KDP晶体电光效应【重要 讲解清晰】
线性光学晶体磷酸二氢钾(KDP)的单晶生长与光学性能测定
福州大学化学化工学院本科实验报告课程名称:综合化学实验实验项目名称:线性光学晶体磷酸二氢钾(KDP)的单晶生长与光学性能测定实验室名称:化学化工实验中心北楼学生姓名:陈世昌学号:11S040902103学生所在学院:化学化工学院年级、专业:09级化学类实验指导教师:林树坤2012年11月23日非线性光学晶体磷酸二氢钾(KDP)的单晶生长与光学性能测定摘要:KDP晶体是一种性能优良并且易于长大的非线性光学材料,又是一种性能较优良的电光晶体材料,并且也是惟一能用于激光核聚变等研究的高功率系统中的晶体。
它通常采用水溶液降温法来生长,所以易于对晶体的生长形态和过程进行观察分析,是研究晶体生长的一个理想的模型。
本文通过KDP晶体的合成与生长,并使用红外光谱分析、X射线粉末衍射法、等表征方法对KDP晶体进行结构分析。
关键字:KDP晶体,红外光谱,X射线粉末衍射法,微机X射线分析,偏光显微分析研究背景磷酸二氢钾晶体,简称KDP,属于四方晶系,点群D4h,无色透明,其理想外形如图1所示。
该晶体具有多功能性质。
上世纪50年代,KDP作为性能优良的压电晶体材料,主要被应用于制造声纳和民用压电换能器。
60年代,随着激光技术出现,由于KDP晶体具有较大的非线性光学系数和较高的激光损伤阈值,而且晶体从近红外到紫外波段都有很高的透过率,可对1.064μm 激光实现二倍频,同时KDP晶体又是一种性能优良的电光晶体材料。
使得该晶体在高功率激光系统受控热核反应、核爆模拟等重大技术上更显现出它的应用前景,因此,对特大尺寸的KDP 优质光学晶体的研究,在国内外一直受到研究者的极大关注。
图1. KDP晶体理想外形实验内容一、实验目的和要求1.了解KDP晶体原料的合成、表征和水溶液降温法单晶生长的基本过程与方法。
2.掌握KDP晶体溶解度的测定方法,了解KDP晶体结晶习性以及晶体外形、晶体宏观对称性的观察和描述。
3.掌握晶体偏光性质和油浸法晶体折射率的测定方法、了解晶体光学均匀性、晶体透过率等性能测试的实验原理和方法。
晶体电光效应
1.晶体的电光效应2.KDP 晶体线性电光效应3.KDP 晶体的应用1 晶体的电光效应因为晶体折射率的各向异性与组成晶体的原子或分子的排列方式及相互作用的特点有关,因此,外界作用可以改变他们的排列方式(例如压力下的形变)或相互作用的状况(例如电场使原子极化),导致晶体光学性质产生相应的变化。
人工双折射就是指光学介质受到人为施加的外力或外场作用而产生的偏振和双折射现象。
人工双折射可以根据人们的意愿加以控制。
例如将一块受到电场作用的晶体放在两块偏振器之间,人们就可以通过改变电场的大小或方向而有效的控制出射光束的强度、方向和偏振态等,达到电光调制、偏转、调Q 等目的。
1.1 电光效应基本原理在各向异性晶体中,介电常数是随作用在介质上的电场强度而变化的,尤其在强场作用下这种变化就更加明显,光波在其中的传播规律也要改变。
对于无对称中心的晶体,外加电场沿一个主轴方向作用于晶体上,感生电位移矢量D 和外加电场E 的方向一致,大小关系可表示为:⋯+++=320E E E D βαε以D(E)曲线的切线斜率定义介电常数,上式可写为:⋯+++==2032d d E E E Dβαεε显然,折射率随外加电场而变化(如下图)。
我们把介质由于外加电场作用而引起的折射率变化的现象称为电光效应。
为了定量的描述电场引起的折射率变化,上式写为:2/1220200220232132n ⎪⎪⎭⎫⎝⎛++=⋯+++=E n E n n n E E n βαβα利用公式,上式可简化为:⋯+++=2023n n n E n E βα令:,2/3,/00n b n a βα== 则有电场引起折射率变化为:⋯++=20n -n bE aE此外,不仅电场能够引起介质折射率变化,而且外力也能引起介质的折射率变化。
沿晶体主轴方向作用单向压力,参照上述分析方法,折射率因应力而产生的变化,可表示为:⋯++=2''0n -n σσb a其中σ表示应力。
晶体的电光效应
三、实验原理
1.电光效应
晶体在外电场的作用下折射率的变化可 表示为:
n= n0 +aE0+bE02 + ┅
式中a和b为常数,n0为E0=0时的折射率。由 一次项引起的折射率变化称为一次电光效 应,也称线性电光效应或泡克耳斯效应; 由二次项引起的折射率变化称为二次电光 效应或克尔效应。
晶体的一次电光效应分为纵向电光效应和横向电光 效应。纵向电光效应是加在晶体上的电场方向与光在晶 体里的传播方向平行时产生的电光效应;横向电光效应 是加在晶体上的电场方向与光在晶体里的传播方向垂直 时产生的电光效应;观察纵向电光效应常用磷酸二氢钾 (KDP)类晶体进行,而铌酸锂(LiNbO3)晶体则被 用于产生横向电光效应。
设 V V0 Vm sin t
2 T sin V sin (V0 Vm sin t ) 2V 2V
2
(1) V0 V / 2 ,Vm V
Vm 1 T (1 sin t ) 2 V
此为线性调制
(2) V0 0 , Vm V
晶体的电光效应
• 实验及应用背景介绍 • 实验目的和教学要求 • 实验原理 • 实验仪器和装置 • 实验内容 • 注意事项 • 课堂思考 • 选做实验
一、实验及应用背景介绍
晶体在外电场的作用下折射率会发生变 化,这种现象称为电光效应。电光效应在工 程技术和科学研究中有许多重要应用.
