第3章 晶体管的频率特性
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本章讨论在高频信号作用下晶体管的哪些特性参 数发生什么样的变化以及这些这些变化与工作频率的 关系等,以便能更好地认识高频下晶体管特性的变化 规律,更重要的是了解应设计制造什么样的晶体管以 满足高频工作条件的要求。为此,首先介绍晶体管高 频工作下的特殊参数,然后再讨论这些参数与结构、 工作条件的关系等。
可见信号频率越高结电容分量iCTe 越大,交流发射效率越小。 另外由于发射结势垒电容充放电需要时间,因此电流传输 过程产生延迟,即信号相位发生变化。
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二,基区输运过程 ine inc (0) iVR iCDe (3 13) 其中inc (0)表示输运到基区集电结边界的电子电流;iVR 表示基区复合电流; iCDe 表示扩散电容分流电流。 定义交流基区输运系数为
其中inc ( xmC )表示到达集电区边界的电子电流
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四,集电区传输过程 交变电流在集电区体电阻上产生一个交变电压降,影响集电结空间电 荷区宽度,即对该势垒电容充放电,形成分流电流iCTc。 定义集电区衰减因子 c来描述这一过程, ic inc ( xmC ) iCTc iCTc c 1inc ( xmC ) inc ( xmC ) inc ( xmC ) (3 17)
因此集电区衰减因子为 iCTc 1 ic 1 c (1 ) (3 65) ic ( xmC ) ic 1 j c 其中 c rC CTc 成为集电极延迟时间,代表通过集电 区串联电阻rC 对势垒电容的充放电时间常数。
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五,总之,共基极电流增益为 * d c 将前述各项代入并化简,忽略二次幂以上项得到
0 2 n n nB 1 n 由基区中的少子连续性方程 2 2 (3 24) x LnB DnB t
得到直流分量和交流分量各自满足的方程
0 2 n0 n0 nB 2 0(3 26) x 2 LnB
2 n1 1 j nB n1 0 x 2 L2 nB (3 29)
1 j f f
(3 - 6)
根据上式可知,f 或f 处的大小为
0
2
或
0
2
,因此该频率也叫 3dB频率。
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二,特征频率 共发射极运用中,定义当共发射极电流增益 下降为1 0dB)时的频率为特征频率fT。因为 ( 共射接法中近似有如下关系 f | | f 0 常数(3 7) 因此有 f | | fT 1 fT 故fT 也称为增益 带宽积。 从图3 1和式(3 6)可知,共射接法中当频率 高于f 后,随频率升高以 20dB / 10倍频程 或者说 6dB / 倍频程下降。fT 不仅可以反映 BJT 使用频率上的限制,而且测量方便,因 得到fT。
肖克莱边界条件
0 n(0, t ) nB exp[ q (VE Ve e jt ) / kt] 0 n(WB , t ) nB exp[ q (VC Vc e jt ) / kt]
(3 30) (3 31) kT ,则对上两式 q
当交变信号电压幅值满足 | Ve | 、Vc | |
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3.1 基本概念
3.1.1 BJT 的交流小信号电流增益 1,共基极电流增益(共基极交流短路电流增益) ic dI C h fb |VBC 常数 (3 1) ie dI E 若考虑信号的相位关系,可将其表示为复数形式 ~ ic ~ (3 2) ie 通常说的大小指的是它的模 电流增益也可以用分贝表示为
(3 48)。并且这个过程中还产生了位移电流。
最终得到的势垒区输运系数 jc 1 e j t d d |VBC 常数 (3 62) jnc (0) j t d t d xmC 1 其指数项展开后近似表达式为 d ,其中 d 。 1 j d 2 2vsl
右端指数项按泰勒级数展开并略去高次项有
直流分量 交流分量
qVe jt n(0, t ) n e (1 e ) nE ne e jt (3 33) kT qV 0 n(WB , t ) nB e qVC / kT (1 c e jt ) nC nc e jt (3 34) kT qnEVe qnCVc 0 qVE / kT 0 qVC / kT 其中nE nB e ,ne ,nC nB e ,nc kT kT 可见少子密度直流分量和直流电压分量成指数关系;交
其中inc ( xmC )表示到达集电区边界的电子电流, ic为最终集电极流出的电流
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因此,考虑上述四点后总的交流电流增益可表示为: ic * d c ie (3 18)
低频下,上面四个交流分量很小,图3 2将退化为 和直流电流传输图2 (b)一致。 4
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3.2.2 共基极电流增益和α 截止频率
*
inc (0) i i 1 VR CDe ine ine ine
(3 14)
可见信号频率越高扩散电容电流分量iCDe 越大,到达集电结的有用电子电 流inc (0)越少,交流基区输运系数越小。同样该扩散电容的充放电会使电 流传输过程产生延迟,即信号相位发生变化。
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三,集电结势垒区渡越过程 当集电结势垒区渡越时间t(直流下)与信号周期可以比拟时,信号幅 d 度会降低、相位也会产生滞后。 集电结势垒区输运系数:表示流出与流入集电结势垒区的电子电流之比 inc ( xmC ) d inc (0) (3 15)
所以
或者有
其中 e reCTe 表示势垒电容充放电时间常数,其产生的 另外,发射结正偏情况下CTe 2.5 ~ 4)CTe (0)。 ( 注意:以上均基于ine、i pe与频率无关的假设。或者在工 WB2 作频率满足 1时才成立,并且这对于一般BJT 的 3DnB 使用频率都是满足的(该频率通常都在GHz 数量级)。
