光学显微镜分析

4.2 矿物百分含量的测定 测定方法有面积法——薄片中各矿物所占面积百分比 比，近似等于其体积百分比； 直线法——薄片中各矿物的线长度百分比相当于其体 积百分比； 计点法——统计各矿物在视域中心出现的次数，各矿 物点数的比例与其面积成正比，亦与其体积成正比(点 数的测量由电动计点器完成，该仪器包括机械台和自 动记录器二部分)； 目估法——用一套已知百分比的参比图，直接估计各 矿物的百分比。
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1.2 矿物的颜色与多色性和吸收性 多色性——由于通过晶体的光波振动方向不同，使晶体颜色 发生变化的现象。 吸收性——由于通过晶体的光波振动方向不同，使晶体颜色 浓度发生变化的现象。
二。正交偏光镜间晶体的光学性质 2.1 正交偏光镜的装置及光学特点 装置：上下偏光镜同时使用，并且振动方向相 互垂直（一般与目镜十字丝方向一致）。 光学特点： ①载物台上不放任何矿片或放置均质体和非均 质体⊥OA的切片时，视域是黑暗的； ②载物台上放置非均质体薄片时，由于晶体光 学性质和切片方向不同，将产生消光和干涉现 象。
4.1矿物颗粒大小的测量 显微镜下可借助目镜刻度尺测量矿物颗粒的大小。 目镜刻度尺——嵌在目镜中的有刻度的玻璃片。在 一定长度上刻有100小格，每小格所代表的长度因 物镜的放大倍数不同而异。需用物台微尺来确定。 物台微尺——嵌于玻璃片上的长1mm而分为100小 格的显微尺，每小格长为0.01mm 。 用物台微尺确定目镜刻度尺每小格长度.
偏光显微镜下晶体的光学性质
一.单偏光镜下的晶体光学性质 装置：只用一个偏光镜进行观察，测定。所观察到的现象与普 通显微镜基本相同，只是对晶体某些特有的性质（如多色性、 吸收性等）可显示出特殊显现象。 可观察的内容： （1）矿物的外表特征，如形态、解理等； （2）与矿物对光波的吸收有关的光学性质，如颜色、多色性、 吸收性等； （3）与矿物的折射率有关的光学性质，如突起，糙面，轮廓， 贝克线等。 1.1 晶体的形态 1.晶形：薄片中观察到的晶形，决定于三个因素：晶体的对称 型；晶体形成的物理化学条件；切片方向。