P图 SPC

1、 测量系统的改变（如新的检验人或新的量具 2、 过程性能已恶化 b 低于均值的链或下降链说明存在下列情况之一或全部：
1、 过程性能已改进 2、 测量系统的改好 注：当 np 很小时（5以下），出现低于 P 的链的可能性增加， 因此有必要用长度为8点或更多的点的长链作为不合格 品率降低的标志。 8-1-3-1-3 明显的非随机图形 a 非随机图形例子：明显的趋势；周期性；子组内数据间有 规律的关系等。
选取20～25组样本数，样本大小可以不等，但为了计算控制线方便，各组样本上n应尽量一致。
在实际运用中，当各组容量不超过其平均容量25%时，
五、SPC核心---控制图制作
步骤4：设定不良率控制图的控制界限。
上控制界限(UCLp) = p + 3√[ p ( 1 - p ) / ni ] 下控制界限(LCLp) = p - 3√[ p ( 1 - p ) / ni ]
8-1-4 过程能力解释
计数型数据控制图上的每一点直接表明不符合顾客要求的不合 格品的百分数和比值，这就是对能力的定义
• CMK指数：验证设备能力
CMK = （USL-LSL）/6σCMK 其中σCMK= T为规范的目标值
CMK指数：验证设备能力
方法：收集50~100样品数据，计算σ
作用： 1）重点设备的验收 2）设备保证产品质量的能力 3）重点设备应每年验证一次设备能力
品質至上 持續改善 顧客滿意
9
8-1-3 过程控制用控制图解释： 8-1-3-1 分析数据点，找出不稳定的证据（一个受控的P管制图 中，落在均值两侧的点的数量将几乎相等） 。 8-1-3-1-1 超出控制限的点 a 超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种 或几种： 1、控制限计算错误或描点时描错 。 2、测量系统变化（如：不同的检验员或量具）。 3、过程恶化。 b 低于控制限之下的点，说明存在下列情况的一种或多种： 1、控制限或描点时描错。 2、测量系统已改变或过程性能已改进。 8-1-3-1-2 链 a 出现高于均值的长链或上升链（7点），通常表明存在下列 情况之一或两者。
控 制 图
• 均值和标准差图（X-S图）
σ = S/C4
■ S为样本标准差的均值
■ C4为常数
n. C4
2
0.789
3
0.886
4
0.921
5
0.940
6
0.952
7
0.959
8
0.965
9
0.969
10
0.973
控 制 图
• 四、用计数型数据的控制图
1) P图
数据收集：子组容量大，50到200或更多，大到包含几个不合格品。考虑子组容量大与收 集时间工的均衡，子组容量恒定或变化不超过25%是最方便的。子组数量应包括25或更多
一般情况，各点与均值的距离：大约2/3的描点应落在控制 限的中间1/3的区域内，大约1/3的点落在其外的2/3的区域。 c 如果显著多余2/3以上的描点落在离均值很近之处（对于25 子组，如果超过90%的点落在控制限的1/3区域），则应对下 列情况的一种或更多进行调查： 1、 控制限或描点计算错描错 2、 过程或取样方法被分层，每个子组包含了从两个或多个 不同平均性能的过程流的测量值（如：两条平行的生产 线的混合的输出）。 3、 数据已经过编辑（明显偏离均值的值已被调换或删除） d 如果显著少余2/3以上的描点落在离均值很近之处（对于25 子组，如果只有40%的点落在控制限的1/3区域）则应对下列 情况的一种或更多进行调查： 1、控制限或描点计算错描错 b
计算子组内的不合格品率（P）
■被检项目的数量n
■发现不合格项目的数量nP ■不合格率P
= nP/P
■将不合格品率描绘在控制图上
控 制 图
• 四、用计数型数据的控制图
计算控制限
计算过程平均不合格率P P=(n1P1+n2P2+-------+nkPk)/(n1+n2+----nk)
UCLP = P + 3 LCLP = P – 3 n为恒定的样本容量
重新制定不良率的 平均数及控制界限
是否所有的不良率 都包括在界限內 是不良率在 控制范围计算新不良率 控制界限
五、SPC核心---控制图制作
控制图的判异准则 判异准则有点出界和界内点排列不随机两类。 国标GB/T4091－2001《常规控制图》中规定了8种判异准则。
注意 ：当样本 Pn图(不合格品数控制图)和p图大致相同，只 在n为一定时使用，可以把不合格品数不加任何处理在图上 打点。 注意 ：当样本大小是不同数据时，必须使用p控制图。大小 是不同数据时，必须使用p控制图。
