缺陷分类

3.球和芯片上面的缺陷 球和芯片上面的缺陷:ball size too big or too small（球太大或太小） off center bond（偏离压点中心） 球和芯片上面的缺陷 Stitch bond size too big or too small（焊点尺寸太大或太小）Lift ball（浮起第一焊点） Ball thickness too big or too small(球厚度太大或太小) wrong bond （错误键压） Golf ball bond（高尔夫球状金线键压）Bond too scribe（键压到轮廓线）no bond (无键合 Pad cratering(弹坑) Smash bond (粉碎型键合) Wire Debris（碎线）金球外溢 Partially lifted stitch（部分浮起焊点）Lift stitch（浮起焊点） CAP 印（劈刀印） Tail length（线尾长度）Wire avulsion quality（铝线撕扯质量）焊点错位 Lifted metal (peeling)(金属层提拉) Wedge size（焊点尺寸） 4.芯片上的缺陷 Ink die（墨点芯片 edge die（边缘芯片） Die location/Rotation（芯片位置/旋转） 芯片上的缺陷： 芯片上的缺陷 crack（开裂） epoxy/solder on die （芯片上有银浆）scratch（划伤）Contam on die(芯片沾污) Die tilt（芯片倾斜） stack die（芯片重叠） missing die （漏芯片）die displacement(芯片错位) NG die（不良芯片） collet mark on die 吸嘴压伤 Overturned die(芯片翻转) Foreigh Material on Die(芯片上有异物) wrong die orientation(芯片方向) misalign saw（切割偏位）void die(压点缺损) 铝层卷起 小耳朵 chip（缺角） 5.芯片与 芯片与PAD交接处的缺陷 交接处的缺陷：epoxy fillet height（侧面银浆高度）epoxy/solder void(环氧树脂气孔) 芯片与 交接处的缺陷 Epoxy/solder coverage(银浆覆盖面积) 白板 die chip 6.第二焊点与 第二焊点与lead的缺陷 的缺陷：NSOL edge bond（键压到边缘） 虚焊 第二焊点与 的缺陷 第二焊点隐裂 第二焊点卷起 鱼尾不良 Overlap bond on lead（管脚重叠键合) 7.框架上的缺陷 框架上的缺陷：epoxy on l/f(在L/F上有银浆) Lead frame Discoloration（引线框架氧化） 框架上的缺陷 Bent Tie Bar（Tie Bar 弯折））Lead Short（引脚短路）Tilt or twist:（翘曲或者扭曲） PAD上翘/下陷 Passivation defects((钝化层缺陷 ) 框架变形镀银层不全 Discolored DAP back:（DAP 背面变色）Bent Frame（引线框架弯折受损） 1.线弧上的缺陷 线弧上的缺陷：Damaged wire (金丝损伤) sagging wire （塌丝） Tight wire （绷线） cross wire（线交叉） 线弧上的缺陷 Gap<2mil（线隙<2mil） loop too high (线弧高) Re-bonding （重复连接错误） missing wire(漏线) broking wire （引线断裂）NSOP（压点上未焊牢） wire debris(碎线) wire short （引线短路） 2.线和球交接处的缺陷 线和球交接处的缺陷：broking wire（引线断裂） 线和球交接处的缺陷 颈部受损 bond tail （键压点拖尾）
பைடு நூலகம்
3.球和芯片上面的缺陷 球和芯片上面的缺陷:ball size too big or too small（球太大或太小） off center bond（偏离压点中心） 球和芯片上面的缺陷 Stitch bond size too big or too small（焊点尺寸太大或太小）Lift ball（浮起第一焊点） Ball thickness too big or too small(球厚度太大或太小) wrong bond （错误键压） Golf ball bond（高尔夫球状金线键压）Bond too scribe（键压到轮廓线）no bond (无键合 Pad cratering(弹坑) Smash bond (粉碎型键合) Wire Debris（碎线）金球外溢 Partially lifted stitch（部分浮起焊点）Lift stitch（浮起焊点） CAP 印（劈刀印） Tail length（线尾长度）Wire avulsion quality（铝线撕扯质量）焊点错位 Lifted metal (peeling)(金属层提拉) Wedge size（焊点尺寸） 4.芯片上的缺陷 Ink die（墨点芯片 edge die（边缘芯片） Die location/Rotation（芯片位置/旋转） 芯片上的缺陷： 芯片上的缺陷 crack（开裂） epoxy/solder on die （芯片上有银浆）scratch（划伤）Contam on die(芯片沾污) Die tilt（芯片倾斜） stack die（芯片重叠） missing die （漏芯片）die displacement(芯片错位) NG die（不良芯片） collet mark on die 吸嘴压伤 Overturned die(芯片翻转) Foreigh Material on Die(芯片上有异物) wrong die orientation(芯片方向) misalign saw（切割偏位）void die(压点缺损) 铝层卷起 小耳朵 chip（缺角） 5.芯片与 芯片与PAD交接处的缺陷 交接处的缺陷：epoxy fillet height（侧面银浆高度）epoxy/solder void(环氧树脂气孔) 芯片与 交接处的缺陷 Epoxy/solder coverage(银浆覆盖面积) 白板 die chip 6.第二焊点与 第二焊点与lead的缺陷 的缺陷：NSOL edge bond（键压到边缘） 虚焊 第二焊点与 的缺陷 第二焊点隐裂 第二焊点卷起 鱼尾不良 Overlap bond on lead（管脚重叠键合) 7.框架上的缺陷 框架上的缺陷：epoxy on l/f(在L/F上有银浆) Lead frame Discoloration（引线框架氧化） 框架上的缺陷 Bent Tie Bar（Tie Bar 弯折））Lead Short（引脚短路）Tilt or twist:（翘曲或者扭曲） PAD上翘/下陷 Passivation defects((钝化层缺陷 ) 框架变形镀银层不全 Discolored DAP back:（DAP 背面变色）Bent Frame（引线框架弯折受损）
