可靠性试验规范

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可靠性试验规范-试验方法

目次

1 范围 (1)

2 术语和定义 (1)

2.1 实验室环境(Laboratory environment) (1)

3 试验项目 (1)

3.1 A 组环境可靠性试验 (1)

3.2 B 组结构可靠性试验 (10)

4 记录 (17)

附录 A 外观检查项目 (18)

附录 B 功能检查项目 (19)

附录 C 射频检查项目 (20)

图表目录

表1 外观检查项目 (18)

表2 功能检查项目 (19)

表3 射频指标检查项目 (20)

可靠性试验规范-试验方法

1 范围

2 术语和定义

2.1 实验室环境(Laboratory environment)

温度T = 20 –25 ℃ ,相对湿度RH = 40 –60 %。

3 试验项目

3.1 A 组环境可靠性试验

3.1.1 气候环境试验

3.1.1.1 低温运行

a) 试验目的:验证样品在低温环境下使用的适应性。

b) 试验参数:

1) 温度要求: -30℃ (CDMA 手机, Gota 产品,车载产品);

-20℃(便携式手机);

-10℃(网卡、接入盒、固定台、监视终端);

2) 持续时间: 16H (温度稳定后开始计算);

3) 电压拉偏:在开机电压下进行试验(如在 3.5 V 进行电压拉偏试验);

4) 测试样机数:不小于 5 台。

c) 测试设备:综合测试仪,温度试验箱

d) 试验步骤:

1) 在室温下检查待测试验样机的结构,外观及电性能。

2) 将待测样机放进温度试验箱,连接好充电器,开机,样机处于充电待机状态。

3) 温度试验箱内温度以1℃/min 的速率从常温下降到设定的温度。

4) 温度达到稳定后持续运行 4 小时,对试验样机进行在线射频监测。量测时,样机不应从试验箱

中取出。

5) 接着,使样机的处于开机电压(例如 3.5 V)下进行电压拉偏试验,拉偏作用时间为 4 小时,然

后对样机的射频性能按附录 B 进行测试。量测完成后,温度试验箱内温度以1℃/min 的速率从

低温恢复到常温。

3.1.1.1.1 例图 1:低温运行曲线

6) 将样机从箱内拿出来即将按附录A 和附录 B 进行外观功能测试。

e) 判断标准:

1) 外观结构满足附录 A 要求

2) 性能指标满足附录 B 要求。

3) 射频指标满足附录 C 的要求。

3.1.1.2 高温运行

a) 参考标准: GB/T 2423.2-2001 试验 B:高温

GB/T 4797.1-2005 温度和湿度

GB/T 4798.7 携带和非固定使用

b) 试验目的:验证样品在高温环境下使用的适应性。

c) 试验参数:

1) 温度要求: 60℃

2) 持续时间: 16H (温度稳定后开始计算);

3) 电压拉偏:在开机电压下进行试验(如在 4.2 V 进行电压拉偏试验);

4) 测试样机数:不小于 5 台。

d) 测试设备:综合测试仪,温度试验箱

e) 试验步骤:

1) 在室温下检查待测试验样机的结构,外观及电性能。

2) 将待测样机放进温度试验箱,连接好充电器,开机,样机处于充电待机状态。

3) 温度试验箱内温度以1℃/min 的速率从常温上升到设定的温度。

4) 温度达到稳定后持续运行 4 小时,对试验样机进行在线射频监测。量测时,样机不应从试验箱

中取出。

5) 接着,使样机的处于开机电压(例如 4.2 V)下进行电压拉偏试验,拉偏作用时间为 4 小时,然

后对样机的射频性能按附录 B 进行测试。量测完成后,温度试验箱内温度以1℃/min 的速率从高温恢复到常温。

例图 2:高温运行曲线

6) 将样机从箱内拿出来按附录 A 和附录 B 进行外观功能测试。

f) 判断标准:

1) 外观结构满足附录 A 要求

2) 性能指标满足附录 B 要求。

3) 射频指标满足附录 C 的要求。

3.1.1.3 低温存储

a) 试验目的:验证样品在低温环境中运输、存储的适应性。

b) 试验参数:

1) 温度要求: -40℃

2) 持续时间: 24H (温度稳定后开始计算);

3) 测试样机数:不小于 5 台。

c) 测试设备:综合测试仪,温度试验箱

d) 试验步骤:

1) 在室温下检查待测试验样机的结构,外观及电性能。

2) 将待测样机以关机状态放进温度试验箱。

3) 温度试验箱内温度以1℃/min 的速率从常温下降到-40℃。

4) 温度达到稳定后持续运行 16 小时后,温度试验箱内温度以1℃/min 的速率恢复到常温。

5) 将样机在常温中恢复 2 小时后按附录 A、附录 B 和附录 C 进行外观、功能和射频指标测试。

e) 判断标准:

1) 外观结构满足附录 A 要求

2) 性能指标满足附录 B 要求。

3) 射频指标满足附录 C 的要求。

3.1.1.4 高温存储

a) 试验目的:验证样品在高温环境中运输、存储的适应性。

b) 试验参数:

1) 温度要求: -85℃

2) 持续时间: 24H (温度稳定后开始计算);

3) 测试样机数:不小于 5 台。

c) 测试设备:综合测试仪,温度试验箱

d) 试验步骤:

1) 在室温下检查待测试验样机的结构,外观及电性能。

2) 将待测样机以关机状态放进温度试验箱。

3) 温度试验箱内温度以1℃/min 的速率从常温上升到+85℃。

4) 温度达到稳定后持续运行 16 小时,温度试验箱内温度以1℃/min 的速率恢复到常温。

5) 将样机在常温中恢复 2 小时后按附录 A、附录 B 和附录 C 进行外观、功能和射频指标测试。

e) 判断标准:

1) 外观结构满足附录 A 要求

2) 性能指标满足附录 B 要求。

3) 射频指标满足附录 C 的要求。

3.1.1.5 温度冲击

a) 参考标准: GB/T 2423.22-2002 试验 N:温度变化

b) 试验目的:验证样品经受急剧温度变化的能力。

c) 试验参数:

1) 温度要求: - 40 οC / + 85 οC,温度交变时间< 3 min

2) 持续时间: 10 个循环, 1 个循环= 1H 低温/1H 高温

3) 恢复时间: 2 小时

4) 测试样机数:不小于 5 台。

d) 测试设备:综合测试仪,温度冲击试验箱

e) 试验步骤:

1) 在室温下检查待测试验样机的结构,外观及电性能。

2) 将待测样机以关机状态放进温度冲击试验箱。

3) 样机先在低温箱-40℃中保持一小时后,迅速转移到高温箱,并在+85℃中保持 1 小时,此为 1

个循环。温度交换时间小于 3 分钟。

4) 重复温度变化 10 个循环后,温度试验箱恢复到常温条件。

5) 样机在温度冲击箱内以常温状态恢复 2 小时后,取出样品按附录 A、附录 B 和附录 C 进行外观、

功能和射频指标测试。

f) 判断标准:

1) 外观结构满足附录 A 要求。

2) 性能指标满足附录 B 要求。

3) 射频指标满足附录 C 的要求。

3.1.1.6 恒定湿热

a) 参考标准: GB/T 2423.3-2022 试验 Cab:恒定湿热试验

GB/T 4797.1-2005 温度和湿度

GB/T 4798.7 携带和非固定使用

b) 试验目的:确定样品在高温高湿条件下的使用、存储和运输的适应性。

c) 试验参数:

1) 温度:(+55±2)℃

2) 湿度:(95±3) %RH

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