材料表征的方法(英语)
材料测试方法英语
材料测试方法英语以下是一些常见的材料测试方法的英文表达：1. Tensile Testing（拉伸测试）：A method of testing the mechanical properties of materials under tension.2. Hardness Testing（硬度测试）：A method of measuring the resistance of a material to indentation or scratching.3. Impact Testing（冲击测试）：A method of testing the ability of a material to absorb energy during sudden loading.4. Fatigue Testing（疲劳测试）：A method of testing the behavior of materials under repeated cyclic loading.5. Non-destructive Testing（无损检测）：A method of testing materials without causing damage to the test specimen.6. Corrosion Testing（腐蚀测试）：A method of testing the resistance of materials to chemical or electrochemical attack.7. Thermal Testing（热测试）：A method of testing the response of materials to heat or temperature changes.8. Microscopy（显微镜检测）：A method of examining materials at a microscopic level to analyze their structure and properties.9. Spectroscopy（光谱学）：A method of analyzing materials by studying the interaction between matter and electromagnetic radiation.10. X-ray Testing（X射线检测）：A method of testing materials using X-ray radiation to evaluate internal structure and defects.。
materials characterization分区 -回复
materials characterization分区-回复材料表征是研究材料性质和结构的一种关键技术。
它主要通过实验手段来分析材料的成分、结构、形态、性质和性能等方面的信息，并通过对实验数据的处理和分析，为材料设计、选择和应用提供重要依据。
本文将从材料表征的定义、分类和主要技术方法等方面一步一步回答。
一、材料表征的定义材料表征是指通过一系列实验手段来研究材料的基本性质和结构的过程。
它可以帮助科学家和工程师了解材料的组成、形态、微观结构以及相互作用等，从而揭示材料的性能和性质等方面的信息。
二、材料表征的分类根据材料表征的目的和研究对象，可以将其分为多个分类。
常见的分类方法包括：1. 成分分析：通过对材料中元素的定性、定量分析，确定材料的成分。
2. 结构表征：通过对材料的晶体结构、纳米结构、晶粒大小等方面进行观察和分析。
3. 形态表征：对材料的形貌、尺寸、孔隙结构等进行表征，了解材料的形态特征。
4. 物性测试：通过对材料的力学性能、电磁性能、热学性能等方面进行测试，揭示材料的性质特征。
三、材料表征的主要技术方法材料表征涉及多种实验手段和技术方法。
下面将介绍一些主要的技术方法：1. X射线衍射（XRD）：用于分析材料的晶体结构和相组成。
2. 扫描电子显微镜（SEM）：通过扫描样品表面，并利用电子束与样品相互作用产生的信号来观察样品形貌和表面特征。
3. 透射电子显微镜（TEM）：用来观察材料的微观结构和纳米尺度的特征。
4. 能谱分析：如能量散射X射线光谱（EDX）和电子能谱（ESCA），用于分析材料的化学成分。
5. 热分析技术：如差示扫描量热法（DSC）和热重分析（TGA），用于研究材料的热性能和热稳定性。
6. 核磁共振（NMR）：用来研究材料中的原子核和其周围的化学环境。
7. 红外光谱（IR）：用于研究材料的分子结构和化学键等方面的信息。
8. 拉曼光谱：用于研究材料的晶格振动和分子振动等。
以上只是一些常见的材料表征技术方法，随着科学技术的发展，新的材料表征方法也在不断涌现。
材料表征方法
有效放大倍数：显微镜能分辨的最小距离放大到人眼能分辨的程度。
1. 加速电压：是指电子枪的阳极相对于阴极的电压，它决定了电子枪发射的电子的 能量和波长。
（四）样品制备方法
▪ 对于材料研究用的TEM试样大致有三种类型：
① 超细粉末颗粒：用超声波分散器将需要观察的 粉末在溶液（不与粉末发生作用的）中分散成 悬浮液。用滴管滴几滴在覆盖有碳加强火棉胶 支持膜的电镜铜网上。待其干燥（或用滤纸吸 干）后，再蒸上一层碳膜，即成为电镜观察用 的粉末样品。
③ 复型膜：用对电子束透明的薄膜把材料 表面或断口的形貌复制下来
（五）透射电子显微镜应用
1. 利用质厚衬度对样品进行一般形貌观察；
2. 利用电子衍射、微区电子衍射，对样品进行 物相分析，从而确定材料的物相、晶系甚至 空间群；
3. 观察晶体中存在的结构缺陷，确定缺陷种类， 估算缺陷密度；
