有源医疗器械产品有效期验证报告2019
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产品有效期验证报告
型号:XXX
编制:日期:审核:日期:批准:日期:
一目的
验证本公司生产的安全有效的使用期限,保证使用者的安全和临床应用中技术参数的准确性。
二、评价路径
产品组成:
PCBA 外壳电池显示屏
产品功能:
产品临床使用的情况:
。
结论:产品组成典型、功能比较单一,结合临床应用情况适用整机加速老化试验的方法。
三、验证方案
1、确定样品数量:
整机6台。
2、有效期和可靠度:
有效期5年,可靠度0.9。
3、确定临床使用模式:
使用阶段有三种模式,分别为贮存模式、待机模式和工作模式。本产品
允许连续工作,采用最极端的连续工作模式.
4、加速因子
4.1定义
加速环境试验是一种激发试验,它通过强化的应力环境来进行可靠
性试验。加速环境试验的加速水平通常用加速因子来表示。加速因
子的含义是指设备在正常工作应力下的寿命与在加速环境下的寿命
之比,通俗来讲就是指一小时试验相当于正常使用的时间。
4.2本产品的临床使用应力剖面:
本产品用于临床的康复治疗,临床使用应力主要为温度和湿度。
参考温湿度:25˚C,65%RH。
4.3 温度加速因子
温度的加速因子由Arrhenius 模型计算:
其中,Lnormal 为正常应力下的寿命,Lstress 为高温下的寿命,Tnormal 为室温绝对温度,Tstress 为高温下的绝对温度,Ea 为失效反应的活化能(eV),k 为Boltzmann 常数,8.62×10-5eV/K,实践表明绝大多数电子元器件的失效符合Arrhenius 模型,
表1 给出了半导体元器件常见的失效反应的活化能。
设备名称失效类型失效机理活化能(eV)
IC 断开Au-Al 金属间产
生化合物 1.0
IC 断开Al 的电迁移0.6
IC(塑料)断开Al 腐蚀0.56 MOS IC(存贮
器)短路氧化膜破坏0.3~0.35
二极管短路PN 结破坏(Au-Si
固相
反应) 1.5
晶体管短路Au 的电迁移0.6
MOS 器件阈值电压漂
移发光玻璃极化 1.0
MOS 器件阈值电压漂移Na 离子漂移至 Si
氧化膜 1.2~1.4
MOS 器件阈值电压漂移Si-Si 氧化膜的
缓慢牵引 1.0
4.4湿度加速因子
湿度的加速因子由 Hallberg 和 Peck 模型计算:
其中,RHstress 为加速试验相对湿度,RHnormal 为正常工作相对湿度,n 为湿度的加速率常数,不同的失效类型对应不同的值,一般介于 2~3 之间。
4.5综合加速因子
温度和湿度来考核产品的使用寿命。在 50℃、90%RH 下做加速寿命测试,故其速因子应为温度加速因子和湿度加速因子的乘积,计算如下
其中,AF位加速因子,Ea 为激活能为 0.6eV,k 为玻尔兹曼常数且 k=8.6×10-5eV/K,T 为绝对温度、RH 为相对湿度(单位%),一般情况下 n 取为 2。
Tnormal =25℃ ;RHnormal=65%
Tstress=50℃. ;RHstress=90%
AF=13.72
5、试验时间
产品标称使用期限5年,最多含2个闰年,每周使用7d,每天使用24h,则产品工作总时间为43848h。根据GB/T34986-2017《产品加速试验方法》的要求,可靠度为0.9 则试验时间为预计总工作时间的1.2倍
工作模式加速老化时间=(工作总时间×120%)/(加速因子*台数)
=43848×120%/(13.72*6)
=639.18
总测试时间为639.18h,换算为27d。
6、测试要求:
6.1实验前:
a、性能测试:符合产品技术要求的2.1
b、外购结构测试:符合产品技术要求的2.2
c、基本安规测试:符合漏电流、电介质强度的要求
6.2实验中:
a、基本性能测试 :符合产品技术要求的2.1.4
b、外购测试:符合产品技术要求的2.2
6.3试验后
a、性能测试:符合产品技术要求的2.1
b、外购结构测试:符合产品技术要求的2.2
c、基本安规测试:符合漏电流、电介质强度的要求
三、试验过程和记录
1样品编号:
1#: 2#:
3#: 4#:
5#: 6#:
2、在常温下进行性能、外观结构、安规的测试。
3将产品放入恒温恒湿箱,试验时产品正常通电,输出设置为最大输出强度每天两次测试最大输出是否符合技术要求。
开始时间:结束时间:
试验记录详见附录(加速老化测试记录表.)
4、试验结束后恢复到常温,在常温下进行性能、外观结构、安规的测试。
5、测试结果:
产品在50℃,RH 90%的环境下工作28天仍能满足产品技术要求
四、结论:
通过加速老化试验结果可知。我司生产的产品在5年内是安全有效的.
加速老化测试记录表样品编号:1#: 2#:
3#: 4#:
5#: 6#: