5.3 非平衡载流子的扩散运动与爱因斯坦关系

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载流子的迁移率、扩散系数和Einstein关系

载流子的迁移率、扩散系数和Einstein关系

载流子的迁移率、扩散系数和Einstein关系2009-11-02 20:25:18| 分类:微电子物理| 标签:|字号大中小订阅作者:Xie M. X. (UESTC,成都市)* 载流子的迁移率μ是表征载流子在电场作用下加速运动快慢的一个物理量,等于单位电场作用下的漂移速度:μ=vd/E [cm2/V-s],E为电场[V/cm],vd为平均漂移速度[cm/s]。

载流子迁移率的大小决定于在运动过程中遭受散射的情况:μ=qt/m*,t是散射时间(等于散射几率的倒数,在简单情况下就是平均自由时间),m*是有效质量,q为电子电荷。

注意:由于载流子的平均漂移速度是定向运动,是一它总是小于混乱的热运动速度(室温下载流子的热运动速度大约为107cm/s)。

浓度为n、迁移率为μ的电子,在电场E作用下,所产生的漂移电流密度为:j=nqμE,即漂移电流密度与载流子浓度成正比。

因此,多数载流子对漂移电流的贡献是主要的。

* 载流子的扩散系数D是表征载流子在浓度梯度驱动下、从高浓度处往低浓度处扩散运动快慢的一个物理量,等于单位浓度梯度作用下的粒子流密度,单位为[cm2/s]。

扩散系数为D的电子,在浓度梯度为dn/dx的驱动下,所产生的扩散电流密度为:j=qD(dn/dx),即扩散电流密度与载流子浓度梯度成正比,而与载流子浓度本身的大小无关。

因此,即使是少数载流子,只要它具有较大的浓度梯度,则也可以尝试较大的电流。

* Einstein关系:因为载流子的迁移率和扩散系数都是表征载流子运动快慢的物理量,所以迁移率和扩散系数之间存在有正比的关系——Einstein关系。

载流子按能量分布的规律不同,则将得到不同的Einstein关系。

对于非简并半导体,载流子遵从Boltzmann分布,即可得到简单的Einstein 关系:D=(kT/q)μ;但是对于简并半导体,载流子遵从Fermi-Dirac分布,则将得到比较复杂的Einstein关系。

半导体物理第五章教材

半导体物理第五章教材
12
➢ 光照停止时,半导体中仍然存在非平衡载流子。由于电子 和空穴的数目比热平衡时的增多了,它们在热运动中相遇 而复合的机会也将增大。这时复合超过了产生而导致一定 的净复合,非平衡载流子逐渐消失,最后恢复到平衡值, 半导体又回到了热平衡状态。
13
思考题
1. 掺杂、改变温度和光照激发都可以改变半导体的 电导率,试从三者的物理过程说明其区别。
nt0 Nt f(Et)1expNEttk0TEF 45
用半导体的光磁电效应的原理,该方法适合于测量短的寿 命,在砷化镓等Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体中用得最多; ✓还有扩散长度法、双脉冲法及漂移法等。
不同的材料寿命很不相同。纯度和完整性特别好硅、锗 材料,寿命分别可达103μs、104μs;砷化镓的寿命极短,约为 10-5~10-6μs,或更低。即使是同种材料,在不同的条件 下,寿命也可在—个很大的范围内变化。
电子在导带和价 带之间的直接跃 迁,引起电子和 空穴的直接复合
电子和空穴通过 禁带的能级(复合 中心)进行复合
27
28
二、非子复合时释放能量的方式
非平衡载流子复合时释放能量的方式有三种: ➢ 发射光子:伴随着复合,将有发光现象,常称为发光复合
或辐射复合; ➢ 发射声子:载流子将多余的能量传给晶格,加强晶格的振
nt0 Nt f(Et)1expNEttk0TEF
41
n1 Nc expEtk0TEc
费米能级EF与复合中 心能级Et重合时导带
的平衡电子浓度
srnNcexpEtk 0TEcrnn1 Gn snt
内在 联系
Gn rnn1nt
42
(二) 空穴俘获与发射
1.俘获空穴 电子由复合中心能级Et落入价带与空穴复合,或者说复合

半导体物理课件 (6)非平衡载流子

半导体物理课件 (6)非平衡载流子
dx
p
0
p(x) Ae1x Be2x
L2p2 Lp ( ) 1 0
Lp ( )
L2p ( ) 4L2p
2L2p
1 Lp ( )
L2p ( ) 4L2p
2L2p
0
2
Lp ( )
L2p ( ) 4L2p
2L2p
0
对很厚的样品: p() 0
x ,
0 Ae1 Be2
A=0, p(x) Be2x
(1) 表面粗糙度 (2) 表面积与总体积的比例 (3) 与表面的清洁度、化学气氛有关 在考虑表面复合后,总的复合几率为:
1 1 1
v s
§5.4 陷阱效应
一、陷阱效应的类型
● 对于 rn rp 的杂质,
电子的俘获能力远大于俘获空穴的能力, 称为电子陷阱。
● 对于 rp rn 的杂质,
俘获空穴的能力远大于俘获电子的能力,
当复合达到稳态时
ui rn (Nt nt )n rnn1nt
其中:nt为复合中心的电子浓度
nt
N t (rn n rp p1 ) rn (n n1 ) rp ( p
p1 )
ui
rn (n
rn rp N t n1 ) rp ( p
p1 )
(np
n1 p1 )
其中:
Ec Et
n1 Nce KT
Et Ev
p1 N v e KT
ui
rn (n
N t rn rp n1 ) rp ( p
p1 )
(np
ni2 )
热平衡时
n p n0 p0 ni2
ui 0
非平衡态时
n n0 n
p p0 p
p n nt

