材料测试技术复习知识点

判断题：

滤波片的K吸收限应大于或小于Kα和Kβ。（×）

满足布拉格方程时，各晶面的散射线相互干涉加强形成衍射线。（√）

当物平面与物镜后焦平面重合时，可看到形貌像。（×）

原子序数Z越大的原子，其对入射电子的散射的弹性散射部分越小。（×）

TG曲线上基本不变的部分叫基线。（√）

有λ0的X射线光子的能量最大。（√）

衍射指数可以表示方位相同但晶面间距不同的一组晶面。（）

调节中间镜的焦距，使其物平面与物镜的像平面重合，叫衍射方式操作。（×）

蒙脱石脱层间水后，晶格破坏，晶面间距增加。（对）

当高速电子的能量全部转换为x射线光子能量时产生λ0，此时强度最大，能量最高。（×）

弦中点法是按衍射峰的若干弦的中点连线进行外推，与衍射峰曲线相交的点。（×）

减弱中间镜的电流，增大其物距，使其物平面与物镜的后焦平面重合，叫衍射方式操作。（√）

SEM一般是采用二次电子成像，这种工作方式叫发射方式。（√）

基线是ΔΤ=0的直线。（×）

连续X射谱中，随V增大，短波极限值增大。（×）

凡是符合布拉格方程的晶面族都能产生衍射线。（×）

色差是由于能量非单一性引起的。（√）

当中间镜的物平面与物镜背焦平面重合时，可看到形貌像。（×）

非晶质体重结晶时DTA曲线上产生放热峰。（√）

填空题：

请按波长由短到长的顺序对X射线，可见光，红外线，紫外线进行排练：X射线<紫外线<可见光<红外线。

X射线本质上是一种电磁波。

波可以绕过障碍物继续传播，这种现象叫做波的衍射。

相对于波长而言，障碍物的尺寸越大，衍射现象越不明显。

系统消光包括点阵消光和结构消光。

X射线衍射分析时，晶胞的形状和尺寸与衍射线的分布规律有关；原子的种类及其在晶胞中的位置与衍射线的强度有关。X射线衍射分析时，衍射线的低角度线和高角度线中比较重要的是低角度线，强线和弱线更重要的是强线。

在扫描电镜中，可以利用会聚透镜和电磁透镜两种透镜对电子进行会聚。

在波谱仪和能谱仪中，能同时测量所有元素的是能谱仪，定量分析准确度高的是波谱仪。

扫描电镜的二次电子像和背散射电子像中，分辨率较高的是二次电子像，形成原序数衬度的是背散射电子像。

吸收限的应用主要是：合理的选用滤波片材料害人辐射源的波长（即选阳极靶材料）以便获得优质的花样衍射。

2．影响衍射线强度的因子是：1.多重性因子2. 结构因子3.脚因子4.温度因子5.吸收因子

透射电镜制备样品的方法主要有：直接法：粉末颗粒样品、超薄切片、直接薄膜样品间接法：一级复型、二级复型；半直接法：萃取复型

4．SEM的主要工作方式有：发射方式、反射方式、吸收方式、投射方式、俄歇电子方式、X射线方式、阴极发光方式、感应信号方式。

5．DTA中用参比物稀释试样的目的是：减少被测样品的数量

滤波片的K吸收限应刚好位于Kα和Kβ之间，且大于Kβ，小于Kα。

2．衍射花样由两个方面组成：一方面是衍射线在空间的分布，另一方面是衍射线束的强度。

3．景深是指在保持像清晰前提下，试样在物平面上下沿镜轴所允许移动的距离。

4．SEM的主要性能有：放大倍数、分辨率，景深

5．影响热重曲线的主要因素是仪器因素、升温因素、试样周围气氛、试样的影响

获得X射线的条件是：1.产生自由电子2.使自由电子作定向高速移动3,在电子运动路径上有障碍使电子瞬时减速

X射线衍射仪有二种扫描方式：连续扫描步进扫描

3．电磁透镜有以下特点：1，只能使电子汇聚，但不能加速电子2，只能是会聚透镜3，放大倍数，焦距连续可调

4．SEM的主要性能有：放大倍数，分辨率，景深

5．影响差热曲线的主要因素是：1.升温速率2，仪器因素3，试样与参比物的对称度4，气氛的影响5，走纸速度6，样品稀释7，压力影响

一束X射线通过物质时，它的能量可分为三部分：透射散射吸收

衍射线的分布规律是由晶胞的形状和大小决定的，而衍射线的强度则取决于原子的种类和原子在晶胞中的相对位置。3．扫描电镜的主要结构分为四大系统：电子光学系统信号接收处理系统真空系统供电系统

