宽禁带半导体电力电子器件
宽禁带半导体是什么?该如何理解它比较好?
宽禁带半导体是什么?该如何理解它比较好?第三代宽禁带半导体材料被广泛应用在各个领域,包括电力电子,新能源汽车,光伏,机车牵引,以及微波通讯器件等,由于它突破第一、二代半导体材料的发展瓶颈,被业界一直看好。
在前不久2018年国际泛半导体投资论坛上,华登国际合伙人、中电华登信息产业基金首席投资官容志诚先生主持了一场圆桌讨论,和业界领袖嘉宾共同探讨了宽禁带在中国的发展。
“宽禁带有两个大的发展空间,一个是高压跟高温,应用场景包括高铁等,例如日本第二代高铁能跑350公里/小时、车轻了11吨,一个重要原因就是借助新材料提供耐高温高压的性能,可靠性大大提高、性能也大大提高,重量大大减低。
还有国家智能电网,电动车/油混车等。
”容志诚认为,“另外一个方向是通信,从5G到毫米波的高频趋势,如下图所示。
”在此分享现场8位嘉宾的精彩观点,从宽禁带半导体的优势说起,讨论生态圈的现状?面对什么样的挑战?需要做什么?(参与圆桌讨论的嘉宾包括:IEEE会士/纽约伦斯勒理工学院周达成教授、中国LED产业与应用联盟秘书长关白玉、工信部电子科技委委员李晋湘、北京大学宽禁带半导体联合研究中心主任/北京大学东莞光电研究院常务副院长张国义教授、东风汽车技术中心副总工程师罗建武博士、中国宽禁带功率半导体产业联盟理事长单位山东天岳副总裁孙克博士、香港创能动力(APS)创始人总裁周永昌)【宽禁带半导体优势四个字:四高一抗】李晋湘从产业界角度总结了“四高一抗”——宽禁带半导体材料包括器件,有哪四高?高温、高压、高规律、高频率;抗什么?抗辐射。
记住“四高一抗”。
这个优势带来了新的应用,功率器件肯定是要高功率、耐高温。
通信,特别是5G要向高频发展。
【我们的碳化硅废品太多都做了叫锆石的首饰。
产业化技术要关注。
】。
宽禁带半导体功率器件——材料、物理、设计及应用
宽禁带半导体功率器件——材料、物理、设计及应用1.引言1.1 概述宽禁带半导体功率器件作为半导体领域中的重要分支,具有广阔的应用前景。
它是基于宽禁带半导体材料的器件,具备了高功率、高电压和高温度等特点,适用于能源领域、通信领域以及其他一系列领域。
在本文中,我们将对宽禁带半导体功率器件的材料、物理性质、设计原理以及应用领域进行深入研究和探讨。
首先,我们将介绍宽禁带半导体材料的定义和分类,以及其在器件制备中的重要性。
接着,我们将详细探讨宽禁带半导体材料的物理性质,包括载流子浓度、迁移率和反向饱和电流等关键参数的影响因素和变化规律。
其次,我们将深入研究宽禁带半导体功率器件的设计原理,包括器件结构、电场分布以及载流子输运等方面的理论基础。
这部分内容将着重介绍宽禁带半导体功率器件的设计要点,包括提高器件电流密度、减小漏电流和改善器件热特性等方面的关键技术和方法。
最后,我们将重点关注宽禁带半导体功率器件在能源领域和通信领域的应用。
特别是在能源领域,宽禁带半导体功率器件可以广泛应用于太阳能电池、风力发电和电动车等领域,为可再生能源的开发和利用提供支持。
在通信领域,宽禁带半导体功率器件的高频特性和高功率特性,使其成为无线通信系统中的重要组成部分。
总之,本文将全面介绍宽禁带半导体功率器件的材料、物理性质、设计原理以及应用领域,并对其现状进行总结和展望。
通过深入研究和探讨,我们希望能够进一步提高宽禁带半导体功率器件的性能和应用水平,为相关领域的发展做出贡献。
文章结构部分的内容如下:1.2 文章结构本文将分为引言、正文和结论三部分来展开对宽禁带半导体功率器件的讨论。
引言部分将首先对宽禁带半导体功率器件进行概述,介绍其基本概念和特点。
接着将介绍文章的结构和内容安排,以便读者能够清晰地理解全文的逻辑发展。
正文部分将分为三个主要章节:材料、设计和应用。
在材料章节中,我们将详细介绍宽禁带半导体材料的特点和性质,包括它们的禁带宽度、载流子浓度和迁移率等重要参数。
宽禁带半导体电力电子器件
宽禁带半导体材料的禁带宽度较大,能够 在高温环境下保持稳定的性能,增强了电 力电子器件的可靠性和稳定性。
节能环保
推动技术进步
宽禁带半导体电力电子器件具有高效能、 低能耗的优点,有助于减少能源消耗和环 境污染。
宽禁带半导体电力电子器件的发展推动了 新能源、智能电网、电动汽车等领域的技 术进步和应用。
对未来研究和发展的建议
宽禁带半导体电力电子器件
目录
• 引言 • 宽禁带半导体材料 • 宽禁带半导体电力电子器件的种类 • 宽禁带半导体电力电子器件的应用 • 宽禁带半导体电力电子器件的挑战与前景 • 结论
01 引言
宽禁带半导体的定义
宽禁带半导体
指禁带宽度较大的半导体材料,通常 禁带宽度大于2.3eV。常见的宽禁带 半导体材料包括硅碳化物(SiC)、氮 化镓(GaN)和氧化锌(ZnO)等。
料之一。
GaN电力电子器件在电动汽车、可再生能源系统、智 能电网等领域也具有广泛应用前景,尤其在高压和高
温环境下表现出更高的性能优势。
宽禁带半导体的优势
高热导率
宽禁带半导体材料具有高热导率, 能够有效地将热量导出,提高器 件的散热性能和可靠性。
高击穿场强
宽禁带半导体材料具有高击穿场 强,能够承受更高的电压和电流, 提高器件的耐压能力和电流容量。
高频开关电源
宽禁带半导体电力电子器件具有高频 开关能力,可应用于高频开关电源, 减小电源体积和重量,提高电源转换 效率。
02 宽禁带半导体材料
硅碳化物(SiC)
硅碳化物(SiC)是一种宽禁带半导体材料,具有高热导率、高击穿场强、高电子饱 和迁移速度等优点。