载流子的漂移扩散爱因斯坦关系式

载流子的漂移扩散爱因斯坦关系式
当v增大时,a减小,表示载流子速度增大时受到 的阻力增大,加速度减小。
公式推导
当v增大到一定值时,a=0,此时载流子做匀速运动,速度不再增大。
根据以上推导,得到爱因斯坦关系式:v=u√(2kT/m),其中v为载流子速度,u为电 场迁移率,T为温度。
公式含义
爱因斯坦关系式表明了载流子 在电场中的运动速度与温度和
迁移率的关系。
当温度升高时,载流子速度 增大;当迁移率增大时,载
流子速度也增大。
该公式是半导体物理中的基本 公式之一,对于研究半导体器 件的性能和应用具有重要意义。
公式应用
1
爱因斯坦关系式可以用于计算半导体器件中的电 流和电压关系。
2
通过测量不同温度下的电流和电压数据,可以计 算出迁移率和温度系数等重要参数。
浓度
载流子浓度对漂移扩散的影响主要体现在费米能级和能级填 充上。在低浓度时,费米能级附近的能级较少,载流子容易 达到较高的漂移速度。
随着浓度的增加,费米能级附近的能级增多,载流子的平均 自由程减小,漂移速度降低。同时,浓度还影响扩散系数的 大小,浓度越高,扩散系数越大。
电场
电场对载流子漂移扩散的影响主要体现在电场对载流子的加速作用上。在电场的作用下,载流子获得加速度,导致其漂移速 度增加。
新理论的发展
要点一
量子力学与半经典理论的结合
在研究具有复杂能带结构的材料时,将量子力学与半经典 理论相结合,可以更准确地描述载流子的行为,为载流子 漂移扩散的研究提供更可靠的理论基础。
要点二
多尺度模拟方法
随着计算机技术的发展,多尺度模拟方法逐渐成为研究复 杂电子器件的有力工具,通过模拟不同尺度下的载流子行 为,可以更全面地理解载流子的漂移扩散过程。

半导体物理-第五章非平衡载流子

半导体物理-第五章非平衡载流子
非平衡载流子: ⊿n 和⊿p(过剩载流子)
注入:通过外场产生过剩
载流子
np>ni2
抽取:通过外加电压使得
载流子浓度减小 UESTC Nuo Liu
np<ni2
当非平
衡载流子的
浓度△n和
△p《平衡多
子浓度时,
这就是小注 入条件。
p0 p n n0 (n型半导体) n0 p n p0 ( p型半导体)
EFn EF
和 e k0T
EFp Ev
p Nve k0T
p0
EF Ev
Nve k0T
EF EFp
e k0T
而 n n0 n n0 1
EFn EF
n0
n0
n0
EFp
p p0 p p 1
p0
p0
p0
所以 n p
n0 p0

E
n F
EF
EF EFp
e k0T e k0T

E
Up
非平衡空穴的复合率
1
n
n
Un
非平衡电子的复合率
则在单位时间内非平衡载流子的减少数 dpt
dt
而在单位时间内复合的非平衡载流子数 p
p
UESTC Nuo Liu
如果在t 0时刻撤除光照,小注入下的复 合过程是一个驰豫过程,此复合过程满足
为常数
dpt p 1
dt
p
解方程1得到
同理也有 UESTC Nuo Liu
n F
-
EF
EF
E
p F
UESTC Nuo Liu
对P型半导体,在小注入下,有
Ec
EFn - EF EF EFp

半导体物理基础4

半导体物理基础4

5.5 非平衡载流子的扩散(Diffusion)运动
(1)扩散运动与扩散电流(diffusion current)
考察p型半导体的非少子扩散运动
沿x方向的浓度梯度 dn dx
电子的扩散流密度
(单位时间通过单位 截面积的空穴数)
Sn x
dn dx
Sn x dnx
dx
Sn x
Dn
dn dx
扩散定律
价带空穴增加,意味 着EF更靠近EV。
引入准费米能级:
EC EFn
n NCe k0T
EFp EV
p NV e k0T
EFn EFP
np n0 p0e k0T
EFn
E
P F
ni2e k0T
非平衡态时,
np ni2
5.3. 非平衡载流子的衰减 寿命
若外界条件撤除(如光照停止),经过一段时间后, 系统才会恢复到原来的热平衡状态。有的非子生存时间长、 有的短。非子的平均生存时间称为非子的寿命τ。
n(
x)
(n)(0 1
x W

相应的 Sn=常数
❖ 扩散电流密度
电子的扩散电流密度
J n扩
qSn x
qDn
dnx
dx
空穴的扩散电流密度
J
p扩
qSp x
qDp
dpx
dx
J n扩
qSn x qDn
dnx q
dx
Dn Ln
x
n0 e Ln
q
Dn Ln
nx
J p扩
qSp x qDp
dpx q Dp
n, p noneguilibrium carriers
excess carries (过剩载流子)

