光耦测量方法

用两个万用表就可以测了。光电耦合器由发光二极管和受光三极管封装组成。如光电耦合器４Ｎ２５，采用ＤＩＰ－６封装，共六个引脚，①、②脚分别为阳、阴极，③脚为空脚，④、⑤、⑥脚分别为三极管的ｅ、ｃ、ｂ极。

以往用万用表测光耦时，只分别检测判断发光二极管和受光三极管的好坏，对光耦的传输性能未进行判断。这里以光耦４Ｎ２５为例，介绍一种测量光耦传输特性的方法。

１．判断发光二极管好坏与极性：用万用表Ｒ×１ｋ挡测量二极管的正、负向电阻，正向电阻一般为几千欧到几十千欧，反向电阻一般应为∞。测得电阻小的那次，红笔接的是二极管的负极。

２．判断受光三极管的好坏与放大倍数：将万用表开关从电阻挡拨至三极管ｈＦＥ挡，使用ＮＰＮ型插座，将Ｅ孔连接④脚发射极，Ｃ孔连接⑤脚集电极，Ｂ孔连接⑥脚基极，显示值即为三极管的电流放大倍数。一般通用型光耦ｈＦＥ值为一百至几百，若显示值为零或溢出为∞，则表明三极管短路或开路，已损坏。

３．光耦传输特性的测量：测试具体接线见下图，将数字万用表开关拨至二极管挡位，黑笔接发射极，红笔接集电极，⑥脚基极悬空。这时，表内基准电压２．８Ｖ经表内二极管挡的测量电路，加到三极管的ｃ、ｅ结之间。但由于输入二极管端无光电信号而不导通，液晶显示器显示溢出符号。当输入端②脚插入Ｅ孔，①脚插入Ｃ孔的ＮＰＮ插座时，表内基准电源２．８Ｖ经表内三极管ｈＦＥ挡的测量电路，使发光二极管发光，受光三极管因光照而导通，显示值由溢出符号瞬间变到１８８的示值。当断开①脚阳极与Ｃ孔的插接时，显示值瞬间从１８８示值又回到溢出符号。不同的光耦，传输特性与效率也不相同，可选择示值稍小、显示值稳定不跳动的光耦应用。

由于表内多使用９Ｖ叠层电池，故给输入端二极管加电的时间不能过长，以免降低电池的使用寿命及测量精度，可采用断续接触法测量。

817是常用的线性光藕，在各种要求比较精密的功能电路中常常被当作耦合器件，具有上下级电路完全隔离的作用，相互不产生影响。

当输入端加电信号时，发光器发出光线，照射在受光器上，受光器接受光线后导通，产生光电流从输出端输出，从而实现了“电-光-电”的转换。普通光电耦合器只能传输数字信号（开关信号），不适合传输模拟信号。线性光电耦合器是一种新型的光电隔离器件，能够传输连续变化的模拟电压或电流信号，这样随着输入信号的强弱变化会产生相应的光信号，从而使光敏晶体管的导通程度也不同，输出的电压或电流也随之不同,817光电耦合器不但可以起到反馈作用还可以起到隔离作用。

主要范围

开关电源、适配器、充电器、UPS、DVD、空调及其它家用电器等产品.

技术资料:

小知识:

一、光电耦合器的种类较多,但在家电电路中,常见的只有4种结构:

1.第一类,为发光二极管与光电晶体管封装的光电耦合器,结构为双列直插4引脚塑封,内部电路见表一,主要用于开关电源电路中。

2.第二类,为发光二极管与光电晶体管封装的光电耦合器,主要区别引脚结构不同,结构为双列直插6引脚塑封,内部电路见表一,也用于开关电源电路中。

3.第三类,为发光二极管与光电晶体管(附基极端子)封装的光电耦合器,结构为双列直插6引脚塑封,内部电路见表一,主要用于A V转换音频电路中。

4.第四类,为发光二极管与光电二极管加晶体管(附基极端子)封装的光电耦合器,结构为双列直插6引脚塑封,内部电路见表一,主要用于A V转换视频电路中。

类别型号

第一类 PC817 PC818 PC810 PC812

PC502 LTV817 TLP521-1

TLP621-1 ON3111 OC617

PS2401-1 GIC5102

第二类 TLP632 TLP532 TLP519

TLP509 PC504 PC614 PC714 PS208B PS2009B

PS2018 PS2019

第三类 TLP503 TLP508 TLP531

PC613 4N25 4N26 4N27

4N28 4N35 4N36 4N37

TIL111 TIL112 TIL114

TIL115 TIL116 TIL117

TLP631 TLP535

第四类 TLP551 TLP651 TLP751

PC618 PS2006B 6N135

6N136

二、光电耦合器的检测方法(不在路时):

