XRD经典问题集锦
XRD复习题(打印)第一个老师的作业
X射线衍射复习题习题一1．名词解释：相干散射（汤姆逊散射）：散射波的波长和频率与入射波完全相同，新的散射波之间将可以发生相互干涉-----相干散射不相干散射（康普顿散射）：散射辐射的波长λ₂应要比入射光束的波长λ₁长，波长的增量Δλ取决于散射角α，散射位相与入射波位相之间不存在固定关系，故这种散射是不相干的，称之为非相干散射。
荧光辐射：能量较高的光子和原子作用后，转变为较低能量的光子时所发生的辐射。
俄歇效应：原子发射的一个电子导致另一个或多个电子（俄歇电子）被发射出来而非辐射X射线（不能用光电效应解释），使原子、分子成为高阶离子的物理现象，是伴随一个电子能量降低的同时，另一个（或多个）电子能量增高的跃迁过程吸收限：物质对电磁辐射的吸收随辐射频率的增大而增加至某一限度即骤然增大。
3．若X射线管的额定功率为1.5kW，在管电压为35kV时，容许的最大电流是多少？4．讨论下列各组概念中二者之间的关系：1）同一物质的吸收谱和发射谱；答：λk吸收〈λkβ发射〈λkα发射2）X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。
答：λkβ发射（靶）〈λk吸收(滤波片)〈λkα发射（靶）。
任何材料对X 射线的吸收都有一个Kα线和Kβ线。
如 Ni 的吸收限为0.14869 nm。
也就是说它对0.14869nm波长及稍短波长的X射线有强烈的吸收。
而对比0.14869稍长的X射线吸收很小。
Cu靶X射线:Kα=0.15418nm Kβ=0.13922nm。
5．为使Cu靶的Kβ线透射系数是Kα线透射系数的1/6，求滤波片的厚度。
7．欲用Mo靶X射线管激发Cu的荧光X射线辐射，所需施加的最低管电压是多少？激发出的荧光辐射的波长是多少？答：欲使Cu样品产生荧光X射线辐射，V =1240/λCu=1240/0.15418=8042，V =1240/λCu=1240/0.1392218=8907激发出荧光辐射的波长是0.15418nm8．X射线的本质是什么？10．实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe为主要成分的样品，试选择合适的X射线管和合适的滤波片。
XRD常见问题分析大全
1.做XRD有什么用途啊，能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团？X射线照射到物质上将产生散射。
晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。
绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质，都能产生X射线衍射。
晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。
晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换，包含了晶体结构的全部信息。
用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。
XRD（X射线衍射）是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布，晶胞形状和大小等)最有力的方法。
XRD特别适用于晶态物质的物相分析。
晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异，它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异。
因此，通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定；通过对样品衍射强度数据的分析计算，可以完成样品物相组成的定量分析；XRD还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的织构）...等等，应用面十分普遍、广泛。
目前XRD主要适用于无机物，对于有机物应用较少。
关于XRD的应用，在[技术资料]栏目下有介绍更详细的文章，不妨再深入看看。
如何由XRD图谱确定所做的样品是准晶结构？XRD图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分？三者并无严格明晰的分界。
在衍射仪获得的XRD图谱上，如果样品是较好的"晶态"物质，图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的"尖峰"（其半高度处的2θ宽度在0.1°~0.2°左右，这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的"最小宽度"）。
如果这些"峰"明显地变宽，则可以判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于300nm，可以称之为"微晶"。
XRD常见疑问及解答
[一般问题]做XRD有什么用途啊，能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团？X射线照射到物质上将产生散射。
晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。
绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质，都能产生X射线衍射。
晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。
晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换，包含了晶体结构的全部信息。
用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。
XRD（X射线衍射）是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布，晶胞形状和大小等)最有力的方法。
XRD特别适用于晶态物质的物相分析。
晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异，它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异。
因此，通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定；通过对样品衍射强度数据的分析计算，可以完成样品物相组成的定量分析；XRD还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的织构）...等等，应用面十分普遍、广泛。
目前XRD主要适用于无机物，对于有机物应用较少。
关于XRD的应用，在[技术资料]栏目下有介绍更详细的文章，不妨再深入看看。
如何由XRD图谱确定所做的样品是准晶结构？XRD图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分？三者并无严格明晰的分界。
在衍射仪获得的XRD图谱上，如果样品是较好的"晶态"物质，图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的"尖峰"（其半高度处的2θ宽度在0.1°~0.2°左右，这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的"最小宽度"）。
如果这些"峰"明显地变宽，则可以判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于300nm，可以称之为"微晶"。
XRD常见问题分析报告大全
1•做XRD有什么用途啊，能看出其纯度？还是能看出其中含有某种官能团？X射线照射到物质上将产生散射。
晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。
绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质，都能产生X射线衍射。
晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。
晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换，包含了晶体结构的全部信息。
用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。
XRD（ X射线衍射）是目前研究晶体结构（如原子或离子及其基团的种类和位置分布，晶胞形状和大小等）最有力的方法。
XRD特别适用于晶态物质的物相分析。
晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异，它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异。
因此，通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定；通过对样品衍射强度数据的分析计算，可以完成样品物相组成的定量分析；XRD还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的织构）… 等等，应用面十分普遍、广泛。
目前XRD主要适用于无机物，对于有机物应用较少。
关于XRD的应用，在［技术资料］栏目下有介绍更详细的文章，不妨再深入看看。
如何由XRD图谱确定所做的样品是准晶结构？XRD图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分？三者并无严格明晰的分界。
在衍射仪获得的XRD图谱上，如果样品是较好的"晶态"物质，图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的”尖峰"（其半高度处的2B宽度在0.1 ° ~0.2。
左右，这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的”最小宽度”）。
如果这些”峰”明显地变宽，则可以判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于300nm,可以称之为"微晶"。
XRD思考题
XRD思考题思考题1.六⾓结构的晶体内在的择优⽣长沿着什么⽅向？2.除了结构缺陷和应⼒等因素外，为什么粒径越⼩，衍射峰越宽？3.XRD衍射强度和峰的宽度与样品颗粒⼤⼩，还是与晶体颗粒⼤⼩有关？4.XRD峰整体向右偏移是什么原因造成的？5.X射线衍射的基本原理是什么？6.证明：X射线衍射产⽣的条件：d≥λ/27.从布拉格公式说明在什么⾓度范围内测量粉末相XRD能得到⽐较精确的格⼦常数值。
为什么X射线有时⽆法确定晶体的确切空间群？8.X射线波长的选择过程中应注意什么？为什么?9.XRD定量分析中最⼤的障碍之⼀是测试强度和理论强度不⼀致，其主要原因有哪些？内应⼒分类？10.精修时，粉末样品制备需注意什么？11.物相定量分析的原理是什么？试述⽤K值法进⾏物相定量分析的过程。
12.什么是Rietveld全谱拟合结构精修？该⽅法修能解决材料中哪些结构问题？F的物理意义。
结构因数与哪些因素有关系? 13.试述原⼦散射因数f和结构因数2HKL分析题1.Ce离⼦是发光材料经常使⽤的发光中⼼之⼀，主要是利⽤Ce3+离⼦的5d-4f跃迁宽带发光，然⽽，Ce的＋4价态（Ce4+离⼦）同样可以稳定存在。
现假定可以提供⼀批Ce取代的YBO3产物，能否直接利⽤粉末衍射技术判断化合物中Ce的价态？要提⾼精确度有什么建议？2.理论上XRD谱图具有指纹效应——不同化合物的谱图不同，但实际上在物相分析时却经常出错，请举例⼦说明会出错的情况，并且根据布拉格⽅程提出改善的办法。
3. 已知⽴⽅Yb3Ga5O12的晶胞参数a=12.19886(6)?和XRD图谱寻峰后的前5条峰的d值和强度，求它们的⾯指数。
h k l mult d_hkl(A) 2theta(deg)1 24 4.98016 17.7962 12 4.31295 20.5773 48 3.26028 27.3334 6 3.04972 29.2615 24 2.72775 32.8064. α-Fe属于体⼼⽴⽅，a=0.2866nm，欲对其进⾏X射线衍射分析，射线源的阳极靶材应如何选择？5. GaS晶体具有NaCl型结构（a）在100、110、111、200、210、211、220、222衍射中哪些是允许的。
（完整版）XRD复习题
（完整版）XRD复习题第⼀章X射线的物理学基础1.X射线的本质是什么？并请叙述其特征。
答：X射线的本质是电磁波，与可见光完全相同；其波长介于紫外线与γ射线之间，约为0.01—10nm的范围。
X射线的特征：波长短、光⼦能量⼤。
在通常实验条件下，很难观察到X射线的反射；对于所有的介质，X射线的折射率n都很接近于1。
2.X衍射实验中选择X射线管以及滤波⽚的原则是什么？答：滤波⽚的选择: (1)它的吸收限位于辐射源的Kα和K β之间，且尽量靠近K α。
强烈吸收Kβ，K吸收很⼩；(2)滤波⽚的厚度以将Kα强度降低⼀半最佳。
Z靶<40时Z滤⽚=Z靶-1；Z靶>40时Z 滤⽚=Z靶-2；阳极靶的选择:（1）阳极靶K波长稍⼤于试样的K吸收限；（2）试样对X射线的吸收最⼩。
Z靶≤Z试样+1。
（1）X衍射仪常采⽤Cu靶，Cu的特征X射线及其波长为，需要⽤滤波⽚或单⾊器去除，⽤软件去除。
（多选题）aＫα１，1.5406埃；b Ｋα２，1.5444埃； c Ｋβ，1.392埃答案：a, c, b（2）X衍射选⽤Cu靶，相配的滤波⽚为(单选题)a Cub Fec Nid Al答案：c由X射线管发射出来的X射线可以分为两种类型：、。
X衍射物相分析利⽤的是在晶体中的衍射。
a连续X射线b特征X射线答案：a b b 或b a b（3）判断对错。
⽤X衍射仪测⼀个以Fe为主要成分的样品，合适的X射线管和合适的滤波⽚是Cu靶和Ni滤波⽚。
（错）第⼆章X射线的晶体学基础⼀、晶体的定义是什么？请叙述其晶体的特点。
答：晶体的定义：内部质点在三维空间有规则排列的物体。
晶体的最明显特征是内部质点在三维空间作有规律的重复。
晶体的特点是：a 、均⼀性：指在宏观观察中，晶体表现为各部分性状相同的物体b 、各向异性：晶体在不同⽅向上具有不同的物理性质c 、⾃限性：晶体物质在适宜的外界条件下能⾃发的⽣长出晶⾯、晶棱等⼏何元素所组成凸多⾯体外形d 、固定熔点：晶体具有固定的熔点e、对称性：晶体的理想外形、宏观性质以及微观结构都具有⼀定的对称性g、最⼩内能⼆、晶体有四⼤空间格⼦类型、七⼤晶系，请具体说出其名称及其特征。
XRD常见问题锦集
X射线衍射常见问题集锦做XRD有什么用途啊，能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团？X射线照射到物质上将产生散射。
晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。
绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质，都能产生X射线衍射。
晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。
晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换，包含了晶体结构的全部信息。
用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。
XRD（X射线衍射）是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布，晶胞形状和大小等)最有力的方法。
XRD 特别适用于晶态物质的物相分析。
晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异，它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异。
因此，通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定；通过对样品衍射强度数据的分析计算，可以完成样品物相组成的定量分析；XRD还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的织构）...等等，应用面十分普遍、广泛。
目前XRD主要适用于无机物，对于有机物应用较少。
关于XRD的应用，在[技术资料]栏目下有介绍更详细的文章，不妨再深入看看。
