自发跃迁到低能级上。

这种能级称为亚稳态能级。

但是,在外加光的诱发和刺激下可以使其迅速跃迁到低能级,并放出光子。

这种过程是被“激”出来的,故称受激辐射。

受激辐射的概念世爱因斯坦于1917年在推导普朗克的黑体辐射公式时,第一个提出来的。

他从理论上预言了原子发生受激辐射的可能性,这是激光的基础。

受激辐射的过程大致如下:原子开始处于高能级E2,当一个外来光子所带的能量hυ正好为某一对能级之差E2-E1,则这原子可以在此外来光子的诱发下从高能级E2向低能级E1跃迁。

这种受激辐射的光子有显著的特点,就是原子可发出与诱发光子全同的光子,不仅频率(能量)相同,而且发射方向、偏振方向以及光波的相位都完全一样。

于是,入射一个光子,就会出射两个完全相同的光子。

这意味着原来光信号被放大这种在受激过程中产生并被放大的光,就是激光。

3、 粒子数反转一个诱发光子不仅能引起受激辐射,而且它也能引起受激吸收,所以只有当处在高能级地原子数目比处在低能级的还多时,受激辐射跃迁才能超过受激吸收,而占优势。

由此可见,为使光源发射激光,而不是发出普通光的关键是发光原子处在高能级的数目比低能级上的多,这种情况,称为粒子数反转。

但在热平衡条件下,原子几乎都处于最低能级(基态)。

因此,如何从技术上实现粒子数反转则是产生激光的必要条件。

三、激光器的结构激光器一般包括三个部分。

1、 激光工作介质激光的产生必须选择合适的工作介质,可以是气体、液体、固体或半导体。

在这种介质中可以实现粒子数反转,以制造获得激光的必要条件。

显然亚稳态能级的存在,对实现粒子数反转世非常有利的。

现有工作介质近千种,可产生的激光波长包括从真空紫外道远红外,非常广泛。

2、 激励源为了使工作介质中出现粒子数反转,必须用一定的方法去激励原子体系,使处于上能级的粒子数增加。

一般可以用气体放电的办法来利用具有动能的电子去激发介质原子,称为电激励;也可用脉冲光源来照射工作介质,称为光激励;还有热激励、化学激励等。

各种激励方式被形象化地称为泵浦或抽运。

为了不断得到激光输出,必须不断地“泵浦”以维持处于上能级的粒子数比下能级多。

(a) 自发辐射(b) 受激吸收3、谐振腔有了合适的工作物质和激励源后,可实现粒子数反转,但这样产生的受激辐射强度很弱,无法实际应用。

于是人们就想到了用光学谐振腔进行放大。

所谓光学谐振腔,实际是在激光器两端,面对面装上两块反射率很高的镜。

一块几乎全反射,一块光大部分反射、少量透射出去,以使激光可透过这块镜子而射出。

被反射回到工作介质的光,继续诱发新的受激辐射,光被放大。

因此,光在谐振腔中来回振荡,造成连锁反应,雪崩似的获得放大,产生强烈的激光,从部分反射镜子一端输出。

四、激光器的种类对激光器有不同的分类方法,一般按工作介质的不同来分类,在可以分为固体激光器、气体激光器、液体激光器和半导体激光器。

另外,根据激光输出方式的不同又可分为连续激光器和脉冲激光器,其中脉冲激光的峰值功率可以非常大,还可以按发光的频率和发光功率大小分类。

1、固体激光器一般讲,固体激光器具有器件小、坚固、使用方便、输出功率大的特点。

这种激光器的工作介质是在作为基质材料的晶体或玻璃中均匀掺入少量激活离子,除了前面介绍用红宝石和玻璃外,常用的还有钇铝石榴石(YAG)晶体中掺入三价钕离子的激光器,它发射1060nm 的近红外激光。