4. 利用TEM所附加的能量色散X射线质谱仪或电 子能量损失谱仪对样品微区元素进行分析；
（一）场离子显微镜的结构
▪ 场离子显微镜结构如图所示，其主要结构为一 玻璃真空容器，平坦的底部内侧涂有荧光粉， 用于显示图像。 被检测样品为阳极（一般为单 晶细丝，顶端曲率半径约为20~200nm的针尖）， 把样品置于高真空的空间中，并固定在容器的 轴线上，在空间中放入成像气体(He、Ne、Ar等) 中。
▪ 间歇式进样系统系统可用于气体、液体 和中等蒸气压的固体样品进样，直接探 针进样对那些在间歇式进样系统的条件 下无法变成气体的固体、热敏性固体及 非挥发性液体试样，可直接引人到离子 源中。
2. 电离系统
▪ 功能是将进样系统引入的气态样品分子转化成 离子。由于离子化所需要的能量随分子不同差 异很大，因此，对于不同的分子应选择不同的 离解方法。
材料表征英语
材料表征英语Materials Characterization in EnglishMaterials characterization is the process of analyzing and understanding the properties and structure of materials at the microscopic and atomic level. This process involves a range of techniques and methods that can be used to examine the physical, chemical, mechanical, and electrical properties of materials. One of the most commonly used techniques for materials characterization is microscopy. This involves using a microscope to examine the surface and internal structure of a material at high magnification. Various types of microscopy can be used, such as scanning electron microscopy (SEM) and transmission electron microscopy (TEM).Another technique used in materials characterization is X-ray diffraction (XRD). This method involves analyzing the diffraction pattern of X-rays that are scattered by a material. This provides information about the crystal structure and composition of the material.Other techniques used in materials characterization include thermal analysis, which examines how a material responds to changes in temperature, and spectroscopy, which analyzes the interaction of materials with light.Materials characterization is essential in various fields, such as materials science, engineering, and physics. It helps researchers understand the properties and behavior of materials, which can be used to develop new and better materials for various applications.。
材料表征方法名词
材料表征方法名词以下是常见的材料表征方法名词：1. X射线衍射（X-ray diffraction，XRD）：利用X射线的衍射原理来分析材料的晶体结构、晶体相、晶体缺陷等。
2. 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）：通过使用电子束来照射样品表面并收集其反射电子来观察材料的形貌、表面形态、粒径等。
3. 透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）：利用透射电子来观察材料的微观结构，例如晶体结构、晶格缺陷、晶界、原子尺度的成分分析等。
4. 傅里叶变换红外光谱（Fourier Transform Infrared spectroscopy，FTIR）：利用材料对红外辐射的吸收和散射来分析材料的化学组成、分子结构等。
5. 热重分析（Thermogravimetric Analysis，TGA）：通过在控制升温条件下测量材料质量的变化来分析材料的热稳定性、热分解特性等。
6. 原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）：利用探针与样品表面之间的相互作用力来观察材料的表面形态、表面粗糙度、力学性能等。
7. 核磁共振（Nuclear Magnetic Resonance，NMR）：利用材料中的原子核在外磁场作用下的共振吸收来分析材料的分子结构、组成等。
