可靠性测试资料
可靠性测试培训-完整版资料
2018/10/29 21
二、产品的寿命规律及常用分布
1.指数分布
许多元器件在工作时间内会由于“偶然”原因而失效， 而不服从某一失效机理，因为这时对应于某一机理的所谓早 期失效产品已通过设计、工艺控制、或实验而消除。因此， 当元器件足够多、时间足够长时，失效率λ（t）便趋近于某 一稳定值，其值的大小只与工作条件和外部环境有关，而与 产品的工作时间无关，产品的这种寿命分布规律称为指数分 布。大多数电子产品，包括大部分仪器仪表在剔除早期失效 后到发生老化变质前的随机失效阶段都服从指数分布。 许多国家所制定的标准中，绝大多数都以指数分布为基 础对电子元器件产品的可靠性等级进行鉴定。如我国GB/T 1772-1979《电子元器件失效率试验方法》
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四、可靠性寿命试验
5)检验项目及技术要求：
检验项目 技术要求 外观、流量、 电阻、电流、 功率、杨程、 噪音、配合 室温、湿度、 气压、电压、 耐压测试 寿命次数 通断比 外观、流量、 电阻、电流、 功率、杨程、 噪音、配合 检验样板数 允许不合格数 检验不合格数
试验前参数
2.威布尔分布
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二、产品的寿命规律及常用分布
2.正态分布 正态分布又叫高斯分布，一般大多用它描述产 品随机失效比较集中发生现象的一种分布，如产品 由于损耗或退化而产生的失效;再如材料强度、磨 损寿命、疲劳失效。
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二、产品的寿命规律及常用分布
可靠性测试
可靠性测试:包装,环境,ESD静电,寿命,表面处理试验等可靠性测试检验标准一机械测试标准A卡通箱、投箱测试标准（加拿大）B卡通箱、投箱测试标准（USA）C随机振动测试标准试验目的：检验产品经受规定严酷等级的随机振动测试试验设备：振动仪试验样品：6SETS试验内容：被测样品不包装，处于通电状态，牢固固定在测试台，试验参数：频率范围5-20Hz，功率频谱度0.96M2/S3；频率范围20-500Hz，功率频谱度0.96M2/S3（20Hz处），其它-3dB/℃T.轴向：三个轴向，持续时间，每方向1小时，共3小时，持续时间结束，取出样机进行测试后检查。
判定标准：通过基本功能测试；外观/结构正常，未见零件松动、裂开异常。
D包装振动测试标准试验目的：模拟运输过程中振动对产品造成的影响试验设备：振动测试仪试验样品：2 carton试验内容：振动宽度（Vibration width）:2mm/2.8g;扫周率（Sweep Frequency）:10 to 30Hz;方向（Direction）:六个面（x.y.z axis）;测试时间：30分/每个面（30 Minutes per axis），测试完成后检验产品的外观结构及各项功能。
判定标准：通过基本测试，外观/结构正常，未见零件松动异常。
E自由跌落测试标准试验目的：检验产品在搬运期间由于粗造装卸遭到跌落的适应性试验设备：跌落实验机试验样品：6SETS试验内容：被测产品不包装，不带附件，处于导通状态。
从1M的高度（如果LCM面积超过产品表面积的60%，跌落高度为50CM），初速度为0并自由跌落于光滑混凝土地面上，每面跌落3次，6面共计18次，试验结束，取出样品进行试验后检查。
判定标准：测试后手机基本功能、性能正常，外观、结构正常。
马达振动无异常。
F裸机跌落测试标准试验目的：检验产品在使用生产轻微撞击的性应性试验设备：水泥地面试验样品：6SETS试验内容：产品跌落在水泥地面，跌落高度：85CM。
可靠性测试报告
可靠性测试报告一、概述可靠性测试是软件开发过程中不可或缺的一环，旨在评估软件系统在特定环境下的稳定性和可靠性能力。
本报告旨在对经过可靠性测试的软件进行评估和总结，以提供给相关方对软件可靠性的了解和参考。
二、测试目标本次可靠性测试的主要目标是评估软件系统在生产环境下的稳定性和可靠性。
具体目标如下：1. 确定软件系统在正常使用情况下是否能够持续稳定运行，是否存在频繁的崩溃或异常；2. 评估软件系统在高负载情况下的性能表现，是否存在性能下降或资源耗尽的情况；3. 测试软件系统的恢复能力，包括系统崩溃后的恢复时间和数据完整性等；4. 分析软件系统对异常输入和异常操作的处理能力，是否能够正确处理异常情况而不导致系统崩溃或数据丢失。