SiC在高温、高压、高频和高功率应用领域具有优异性能,是制造电力电子器件的理 想材料之一。
宽禁带半导体材料
其他应用
宽禁带半导体材料在传感器、太阳 能电池、电子束器件等领域也有应 用。
02
宽禁带半导体材料的性质
物理性质
高击穿电场
宽禁带半导体具有高的击穿电 场,可使其在高温和高频下保
持优良的导电性能。
高热导率
宽禁带半导体的热导率较高,有 利于器件的高温工作。
低有效质量
宽禁带半导体具有低的有效质量, 有助于提高其电子和空穴的迁移率 。
方法。
该方法的基本原理是将金属有机物作 为源材料,通过控制反应温度、反应 压力、反应气体的种类和输送到反应 炉中的量等参数,实现高质量宽禁带
半导体材料的可控制备。
与传统的化学气相沉积法相比,金属 有机物化学气相沉积法具有更高的生 长速率和更低的成本,同时还可以实 现不同类型宽禁带半导体材料的可控
制备。
总结词
宽禁带半导体材料具有宽带隙和高透光性等特性,因此在光电器件领域也有 着广泛的应用前景。
详细描述
宽禁带半导体材料在光电器件领域主要应用于LED、激光器和光检测器等光电 器件的制作。这些器件可以应用于光纤通信、光信息处理和光电传感等领域 。
传感和MEMS应用
总结词
宽禁带半导体材料具有高灵敏度、高分辨率和高稳定性等优点,因此在传感和 MEMS领域也有着广泛的应用前景。
该方法的基本原理是将反应气体输送到反应炉中,在一定的温度和压力下,反应气体发生 化学反应并生成固态薄膜。
通过控制反应气体的种类和输送到反应炉中的量,可以精确地控制薄膜的生长速率和厚度 ,从而实现高质量宽禁带半导体材料的可控制备。
溶胶-凝胶法
溶胶-凝胶法是一种在宽禁带半导体材料制备中常用的化学方法。
微波射频应用
总结词
宽禁带半导体材料具有高频率特性、低损耗和高功率容量等 优势,因此在微波射频领域也具有广泛的应用前景。
电力电子技术的未来发展趋势是什么?
电力电子技术的未来发展趋势是什么?在当今科技飞速发展的时代,电力电子技术作为一门关键的交叉学科,正以前所未有的速度改变着我们的生活和工业生产方式。
从智能手机的快速充电到电动汽车的高效驱动,从可再生能源的大规模并网到智能电网的优化运行,电力电子技术的身影无处不在。
那么,未来电力电子技术又将朝着哪些方向发展呢?首先,更高的功率密度和效率将是电力电子技术追求的重要目标。
随着电子设备的日益小型化和功能的不断强大,对电源模块的功率密度提出了越来越高的要求。
通过采用新型的半导体材料,如碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN),以及优化电路拓扑结构和控制策略,可以显著提高电力电子装置的功率密度和效率。
这不仅能够减少设备的体积和重量,还能降低能源消耗,为实现可持续发展做出贡献。
在半导体技术方面,宽禁带半导体器件的发展将成为未来的主流趋势。
相较于传统的硅基半导体器件,SiC 和 GaN 具有更高的击穿电场强度、更高的热导率和更低的导通电阻。
这使得它们能够在更高的电压、温度和频率下工作,从而提高电力电子系统的性能。
例如,在电动汽车的充电器中,采用 SiC 器件可以大大缩短充电时间,提高充电效率;在光伏逆变器中,使用 GaN 器件能够降低能量损耗,增加发电量。
集成化也是电力电子技术未来发展的一个重要方向。
将多个功能模块集成在一个芯片上,可以减少寄生参数,提高系统的可靠性和稳定性。
此外,系统级封装(SiP)和三维封装技术的不断进步,将为电力电子集成化提供更多的可能性。
未来,我们可能会看到更多高度集成的电力电子模块,它们不仅具有功率变换功能,还集成了驱动、控制和保护等电路,从而简化系统设计,降低成本。
智能化控制技术将在电力电子领域发挥越来越重要的作用。
随着人工智能、大数据和机器学习的发展,电力电子系统可以实现更加精确和自适应的控制。
通过对系统运行数据的实时监测和分析,智能控制器能够根据负载变化和工作环境的动态调整控制策略,以达到最优的性能。
电力电子器件的宽禁带半导体技术考核试卷
1. ×
2. √
3. ×
4. ×
5. √
6. ×
7. ×
8. ×
9. ×
10. ×
五、主观题(参考)
1.宽禁带半导体材料具有高热导率、高载流子迁移率和高压击穿特性,适用于高频、高压、高温的电力电子器件。例如,在电动汽车和光伏逆变器中,硅碳(SiC)和氮化镓(GaN)器件可降低能耗,提高效率。
9.高温环境下,宽禁带半导体器件的性能不会受到影响。( )
10.宽禁带半导体器件在未来的电力电子领域没有潜在的应用前景。( )
五、主观题(本题共4小题,每题5分,共20分)
1.请简述宽禁带半导体材料(如硅碳SiC、氮化镓GaN等)在电力电子器件中的应用优势,并举例说明其在哪些具体应用中表现出色。
2.描述宽禁带半导体器件(如SiC MOSFET、GaN HEMT等)的驱动电路设计需要考虑的主要因素,并解释这些因素如何影响器件的性能。
3.针对宽禁带半导体器件的可靠性和长期稳定性,阐述在实际应用中应如何进行测试和评估,以及这些测试对于器件性能和寿命的重要性。
4.讨论宽禁带半导体器件在未来电力电子领域的发展趋势,以及可能面临的挑战和解决方案。
标准答案
一、单项选择题
1. C
2. A
3. D
4. D
5. A
6. B
7. B
8. D
9. D
1.宽禁带半导体材料相比于硅材料,以下哪些特性是它们的优点?()
A.更高的热导率
B.更低的开关损耗
