调幅信号的解调(原理)

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实验五 调幅信号的解调

一、实验原理

从高频已调信号中恢复出调制信号的过程称为解调。解调是调制的逆过程。

调幅信号的解调,通常称为检波,其实现方法可分为包络检波和同步检波两大类。前者只适用于AM 波,而DSB 或SSB 信号只能用同步检波。当然同步检波也可解调AM 信号,但因比包络检波器电路复杂,所以AM 信号很少采用同步检波。

1、 二极管峰值包络检波器

二极管包络检波分为峰值包络检波和平均包络检波。前者输入信号电压大于0.5V 。检波器输出、输入间是线性关系——线形检波;后者输入信号较小,一般几毫伏至几十毫伏,输出的平均电压与输入信号电压振幅的平方成正比,又称平方率检波,广泛用于测量仪表中的功率指示。本实验仅研究二极管峰值包络检波,其原理电路如图6—1所示。

图中,输入回路提供调幅信号源。检波二极管通常选用导通电压小、导通电阻小的锗管。RC 电路有两个作用:一是作为检波器的负载,在两端产生调制信号电压;二是滤除检波电流中的高频分量。

为此,RC 网络必须满足

1c R C ω 1f R C

ω (6—1) 式中,c ω为载波角频率,f ω为调制角频率。

检波过程实质上就是信号源通过二极管向电容C 充电和电容对电阻R 放电的过程,充电时间常数为d R C ,d R 为二极管正向导通电阻。放电时间常数为RC ,通常d R R >,因此对C 而言充电快,放电慢。经过若干个周期后,检波器的输出电压o U 在充放电过程中逐步建立起来。该电压对二极管D 形成一个大的负电压,从而使二极管在输入电压的峰值附近才导通,导通时间很短,电流通角θ很小。当C 充放电达到动态平衡后,o v 按高频周期作锯齿状波动,其平均值是稳定的,且变化规律与输入调幅信号包络变化规律相同,从而实现了AM 信号的解调。

平均电压,即输出电压o V 包含直流dc V 及低频调制分量f v :

()()o dc f v t V v t =+ (6—2)

当电路元件选择正确时,dc V 接近但小于输入电压峰值。如果只需输出调制信号,则可在原电路上增加隔直电容L C 和负载电阻L R 。如图6—2(a);如果需要检波器提供与载

波电压大小成比例的直流电压(如用于自动增益控制),则可用低通滤波器G G R C 滤除调制分量,取出直流。如图6—2(b )所示。

下面简单说明一下二极管峰值包络检波器的两项主要性能指标。

(1) 传输系数d K

传输系数d K 亦称检波系数,检波效率,是描述检波器对输入已调信号的解调能力或效率的一个物理量。若输入电压振幅为cm V ,输出直流电压为dc V ,则d K 定义为: dc d cm

V K V = (6—3) 对于AM 信号,其定义为检波器输出低频电压振甫于输入高频已调波包络振幅之比

fm

d cm V K mV = (6—4)

这两个定义是一致的。d K 的大小决定于RC 的取值及二级管导通电阻d R 的大小,d K 越趋近于1,检波效率越高。

(2) 检波器的失真

二极管峰值包络检波器的失真,除具有与放大器相同的线性与非线性失真外,还存在两种特有的失真—惰性失真和底部切割失真,如图6—3所示。

惰性失真表现为输出波形不随包络形状而变,他总是起始于输入电压负斜率的包络上,输出电压跟不上包络线的下降速度。这种失真是由于RC过大造成的,即由于RC时间常数过大,二极管截止期间C通过R放电速度过慢,使AM信号包络下降速度大于电容两端电压下降速度,因而造成二极管负偏压大于信号电压,致使二极管在其后的若干高频周期内不导通。为避免产生惰性失真,必须保证在每一个高频周期内二极管导通一次,也就是使电容C通过R放电的速度大于或等于包络的下降速度。

底部切削失真又称负峰切削失真,这种失真是因检波器的交直流负载不同引起的。分析表明,为防止失真,检波器交流负载与直流负载之比不得小于调幅波的调制度m,因此,必须限制交、直流负载的差别。

二极管峰值包络检波器实验电路为实验箱中05单元电路,如图6—4所示。图中5K1、5K2用于选择不同电容、电阻,以便讨论不同C、R对检波特性的影响。

2、同步检波

同步检波分为乘积型和叠加型两种方式,它们都需要接受端恢复载波支持。本实验采用乘积型同步检波,实验电路为实验箱06单元电路,如图6—5所示。

乘积型同步检波是直接把本地恢复载波与调幅信号相乘,用低通滤波器滤除无用的高频分量,提取有用的低频信号,它要求恢复载波与发端的载波同频同相,否则将使恢复出来的调制信号产生失真。

本实验中,恢复载波直接取自原调幅波载波。因为在输出电流中,除了解调所需要的低频分量外,其余所有分量都属于高频范围,很容易滤除,因此不需要载波调零电路,而且可采用单电源供电。本电路可以解调DSB或SSB信号,亦可解调AM信号。MC1496脚8输入载波信号,可用大信号输入,一般100—500mV;脚1输入已调信号,信号电平应使放大器保持在线性工作区内,一般在100mV以下。

实验箱06单元中,6GB1 及LC谐振电路用于鉴频器实验,后面再作介绍。

二、实验仪器

双踪示波器XJ4330 或HH4330

数字频率计SP3165A 或NFC—100

电源万用表实验箱

三、实验内容

(一) 二极管峰值包络检波研究

1、 参考实验五内容,在4D 点得到m<1的正常AM 波。

2、 连接4/3—5/1,断开5/2—10/1,选择合适的5K1、5K2位置,

使在5A 点得到不失真的检波波形。用示波器测量4D 点AM

波包络峰—峰值fpp V 和5A 点解调信号峰—峰值fpp

V ',计算检波器传输系数

fpp

d fpp V K V '= (6—5)

3、 接通5/2—10/1,调整10DW1,试听检波效果;将7K 换成3

—1,再听检波效果。

4、 断开5/2—10/1,7K 换成2—1,选择不同5K1、5K2位置,用

示波器在5A 点观察不同R 、C 值对检波输出的影响。记录波

形最好和产生较大惰性失真的开关位置及RC 值。

5、 接通5/2—10/1,选择不同5K1,5K2位置(必要时调整10DW1),

使5A 点波形底部切削失真,记录5K1,5K2位置及RC 值。

(二)同步检波

1断开5/2—10/1,4/4—9/1;接通3/3—6/3,4/4—6/1;6K1置于1—4,用示波器在6C 点观察解调波形。接通6/4—10/1,试听检波效果。

2 参考实验五内,将AM 波转成DSB 波,观察解调波形。

恢复实验箱至初始状态。

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