8. 拉曼光谱（Raman Spectroscopy）：利用材料对激光的散射来分析材料的分子振动、晶体结构、材料性能等。
9. 等离子体质谱（Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry，ICP-MS）：通过将样品化合物转化为离子并通过质谱仪测量其质量-电荷比来分析材料中的元素组成、含量等。
10. X射线光电子能谱（X-ray Photoelectron Spectroscopy，XPS）：利用材料表面电子对X射线的光电离来分析材料表面的成分、化学态等。
materials characterization分区 -回复
materials characterization分区-回复在材料科学和工程领域中，材料表征是一个关键的研究领域，它涉及到对材料进行详细的分析和评估，以了解其性质、结构和性能。
材料表征的目的是为了帮助工程师和科学家们更好地理解材料，并为材料设计和制备提供必要的依据。
在本篇文章中，我们将逐步回答关于材料表征的问题，从概念和方法到技术和应用。
第一步：什么是材料表征？材料表征是指通过各种技术和方法对材料进行分析和评估的过程。
这些技术和方法可以用来观察、测量和描述材料的结构、形貌、成分、物理性质和化学性质等。
它们可以揭示材料的微观和宏观特性，从而帮助我们理解材料的性能和行为。
第二步：为什么需要进行材料表征？材料表征对于材料科学和工程的发展至关重要。
了解材料的性质和行为有助于我们设计和制备更好的材料，并优化其性能。
通过材料表征，我们可以确定材料的物理性质、力学性能、热性能、电学性能、光学性能等，从而指导我们在各种应用领域中的材料选择和设计。
第三步：材料表征的方法和技术有哪些？材料表征涉及各种不同的方法和技术，以下是一些常用的材料表征技术：1. 光学显微镜和电子显微镜：用于观察材料的微观结构和形貌。
2. X射线衍射：用于分析材料的晶体结构和晶格参数。
3. 扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）：用于观察材料的结构和形貌，并提供高分辨率的图像。
4. 能量散射X射线光谱（EDX）和电子能谱（ESCA）：用于分析材料的化学成分和元素分布。
5. X射线荧光光谱：用于定量分析材料中的元素含量。
6. 红外光谱（IR）和拉曼光谱：用于分析材料的分子结构和化学键。
7. 热重分析（TGA）和差示扫描量热分析（DSC）：用于研究材料的热性能和热稳定性。
8. 磁性测试和电性测试：用于评估材料的磁性和电性能。
第四步：材料表征在哪些领域中有应用？材料表征在许多不同的领域中都有广泛的应用，包括但不限于以下几个方面：1. 材料研究和开发：通过材料表征，研究人员可以了解材料的结构和性能，指导新材料的设计和开发。
常用的材料表征手段及方法
常用的材料表征手段及方法
一、常用的材料表征手段及方法
1、电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）：利用电子束扫描样品表面，产生高放大倍数的图像，研究材料表面形貌结构及其细节特征，可以分析出材料表面的厚度、形貌、角度等。
2、X射线衍射（X-ray Diffraction，XRD）：利用X射线以一定角度射向样品，检测其衍射的现象，从而分析样品的结构及其组成。
3、热重分析（Thermal Analysis）：分析材料在温度变化过程中物质的重量变化，从而推断材料的性质变化，或者判定材料过程中发生的反应。
4、拉伸测试（Tensile Test）：拉伸测试是检测材料力学性能的主要手段，拉伸力的大小可以反映出材料的强度和延伸率等特性。
5、硬度测试（Hardness Test）：硬度测试是对材料的耐磨性和硬度的检测，通过摩擦和冲击计测量材料的硬度，从而评估材料的抗磨损性能。
6、热膨胀测试（Thermal Expansion Test）：热膨胀测试是检测材料对温度变化的反应，通过测量材料在不同温度下的体积变化，从而判断材料的热膨胀性能。
7、真空测试（Vacuum Test）：真空测试是检测材料密封性能的主要手段，将材料放入真空环境中，测量材料的密封性能，从而判
断材料的使用寿命。
材料表征技术
21
Thank you for your attention!
22
11
Part 3. Indexing a twinning DP
12
Indexing steps
2. Index the DP of matrix and calculate the crystal zone axis of matrix (uvw)M
3. Calculate the crystal zone axis of twin (utvtwt) using the following equations:
2
f j cos j f j sin j j 1 j 1
n n
2
2
Lattice type
Primitive
For b. c. c.， (100), (210), (003), (320), …Forbidden For f. c. c.， (100), (110), (210), (211), (300), …Forbidden
A O
C B
9
Part 3. Indexing a twinning DP
Twinning plane (hkl) Twinning axis [HKL]
10
Part 3. Indexing a twinning DP
Distinguish the diffraction spots of matrix from DP at the very first!