C.更高的载流子迁移率
D.更低的制造成本
2.以下哪些材料被认为是宽禁带半导体材料?()
A.硅碳(SiC)
B.氮化镓(GaN)
基于硅单晶与宽禁带材料电力电子器件性能对比及最新发展
J I A N G S U U N I V E R S I T Y基于硅单晶与宽禁带材料电力电子器件性能对比及最新发展动态的专题报告学院名称:电气信息工程学院专业班级:学生姓名:学生学号:2016.11.1一.硅单晶材料的电力电子器件性能对比1.1硅单晶材料单晶硅主要用于制作半导体元件,是制造半导体硅器件的原料,用于制大功率整流器、大功率晶体管、二极管、开关器件等。
熔融的单质硅在凝固时硅原子以金刚石晶格排列成许多晶核,如果这些晶核长成晶面取向相同的晶粒,则这些晶粒平行结合起来便结晶成单晶硅。
单晶硅的制法通常是先制得多晶硅或无定形硅,然后用直拉法或悬浮区熔法从熔体中生长出棒状单晶硅。
单晶硅棒是生产单晶硅片的原材料,随着国内和国际市场对单晶硅片需求量的快速增加,单晶硅棒的市场需求也呈快速增长的趋势。
自晶闸管和功率晶体管问世和应用以来,硅基半导体器件在功率处理能力和开关频率方面不断改善,先后诞生了GTR、GTO、MOSFET 和IGBT 等现代电力电子器件,对电力电子系统缩小体积、降低成本起到了极其关键的作用[1]。
1.2各器件性能对比1.2.1大功率晶体管(GTR)GTR是一种电流控制的双极双结电力电子器件,产生于本世纪70年代,其额定值已达1800V/800A/2kHz、1400v/600A/5kHz、600V/3A/100kHz。
它既具备晶体管的固有特性,又增大了功率容量,因此,由它所组成的电路灵活、成熟、开关损耗小、开关时间短,在电源、电机控制、通用逆变器等中等容量、中等频率的电路中应用广泛。
GTR的缺点是驱动电流较大、耐浪涌电流能力差、易受二次击穿而损坏。
在开关电源和UPS内,GTR正逐步被功率MOSFET和IGBT所代替。
1.2.2门极可关断晶闸管(GTO)1964年,美国第一次试制成功了500V/10A的GTO。
在此后的近10年内,GTO的容量一直停留在较小水平,只在汽车点火装置和电视机行扫描电路中进行试用。
电力电子器件原理
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轨道交通
在城市轨道交通中,电力电子器 件用于实现牵引供电和信号控制 。
在磁悬浮列车中,电力电子器件 可以实现高效的电机控制和能量 回收。
在高速铁路中,电力电子器件用 于实现列车牵引和供电系统的控 制。
在轨道交通的自动化和智能化方 面,电力电子器件也发挥着重要 的作用。
05 电力电子器件的未来发展
智能化与网络化的趋势
智能化
随着人工智能技术的发展,电力电子器件的智能化成为一种趋势。智能化能够提高电力电子系统的自适应性、可 靠性和容错性,实现更加高效和智能的能源管理。
网络化
通过互联网和物联网技术,将电力电子器件与智能终端、云计算等相互连接,实现远程监控、数据采集和智能控 制等功能。网络化的电力电子器件能够提高能源利用效率和可再生能源的接入能力,促进能源的可持续发展。
热特性
最大结温
指电力电子器件在工作过程中所允许的最高结温, 超过此温度将导致器件性能下降或损坏。
热阻
指电力电子器件在工作过程中因温度升高而产生 的热量传导阻力。
散热设计
为确保电力电子器件的正常工作,需要采取有效 的散热措施,如散热片、风冷或液冷等。
安全工作区
安全工作区
指在规定的电源电压和负载电流范围内,电力电子器件能够安全、可靠地工作 而不会发生损坏或性能下降的区域。
新材料与新工艺的应用
新材料
随着科技的发展,新型材料如碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN) 等在电力电子器件中的应用越来越广泛。这些新材料具有更高 的热导率、禁带宽度和击穿场强等特点,能够提高电力电子器 件的效率和可靠性。
新工艺
新型工艺技术如薄膜工艺、微纳加工技术等在电力电子器件 制造中逐渐得到应用。这些新工艺能够减小器件尺寸、降低 制造成本和提高集成度,为电力电子器件的发展提供了新的 可能性。
超宽禁带二维半导体材料与器件研究
超宽禁带二维半导体材料与器件研究摘要:针对于半导体来讲,其只有七十多年的历史,但对社会发展的影响极大,半导体技术发展与其材料的物理性质有较大关联。
半导体材料可以应用到诸多领域,如晶体管、集成电路、电力电子器件及光电子器件等等,是国家科技发展的关键标志。
基于此,本文主要分析超宽晋禁带二维半导体材料与器件,希望可以为相关人士提供参考和借鉴。
关键词:超宽带隙二维半导体材料和器件分析目前,超宽禁带二维半导体材料的研发与应用掀起了一股浪潮,其具有较高光电转化能力、高频功率特性、高温稳定及低能量损耗等优势,可以为诸多领域发展提供帮助。
超宽禁带二维半导体材料与器件不仅发展空间大,并且市场前景也相对较好,需要细致分析材料支配方式,并且思考其在器件中的运用和性能展现。
一、超宽禁带二维半导体概述禁带宽度即为的一个能带宽度,单位为eV(电子福特),但需要注意的是,固体中的电子能量并不能连续取值,这样能带的连续性就会受到影响[1]。
想要导电就应有自由电子来作为支撑,自由电子能带可称之为导带(能导电),同时已经被束缚的电子想要转变成为自由电子,就应有充足的能量,这样才可以跃迁到导带,其能量的最小值即为禁带宽度。
