扫描电镜SEM制样步骤

扫描电镜制样

扫描电子显微镜(SEM)常规样品制备技术SEM常规制样方法（一）——试样的取材、固定、脱水和置换一、实验目的掌握扫描电镜制样过程：从取材、固定、脱水、置换、干燥、喷涂这一过程中样品怎样保持生活状态，从而得出接近生活状态的样品。

二、实验原理不论动物或植物组织，要求取材时操作必须快速，组织表面要清洁，必要时需超声波清洗，原理同TEM取材，但需强调的是SEM观察表面结构，所以应注意表面结构的清洁、完整和电镜下反应真实的形貌。

取材时动作要快、轻、准、大小在1mm-1cm之间，所用的器械要锋利、洁静，避免任何牵拉和挤揉样品表面的损伤，常用的固定剂有2-4%戊二醛和1%锇酸。

三、实验器材样品（动物或植物）、双面刀片、培养皿、l.5ml离心管、牙签、2-4%戊二醛、1%锇酸、0. 1M PBS缓冲液，乙醇、乙酸异戊酯。

四、实验步骤1、取材要求动作轻、迅速、准确，为了保持生活状态，应在固定前清洗掉表面杂质，即，迅速将标本放在PBS缓冲液中冲洗，也可超声波器中超10s-30s，使样品所带的污物除去（如：气管内壁上的粘液、植物叶上的灰尘等）。

2、固定（前固定）经过清洗的样品迅速投入2-4%戊二醛囤定液中，间歇振荡且室温固定约2-4小时即可。

样品固定的目的：使样品细胞的微细结构完整真实地保存下来。

如果样品没有很好地固定，那么样品在脱水时可能变形，破坏了样品的生活状态，也就是说，固定不好的材料，电镜下不能反映真实结构，所以这一步很重要。

3、冲洗0. 1M PH7.2 PBS缓冲液洗：30分钟中间换3-4次，因戊二醛与锇酸反应生成细微的沉淀，所以在后固定之前，用0. IM PBS缓冲液洗去多余的戊二醛之后，样品才可能进入锇酸固定液。

4、后固定：1%四氧化锇后固定1-2小时。

5、冲洗：重蒸水冲洗30分钟中间换3-4次，因四氧化锇与乙醇反应，所以在脱水前充分洗去残留的四氧化锇，样品才能进行脱水。

6、脱水脱水剂为乙醇，室温进行为了减少人工损伤，需要梯度脱水：30%、50%、70%、80%、90%、95%、100%，每级15-20分钟，如果是动物样品，脱水时间可5-10分钟，脱水要充分完全地进行直到除尽样品中的水份为止，最后100%乙醇要重复2-3次，保证样品绝对无水。

sem的实验方法

sem的实验方法
SEM（扫描电子显微镜）是一种常用的显微镜技术，用于观察和分析样品的表面形貌和微观结构。

下面是SEM实验的基本方法：
1. 样品制备：根据需要观察的物体或材料，选择合适的样品制备方法。

常见的方法包括金属蒸发覆盖、碳薄膜覆盖、冷冻断裂、超声清洗等。

2. 样品固定：将样品固定在SEM的样品台上。

通常可以使用导电胶或双面导电胶带将样品固定在样品台上，并确保样品与样品台之间有良好的电导性。

3. 真空处理：将样品放入SEM的真空室中，并进行真空处理，以确保在SEM观察过程中减少气体干扰。

4. 调节参数：在开始观察之前，需要根据样品的性质和要观察的目标，设置适当的加速电压、束流亮度、探针电流等参数。

5. 扫描观察：调整SEM的对焦和扫描参数，使电子束在样品表面扫描。

观察过程中可以通过调整探针电流和探针尺寸来获得所需的表面细节。

6. 图像获取：使用SEM中的二次电子或反射电子检测器，捕捉样品表面反射出的电子信号，并将其转换成图像。

可以通过调整对比度、亮度等参数来优化图像质量。

7. 数据分析：对获得的SEM图像进行分析和解读，可以使用图像处理软件进行形貌特征、颗粒分布、晶体结构等的测量和分析。

需要注意的是，SEM操作需要在专门的实验室环境下进行，并且
需要遵循安全操作规程，以确保操作人员和设备的安全。

此外，不同样品的性质和要求可能需要不同的处理方法和参数设置，因此在实验前应充分了解样品的特性和研究目标，以便选择合适的实验方法。

利用聚焦离子束双束扫描电镜制备透射样品的主要流程

利用聚焦离子束双束扫描电镜制备透射样品的主要流程聚焦离子束双束扫描电镜（Focused Ion Beam Dual Beam Scanning Electron Microscope，简称FIB-SEM）是一种高分辨率的表面形貌和微结构分析技术，可以实现对样品进行原位观察和制备。