4．在陶瓷原料中发生的主要热效应有：有机物燃烧分解反应非晶态物质的重结晶脱水反应熔融升华晶体破坏和重建5．热分析的主要方法是：差热分析热膨胀分析热重分析、差示扫描量热法

X射线辐射探测器分为三种类型：气体电离计数器、闪烁计数器、粉体计数器

误差校正方法有：图解外推法最小二乘法衍射线对法

3．电磁透镜有以下特点：只能使电子聚焦成像，不能加速电子总是会聚透镜放大倍数与焦距连续可调

4．粉末样品的分散方法主要有：超声振荡法悬浮液法喷雾法

5．影响热重曲线的主要因素是：升温速率试样周围气氛和压力的影响赵氏速度坩埚支架等的影响试样因素

1.产生X射线的条件：①产生自由电子②使电子作定向高速运动③在其运动的路径上设置一个障碍物，使电子突然减速

2.X射线的性质：沿直线传播；经过电场或磁场不发生偏转；具有很强的穿透力；通过物质时可以被吸收使其强度衰减，还能杀伤生物细胞，具有波粒二象性。

3.连续X射线谱产生机理：当高速电子流轰击阳极表面时，电子运动突然受到阻击，产生极大的负加速度，一个带有负电荷的电子在受到这样一种加速度时，电子周围的电磁场发生急剧的变化，必然要产生一个电磁波，该电磁波具有一定的波长，而数量极大的

电子流射到阳极靶上时，由于到达靶面上的时间和被减速的情况各不相同，因此产生的电磁波将具有连续的各种波长，形成连续X 射线谱。

4.特征X 射线谱产生机理：当X 射线管电压加大到某一临界值V K 时高速运动的电子动能足以将阳极物质原子的K 层电子给激发出来。于是在低能级上出现空位，原子系统能量升高，处于不稳定状态，随后高能级电子跃迁到K 层空位，使原子系统能量降低重新趋于稳定，在这个过程中，原子系统内电子从高能级向低能级的这种跃迁，多余的能量将以光子的形式辐射出特征X 射线。

5.莫赛来定律:它表明只要是同种原子,不论它所处的物理状态和化学状态如何,它发出的特征X 射线均具有相同的波长。对于一定线性系的某条谱线而言其波长与原子序数平方近似成反比关系。根号下（1/λ）=K(Z-σ)

6.系统/点阵消光：由原子在晶胞中的位置不同而引起的某些方向上的衍射线的消光称为系统消光。

7.系统消光：把由于F HKL =0而使衍射线有规律消失的现象称为系统消光。（重点）

8.X 射线与物质的相互作用以下几种：①被散射②被吸收③透过物质继续沿原来的方向传播。

9.布拉格方程：

10.产生衍射的充分条件:满足布拉格方程且F hkl 结构因子不等于零.

11.X 射线的强度：指垂直于X 射线传播方向的单位面积上在单位时间内通过的光子数目的能量总和。

12.衍射线的强度：指某一组面网衍射的X 射线光量子的总数。

影响衍射线强度的因素：多重性因子P ,结构因子F,角因子（1+C os 22θ）/Sin 2θC os θ ,温度因子e -2M ,吸收因子A

13.X 射线衍射的实验方法：粉末法，劳厄法，转晶法。

14.粉晶衍射仪法：利用Ｘ射线的电离效应和荧光效应，由辐射探测器来记录衍射线的方向和强度的一种方法。

15.吸收限:一个特征X 射线谱系的临界激发波长.应用:合理地选用滤波片材料和辐射源的波长(即选阳极靶材料)以便获得优质的花样衍射.

16.衍射线的分布规律是由晶胞的大小,形状决定的,而衍射线的强度则是取决于原子的种类及原子在晶胞中的位置.

17.X 射线被物质散射时,产生两种散射现象:相干散射和非相干散射.相干散射: 波长不变的散射,又称经典散射.非相干散射波长变化的散射,又称量子散射.

18.绝对强度(累积强度或积分强度):指某一组面网衍射的X 射线光量子的总数.

19.相对强度:是用某种规定的标准去比较各个衍射线条的强度而可得出的强度相对比值.

7、积分强度：扣除背影强度后衍射峰下的累积强度。(必考)

8、绝对强度(累积强度或积分强度):指某一组面网衍射的X 射线光量子的总数.

9、相对强度:是用某种规定的标准去比较各个衍射线条的强度而可得出的强度相对比值.

10、系统消光:由原子在晶胞中的位置不同而引起某些方向上衍射线的消失称为系统消光.

11、产生衍射的充分条件:满足布拉格方程且F hkl 结构因子不等于零.

12、影响衍射强度的因素:多重性因子P ,结构因子F,角因子（1+C os 22θ）/Sin 2θC os θ

λθn d hkl =sin 2)(