LED结温测试方法研究
电压法LED结温及热阻测试原理分析
电压法LED结温及热阻测试原理分析发布日期：2010-08-01 来源：关键字：近年来,由于功率型LED 光效提高和价格下降使LED 应用于照明领域数量迅猛增长,从各种景观照明、户外照明到普通家庭照明,应用日益广泛。
LED 应用于照明除了节能外,长寿命也是其十分重要的优势。
目前由于LED 热性能原因,LED 及其灯具不能达到理想的使用寿命;LED 在工作状态时的结温直接关系到其寿命和光效;热阻则直接影响LED 在同等使用条件下 LED 的结温;LED 灯具的导热系统设计是否合理也直接影响灯具的寿命。
因此功率型 LED 及其灯具的热性能测试 ,对于 LED 的生产和应用研发都有十分直接的意义。
以下将简述LED 及其灯具的主要热性能指标,电压温度系数K、结温和热阻的测试原理、测试设备、测试内容和测试方法,以供LED 研发、生产和应用企业参考。
一、电压法测量 LED 结温的原理LED 热性能的测试首先要测试 LED 的结温,即工作状态下 LED 的芯片的温度。
关于LED 芯片温度的测试,理论上有多种方法,如红外光谱法、波长分析法和电压法等等。
目前实际使用的是电压法。
1995 年 12 月电子工业联合会/电子工程设计发展联合会议发布的> 标准对于电压法测量半导体结温的原理、方法和要求等都作了详细规范。
电压法测量LED 结温的主要思想是：特定电流下 LED 的正向压降 Vf 与 LED 芯片的温度成线性关系,所以只要测试到两个以上温度点的Vf 值,就可以确定该 LED 电压与温度的关系斜率,即电压温度系数 K 值,单位是mV/°C 。
K 值可由公式K=ㄓVf/ㄓTj 求得。
K 值有了,就可以通过测量实时的 Vf 值,计算出芯片的温度(结温)Tj 。
为了减小电压测量带来的误差,> 标准规定测量系数 K 时,两个温度点温差应该大于等于50 度。
对于用电压法测量结温的仪器有几个基本的要求：A、电压法测量结温的基础是特定的测试电流下的 Vf 测量,而 LED 芯片由于温度变化带来的电压变化是毫伏级的,所以要求测试仪器对电压测量的稳定度必须足够高,连续测量的波动幅度应小于1mV 。
LED结温测试方法总结
LED 结温测试（参考：LED 结温测试方法研究）1. 红外热像法2. 光谱法：利用LED 结温升高时，LED 的主波长或λp 就会向长波长漂移，其正法线方向的亮度B0也会下降，主波长会漂移。
有实验数据表明当结温每升高10℃，则波长向长波漂移1nm.3. 管脚温度法4. 蓝白比法：利用芯片的蓝光发光与荧光粉发光随结温变化的不一致来确定结温。
定义W 为光谱中整个白光的功率，B 为蓝光部分的功率，那么比值R=W/B 应该是结温的函数。
5. K 系数法：初始电压是指LED 刚通电时测得的正向电压，初始结温是指刚通电时的结温，近似等于环境温度。
在恒定电流（20mA ）改变环境温度（35-100℃）测量的情况下，初始电压与初始结温符合很强的线性关系。
通过测量正向电压确定结温具体方法如下：（1） 测量温度系数Ka. 将LED 置于温度为T A 的恒温箱中足够时间至热平衡，此时T jA =T Ab. 用低电流（可以忽略其产生的热量对LED 的影响，如I f =0.1,1.0,5.0,10mA ）快速点测LED 的V fAc. 将LED 置于温度为T B (T B >T A 的恒温箱中足够时间至热平衡，此时T jB =T Bd. 重复步骤b ，测得V fBe. 计算KA B fA fB jA jB fAfB T T V V T T V V K --=--=（2） 测量在输入电功率加热状态下的变化a. 将LED 置于温度为T A 的恒温箱中，给LED 输入额定I F 使其产生自加热b. 维持恒定加热电流I F 足够时间至LED 工作热平衡，此时V F 达到稳定，记录I F ，V Fc. 迅速切换到测量电流源I f ，立即进行(l)之b 步骤，测量V f（3） 结温、热阻计算fA f f V V V -=∆K V V T fAf j -=6. 脉冲电流法。
LED结温测算方法
LED结温测算⽅法⽬录第⼀章电压法测量结温第⼀节电压法测算结温的理论依据第⼆节K系数的测量1. 测量K系数的原理2. 关于K系数的说明3. 测试电流⼤⼩对K系数的影响4. K系数测量⽅法5. 数据处理6. 关于器件⼚商提供K值的建议7. K系数测量误差问题第三节利⽤K系数测算结温第⼆章热阻法测算结温第⼀节热阻法测算结温的基本原理第⼆节热阻法测结温的问题1. 为什么要⽤热阻法测结温2. 热阻参考点的选择3. 器件传热状况的影响4. 温度的影响5. 热阻法测结温参考点的正确选择第三章其它测结温⽅法简介前⾔关于 PN 结温度的测量，以往在半导体器件应⽤端测算结温的⼤多是采⽤热阻法，但这种⽅法对LED 器件是有局限性的，并且以往很多情况下被错误地应⽤。