For fcc and bcc structure
13
Indexing steps
4. Calculate every possible twinning DP with (utvtwt) using crystal zone axis law.
纳米材料的表征方法与技巧
纳米材料的表征方法与技巧纳米材料是一种具有特殊尺寸和结构的材料，其尺寸在纳米级别（10^-9米）范围内。
由于纳米材料具有独特的物理、化学和力学特性，因此对其进行准确的表征是非常重要的。
本文将介绍几种常用的纳米材料表征方法与技巧，以帮助读者更好地了解和研究纳米材料。
1. 扫描电镜（SEM）扫描电镜（Scanning Electron Microscopy，SEM）是一种常用的表征纳米材料形貌和表面形态的方法。
SEM利用电子束照射样品，然后测量样品放出的次级电子、反射电子或散射电子，通过扫描样品的表面，获得高分辨率的表面形貌信息。
SEM能够对纳米材料进行直接观察和分析，可以得到材料的形貌、尺寸、结构以及表面粗糙度等信息。
2. 透射电子显微镜（TEM）透射电子显微镜（Transmission Electron Microscopy，TEM）是一种用于观察纳米材料内部结构的高分辨率技术。
TEM利用电子束通过样品的方式，然后测量透射电子的强度，从而获得材料的原子级别结构和晶格信息。
TEM对于研究纳米材料的晶体结构、晶粒尺寸和界面特性等方面具有很高的分辨率和灵敏度。
3. X射线衍射（XRD）X射线衍射（X-ray Diffraction，XRD）是一种用于分析纳米材料结晶性质的重要手段。
通过照射样品表面的X射线，通过分析和测量样品对X射线的衍射图样，可以确定样品的晶体结构、晶体相对应的晶格参数以及晶粒尺寸等信息。
XRD对于研究纳米材料的晶体结构和晶体相变等方面具有很高的准确性和可靠性。
4. 傅里叶变换红外光谱（FTIR）傅里叶变换红外光谱（Fourier Transform Infrared Spectroscopy，FTIR）是一种用于表征纳米材料的化学组成和官能团的方法。
通过测量样品在红外区域的吸收和散射光谱，可以确定样品中存在的化学键和官能团类型，并帮助研究者了解纳米材料的结构和表面性质。
FTIR对于研究纳米材料的化学组成、官能团修饰以及材料与其他物质之间的相互作用具有重要意义。
表征方法及其英文表示方法
Scanning Electron Microscopy SEM 扫描电镜法Transmission Electron Microscopy TEM 透射电镜法X-Ray Diffraction XRD X-射线衍射Scanning Tunneling Microscopy STM 扫描隧道显微镜Scanning TEM STEM 扫描透射电镜法Extended X-Ray Absorption Fine Structure Spectroscopy EXAFS 广延Ｘ-射线吸收精细结构谱X-Ray Absorption Near Edge Structure XANES X-射线吸收近边结构谱Electron Diffraction LEED 电子衍射Porosity Measurements 孔隙度测量BET Measurements BET法Nuclear Magnetic Resonance NMR 核磁共振法X-ray Photoemission Spectroscopy XPS X-射线光电子能谱Ion Scattering Spectroscopy ISS离子散射光谱Secondary Ion Mass Spectroscopy SIMS二次离子质谱法Ultraviolet Photoemission Spectroscopy UPS紫外光电子能谱Infrared Spectroscopy IR 红外光谱Diffuse Reflectance Infrared Spectroscopy漫反DRIFTS射红外光谱Raman Spectroscopy拉曼光谱法Sum Frequency Spectroscopy SFG和频光谱High Resolution Electron Energy Loss Spectroscopy HREELS高分辨电子能量损失谱Electron Spin Resonance ESR电子自旋共振Temperature Programmed Desorption TPD程序升温脱附Gas Chromatography GC气相色谱法Mass Spectroscopy MS质谱法Ion-Molecule-Reaction Mass Spectroscopy IMR-MS离子分子质谱法Temperature Programmed Reaction TPR程序升温反应Mossbauer Spectroscopy穆斯堡尔谱Energy Dispersive analysis of X-rays EDX X-射线的色散能量分析法Thermogravimetry TGA 热重分析法Differential Thermal Analysis DTA 差热分析法。
无机材料的制备与表征方法
无机材料的制备与表征方法无机材料是指在化学成分上不包含碳元素的材料，广泛应用于电子、光电子、能源、医药等领域。
无机材料的制备与表征方法是研究无机材料的重要基础，本文将介绍一些常见的无机材料制备与表征方法。
一、无机材料的制备方法1. 溶液法：溶液法是一种常见的无机材料制备方法。
通过将金属盐或金属氧化物溶解在溶剂中，再通过溶液中的化学反应或物理过程，使溶液中的金属离子或金属氧化物发生沉淀或结晶，得到所需的无机材料。
溶液法制备的无机材料具有纯度高、晶体尺寸可控等优点。
2. 气相法：气相法是一种通过气体反应制备无机材料的方法。