1.电阻检测法(见表2)

2.加电检测法,在光电耦合器的初级,即第1~3类的①~②脚间或第4类的②~③脚间加上+5V电压,电源电流限制在35mA左右,可在+5V电源正极串一支150Ω1/2W的限流电阻。加电用RX1K档测次级正向电阻,即第1类的③~④脚间,即第2~ 3类的④~⑤脚间,即第4类的⑦~⑧脚间的正向电阻,一般在30Ω~100Ω之间为正常,偏差太大为损坏。测量上述引脚间的反向电阻为无穷大,如偏小则为漏电或击穿。

三、光电耦合器的代换:

本类间所有型号均可直接互换,第1类与第2类可以代换,但需对应其相同引脚功能接入。第3类可以代换第1~2类,选择功能相同引脚接入即可,无用引脚可不接。但第1~2类不可以代换第3类。

例:用PC817代换TLP632时,PC817的①②脚对应接入TLP632的①②脚,PC817的③脚对应接入TLP632的④脚,PC817的④脚对应接入TLP632的⑤脚即可。如用4N35代TLP632时,可直接接入原TLP632的位置,4N35的⑥不用。

方法：用数字万用表的PN结测量端，红表笔“电池+极”接光耦的“1”端，黑表笔“电池-极”接光耦的“2”端（即使光耦的发光二极管正向导通），用另一电表测量“3”“4”端电阻，断开或接通输入端（发光二极管端），输出端电阻应有大幅度变化，说明改光耦是好的。另发光二极管端万用表可用电池串限流电阻代替。

希望各位发表高见。

在彩电，显示器等开关电源维修中如果光耦损坏，一定要用线性光耦代换。

常用的4脚线性光耦有PC817A----C。PC111 TLP521等常用的六脚线性光耦有：TLP632 TLP532 PC614 PC714 PS2031等。

常用的4N25 4N26 4N35 4N36是不适合用于开关电源中的，因为这4种光耦均属于非线性光耦。

光电耦合器——又称光耦合器或光耦，由于光耦内部的发光二极管和光敏三极管只是把电路前后级的电压或电流变化，转化为光的变化，二者之间没有电气连接，因此能有效隔断电路间的电位联系，实现电路之间的可靠隔离。光电耦合器的检测判断光耦的好坏，可在路测量其内部．二极管和三极管的正反向电阻来确定。更可靠的检测方法是以下三种：

1、比较法：拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管；三极管的正反向电阻值，用其

与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。

2、数宇万用表检测法：下面以PCIll光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法。检测时将光耦内

接二极管的+端1脚和-端2脚分别插入数字万用表的hfE的c，e插孔内，此时数字万用表应置于NPN挡；然后将光耦内接光电三极管c极5脚接指针式万用表的黑表笔，e极4脚接红表笔，并将指针式万用表拨在R×lk挡。这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度——实际上是光电流的变化，来判断光耦的情况。指针向右偏转角度越大，说明光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低；若表针不动，则说明光耦已损坏。

3、光电效应判断法：仍以ICIll光耦合器的检测为例，检测电路如图2所示。将万用表置寸：Rxlk

电阻挡，两表笔分别接在光耦的输出端4、5脚，然后用一节1．5V的电池与一只50-100欧的电阻串接后，电池的正极端接PC111的1脚，负极端碰接2脚，或者正极端碰接1脚，负极端接2脚，这时观察接在输出端万用表的指针偏转情况。如果指针摆动，说明光耦是好的，如果不摆动，则说明光耦已损坏。万用表指针摆动偏转角度越大，表明光电转换灵敏度越高。