应⽤热阻法的错误之处，以及其局限性，本⼈已在⽂献【1】中有详细阐述。
本⼈认为应该摒弃热阻法。
现在出现了不少新的测结温的⽅法，但其中⼀些⽅法也许并不能很好地反映结温。
⽐如红外成像法，理论上讲这只是测量器件表⾯或芯⽚表⾯的温度，不可能测量到实际 PN 结处的温度。
光谱法则只是个别专业测试机构能够进⾏，仪器昂贵，不适于器件使⽤者⽇常⼯作。
实际上，⽆论从专业测量，还是业余测量，最简便易⾏、最准确的、最基础的，还是电压法测算结温。
热阻法其实是在电压法基础上衍⽣⽽来的。
由于现在测量显⽰精度达 1mV 的仪表很便宜，器件使⽤者完全没有必要采⽤热阻法来测算结温。
本⽂主要是介绍电压法测算结温。
也介绍了热阻法测算结温，并提出热阻法存在的问题。
最后简单介绍了⼀些其它测结温的⽅法。
本⽂介绍的电压法测算结温的⽅法，是从⼀般⼯程应⽤的⾓度来讲。
主要是为⼀般的器件⼚商和器件使⽤者提供⾃⼰测试的⽅法。
因此所述的⽅法中，使⽤的⼀些仪器不能与专业的仪器设备⽐较，但精度和准确性不⽤担⼼。
这⽅⾯只要你懂得了物理原理就明⽩了。
关键还是看具体的操作者对测试机构的设计和仪表的选择，以及操作中的精⼼程度。
led灯具工作结温的检测方法及应用
led灯具工作结温的检测方法及应用LED灯具作为具有节能效果的照明设备，越来越多的应用于家庭和商业等场所，作为一种新型的照明设备，使用正常情况下具有非常好的节能性能。
但是，LED一种温敏器件，当它的温度升高时，它的寿命将会大大缩短，所以对其工作结温进行有效的检测是非常重要的。
LED工作结温检测的方法主要有两种，分别是外部温度检测和深层温度检测，其中外部温度检测就是通过在LED灯具表面上安装一个温度传感器检测LED灯具的表面温度，而深层温度检测则是通过放置LED灯具内部一个温度传感器，来检测其内部温度。
外部温度检测的优点是成本低，检测精度高，设备及控制简单，但是这种检测方法受到环境温度的影响很大，而且只能检测到LED灯具表面的温度，不能检测到LED灯具内部的温度，而深层温度检测则没有这样的问题。
深层温度检测主要通过将温度传感器放置在LED灯具内部，检测LED灯具内部的温度，这种检测比较准确，检测结果也比较可靠，但是安装的成本比较高，而且这种检测方法受电路设计的影响也很大。
此外，还有一种LED灯具工作结温的检测方法，即利用摄像机实现LED灯具的热成像检测，它可以从LED灯具的表面温度、热聚集区域和散热状况等几个方面对LED灯具的整体工作状况进行综合检测，而且这种检测方法安装成本低，检测结果准确，而且可以实现远程监控，有利于LED灯具的维修和保养工作。
LED灯具工作结温的检测方法及其应用范围也非常广泛，主要应用于照明领域，包括家庭、商业机构和工业场所等，这些地方使用的LED灯具需要定期进行检测，以保证它们的正常使用。
此外，LED灯具的工作结温检测也可以广泛应用于汽车制造行业。
例如，在汽车照明系统的燃料管理系统中，LED灯具的工作结温是一个重要的环节，需要对其进行有效的检测，以确保其正确的工作。
综上所述，LED灯具的工作结温检测是非常重要的，它可以有效地检测LED灯具的温度状况，帮助改善LED灯具的照明效果，确保LED灯具的正常使用，从而更好地节能环保。
LED结温与热阻测量方法的研究
LED结温与热阻测量方法的研究发光二极管(LED)因其环保、寿命长和高的能量转换效率而广泛应用于照明、LCD背光、显示、紫外固化、消毒杀菌等方面。
LED特别是大功率LED存在严重的热问题。
热量的累积将导致LED结温上升,使得LED器件出现发光偏色、内部量子效率和发光效率下降、寿命缩短等一系列可靠性问题。
LED结温测量数据的精准性对热阻的计算、热界面材料热性能的评估等LED热特性的分析至关重要。
LED结温的测量通常是采用正向电压法,测量过程中,需要将电流从较大的工作电流切换到很小的测试电流,电流切换导致测量延迟问题,降低了LED结温和热阻分析的准确性。
针对上述常规LED结温测量所存在的问题,我们在之前的相关研究工作中提出了一种包含传感单元的LED结构。
本论文在基于集成传感单元的LED结温测量基础上,进一步研究了测量过程中影响其数据精准性的两个问题,即开始降温瞬间表观温度异常上升和连续性重复测量过程中唯有第一次测量与后续测量的数据存在偏差的问题,创新性地提出了迅速拉低偏压法。
该方法较好地缓解了上述两个问题,提高了LED结温测量的精确度。