(dB) 20 lg
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2,共发射极电流增益(共发射极交流短路电流增益) ic dI C h fe |VCE 常数 (3 3) ib dI B 若考虑信号的相位关系,可将其表示为复数形式 ~ ic ~ (3 2) ib 通常说的大小指的是它的模 电流增益也可以用分贝表示为
哈尔滨工业大学(威海)微电子中心
罗敏
cn.minLuo@gmail.com TEL:5687574-804
微电子器件原理
第3章 晶体管的频率特性
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第3章 晶体管的频率特性
在实际运用中,晶体管大多数都是在直流偏压下 放大交流信号。随着工作频率的增加,晶体管内部各 个部位的电容效应将起着越来越重要的作用,因而致 使晶体管的特性发生明显的变化。
d 也称为集电结势垒区延迟时间(或称渡越时间),它等于t d的
一半是因为位移电流的存在,当载流子还在穿越势垒区的过程中 就已经在势垒区输出端感应除了愈之等值得传导电流。
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四,集电区衰减因子和集电区延迟时间 因为忽略rB时rC、CTc 两端交流电压相等,所以有 iCTc rC jrC CTc ic 1 / jCTc (3 64)
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为利用(3 7)式可以很方便地在低频(超过f )
三,最高振荡频率 1,因为即便BJT 在电流增益等于1时,仍旧具有电压放大能力,所以功率 增益仍大于1。 2,定义晶体管的功率增益下降为1 (输入功率等于输出功率)时的频率为 最高振荡频率,用f m 表示。该频率也是晶体管工作的极限使用频率, 一旦超过这个频率,晶体管就失去了任何放大作用。 3,当f fT 后,功率增益G p与工作频率f满足如下关系 fG1/ 2 f m p (3 9) f m也称为功率增益 带宽积 4,另外,高频时信号相位也会产生滞后,大小可由式(3 6)得到。
(3 27)
解出n1 ( x) Ae
x / L* nB
Be
x / L* nB
其中L* 定义为基区少子交流扩散长度 nB
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根据肖克莱边界条件,基区边界少子浓度分别为
q pn ( xn ) p p 0 exp[ (VBJ VA )] KT qV pn 0 exp A (X1 - 72) KT q n p ( x p ) nn 0 exp[ (VBJ VA )] KT qV n p 0 exp A KT
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3.2 电流增益的频率变化关系-截止频率和特征频率
3.2.1 交流小信号电流的传输过程
发射结势垒电容充放电效应、基区电荷存储效应或发射结扩散电容充放电效应、集 电结势垒区渡越过程、集电结势垒电容充放电效应
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一,发射过程 ie ine i pe iCTe 定义发射效率为 i pe iCTe ine 1 ie ie ie (3 12) (3 11)
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相位延迟是i arctan( e ),它也叫作发射极延迟时间。
二,基区输运系数和基区渡越时间 发射极总电压:VBE VE ve (t ) VE Ve e jt (3 22) 集电极总电压:VBC VC vc (t ) VC Vc e jt (3 23) 为推导简单起见认为基区宽度WB是常数。
ຫໍສະໝຸດ Baidu
(dB) 20 lg
4
3.1.2 描述BJT频率特性的参数
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一,截止频率 一般定义当电流增益下降到其低频值 的1 / 2倍时的频率为BJT 的截止频率。 共基极截止频率用f 表示,共射极截 止频率用f 表示。图3 1表示的关系可 表示为
0
1 j f f
或
0
0 qVE / kT B
流分量和交流小信号电压成正比关系。从而也得到了基 区少子交流分量边界条件 x 0, n1 (0) ne qnEVe qn V ; x WB , n1 (WB ) nc C c (3 35) 17 kT kT
将少子交流分量边界条件带入n1 ( x) Ae x / LnB Be x / LnB (3 29)
0 0 0 (3 67) 1 j ec 1 j / 1 jf / f
其中 ec e b d c 发射极到集电极总延迟时间
* 可见和直流基区输运系数 0 sec h(
0* * (3 39),其中 b 称为基区渡越时间,它也是注入电流对基区扩散 1 j b
电容充放电而需要的延迟时间。 注意:上面表达式与实际的 *表达式还是有些误差的,需要修正。
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三,集电结势垒区输运系数和集电结势垒区延迟时间 反偏集电结势垒区电场很强,载流子以极限速度vsl穿过该区域, xmC 所需时间为t d vsl
一,发射效率和发射极延迟时间常数 ie ine i pe iCTe (3 11) ine /(ine i pe ) ine ine 定义发射效率为 i ie ine i pe iCTe 1 CTe ine i pe 因为 iCTe r re CTe ine i pe ine i pe 1 / jCTe r0 i , 其中r0 ne 1 jreCTe ine i pe r0 (3 20) 1 j e
* *
解出n1 ( x)的表达式并使其对x微分从而得到基区电子电流分布 的交流分量in。 最终得到集电极交流短路(VC 0)时的交流基区输运系数
*
in (WB ) W |VC 0 sec h( B 1 j nB )(3 38) in (0) LnB WB )具有类似形式。它们之间的关系是 LnB