如何由XRD图谱确定所做的样品是准晶结构？XRD图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分？三者并无严格明晰的分界。
在衍射仪获得的XRD图谱上，如果样品是较好的"晶态"物质，图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的"尖峰"（其半高度处的2θ宽度在0.1°~0.2°左右，这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的"最小宽度"）。
如果这些"峰"明显地变宽，则可以判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于300nm，可以称之为"微晶"。
XRD问题集锦
XRD问题集锦1、我做的测试中发现掺杂后衍射峰偏移，主要是由于晶格畸变引起。
在另一个测试中发现衍射峰变宽，已经排除是晶粒细化引起的，也是由于晶格畸变引起的。
这就出现了问题，同样是晶格畸变，为什么一个引起衍射峰偏移，另一个却引起宽化。
另外，宽化与晶格畸变关系如下：ε=W/4tanθ，ε是由晶格即便引起的衍射峰宽化程度，W是晶格畸变。
我想知道这个公式是怎么推导出来的。
跪求一解！！！！答：这个问题往往会困扰一些人，因为都是讲晶格畸变，为什么一种畸变就使峰位偏移，另一种说畸变就使峰宽化呢？我想我们可以简单地这样来理解。
举例来说，我们知道，纯铝的晶格常数是4.0497A，如果往其中加入镁原子，并使其形成一种固溶体，那么，根据一个俄人说的，每固溶XX的镁，就会使固溶体的晶胞参数增大YY（具体数据请自查）。
我们如何来理解这一现象呢？当一个原子进入到一种晶格中后，就会使原来的原子间距变化，至于变大还是变小，一般要看具体情况。
根据金属学教材上的说法，这种间距变化并不只是在这个异类原子位置或附近，影响是极其深远的。
我们往往称为种原子间距的变化为“晶格畸变”。
这种晶格畸变的大小只是随异类原子的加入量而成正比，不会因为量的变化，一会是正畸变，一会是负畸变。
因此，这一结果就使衍射峰位偏离原来的位置。
另一种畸变，我们往往说的是微观应变。
我们通常将应力分为三类，即一个晶粒内部的，几个晶粒范围内的，还有一种整个工件（测试）范围的。
我们往往称后者为宏观应力，也就是我们常说的殘余应力。
而把前两者合称为微观应力。
我们要理解这样一个事实：一个晶粒内部存在微观的缺陷，也就是说，一个晶粒由多个亚晶粒构成（如果我们把并在一起的一双手看作是两个晶粒，那么我们还会看到一只手掌上还有什么？掌纹，由掌纹分开的每一小块就是一个亚晶，但一只手却是一个完整的（晶粒））。
由于外力的作用，使亚晶粒产生变形。
一个晶粒内部，某些亚晶在某方向（衍射面HKL）被压缩，而另一些亚晶在某方向被拉长。
XRD常见问题集锦(PDF
[一般问题]做XRD有什么用途啊，能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团？X射线照射到物质上将产生散射。
晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。
绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质，都能产生X射线衍射。
晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。
晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换，包含了晶体结构的全部信息。
用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。
XRD（X射线衍射）是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布，晶胞形状和大小等)最有力的方法。
XRD特别适用于晶态物质的物相分析。
晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异，它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异。
因此，通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定；通过对样品衍射强度数据的分析计算，可以完成样品物相组成的定量分析；XRD还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的织构）...等等，应用面十分普遍、广泛。
目前XRD主要适用于无机物，对于有机物应用较少。
关于XRD的应用，在[技术资料]栏目下有介绍更详细的文章，不妨再深入看看。
如何由XRD图谱确定所做的样品是准晶结构？XRD图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分？三者并无严格明晰的分界。
在衍射仪获得的XRD图谱上，如果样品是较好的"晶态"物质，图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的"尖峰"（其半高度处的2θ宽度在0.1°~0.2°左右，这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的"最小宽度"）。
如果这些"峰"明显地变宽，则可以判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于300nm，可以称之为"微晶"。
XRD分析常见问题整
[一般问题]做XRD有什么用途啊，能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团？X射线照射到物质上将产生散射。
晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。
绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质，都能产生X射线衍射。
晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。
晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换，包含了晶体结构的全部信息。
用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。
XRD（X射线衍射）是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布，晶胞形状和大小等)最有力的方法。
XRD特别适用于晶态物质的物相分析。
晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异，它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异。
因此，通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定；通过对样品衍射强度数据的分析计算，可以完成样品物相组成的定量分析；XRD还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的织构）...等等，应用面十分普遍、广泛。
目前XRD主要适用于无机物，对于有机物应用较少。
关于XRD的应用，在[技术资料]栏目下有介绍更详细的文章，不妨再深入看看。
如何由XRD图谱确定所做的样品是准晶结构？XRD图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分？三者并无严格明晰的分界。
在衍射仪获得的XRD图谱上，如果样品是较好的"晶态"物质，图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的"尖峰"（其半高度处的2θ宽度在0.1°~0.2°左右，这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的"最小宽度"）。
如果这些"峰"明显地变宽，则可以判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于300nm，可以称之为"微晶"。