利用FIB-SEM可以制备透射电镜（Transmission Electron Microscopy，简称TEM）样品，即通过FIB切割和修整样品，使其达到适合TEM观察的薄片形态。

本文将详细介绍利用FIB-SEM制备透射样品的主要流程。

1. 样品准备首先需要准备待制备的样品。

这些样品可以是固体材料、生物组织或其他需要进行透射电镜观察的材料。

为了便于FIB切割和修整，样品应具有一定的硬度和稳定性。

2. 样品固定将待制备的样品固定在一个小型支撑台上，并使用导电胶或其他导电材料将其牢固地粘附在支撑台上。

导电胶能够提供良好的导电性，以便在后续的FIB切割和修整过程中排除电荷积累的干扰。

3. FIB切割将固定在支撑台上的样品放入FIB-SEM设备中，调整好样品位置。

然后使用离子束对样品进行切割。

离子束由高能离子组成，可以精确地切割样品表面。

通过控制离子束的扫描速度和电流密度，可以实现不同形状和尺寸的切割区域。

4. FIB修整在完成初始切割后，需要对样品进行进一步的修整以达到透射电镜观察的要求。

使用较低能量和较小电流密度的离子束，在已经切割好的区域上进行精细修整。

通过逐渐去除样品表面的材料，可以获得更加平坦、光滑且薄片形态良好的透射样品。

5. 清洗和抛光经过FIB修整后，样品表面可能存在一些污染物或残留物。

为了获得更好的透射图像质量，需要对样品进行清洗和抛光处理。

这可以通过离子束轰击、溅射或化学腐蚀等方法来实现。

清洗和抛光的目的是去除样品表面的污染物，并使其更加平整和透明。

6. TEM观察完成清洗和抛光后，将样品转移到透射电镜中进行观察。

环境扫描电镜操作流程

环境扫描电镜操作流程英文回答：Scanning Electron Microscopy (SEM) is a powerful tool used to investigate the surface morphology and composition of materials. It allows for high-resolution imaging and analysis, making it widely used in various fields such as materials science, biology, and nanotechnology. In this response, I will outline the general steps involved in conducting an SEM operation.1. Sample Preparation: The first step is to prepare the sample for analysis. This involves cleaning the sample and ensuring it is properly mounted on a sample holder. The sample should be conductive or coated with a thin layer of conductive material to prevent charging during imaging.2. Chamber Preparation: Before placing the sample in the SEM chamber, the chamber needs to be prepared. This involves pumping down the chamber to create a vacuumenvironment. The vacuum helps to minimize the scattering of electrons and improves image quality.3. Sample Loading: Once the chamber is ready, the sample can be loaded into the SEM. The sample holder is carefully inserted into the chamber, ensuring that it is properly aligned and secured.4. Electron Beam Alignment: The next step is to alignthe electron beam. This involves adjusting the beam's focus, astigmatism, and aperture settings to optimize image quality. The beam should be properly centered and focusedon the sample surface.5. Imaging and Analysis: With the sample loaded and beam aligned, the SEM can now be used for imaging and analysis. The electron beam scans across the sample surface, and the resulting signals (secondary electrons, backscattered electrons, etc.) are detected and used to generate an image. The operator can adjust various imaging parameters to enhance contrast and resolution.6. Data Interpretation: Once the images are obtained, they need to be interpreted and analyzed. This may involve measuring dimensions, identifying features, or comparing samples. Specialized software can be used to analyze the data and extract quantitative information.7. Maintenance and Cleaning: After the analysis is complete, it is important to properly shut down and clean the SEM. This includes venting the chamber, removing the sample, and cleaning any contamination that may have accumulated during the operation.中文回答：环境扫描电镜（SEM）是一种用于研究材料表面形态和成分的强大工具。