此外,本文从光生载流子和材料缺陷能级的角度,对这两个导致测量不准确的问题进行了理论分析和解释。
本论文主要的研究内容和结论总结如下:1.发现基于集成传感单元结构的LED结温测量实验依然存在两个问题:测量初始期间存在表观温度异常上升现象和连续性重复测量间存在偏差。
2.创新性地提出了迅速拉低偏压法,应用于集成传感单元结构的LED结温测量实验中,较好地缓解上述两个问题对实验结果的影响。
3.通过LabVIEW编程对KeySight B2902A数字源表进行控制,将迅速拉低偏压法应用于常规LED的结温测量,实现了结温的高精准测量。
4.对上述两个导致测量不准确的问题所包含的物理过程进行了理论分析与初步的计算验证:LED热阻测量实验中的点亮阶段,激发并累积了大量的光生载流子,光照停止的瞬间,累积的光生载流子并不会瞬间地消失。
led灯珠结温测试方法
led灯珠结温测试方法英文回答：LED Die Temperature Measurement Methods.Determining the junction temperature (Tj) of an LED die is crucial for ensuring optimal performance and reliability. Accurate Tj measurement enables the assessment of thermal management effectiveness and the prediction of LED lifespan. Several methods are commonly used to measure LED die temperature:1. Forward Voltage (Vf) Method.The forward voltage (Vf) of an LED decreases linearly with increasing temperature. By measuring the Vf at a known temperature and then at the operating temperature, the temperature difference can be calculated using thefollowing equation:ΔTj = (ΔVf / αVf) (1 + αTj)。
where:ΔTj is the temperature difference.ΔVf is the difference in forward voltage.αVf is the temperature coefficient of forward voltage.αTj is the temperature coefficient of Vf at the reference temperature.This method is simple and non-invasive but requires accurate knowledge of αVf and αTj.2. Light Output Power (LOP) Method.The light output power (LOP) of an LED decreases exponentially with increasing temperature. By measuring the LOP at a known temperature and then at the operating temperature, the temperature difference can be calculated:ΔTj = (1 / β) ln(LOP1 / LOP2)。
LED芯片结温测试方法总结
旭明 LED芯片温度电压曲线 4 3.5 3
瞬间点亮 电流 (A)
2.5 2 1.5 1 20 30 40 50 60 70 80 90 100 Temp (C)
0.35 0.5 0.7 1 25E-6
Vf (V)
不同环境温度下的旭明LED芯片电流电压曲线 4 3.8 3.6
环境控制 温度(C)
35 39 57.2 75.3
Vf (V)
3.4 3.2 3 2.8 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1
96 28.2
I (A)
瞬时点亮LED芯片可以稳定的得到温度和电
压的线性关系
100us点亮时间
复旦大学电光源研究所
用大电流测量功率型白光LED结温的方法研究 照明工程学报
误差(%) 温度(℃) 误差(%) 17 68 10-15 16 50 84
1.