1.线弧上的缺陷 线弧上的缺陷：Damaged wire (金丝损伤) sagging wire （塌丝） Tight wire （绷线） cross wire（线交叉） 线弧上的缺陷 Gap<2mil（线隙<2mil） loop too high (线弧高) Re-bonding （重复连接错误） missing wire(漏线) broking wire （引线断裂）NSOP（压点上未焊牢） wire debris(碎线) wire short （引线短路） 2.线和球交接处的缺陷 线和球交接处的缺陷：broking wire（引线断裂） 线和球交接处的缺陷 颈部受损 bond tail （键压点拖尾）
1.线弧上的缺陷 线弧上的缺陷：Damaged wire (金丝损伤) sagging wire （塌丝） Tight wire （绷线） cross wire（线交叉） 线弧上的缺陷 Gap<2mil（线隙<2mil） loop too high (线弧高) Re-bonding （重复连接错误） missing wire(漏线) broking wire （引线断裂）NSOP（压点上未焊牢） wire debris(碎线) wire short （引线短路） 2.线和球交接处的缺陷 线和球交接处的缺陷：broking wire（引线断裂） 线和球交接处的缺陷 颈部受损 bond tail （键压点拖尾）
1.线弧上的缺陷 线弧上的缺陷：Damaged wire (金丝损伤) sagging wire （塌丝） Tight wire （绷线） cross wire（线交叉） 线弧上的缺陷 Gap<2mil（线隙<2mil） loop too high (线弧高) Re-bonding （重复连接错误） missing wire(漏线) broking wire （引线断裂）NSOP（压点上未焊牢） wire debris(碎线) wire short （引线短路） 2.线和球交接处的缺陷 线和球交接处的缺陷：broking wire（引线断裂） 线和球交接处的缺陷 颈部受损 bond tail （键压点拖尾）
1.线弧上的缺陷 线弧上的缺陷：Damaged wire (金丝损伤) sagging wire （塌丝） Tight wire （绷线） cross wire（线交叉） 线弧上的缺陷 Gap<2mil（线隙<2mil） loop too high (线弧高) Re-bonding （重复连接错误） missing wire(漏线) broking wire （引线断裂）NSOP（压点上未焊牢） wire debris(碎线) wire short （引线短路） 2.线和球交接处的缺陷 线和球交接处的缺陷：broking wire（引线断裂） 线和球交接处的缺陷 颈部受损 bond tail （键压点拖尾）
3.球和芯片上面的缺陷 球和芯片上面的缺陷:ball size too big or too small（球太大或太小） off center bond（偏离压点中心） 球和芯片上面的缺陷 Stitch bond size too big or too small（焊点尺寸太大或太小）Lift ball（浮起第一焊点） Ball thickness too big or too small(球厚度太大或太小) wrong bond （错误键压） Golf ball bond（高尔夫球状金线键压）Bond too scribe（键压到轮廓线）no bond (无键合 Pad cratering(弹坑) Smash bond (粉碎型键合) Wire Debris（碎线）金球外溢 Partially lifted stitch（部分浮起焊点）Lift stitch（浮起焊点） CAP 印（劈刀印） Tail length（线尾长度）Wire avulsion quality（铝线撕扯质量）焊点错位 Lifted metal (peeling)(金属层提拉) Wedge size（焊点尺寸） 4.芯片上的缺陷 Ink die（墨点芯片 edge die（边缘芯片） Die location/Rotation（芯片位置/旋转） 芯片上的缺陷： 芯片上的缺陷 crack（开裂） epoxy/solder on die （芯片上有银浆）scratch（划伤）Contam on die(芯片沾污) Die tilt（芯片倾斜） stack die（芯片重叠） missing die （漏芯片）die displacement(芯片错位) NG die（不良芯片） collet mark on die 吸嘴压伤 Overturned die(芯片翻转) Foreigh Material on Die(芯片上有异物) wrong die orientation(芯片方向) misalign saw（切割偏位）void die(压点缺损) 铝层卷起 小耳朵 chip（缺角） 5.芯片与 芯片与PAD交接处的缺陷 交接处的缺陷：epoxy fillet height（侧面银浆高度）epoxy/solder void(环氧树脂气孔) 芯片与 交接处的缺陷 Epoxy/solder coverage(银浆覆盖面积) 白板 die chip 6.第二焊点与 第二焊点与lead的缺陷 的缺陷：NSOL edge bond（键压到边缘） 虚焊 第二焊点与 的缺陷 第二焊点隐裂 第二焊点卷起 鱼尾不良 Overlap bond on lead（管脚重叠键合) 7.框架上的缺陷 框架上的缺陷：epoxy on l/f(在L/F上有银浆) Lead frame Discoloration（引线框架氧化） 框架上的缺陷 Bent Tie Bar（Tie Bar 弯折））Lead Short（引脚短路）Tilt or twist:（翘曲或者扭曲） PAD上翘/下陷 Passivation defects((钝化层缺陷 ) 框架变形镀银层不全 Discolored DAP back:（DAP 背面变色）Bent Frame（引线框架弯折受损）