半导体物理与器件 第五章非平衡载流子解读

半导体物理与器件 第五章非平衡载流子解读

D p
d 2p dx 2
p
Dn
d 2n dx 2
n
但p( x)、n( x)仍是空间x的函数
上述两个方程的解:
p(x) Aexp( x ) B exp( x )
Lp
Lp
n(x) C exp( x ) B exp( x )
Ln
Ln
Lp Dp p 空穴扩散长度 Ln Dn n 电子扩散长度
第五章非平衡载流子
5.1非平衡载流子的注入与复合 5.2 非平衡载流子的寿命 5.3准费米能级 *5.4复合理论 *5.5 陷阱效应 5.6 载流子的扩散方程 5.7 载流子的漂移运动,爱因斯坦关系式 5.8 连续性方程
5.1非平衡载流子的注入与复合
过剩载流子的产生: ①光注入
光照使半导体产生非平衡载流子
光照
1
1
0
2 0
R
L S
l
s
2 0
V IR p
半导体R1
V R2>>R1
5.1非平衡载流子的注入与复合
②电注入:
二极管加正向电场,n区的 电子扩散到p区,p区的空穴 扩散到n区
p
n
P区
p n
p0 n0
p n
n区
p n
p0 p n0 n
加反向电场,少子抽取,n区空穴飘移到p区,p 区的电子飘移到n区
5.1非平衡载流子的注入与复合
光生过剩电子和过剩空穴的浓度 非平衡载流子通常指非平衡少数载流子
5.1非平衡载流子的注入与复合
非简并半导体,处于热平衡时,电子浓度n0,空穴
浓度P0
Eg
n0 p0 ni2 Nc Nve k0T
如果对半导体施加外界作用,半导体处于非平衡状

半导体物理基础(5)扩散运动

半导体物理基础(5)扩散运动
dp x J p J p漂 J p扩 qp p qD p dx
在光照和外场同时存在的情况下:
J总 J n J p
(3) Einstein Relationship(爱因斯坦关系)
D
k 0T q
平衡条件下:
J p漂 J p扩 0
当W<<Ln时,
x n( x) (n)( ) 0 1 W
相应的 Sn=常数
扩散电流密度
电子的扩散电流密度
dnx J n 扩 qS n x qDn dx
空穴的扩散电流密度
dp x J p 扩 qS p x qD p dx
Dn dnx n0 e J n 扩 qSn x qDn q dx Ln
5.5 非平衡载流子的扩散(Diffusion)运动
(1)扩散运动与扩散电流(diffusion current)
考察p型半导体的非少子扩散运动 沿x方向的浓度梯度
电子的扩散流密度
dn dx
S n x
(单位时间通过单位 截面积的电子数)
dn S n x dx
dn x dx

x Ln
Dn q nx Ln
Dp dpx p 0 e J p 扩 qS p x qDp q dx Lp

x Lp
q
Dp Lp
px
(2)总电流密度
dnx J n J n漂 J n扩 qn n qDn dx

J p漂 qp ( 0 x) p
dp0 x J p 扩 qS p x qD p dx
qp ( 0 x) p

半导体物理第5章非平衡载流子

半导体物理第5章非平衡载流子
* 平衡态与非平衡态间的转换过程:
热平衡态: 产生率等于复合率,△n =0; 外界作用: 非平衡态,产生率大于复合率,△n 增大; 稳定后: 稳定的非平衡态,产生率等于复合率,△n 不变; 撤销外界作用: 非平衡态,复合率大于产生率,△n 减小; 稳定后 : 初始的热平衡态(△n =0)。
2. 非平衡载流子的检验
费米能级相同的原因:
半导体处于热平衡状态,即从价带激发 到导带的电子数等于从导带跃迁回价带的电子 数,使得导带中的电子的费米能级和和价带中 空穴的费米能级产生关联,即相等。
从而使得电子和空穴的浓度满足:
np
NC
NV
exp-
Eg K0T
=n
2 i
当半导体处于非平衡态时,有附加的载流 子产生。此时电子和空穴间的激发和复合的 平衡关系被破坏,导带中的电子分布和价带 中的空穴分布不再有关联,也谈不上它们有 相同的费米能级。
可见,EF和n E的Fp 偏离的大小直接反映出 (n或p )
与 相n0差p0的程度n,i2 即反映出半导体偏离热平衡
态的程度。
若两者靠得越近,则说明非平衡态越 接近平衡态。
对于n型半导体,准费米能级偏离平衡费米能级 示意图如下图所示:
EC
EF
EFn
EFp
特点:
EV
E
n F
- EF
EF
EFp
课堂练习5 证明对于n型半导体,准费米能级偏离平衡费米能级满足
恢复平衡态 产生率=复合率
n0、p
不变
0
非平衡载流子复合过程的两种基本形式:
直接复合: 电子在导带和价带之间直接跃迁而产生复合
间接复合:
Ec
电子和空穴通过禁带的能级进行复

5.6 载流子的扩散运动(雨课堂课件)

5.6 载流子的扩散运动(雨课堂课件)

The end
拉普拉斯方程在球坐标系中的表达式
1 r2
r 2 r
u r
1
r 2 sin
s in
u
r
2
1 sin
2
2u
2
0...9.1.1
z
r
y
x
二阶常系数齐次线性微分方程的解
y py qy 0
特征方程r 2 pr q 0的两根r1 , r2 微分方程的解
两个不相等的实根r1, r2
因此,单位时间单位体积内由于扩散积累的空穴数为
dSp x
dx
又因为
dp x
S p Dp dx
所以,单位时间单位体积内由于扩散积累的空穴数为
dSp
dx
x
Dp
d
2p
dx2
x
(5-80)
一、非平衡载流子的扩散运动、扩散电流—浓度梯度