XRD常见问题
[一般问题]做XRD有什么用途啊，能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团？X射线照射到物质上将产生散射。
晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。
绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质，都能产生X射线衍射。
晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。
晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换，包含了晶体结构的全部信息。
用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。
XRD（X射线衍射）是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布，晶胞形状和大小等)最有力的方法。
XRD特别适用于晶态物质的物相分析。
晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异，它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异。
因此，通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定；通过对样品衍射强度数据的分析计算，可以完成样品物相组成的定量分析；XRD还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的织构）...等等，应用面十分普遍、广泛。
目前XRD主要适用于无机物，对于有机物应用较少。
关于XRD的应用，在[技术资料]栏目下有介绍更详细的文章，不妨再深入看看。
如何由XRD图谱确定所做的样品是准晶结构？XRD图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分？三者并无严格明晰的分界。
在衍射仪获得的XRD图谱上，如果样品是较好的"晶态"物质，图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的"尖峰"（其半高度处的2θ宽度在0.1°~0.2°左右，这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的"最小宽度"）。
如果这些"峰"明显地变宽，则可以判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于300nm，可以称之为"微晶"。
XRD常见问题解答
XRD常见问题“大杂烩”Q: XRD能做什么?A: XRD（X 射线衍射）是目前研究晶体结构（如原子或离子及其基团的种类和位置分布, 晶胞形状和大小等）最有力的方法。
XRD 特别适用于晶态物质的物相分析。
晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异，它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度以至衍射峰形上就显现出差异。
通过检查样品的X 射线衍射图以及与已知的晶态物质的 X 射线衍射谱图的对比，便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定；通过对样品衍射强度数据的分析计算, 可以完成样品物相组成的定量分析。
XRD还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的织构）以及材料中应力测量等，应用面十分普遍、广泛。
这是一个言简意赅的应用介绍：/mrl/centralfacilities/xray/xray-basics/index. htmlQ: 拿到XRD结果怎么分析? 求高手分析!A: 分析XRD图谱就是通过衍射现象找到样品晶体结构的定性和定量特征。
方法在材料学专业的课程中讲得很清楚, 你可以去借一本材料学必修的类似于“近代仪器分析”“材料分析方法”“材料表面界面及微结构表征”等的课程的教材来看, 里面一般都会有XRD一章的原理，用途，分析介绍。
总的来说，希望新手们能够主动去学习XRD，而不是光问问题，等着别人来解答。
如果实在懒得学，你也要明白你需要从这个谱中得到什么信息。
论坛上没有哪个"高手"比你更清楚你自己的样品，请描述清楚样品尽可能多的信息及实验谱数据和目的。
Q: 怎么判定XRD图谱是非晶还是晶体的结构?A: 三者并无严格明晰的分界。
晶体原子排列是短程(<10Å)有序, 长程(>10Å)也有序, 非晶体是短程有序, 长程无序. “晶态”物质的XRD 图谱包含若干个彼此独立的尖峰（最窄峰宽由衍射仪器几何和各种狭缝宽度决定）。
如果这些"峰"明显地变宽，则可以判定样品中晶粒尺寸变小。
XRD问题集锦
XRD问题集锦XRD问题集锦1、我做的测试中发现掺杂后衍射峰偏移，主要是由于晶格畸变引起。
在另一个测试中发现衍射峰变宽，已经排除是晶粒细化引起的，也是由于晶格畸变引起的。
这就出现了问题，同样是晶格畸变，为什么一个引起衍射峰偏移，另一个却引起宽化。
另外，宽化与晶格畸变关系如下：ε=W/4tanθ，ε是由晶格即便引起的衍射峰宽化程度，W 是晶格畸变。
我想知道这个公式是怎么推导出来的。
跪求一解答：这个问题往往会困扰一些人，因为都是讲晶格畸变，为什么一种畸变就使峰位偏移，另一种说畸变就使峰宽化呢？我想我们可以简单地这样来理解。
举例来说，我们知道，纯铝的晶格常数是4.0497A，如果往其中加入镁原子，并使其形成一种固溶体，那么，根据一个俄人说的，每固溶XX的镁，就会使固溶体的晶胞参数增大YY（具体数据请自查）。
我们如何来理解这一现象呢？当一个原子进入到一种晶格中后，就会使原来的原子间距变化，至于变大还是变小，一般要看具体情况。
根据金属学教材上的说法，这种间距变化并不只是在这个异类原子位置或附近，影响是极其深远的。
我们往往称为种原子间距的变化为“晶格畸变”。
这种晶格畸变的大小只是随异类原子的加入量而成正比，不会因为量的变化，一会是正畸变，一会是负畸变。
因此，这一结果就使衍射峰位偏离原来的位置。
另一种畸变，我们往往说的是微观应变。
我们通常将应力分为三类，即一个晶粒内部的，几个晶粒范围内的，还有一种整个工件（测试）范围的。
我们往往称后者为宏观应力，也就是我们常说的殘余应力。
而把前两者合称为微观应力。
我们要理解这样一个事实：一个晶粒内部存在微观的缺陷，也就是说，一个晶粒由多个亚晶粒构成（如果我们把并在一起的一双手看作是两个晶粒，那么我们还会看到一只手掌上还有什么？掌纹，由掌纹分开的每一小块就是一个亚晶，但一只手却是一个完整的（晶粒））。
由于外力的作用，使亚晶粒产生变形。
一个晶粒内部，某些亚晶在某方向（衍射面HKL）被压缩，而另一些亚晶在某方向被拉长。
xrd复习题
xrd复习题X射线衍射（XRD）是一种常用的材料结构表征技术，广泛应用于材料科学、物理学和化学等领域。
在进行XRD实验前，复习相关的知识点是非常重要的。
本文将回顾一些常见的XRD复习题，帮助读者巩固相关概念和理论。
1. X射线衍射的基本原理是什么？X射线衍射是一种通过材料晶体中的原子排列对入射X射线进行散射的现象。
根据布拉格方程，当入射X射线的波长与晶格间距的关系满足条件时，会出现衍射峰。
通过测量衍射峰的位置和强度，可以确定材料的晶体结构和晶格参数。
2. 什么是布拉格方程？它的数学表达式是什么？布拉格方程描述了X射线衍射的条件。
它可以用数学表达式表示为：nλ =2dsinθ，其中n是整数，λ是入射X射线的波长，d是晶格间距，θ是入射角。
3. 如何确定材料的晶体结构？通过X射线衍射实验，可以得到一系列的衍射峰。
根据布拉格方程，可以计算出每个衍射峰对应的d值。
然后，结合其他实验数据和理论模型，可以利用计算方法进行晶体结构的确定。
4. 什么是衍射峰的半高宽？它与晶体的结晶质量有什么关系？衍射峰的半高宽是衡量衍射峰形状的一个参数。
它反映了晶体的结晶质量和缺陷情况。
晶体结晶质量越好，衍射峰的半高宽越窄；晶体中存在缺陷或晶格畸变时，衍射峰的半高宽会增大。
5. X射线衍射实验中的仪器有哪些？常见的X射线衍射实验仪器包括X射线发生器、样品支架、衍射仪和探测器等。