它有很短的响应时间(足够跟上十亿赫兹的电场 变化),可以制成快速控制光强的光开关;
Vm 1 T sin ( Vm sin t ) [1 cos( sin t )] 2V 2 V
2
1 Vm 2 1 Vm 2 2 ( ) sin t ( ) (1 cos2t ) 4 V 8 V
第22讲 电光效应
222源自1 3 n x n0 63 E z 2 1 3 n y n0 63 E z 2 n z 0
电致折射 率的变化
KDP晶体沿z轴方向夹电场,单轴晶变成双轴晶,折射率椭 球绕主轴旋转了45度,此转角与外加电场的大小无关,其 折射率的变化与电场成正比。 单轴晶体在Pockel效应的作用下,关于Z轴的旋转对称被 破坏, nx ny nz 变成的双轴晶体。
2
介质中(非气体、液体、玻璃等), E 2代表Kerr效应,是二次电光效应,存在于所有介质中。
1 电光效应的张量形式为: n2 ij E j ijk E j Ek i 1, 2, 3 i 1, 2 6 j, k x, y, z
4
一般情况下: E
x2 y2 z2 2 2 2 41 E x yz 2 52 E y zx 2 63 E z xy 1 2 no no ne
8
22.1 电光效应
x2 y2 z2 2 2 2 41 E x yz 2 52 E y zx 2 63 E z xy 1 2 no no ne
在晶体上施加外电场电致折射率变化折射率椭球发生变化折射率椭球各系数在外电场的作用下的变化量221电光效应pockel效应电致折射率变化折射率椭球的形变主轴的方向与长度如果以公式表示可折射率椭球系数生变写成yzzxxyijij221电光效应kdppockel晶体的效应kdp晶体的电光系数矩阵为
激光原理与技术
电致折射率的变化
分析方法:一、电磁场理论 二、折射率椭球的方法 在折射率主轴坐标系中, 折射率椭球的一般方程表述:
x2 y 2 z 2 2 2 1 2 nx ny nz
kdp晶体半波电压及电光系数的测量研究
KDP晶体是一种材料,具有良好的光学性能,被广泛应用于激光系统和光学器件中。
而其电光效应是指当晶体受到外加电场作用时,其折射率会随之发生变化,这一特性使得KDP晶体可以用于制作光电调制器和光纤通信中的调制器等设备。
对KDP晶体的电光性能进行准确测量是至关重要的。
在进行KDP晶体半波电压及电光系数的测量研究时,首先需要了解KDP晶体的基本特性和其在电光调制中的应用。
KDP晶体是一种非线性光学晶体,具有较大的非线性光学系数和良好的光学均匀性,因此被广泛用于高功率激光系统中的调制器和频率倍增器等设备。
其电光效应是指当晶体受到外加电场作用时,其折射率发生变化,进而影响光的传播速度和相位,从而实现光的调制和控制。
针对KDP晶体的电光性能测量,目前常用的方法包括Mach-Zehnder 干涉法、腔内腔外法、自聚焦法等。
其中,Mach-Zehnder干涉法是一种常用的精密测量方法,通过在KDP晶体中引入电场,并测量其折射率的变化,从而得到KDP晶体的电光系数。
而在测量KDP晶体的半波电压时,常常使用光学腔内腔外法,通过在KDP晶体中产生光学谐振腔,并加入外加电场,测量其在不同电压下的半波电压。
这些方法都需要精密的光学和电学实验设备,并且需要较高的实验技术。
在实际测量中,需要考虑到KDP晶体的制备工艺和表面质量等因素对电光性能的影响。
晶体的晶面质量、表面平整度等因素都会直接影响到晶体的电光性能,因此在测量前需要对KDP晶体的质量进行严格的检查和评估。
外加电场的施加和调控也需要精密的电路设计和实验操作,以保证实验的准确性和可靠性。
在进行KDP晶体半波电压及电光系数的测量研究时,需要综合考虑KDP晶体的基本性能、测量方法的选择、实验设备和技术的要求等因素。
通过深入的研究和实验,我们可以更加全面、深入地了解KDP晶体的电光性能,为其在激光系统和光学器件中的应用提供支持和指导。
在个人观点上,我认为KDP晶体作为一种重要的非线性光学材料,其电光性能的研究和测量对于深入理解其光学性能并指导其在激光系统中的应用具有重要意义。
激光原理kdp晶体的纵向应用
激光原理KDP晶体的纵向应用1. KDP晶体的概述KDP(钾二氧磷酸氢氢钾)晶体是一种重要的非线性光学晶体,具有优异的光学性能和非线性效应,被广泛应用于激光技术领域。
它是一种可生长的单晶材料,具有宽的透明光谱范围,优异的物理和化学稳定性。
2. KDP晶体的激光原理KDP晶体利用非线性光学效应来产生和放大激光。
当激光通过KDP晶体时,其光子会与晶体中的电子相互作用,产生次谐波、和谐波、和混频效应等。
这些非线性效应可以将激光从一个频率转换为另一个频率,实现激光的调制、放大和变频等功能。
3. KDP晶体在激光技术中的纵向应用KDP晶体在激光技术中有多种纵向应用,下面列举了其中几个主要应用领域:3.1 激光测距KDP晶体可以用来制造激光测距系统。
激光经过KDP晶体后,可以通过非线性效应将激光频率转换到可见光或红外光谱范围。
这种转换后的激光具有较高的功率和短的脉冲宽度,可以应用于精确测量目标距离。
3.2 光通信KDP晶体在光通信领域中也有广泛应用。
它可以用来制造光电调制器和倍频器等无源光学器件,实现光信号的调制和变频。
此外,KDP晶体还可以用于激光器的频率锁定和频率稳定等关键技术。