➢ 单位时间单位体积内由于复合而消失的空穴数: p x
其中 是非平衡载流子平均寿命。
研究对象:均匀掺杂的n型半导体中的非平衡少子Δp
扩散运动:表面光照,表面处
产生非平衡载流子(Δn, Δp),浓度
不均匀,引起扩散。一维
目标:非平衡载流子的变化规 律;扩散运动产生的电流
一维
图5-13 非平衡载流子的扩散
一、非平衡载流子的扩散运动、扩散电流—浓度梯度
(1) 非平衡少数载流子-空穴的扩散运动
两个不相等的实根r1, r2
y c1er1x c2er2x
两个相等的实根r1 r2
y c1 c2 x er1x
一对共轭复根r1,2 i
y ex c1 cos c2 sin
一、非平衡载流子的扩散运动、扩散电流—浓度梯度

半导体物理第五章非平衡载流子

半导体物理第五章非平衡载流子

第五章 非平衡载流子第五章 Part 1 5.1 非平衡载流子的注入、寿命和准费米能级 5.2 复合理论 5.3 陷阱效应 5.4 非平衡载流子的扩散运动 5.5 5 5 爱因斯坦关系 系 5.6 5 6 连续性方程5.1 非平衡载流子的注入、 5 1 非平衡载流子的注入 寿命和准费米能级一、非平衡载流子的产生1、热平衡态和热平衡载流子 1 热平衡态和热平衡载流子热平衡态: 热平衡态 没有外界作用 半导体材料有统 的温度 和确定的载 没有外界作用,半导体材料有统一的温度,和确定的载 流子浓度。

热平衡时,电子和空穴的产生率等于复合率。

在非简并情况下: 在非简并情况下⎛ Eg n0 p0 = Nc Nv exp ⎜ − ⎝ k0T⎞ 2 ⎟ = ni ⎠该式是非简并半导体处于热平衡状态的判据式一、非平衡载流子的产生2、非平衡态和非平衡载流子 2 非平衡态和非平衡载流子若对半导体材料施加外界作用,其载流子浓度对热平衡态下的载流 子浓度发生了偏离,这时材料所处的状态称为非平衡状态。

n0光照Δn非平衡 电子p0Δp非平衡 空穴非平衡态半导体中电子浓度n= n0 + Δn ,空穴浓度p= p0 + Δp 。

一、非平衡载流子的产生3、非平衡载流子的产生——注入(injection) 3 非平衡载流子的产生 注入(i j ti )光注入: 光照使价带电子激发到导带产生电子-空穴对:Δn= Δp 光注入的条件:hυ ≥ Eg利用金属—半导体接触或利用pn结的正向工作 电注入: 利用金属 半导体接触或利用 结的正向工作 注 的程度 注入的程度: 小注入:n0>>Δn ,但Δn >> p0 ,Δp >> p0 半导体物理主要研究小注入,此时非平衡少子更重要 大注入:Δn 大注入 Δ ~ n0 , Δ p0或 Δ > n0, Δ >n0 Δp~ Δn Δp一、非平衡载流子的产生4、光电导n0光照ΔnΔn = ΔpΔσ = Δnqμn + Δ pqμ p qμΔp pp0σ = ( n0 qμn + p0 qμ p ) + ( Δnqμn + Δ pqμ p ) = σ 0 + Δσ二、非平衡载流子的弛豫现象和寿命1、非平衡载流子的弛豫现象 1 非 的 豫 象存在外界注 条件时 存在外界注入条件时: 产生率>复合率 产生非平衡载流子 进入非平衡态Δn,Δ Δσ撤销外界注入条件时: 复合率>产生率 非平衡载流子逐渐消失 恢复到热平衡态 恢复 衡 n,p随时间变化的过程,称为弛豫过程二、非平衡载流子的弛豫现象和寿命2、非平衡载流子的寿命非平衡载流子的平均生存时间称为非平衡载流子的寿命。

半导体物理第五章习题答案

半导体物理第五章习题答案

第五篇 题解-非平衡载流子刘诺 编5-1、何谓非平衡载流子?非平衡状态与平衡状态的差异何在?解:半导体处于非平衡态时,附加的产生率使载流子浓度超过热平衡载流子浓度,额外产生的这部分载流子就是非平衡载流子。

通常所指的非平衡载流子是指非平衡少子。

热平衡状态下半导体的载流子浓度是一定的,产生与复合处于动态平衡状态 ,跃迁引起的产生、复合不会产生宏观效应。

在非平衡状态下,额外的产生、复合效应会在宏观现象中体现出来。

5-2、漂移运动和扩散运动有什么不同?解:漂移运动是载流子在外电场的作用下发生的定向运动,而扩散运动是由于浓度分布不均匀导致载流子从浓度高的地方向浓度底的方向的定向运动。

前者的推动力是外电场,后者的推动力则是载流子的分布引起的。

5-3、漂移运动与扩散运动之间有什么联系?非简并半导体的迁移率与扩散系数之间有什么联系?解:漂移运动与扩散运动之间通过迁移率与扩散系数相联系。

而非简并半导体的迁移率与扩散系数则通过爱因斯坦关系相联系,二者的比值与温度成反比关系。

即T k q D 0=μ 5-4、平均自由程与扩散长度有何不同?平均自由时间与非平衡载流子的寿命又有何不同?答:平均自由程是在连续两次散射之间载流子自由运动的平均路程。