扫描电镜SEM样品制备

主要优点：景深长，所获得的图像立体感强，可用来观察生物样品的各种形貌特征。
二、实验用品
1. 材料
2.
植物的的根、茎、叶或动物的脏器等。
3. 2. 试剂
4.
丙酮、乙醇、2％戊二醛溶液、1％锇酸、
磷酸缓冲液、醋酸异戊酯、液体二氧化碳、导
电胶等。
5. 3. 器材
6.
扫描电镜、临界点干燥法、真空喷镀仪、
6. 样品的干燥
常规临界点干燥法。
临界点干燥法
• 临界点干燥法是一种消除了物相界面(液相／气相)，也就是消除了表面张力来源的干燥方法。这种方法由于没有表面张力的影响，所以样品不易收缩和损伤。具体处理步骤如下：
• 装样：将样品从醋酸异戊酯中挑入(或倒入)样品笼中，用滤纸吸去样品笼外围的醋酸异戊酯，然后连笼移入仪器的样品杯(高压容器)内，盖上盖并拧紧以防漏气。(注：在装样前，应先打开仪器电源，将温度调节设定在0℃处预冷 10～15min，以保证液态二氧化碳有足够量进入样品杯中)。
• 排气：在保持温度不变的条件下(即不关电源)，打开流量计的排气阀门，以1.0～1.51／min的速度排气(速度慢些更好)。约经45～60min后，排气完毕，样品杯的压力下降到零，将温度调节至室温约5rain后，即可取出样品装台镀膜(若不能立即装台，应置于干燥器内保存)。
临界点干燥操作时的注意事项： • 在样品放进样品杯前，样品杯应预先冷却至0～10℃。 • 样品不宜过湿，但也不能让其表面干涸，应在半干半湿时
离子溅射镀膜法:
在低真空中进行辉光放电时，由于离子冲击，阴极金属物质有飞溅现象称为溅射。利用离子溅射仪对样品进行金属镀膜的方法，称为溅射镀膜法。溅射镀膜法的装置很简单，主要由真空部分(真空泵)和溅射部分(真空罩)组成，在真空罩内装有阴极和阳极，阴极对着阳极的一面装有用于溅射用的金属靶(黄金靶、铂靶、白金靶或钯靶等)，样品放在阳极的样品座上面。当真空罩内的真空度抽到10～ 1Pa时，在阴极与阳极之间加上1000～3000V的直流电压，两极之间产生弧光放电的电场。在电场的作用下，罩内残余的气体分子被电离为正离子和电子，正离子被阴极吸引轰击金属靶，激发出金属颗粒和电子，并被阳极吸引附着在样品表面而形成金属导电膜。

sem制样方法及注意事项

sem制样方法及注意事项以SEM制样方法及注意事项为标题，我将介绍SEM制样方法的基本原理和操作步骤，并提供一些在实践中需要注意的事项。

SEM（扫描电子显微镜）是一种常用的表面形貌观察和分析技术，可以在纳米至微米尺度下观察样品的形貌和结构。

SEM制样是实施SEM观察的前提，它的目的是将样品制备成适合SEM观察的形式。

一、SEM制样方法1. 样品选择：首先需要确定要观察的样品类型，包括材料、形状、尺寸等。

不同样品可能需要不同的制样方法。

2. 样品固定：根据样品的特性和尺寸，选择合适的固定方法。

常见的固定方法包括化学固定、机械固定和冷冻固定等。

3. 前处理：根据需要，对样品进行预处理，如去除杂质、修整表面等。

这一步骤可以改善SEM观察的效果。

4. 制备导电层：由于SEM需要对样品进行电子束照射，所以样品表面需要制备导电层以避免电荷积累。

常用的导电层材料有金属薄膜、碳薄膜和导电胶等。

5. 制备薄片：将样品制备成适合SEM观察的薄片。

常用的制备方法有机械剥离、切割、研磨和离心等。

制备薄片的目的是获得样品的横截面或断面信息。

6. 脱水和干燥：对于水溶性样品，需要进行脱水处理以避免SEM 观察时的水蒸气干扰。

常用的脱水方法有自然蒸发、冷冻干燥和真空脱水等。

7. 导入SEM：将制备好的样品放入SEM中进行观察。

在导入过程中要注意样品的定位和对焦，以确保观察的准确性和清晰度。

二、SEM制样注意事项1. 样品处理时要注意避免污染和损坏。

使用无尘室或洁净台进行制样操作，避免灰尘和其它杂质的污染。

对于易损样品，要采取适当的操作方法和保护措施。

2. 制备导电层时要注意均匀涂覆和适当厚度。

导电层的均匀性和良好的导电性能对于SEM观察结果的准确性和清晰度非常重要。

3. 制备薄片时要控制厚度和平整度。

薄片的厚度和平整度对于SEM 观察的分辨率和细节展示有着重要影响。

制备过程中要小心操作，避免样品的破损和变形。

4. 脱水和干燥过程中要避免过度处理。

利用聚焦离子束双束扫描电镜制备透射电镜样品的主要流程

利用聚焦离子束双束扫描电镜制备透射电镜样品的主要流程一、前言透射电镜（Transmission Electron Microscopy, TEM）是一种用于观察物质内部结构和原子级别的技术。

为了制备TEM样品，需要使用聚焦离子束双束扫描电镜（Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope, FIB-SEM）进行切割和处理。