3.3 光谱分析KDP晶体在光谱分析领域也扮演重要角色。
它可以通过非线性光学效应将激光频率转换到可见光或红外光谱范围,实现对样品的光谱分析。
这种高能量、高峰值功率的激光可以提高光谱分析的灵敏度和分辨率。
3.4 激光器KDP晶体还可以作为激光器的放大介质。
激光经过KDP晶体放大后,可以实现激光的放大和增益。
这种激光放大器具有高功率、高峰值功率和较窄的脉冲宽度等特点,广泛应用于激光材料加工、激光通讯和科学研究等领域。
4. KDP晶体的优势和挑战KDP晶体作为激光技术的关键材料,具有以下优势和挑战:4.1 优势•宽的透明光谱范围,适合多种激光波长的应用。
•高的光学非线性效应,可实现激光频率转换和调制等功能。
•较高的光学损伤阈值,可以承受高峰值功率的激光。
kdp晶体半波电压及电光系数的测量研究
32【参考文献】[1]赵鸣,丁立刚,李保卫.高熵材料判据及其在玻璃陶瓷研究中的应用[J].当代化工研究,2019(9):1-4.[2]俞宣良,黄达,陈宣东,等.废弃玻璃作为辅助胶凝材料在混凝土中的应用和研究进展%Research on the Development and Application of Waste Glass as Supplementary CementiousMaterial in Concrete[J].硅酸盐通报,2019, 038(005):1413-1419.[3]游元德.探讨混凝土原材料对混凝土性能的影响与检测控制[J].绿色环保建材,2019(2):18-19.[4]贺梦鸽,张文尧,寿烨俊,等.面向增材制造的废弃陶瓷再生技术的研究[J].硅酸盐通报,2019(6).1 引言磷酸二氢钾晶体(KH 2PO 4,以下简称为KDP)是一种性能十分优异的非线性光学晶体材料[1],其本身有着优越的电光、压电和倍频转换性能[2]。
在激光技术得以广泛发展之后,KDP 晶体的应用也逐渐被人们所关注。
基于KDP 晶体的广泛应用,它的生长方法与参数的测量变的十分重要[3]。
在之前的研究中,KDP 的各种参数与它的生长方法是有着密切联系的,因此它的大部分参数由生产者提供。
但是由于理想环境中的参数往往与实际应用中的存在一定偏差,因此对于KDP 晶体参数的简要测量方法变得十分重要。
对于电光系数的测量方法通常有干涉法和对比法[4],而本研究中提出了一种更加安全简便的测量方法。
2 原理各向异性晶体由于电光效应,在外电场作用下,晶体折射率发生变化,改变原有的双折射性质[5]。
电光系数是反映折射率的变化并定量描述晶体电光效应的常数。
光在晶体中传播时,传播特征由折射率椭球方程描述: (1)因为KDP 晶体为单晶轴晶体,所以x 与y 方向折射率n x =n y =n o ,z 方向折射率n z =n e 。
kdp晶体折射率
kdp晶体折射率KDP晶体折射率KDP晶体是一种重要的非线性光学晶体,具有广泛的应用领域。
其中,折射率是KDP晶体的重要性质之一,对于KDP晶体的光学性能有着重要的影响。
本文将从KDP晶体折射率的定义、测量方法、影响因素以及应用等方面进行探讨。
一、折射率的定义折射率是光线在介质中传播时的速度与在真空中传播时速度的比值,通常用n表示。
在KDP晶体中,折射率是非线性的,即随着光强的变化而变化。
因此,KDP晶体的折射率通常用平均折射率n0和非线性折射率n2表示。
二、测量方法测量KDP晶体的折射率通常采用自聚焦法、自相位调制法、自折变法等方法。
其中,自聚焦法是一种基于自聚焦效应的测量方法,通过测量自聚焦距离和光强的变化来确定KDP晶体的折射率。
自相位调制法则是一种基于自相位调制效应的测量方法,通过测量相位的变化来确定KDP晶体的折射率。
自折变法则是一种基于自折变效应的测量方法,通过测量折射率的变化来确定KDP晶体的折射率。
三、影响因素KDP晶体的折射率受到多种因素的影响,包括温度、光强、波长等。
其中,温度是影响KDP晶体折射率的主要因素之一,随着温度的升高,KDP晶体的折射率会发生变化。
此外,光强和波长也会对KDP晶体的折射率产生影响,光强越大,折射率越大;波长越短,折射率越大。
四、应用KDP晶体的折射率在激光技术、光通信、光存储等领域有着广泛的应用。
在激光技术中,KDP晶体的折射率可以用于调制激光的相位和振幅,实现激光的调制和控制。
在光通信中,KDP晶体的折射率可以用于制作光学器件,如光学开关、光学调制器等。
在光存储中,KDP晶体的折射率可以用于制作光学存储介质,实现光学信息的存储和读取。
综上所述,KDP晶体的折射率是其重要的光学性质之一,对于KDP晶体的应用具有重要的影响。
因此,对于KDP晶体折射率的研究和应用具有重要的意义。
kdp晶体半波电压及电光系数的测量研究
kdp晶体半波电压及电光系数的测量研究KDP晶体是一种常见的非线性光学材料,具有广泛的应用领域,例如激光技术、光通信和医学成像等。
在实际应用中,了解KDP晶体的半波电压和电光系数是非常重要的,因为它们直接影响着KDP晶体在光学器件中的性能和稳定性。
本文将以深入浅出的方式,从基本原理到实验测量,全面探讨KDP晶体半波电压及电光系数的研究。
1. KDP晶体简介KDP(磷酸二氢钾)晶体是一种具有良好光学性能的非线性光学材料,具有优良的光学透明性和较大的光学非线性系数。