常见的气相法有化学气相沉积法（CVD）、物理气相沉积法（PVD）等。
在气相法中，通过将气体反应物引入反应室中，通过热解、氧化还原等反应，使气体反应物在反应室中沉积或结晶形成所需的无机材料。
3. 固相法：固相法是一种通过固体反应制备无机材料的方法。
常见的固相法有固相烧结法、固相反应法等。
在固相法中，通过将反应物粉末混合均匀，然后在高温条件下进行烧结或反应，使反应物发生化学反应，生成所需的无机材料。
二、无机材料的表征方法1. X射线衍射（XRD）：XRD是一种常用的无机材料表征方法。
通过照射样品的X射线，利用样品中晶体的衍射现象，测定样品的晶体结构、晶体尺寸、晶体缺陷等信息。
XRD可以帮助研究人员确定无机材料的晶体结构和相变行为，对材料的性能和应用具有重要意义。
2. 扫描电子显微镜（SEM）：SEM是一种常见的无机材料表征方法。
通过扫描电子束照射样品表面，利用样品表面反射、散射的电子信号，观察样品的形貌、表面形态等信息。
SEM可以提供高分辨率的图像，对材料的表面形貌和微观结构进行观察和分析。
3. 透射电子显微镜（TEM）：TEM是一种高分辨率的无机材料表征方法。
通过透射电子束照射样品，观察样品的透射电子图像，可以获得材料的晶格结构、晶体缺陷、晶体尺寸等信息。
TEM具有高分辨率和高灵敏度的优点，对材料的微观结构和性能研究具有重要意义。
tpr表征手段
tpr表征手段摘要：1.TPR 表征手段的定义和作用2.TPR 表征手段的具体内容3.TPR 表征手段的应用领域和优势4.TPR 表征手段的发展前景正文：1.TPR 表征手段的定义和作用TPR（Thermoplastic Polyurethane）表征手段，即热塑性聚氨酯表征方法，是一种用于材料性能评价的重要技术。
TPR 表征手段通过对材料的力学性能、耐磨性能、耐化学性能等进行全面评估，从而为材料选择、应用领域及优化设计提供科学依据。
2.TPR 表征手段的具体内容TPR 表征手段主要包括以下几个方面：（1）硬度：硬度是衡量材料局部抵抗硬物压入其表面的能力，常用的硬度测试方法有邵氏硬度和布氏硬度。
（2）拉伸性能：拉伸性能是衡量材料在拉伸过程中的性能，包括拉伸强度、伸长率和断裂伸长率等。
（3）耐磨性能：耐磨性能是衡量材料抵抗磨损的能力，常用的耐磨性能测试方法有磨损试验和磨耗试验。
（4）耐化学性能：耐化学性能是衡量材料在特定化学环境下的稳定性，常用的耐化学性能测试方法有浸泡试验和腐蚀试验。
3.TPR 表征手段的应用领域和优势TPR 表征手段广泛应用于塑料、橡胶、涂料、粘合剂等行业，为相关领域的材料研发、生产和应用提供重要支持。
TPR 表征手段的优势主要体现在以下几个方面：（1）全面性：TPR 表征手段涵盖了材料的多种性能指标，能够全面评价材料的性能。
（2）便捷性：TPR 表征手段采用多种试验方法，操作简便，能够快速获得材料性能数据。
（3）实用性：TPR 表征手段能够为材料选择、应用领域及优化设计提供实用建议。
4.TPR 表征手段的发展前景随着科技的发展和材料研究的深入，TPR 表征手段将不断完善和提高，为更多领域的材料研究和应用提供有力支持。
材料表征的方法（英语）
材料表征的方法（英语）材料表征的方法1．Elemental Analysis 元素分析Atomic absorption spectroscopy 原子吸收光谱Auger electron spectroscopy (AES) 俄歇电子能谱Electron probe microanalysis (EPMA) 电子探针微分析Electron spectroscopy for chemical analysis (ESCA) 化学分析电子能谱Energy dispersive spectroscopy (EDS) 能量色散谱Flame photometry 火焰光度法Wavelength dispersive spectroscopy (WDS)X-ray fluorescence X射线荧光2. Molecular and Solid State Analysis 分子与固态分析Chromatography [gas chromatography (GC), size exclusion chromatography (SEC)] 色谱[气相色谱，体积排除色谱] Electron diffraction 电子衍射Electron microscopy [scanning electron microscopy (SEM), transmission electron microscopy (TEM),scanning TEM (STEM)] 电子显微镜Electron spin resonance (ESR) 电子自旋共振Infrared spectroscopy (IR) 红外光谱Mass spectrometry 质谱Mercury porosimetry 压汞法Mossbauer spectroscopy 穆斯堡尔谱Nuclear magnetic resonance (NMR) 核磁共振Neutron diffraction 中子衍射Optical microscopy 光学显微镜Optical rotatory dispersion (ORD) 旋光色散Raman spectroscopy 拉曼光谱Rutherford back scattering (RBS) 卢瑟福背散射Small angle x-ray scattering (SAXS) 小角X射线散射Thermal analysis [differential scanning calorimetry (DSC), thermal gravimetric analysis (TGA), differentialthermal analysis (DTA) temperature desorption spectroscopy (TDS), thermomechanicalanalysis (TMA)] 热分析[差示扫描量热计法，热-重分析，微分热分析，升温脱附，热机械分析]UV spectroscopy 紫外光谱X-ray techniques [x-ray photoelectron spectroscopy (XPS), x-ray diffraction (XRD), x-ray emission,x-ray absorption] X射线技术[x射线光电子能谱，x射线衍射，x 射线发射，x射线吸收]3. Surface Characterization Techniques 表面表征技术Electron energy loss spectroscopy (EELS) 电子能量损失谱Ellipsometry 椭圆偏振术Extended x-ray absorption fine structure (EXAFS) 扩展X射线吸收精细结构Helium (or atom) diffractionLateral (or frictional) force microscopy (LFM) 横向（摩擦）力显微镜Low-energy electron diffraction (LEED) 低能电子衍射Magnetic force microscopy (MFM) 磁力显微镜Near-edge x-ray adsorption fine structure (NEXAFS) 近边X射线吸收精细结构Near field scanning 近场扫描Reflection high-energy electron diffraction (RHEED) 反射高能电子衍射Scanning tunneling microscopy (STM) 扫描隧道显微镜Scanning force microscopy (SFM) 扫描力显微镜Secondary ion mass spectroscopy (SIMS) 二次离子质谱Surface enhanced raman spectroscopy (SERS) 表面增强拉曼光谱Surface extended x-ray adsorption fine structure (SEXAFS) 表面扩展X射线吸收精细结构Surface force apparatus 表面力仪器。
材料表征分析技术常见热分析技术与方法
The measurement of crystallinity
Melting temperature (Tm)
Crystallinity (Xc)
UHMWPE 137.1℃ 65.9 %
UHMWPE-estradiol 136.8 ℃ 65.8 %
exo
DTG / % / min
FT(IR23g0a癈s )cell
tra(n2s3f0e癈r li)ne thercmoonctrooul ple
(a2d3a0p癈ter) thercmoonctrooul ple
thercmoonctrooul ple gas outlet
micro furnace sample
0.0 1.0
120
160
-0.5
110
0.5 140
-1.0
120
100
[1]
0.0
[1] -1.5
100
90
80
[1] 雌二醇.dsu
TG
DSC
70
DTG 温度
60
0
10
20
30
40
50
60
70
80
时间 /min
Administrator 2006-05-23 17:50 主窗口
-2.0 -0.5 80
材料表征分析技术
Material characterization techniques
本课程的主要内容
• 物质结构的分析
– 物质的长程结构
XRD、TEM
• 物相、结晶度、晶粒尺寸……
材料表征教学资料 sem.ppt
The Scanning Electron Microscope (SEM) is a microscope that uses electrons rather than light to form an image. There are many advantages to using the SEM instead of a light
Dr. Di Wu, Nanjing University
3
A Brief Introduction
There are other imaging modes available in the SEM. Specimen current imaging using the intensity of the electrical current induced in the specimen by the illuminating electron beam to produce an image. It can often be used to show subsurface defects. Backscatter imaging uses high energy electrons that emerge nearly 180 degrees from the illuminating beam direction. The backscatter electron yield is a function of the average atomic number of each point on the sample, and thus can give compositional information.