三、测试方法和步骤1. 环境准备：搭建测试环境，包括硬件设备、操作系统、数据库等；2. 测试用例设计：根据软件系统的功能和使用场景，设计一系列具有代表性的测试用例；3. 测试执行：按照测试用例逐一执行测试，并记录测试结果；4. 缺陷管理：对于发现的缺陷，进行记录、分类和跟踪，确保缺陷及时修复；5. 性能测试：通过模拟实际负载情况，对软件系统的性能进行评估；6. 可用性测试：对软件系统的易用性、用户界面等方面进行评估；7. 其他测试：根据具体需要，进行安全性测试、兼容性测试等；8. 测试总结和报告：根据测试结果进行分析总结，编写可靠性测试报告。
四、测试结果及分析在本次可靠性测试中，软件系统经过了全面、深入的测试，测试结果如下：1. 稳定性测试：软件系统在正常使用情况下可以持续稳定运行，未发现崩溃或异常；2. 性能测试：在高负载情况下，软件系统响应速度较快，资源占用合理，未出现性能下降或资源耗尽；3. 恢复能力测试：软件系统在崩溃后能够迅速恢复，并保持数据的完整性；4. 异常处理能力测试：软件系统能够正确处理各种异常情况，不会导致系统崩溃或数据丢失。
经过测试结果的分析和总结，本次可靠性测试显示出软件系统在稳定性和可靠性方面表现良好，符合预期目标。
Lab-reliability可靠性测试ppt课件
72 HRS (3 Days) 3天
48 HRS (2 Days) 2天
6 HRS 6小时
J-STD-0207,MSL Level可以自己做，比如MSL level 3 pass, Level 2 fail,那么此产品就做MSL Level 3合适.
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Defects after Precon Test 预处理后的故障
1. Package Crack 封装面的开裂 2. Delamination 分层 3. Electrical Open/Short 开路/短路
DELAMINATION
PKG CRACK
PKG CRACK
CHIP CRACK
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Defects after Precon Test 预处理后的失效
Die Top Delamination 芯片顶部的分层
T&H Chamber 温度湿度测试炉
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Effect of T&H Test 影响温度及湿度测试的因素
Al bonding pad corrosion can be occur by the moisture which was absorbed through EMC than makes Open failure 由通过EMC吸收的水汽造成AL结合片腐蚀比开路造成的来的多 Short or Leakage can be occur by ion which moves through moisture inside package 水离子在器件内部造成短路或者渗漏
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Temperature Cycle Test 温度周期测试
Test Conditions 测试条件 Temp : +150 / -65 deg.C 温度： +150/-65摄氏度 2) Time : 15 min/ zone 时间: 15分/区间 3) Read-out Point : 1000 cycle 读取点：1000次循环 Measurement 测量 Open/Short Test 开短路测试
可靠性测试参考
CRT/VGA, Serial, Paraபைடு நூலகம்lel, DVI
Insert the connector. Fully tighten the screws. Wiggle the connector up and down two or three times. Loosen the screws and pull at a 30-degree angle to remove.