在光学器件中,KDP晶体常被用作倍频、调Q开关和光学相位调制等重要组件。
2. KDP晶体的半波电压半波电压是衡量非线性光学响应的重要参数,它反映了当外加电场使晶体光学路径差为光学波长的一半时,晶体所产生的相位变化。
对于KDP晶体来说,半波电压的准确测量对于优化光学器件的性能至关重要。
在实际应用中,常采用压电效应或Pockels效应来测量KDP晶体的半波电压。
3. KDP晶体的电光系数电光系数是反映光学材料对外加电场响应的重要参数,它决定了当晶体受到电场激励时光的相位和强度变化。
KDP晶体的电光系数通常随着波长的变化而变化,因此在设计和制备光学器件时,需要准确地测量不同波长下的电光系数。
4. 实验测量方法在实验室中,测量KDP晶体的半波电压和电光系数通常采用自行设计的实验装置。
可以利用Michelson干涉仪测量KDP晶体的半波电压,利用Mach-Zehnder干涉仪测量KDP晶体的电光系数。
通过精密的光学布置和精确的数据分析,可以得到准确的实验结果。
5. 个人观点和理解对于KDP晶体半波电压及电光系数的测量研究,我认为需要更多的实验探索和理论分析。
随着光电子技术的发展,新的测量方法和技术会不断涌现,为KDP晶体的性能优化和应用拓展提供更多可能性。
总结通过本文的全面探讨,我们对KDP晶体半波电压及电光系数的测量研究有了更加深刻的理解。
从基本原理到实验方法,我们了解了KDP晶体在非线性光学领域的重要性和应用前景。
晶体的电光效应
基础物理实验研究性报告对晶体的电光效应的原理及应用的探究 晶体的电光效应的原理及应用的探究 摘要:本文对晶体的电光效应实验的原理、步骤、仪器进行了简要的介绍, 并对实验数据进行处理以及误差估算。
通过分析实验室条件下误差产生的 原因并进行精确计算, 对比探究了极值法测半波电压和调制法测半波电压, 并做出分析,深入理解实验,在讨论中谈到了实验的收获并从中吸取的经 验教训,并说明实验的收获与感想。
实验目的: 一、实验目的: 1.掌握晶体电光调制的原理和实验方法; 2.学习一种测量晶体半波电压和电光常数的实验方法; 3.观察电光效应引起的晶体光学性质的变化和会聚偏振光的干涉现象。
二、实验原理: 、 验原理: 1.晶体的折射率椭球 根据光的电磁理论知道,光波是一种电磁波。
在各向异性介质中,光 波中的电场强度矢量 E 与电位移矢量 D 的方向是不同的。
对于任意一种 晶体,我们总可以找到一个直角坐标系(x,y,z),在此坐标系中有Di = ε oε ri Ei (i = x,y,z)。
这样的坐标系(x,y,z)叫做主轴坐标系。
光波在晶体中的传播性质可以用一个折射率椭球来描述,在晶体的主轴坐 标系中,折射率椭球的表达式写为:x2 y2 z2 + 2 + =1 2 n x n y n z2其中 ni =ε ri (i =x , y , z), 是晶体 的主折射率。
对于单轴晶体第1页基础物理实验研究性报告(如本实验所用的 LN 晶体)有 nx = ny = no, nz = ne,于是单轴晶体折射 率椭球方程为:x2 + y 2 z 2 + 2 =1 2 no ne由此看出,单轴晶体的折射率椭球是一个旋转对称的椭球。
2.LN 晶体的线性电光效应 . 以上讨论的是没有外界影响时的折射率椭球,也就是晶体的自然双折 射。
当晶体处在一个外加电场中时。
晶体的折射率会发生变化,改变量的 表达式为:∆(1 1 1 ) = 2 − 2 = γ E + pE 2 +⋯⋯ 2 n n n0其中 n 是受外场作用时晶体的折射率,n0 是自然状态下晶体的折射率,E 是外加电场强度, γ 和 p 是与物质有关的常数。
晶体电光声光磁光效应实验实验讲义
2.3 实验原理 .................................................................................................................... 11 2.4 实验仪器 .................................................................................................................... 14 2.5 2.6 实验 3 3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 实验内容 .................................................................................................................... 17 思考题 ........................................................................................................................ 18 晶体的磁光效应实验 ............................................................................................... 