铁氧体材料吸波性-李景旭

反射率测试示意图
• 测量原理 在给定波长和极化的条件下，电磁波从同一角度，以 同一功率密度入射到RAM平板和良导体平面，RAM平面与 同尺寸良导体平面二者镜面方向反射功率之比定义为RAM 反射率。比值越小说明材料的吸波性能越好。
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铁氧体材料吸波性能及其测试 方法简介
铁氧体材料的吸波性能
铁氧体是由铁的氧化物及其他配料烧结而成。一般分 为永磁铁氧体和软磁铁氧体两种。
铁氧体材料是一种以吸收电磁波为主，反射、散射和透 射都很小的高科技功能性复合材料，其原理主要是在高分子 介质中添加电磁损耗性物质，当电磁波进入吸波材料内部时， 推动组成材料分子内的离子、电子运动或电子能级间跃迁， 产生高频介质损耗和磁滞损耗等，使电磁能转变成热能而发 散到空间消失掉，从而产生吸收作用。不发生反射而造成二 次污染，对镜面波和表面波都具有良好的吸收特性。广泛适 用于抑制电磁波干扰，改善天线方向图，提高雷达测向测距 准确性，雷达波RCS减缩等。
黑色的磁性铁氧体雷达吸波材料
吸波性能测试方法
雷达吸波材料反射率是吸波材料的重要指标，它表示 了吸波材料相对于金属平板反射的大小。常用的测量RAM 反射率的方法有：弓形法、远场RCS法、空间样板平移法 等。 • RAM反射弓形测量法 弓形法是20世纪40年代美国海军实验研究室发明的， 该方法事国际上应用最广泛的吸波材料性能评价方法。正 如他的名字指出的那样，分离的放射和接收天线安装在被 测RAM样板上方的半圆架子上，样板置于弓形框的圆心。 通过改变天线在弓形框上的位置，可以测出不同入射角的 RAM反射率，弓形法RAM发射率自动扫描测试系统方框图如 图所示。