世界上最好的结温测试设备能够测量1us时间间隔的电 压值。国内最好的能测量到10us的电压值，一般的只能 测量到1ms 的电压值。
2.
由于下降阶段温度降低速度过快，现有设备不能够记录
在0.001s以内的电压值
3.
考虑在上升阶段捕捉电压值
测量LED工作结温方法实验总结
王汉锋 20101105
方法研究
第一部分：电压法
第二部分：管脚温度法 第三部分：蓝白比法
第一部分：电压法测量LED结温原理
方法概述
LED芯片降温曲线
奥地利T3设备测量的结温变化曲线
LED芯片升温曲线
奥地利T3设备测量的结温变化曲线
0.01s
0.1s
1s
温度(℃) 误差(%) 温度(℃) 温度上升 温度下降 2 9 7 47 5 13
《大功率LED结温与热阻测量研究》范文
《大功率LED结温与热阻测量研究》篇一一、引言随着LED（发光二极管）技术的不断发展和广泛应用，大功率LED成为了许多现代照明设备的主要光源。
然而，随着LED 的功率增大，其产生的热量也随之增加，对LED的结温与热阻的准确测量显得尤为重要。
本篇论文将深入探讨大功率LED的结温与热阻的测量方法及其重要性。
二、大功率LED结温与热阻的重要性结温与热阻是评价大功率LED性能的重要参数。
结温反映了LED芯片内部的温度，而热阻则描述了LED在产生热量时，热量从芯片传导到外部环境所遇到的阻力。
准确的结温和热阻数据对于优化LED的设计、提高其可靠性、延长使用寿命以及减少热失效具有重要意义。
三、大功率LED结温的测量方法1. 电学测量法：通过测量LED的正向电压和反向电流的变化，可以间接推算出结温。
这种方法简单易行，但只能得到粗略的结温值。
2. 光色测量法：通过测量LED的光通量、色度等参数的变化，可以推算出结温。
这种方法精度较高，但需要专业的设备和技术。
3. 热像仪测量法：利用红外热像仪直接测量LED表面的温度分布，从而推算出结温。
这种方法精度高，但成本较高。
四、大功率LED热阻的测量方法1. 稳态法：通过在特定条件下测量LED的温升，以及其内部的热阻抗，从而推算出热阻。
这种方法简单易行，但需要较长的测量时间。
2. 瞬态法：利用热脉冲法等瞬态测量技术，通过分析LED在脉冲期间的温度变化，快速得出热阻值。
这种方法测量速度快，但需要较高的技术要求。
五、实验设计与实施本实验采用光色测量法和瞬态法对大功率LED的结温和热阻进行测量。
首先，利用专业设备对LED的光通量、色度等参数进行测量，推算出结温；然后，利用瞬态法对LED施加短时间的高温脉冲，分析其温度变化，得出热阻值。
实验过程中，严格控制环境条件，保证实验数据的准确性。
六、结果与讨论通过实验，我们得到了大功率LED的结温和热阻的准确数据。
我们发现，随着LED功率的增加，其结温和热阻也随之增加。
光谱法测led结温的
光谱法测led结温的
LED（Light-Emitting Diode）的结温是指LED晶片在正常工作情况下的温度。
测量LED结温通常采用光谱法，以下是使用光谱法测量LED结温的基本步骤：
1.准备工作：确保测量环境稳定，无干扰光源，并根据需要
选择适当的测温设备。
2.进行基准测量：在LED未通电之前，使用光谱仪测量LED
的冷态光谱。
这一步旨在建立冷态光谱作为后续温度测量
的基准。
3.通电并测量光谱：将LED通电，让其工作在正常工作条件
下。
同时，使用光谱仪测量LED的热态光谱。
测量时间应
足够长，以确保稳定的LED温度。
4.分析光谱：将冷态光谱和热态光谱进行比较和分析。
LED
发光过程中的波长偏移可以反映出LED的温度变化。
5.温度推导：使用事先建立的冷热态光谱关系，在热态光谱
中的波长偏移量和冷热态之间的关系，反推出LED的结温。
需要注意的是，在实际测量中，还有其他因素可能对LED结温测量结果产生影响，如LED背光散热效果、环境温度等。
因此，为了提高测量准确性，可以考虑将多种测温方法相结合，如红外热像仪、接触式测温设备等。
综上所述，光谱法是一种常用的测量LED结温的方法，通过分析LED的光谱波长偏移，可以推导出LED的结温水平。