19 引言 ............................................................................................................................ 19 实验目的 .................................................................................................................... 19 实验原理 .................................................................................................................... 19 实验仪器 .................................................................................................................... 19 实验内容 .................................................................................................................... 19
KDP晶体电光效应【重要 讲解清晰】
(7) (8)
ij (
1 )ij n2
ijk 为线性电光系数, hijpq 为二次电光系数。
线性电光方程:
ij ijk Ek
(9)
因此在外场作用下,折射率椭球方程为:
1 11 2 21 3 31 4 41 5 51 6 61
12 22 32 42 52 62
13 23 E 33 1 E2 43 E 53 3 63
2.KDP 晶体的线性电光效应 KDP 晶体未加电场:
(15)
1 (0) x12 2 (0) x2 2 3 (0) x3 2 1 1 1 2 ( x12 x2 2 ) 2 x3 2 1 n0 ne
(16)
对 常 用 的 KDP ( KH2PO4 ) 晶 体 有 nx1=nx2=no , nx3=ne , no > ne , 只 有
V
3 2no 63
(25)
半波电压是表征电光晶体性能的一个重要参数,这个电压越小越好,特别是 在宽频带高频率情况下,半波电压越小,需要的调制功率就越小。 ㈡.KDP 晶体的横向应用
入射光进入晶体后即分解为沿 x2 ' 和 x3 方向的两个垂直偏振分量。 相应的
1 3 折射率分别为: n2 ' no no 63 Ez 和 n3 ne 。两偏振分量的相位延迟分别为: 2
1 2 1 2 1 2 2 63 E x1 ' 2 63 E x2 ' 2 x3 ' 1 n n n e o o
物理实验晶体的电光效应
感想
这个实验需要有耐心和一定的技巧, 在读表时的实验步骤出了问题,就找了之 前做过的同学帮助解决,在反复做了几次 后解决了。所以说:做实验时一定要沉得 住气,仔细的思考,对细节之处处理的得 当,而且不要忘记集思广益。
谢谢!!!!
(2) 观察电光调制箱内置波形信号,以 及 解调信号实验光路如图。 (3)用1/4波片改变工作点,观察输出特 性。 (4)光通讯的演示。
两极值的差Uπ=0.55-0.29=0.26v
注意事项
(1)He-Ne激光管出光时,电极上所加的 直流高压,要注意人身安全。 (2)晶体又细又长,容易折断,晶体电极 上面的铝条不能压的太紧或给晶体施加压 力,以免压断晶体。 (3)电源的旋钮顺时针方向为增益加大的 方向,因此,电源开关打开前,所以旋钮 应该逆时针方向旋转到头,关仪器钱,所 有旋钮逆时针方向旋转到头后再关电源。
近代物理实验 晶体的电光效应
电科091 郭鑫 09461111
实验目的
(1)掌握晶体电光调制的原理和实验方 法
(2)学会测量晶体半波电压、电光常数 的实 验方法 (3)了解一种激光通信的方法
实验原理
一·一次电光效应和晶体的折射率椭球
由电场所引起的晶体折射率的变化, 称为电光效应。 通常可将电场引起的折射率的变化用 下式表示: n=n0+aE0+bE02+…… 式中a和b为常数,n0为不加电场是晶体的 折射率。
令电场强度为E=Ez,代入得电场感生的法线 椭球方程式:
x y z 2 2 1 2 nx ny nz
2
2
实验七晶体的电光效应及其应用
实验七晶体的电光效应及其应用——用相位补偿法测量双折射晶体的微小相位差物理学院物理系00004037 贾宏博1 实验目的1.1 研究KD*P晶体的一次电光效应,用光强极小、光强极大和调制法三种方法测定一组KD*P晶体的半波电压。
1.2 用相位补偿法测量双折射云母样品的相位差和折射率差。
2 实验原理2.1 磷酸二氘钾(KD*P)类型晶体的纵向电光效应。
KD*P晶体为负单轴晶体,如图7-1。