另外,针对于半导体材料的基本物理性质来讲,其与禁带宽度有较大关联,禁带宽度较窄则说明材料属性的金属比例较大,较宽则说明其倾向于绝缘体。
目前,半导体材料通常都是依照禁带宽度来进行划分,即为窄禁带半导体材料、宽禁带半导体材料、超宽禁带半导体材料、超窄禁带半导体材料。
超宽禁带半导体的全称为Ultra-wide bandgap semiconductors,其带隙普遍大于3.4eV(GaN的禁带宽度),性质即为高击穿电场、热导率、电子迁移率等等[2]。
同时超宽禁带半导体的优势高于宽禁带半导体,耐高温、耐高压、高频及抗辐射能力较强,可以高效运用到多个领域,如在超高压电力电子期间、量子通信与极端环境等领域的应用空间都相对较大。
氮化物宽禁带半导体材料与电子器件
目录分析
《氮化物宽禁带半导体材料与电子器件》这本书的目录结构清晰、内容丰富, 从基础理论到实际应用,从现有技术到未来趋势,全面展示了氮化物宽禁带半导 体材料与电子器件领域的各个方面。通过阅读本书,读者可以深入了解该领域的 基本知识、研究现状及未来发展方向,为从事相关研究或应用提供有益的参考和 启示。
阅读感受
阅读感受
在我阅读《氮化物宽禁带半导体材料与电子器件》这本书的过程中,我深深 地被书中的内容所吸引。这本书不仅在学术上具有很高的价值,同时也对于我们 理解半导体材料和电子器件的发展趋势有着重要的意义。
阅读感受
这本书的主题是关于氮化物宽禁带半导体材料和电子器件,这是一个在当前 科技领域中备受的话题。随着科技的不断发展,半导体材料和电子器件的重要性 日益凸显,而氮化物宽禁带半导体材料作为一种新型的材料,具有许多优秀的特 性,如高耐压、高频率、高功率等,这些特性使得它在电力电子、光电子、高功 率电子等领域中具有广泛的应用前景。
内容摘要
这包括LED、激光器、太阳能电池、电子开关等器件的工作原理和实际应用。通过这些内容,读 者可以深入了解氮化物宽禁带半导体在各种电子器件中的应用和优势。 本书介绍了氮化物宽禁带半导体的最新研究进展。这包括最新的制备技术、新应用的探索以及未 来发展的趋势等。这些内容可以让读者了解到氮化物宽禁带半导体的最新科研动态,对于从事相 关研究的读者来说非常有价值。 《氮化物宽禁带半导体材料与电子器件》这本书是一本全面介绍氮化物宽禁带半导体材料与电子 器件的书籍,无论是对于初学者还是对于从事相关研究工作的读者来说,都有很高的参考价值。
目录分析
第九章:氮化物宽禁带半导体材料的安全性与可靠性。本章对氮化物宽禁带 半导体材料的安全性与可靠性进行了全面分析,包括材料的稳定性、耐久性以及 潜在的安全风险等方面,以确保其在实际应用中的可靠性。
宽禁带半导体的本征载流子浓度
宽禁带半导体的本征载流子浓度列举了有代表性的宽禁带半导体本征载流子浓度的理论公式,简要叙述了温度与禁带宽度变化的关系,讨论了本征载流子浓度对电力电子器件参数特性的影响,并通过与硅材料的对比说明了宽禁带半导体的优异性能。
标签:宽禁带半导体;本征载流子;禁带宽度;电力电子器件半导体材料的发展已历经三代,即分别以硅(Si)和砷化镓(GaAs)为代表的第一、第二代半导体材料,和以碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)为代表的第三代半导体材料,也称宽禁带半导体材料。
由于其具有更宽的禁带宽度、更高的击穿电场强度、更高的热导率、更高的电子饱和漂移速度等独特的参数特性,因而在电力电子器件、光电器件、射频微波器件、激光器和探测器等方面,显示出广阔的发展前景,已成为目前世界各国半导体研究的重点。
在这其中,电力电子器件是在高电压、大电流和高温下工作的,本征载流子浓度等温度敏感参数对器件的特性有着显著的影响,而宽禁带半导体材料比硅材料在这方面有着明显的优势,了解和把握这一点,对于研究宽禁带电力电子器件的参数特性显得十分必要。
1 本征载流子浓度的理论公式根据半导体物理学,半导体的本征载流子浓度ni由下式给出:2 温度对禁带宽度的影响研究表明:随着温度的上升,禁带宽度将随之减小。
文献[2]、[4]给出了硅和其它半导体禁带宽度与温度之间关系的表达式:文献[2]给出了不同半导体材料禁带宽度参数,见表2。
其中Eg(0)为00K 时的禁带宽度,α、β均为温度变化系数。
3 Eg与ni对电力电子器件参数特性的影响3.1 Eg对击穿电压的影响在描述半导体的雪崩击穿电压VB与材料禁带宽度Eg和杂质浓度NB的关系时,文献[5]引用了S.M.Sze公式:VB=60(Eg/1.1)1.5(NB/1016)-0.75 (8)对于p+n结,当NB=1014cm-3时,分别将Si的Eg=1.12eV、4H-SiC的Eg=3.23eV代入式(8),计算出Si的雪崩击穿电压为1900V,而4H-SiC的雪崩击穿电压可达9500V,是Si的5倍。
宽禁带半导体材料
氧化锌是一种直接带隙半导体材料,具有高激子束缚能和宽带隙等优点,在 透明电子器件、紫外光电器件和压电器件等领域有着广泛的应用前景。
其他宽禁带半导体材料
总结词
除了氮化镓、碳化硅和氧化锌外,还有一 些其他宽禁带半导体材料,如氮化铝 (AlN)、碳化钛(TiC)等。
VS
详细描述
这些材料也具有各自的优点和应用前景, 如氮化铝具有高热导率和化学稳定性等优 点,在高温电子器件和光电器件等领域有 着广泛的应用;碳化钛具有高硬度、高化 学稳定性和宽带隙等优点,在高温和抗辐 射电子器件等领域有着广泛的应用。
航空航天