X射线发生器用于产生入射X射线，样品支架用于固定待测样品，衍射仪用于接收和测量散射X射线，探测器用于转换X射线信号为电信号。
6. 在X射线衍射实验中，为什么要使用单晶样品？单晶样品具有高度有序的晶体结构，能够产生清晰的衍射峰。
通过测量单晶样品的衍射峰，可以得到更准确的晶格参数和晶体结构信息。
7. 什么是多晶样品？如何处理多晶样品的衍射数据？多晶样品由许多微小晶体组成，其衍射峰会出现在不同的位置和强度上。
为了处理多晶样品的衍射数据，可以使用Rietveld法进行全谱拟合，从而得到样品的晶体结构和相对含量。
XRD复习题(部分答案)
X射线衍射复习题习题一1．名词解释：相干散射（汤姆逊散射）、不相干散射（康普顿散射）、荧光辐射、俄歇效应、吸收限、俄歇效应。
3．若X射线管的额定功率为1.5kW，在管电压为35kV时，容许的最大电流是多少？4．讨论下列各组概念中二者之间的关系：1）同一物质的吸收谱和发射谱；答：λk吸收〈λkβ发射〈λkα发射2）X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。
答：λkβ发射（靶）〈λk吸收(滤波片)〈λkα发射（靶）。
任何材料对X 射线的吸收都有一个Kα线和Kβ线。
如 Ni 的吸收限为0.14869 nm。
也就是说它对0.14869nm波长及稍短波长的X射线有强烈的吸收。
而对比0.14869稍长的X射线吸收很小。
Cu靶X射线:Kα=0.15418nm Kβ=0.13922nm。
5．为使Cu靶的Kβ线透射系数是Kα线透射系数的1/6，求滤波片的厚度。
7．欲用Mo靶X射线管激发Cu的荧光X射线辐射，所需施加的最低管电压是多少？激发出的荧光辐射的波长是多少？答：欲使Cu样品产生荧光X射线辐射，V =1240/λCu=1240/0.15418=8042，V =1240/λCu=1240/0.1392218=8907激发出荧光辐射的波长是0.15418nm8．X射线的本质是什么？10．实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe为主要成分的样品，试选择合适的X射线管和合适的滤波片。
11．计算0.071nm(MoKα)和0.154nm(CuKα)的X射线振动频率和能量。
12．为使CuKα的强度衰减1/2，需要多厚的Ni滤波片？（Ni的密度为8.90）。
15．X射线实验室用防护铅屏，若其厚度为1mm，试计算其对CuKα、MoKα辐射的透射因子（I透射/I入射）各为多少？习 题 二 1．名词解释：晶面指数与晶向指数、晶带、干涉面、X 射线散射、衍射与反射3．下面是某立方晶系物质的几个晶面，试将它们的面间距从大到小按次序重新排列：（12-3），（100），（200），（-311），（121），（111），（-210），（220），（130），（030），（2-21），（110）。
(完整版)XRD复习题
第一章X射线的物理学基础1.X射线的本质是什么？并请叙述其特征。
答：X射线的本质是电磁波，与可见光完全相同；其波长介于紫外线与γ射线之间，约为0.01—10nm的范围。
X射线的特征：波长短、光子能量大。
在通常实验条件下，很难观察到X射线的反射；对于所有的介质，X射线的折射率n都很接近于1。
2.X衍射实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？答：滤波片的选择: (1)它的吸收限位于辐射源的Kα和K β之间，且尽量靠近K α。
强烈吸收Kβ，K吸收很小；(2)滤波片的厚度以将Kα强度降低一半最佳。
Z靶<40时Z滤片=Z靶-1；Z靶>40时Z 滤片=Z靶-2；阳极靶的选择:（1）阳极靶K波长稍大于试样的K吸收限；（2）试样对X射线的吸收最小。
Z靶≤Z试样+1。
（1）X衍射仪常采用Cu靶，Cu的特征X射线及其波长为，需要用滤波片或单色器去除，用软件去除。
（多选题）aＫα１，1.5406埃；b Ｋα２，1.5444埃； c Ｋβ，1.392埃答案：a, c, b（2）X衍射选用Cu靶，相配的滤波片为(单选题)a Cub Fec Nid Al答案：c由X射线管发射出来的X射线可以分为两种类型：、。
X衍射物相分析利用的是在晶体中的衍射。
a连续X射线b特征X射线答案：a b b 或b a b（3）判断对错。
用X衍射仪测一个以Fe为主要成分的样品，合适的X射线管和合适的滤波片是Cu靶和Ni滤波片。
（错）第二章X射线的晶体学基础一、晶体的定义是什么？请叙述其晶体的特点。
答：晶体的定义：内部质点在三维空间有规则排列的物体。
晶体的最明显特征是内部质点在三维空间作有规律的重复。
晶体的特点是：a 、均一性：指在宏观观察中，晶体表现为各部分性状相同的物体b 、各向异性：晶体在不同方向上具有不同的物理性质c 、自限性：晶体物质在适宜的外界条件下能自发的生长出晶面、晶棱等几何元素所组成凸多面体外形d 、固定熔点：晶体具有固定的熔点e、对称性：晶体的理想外形、宏观性质以及微观结构都具有一定的对称性g、最小内能二、晶体有四大空间格子类型、七大晶系，请具体说出其名称及其特征。
XRD_往年题型
一定要记得x晶体是fcc还是bcc记住点阵的消光条件啊极图一定要搞明白，要不让神仙还是救不了你老题：1 用爱德华图解解释德拜法成像原理2 用倒易点阵概念证明立方晶系面间距 d = a---------------------(h^2+k^2+L^2)^0.53 简述双面法测晶体滑移面指数的原理和过程4 AL2O3 为标准物用内测法分析其于CaCO3 BaSO4 按照20 ：80混合时候衍射线强度比 I(CaCO3):I(BaSO4):I(Al2O3)=4:5.2:1求 CaCO3 BaSO4含量已知 CaCO3 BaSO4 参比强度为 2.00 2.605 2 seita 在 40 -- 130度之间是 Fe Cu混合粉末的衍射线条数（Fe Cu固溶度极小）x光波长=1.973A Cu a=3.62A Fe a=3.526 何为织构？用正极图反极图三维取向图分布函数描述织构的含义。
立方 <001><011>具有各占50%的丝织构，画出{110}正极图。
7 外推法消除误差的原理8 简述 X光测应力的特点，测宏观应力的原理宏观应力微观应力引起的衍射线形的变化是什么？9 Al-Ni 合金退火前后的d值---- ---- 2.074 1.799 ---- ---- 1.265 1.078 1.022 0.8933.6 2.547 2.074 1.799 1.603 1.461 1.265 1.078 1.022 0.893分析退火前后晶体结构以及点阵参数新题1.内标法进行定量物相分析2.用Cu-Kα（已知λ）射线对Au（已知a）进行衍射分析，已知试样面积和衍射仪半径，求可以测定衍射线相对强度的发散狭缝的最大角宽度。
3测宏观应力的原理、特点和区分宏微观应力。
最新题1双面法测滑移面指数2用倒易点阵的知识证明对于立方晶系的晶面距为d2=a2/(h2+k2+l2)3 Ni和Al的合金进行退火前后晶体结构的变化和点阵参数的变化，并解释相变过程4注意在讨论劳埃斑的时候一定不要忘了还要讨论具体晶体结构的消光条件5简单丝织构的正反极图（看书了一般都会了吧）6衍射仪主要根据哪几个方面获得衍射信息，然后在各举一个实例7给出X光波长和衍射角范围叫你求有几条衍射线的8在用衍射仪法精确测量点阵参数的时候，用外推法减小误差的原理9劳埃斑点的标定（注意是透射还是背射啊！！）10内标法定量分析物相构成11 110+111双丝织构的110正极图，外形坐标呢？其他织构的测定：首先我们看一下正极图是怎么来的：正极图就是试样中任一特定晶面族法线在该坐标中的分布。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