它的折射率椭球为旋转椭球,如(7-1)式图7-1 图7-2122222=++eonznyx(7-1)在KD*P晶体的光轴z方向加上电场后,(7-1)式变为126322222=+++xyErnznyxzeo(7-2)经过坐标变换⎪⎩⎪⎨⎧=+=-='45cos'45sin'45sin'45cos'zzyxyyxx(7-2)式转化为1'''2'22'22'2=++z y x n z n y n x ,其中⎪⎩⎪⎨⎧=-=+=--ez z o o y z o o x n n E r n n n E r n n n '2/1632'2/1632')1()1( (7-3)通常1632<<z o E r n ,则(7-3)式化为⎪⎪⎪⎩⎪⎪⎪⎨⎧=+=-=e z zo oy z o ox n n E r n n n E r n n n '633'633'22 (7-4)从图7-2中可以看出在加了电场后折射率椭球的变化。
折射率椭球的x-y 截面变成了椭圆,且长、短轴变成了'x 、'y 轴,并且与x 、y 轴夹角45。
'x 、'y 轴称为感应轴。
当线偏光在KD*P 晶体中沿着z 轴方向传播时,'x 、'y 方向的偏振光的折射率不一样,经过长度为L 的晶体后,产生的相位差为D o z o x y V r n LE r n L n n 633633''22)(2λπλπλπφ==-=(7-5)其中L E V z D =,即加在晶体两端的电压。
晶体物理性能 第7章 电光效应
考虑到63Ez<<nO-2,使用 系,可以得到:
3 nO 63 E3 n1 ' nO 2
3 nO 63 E 3 n2 ' nO 2
n3 1 dn d ( 3 ) 2 n
的关
(7.12a) (7.12b)
1 3 2 3 3 3 4 3 5 3 6 3
E E E
1 2 3
(7.4)
5
6
系数ij共有18元素称为电光张量
共青团南京大学委员会 组织部 8
从二阶张量的性质知道, 二次曲面方程的六个系数,必具有二阶对称张量的性质,所以 每个系数和下列二阶张量符号对应
1 2 n 1 2 n 1 1 1 B B B , , , 11 2 22 2 33 2 B23 , B32 , n 4 n 3 n 2 1 1 B13 , B31 , 2 B12 , B21 n 6 5
n3 ' n e
可见,原来属于单轴晶体的KDP,在E3电场
作用下变为双轴晶体,沿原来光轴传播的特 性会发生最显著的影响.
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2010年11月18日
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二.LiNbO3类晶体
LiNbO3属3m点群,负单轴晶体,标准坐 标系的取法是坐标z轴取在三次轴方向.另外 二轴,取法是x轴,对称平面y沿着对称平 面,属LiNbO3同类的晶体有LiTaO3等.它的 光电系数矩阵为:
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加上电场以后折射率椭球就要变形,(7.1)中
Lesson晶体的电光效应
晶体的电光效应及光波在电光晶体中的传播晶体的电光效应⏹晶体的电光效应是一种人工双折射现象⏹由于人为施加外力场或电场引起⏹改变晶体内原子的排列方式和分布⏹本质上是改变电子云的分布引起介电系数的改变-进而改变晶体的折射率椭球参数⏹可以人工控制-用于电光调制、电光偏转、调Q等应用领域晶体的电光效应电光效应-晶体在外电场作用下,其光学性质(折射率)的变化。
电磁场在介质中应满足物质关联方程,对光波来说在各向同性晶体中传播时,其电位移矢量D和电场强度E 之间的关联方程为D=ε·E其中ε为晶体的介电常数张量。
晶体的电光效应1、晶体的介电系数随电场强度的变化而变化,是电场强度的函数•我们在波动光学中利用的公式是弱电场近似公式•在外加强电场条件下,介电系数(折射率)随电场强度发生变化•由于折射率变化,光波传输规律也发生变化,我们可以通过研究电场对晶体介电系数的影响,研究电场对光波传输的影响2、介电系数与电场强度之间不是简单的线性关系外加电场与介电系数之间的关系⏹晶体的介电系数可以用二阶张量描述;⏹利用晶体电光系数表征晶体介电系数同电场之间的关联;⏹晶体电光系数可以表征为-三阶张量⏹三阶张量只存在于没有对称中心的晶体中,⏹所以只有无对称中心的晶体才有电光效应(,,1,2,3)ij ijk kC D A i j k==(,,1,2,3)ij ijk kB E i j kγ==外加电场与介电系数之间的关系⏹取无对称中心晶体作为研究对象⏹为了研究方便,我们取外加电场沿晶体的主轴方向,这时电位移矢量同电场强度方向一致。
⏹通过测量表明电位移矢量同电场强度之间满足下列线性关系023...D E aE E εβ=+++0ε为线性介电系数外加电场与介电系数之间的关系外加电场与介电系数之间的关系外加电场与介电系数之间的关系外加电场与介电系数之间的关系外加电场与介电系数之间的关系任意方向的外加电场引起的折射率变化⏹上面给出了沿晶体主轴施加外加电场引起折射率变化的情况;⏹对于任意方向电场我们可以通过下面方式处理:1、研究电场对晶体主轴折射率的影响进而获得新的折射率椭球方程(很复杂)2、直接考虑电场对折射率椭球的影响电场对折射率椭球的影响电场对折射率椭球的影响电场对折射率椭球的影响电场对折射率椭球的影响线性电光系数与外加频率之间关系⏹晶体在外加电场作用下发生受迫振动;⏹当外加电场频率与晶体自身固有频率相同时,振动幅度最大发生共振。