而扩散长度则是非平衡载流子深入样品的平均距离。

它们的不同之处在于平均自由程由散射决定,而扩散长度由扩散系数和材料的寿命来决定。

平均自由时间是载流子连续两次散射平均所需的自由时间,非平衡载流子的寿命是指非平衡载流子的平均生存时间。

前者与散射有关,散射越弱,平均自由时间越长;后者由复合几率决定,它与复合几率成反比关系。

5-5、证明非平衡载流子的寿命满足()τte p t p -∆=∆0,并说明式中各项的物理意义。

证明:()[]ppdt t p d τ∆=∆-=非平衡载流子数而在单位时间内复合的子的减少数单位时间内非平衡载流时刻撤除光照如果在0=t则在单位时间内减少的非平衡载流子数=在单位时间内复合的非平衡载流子数,即()[]()1−→−∆=∆-pp dt t p d τ在小注入条件下,τ为常数,解方程(1),得到()()()20−→−∆=∆-p te p t p τ式中,Δp (0)为t=0时刻的非平衡载流子浓度。

einstein关系推导

einstein关系推导

einstein关系推导Einstein关系推导Einstein关系是描述载流子在半导体材料中运动的重要关系之一。

它是由阿尔伯特·爱因斯坦在1905年提出的,通过对载流子的热运动和受力情况的研究,揭示了电子在半导体中的传导机制。

Einstein关系的推导基于两个假设:热平衡和稳态条件。

热平衡是指在系统中不存在净热流,即热量的输入和输出相等。

稳态条件是指系统中的各种物理量,如温度、电流密度等,在空间和时间上都保持不变。

在半导体材料中,电子和空穴是主要的载流子。

根据Einstein关系的推导,我们可以得到以下几个重要结果。

爱因斯坦关系指出了载流子的迁移率与扩散系数之间的关系。

迁移率是指载流子在电场的作用下移动的速度与电场强度之比。

扩散系数是指载流子在浓度梯度的作用下移动的速度与浓度梯度之比。

根据Einstein关系的推导,迁移率与扩散系数之间存在一个简单的线性关系,即迁移率等于扩散系数乘以载流子的电荷量。

这个关系对于研究半导体材料的电子迁移和扩散过程非常重要。

爱因斯坦关系还揭示了载流子的扩散和电导率之间的关系。

电导率是指单位体积内的电流密度与电场强度之比。

根据Einstein关系的推导,电导率等于扩散系数乘以载流子的电荷量和迁移率之积。

这个关系告诉我们,载流子的扩散和电导率是密切相关的,它们共同决定了半导体材料的电导性能。

爱因斯坦关系还对半导体材料的热导率和电导率之间的关系进行了推导。

热导率是指单位体积内的热流密度与温度梯度之比。

根据Einstein关系的推导,热导率等于电导率乘以载流子的电荷量和迁移率之积。

这个关系告诉我们,载流子的迁移率和电荷量对于半导体材料的热导率也有重要影响。

总结起来,Einstein关系的推导揭示了载流子在半导体材料中运动的一系列重要规律。

它们之间存在着简单而严谨的数学关系,这些关系对于理解和应用半导体材料的电子和热传导过程具有重要意义。

通过对Einstein关系的研究,我们可以更好地理解半导体材料的物理性质,为半导体器件的设计和应用提供理论基础。

【高中物理】优质课件:载流子的扩散运动 爱因斯坦关系

【高中物理】优质课件:载流子的扩散运动  爱因斯坦关系

亚铁磁性
亚铁磁性物质存在与铁磁性物质相似的宏观磁性:居里温度以下, 存在按磁畴分布的自发磁化,能够被磁化到饱和,存在磁滞现象; 在居里温度以上,自发磁化消失,转变为顺磁性。
典型的亚铁磁性物质为铁氧体。铁氧体是一种氧化物,含有氧化 铁和其他铁族或稀土族氧化物等主要成分。
铁氧体的特点: (1)通常采用陶瓷烧结工艺制备, (2)基本是离子化合物,物质的磁性来源于所含离子的磁性, (3)所含的金属离子磁距不可能全部为平行取向。
高中物理
载流子的扩散运动 爱因斯坦关系
载流子的扩散运动 爱因斯坦关系
一、载流子的扩散运动
扩散是因为无规则热运动而引起的粒子从浓度高处向浓度低处 的有规则的输运,扩散运动起源于粒子浓度分布的不均匀。
均匀掺杂的n型半导体中,因为不存在浓度梯度,也就不产生扩 散运动,其载流子分布也是均匀的。
如果以适当波长的光照射该样品的一侧,同时假定在照射面的 薄层内光被全部吸收,那么在表面薄层内就产生了非平衡载流 子,而内部没有光注入,这样由于表面和体内存在了浓度梯度, 从而引起非平衡载流子由表面向内部扩散。
一维情况下非平衡载流子浓度为Δp(x),在x方向上的浓度梯度 为dΔp(x)/dx。如果定义扩散流密度为S单位时间垂直通过单位面积 的粒子数,那么S与非平衡载流子的浓度梯度成正比。
设空穴的扩散流密度为Sp,则有下面所示的菲克第一定律
dpx
Sp Dp dx
Dp为空穴扩散系数,它反映了存在浓度梯度时扩散能力的强弱, 单位是cm2/s,负号表示扩散由高浓度向低浓度方向进行。
如果光照恒定,则表面非平衡载流子浓度恒为(Δp)0,因表面 不断注入,样品内部各处空穴浓度不随时间变化,形成稳定分布,
称为稳态扩散。