本文将介绍利用FIB-SEM 制备TEM样品的主要流程。

二、样品准备1. 样品制备：首先需要选择合适的样品，通常选择的是薄片或纤维。

将样品固定在金属支架上，并使用导电胶粘贴。

2. 预处理：在进行TEM样品制备之前，需要对样品进行预处理。

这包括去除表面污染物、涂覆保护层等步骤。

三、FIB-SEM操作1. 定位：在FIB-SEM中，首先需要对样品进行定位。

使用扫描电镜观察样品表面，并确定需要切割的位置。

2. 切割：使用离子束在定位好的位置上进行切割。

切割过程中，需要根据所需厚度和形状调整离子束参数，并不断观察切割进度。

3. 清理：完成切割后，需要清理掉切割过程中产生的碎屑。

使用离子束和扫描电镜观察样品表面，并清理掉残留的碎屑。

4. 薄化：在清理完毕后，需要对样品进行薄化处理。

使用离子束在切割过的位置上进行薄化，直到达到所需厚度。

在薄化过程中，需要不断调整离子束参数，并观察样品表面。

5. 制备TEM样品：完成薄化后，需要将样品制备成TEM样品。

这包括使用离子束在薄片上进行打孔、切割等操作，以便将其放入TEM中观察。

四、后续处理1. 清洗：完成TEM样品制备后，需要对其进行清洗处理。

这包括去除导电胶和保护层等步骤。

2. 观察：最后，将TEM样品放入透射电镜中观察。

通过透射电镜可以观察到物质内部结构和原子级别的细节。

五、总结利用FIB-SEM制备TEM样品是一项复杂的工作，需要精密的仪器和操作技巧。

本文介绍了制备TEM样品的主要流程，包括样品准备、FIB-SEM操作和后续处理。

扫描电镜的样品制备

扫描电镜的样品制备
扫描电镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是一种高分辨率的显微镜，对于复杂的样品结构、微观形态和表面形貌的分析非常有用。

然而，要获得良好的扫描电镜显像效果，样品的制备至关重要。

下面将介绍几种常用的扫描电镜样品制备技术。

1. 金属喷涂法
金属喷涂法是扫描电镜样品制备的经典方法。

该方法使用金属喷涂仪将金属颗粒喷在样品表面，使其形成一层均匀、导电性良好的金属膜，以便在扫描电镜中观察样品的表面结构。

该方法适用于非导电样品，如细胞、生物组织、聚合物等。

2. 离子切割法
离子切割法利用离子切割机将样品切割成纤细的薄片，以便于在扫描电镜中观察。

这种方法适用于非常薄的样品，如材料薄片、芯片等。

它可以提供非常高分辨率的图像，并且可以通过纵向切割获得样品的三维结构。

3. 冷冻切片法
冷冻切片法是一种用于生物样品的扫描电镜制备方法。

该方法使用超低温技术将样品冻结，并使用超薄刀片切割成极薄的切片，通常为50~200纳米。

这可以保留样品的水感性和原始形态，并使其在扫描电镜中观察更加清晰。

4. 化学蚀刻法
化学蚀刻法是用于金属样品的扫描电镜制备方法。

该方法使用酸或碱对样品表面进行蚀刻，以去除不需要观察的材料，形成清晰的样品结构。

该方法适用于金属薄膜、晶体和合金等金属材料。

总之，良好的扫描电镜样品制备是获得高品质扫描电镜图像的关键。

每种样品都有其独特的制备方法，为了获得最好的结果，在选择合适的制备方法时需要谨慎选择。

扫描电镜SEM制样步骤

扫描电镜S E M制样步骤-CAL-FENGHAI-(2020YEAR-YICAI)_JINGBIAN扫描电镜观察制样步骤固定：1、用灭菌镊子挑出少量的的样品（碳粒/碳毡）,放入 5ml 的离心管中,2、加入2.5%戊二醛, 加量为淹没碳粒/碳毡样品为宜,室温固定1小时3、置于 4℃冰箱中固定12小时。

冲洗：用 0.2mol pH 7.4的磷酸缓冲溶液冲洗 3 次，每次 10 分钟。

每次冲洗时先用注射器缓慢吸走上一步骤的冲洗液。

Or 离心脱水：分别用浓度为30%， 50%，75%，90%, 95%, 100% v/v 的乙醇进行脱水，每次10分钟，干燥：将样品放在离心管里，置入干燥器中干燥 12 小时。

粘样：用双面胶将样品观察面向上粘贴在扫描电镜铜板上预处理好的样品放入干净离心管中待检。

SEM上机测样--测定条件参数设置分子克隆实验指南第三版，1568页：25度下0.1mol/L磷酸钾缓冲液的配制；先配0.1mol/L K2HPO4，0.1mol/L KH2PO4配PH7.4，100ml磷酸钾缓冲液需：0.1mol/L K2HPO4，80.2ml0.1mol/L KH2PO4，19.8ml混合即是，不用酸碱调PH。