Reliability Test for Electronic Product
Thermal Shock
1. Purpose The objective of this test is to precondition or age systems, subassemblies, or components by subjecting them to the stresses of rapid thermal expansion and compression. This test can also precipitate some gross failure modes associated with differing coefficients of thermal expansion (CTEs) 2. Scope Provide detailed instructions for conducting a system-level, subassembly, or component test. It also contains criteria for determining whether a failure has occurred. 3. Test procedure -Place units or subassemblies in the chamber. -Based on test units, choose one of the following profiles: System level or hinge-up assembly: 65C to -40C. 20-minute dwell. Motherboard or component level: 80C to -40C. 15-minute dwell. -If running systems, ensure they are powered off and execute 50 cycles of the chosen profile. -Perform the cold portion of the cycle first, so that the test ends with the samples in the hot condition. This will reduce the likelihood of moisture damage to the samples. -After completing 50 cycles, return to the high temperature for a minimum of 4 hours to evaporate any accumulated moisture. -Return to room temperature (25C) prior to removal of test units from the chamber.
可靠性试验大纲
跌落测试：此测试是模拟包装箱在搬运过程中遇到的坠落、撞击等情况。 将受测样板在跌落机上进行10次自由落体测试（包括一角三边六面）或 撞击测试，不同重量的包装箱其跌落高度和撞击速度是不同的，如下页图 所示： 包装箱重量W(lbs.) 跌落高度(inch) 冲击速度(ft/s) 产品重量 （1 Lｂｓ=0.4536kg） 跌落高度（1ＩＮ=25.4mm）
可靠性试验大纲
PART 1
目的 目 录
FOCUS 1
FOCUS ２
01 Part
FOCUS ３
添加标题
FOCUS 4 单击添加文本具体内容
范围
02 Part
定义
添加标题
参考文件 单击添加文本具体内容
03 Part
FOCUS 5
添加标题
FOCUS 6 单击添加文本具体内容
FOCUS 7
试验基本步骤 试验项目
Between Failure） 试验
正常情况下连续工作试验
连续低电压试验 连续高电压试验
可靠性试验方案举例
试验的名称 试验的目的 试验的依据
XX可靠性试验方案
1.发现产品在设计、材料和工艺方面的缺陷，为产品早期 故障评估提供数据支持； 2.确定MTBF基准，评定产品稳定性水平； 3.出具相关报，为市场竞争提供有力支持。
Reliability Test 可靠性试验
○ 热冲击试验 ○ 高温高湿循环试验 ○ 振动运输试验 ○ 整包装跌落及单机跌落试验 ○ 按键、牢固件、弹簧、标志标识耐磨、连接端子牢
固性寿命与可靠性试验 ○ 开关（滑动，旋转）继电器寿命可靠性试验 ○ 弯曲度/力试验，液体防漏密封等试验
可靠性测试资料
0.5
50 Pcs
2739
3000
MTTF Procedure
1. Random sampling 50 pcs. 2. Perform function test in advance and set up temperature. 4. Function test once a week. 5. Test time for 2160 hrs (3 months). 6. Based on Total Test Hours( T ) and Failure Quantity ( r ) and refer Chi-Square table with Confidential Level (CL) to get MTTF.
IEC 68-2-14
Design
Temperature : -25℃±2℃ Applied Voltage : Rated voltage Duration : 96 hrs Temperature : 60±2℃ Humidity : 93±3%RH Duration : 96 hrs Applied Voltage : Rated voltage
Standard
Status
Remark
IEC68-2-2
Design
Impeller Locked Test
Temperature : 70℃/90℃±2℃ Voltage : 115% Duration : 168 hrs
UL-507
Design
Life Test
Temperature : 70℃/90℃±2℃
Reliability Test Equipment/Item.