小木虫XRD问题集锦(第一期)2006 年 10 月 1 日小木虫荣誉出品目录前言 ……………………………………………………………………………………… 问题-:XRD 数据分析讨论 …………………………………………………………… 问题二:双相合金晶胞参数的测定 …………………………………………………… 问题三:很少的粉末样品怎么做粉末XRD …………………………………………… 问题五:XRD拆峰问题如何解决 ……………………………………………………… 问题六:关于XRD知识的问题 ………………………………………………………… 问题八:纳米复合物怎么测XRD ……………………………………………………… 问题九:怎样在origin中处理XRD图………………………………………………… 1 2 8 9 12 13 16 16问题四:不同掺杂金属量的TiO2 看晶形的变化与是否将金属离子掺进去怎么做 … 11问题七:XRD样品相组成分析…………………………………………………………… 13问题十:XRD峰强度问题 ………………………………………………………………… 17 问题十一:样品量少能做XRD粉末衍射吗……………………………………………… 17 问题十二:4 种xrd分析软件功能优劣评比…………………………………………… 问题十四:使用XRD衍射是否可以得到某粉末中的金属含量………………………… 问题十五:如何扣除粉末XRD仪器固有半高宽………………………………………… 问题十六:用XRD测织构,样品如何制备 …………………………………………… 问题十七: 小角度XRD与介孔有序的关系 ……………………………………………… 问题十八:XRD分析时候主要看哪几个指标…………………………………………… 18 20 21 21 22 22 问题十三:用origin做好看的XRD图…………………………………………………… 19问题十九:EDS与XRD的区别 …………………………………………………………… 23 问题二十:xrd的文本导入excle中的问题 …………………………………………… 231小木虫荣誉出品前言通过在小木虫中检索关键词XRD,发现大多数提问及回答都很经典,而 且大多数问题都是我们常见的,为了对小木虫这些珍贵的资源做一保护, 也为了大家查询的方便,特此把大家的提问和回答进行了整理,做此电子 书发表,以后会继续整理此类资源,希望大家满意,多多支持! 由于本人水平有限,如有不足之处敬请各位虫友多多批评指正! 谢谢!特此感谢所有在小木虫中发表XRD贴子及回贴的虫友! 大家辛苦了!编者:rabbit7708 2006 年 10 月 1 日2小木虫荣誉出品问题-:XRD 数据分析讨论 Huangck: XRD 分析是材料分析最基本和最常见的分析技术,我们可以通过它的数据分析出晶 相,晶向,成分,晶粒大小等数据,一般情况,我们借助 PCPDFWIN 和 Jade 辅助分析, 但是一般人分析只是较为浮浅,对软件一些功能的操作还为挖掘出来,大家在分析时对 于数据分析的小技巧,心得讲来分享,分享,让我们也能较好的分析数据. 先找到了两个基本的教程,里面有pdfwin和jade的使用基本的使用方法.台湾国立 成功的PCPDF的pdfwin的教程, (没法上传附件,只好给出连接) /bbs/read.php?tid-40188.html 和国内的Jade数据操作说明 /bbs/viewthread.php?tid=160900 但两个讲的都较肤浅,对于如何分析晶相,晶胞参数,晶粒大小,扣背底等都没有 说明,希望高手能给讲解一下 回答如下: waie_403: 如果用步长为 0.02 度的 x 射线仪扫描得到的 XRD 直接算出来的晶胞参数是不足信 的.好多文章还在煞有其事的讨论晶胞参数的变化,我觉得这一点 是不可取的. Hhxflee: 我现在分析主要用 search-match 结合 pcpdfwin, 当然功能相对简单, 只能扣背底, 剥离 K-aipha2 线. Wangzb: 我认为在保证你的 XRD 数据准确的前提下,应该充分利用 XRD 给我们的信息,包括 角度,强度及峰型方面的信息.大多人只是简单的利用角度方面的信息进行相分析,求 晶胞参数,却忽略了强度方面的丰富信息,而这与你的晶胞内部的原子位置有直接的联 系. Loseman: 其实 jade 用来算晶粒大小并不是非常准确,jade 最强的功能,我感觉是指标化, 然后可以结合 gsas 之类软件进行晶胞参数修正.另外,运用 jade 跟 DB98 结合,计算 混合物的百分含量,也是一个很值得推广的方法.3小木虫荣誉出品Xxxia: 从 XRD 数据的衍射角度分布上我们可以获取晶胞的形状及其晶格参数,而从衍射强 度上我们又可以得到晶胞内的详细信息,比如原子的种类及空间位置,同时也能得到材 料择优取向等信息. Zirconia: 推荐 yuanse 就 jade 使用所做的资料 /showthread.php?t=3183&pp=0 摘取如下(无图片) : NO1 Jade5.0 的安装和设置: Jade5.0 都是自动安装的, 这不成问题. 要把 PDF 卡片引入, 先将 ICDD 的光盘插入, 然 后 pdf/setup/select all/, 其 它 按 提 示 进 行 . 可 以 对 优 选 项 进 行 设 置 : EDIT/preference/,里面包括了对显示窗口的设置,仪器参数的设置,打印输出的设置 等,一般来说按默认就行,我本人则喜欢将 MISC 栏里的"Materials Data, Inc."改 为我自己的大名,哈哈. No2 数据的输入 : Jade 软件可以直接读取 Rigaku,Bruker,Philips,Scintag 等很多衍射仪的原始 数据. 打开 File\patterns,将出现如附件中所示画面, (I) 先 找到你文件位置, (III) 从 的下拉框中选择你的数据格式,按(II)选择.很多仪器输出文件的格式都是*.raw,实 际上都是不一样的,但格式选错了也没关系,软件会给你自动转到合适的格式中去的. 高级一点的:有一些数据格式在(III)的下拉框中没有,比如最常见的 txt,xy 等, 此时你可以自己动手设置,在以上的数据输入面板中,点击工具栏上的"import",进入 格式设置画面,如附件所示,a 区为注释区,b 区为数据格式区,对于最简单的一列角 度,一列强度的数据格式,a 区不用填写,b 区在"angle column"前打上勾,数据从 第 1 行开始读,每行 1 列数据,强度数据从第 8 行开始(角度不算) ,角度从 1 至 6 列, 所得数据格式即为附件中所示的数据格式.你也可以按照自己的数据格式进行自由改 动,如果 a 区中表明第 1 行有说明文字,则数据从第 2 行读入,相应在 b 区就将 data starts 改成 2.做完上面的工作后,将文件后缀改为你的数据后缀(箭头所指) ,再将 该格式保存下来便可大功告成了. No 3 基本功能使用:平滑,扣背底 一张 XRD 图谱出来,往往因为有空气散射,漫散射,荧光以及样品结晶差等等原因 而造成图谱上存在许多"毛刺"和较高的背底,虽然提高 X 光强度能成倍提高信噪比, 然而有时受仪器和样品所限,这两项功能需要用到.但根据我个人的经验,要尽量少使 用平滑和扣背底, 因为这两项操作带来的可能后果就是将一些微弱的有用信息一概抹掉4小木虫荣誉出品了,特别注意的是,如果将数据用来做 Rietveld 精修,更不要进行这两项操作.当然, 如果是将图谱打印出来给别人看,适当进行平滑和扣背底也是个不错的选择. 1 平滑 打开 Filters/smooth pattern 或在快捷工具栏中右键点击也可.随后将出现一个悬浮 框,最上面的一栏中方块可以直接用鼠标拖动,大家试试看图谱会有什么变化,拖到什 么位置,根据情况而定,我的经验是将方块拖到尖峰的底部出现倒生的毛刺之前.再下 面有"parabolic filter"和"quartic filter"的选择,选择后一个的效果稍好.再下 面还有选择框,我一般都不管它.作完以上操作后,再用鼠标左键点击快捷工具栏中的 平滑图标即可. 2 扣背底 打开 analyze/fit background 或在快捷工具栏中右键点击也可.随后也出现一个 如附件中所示的悬浮框, (I)处所示代表了背底拟合的级数,点击越靠前,该级数越高, 也可在右边选择是一次拟合,抑或二次和三次拟合,试情况而定,背底偏离线性越远, 则拟合的级数要求越高. 背底曲线用黄线表示,红点代表了背底在局部的最高点,左键点击图谱上的某一处 便可在此处添加红点,右键点击红点可以消除该点.背底是否拟合好要靠肉眼观察. II 所指为背底以下和以上的面积,可以用来粗略估计样品的结晶度. 以上完成后点击"removal"即可. No 4 寻峰和峰型拟合 1 寻峰 在寻峰之前最好用标样校正过 2theta 值,这些都是仪器操作人员的事情,我就不 说了. 打开 analyze/find peaks,或右键单击快捷工具栏中的图标.出现一个悬浮框,在 "search"里面可以对寻峰的判据进行设置,大家可以改动不同的限制条件,然后按 "apply"看看有什么变化.