02-51.2 KDP晶体的线性电光效应
KDP 晶体是单轴晶体,属四方晶系。
属于这一类型的晶体还有ADP 、KD *P 等,它们同为⎺42m 晶体点群,其外形如图所示,光轴方向为x 3 轴方向(单轴晶体中)。
x 2x 1x 3a =b ≠cα=γ= β= 9001) KDP 型晶体的线性电光效应5.1.2 KDP 晶体的线性电光效应KDP 型晶体无外加电场时,折射率椭球为旋转椭球,在主轴坐标系中,折射率椭球方程为0220211233() 1 (14)B x x B x ++=式中,n o ,n e 分别为单轴晶体的寻常光和非常光的主折射率。
02233e 1/=1/;B n n =022011o21/1/;B n n B ===(1) KDP 型晶体的感应折射率椭球当晶体外加电场时,折射率椭球发生形变。
可得KDP 型晶体的线性电光系数矩阵,由(13)式,其[∆B i ]为121324143415636Δ0 0 0 Δ0 0 00 0 0Δ (15)0 0Δ0 0Δ0 0 ΔB B E B E B E B B γγγ⎡⎤⎡⎤⎢⎥⎢⎥⎢⎥⎢⎥⎡⎤⎢⎥⎢⎥⎢⎥=⎢⎥⎢⎥⎢⎥⎢⎥⎢⎥⎢⎥⎣⎦⎢⎥⎢⎥⎢⎥⎢⎥⎣⎦⎣⎦123441154126633Δ0Δ0Δ0(16)ΔΔΔB B B B E B E B E γγγ=⎫⎪=⎪⎪=⎬=⎪⎪=⎪=⎭再由(l0)式、(9)式可得KDP 型晶体的感应折射率椭球表示式:02020211223341123231633122()2 1 (17)B x B x B x E x x E x x E x x γγ+++++=011110222203333423531621ΔΔΔ (10)ΔΔΔB B B B B B B B B B B B B B B ⎫=-⎪=-⎪⎪=-⎪⎬=⎪⎪=⎪=⎪⎭123441154126633Δ0Δ0Δ0(16)ΔΔΔB B B B E B E B E γγγ=⎫⎪=⎪⎪=⎬=⎪⎪=⎪=⎭222111222333232331********* 1 (9)B x B x B x B x x B x x B x x +++++=将(l7)式与(14)式比较可见,KDP 型晶体外加电场后,感应折射率椭球方程中出现了交叉项,这说明感应折射率椭球的三个主轴不再与晶轴重合。
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当入射沿 x1 方向偏振,进入晶体后即分解为沿 x1 ' 和 x2 ' 方向的两个垂直 偏振分量。它们在晶体内传播 L 光程分别为 n1 ' L 和 n2 ' L ,两偏振分量的相位 延迟分别为
2 2 L 1 3 n1 ' L (no no 63 E ) 2 2 2 L 1 3 2l n2 ' L (no no 63 E ) 2
(17)
折射率方程变为:
1 1 ( x12 x2 2 ) 2 x3 2 2 41 ( E1 x2 x3 E2 x3 x1 ) 2 63 E3 x1 x2 1 2 no ne
(18)
E1 , E2 , E3 为电场 E 在 x1 , x2 , x3 上的分量; 41 描写垂直于光轴 x3 方向的电场 所产生的电光效应; 63 描写平行于 x3 方向的电场 E3 所产生的电光效应。
下面举一个 KDP 晶体纵向应用重要应用的例子,即电光调 Q 晶体:
如图所示,第一阶段是在晶体 V 2 上加 ,因为 P1//P2,所以从晶体出 来的光不能通过 P2,被 P2 反射掉。所以光不能在腔内来回传播形成振荡,这 就相当于腔内光子的损耗很大,Q 值很低,称为“关门”状态。在第一阶段 工作物质的反转粒子数达到最大值时,突然退去晶体上的电压,这时晶体又 恢复了原来的状态,光在腔内形成振荡,产生激光。
(13)
如果知道外加电场的方向,可求出 m ,再由(10)式可写出折射率椭球方 程,进而计算出相应的折射率变化。 对晶体加电场后,折射率椭球的形状、大小、方位等均发生变化,椭球 方程变为:
11 x12 22 x2 2 33 x32 2 23 x2 x3 2 31 x3 x1 212 x1 x2 1
xy yy zy
xz yz zz
1
Dx xx Dy yx D z zx
xy yy zy
xz Dx yz Dy zz Dz
1 2 1 2 1 2 2 63 E x1 ' 2 63 E x2 ' 2 x3 ' 1 n n n e o o
(20) (19)
主折射率变为:
1 3 n ' n no 63 E 1 o 2 1 3 n2 ' no no 63 E 2 n ' ne 3
2.KDP 晶体的线性电光效应 KDP 晶体未加电场:
(15)
1 (0) x12 2 (0) x2 2 3 (0) x3 2 1 1 1 2 ( x12 x2 2 ) 2 x3 2 1 n0 ne
(16)
对 常 用 的 KDP ( KH2PO4 ) 晶 体 有 nx1=nx2=no , nx3=ne , no > ne , 只 有
考虑 E x3 , E3 0, E1 E2 0 ,则折射率方程变为:
1 1 ( x12 x2 2 ) 2 x3 2 2 63 Ex1 x2 1 2 no ne
将 x1 坐标和 x2 坐标绕 x3 轴旋转角得到感应主轴坐标系 ( x1 ', x2 ', x3 ') ,当 =45,感应主轴坐标系中椭球方程为 :