1.High Temperature Test Equipment
可靠性测试报告
常。注1.汗液的成份为氨水1.07%，氯化钠0.48%，水98.45%。
标准 实测
面漆：
漆：
面漆：上： 中：
中漆：上： 中：
底漆：上： 中：
um um um um
中
下： 下： 下：
um um um um
底漆：
um
下：
um
下：
um
下：
um
用适配螺钉打入,用拉力计测试螺母拉力 10 kg力,螺母无松脱,螺母柱无爆裂为合格
审核：
核准:
℃±1℃,湿度 %),
检
环品 境 □盐雾 测
保持 H后产品取出,用棉布将化妆品擦试干净，产品表面无异常。
压力桶温度47+/-1℃，在35+/-1℃的密闭环境（盐水桶）中，湿度>85%，PH值在6.5-7.2范围内，用5%+/-1%的 NaCL溶液连续 H盐水喷雾后，产品表面应无锈蚀、变色、及镀层剥落等不良。
塑胶五金有限公司
（塑胶）可靠性测试报告
QR-431-A
日期：
客户：
NO.：
产品型号
产品名称
暗码
产品颜色
物料编码
材质 实验类别:
送检单位
送检厂商
□试制测试□样板测试送Fra bibliotek人测试数量
送检时间
□首件测试
□量产测试
□进料测试
类 别
测试项目
实验条件及要求
结果 简述
□PC 注内 塑应 / 力 □ABS+PC 组测 装试
□ABS
将组装好的产品放入甲苯＋无水乙醇配比的溶液中（比例为1:3）浸泡15分钟后,将产品取出,用水把产品表面 残留的溶液冲洗干净后自然风干,检查产品产品表面夹水线处允许有3mm不可见的轻微裂纹，其余位置一点也不 允许有，内部螺母不得松脱、明显开裂。
可靠性试验介绍范文
可靠性试验介绍范文可靠性试验是一种通过定量评估产品、设备或系统在特定条件下的可靠性表现的实验方法。
可靠性试验旨在确定产品在一定使用寿命内的故障概率或失败率，并提供对产品寿命的预测，以便进行合适的改进和优化。
本文将介绍可靠性试验的目的、设计和常见可靠性试验方法。
可靠性试验的主要目的是评估产品在特定条件下的可靠性，以确定产品是否符合设计要求和客户的期望。
试验可以识别出产品的薄弱环节和潜在故障模式，以及提供产品寿命的预测和维修需求的预警。
通过结果分析和评价，可以为产品的改进和优化提供依据，并指导后续的可靠性验证工作。
试验样本的选择是试验设计中的核心问题之一、一般来说，样本的规模和代表性对试验结果的可靠性有重要影响。
样本规模的确定需要考虑到试验的时间和资源限制，以及试验能够提供的可靠性信息的数量和质量。
样本的代表性则要求试验样本能够真实地反映出整个生产批次或产品总体的特征。
试验条件的选择应该根据产品的设计目标和预期使用环境来确定。
试验条件通常包括温度、湿度、振动、电磁辐射等因素，这些因素对产品寿命和可靠性有重要影响。
试验条件的选择应该充分考虑到产品在现实使用环境中面临的各种应力和风险。
试验测量指标是评估产品可靠性的关键指标，如故障概率、失效率、失效时间等。
根据不同产品的特点和试验目标，可以选择不同的测量指标来评估产品的可靠性，并确定合理的试验量测方法和数据采集方法。
常见的可靠性试验方法：1.加速寿命试验（ALT）：ALT试验通过增加环境应力或加快使用条件来加速产品的老化过程，以预测产品在正常使用条件下的寿命。
通常，采用高温、高湿、高压等试验条件进行ALT试验。
2.应力筛选试验（SS）：SS试验是一种对产品在较高的应力条件下进行短期测试的方法，以筛选出存在缺陷或潜在故障的产品。
SS试验通常使用高应力的试验条件，并通过统计分析来评估产品的无故障寿命。
3.成功运行试验（SRT）：SRT试验是验证产品在特定条件下连续运行的时间，以评估产品的可靠性。
电池可靠性测试报告
3PCS
3.短路保护性能
电池快速充电结束后，将正负极用 0.1Ω 电阻器短接 1H，目测电池外观。将正负极连接电阻断开，电池以 1C5A 恒流瞬时充电 5S 后，用电压表测量电池开路电压 。
电 池 应 不 爆炸、不起火、不冒烟或漏夜；瞬时充电后,电池电压应 不 小 于3.6V.