参考文献：DOI:?10.1021/es902165yMicrobial fuel cell?based on Klebsiella pneumoniae biofilmSelecting?anode-respiring bacteria based on?anode?potential: phylogenetic, electrochemical, and?microscopic?characterizationA severe reduction in the cytochrome C content of?Geobacter sulfurreducens?eliminates its capacity for extracellular electron transfer2。

sem生物样品制备步骤

sem生物样品制备步骤
SEM（扫描电子显微镜）是一种高分辨率的显微镜，常用于观察生物样品的微观结构。

生物样品制备是SEM观察的关键步骤之一，以下是一般的生物样品制备步骤：
1. 固定样品，首先，生物样品需要被固定以保持其原始结构。

常用的固定剂包括乙醛、戊二醛或glutaraldehyde等。

固定样品的方法可以根据具体的样品类型而有所不同。

2. 脱水，固定后的样品需要被脱水以去除水分，通常使用酒精逐渐替代水分。

这个过程需要逐渐提高酒精浓度，最终将样品置于无水酒精中。

3. 干燥，脱水后的样品需要被干燥以去除残留的溶剂。

常用的干燥方法包括自然干燥、临界点干燥或者冻干等。

4. 样品制备，干燥后的样品需要被切割、切片或者表面处理以展示所需的结构。

这可能涉及到金属喷镀以增加导电性，或者使用特殊的切割技术。

以上是一般的SEM生物样品制备步骤，不同类型的生物样品可能需要特定的处理步骤。

在进行SEM观察之前，样品制备的质量对于最终观察结果至关重要。

希望这些信息能够帮助到你。

扫描电镜实验报告

扫描电镜实验报告一、背景介绍扫描电镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是一种常用于观察材料表面形貌的高分辨率显微镜。

与光学显微镜不同，SEM使用电子束来对样品进行扫描，从而获得样品表面的高清晰度图像。

本文将对扫描电镜实验进行详细描述和分析。

二、实验目的本次实验的目的是研究和观察不同样品的表面形貌及其微观结构。

通过使用扫描电镜，我们可以进一步了解材料的性质和特征，并为后续的研究工作提供有力的支持。

三、实验步骤1. 样品制备：将待观察的样品进行必要的处理，例如切割、研磨、涂覆导电剂等，以保证样品的表面光滑且导电性良好。

2. 装备样品：将处理完成的样品放置在SEM样品台上，固定好并调整角度，确保样品表面垂直于电子束的入射方向。

3. 调整参数：根据不同样品的特性和需求，调整加速电压、放大倍数、探头电流等参数，以获得最佳的图像质量。

4. 扫描观察：打开SEM仪器，开始对样品进行扫描观察。

电子束在样品表面扫描时，与样品表面相互作用，产生二次电子信号，这些信号被探测器接收并转换成图像。

四、实验结果与分析在本次实验中，我们观察了不同样品的表面结构，并获得了一系列高分辨率的SEM图像。

以一块常见的金属材料——铝为例，通过SEM观察，我们可以清晰地看到铝表面的微观结构。

观察结果显示，铝表面呈现出许多沟槽和凸起的特征，这些特征是铝晶粒的显著标记。

SEM图像还揭示了铝表面的晶粒大小和分布情况，有助于我们进一步研究金属的力学性质和形变行为。

同样，我们还观察了纳米颗粒的表面形貌。

SEM图像显示，纳米颗粒具有较大的表面积和丰富的形态结构，这使得纳米颗粒在催化剂、材料科学等领域有着广泛的应用价值。

通过SEM观察，我们可以研究纳米颗粒的大小分布、形状特征以及粒子间的相互作用，为相关研究提供了重要的依据。

五、实验的意义与应用前景扫描电镜作为一种重要的表征工具，在材料科学、生物学、纳米技术等领域具有广泛的应用和重要意义。

扫描电镜胶体金实验步骤

扫描电镜胶体金实验步骤扫描电镜（Scanning Electron Microscope, SEM）是一种常用的高分辨率显微镜，可用于观察样品表面的形貌和微观结构。