1>显示在某一样本组内发生事件之数目对全部事件的比值 2>用作报告产品内的不良品比率 3>控制单一质量特性或一组质量性中的不良率 4>同时也可以设立作为操作员，工作间或某一班制的表现控制
五、SPC核心---控制图制作
步骤2：选取样本组（选择子组的容量、频率和数量）。
决定样本数的参考： •样本数最少大于50个单位 •常用的惯例，样本数目的多少一定可以足够找出4个或以上的不良品，样本大小应保证每组样本中 的不合格品个数有1~5个为宜。n如果过小，在控制图上打点经常等于0，不合适。例如预计不合格率 为5%左右，则n=1~5/0.05==20~100。
•在实际的运作中，选取样本数是需要一些初步的观察来找出不良率和平均不良率的粗略资料，以便 足够的数据来制作图表。
•避免在一段长时间内选取一个大的样本数
五、SPC核心---控制图制作
步骤3：收集数据
子组容量：子组容量足够大（最好能恒定），并包括几个不合格品。
分组频率：根据实际情况，兼大容量和信息反馈快的要求。 子组数量：收集的时间足够长，使得可以找到所有可能影响过程的变差源。一般为25组。
下控制界限的计算结果是负时，LCL不考虑。
五、SPC核心---控制图制作
步骤5：测试P控制图的控制界限。
是否所有不良率 (p) 都在管制界限內 是 否 是否少于两个 不良率超出界限 是 从样本组中弃置 此两个不良率 否 三个或以上的 不良率超出界限 不良率不在控制范围 找出及解決 非机遇性原因 否 收集新数据
＃2.不少于9个连续点位于中心线的一侧
监测较小的变化或趋势。
＃3.不少于6个连续的点持续上升或下降。
监测较强的趋势。
＃4.连续14个点或更多的点呈现上下交替形状。
监测系统性因素，如更换机器、操作 员、供应商等。商 等。
＃ 5.3 个连续的点有 2 个点位于是中习线 2 个标准 监测大的变化。 差以外的位置，且位于同一侧。 ＃6.连续5点中有4点位于是中习线一个标准差以 监测中等程度的变化。 外的位置. ＃7.连续15个点或更多的点位于距中习线一个标 监测过程变差减少的情况。 准差以内的位置。 ＃ 8. 连续 8 个或更多的点位于中心线两侧，但没 监测地程变差增加的情况。 有一点位于距中心线1个标准差范围内。
画线:过程均值P-----水平实现 控制线(UCL,LCL)------水平虚线
五、SPC核心---控制图制作
计数型数据控制图 P管制图：P图是用来测量在一批检验项目中不合格品（缺陷）项目的百分数。
P控制图的作成步骤 选择质量特性 不良率在统计 控制之內 是 以设定之控制 界限持续监控
否
选取样本组 (抽样数)
收集数据
设定不良率 之控制界限
五、SPC核心---控制图制作
步骤1：选择质量特性。
选择控制图的坐标刻度(不合格品率作为纵坐标,子组识别如 小时、天等）作为横坐标。纵坐标的刻度应从0到初步研究 数据读数中最大的不合格率值的1.5到2倍的值。 n为每组检验的产品的数量；np为每组发现的不良品的数量。
P=（n1p1+n2p2+…+nkpk）/ (n1+n2+…+nk)
式中：
n1p1；nkpk 分别为每个子组内的不合格的数目 n1；nk为每个子组的检验总数
2、 过程或取样方法造成连续的分组中包含了从两个或多个 不同平均性能的过程流的测量 8-1-3-2 寻找并纠正特殊原因
当有任何变差时，应立即进行分析，以便识别条件并防止
再发生，由于控图发现的变差一般是由特殊原因引起的， 希望操作者和检验员有能力发现变差原因并纠正。并在备
注栏中详细记录。
8-1-3-3 重新计算控制限 初次研究，应排除有变差的子组，重新计算控制限。
• C.过程控制用控制图解释
• C.1.分析数据点,找出不稳定的证据 • a.超出控制限的点 b.链 c.明显的非随机图形 • C.2.寻找并纠正特殊原因
• C.3.重新计算控制限
• D.过程能力解释
ISO-9001
9. 判别准则:
准则号 ＃1.单点超出上或下控制极根. 适用于 监测较大且突然的变化。 举例
注： pi =
di ni
&
p =
di ni
di - 第i个控制分组的不良品数目 ni - 第i个控制分组的樣本数目 pi- 第i个控制分组不良率 p - 所有样本的平均不良率
n为每组检验的产品的数量；np为每组发现的不良品的数量。
五、SPC核心---控制图制作
步骤4：设定不良率控制图的控制界限。