载流子的漂移扩散-爱因斯坦关系式分析

载流子的漂移扩散-爱因斯坦关系式分析

EF qV ( x) Ec n0 ( x) N c exp[ ] k0T
(5-121)
求导得Βιβλιοθήκη dn0 ( x) EF qV ( x) Ec q dV ( x) N c exp[ ] dx k0T k0T dx q dV ( x) n0 ( x) k0T dx
将(2), (3)代入(1)得到
(2)
在考虑电子能量时,必须计入附加的静电势 能(-qV(x))。
对于非简并半导体,导带底的能量是变化的
EC(x)=EC(0)+(-q)V(x)
电子的浓度
Ec EF n0 ( x) N c exp( ) k0T
Ec qV ( x) EF n0 ( x) N c exp( ) k0T
归纳:
1、该关系适合于平衡,非平衡非简并情况; 2、非均匀载流子浓度会引起扩散;
3、由于载流子的扩散会导致自建场;
4、有电场存在则能带发生变化; 5、非简并情况下
Dn K 0T n p q Dp
动难易程度物理量,而扩散系数反映存在浓度梯度时
载流子运动难易程度。
2、爱因斯坦关系(n型半导体为例)
2.1 浓度梯度引起内建电场 热平衡状态 掺杂不均匀的n型半导体 n0(x)梯度引起扩散电流 电中性条件被破坏,引起 内建电场。 考虑漂移电流 n=n0(x)
电子(空穴)扩散电流密度
电子(空穴)漂移电流密度
dn0 ( x) ( J n) 扩 qDn dx dp0 ( x) (J p) 扩 qD p dx
J n) ( 漂 qn0 ( x ) n J ) qp ( x ) ( 0 p P 扩
平衡时,不存在宏观电流,因此电场的方向必然 使反抗扩散电流,是平衡时电子的总电流和空穴的 总电流分别为0。

5.3 非平衡载流子的扩散运动与爱因斯坦关系

5.3 非平衡载流子的扩散运动与爱因斯坦关系

5.3 载流子的扩散运动与爱因斯坦关系式n 适当波长的光照射样品的一侧,引起非平衡载流子由表面向内部扩散。

n 扩散运动是非平衡载流子的主要运动形式之一。

均匀掺杂的半导体,处于热平衡状态时,不产生扩散运动。

1. 一维平面扩散空穴扩散系数,表示在单位浓度梯度下,单位时间内通过单位面积的空穴数目;反映了非平衡少子扩散能力的强弱;()()p pd p x S x D dx∆=-扩散流密度空穴扩散流密度:扩散定律——单位时间由于扩散通过垂直于x 轴单位面积的载流子数。

(1)稳态扩散方程()()pp τx Δp dx x Δp d D =22空穴的积累率等于复合率:积累率复合率在恒定光照下,非平衡载流子的分布不随时间变化,形成稳定分布,这种情况称为稳定扩散。

()()()()2p p p p2Δx S x S x Δx dS x d Δp x limD Δxdxdx→-+=-=空穴的积累率为:p p p τD L =(2)稳态扩散方程的解,系数A 和B 要根据边界条件确定。

()ppL x L x BeAex Δp +=-①样品足够厚Δp (∞)→0Δp (0)=(Δp )0边界条件:解出:A=(Δp )0B =0()()pL x eΔp x Δp -=0空穴扩散长度非平衡载流子浓度浓度由降低到所经过的距离。

()0p ∆()ep 0∆反映了非平衡载流子因扩散而深入样品的平均距离。

空穴的扩散流密度:()()()pp ppD d p x S x D p x dxL ∆∆=-=具有速度的量纲称为空穴的扩散速度()ep 0∆pL可得到:②样品厚度为W ,且在另一端全部抽出若p W L <<()()01x Δp x p W ∆⎛⎫≈- ⎪⎝⎭()()()000p p p W ∆=∆⎧⎪⎨∆=⎪⎩边界条件:当样品厚度很薄时,非平衡载流子在样品内呈线性分布。

则:()()⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛⎪⎪⎭⎫⎝⎛-∆=∆p p L W L x W p x p sh sh 0扩散流密度:()()()p p p pD d p x S x D p S dxW∆∆=-==在晶体管结构中,基区宽度比扩散长度小得多,从发射区注入基区的非平衡载流子在基区的分布近似符合上述结果。