胶体金是一种常用的探针，可用于增强扫描电镜中的样品表面信号。

下面是一种扫描电镜胶体金实验的步骤：1. 准备样品：选择所需观察的样品，并进行固定和制备。

固定样品的方法因样品的性质而异，可以使用化学固定（如用福尔马林固定生物样品）或物理固定（如用冷冻固定保留样品中的结构）等方法。

制备样品包括将样品切割成适当尺寸，通常在1x1 cm的方形抛光样品盘上固定。

2.抛光样品：使用一系列研磨纸（从较粗砂纸到较细砂纸）和抛光嵌脂片，将样品抛光至光滑平整。

抛光的目的是去除样品表面的凹凸和粗糙部分，以便获得更清晰的图像。

3.制备胶体金：取一小量胶体金溶液，并进行适当的稀释。

稀释的目的是使胶体金颗粒分散均匀，并降低胶体金对样品表面的覆盖程度，以便获得更高的图像对比度。

4.涂覆胶体金：将制备好的胶体金溶液滴于样品表面，并等待一段时间，通常为5-10分钟。

胶体金颗粒会在样品表面吸附，并形成一层较为均匀的覆盖层。

过长或过短的时间都可能导致胶体金覆盖量的不均匀。

5.冲洗样品：将涂覆了胶体金的样品轻轻地冲洗干净，以去除未被吸附的胶体金颗粒。

此步骤旨在使胶体金颗粒仅留在样品表面，增加信号对比度。

6.干燥样品：将样品在环境温度下静置，使其自然干燥。

可以使用氮气吹干或真空冷冻干燥器加速干燥过程。

注意尽量避免过渡干燥的情况，以免导致胶体金颗粒脱落。

7.导入扫描电镜：将干燥的样品安置在扫描电镜的样品台上，并通过样品台的固定装置将其固定。

确保样品与电子束的对准正确，以获得清晰的图像。

8.调整参数：根据样品的特性和所需的分辨率，调整扫描电镜的参数，如加速电压和探针电流等。

一般来说，加速电压越高，分辨率越好，但也容易导致样品损伤。

探针电流的选择要根据样品的性质和信号强度等因素来确定。

细胞扫描电镜样品制备流程

细胞扫描电镜样品制备流程下载温馨提示:该文档是我店铺精心编制而成，希望大家下载以后，能够帮助大家解决实际的问题。

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扫描电镜操作规程

扫描电镜操作规程扫描电镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是一种将电子束聚焦在样品表面，通过扫描方式来获得样品高分辨率3D表面形貌和成分信息的仪器。