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材料表征的方法
1．Elemental Analysis 元素分析
Atomic absorption spectroscopy 原子吸收光谱
Auger electron spectroscopy (AES) 俄歇电子能谱
Electron probe microanalysis (EPMA) 电子探针微分析
Electron spectroscopy for chemical analysis (ESCA) 化学分析电子能谱
Energy dispersive spectroscopy (EDS) 能量色散谱
Flame photometry 火焰光度法
Wavelength dispersive spectroscopy (WDS)
X-ray fluorescence X射线荧光
2. Molecular and Solid State Analysis 分子与固态分析
Chromatography [gas chromatography (GC), size exclusion chromatography (SEC)] 色谱[气相色谱，体积排除色谱]
Electron diffraction 电子衍射
Electron microscopy [scanning electron microscopy (SEM), transmission electron microscopy (TEM),
scanning TEM (STEM)] 电子显微镜
Electron spin resonance (ESR) 电子自旋共振
Infrared spectroscopy (IR) 红外光谱
Mass spectrometry 质谱
Mercury porosimetry 压汞法
Mossbauer spectroscopy 穆斯堡尔谱
Nuclear magnetic resonance (NMR) 核磁共振
Neutron diffraction 中子衍射
Optical microscopy 光学显微镜
Optical rotatory dispersion (ORD) 旋光色散
Raman spectroscopy 拉曼光谱
Rutherford back scattering (RBS) 卢瑟福背散射
Small angle x-ray scattering (SAXS) 小角X射线散射
Thermal analysis [differential scanning calorimetry (DSC), thermal gravimetric analysis (TGA), differential
thermal analysis (DTA) temperature desorption spectroscopy (TDS), thermomechanical
analysis (TMA)] 热分析[差示扫描量热计法，热-重分析，微分热分析，升温脱附，热机械分析]
UV spectroscopy 紫外光谱
X-ray techniques [x-ray photoelectron spectroscopy (XPS), x-ray diffraction (XRD), x-ray emission,
x-ray absorption] X射线技术[x射线光电子能谱，x射线衍射，x射线发射，x射线吸收]
3. Surface Characterization Techniques 表面表征技术
Electron energy loss spectroscopy (EELS) 电子能量损失谱
Ellipsometry 椭圆偏振术
Extended x-ray absorption fine structure (EXAFS) 扩展X射线吸收精细结构Helium (or atom) diffraction
Lateral (or frictional) force microscopy (LFM) 横向（摩擦）力显微镜
Low-energy electron diffraction (LEED) 低能电子衍射
Magnetic force microscopy (MFM) 磁力显微镜
Near-edge x-ray adsorption fine structure (NEXAFS) 近边X射线吸收精细结构Near field scanning 近场扫描
Reflection high-energy electron diffraction (RHEED) 反射高能电子衍射Scanning tunneling microscopy (STM) 扫描隧道显微镜
Scanning force microscopy (SFM) 扫描力显微镜
Secondary ion mass spectroscopy (SIMS) 二次离子质谱
Surface enhanced raman spectroscopy (SERS) 表面增强拉曼光谱
Surface extended x-ray adsorption fine structure (SEXAFS) 表面扩展X射线吸收精细结构
Surface force apparatus 表面力仪器。