脉冲法测量LED结温、热容的研究
２ Ｚ ￣ｉｎ ｏｉ Ａ ａ ｅ ｙ Ｈ ｎ ｚ ｏ １ ０ ８ Ｃ ｉ ． ｈ ａ ｇＰ ｌ ｅ ｃ ｄ ｍ ， ａ ｇ ｈ ｕ ０ １ ， ｈｎ ｃ ３ ａ）
第３ ７卷第 ７期
２１ ０ ０年 ７月
光 电工 程
Ｏｐ ｏ— ｅ ｔｏ ｉ ｇｉ ｅ ｉ ｇ ｔ Ｅｌ ｃｒ ｎ ｃＥｎ ｎｅ ｒｎ
、 ＿ ７ ＮＯ ７ ｂｌ ． ． ３ Ｊ ｌ， ０１ ｕｙ ２ ０
文章编 号 ： １０ — ０ Ｘ（０ ００ — ０ ３ ０ ０ ３ ５ １ ２ １ ）７ ０ ５ — ７
温 的测量影响 小于 １ ， 宽应控制在 几个到十 几个 ｓ ℃ 脉 数量级上 ； 冲法与热 学积分 周期 法测 出的热容基本 吻合 。 脉 关键词 ：电流脉 冲法；Ｌ Ｄ结温 ；Ｌ Ｄ热容；半导体照 明 Ｅ Ｅ
中 图分 类 号 ：Ｔ １． Ｎ３ ２ ８ 文 献标 志 码 ：Ａ ｄ １． ６ ￣ｉ ｎ１ ０ —０ Ｘ． １．７ｏ ｌ ｏ ： ０３ ９ ． ｓ． ３５ １ ２ ００ ．ｌ ９ ｓ ０ ０
ｆｒ ｒ ｎｔ ｎｖ ｌ ｇ ｎ ｅ ｅ ａｅ ｕ ｅ ｔｕｅｓ ａ ｂａｎｔｅ ｕ ｃｉ ｍｐｒｔｒ． ｉａｙ ｂ ｓ ｇｔｅ ｕ ｃｉ ｏｗａｄ ｕ ｃ ｏ ｏｔ ｅｕ ｄｒｈ ｔｄｃｒ ｎ， ｓｒ ｃｎｏ ｔ ｎ ｔ ｎｔ ｅａ ｅ Ｆｎ ｌ ， ｙｕｉ ｎｔ ｎ ｊ ｉ ａ ｔ ｒ ｉ ｈｊ ｏ ｅ ｕ ｌ ｎ ｈｊ ｏ
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致谢在即将完成两年半的硕士学业之际，在此首先要感谢导师牟同升老师对我的悉心指导。
在硕士论文期间的每一次进步，都凝聚着牟老师的心血帮助指导。
无论从学习、到工作，始终都得到导师的悉心指导和亲切关怀，使我受益颇多。
牟老师严谨的治学态度、高尚的师德、活跃的学术思想，牟老师一丝不苟的科研作风以及勇于创新的精神，都将成为我毕生学习的楷模。
在此，谨对导师两半年来的辛勤培养和无私的关怀表示由衷的敬意和深深的感谢。
在我硕士课程学习期间，我还得到了浙江大学信息工程学院光电系白剑、沈永行、何建军、李海峰、杨甬英、王晓萍、王秀萍等老师以及李莉、奚海燕、管信等同学还有浙大三色有限公司虞建栋、李俊凯等多位同事的无私帮助。
他们热情的指导、有益的启发，对我硕士期间学习有很大促进和帮助。
感谢两年半以来一直关心和帮助过我的学院各位领导、老师，还有其他的师兄师姐。
摘要发光二极管(LED)由于其节能效率高、寿命长、可靠性高等特点，十分符合当前低碳经济的要求，在许多领域特别是半导体照明领域中得到广泛应用。
然而LED器件的热特性检测和散热是一个突出的问题，如何保持LED的结温在允许范围内，使LED始终获得稳定的光输出和维持正常的器件寿命，一直是一个当前急待解决的课题。
本文在充分调研大功率LED的结温测量方法基础上，重点研究了LED结温K系数测量方法降低测量噪声的措施以及产生的效果；同时还重点研究了脉冲电流法，该方法通过给被测LED器件注入方波电流脉冲，脉冲的电流幅度与实际额定工作电流相等，分别测量该LED器件在不同温度下的正向电压，获得正向电压与温度的敏感度系数S。
因此，在实际应用中，只要直接测量LED在额定工作电流下的正向结电压，利用温度敏感系数就可得到此时LED的结温。
文章重点研究了方波电流的脉宽对结温测量精度的影响，通过对12μs、24μs、50μs、100μs、150μs几种脉冲的研究，得出要使脉冲电流对结温的测量影响小于1℃，脉冲宽度控制在几个到十几个μs数量级上。
文章还对脉冲电流法用于LED器件热容的测量进行了初步探索。
本文在实验论证基础上，提出了脉冲电流式LED的结温测量仪器的雏形结构，希望能为LED的结温测量有所贡献。