为了确保SEM操作的有效性和安全性，以下是SEM操作规程。

一、设备准备：1.认真阅读并了解SEM操作说明和安全规范。

2.检查SEM主机和附件是否处于正常工作状态，包括真空度、电源和冷却系统。

3.确保SEM试样台和样品夹具是干净的，无油污和灰尘。

二、样品处理：1.样品制备前，需要了解样品性质和要求，选择合适的样品制备方法。

2.对于生物样品，应优先使用冷冻切片等方法固定样品形态，以避免形变。

3. 样品尺寸应适合SEM观察，常规样品尺寸为10mm×10mm。

三、真空系统操作：1.打开SEM干净室门前，请先关闭室门内的LED灯进行暗室操作。

2.打开真空系统电源，并调节抽真空系统排气阀门，观察真空度是否达到工作要求。

若真空泄漏现象，请通知维修人员。

3.室外样品台安装完成后，请确保样品台和附件干净，并将样品固定到样品夹具上。

4.朝样品夹具上的固体样品均匀喷涂金属薄层来提高导电性。

四、SEM主机操作：1.打开SEM主机电源开关，仪器会进行自检程序，确认系统启动正常后才能进行操作。

2.将SEM控制软件打开，并加载上一次使用的配置文件，确认加热丝和工作功能正常。

3.调节电子枪电流和加速电压，以达到最佳分辨率和清晰度。

4.运用选择二级电子或回散二级电子来实现图像形成，根据具体需求调整像素率和扫描速度。

五、SEM样品观察：1.在获得清晰的样品图像之前，调整样品和悬臂梁的位置，以保证电子束准确的投射到样品表面。

2.调节电子束扫描范围、分辨率和时间，以获得高质量的SEM图像。

六、SEM样品操作结束：1.操作完成后，关闭SEM主机电源开关和控制软件。

2.关闭系统真空排气阀门，并观察真空泵的运行情况，确保真空度恢复正常。

3.清理和保养SEM主机和附件，如清除样品夹具上的残留物。

sem制样方法及注意事项

sem制样方法及注意事项SEM(扫描电子显微镜)是一种常用的表征和分析材料表面形貌和结构的高分辨率显微镜。

在SEM制样过程中，样品的制备方法和注意事项是非常重要的，直接关系到SEM观察结果的准确性和可靠性。

一、SEM制样方法1. 样品的制备：首先，需要选择合适的样品进行制备。

常见的样品包括金属、陶瓷、聚合物、生物材料等。

对于不同类型的样品，制备方法也有所不同。

一般来说，样品需要进行切割、打磨、抛光等处理，以获得光滑的表面。

对于生物样品，还需要进行固定、脱水、干燥等处理。

2. 真空处理：SEM操作需要在真空环境中进行，因此在制样过程中需要对样品进行真空处理。

这可以通过将样品放入真空室中，然后抽取空气，以确保SEM观察时不会受到气体干扰。

3. 导电涂层：SEM观察需要样品具有良好的导电性，因此对于非导电样品，需要进行导电涂层。

常用的导电涂层材料有金、铂、碳等。

涂层方法可以通过溅射、蒸镀等技术进行。

4. 操作参数调整：在SEM观察之前，需要根据样品的特性和观察目的调整SEM的操作参数。

包括加速电压、放大倍数、探针电流等。

这些参数的选择需要根据样品的性质和所需的分辨率来确定。

二、SEM制样注意事项1. 样品的选择：样品的选择要考虑样品的性质和目的。

对于非导电样品，需要进行导电涂层处理；对于易挥发性样品，需要进行冷冻固化等特殊处理。

2. 制备过程中的污染：在制备样品的过程中，要注意避免污染的引入。

尽量避免手指接触样品表面，使用洁净的工具和实验室条件进行操作。

3. 制备的均匀性：样品的制备要保证表面的均匀性，以避免观察结果的误差。

在导电涂层过程中，要保证涂层的均匀性和厚度的一致性。

4. 真空处理的时间：在将样品放入SEM中进行观察之前，需要进行真空处理。

真空的抽取时间要足够，以确保SEM观察时不会受到气体的干扰。

5. 操作参数的选择：SEM的操作参数对于观察结果的准确性和分辨率有很大影响。

在选择参数时，要根据样品的特性和观察目的进行调整，以获得最佳的观察效果。

扫描电镜制样步骤(样品小于1cm

扫描电镜制样步骤
生物样品（如动植物、细胞）需进行1-7步骤的操作（耗时长）
干燥的非导电样品（如花粉、制剂粉末、塑料等）无需进行1-5步骤操作而粘于样品台喷金再于电镜观察即可
导电样品（如金属样品）直接粘于样品台电镜观察，无需1-7步
注：取材时所需2.5%戊二醛溶液、0.1M PH7.0磷酸盐缓冲液需自行配置，配方详见《电镜固定液、缓冲液、染液配方》
送样前请先与我们联系以安排时间在我处制样。

生物样品制样耗时，请安排好个人时间
生物样品（小于1cm3）于2.5%戊二醛溶液4℃固定过夜，再按下列步骤操作：
1、漂洗：弃去戊二醛固定液，用0.1M PH7.0磷酸盐缓冲液漂洗3次，每次15min
2、1%饿酸固定1-2h（通风厨操作）
3、漂洗：弃去饿酸固定液，用0.1M PH7.0磷酸盐缓冲液漂洗3次，每次15min
4、梯度洗脱：50%、70%、80%、90%、95%系列浓度的乙醇溶液梯度脱水各15min，
再用100%的乙醇脱水2次每次20min
注：样品较大延长脱水时间
5、乙醇：醋酸异戊酯=1:1（V:V）处理30min，再用纯醋酸异戊酯处理1-2h
注：通风厨操作
相容性较差，需用醋酸异戊酯置换
乙醇、丙酮等脱水剂与CO
2
6、自然干燥/临界点干燥（英国EMTIECH K850）
7、日立E1010型离子溅射仪喷金30s，利用导电碳胶将样品固定于样品台，调节样品台高度，
8、日立S-3000N扫描电镜观察。

sem实验流程

sem实验流程全文共四篇示例，供读者参考第一篇示例：SEM（扫描电子显微镜）是一种高分辨率的显微镜，能够观察微小物质的表面形貌和结构。

SEM实验是科研人员在进行材料科学、生物学、地质学等领域研究时常常使用的一种技术手段，能够帮助研究者深入了解样品的微观结构和表面特征。

SEM实验的流程一般包括样品制备、仪器操作、数据采集和结果分析等多个步骤。

下面我们将详细介绍SEM实验的流程。

1. 样品制备：SEM实验的第一步是样品制备。

在进行SEM观察时，样品应该具有一定的导电性，通常需要在样品表面涂覆一层导电薄膜，以减少电荷堆积对成像质量的影响。

在制备样品时，还需要注意避免空气中的微尘粒子附着在样品表面，影响成像效果。

2. 仪器操作：样品制备完成后，将样品安装在SEM仪器内，通过调节仪器参数，如电压、电流、放大倍数等，选择合适的工作模式和成像模式。

在进行成像时，需要注意调整焦距和对焦，以获得清晰的图像。

3. 数据采集：SEM成像可以产生大量的数据，包括图像、能谱等信息。

在进行数据采集时，需要注意选择合适的成像参数和采集条件，以获得高质量的数据。

在采集能谱数据时，还需要对样品进行点选，以获取不同位置的元素分布情况。

4. 结果分析：SEM实验得到的数据可以通过图像处理软件进行分析和处理，以提取有用的信息。

通过分析SEM图像，可以获得样品的表面形貌、晶体结构、微观结构等特征。

还可以利用能谱数据进行元素分析，了解样品的化学成分。

通过对结果的分析，可以深入理解样品的性质和特点。

SEM实验是一种强大的工具，能够帮助科研人员研究材料的微观结构和表面特征。

通过严谨的实验流程和合理的数据处理，可以获得准确的结果，为科学研究提供重要参考。

希望以上关于SEM实验流程的介绍能够对感兴趣的读者有所帮助。

【这里是2000字文本的结尾】。

第二篇示例：SEM（扫描电镜）是一种高分辨率的显微镜检测技术，通过电子束与样品表面交互产生的二次电子图像来观察样品的表面形貌和微结构。

仪器操作流程扫描电子显微镜的样品制备步骤

仪器操作流程扫描电子显微镜的样品制备步骤仪器操作流程扫描电子显微镜的样品制备步骤扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是一种高分辨率的显微镜，广泛应用于材料科学、生命科学、纳米技术等领域中的表面形貌和成分分析。