不起火、不爆炸、不漏液；电压、内阻无异常。
3PCS
6.盐雾测试
温度35℃、湿度85%、NaCl 浓度5%时间：48H，针对保护板测试
金手指无腐
3PCS
7.ESD
空气放电±10KV，分别对电池输出端子各进行5 次空气放电，然后对地放电
电池电压、ID电阻等不变，NTC 变化在标准范围内，电池不应爆炸，起火，冒烟或漏液，并能进行正常的充放电。
2PCS
6.低温性能
在环境(20±5℃的条件下，电池快速充电结束后将电池放入（-20±2）℃的低温箱中恒温16-24h，然后以0.2C5A电流恒流放电至终温16-24h，然后以0.2C5A电流恒流放电终止，在常温下放置≥3.5H。
外 观 无变形、漏液、爆裂。
5PCS
7.荷电保持能力
电池快速充电结束后，在环境温度为（20±5）℃条件下，将电池开路搁置28天，以0.2C5A放电至终止电压。
3PCS
2.标准充电
/CV方式，在环境温度为(20±5)℃条件下充电电源以0.2C5A电流恒流充电直到电池充电限制电压时，改为恒压充电方式充电，直到停止充电。
充电时间最长8H
3PCS
3.快速充电
在环境温度为(20±5)℃条件下,充电电源以1C5A(500mA)充电，当电池端的电压达到充电限制电压后，改为恒压充电充电，直到充电停止。
可靠性测试报告
可靠性测试报告可靠性测试是一种软件测试方法，旨在评估系统或组件在正常操作条件下的稳定性和可靠性。
通过模拟现实使用环境中的操作和负载，可靠性测试旨在发现并解决潜在的缺陷，以确保系统在长时间运行和高负载下能够正确地工作。
以下是对可靠性测试报告的详细讨论：1. 测试目的和范围：- 确定可靠性测试的目标和范围。
这可能包括特定的功能或功能组件、系统或软件版本等。
2. 测试环境：- 提供测试所使用的硬件和软件环境的详细信息，包括操作系统、数据库、网络配置等。
3. 测试计划：- 描述测试策略、方法和测试计划的详细信息。
这包括测试的持续时间、负载模式、测试数据和测试用例等。
4. 测试执行：- 记录测试执行过程中的详细信息。
包括测试日期和时间、测试用例编号、测试步骤、预期结果和实际结果等。
5. 测试结果：- 提供测试结果的详细分析和评估。
包括成功和失败的测试用例数量、发现的缺陷和解决方案等。
6. 缺陷跟踪：- 记录测试执行期间发现的缺陷，并跟踪其解决进展。
包括缺陷的优先级、状态、指派给的人员和解决时间等。
7. 总结和建议：- 综合评估测试结果，并提出改进建议和下一步行动计划。
扩展和深入分析阶段:在可靠性测试报告中，每个部分都可以深入分析和扩展。
以下是一些可能的深入分析点：1. 测试目的和范围：可以进一步解释为什么选择了特定的测试目标和范围，并分析这些目标和范围对于系统可靠性的重要性。
2. 测试环境：可以提供详细的硬件和软件配置信息，并解释为什么使用了特定的配置。
也可以讨论测试环境对测试结果的影响。
3. 测试计划：可以详细讨论测试策略和方法的选择，并解释为什么选择了特定的负载模式和测试数据。
可以提供更多的测试用例示例。
4. 测试执行：可以提供测试执行过程中的更多详细信息，例如测试过程中使用的工具和技术。
也可以讨论测试执行期间遇到的挑战和问题。
5. 测试结果：可以分析测试结果的趋势和模式，并比较不同测试运行之间的结果。
可靠性测试报告
可靠性测试报告1. 介绍什么是可靠性测试报告可靠性是指产品、系统或服务能在规定条件下在一定时间内正常地工作的可能性。
可靠性测试报告是对某个产品、系统或服务进行各种测试和评估后，得出的关于其可靠性表现的详细报告。
在现代工业生产中，可靠性测试报告是非常重要的，因为它可以帮助企业评估和改进其产品或服务的可靠性。
可靠性测试报告可以包括多个方面的测试，例如负载测试、性能测试、安全测试、兼容性测试等，以确保产品在不同情况下的表现可以达到预期要求。
2. 可靠性测试报告的内容可靠性测试报告主要包括以下内容：（1）测试目的和范围：测试目的和范围往往是在测试开始之前制定的。
它涉及到测试的目的和范围，为测试提供指导和监督。
（2）测试结果和分析：测试结果和分析是测试团队对测试数据进行分析和总结后得出的报告。
报告中需要包含测试结果的数据和统计信息，以及对结果的分析和解释。
（3）测试报告和缺陷报告：测试报告记录了测试的数据、问题和结果。
缺陷报告则记录了测试过程中所发现的问题，包括问题的类型、问题的严重程度、问题描述以及修复建议等信息。