关键词：LED结温、噪声、脉冲电流法，热容AbstractLED meets the requirements of low-carbon economy because of their high energy saving efficiency,long life-time and high reliability,and it is widely used in many fields especially the fields of semiconductor lighting.However,the test of thermal performance and heat dissipation is still a prominent problem.In order to obtain stable light output and maintain normal lifetime of the devices,how to keep the junction temperature within the allowable range?This is still a burning question at present.On the basis of making enough investigation on the measuring methods of LED junction temperature,this text mainly studies the K coefficient measuring method which can reduce the measurement noise and the effect.Meanwhile,it also studies a new method-the pulse current method which can measure the junction temperature and thermal capacity of LED device at the same time.By injecting constant narrow pulse of square-wave current to the LED devices,it will obtain the sensitivity coefficient dVF/dT of forward voltage and the temperature under a certain current. Then,by measuring the forward junction voltage under the rated current,users can use the sensitivity coefficient to obtain the junction temperature.Through the study of 12μs,24μs and50μs and other pulses whit different pulse width,it is concluded that in order to achieve the effect of pulse current on junction temperature measuring accuracy lower than1℃,the pulse width should be controlled from a few to a dozen μs.This text also makes primary exploration of the pulse current method on the thermal capacity measurement of LED devices.Based on the experimental demonstration,this text offers a prototype structure of LED junction temperature measuring instruments with pulse current method.Hope it will contribute to the measurement of LED junction