在使用SEM之前，样品的制备步骤十分重要，本文将介绍扫描电子显微镜样品制备的流程。

步骤一：样品选择和切割首先，根据实验需求选择合适的样品。

样品可以是均匀材料的薄片，也可以是复杂材料的小块或碎片。

对于均匀材料，可以使用切割机或者砂轮切割机将样品切割成适当大小的薄片。

对于复杂材料，可以使用砂纸和十字锯来切割。

切割时要注意选择合适的切割液、切割速度和切割角度，以避免样品损坏和变形。

步骤二：样品固定将切割好的样品放入合适的试管或者样品架中，使用合适的固定剂将样品固定。

常用的固定剂有蜡、树脂和聚合物等。

固定剂的选择要根据样品的性质和实验需求来确定。

对于坚硬的材料，可以使用聚合物来固定，对于易破碎的材料，可以使用蜡或树脂来固定。

步骤三：样品研磨和抛光为了获得平滑的样品表面，需要对样品进行研磨和抛光。

首先，使用粗砂纸或者砂轮对样品进行研磨，去除表面的粗糙度和切割痕迹。

然后，使用逐渐细化的砂纸或研磨液对样品进行抛光，直到获得所需的光洁度和平整度。

在抛光过程中，要注意使用合适的抛光液和抛光时间，避免过度抛光导致样品表面变形或者损坏。

步骤四：样品清洁抛光完成后，需要对样品进行清洁，以去除表面的杂质和污染物。

首先，使用去离子水或酒精将样品浸泡，去除表面的油脂和有机物。

然后，使用超声波清洗仪将样品进行超声波清洗，以去除较为顽固的污染物。

最后，用去离子水将样品冲洗干净，并用氮气吹干。

步骤五：导电涂层扫描电子显微镜需要样品具有良好的导电性能，因此需要对样品进行导电涂层。

常用的导电涂层材料有金、铂、银和碳等。

涂层可以使用喷雾法、溅射法或者真空蒸镀法来完成。

涂层过程中要注意涂层均匀度和厚度的控制，以确保样品的导电性能和显微观察效果。

SEM样品制备

镀膜技术
（1）真空镀膜：将金属丝或碳棒在高真空下通过大电流加热蒸发，沉积在样品表面。
（2）离子溅射：气体电离，离子撞击金属靶，使金属原子沉积在样品表面。
（3）离子束镀膜：高能离子束轰击金属或碳靶，使靶材沉积在样品表面。
样品不导电，在电子束连续扫描下，表面会积累负电荷，使样品表面形成一个较强的负电位，这是充电现象。
样品的负电位抵消掉入射电子部分能量，负电位使二次电子发射和运动不稳定，图象畸变，亮度变化无常。导电样品与样品台粘接不好同样也会发生充电现象。
5. 镀膜不导电样品需要镀导电膜。镀膜材料的要求：导电率好；二次电子产率高；常用 Au，Pt 或 Au-Pd C 膜层厚度： 20 ~ 50 nm
二.样品制备方法
1. 块样对于金属、岩矿或无机物，切割成要求的尺寸，粘在样品台上。如果样品数量多，注意样品尺寸最好一致。
微区成分分析样品表面应该平坦或经研磨抛光，可以保证检测时几何条件不变。对于样品的断口面，要选择起伏不大的部位，最好是分析点附近有小的平坦区。样品表面和底面应该平行。
（2）对于亚微米或纳米粉料进行成分分析：利用压片机（红外和荧光均使用）压成结实的薄片。把薄片用双面胶粘在样品台上。
3. 清洁
样品表面附着灰尘、硅酸盐和油污，经过线切割的样品，粘有大量污染物，不易直接分析。
将样品放入酒精或丙酮的容器，超声清洁至少15分钟，若溶液仍污浊，还要重复超声。若要分析C或O等超轻元素，清洁步骤更重要，在上述清洁基础上，再用蒸馏水超声一次。若是铁基材料，尽陶瓷样品制备抛光截面
a) 树脂镶嵌 b) 金属夹板
夹板
螺栓
• 2. 粉样
（1）微米级粉料