(21)
可见,KDP 晶体沿 x3 轴加电场时,由单轴晶体变成了双轴晶体,折射率椭球
的主轴绕 x3 轴旋转了 45角。 如下图所示:此转角与外加电 场的大小无关,其折射率变化 与电场成正比,这是利用电光 效应实现光调制、调 Q、锁模 等技术的物理基础。 3.KDP 晶体的应用 实际应用中,电光晶体总是沿着相对光轴的某些特殊方向切割而成的, 而且外电场也是沿着某一主轴方向加到晶体上,常用的有两种方式:一种是 电场方向与光束在晶体中的传播方向一致,称为纵向电光效应;另一种是电 场与光束在晶体中的传播方向垂直,称为横向电光效应。 ㈠.KDP 晶体的纵向应用
ij ( E ) xi x j 1 ij (0) xi x j ij xi x j 1
(10)
由(9)求出 ij 后,代入(10)中就可以获得在外场作用下折射率椭球方程 的变化,从而求出折射率的变化。 因为 [ ] 为对称张量,所以介质在外加电场 作用下的变化也为对称张量,即
(4)
称 1 为逆介电张量,且为对称张量。 展开写为以下的形式:
xx yx zx 在主轴坐标系下:
xy yy zy
xz xx xy yz yx yy zz zx zy
ij ji
(11) (12)
所以:
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
ijk Ek jik Ek ijk jik
ij 具有交换对称性,可压缩下脚标 ijk mk
ij 11 22 33 23(32) 13(31) 12(21) m 1 2 3 4 5 6
线性电光效应则可以用矩阵表示:
KDP 型晶体的线性电光效应原理及应用
王聪
1.线性电光效应 光波在介质中的传播规律受到介质折射率分布的制约。对于一些晶体材 料,当施加电场之后,将引起束缚电荷的重新分布,并可能导致离子晶格的 微小形变,其结果将引起介电系数的变化,最终导致晶体折射率的变化,折 射率成为外加电场 E 的函数,即 :
Δn n n0 c1 E c2 E 2
1 x12 2 x2 2 3 x32 2 4 x2 x3 2 5 x3 x1 2 6 x1 x2 1
(14)
假设变化后的主轴坐标系为 x1 ', x2 ', x3 ' ,折射率方程变为:
1 ' x1 '2 2 ' x2 '2 3 ' x3 '2 1
(1)
式中 n0 是 E=0 时折射率,第一项称为线性电光效应或泡克耳(Pockels)效 应;第二项称为二次电光效应或克尔(Kerr)效应。对于大多数电光晶体材 料,一次效应要比二次效应显著。 对于线性电光效应的晶体,折射率变化与 电场强度成正比
n E
(2)
电位移矢量与电场强度的关系:
Dx xx Dy yx D z zx
1
xz yz zz
1
(5)
xx [ ] 0 0
0 yy 0
0 0 0 1/ xx 0 0 1/ yy 0 0 zz 0 1/ zz
(6)
KDP 晶体加电场前: ij (0) xi x j 1 ;加电场后: ij ( E ) xi x j 1 。介质在外加电 场作用下逆介电张量的变化为:
V
3 2no 63
(25)
半波电压是表征电光晶体性能的一个重要参数,这个电压越小越好,特别是 在宽频带高频率情况下,半波电压越小,需要的调制功率就越小。 ㈡.KDP 晶体的横向应用
入射光进入晶体后即分解为沿 x2 ' 和 x3 方向的两个垂直偏振分量。 相应的
1 3 折射率分别为: n2 ' no no 63 Ez 和 n3 ne 。两偏振分量的相位延迟分别为: 2
如果令: Ei ij D j
xy yy zy
xz Ex yz E y zz Ez
(3)
(i, j x, y , z ) ,则
Ex xx E y yx E z zx
1l
(22) (23)
当这两个光波穿过晶体后将产生一个相位差 :
l 2 l 1l
2 3 2 3 Lno 63 E no 63V
(24)
这个相位延迟完全是由电光效应造成的双折射引起的,所以称为电光相位延 迟。当电光晶体和传播的光波长确定后,相位差的变化仅取决于外加电压, 即只要改变电压,就能使相位成比例地变化。当光波的两个垂直分量的光程 差为半个波长(相应的相位差为)时所需要加的电压,称为“半波电压” , 通常以 V或 V/2 表示。 由(24)得到:
ij ij ( E ) ij (0) ijk Ek hijpq E p Eq
(7) (8)
ij (
1 )ij n2
ijk 为线性电光系数, hijpq 为二次电光系数。
线性电光方程:
ij ijk Ek
(9)
因此在外场作用下,折射率椭球方程为:
41 , 52 , 63 0 ,而且 41 52 。加电场 E 后:
0 0 1 1 1 (0) 0 0 0 0 0 2 2 2 (0) 0 E1 3 3 3 (0) 0 0 0 0 E2 4 0 4 41 0 E 41 E1 5 0 41 0 3 41 E2 5 E 6 0 63 6 0 63 3
1 11 2 21 3 31 4 41 5 51 6 61
12 22 32 42 52 62
13 23 E 33 1 E2 43 E 53 3 63
2 2 L 1 3 n1 ' L (no no 63 Ez ) 2 2 2 L 3t n3 L ne