固体激光器一般连续功率可达100W以上,脉冲峰值功率可达109W。

2、气体激光器气体激光器具有结构简单、造价低;操作方便;工作介质均匀,光束质量好;以及能长时间较稳定地连续工作的有点。

这也是目前品种最多、应用广泛的一类激光器,占有市场达60%左右。

其中,氦-氖激光器是最常用的一种。

3、半导体激光器半导体激光器是以半导体材料作为工作介质的。

目前较成熟的是砷化镓激光器,发射840nm的激光。

另有掺铝的砷化镓、硫化铬硫化锌等激光器。

激励方式有光泵浦、电激励等。

这种激光器体积小、质量轻、寿命长、结构简单而坚固,特别适于在飞机、车辆、宇宙飞船上用。

在70年代末期,由于光纤通讯和光盘技术的发展大大推动了半导体激光器的发展。

半导体激光器通常采用电注入实现粒子数的翻转4、液体激光器常用的是染料激光器,采用有机染料最为工作介质。

大多数情况是把有机染料溶于溶剂中(乙醇、丙酮、水等)中使用,也有以蒸气状态工作的。

利用不同染料可获得不同波长激光(在可见光范围)。

染料激光器一般使用激光作泵浦源,例如常用的有氩离子激光器等。

液体激光器工作原理比较复杂。

输出波长连续可调,且覆盖面宽是它的优点,使它也得到广泛应用。

五半导体激光器主要电学参数及其测量1、电压-电流(伏安、V-I)特性激光器的V-I特性反应出其结特性的优劣,通过大电流下的正向V-I特性可估算出串联电阻值。

图22、 功率-电流(P -I )特性曲线激光器总的发射功率(P )与注入电流(I )的关系曲线称为功率-电流(P -I )曲线 图3所示。

随注入电流增加,激光器首先是渐渐地增加自发辐射,直至它开始发生受激辐射。

最感兴趣的参数是开始发生受激辐射时的精确的电流值通常把这个电流值称之为阈值电流,它是一个正向电流,并用符号I th 表示。

3、阈值电流(I th )阈值电流是激光器开始受激辐射时的正向电流。

测量阈值电流的方法很多,主要有三种方法:(1)P -I 关系法利用激光器的P -I 曲线可以找到I th ,其作法有三种:第一是双斜法它是将P -I 曲线中两条直线延长线交点所对应的电流作为激光器的阈值电流I th (如图4a 所示);第二种作法是输出光功率延长线与电流轴的交点作为激光器的I th (如图4b 所示),这是一种比较常规的作法;第三种方法是在P -I 曲线中,将光功率对电流求二阶导数,求导数波峰所对应的电流值为I th ,这种作法的测量精度较高,如图4c 所示(2)远场法远场法就是观察激光器远场图形的变化。

当注入电流很小时,变像管荧光屏上显示出均匀的弱光(荧光),电流继续增加时,出现超辐射。

当注入电流进一步增加时,荧光屏上出现一条或几条垂直的亮条,突然出现亮条时的电流就是阈值电流。

(3)光谱法光谱法就是从激光器发射光谱上确定阈值电流。

当注入电流低于阈值电流时光谱很宽,当注入电流达到阈值电流时,光谱突然变窄并出现单峰(或多峰),这时的电流就是阈值电流。

4 阈值输出光功率(P th )把阈值电流时发射的光输出功率规定为阈值光输出功率。

5 P -I 曲线的斜率(%)表示这种能力的直接量值是I th 以上的P -I 曲线的斜率用△P/△I 。

单位是W/A 或mW/mA 。

在I th 以上的P -I 曲线的斜率表示每安培的注入电流有多少瓦的激光输出。

6 特征温度(T 0)特征温度是衡量激光器对温度灵敏度的一个参数。

较高的T 0意味着当温度快速增加时,激光器的阈值电流增大。

也可以把T 0解释为激光器的热稳定性。

测量的方法是:在各种温度下实验地测量LD 的P -I 曲线,然后把结果写成表,便可以计算T 0的值。

]/ex p[00T T J J th =0]ln[T T J J th = 00/ln ln T T J J th =-0/ln T T J th ∆=∆th J T T ln /0∆∆=六 实验内容和步骤1 测量激光器的伏安特性曲线2 测量激光器的P -I 特性曲线3 用三种方法确定激光器的阈值电流4 确定室温时激光器的P -I 曲线的斜率5 测定半导体激光器的特征温度七 实验设备图示仪,激光二极管光强空间分布曲线测试系统。

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