（4）测试结论：测试结论是整个测试过程的总结，包括对测试结果和缺陷报告的评估，对产品可靠性的评估和建议。
3. 可靠性测试报告的重要性可靠性测试报告在现代工业生产中非常重要，它有以下几个方面的重要性：（1）提高产品质量：可靠性测试报告可以帮助企业检测和评估其产品的可靠性性能，从而及时发现和解决问题，提高产品质量。
（2）降低维修成本：可靠性测试报告可以帮助企业在产品开发的早期发现和解决潜在的问题，从而降低维修成本。
（3）增强品牌形象：一个可靠的产品可以帮助企业树立良好的品牌形象，增强消费者的信任和忠诚度。
（4）符合法律法规和行业标准：许多产品需要符合特定的法律法规和行业标准，可靠性测试报告可以帮助企业确保产品符合这些标准。
4. 如何编写可靠性测试报告编写可靠性测试报告需要遵循以下几个步骤：（1）制定测试计划：测试计划是为了确保测试过程能够高效和有条理进行。
可靠性测试
可靠性测试1 可靠性测试概述软件可靠性（software reliability）是软件系统的固有特性之一，它表明了一个软件系统按照用户的要求和设计的目标，执行其功能的正确程度。
软件可靠性与软件缺陷有关，也与系统输入和系统使用有关。
理论上说，可靠的软件系统应该是正确、完整、一致和健壮的。
但是实际上任何软件都不可能达到百分之百的正确，而且也无法精确度量。
一般情况下，只能通过对软件系统进行测试来度量其可靠性。
1.1 可靠性（Reliability）定义可靠性（R）指在规定的一段时间和条件下，与软件维持其性质水平的能力有关的一组属性。
2 测评过程判定标准2.1 缺陷等级说明缺陷（Bug）分为五个等级：P1级（导致系统崩溃；主业务流程出现断点；导致死机；导致程序模块丢失；内存泄漏），P2级（被测数据处理错误；软件错误导致数据丢失；用户需求未实现），P3级（被测功能不能正确实现），P4级（功能实现不完美或细小的错误），P5级（建议性问题）。
2.2 结论描述根据测试中发现的缺陷的登记和数量，分别描述软件可靠性：优秀、良好、合格、差，其含义列出如下：o优秀：测试项目相对于要求的符合程度介于90％～100％之间；o良好：测试项目相对于要求的符合程度介于80％～90％之间；o合格：测试项目相对于要求的符合程度介于60％～80％之间；o差：测试项目相对于要求的符合程度小于60％。
3 可靠性测试过程3.1 被测软件分析分析被测软件系统功能需求，确定系统关键业务操作与相应的业务设置，分析时要注意下述问题：·该软件是否存在不同的运行模式？如果存在，那么应列出所有的系统运行模式。
·是否存在影响程序运行方式的外部条件？如果存在，那么有多少？它们的影响程度如何·各种功能需求之间是相互独立的还是相关的？如果相关，是密切相关还是部分相关？如果两种功能密切相关，那么可将两种功能合并为一种功能。
如果功能之间为部分相关，则需列出相应输入变量的合法组合。
可靠性测试报告
可靠性测试报告关键信息项1、测试产品名称：＿___________________________2、测试产品型号：＿___________________________3、测试开始时间：＿___________________________4、测试结束时间：＿___________________________5、测试环境条件：＿___________________________6、测试项目及标准：＿___________________________7、测试结果判定依据：＿___________________________8、测试人员：＿___________________________11 引言本协议旨在详细描述对测试产品名称进行可靠性测试的过程、方法、结果以及结论。
可靠性测试是为了评估产品在规定的条件下和规定的时间内，完成规定功能的能力。
111 测试目的确定产品在正常使用和预期环境条件下的可靠性水平，发现潜在的故障模式和薄弱环节，为产品的改进和优化提供依据。
112 适用范围本协议适用于测试产品名称及其相关的零部件和组件。
12 测试依据列出所依据的相关标准、规范和技术文件。
121 引用标准标准编号 1标准编号 2122 技术文件技术文件 1技术文件 213 测试设备和仪器描述用于测试的设备和仪器的名称、型号、精度和校准情况。
131 主要设备设备名称 1，型号：型号 1，精度：精度 1，校准日期：校准日期 1设备名称 2，型号：型号 2，精度：精度 2，校准日期：校准日期 2 132 辅助设备设备名称 3，型号：型号 3，精度：精度 3，校准日期：校准日期 3设备名称 4，型号：型号 4，精度：精度 4，校准日期：校准日期 414 测试环境条件详细说明测试过程中的环境温度、湿度、气压、振动等条件。