在"Label"里面主要是可以选定标注的内容,如 d 值,2 theta 值,半峰宽,强度等,这些大家多试几次就 OK 了.如果要将寻峰结果列出,按下 "report"即可. 也可以自己手动直接在图谱上标峰, 大家可以看到有一个悬浮式快捷编辑框"edit toolbar", 左键点击第 3 个图标. 然后就可以直接在峰顶标注, 如果同时按住"Ctrl" 键,则可以在图谱的任何位置上进行标注.如果要去掉某个峰的标注,则用鼠标将竖线 拖到与峰的标注线重叠,出现红颜色之后点击右键即可.如果要删除所有的峰的标注, 在窗口中点击右键,选定"Erase all"即可. 2 峰型拟合 如果要得到精确的峰型,峰位信息,一般都要经过峰型拟合,JADE 提供了单峰拟合5小木虫荣誉出品的功能.在峰型拟合前不要进行平滑和扣背底,也不主张预先自动寻峰. 就像前面一位朋友说的,对于重叠峰的分离比较有难度,也可能会导致软件"罢 工"(我也遇到过这种情况) ,但对于多数人来说,峰型拟合就等同于分峰,因此面对 重叠峰是不可避免的,我的建议是高角度的峰舍弃,并且分峰要一小段接一小段地进行 (背底严重的除外) . 先在图谱上选好角度范围,在编辑栏中左键点击第 7 个图标,然后再右键点击,将 出现一个峰型拟合的工作框(也可通过 analyze/fit peak profile) ,然后选定你的峰 (注意排除 Kalfa2)或者按下"initialize",再按下"refine"即可.有时不管怎样 似 乎 都 拟 合 不 好 , 此 时 可 在 工 作 框 中 调 整 峰 型 函 数 , 以 及 "Exponent" 和 "lorentzian"的值,也可以调整背底的类型等,另外,可以重新确定峰位,去掉一个 计算峰也可以用鼠标的右键.拟合好坏的标准除了看 R 因子外,主要是观察差值线. 按下"report"直接查看结果,里面也有一些设置,如要修正的参数,晶粒大小计算的 根据等,大家在实践中多试试,看看结果会有什么不同.在结果的列表中,选定复选框 可以将该峰定义为背底, 一行被选定 (在图谱上该峰的标注线显示红色) 按下"Erase" , 删除,其它栏目大家都比较熟悉,最后一项为晶粒大小的计算结果,要注意的是,这种 晶粒大小的计算是建立在仪器的实际宽化曲线已存入的基础上的, 否则就按默认的仪器 曲线(软件自带) ,但不同仪器有不同的宽化曲线,因此最好自己建立,这也是仪器操 作人员的事情,我就不多讲了,如果有朋友感兴趣,可以和我直接交流.再后面的事就 是按下"export"进行保存了. 大家都很关注在 Jade 中如何进行晶胞修正的问题,实际上,晶胞修正和指标化是 结合在一起的,因此,如果大家不是对已知晶系很有把握的话,最好在修正之前都预先 进行指标化以判断或确证晶系. 在指标化之前,大家有几项工作需预先进行,一是 2theta 校正(用标样即可) ;二 是相分析,如果是二相甚至多项共存,则归属峰的时候要非常仔细.三是峰型拟合确定 峰位(如果有重叠峰则更加必要) ;我个人认为,指标化最关键的一步是确定峰位,选 取的峰最好是低角度的独立峰,而且选取的峰的数量并非多多益善,只要满足了不同的 晶系要求即可,遇到重叠峰的时候一定要小心! 做好上述工作之后,下一步就是 options/pattern indexing,出现一个面板,在你 的晶系前划勾,然后选择指标化方式,建议是从快(rapid indexing)到慢(exhaustive indexing) ,再下面有 2 theat error 一栏,如实填上即可,晶胞参数最大值最好填的 大一点,其它的按默认,另外,对于一些做有机大分子晶体的朋友来说,晶胞密度可能 比较重要,那就要把 Z 值和化学式输入,根据晶胞体积软件会自动给出的. 完成上述步骤之后,就"go"吧,软件会按照一定的排列方式将很多种可能的结果 一一列出来,fm 值越小,结果的可信度就越高,有时会发现你认为正肯定确的空间群没6小木虫荣誉出品有出现在结果中,不要紧,在"space group"旁边有一个'?',点击它一些,看看有没有 找到,晶体学上,很多空间群都统属于同一点群,因此在指标化时,它们都是等同的. 当你选取其中的一个指标化结果时, 相应的就会在图谱上出现一系列黄色的指标化的衍 射峰位,你可以一一与实际的衍射位对应,看看结果是否准确.有时一个结果也没有得 到,有可能的原因是选取得峰不对,2theta 偏差不对,选择的晶系不对,也有可能最大 晶胞值太小,或者 fm 截取值太低的缘故.那就重新再来吧.接下来的事情就比较容易 了,先选定正确的结果(蓝) ,点击"Refine",出现"Cell Refinement"的控制面板, 再点击 Refine,你就可以得到精确的晶胞参数,esd 表示的是标准偏差. 如果你已知了空间群,并且选峰正确(手动) ,那么你也可以直接"options"/"Cell Refinement"/Refine,打开'reflections',看看偏差多大,它可以作为指标化和晶 胞修正的结果输出. NO.5 物相鉴定 我以前用过专门的 PDF 软件做物相鉴定,但是感觉比较费神,最重要的是不能导入 实验的衍射谱,除三强线外的其它谱线要靠人工去和标准谱一一对应,给准确判定带来 不少困难.JADE 在这方面还是蛮出色的,只需轻点鼠标,很快就能出结果,并且非常直 观, 易于判别, 这主要得益于它具有强大的图谱处理综合功能以及先进的图谱鉴定方法, 在此不作多讲,主要说说如何具体运用. 在进行物相鉴定之前,最好尽量多地知道样品的元素信息,有很多朋友在作定性分 析之前,总是不愿意告知元素组成,甚至有人要用 XRD 去判别元素,这些都是对 XRD 物 相鉴定的一种曲解.XRD 的作用对象只能是"相",而且是"结晶相".同一种结构, 往往它的化学组成形式可以有成百上千种, 而同一个化学组成, 它也可以存在多种结构, 前一个问题的解决主要靠化学分析,后一个问题的解决则非 XRD 莫属(TEM 也能,但不 普遍) . 在进行物相鉴定之前, 预先作背底扣除, 最好不平滑. 右键点击工具栏上的"S/M", 出现一设置面板,"General"里面首先是样品类别的选定,一般而言,我都将类选得 大一些,以防不测.除了物性类别外,其它的还有诸如计算谱,结构被无机晶体结构数 据库收录的图谱等.再下面是一些复选框,如单相鉴定,有否择优取向,是否自动匹配, 以及化学元素限定等等.最后一项是最常用到的,复选"use Chemistry",点击 "Chemistry",出现元素周期表,直接点击你确定的元素,一次为"可能"有,二次 为"肯定"有,建议点击一次变为蓝色即可,然后"OK".除 Chemistry 外,其它的诸 如 Formula,Unit Cell 等等也可以,但都不常用.对于一般的用户来说,完成上述操 作即能进行下一步的工作. 点击设置面板上的"OK",将出现检索结果,一般默认按可信度排列,点击名称, 在图谱上就会出现对应的谱线,在复选框内打勾,就表示选定.到此为止,基本的操作7小木虫荣誉出品就算完成. 幻影无痕: 我觉得去参考一下这本书比较好: 现代物理测试技术. 作者: 梁志德. 出版机构: , , 冶金工业出版社. ISBN :, 7-5024-3186-1.书中对XRD做了专门的介绍! /book_detail.asp?bookid=486 jinbo8125: 清华材料论坛那里的讨论更加深入一些,可以到那边去学 Cntristone: 我测过一种晶体的 xRD 结果 发现 不同的强度 谢 Zirconia: 若是同一个样品 XRD 强度不重复,在仪器正常的情况下,说明可能有择优取向(尤 其片状,针棒状极易发生) ,可加入非晶物质如淀粉予以消弱 这说明了什么呢 请各位指点,谢问题二:双相合金晶胞参数的测定 Buaahao: 我做了一个双相合金的 xrd.这个合金的晶胞参数怎么算呢?双相合金中,一种为 hcp, 一种为 bcc.我想得到 hcp 相的参数,是不是只要把 hcp 相的衍射峰标定后,计算就可以了? 另外大家处理相的晶胞参数的时候,都使用的是 average lattice constants,还是根据 某个晶面算出的参数?哪个更可靠呢?晶面的选择有要求么? 谢谢? 回答如下: Whulsz: 我以前试过,同一个样品如果 x 光测试的位置不同,那么 XRD 的数据还是有很大的 差别. Baosan 俺是个新手,大家多多讨论呀.