5非平衡载流子

5非平衡载流子
第5章 非平衡载流子
5.1 非平衡载流子的注入与复合 5.2 非平衡载流子的寿命 5.3 准费米能级 5.4 复合理论 5.5 陷阱效应 5.6 载流子的扩散运动 5.7 载流子的漂移扩散,爱因斯坦关系式 5.8 连续性方程式 *5.9 硅的少数载流子寿命与扩散长度
5.1 非平衡载流子的注入与复合1
5.3 准费米能级2
非平衡的含义——指数量上的非平衡,而在能量分布上 还是平衡的 (严格地说,准平衡)。
完成准平衡分布时间 (晶格驰豫时间< 10-10s)
<< 寿命τ(~ μs)
准费米能级
5.3 准费米能级3
1、费米能级和统计分布函数指热平衡状态系统;
2、电子系统热平衡状态是通过热跃迁实现。在一个能带范围内,热跃 迁频繁,极短时间内就能导致一个能带内的热平衡(能量平衡);而 导带和价带之间隔着禁带,之间的热跃迁稀少(电子空穴复合需要一 定的时间——载流子寿命);
导带和价带的准费米能级
5.3 准费米能级4
电子子系统与晶格平衡— EFn 空穴子系统与晶格平衡— EFp 但电子子系与空穴子系不平衡
只能说是准平衡
非平衡载流子浓度
EC EFn
EFn EF
EFn Ei
n NCe k0T n0e k0T nie k0T
EFp EV
令 则
复合率,即单位时间单位体积内
非平衡载流子浓度的减少,为:
5.2 非平衡载流子的寿命2
非平衡载流子的寿命,即非平衡载流子的平均生存时间为
1、非平衡少数载流子的影响处于主导、决定地位——τ即为非 平衡少数载流子寿命
2、当 t= τ 时,p( ) (p)0 / e ,故寿命标志着非平衡载流子浓度 减小到原值的1/e所经历的时间;寿命越短,衰减越快

平衡载流子

平衡载流子

第五章 非平衡载流子
§5.1 非平衡载流子的流入与复合
§5.2 非平衡载流子的寿命 §5.3 准费米能级 §5.4 复合理论 §5.5 陷阱效应 §5.6载流子的扩散运动
§5.4 复合理论
• 在光照的表面,非平衡载流子浓度较高,体内 浓度较低。由此产生了非平衡载流子的扩散。 • 非平衡载流子向体内的扩散过程,是少子向多 子的区域扩散的过程,在这种扩散的运动过程 中会发生粒子间的碰撞,碰撞的结果如何? • (1)改变少子的运动方向,继续扩散; • (2)少子被多子吃掉,“复合”成为中性原子。 • 弹性碰撞导致了粒子的扩散;非弹性碰撞导致 了粒子的复合。
G s n1 p2
• • • • • • •
温度一定,r 一定,R 值一定。 平衡时,n = n0, p = p0, 产生率(generate): G = R = r n0 p0 = r ni2 光照停止时,非平衡载流子有净复合率: 净复合率 = 复合率 – 产生率 Ud = R – G = r ( np - ni2 ) 因产生率仅与温度有关,且为平衡时的 复合率。因此,净复合率可以由上式算 出。将n = n0+n, p = p0+ p代入上式, 得到:
§5.1 非平衡载流子的流入与复合
• 半导体中,载流子浓度与温度相关
Ec EF EF EV n0 N c exp( ); p0 N v exp( ) k0T k0T
即,温度一定,半导体载流子浓度n0, p0一定。 n0, p0 :平衡载流子浓度。非简并条件下:
n0 p0 N c N v exp( Eg k0T ) (5 1)
热平衡条件下此式成立;反之,此式成立,为热平衡。
本章重点:
• 如何使式(5-1)不成立,以及不成立的规 律、恢复热平衡的过程、及各种可能的 机理。 • 若使式(5-1)不成立,在确定的温度T下, 对特定的半导体材料(Eg一定),只有使 n0或p0突然发生变化,变化原因是各种外 场:

载流子的漂移扩散爱因斯坦关系式

载流子的漂移扩散爱因斯坦关系式

(5-117) (5-118)
n0 ( x)n
Dn
dn0 ( x) dx
(5-119)
注意: 当半导体内部出现电场时,半导体内各处电
势不相等,是x函数,写为V(x),则
dV (x)
dx
(5-120)
在考虑电子能量时,必须计入附加的静电势 能(-qV(x))。
对于非简并半导体,导带底的能量是变化的
图示n型的均匀半导体,x方向加一均匀电场,表面处光注入非平衡载流子。
Ge:μn=3900cm2/(V·s),μp=1900cm2/ (V·s)
掺杂不均匀的n型半导体
(J ) q p p qp 非简并情况下,爱因斯坦关系式
Ge:μn=3900cm2/(V·s),μp=1900cm2/ (V·s)

迁移率
2、爱因斯坦关系(n型半导体为例)
2.1 浓度梯度引起内建电场 Ø热平衡状态
Ø掺杂不均匀的n型半导体
Øn0(x)梯度引起扩散电流 Ø电中性条件被破坏,引起
内建电场 Ø考虑漂移电流
n=n0(x)
电子(空穴)扩散电流密度 电子(空穴)漂移电流密度
( Jn)扩
qDn
dn0 (x) dx
( J
n
k 0T q
k0T q
非简并情况下,爱 因斯坦关系式
注:虽然D, μ的关系是针对平衡载流子推导出 来的,但实验证明对非平衡载流子同样成立,因 为刚激发的非平衡载流子虽具有和平衡时的载流 子不同的速度和能量,但由于晶格的作用,在比 寿命短的多的时间内就达到了平衡。
归纳:
1、该关系适合于平衡,非平衡非简并情况;
p 漂 0 Dn=97cm2/s,Dp=47cm2/s。
1、该关系适合于平衡,非平衡非简并情况;
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5.3 载流子的扩散运动与爱因斯
坦关系式
n 适当波长的光照射样品的一侧,引起非平衡载流子由表面向内部扩散。

n 扩散运动是非平衡载流子的主要运动形式之一。

均匀掺杂的半导体,处于热平衡状态时,不产生扩散运动。

1. 一维平面扩散
空穴扩散系数,表示在单位浓度梯度下,单位时间内通过
单位面积的空穴数目;
反映了非平衡少子扩散能力的强弱; 负号表示扩散由高浓度向低浓度方向进行。