141 温度测试环境温度范围为：最低温度至最高温度，温度控制精度为：精度。
142 湿度相对湿度范围为：最低湿度至最高湿度，湿度控制精度为：精度。
原材料可靠性测试
的
确保公司进厂原料质量符合规定的要求，确保公司库存原材料质量的可靠性。
2.适用范围
本标准适用于公司进厂原材料的检验项目选择，及本公司库存原材料的检验项目选择。
3.内容
3.1抽样计划详见《IQC岗位操作准则》；
3.2CR:致命缺陷；MA:严重缺陷；Ml:轻微缺陷；0K:合格；
3.3目视条件：检测需在离眼约为40厘米距离内进行，环境亮度应为520勒计，每平方米最多目检时间
为5秒。
3.4材质的检验：由供应商提供检验报告，符合技术标准为合格，不符合技术标准为不合格。
3.5本公司暂不能检验项目的检验：由供应商提供检验报告，符合技术标准为合格，不符合技术标准为不合格。
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Reliability Presentation
Contents
◎Reliability Test Equipment/Item. ◎Fan MTTF/L10 Test Procedure And Calculation Method .
Standard
Status
Remark
Drop Test
IEC68-2-32
Design M/P
8. Mechanical Shock Test Machine
Test Item Test Condition
Pulse Shape : Half-Sine Wave Nominal Pulse Length : 2 ms Velocity:60in/sec(Op) & 80in/sec(Non-Op) Number of shock:3Shock for each six faces
MIL-HDBK781A
Design M/P
2.Temperature/Humidity Test Machine
Test Item
Temperature Cycle Test
Test Condition
Low Temperature : --25℃±2℃ High Temperature : 70℃/ 90 ℃ ±2℃ Dwell Time : 2 hrs/each Transfer Time : 1.5 hrs Cycle : 50 cycles Min •Low temperature:-40℃±2 ℃ •High temperature:80 ℃ ±2 ℃
Standard
Status
Remark
IEC68-2-6 Design M/P
6.Ball Bering Test Machine
Test Item Test Condition
Low Band : 30 - 300 Hz Med Band : 301 – 1800 Hz High Band : 1801 – 10 KHz
Standard
Status
Remark
IEC68-2-2
Design
Impeller Locked Test
Temperature : 70℃/90℃±2℃ Voltage : 115% Duration : 168 hrs
UL-507
Design
Life Test
Temperature : 70℃/90℃±2℃
CNS-8753 JIS B-8346 ISO-7779
ISO-7779
Design
M/P
ISO-532B
ISO-10816-1
5.Vibration Test Machine
Test Item Test Condition
Sine Wave Vibration Range of Frequency : 5-55-5 Hz Amplitude : 2 mm Duration : 30 mins Vibration Test Random Vibration Range of Frequency : 20-500 Hz PSD : 0.98G(OP)/2.2G(Non-OP) Duration : 60 mins per axis IEC68-2-34
Reliability Test Equipment/Item.