temperature.K ey words:LED junction temperature,noise,pulse measurement,thermal capacity目次1引言 (1)1.1绪论 (1)1.1.1LED的发展历史 (1)1.1.2LED结温与封装 (6)1.1.3结温测量研究现状 (10)1.2选题意义和内容 (11)2大功率LED技术的实现 (13)2.L G A N基LED发光原理及特性 (13)2.2LED的热性能参数 (16)2.2.1LED的结温 (16)2.2.2LED的热阻 (17)2.3白光LED国内外的研究现状 (18)2.4大功率白光LED存在的问题 (20)3LED热特性分析 (22)3.1驱动电流产生的热 (22)3.2结温对LED的主要参数的影响 (24)3.2.1高结温导致的LED永久性老化 (24)3.2.2结温对LED正向电压的影响 (24)3.2.3结温对LED发光波长的影响 (24)3.2.4结温对LED光效的影响 (26)3.2.5结温对LED荧光粉效率的影响 (29)4LED结温测量技术 (30)4.1红外热成像法 (30)4.2光谱法 (30)4.3管脚温度法 (30)4.4蓝白比法 (31)4.4小电流K系数 (32)4.5脉冲电流法 (34)4.5.1脉冲电流法的原理 (34)4.5.2脉冲法测量热容 (36)5小电流K系数法装置测量精度的提高 (40)5.1现实装置的主要问题 (40)5.1.1噪声和阻尼振荡 (40)5.1.2测量基准不一致 (41)5.2解决方案 (41)5.2.1针对噪声和阻尼振荡 (41)5.2.2针对测量基准不一致 (44)5.3改善效果 (45)6脉冲电流法 (47)6.1测量装置简介 (47)6.1.2LM3886的主要参数和特点 (48)6.1.3可控脉冲电流源电路 (49)6.2测量过程与数据处理 (50)6.2.1结电压与结温的关系 (50)6.2.2脉宽对测量精度的影响 (51)6.2.3结温和热阻计算 (53)6.2.4热容的的计算 (53)6.3脉冲电流法测量结温分析与总结 (55)7总结与展望 (57)7.1本论文所完成的课题内容 (57)7.2课题今后的研究方向 (57)参考文献 (59)作者简历及在学期间所取得的科研成果 (63)1引言1.1绪论高亮度LED的出现具有划时代意义，它将是人类继爱迪生发明白炽灯泡之后最伟大的发明之一，被称为第四代照明光源或绿色光源，与传统光源相比，它具有很多优点：光效高、无汞环保、寿命长、体积小等特点，已经广泛应用于各种指示、显示、装饰、背光源、城市夜景等特殊照明领域。
近年来，随着材料科学研究的深入以及生产工艺的改进，功率型白光LED的光效逐步提高，目前实验室数据已经接近200lm/w，成熟的产品数据也己经超过100lm/w[1]，这已经具备了应用于民用照明领域的条件。
由于LED结构的特殊性，易于进行二次光学设计，以及寿命长等突出优点，即便是在光效与高压气体放电灯(HID)相当的情况下，在通用照明应用的某些领域中仍有较大的节能空间。
因此，学术界把它看做一种绿色光源，并寄希望它能取代传统光源以实现节能，这些也十分符合日前《联合国气候变化框架公约》提出节能减排的要求，因此世界上一些经济发达国家围绕LED的研制展开了激烈的技术竞赛。
美国从2000年起投资5亿美元实施“国家半导体照明计划”，欧盟也在2000年7月宣布启动类似的“彩虹计划”。
我国科技部在科技攻关计划的支持下，2003年6月份首次提出发展半导体照明计划，其后的2006年又以“863”项目的形式予以支持[2]。
本课题是基于LED在应用领域中的研究展开，本章首先回顾一下LED发展历史，并总结了LED在一些通用领域的应用现状和发展趋势并引出LED的热特性研究对LED应用影响的重要性。
1.1.1LED的发展历史工程师Henry Joseph Round早在1907年通过在一个金属针和碳化硅（金刚砂）晶体之间加上偏压观察到了电致发光现象[3]，但是由于这种电致发光发出的黄光太暗，因而没有得到实际应用。