()()p p
d p x S x D dx
∆=-扩散流密度空穴扩散流密度:
扩散定律
——单位时间由于扩散通过垂
直于x 轴单位面积的载流子数。

(1)稳态扩散方程
()()p
p τx Δp dx x Δp d D =2
2
空穴的积累率等于复合率:
积累率复合率
稳态扩散方程
在恒定光照下,非平衡载流子的分布不随时间变化,形成稳定分布,这种情况称为稳定扩散。

()()
()()
2
p p p p
2
Δx S x S x Δx dS x d Δp x lim
D Δx
dx
dx
→-+=-
=空穴的积累率为:
p p p τD L =(2)稳态扩散方程的解
,系数A 和B 要根据边界条件确定。

()p
p
L x L x Be
Ae
x Δp +=-①样品足够厚
Δp (∞)→0
Δp (0)=(Δp )0边界条件:
解出:
A=(Δp )0B =0
()()p
L x e
Δp x Δp -=0空穴扩散长度
非平衡载流子浓度浓度由降低到所经过的距离。

()0p ∆()e
p 0
∆反映了非平衡载流子因扩散而深入样品的平均距离。

空穴的扩散流密度:
()()()
p
p p
p
D d p x S x D p x dx
L ∆∆=-=具有速度的量纲
称为空穴的扩散速度
()e
p 0
∆p
L
可得到:
②样品厚度为W ,且在另一端全部抽出

p W L <<()()01x Δp x p W ∆⎛
⎫≈- ⎪⎝

()()()0
00
p p p W ∆=∆⎧⎪⎨
∆=⎪⎩边界条件:当样品厚度很薄时,非平衡载流子在样品内呈线性分布。

则:()()⎪⎪⎭
⎫ ⎝⎛⎪
⎪⎭⎫
⎝⎛-∆=∆p p L W L x W p x p sh sh 0
扩散流密度:
()()()
p p p p
D d p x S x D p S dx
W
∆∆=-==在晶体管结构中,基区宽度比扩散长度小得多,从发射区注入基区的非平衡载流子在基区的分布近似符合上述结果。

是常数,说明非平衡载流子来不及复合就扩
散到了样品的另一端。


p W L <<()()0x Δp x p 1W ∆⎛
⎫≈- ⎪
⎝⎭
电子和空穴的扩散电流密度:
()()n n d n x S x D dx
∆=-()
()2
n
2
n
d n x n x D dx
τ∆∆=
对p 型半导体中的非平衡电子可做同样的讨论:电子的扩散流密度: 稳态扩散方程:
电子扩散系数
()
()dx
x p d qD qS J p
p Dif
p ∆-==()()dx
x n d qD qS J n
n Dif
n ∆=-=
2.
球形(径向)扩散运动
22
p p
D d d p p
r r dr dr ∆∆τ⎛⎫= ⎪⎝⎭三维探针注入:探针尖陷入半导体表面形成半径为r 0半球面用球坐标表示扩散方程:
可解得:
()()⎪⎪⎭⎫ ⎝
⎛--
∆==∆p L r r r r p r r f p 000exp
在注入面处,沿径向的扩散流密度:
()0000p p pr p r r p D D d p S D p dr r L ∆∆=⎛⎫⎛⎫=-=+ ⎪ ⎪ ⎪⎝⎭⎝⎭径向运动引起的扩散()()0
0p p p D S p L ∆=
一维平面扩散,注入面的扩散流密度:
复合引起的扩散
径向扩散的效率比平面注入时的高,因为除
了复合引起的扩散(D p /L p )外,还存在由径
向运动引起的扩散(D p /r 0)。

3.爱因斯坦关系式
爱因斯坦关系:
反映了非简并情况下,载流子迁移率和扩散系数之间的关系。

反映了漂移运动和扩散运动之间的内在联系。

0n n D k T q μ=对于电子:
对于空穴:q T k D p p 0=μ爱因斯坦关系仅适用于非简并半导体。

Ø依据爱因斯坦关系,可以对电流密度表达式进行化简(1)均匀半导体
n型半导体加以均匀电场;
表面处光注入非平衡载流子
半导体内的总电流密度为:
n p J J J =+电子的总电流密度为:空穴的总电流密度为:()()0()n n n n n drf dif d n J J J n n q E qD dx μ∆=+=+∆+()()0()p p p p p drf dif d p J J J p p q E qD dx
μ∆=+=+∆-平衡电子和非平衡电子平衡空穴和非平衡空穴
⎪⎪⎭⎫ ⎝
⎛∆-+⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛∆+=+=dx p d q T k pE q dx n d q T k nE q J J J p n p n 00μμ非平衡电子非平衡空穴
(2)非均匀半导体 总的电流密度为:
⎪⎪⎭
⎫ ⎝⎛-+⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛+=+=dx dp q T k pE q dx dn q T k nE q J J J p n p n 00μμ式中:()()()()x p x p p x n x n n ∆+=∆+=00,n 型的非均匀半导体,平衡载流子浓度沿x 方向存在浓度差;沿x 方向对其施加均匀电场;表面处光注入非平衡载流子。

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