1.High Temperature Test Equipment
Test Item
High Temperature Test
Test Condition
Temperature : 70℃/90℃±2℃ Applied Voltage : Rated voltage Duration : 96 hrs
IEC68-2-1
Design
Humidity Test
IEC68-2-3
Design
3.Air-Flow/Pressure Test System
Test Item Test Condition
Applied Voltage : Rated voltage Barometric Pressure : 76 cm-Hg atmospheric pressure
R (t ) = e
(△ H)
Sample Size
Stress elevated 70℃ Actual test tim e required test tim e w ith zero failure T w ith zero failure T (hour) (hour)
Sleeve
8hrs/dayx365days/ yearx2years = 5,840 hrs
8hrs/dayx365days/ yearx5years = 14,600 hrs
0.95
170,783 hrs (180,000 hrs)
0.4
50 Pcs
2268
2520
0.95
227,710 hrs (230,000hrs)
0.45
50 Pcs
2466
2520
0.95
284,638 hrs (300,000 hrs)
Standard
Status
Remark
Mechanical Shock Test
IEC68-2-27
Design
Fan MTTF / L10 Test Procedure And Calculation Method
The definition of MTTF with difference structure
0.95
113,855 hrs (120,000 hrs)
0.3
50 Pcs
2096
2160
1Ball 8hrs/dayx365days/ yearx3years 1Sleeve = 8,760 hrs 1Ball 8hrs/dayx365days/ 1Sleeve yearx4years + MS = 11,680 hrs VAPO 2 Ball
Total test hours( T ) : (2400 x 1) + (2736 x 1) + (3000 x 48) = 149,136 hrs Chi-Square table : 90% CL, 2 pcs failed, get a coefficient 10.6
MTTF = (2 x T) / 10.6 = (2 x 149,136) / 10.6 = 28,138 hrs.
0.5
50 Pcs
2739
3000
MTTF Procedure
1. Random sampling 50 pcs. 2. Perform function test in advance and set up temperature. 4. Function test once a week. 5. Test time for 2160 hrs (3 months). 6. Based on Total Test Hours( T ) and Failure Quantity ( r ) and refer Chi-Square table with Confidential Level (CL) to get MTTF.
Standard
Status
Remark
Ball Bearing Test
ISC
IQC/ Analysis
7.Drop Test Machine
Test Item Test Condition
Height : Follow Standard One angle, three diagonal corners, six planes
T
MTTF =
r
7. L10 = 0.105 x MTTF By ( R90 ) = e -λL10 to get the constant of L10 (0.105)
@2002 Sunonwealth Electric Machine Industry Co, Ltd. All right reserved
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L10 Calculation
1. Random sampling 50 pcs 2. Perform function test in advance and temperature set up. 3. Function test once a week. 4. Continue test till 10% failure being found , then terminate. 5. Count total test hours ( T ) and failure quantity ( r ). 6. Get the observe MTTF.
Example: Sampling 50 pcs / test for 16024 hours. 1 pc TTF at 6872 hrs , 1 pc TTF at 9584 hrs , 1 pc TTF at 12468 hrs , 1 pc TTF at 14568 hrs , 1 pc TTF at 16024 hrs . Exponential distribution Total test hours( T ) : (6872 x 1) + (9584 x 1) + (12468 x 1) + (14568 x 1) +(16024 x 1) + (16024x 45) = 780596 hrs