宽禁带半导体材料在航空航天领域的应用也越来 越多,如航空电子、宇航电子等,可用于航空航 天器的控制系统和导航系统等领域。
02
宽禁带半导体材料的基本类 型
氮化镓(GaN)
总结词
氮化镓是一种具有高热导率、高击穿场强、高饱和电子速度和高化学稳定性等优 点的宽禁带半导体材料。
详细描述
氮化镓是一种直接带隙半导体材料,具有高热导率和高电子迁移率等优点,在电 力电子器件、光电器件和微波器件等领域有着广泛的应用前景。
碳化硅(SiC)
总结词
碳化硅是一种具有高热导率、高击穿场强、高饱和电子速度等优点的宽禁带半导体材料。
详细描述
碳化硅是一种间接带隙半导体材料,具有高热导率和高温稳定性等优点,在电力电子器件、光电器件和高温电 子器件等领域有着广泛的应用前景。
氧化锌(ZnO)
总结词
氧化锌是一种具有高激子束缚能、高电子迁移率、高透明度等优点的宽禁带 半导体材料。
宽禁带半导体材料
xx年xx月xx日
contents
目录
• 宽禁带半导体材料概述 • 宽禁带半导体材料的基本类型 • 宽禁带半导体材料制备工艺 • 宽禁带半导体材料的应用前景 • 宽禁带半导体材料的研究挑战与展望
电力系统中的电力电子器件及其应用
电力系统中的电力电子器件及其应用在当今高度依赖电力的社会中,电力系统的稳定运行和高效发展至关重要。
而电力电子器件的出现和应用,为电力系统带来了革命性的变化。
电力电子器件,简单来说,就是能够对电能进行有效控制和转换的半导体器件。
它们在电力系统中的应用范围十分广泛,从发电、输电、配电到用电的各个环节,都能看到其身影。
在发电环节,风力发电和太阳能光伏发电是目前发展迅速的清洁能源。
然而,这些能源的输出功率往往具有不稳定性和间歇性。
电力电子器件在此发挥了关键作用。
例如,在风力发电系统中,通过使用电力电子变流器,可以将风机产生的变化频率和电压的电能,转换为稳定的、符合电网要求的电能并输送入网。
同样,在太阳能光伏发电系统中,电力电子逆变器能够将光伏电池板产生的直流电转换为交流电,实现与电网的连接和电能的有效传输。
输电领域,高压直流输电(HVDC)是电力电子器件的重要应用场景之一。
传统的交流输电存在着线路损耗大、输电距离受限等问题。
而高压直流输电则能够有效地解决这些难题。
通过使用晶闸管等电力电子器件组成的换流器,将交流电转换为直流电进行远距离传输,到达目的地后再转换回交流电。
这样不仅减少了输电过程中的能量损耗,还提高了输电容量和稳定性。
来到配电环节,电力电子器件在电能质量控制方面表现出色。
随着各种非线性负载在电力系统中的广泛应用,如变频调速设备、电弧炉等,电网中的电压波动、谐波污染等问题日益严重。
此时,有源电力滤波器(APF)、静止无功补偿器(SVC)和静止无功发生器(SVG)等基于电力电子技术的设备应运而生。
它们能够快速、精准地补偿无功功率、滤除谐波,从而提高电能质量,保障电力设备的正常运行。
在用电环节,电力电子器件也有着广泛的应用。
电动汽车的快速充电器,就是依靠高效的电力电子变换技术,实现对电池的快速、安全充电。
家庭和工业中的变频调速设备,通过改变电机的供电频率和电压,实现对电机转速的精确控制,达到节能和提高运行效率的目的。
宽禁带半导体电力电子器件国家重点实验室
宽禁带半导体电力电子器件国家重点实验室2017-2018年开放基金课题指南碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)为代表的宽禁带半导体材料具有禁带宽度大、击穿场强高、导热能力好等性能优势,以此加工制造的宽禁带电力电子器件具有高频、高压、高效、耐高温、抗辐照、高可靠和大功率的优势和特性,被誉为带动“新能源革命”的“绿色能源”器件,对国民经济和国防领域有着十分巨大的牵拉带动作用.宽禁带半导体电力电子器件国家重点实验室瞄准国际技术研究前沿和我国重大应用需求,将开展一系列关键技术及专项研究攻关.为支撑实验室研究工作,提升自主创新能力,促进学科交叉和高水平学术交流,实验室发布2017-2018年开放基金课题如下:(一)SiC沟槽MOSFET器件关键技术研究1、研究目标针对高电流密度、高可靠SiC功率MOSFET研制要求,开展沟槽结构SiC MOSFET的结构设计和工艺技术研究。
探索SiC沟槽MOSFET芯片的设计仿真方法,建立器件物理结构形式对沟槽底部电场分布的作用规律,阐明强电场引起栅介质失效的机理,提出并实现增强栅介质可靠性的加固新结构。
开展高质量SiC沟槽形成工艺与栅介质形成技术研究,建立U型槽刻蚀工艺、槽侧壁离子注入和栅介质形成等关键工艺技术,研制出具有高栅介质可靠性、高电流密度的SiC功率MOSFET器件样品。
2、主要研究内容1)高电流密度SiC沟槽MOSFET芯片结构设计;2)S iC沟槽MOSFET栅介质可靠性加固技术研究;3)高质量SiC沟槽与栅介质形成工艺技术研究。
3、技术指标1200V SiC沟槽MOSFET样品:1)单芯片导通电阻80mΩ;2)比导通电阻 4.5mΩ∙cm2;3)最大工作栅压下栅介质电场强度<3MV/cm。
4、进度要求18个月.5、经费要求建议不超过30万元。
6、成果形式1)S iC沟槽MOSFET样品;2)发表高水平论文3篇;3)申请发明专利2项;4)技术研究报告3份。
宽禁带半导体器件研究现状与展望
宽禁带半导体器件研究现状与展望一、概述随着科技的飞速发展和社会的不断进步,半导体器件作为现代电子技术的核心,其性能的提升和成本的降低对于推动科技进步和产业升级具有重要意义。