以前测过 xrd 的数据,同楼上的说得差不多,不同8小木虫荣誉出品区域,不同机器测的峰强都不一样,所以就没有考虑用峰强来做深入的分析. lzg321: jade 好像在标定未知晶体结构的花样时,好像会有不少的难度! xingzhu10755: 深有感触,感觉现在用的软件分析进行科学探讨误差太大了 Punkx: 一般用 xrd 测量晶粒尺寸小于 100 纳米,若是大于 100nm 的晶粒尺寸怎么计算,根 据 XRD 数据. Liangzaili: highscore 不是更好吗? Wustliang: 我是做粉末衍射样品的, 在这里只就粉末衍射说一点看法. pcpdfwin 的功能比较单 一,如果想做的精细就要求从一开始样品的制备与众不同. 首先粉末衍射要求样品的粒度要在 330-450 目,当然理想状态是 1um,但在实际上 很难做到,即使研磨到 1um 了,晶格也破坏的差不多了. 其次调整衍射仪,一般放个多晶 Si 片就可以了,检查仪器的状态.当然在实际测 量的时候最好是在样品里加入内标相,这样很多影响因素就不用一一校正了. 扫描的步径不是越小越好,一般 0.01-0.005 也就可以了.因为做结构精修时,要 求步径为最小 FWHM 的 1/10 也就足够了.最强计数要在 10000-20000 之间. 问题三:很少的粉末样品怎么做粉末XRD Iceray 粉末样品,苦于量奇少,怎么做粉末 XRD?我试过在玻片上沉积一层样品的方法. 但出来的是玻璃的散射, 根本没峰. 在这个帖"求助: XRD 测织构, 用 样品如何制备呢? 作者: gqken 发布日期: 2006-6-23"上看过 有说用样品分散到乙醇中,滴到上面做 的, 但是这种方法能用在粉末衍射上吗?我这里的 XRD 是 BRUCKER 的, 性能一般. 请问, 有什么更好的办法吗?或者有人试过分散到乙醇中的方法吗,效果怎么样 回答如下:9小木虫荣誉出品cad_0: 看有多少啦,一般只要够堆积超过槽的上平面就可以了.不用全部扑满的,只要能 在中间堆积个小山,那玻片一压就可作了. Jiazang: 如果条件允许,不妨自己做一个样品架,然后把衍射仪的狭缝调小一些,这样可能 能够解决你的问题! Iceray: 少到几乎就没有的地步,我是用气相扩散做的,大概能有零点零几克.对小山的方 法根本不够用.衍射是系里公用的.我不太可能调仪器参数.我主要想问有朋友用过乙 醇分散的方法吗 sima022225: 用过,不过效果我用的时候不是很好,做出来晶相不好(我是做 TiO2 的) . Hqzhang: 能做,我知道现在的单晶衍射仪就可以做.虽然不是单晶,但单晶衍射仪安了附件 的话可以测 xrd.我们系的就可以也用不了多少样品. Iceray: TiO2 的峰本来就有点复杂.你做得是粉末衍射吗.你们的仪器是啥型号的 我做得是 CaCO3.峰很简单的 Jiazang: LZ 能否考虑电子衍射? cad_0: 那就再作一些样品吧,我这里不够,就又做了不少.样品一定要够,要不是后期的 性质就不好作了. wanwei006: 喷在铜网上试试看10小木虫荣誉出品问题四:不同掺杂金属量的TiO2,看晶形的变化与是否将金属离子掺进去,怎么做 哲舟: 我作出了掺金属的TiO2,现在有不同掺杂量的样品,也有在最佳浓度时不同灼绕温度的 样品,我要做XRD,看看晶形的变化与是否将金属离子掺进去了,因为我降解污染物的结 果是500度的与掺铁量为0.05%的最好,用检测来证明,上面两组样品,选哪个 好啊?有什么区别呢?是不是都要做的必要啊? 回答如下: Juloong: Quote: 看看晶形的变化与是否将金属离子掺进去了 这个必须至少选三组样品吧. 1,没有掺杂的;2,最佳掺杂;3,过量掺杂 Quote: 最佳浓度时不同灼绕温度 也至少要选三组吧: 1,低于最佳温度;2,最佳温度;3 高于最佳温度 当然,如果感觉三组不够充分的话,你可以多测几组 Juloong: 做 XRD 需要样品的量很少,一药匙已经不少了 Noontgc: 如果是简单看一下,有没有掺杂进去,把哪个 0.05 的样品做一下 xrd, 看有没有掺 杂物质的峰,如果没有,就可能掺杂进去了,如果有掺杂物质的峰出现,有两种情况: 1 是没有掺杂进去, 2 是掺进去少量. 如果第二种情况出现,这时候可以对第二种情况进行详细的分析.再做几个样品,比 如掺杂量分别为:0.01%,0.025%,0.05%,0.01%等,分别去做 xrd,如果在 0.05%时出现了杂 质峰,也就是掺杂物质的峰,说明掺杂物质在被掺杂物质中的溶解度在 0.05%左右.11小木虫荣誉出品问题五:XRD拆峰问题如何解决 liuds72: 合成的物质存在多个相,它们每个相的模拟衍射的数据都有了,也得到了他们混合 的物相的 XRD 数据和图谱, 如何将混合的物相的 XRD 图谱拆开, 算出这其中各相的含量. 有这样的 XRD 拆峰软件吗? 回答如下: w6y8d0: 用 Fullprof 做全谱计算,就可以其中各相的含量. Ossolicp: origin 软件也可以.以 origin7.0 为例子,将 peak fitting session 插件托到 origin 界面, 就回出现一个分峰的按钮, 点击, 就可以按照提示将多峰分离, 计算比例. 请楼主试试: ) liuds72: 这样是人为分离不了的,因为多相的晶体粉末数据是很各个独立相的峰形的叠加 的,origin 是处理不了了,因为你根本就不知道那个峰要分开的,不知道那位 DX 知道 search match 软件的用法,好象这个软件有这个功能,恳请帮忙! Jiazang: 其实峰的拆分用 XPS 的分析软件也很好用! 不知 LZ 兄弟是否已经解决了这个问题! LZ 兄弟,我很惭愧,用 XPS 的相关软件拆分 XRD 中相互重叠和屏蔽的峰,只是提供 一种很普通的数学工具,可以将每一个峰的峰位,形状通过拟合的方式提炼出来,可以 确定体系中的物相,这个应该是没有什么问题的.但是如果说要确定每一种物相的相对 含量,这个虽然也有人说 XRD 能够大致测试出来,但是结果可信度很差的,而且鄙人也 没有采用这种方法作过.我可以建议 LZ,在确定物相之后,采用元素分析的方式测出每 一种元素的含量(半定量) ,然后由元素含量来推导每个物相的含量(半定量) .惭愧鄙 人见识浅薄,不知我说的有没有用! Avad: 通过 XPS 分峰,可以确定每个物相的成分,准确程度靠分峰操作控制.如果是同一 个元素形成多个物相,要十分准确区分还是有一定难度,因为不同物相的峰位可能差别 才 1 或者零点几度.要很精确地确定成分,建议使用化学方法.12小木虫荣誉出品XRD 是定性的测试,要计算具体含量,也不是十分现实.通过 Fullprof 是相对成熟 的方法,但是不知道你的单一物相峰是否有重合的? 问题六:关于XRD知识的问题 yanghu5220: 我现在想找一个 JADE 上面没有的物质的 XRD 的标准衍射卡,我知道了该物质的晶 格常数和所属的空间群,可以通过什么软件计算出它的粉末衍射卡? 回答如下: wangzy1000: 一. JADE 上面没有的物质,是说物质是新的还是该物质在 JADE 库中的卡片被删 (JADE 中有些卡片由于各种原因会被删掉但卡片号还存在)或找不到?应该是后者吧. 那你可到别的 XRD 软件如 Search Match 以及 PCPDFWin 等中找啊.如是前者那你的晶 格常数和空间群怎么得到的? 二. 标准谱是用来比对验证的,只有你有你所合成的物质的衍射谱才能比对啊, 那如你已有做谱图,直接比对即可. 三. Xiemax: 楼主是我师兄,他在楼上的高人所说的三个数据库查找了,都没有!但是有一篇文献 说到了他的 xRD,和晶格常数, 但是和另外一篇中又完全不一样! 连所给的 XRD 的都不一 样! !我们也不知道那个是准确的!所以工作都不知道怎么开始!例如:ABO3 和 BAO3 的 XRD 是一样的吗?其中一篇和我们找到的 XRD 一样!(A,B 和 O 都表示元素) wangzy1000: 怎么肯定文献和你的是一样的呢?而且怎么查的?ABO3 和 BAO3 这只是表达的关 系,不和有机物一样与其结构没任何关系,而且同样的分子式可能有几十种甚至几百种 XRD 谱图存在,而且有些谱图差别可能很小.晶格常数等参数须是以自己的 XRD 谱图计 算出来的,而不能参照别人的,结果必须是建立在实验的基础上的.如有扫 XRD 谱,应 先从解谱开始.实在解不出,可以用别的表征手段如 UV-Vis,FTIR,XPS,EDS 等等. 问题七:XRD样品相组成分析 水亦芳: 我做了几个样品,拿去用XRD检测了,出来的数据峰都很明显,但实验员帮我对了标准 如你精于计算的话也可以用晶格常数及群对称性来计算,但那有意义吗?13。