宽禁带半导体器件作为一种新型的半导体器件,因其具有禁带宽度大、击穿电场高、热稳定性好、抗辐射能力强等独特优势,在功率电子、高频电子、光电子、量子电子等领域具有广阔的应用前景。
近年来,随着材料科学、微电子工艺和半导体物理等学科的深入发展,宽禁带半导体器件的研究取得了显著的进展,成为半导体领域的研究热点之一。
本文旨在全面综述宽禁带半导体器件的研究现状,分析其主要技术特点、应用领域和发展趋势。
我们将简要介绍宽禁带半导体材料的基本性质和特点,为后续的研究奠定理论基础。
我们将重点介绍宽禁带半导体器件的制备方法、性能优化及其在各领域的应用情况,包括功率电子器件、高频电子器件、光电子器件等。
我们将展望宽禁带半导体器件未来的发展趋势和挑战,以期为相关领域的研究者和从业者提供有益的参考和启示。
1. 宽禁带半导体器件的定义与重要性宽禁带半导体器件,作为一种新型的半导体器件,是指其禁带宽度大于传统半导体材料的半导体器件。
这类材料通常具有更大的禁带宽度,一般大于7电子伏特(eV),因此被称为宽禁带半导体。
与传统的硅材料相比,宽禁带半导体具有更高的电子能带宽度,从而具备更好的电子传输性能和热稳定性。
常见的宽禁带半导体材料包括碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)等。
宽禁带半导体器件的出现,对电子行业的发展和应用带来了革命性的影响。
其重要性主要体现在以下几个方面:宽禁带半导体器件在能源领域具有广泛的应用。
例如,碳化硅太阳能电池具有高转换效率、较长的使用寿命和高温稳定性的特点,被认为是下一代高效太阳能电池技术的发展方向。
宽禁带半导体材料还可以应用于电动汽车的功率电子模块,提高电池的充放电效率,延长电池寿命。
宽禁带半导体器件在通信和无线电频率领域也具有重要的应用价值。
宽禁带半导体电力电子器件(ppt)
四、 研究方法、技术路线和可行性分析
技术路线:
器件的结 构设计
外延材 料生长
离子注入 退火技术 热氧化技术 欧姆接触 肖特基接触
最大电子饱和速度 (107cm/s)
Si 1.12 11.8 1.5 0.3 1500 425
0.9
GaAs 1.43 12.5 0.54 0.4 8800 400
3C-SiC 2.4 9.72 3.2 2.12 800 40
4H-SiC 3.26 10 3.7 2.2 1000 115
6H-SiC 3.0 9.66 4.9 2.5 400 100
(3)器件的可靠性及失效机理研究。 包括SiC电力电子器件反向漏电流机理研究,高温下SiC材料的欧姆接触、 肖特基接触、SiO2/SiC界面态、SiC器件的导通、击穿和开关速度等特性的 可靠性研究等。
二、 研3 究研究内内容容、拟解决的技术难点
拟解决的技术难点:
(1)器件的合理化设计。 (2)SiC的热氧化技术。 可靠性及失效机理研究。SiC材料的欧姆接触,SiO2/SiC界面 态,器件的导通、击穿和开关速度等特性的可靠性研究。② SiC
一、 国内外发展现状与趋势
电力电子器件的发展趋势:
更大导通电流容量、更高阻断电压及更高功率容量; 低通态电阻和低通态压降; 更快的开关速度和更高的工作频率等方向发展。
二、 研3 究研究内内容容、拟解决的技术难点
SiC电力电子器件的主要研究内容:
(1)SiC电力电子器件的器件物理研究。 包括SiC高压二极管及SiC-MOSFET晶体管的材料结构设计,器件的耐压 解析模型的建立,场板、场限环及结终端延伸等终端保护技术在器件上的应 用与设计,完善宽禁带SiC功率器件结构优化设计理论等。 (2)SiC电力电子器件制备的关键技术研究。 包括SiC材料的欧姆接触、肖特基接触的研究,SiC离子注入及退火技术 研究,SiC表面处理及高性能的氧化层制备技术研究,SiC材料的低损伤刻蚀 技术研究,及其各关键工艺技术的整合等内容。
半导体材料举例
半导体材料举例半导体材料是一种特殊的材料,具有介于导体和绝缘体之间的电导率。
它们在现代电子学中扮演着重要的角色,被广泛应用于电子器件、光电器件、太阳能电池等领域。
下面列举了一些常见的半导体材料。
1. 硅(Si):硅是最常见的半导体材料之一,具有良好的电学性能和化学稳定性。
它被广泛应用于集成电路、太阳能电池等领域。
2. 碳化硅(SiC):碳化硅是一种新型的半导体材料,具有高温、高压、高频等特殊性能。
它被广泛应用于电力电子、汽车电子等领域。
3. 氮化镓(GaN):氮化镓是一种宽禁带半导体材料,具有高电子迁移率和高饱和漂移速度。
它被广泛应用于LED、激光器等领域。
4. 磷化镓(GaP):磷化镓是一种窄禁带半导体材料,具有良好的光电性能。
它被广泛应用于光电器件、太阳能电池等领域。
5. 砷化镓(GaAs):砷化镓是一种高速、高频半导体材料,具有良好的电学性能和光电性能。
它被广泛应用于微波器件、光电器件等领域。
6. 氮化铝(AlN):氮化铝是一种宽禁带半导体材料,具有良好的热导率和机械性能。
它被广泛应用于高功率电子器件、LED等领域。
7. 氮化硼(BN):氮化硼是一种高温、高硬度半导体材料,具有良好的热导率和化学稳定性。
它被广泛应用于高温电子器件、陶瓷材料等领域。
8. 氧化锌(ZnO):氧化锌是一种宽禁带半导体材料,具有良好的光电性能和化学稳定性。
它被广泛应用于光电器件、传感器等领域。
9. 硒化铟(In2Se3):硒化铟是一种新型的半导体材料,具有良好的光电性能和化学稳定性。
它被广泛应用于太阳能电池、光电器件等领域。
10. 硫化镉(CdS):硫化镉是一种窄禁带半导体材料,具有良好的光电性能和化学稳定性。
它被广泛应用于太阳能电池、光电器件等领域。
半导体材料在现代电子学中扮演着重要的角色,不同的半导体材料具有不同的特殊性能,可以满足不同领域的需求。
随着科技的不断发展,相信半导体材料的应用领域会越来越广泛。
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器件经过高温(200)反偏、温度循环、功率循环、 温度和湿度试验。
四、 研究方法、技术路线和可行性分析
技术路线:
离子注入 退火技术 热氧化技术 欧姆接触 肖特基接触 …
器件的结 构设计
外延材 料生长
器件的研制
高性能 器件
器件结构 调整
工艺分析 和改进
器件的性能 测试及分析
四、 研究方法、技术路线和可行性分析
3 研究内容 二、 研究内容、拟解决的技术难点
拟解决的技术难点:
(1)器件的合理化设计。 (2)SiC的热氧化技术。 可靠性及失效机理研究。SiC材料的欧姆接触,SiO2/SiC界面 态,器件的导通、击穿和开关速度等特性的可靠性研究。② SiC
离子注入以及掺杂离子激活 在碳化硅器件研究中,掺杂注入要求在高温注入之后高温退火激活注入离子。对 于离子注入的最大深度、最高浓度分布状态以及标准偏差分布进行计算,在研究中 采用相应的注入能量、剂量,得到所需要的注入离子分布状态。与硅材料中掺杂离 子基本处于激活态不同,碳化硅材料中的掺杂离子一般条件下只有部分处于激活状 态,并且其激活的比率与多种因素直接相关。在碳化硅材料中的注入离子激活能比 较高,对于同一种离子,随着注入离子浓度、注入能量的不同,离子在不同条件下 激活之后可能产生不同的的深能级,形成不同导电类型的掺杂。因此,离子注入掺 杂激活机理的研究对于实现设计的掺杂目的是必不可少的。
3 研究内容 二、 研究内容、拟解决的技术难点
SiC电力电子器件的主要研究内容:
(1)SiC电力电子器件的器件物理研究。 包括SiC高压二极管及SiC-MOSFET晶体管的材料结构设计,器件的耐压 解析模型的建立,场板、场限环及结终端延伸等终端保护技术在器件上的应 用与设计,完善宽禁带SiC功率器件结构优化设计理论等。 (2)SiC电力电子器件制备的关键技术研究。 包括SiC材料的欧姆接触、肖特基接触的研究,SiC离子注入及退火技术 研究,SiC表面处理及高性能的氧化层制备技术研究,SiC材料的低损伤刻蚀 技术研究,及其各关键工艺技术的整合等内容。 (3)器件的可靠性及失效机理研究。 包括SiC电力电子器件反向漏电流机理研究,高温下SiC材料的欧姆接触、 肖特基接触、SiO2/SiC界面态、SiC器件的导通、击穿和开关速度等特性的 可靠性研究等。
• 研究场限环、结终端延伸等终端保护技术 对器件击穿特性的影响,包括场限环间距、 宽度、掺杂浓度、结深度等因素,以及结 终端延伸的长度、深度、浓度等因素对器 件内部电场分布的影响,获得合理的结终 端保护结构计,从而优化器件结构。
高速的开关性能、低导通 电阻 高速的开关性能
•2007年美国的Cree公司研制了SiC 10 kV /20 A的结势垒肖 特基二极管。 •已有商业化样品。
•2004 年,美国的Cree公司报道阻断电压高达10 kV,比导 通电阻为123 mΩ·cm2的4H-SiC DMOSFET。 •已有1200V /10、20 A的商业样品。 •2004年,美国Rutgers大学报道击穿电压为11kV、比导通 电阻为130mΩ·cm2的SiC-JFET器件。 •已有1200V和1800V、15A~30A的商业样品。 •2004年,美国Rutgers大学报道击穿电压为9.2 kV,比导通 电阻为33mΩ·cm2的的SiC BJT器件。 •已有1200V/6、20A的商业样品。 •2007年,Purdu大学研制了阻断电压高达20kV的SiC PIGBT。
•2003年,美国Rutgers大学报道了阻断电压超过10kV的4HSiC的肖特基器件,比导通电阻为97.5 mΩ·cm2。 •已商业化。
•2001年,利用结终端延伸技术,日本报道了耐压至 19.5kV 的 4H-SiC 的台面型 pin 二极管。
结势垒肖 特基器件 (JBS)
MOSFET
结合了pn结和肖特基结 构的优点,耐压和开关速 度介于两者之间
三、 研究目标、技术指标
研究目标:SiC功率整流器和功率开关的研制
技术指标: SiC 功率二极管,器件的阻断电压大于4500V,最高 正向导通电流不小于100A,开关频率不少于100kHz;
SiC 功率开关最高正向阻断能力不低于4500V,最高 正向导通电流不少于50A,开关频率不少于100kHz;
四 研究基础
中国科学院微电子研究所研究基础: 1. 在SiC器件的工艺方面的研究 已进行SiC材料的刻蚀、减薄工艺,器件的设计与制备等方 面的研究。
10 10 10 10
-2
0.0010
-3
0.0008
Current (A)
• •
•
•
不同Ni、Ti、Pt金属体系的 肖特基接触; 表面处理、肖特基金属退 火等技术对肖特基势垒的 影响研究; 关于肖特基接触可靠性的 高温存储研究; 肖特基二极管反向泄漏电 流的形成机理研究等。
宽禁带半导体电力电子器件 研究
中国科学院微电子研究所
主要内容
一、 二、 三、 四、 五、 国内外发展现状与趋势 研究内容、拟解决的技术难点和创新点 研究目标、技术指标 研究方法、技术路线和可行性分析 年度进展安排
一、 国内外发展现状与趋势
宽禁带半导体材料优越的物理化学特性
特征 禁带宽度(eV) 相对介电常数 热导率(W/K· cm) 击穿电场(106 V/cm) 电子迁移率(cm2/s· V) 空穴迁移率(cm2/s· V) 最大电子饱和速度 (107cm/s) Si 1.12 11.8 1.5 0.3 1500 425 0.9 GaAs 1.43 12.5 0.54 0.4 8800 400 1.3 3C-SiC 2.4 9.72 3.2 2.12 800 40 2.2 4H-SiC 3.26 10 3.7 2.2 1000 115 2 6H-SiC 3.0 9.66 4.9 2.5 400 100 2 GaN 3.4 9.5 1.3 2.0 1000 200 2.5
SiC 单 极 型 开 关 SiC 双 极 型 开 关
JFET
BJT
开关速度与MOSFET相 当,驱动电路较 MOSFET器件复杂 适合于中高压等级
IGBT
Hale Waihona Puke 一、 国内外发展现状与趋势
电力电子器件的发展趋势: 更大导通电流容量、更高阻断电压及更高功率容量;
低通态电阻和低通态压降;
更快的开关速度和更高的工作频率等方向发展。
四、 研究方法、技术路线和可行性分析
研究方法:
(2)SiC器件制备关键技术研究方案。 利用变温I-V特性测试、表面成分分析测试等手段研究SiC欧姆接触的高温可靠性, 分析欧姆接触的对器件失效机理的影响。通过变温I-V特性和变温C-V特性的测量, 研究SiC材料和界面态对器件的失效机理等影响。通过仿真模拟软件研究不同温度 对器件的静态和动态特性,和闩锁效应的影响。对器件的可靠性进行评估、对失效 机理进行分析。
开展了SiC材料ICP刻蚀参数优化、刻蚀掩模的确定及其选择比优 化等刻蚀技术的研究。
主要内容
一、 二、 三、 四、 五、 国内外发展现状与趋势 研究内容、拟解决的技术难点和创新点 研究目标、技术指标 研究方法、技术路线和可行性分析 年度进展安排
• 对于IGBT器件,影响器件的阻断电压的主要因素,包括 漂移层的厚度和载流子浓度;影响器件通态压降的因素, 包括反型层沟道的迁移率、pnp晶体管的注入效率以及p型 发射极的欧姆接触电阻等;影响器件的开关速度的因素, 包括基区的少子寿命,厚度和掺杂浓度等。在此基础上, 利用数学计算工具、仿真模拟软件等对SiC IGBT器件结构 参数,包括阻挡层的厚度及掺杂浓度、漂移层的厚度及掺 杂浓度、沟道长度、发射区掺杂及深度、基区掺杂及深度 等器件结构参数和SiC的材料参数,包括载流子寿命、界 面态密度等,对IGBT器件内部的能带图、电场分布,器 件的转移特性、输出特性、击穿电压等静态特性,开关速 度等动态特性,进行模拟仿真,分析器件器件结构参数和 材料参数对器件性能的影响机理;合理解决器件通态压降 与耐压、开关速度的折中关系。
表 1 几种SiC 多型体及其它常见半导体材料的性能比较
一、 国内外发展现状与趋势
与Si器件的优点
器件产生的损耗减少 ( 导通电阻减至数分之一 ) ★热导率约为Si的3倍 ★绝缘耐压约为Si的7~10倍 可高频工作 ★电子饱和速度约为Si的2倍以上 周边部件尺寸减 小 冷却装置尺寸减 小或省去
效果
(1)SiC器件物理和器件结构设计研究方案。 建立SiC材料合理的参数模型,包括载流子统计模型、迁移率模型、复合率模 型、碰撞电离模型和隧道效应模型。对SiC肖特基结势垒二极管中的p
研究方法:
利用仿真模拟软件对SiC高压二极管器件的能带图、电场分布等特性进行仿真计算, 分析器件中载流子输运机理,研究器件结构及场板、场环和结终端延伸等不同终端 保护技术对器件击穿特性的影响机理,从而设计和优化器件结构,获得合理化器件 结构。 对于IGBT器件,影响器件的阻断电压的主要因素,包括漂移层的厚度和载流子浓 度;影响器件通态压降的因素,包括反型层沟道的迁移率、pnp晶体管的注入效率 以及p型发射极的欧姆接触电阻等;影响器件的开关速度的因素,包括基区的少子 寿命,厚度和掺杂浓度等。在此基础上,利用数学计算工具、仿真模拟软件等对 SiC IGBT器件结构参数,包括阻挡层的厚度及掺杂浓度、漂移层的厚度及掺杂浓度、 沟道长度、发射区掺杂及深度、基区掺杂及深度等器件结构参数和SiC的材料参数, 包括载流子寿命、界面态密度等,对IGBT器件内部的能带图、电场分布,器件的转 移特性、输出特性、击穿电压等静态特性,开关速度等动态特性,进行模拟仿真, 分析器件器件结构参数和材料参数对器件性能的影响机理;合理解决器件通态压降
四、 研究方法、技术路线和可行性分析
研究方法:
(2)SiC器件制备关键技术研究方案。 SiC的欧姆接触的研究,通过快速热退火技术、传输线模型技术、变温I-V测试等 技术,研究Ni、NiSi等金属在n型SiC材料上的欧姆接触、研究Ti、Ni、Pt、SiAl等 金属在p型SiC材料的欧姆接触特性及其形成机理的研究;利用Trim软件模拟P、N、 Al等离子注入在SiC中能量、深度、偏差和杂质浓度分布,改变离子注入后杂质激 活退火的温度、时间、氛围、密封剂等工艺条件,研究离子注入形成欧姆接触高掺 杂区及终端保护技术的制备研究;利用变温的I-V和C-V特性对Pd、Ni、Pt等金属与 SiC材料肖特基接触进行研究,分析界面态对肖特基势垒高度的影响,分析器件的 反向漏电机理;通过改变刻蚀气体的功率、流量配比等参数对SiC材料的刻蚀技术 研究等。