测量显微镜

合集下载

测量显微镜操作指南说明书

测量显微镜操作指南说明书

测量显微镜操作指南说明书一、引言测量显微镜是一种重要的实验设备,广泛应用于科学研究、医学诊断和工业生产等领域。

本操作指南旨在提供对测量显微镜正确操作的详细说明,以帮助用户充分发挥其功能并获得准确可靠的测量结果。

二、器材准备在开始使用测量显微镜之前,请确保以下器材的准备:1. 测量显微镜主机:保证显微镜主机完好无损,镜头清洁。

2. 显微镜目镜和物镜:选择合适的目镜和物镜组合,根据需要调整倍数。

3. 光源:确保光源充足且均匀,在实验过程中保持稳定。

4. 校准标准物:选择适当的标准物进行校准,如标尺或标准样品。

三、调整显微镜1. 将测量显微镜主机放置在平稳的工作台上,并确保其水平。

2. 使用调焦手轮将物镜调至低倍数,将目镜视距调至适合的位置。

3. 通过调节液晶屏或透镜,确保目测视野清晰且无明显畸变。

4. 使用刻度盘校准器来检查目测视野中的刻度与实际值的差距,进行调整直至准确无误。

四、测量操作1. 将待测样品放置在显微镜台上,调整样品位置以确保其与测量尺度平行。

2. 使用调焦手轮将物镜调至所需倍数,通过调节目镜视距和焦距,使样品清晰呈像。

3. 使用刻度盘校准器或双目镜测微仪进行精确测量,记录结果。

4. 若需多个测量点,移动样品或显微镜台,重复上述测量过程,确保准确性和一致性。

五、注意事项1. 在使用测量显微镜之前,确认测量范围和要求,并选择合适的目镜和物镜组合。

2. 操作时需小心轻柔,避免碰撞和摩擦,保持显微镜镜头的清洁。

3. 在进行测量前,对测量范围内的标准物进行校准,确保测量结果的准确性。

4. 注意光源的充足和稳定性,保持适当的照明亮度,以避免影响样品的观察和测量。

5. 根据需要进行标定和校准,并在实验过程中根据实际情况调整测量参数。

六、维护与保养1. 使用完毕后,及时关闭测量显微镜电源,并将其安全放置在干燥、清洁的环境中。

2. 定期对显微镜进行清洁和维护,除去镜头上的污渍和尘埃,确保视野的清晰和准确。

万能工具显微镜的基本原理和测量方法

万能工具显微镜的基本原理和测量方法

万能工具显微镜的基本原理和测量方法万能工具显微镜是采用光栅细分和数字化技术的一种高效率的光学计量仪器,具有读数直观、简便和提高工作效率等特点,广泛地应用于各企业的计量检测、各级检测和校准试验室以及其他科学研究等部门的计量检测工作。

仪器可用影像法、轴切法或接触法按直角坐标或极坐标对机械工具和零部件的长度、角度和形状进行精密测量。

主要测量对象有:刀具、量具、模具、样板、螺纹和齿轮类工件及其它小型精密机械零件。

1 基本原理万能工具显微镜主要采用的是光学原理系统,本仪器(19JPC-V 型)主要包括两部分:瞄准显微镜系统和光栅读数系统。

1.1 瞄准显微镜系统主要是通过仪器照明光源,通过聚光镜,可变光栏,滤色片和反射镜照明置于玻璃工作台上的被测件,瞄准显微镜的物镜经棱镜的转折将被测件清晰地成像在米字线分划板上。

最后用目镜瞄准。

1.2 光栅读数系统:例如X坐标的标尺光栅与指标光栅所产生的莫尔条纹信号,被光电接收元件接收,然后通过电子学的数据处理,将X坐标的移动量,转换成相应位置的数字量,即实现了X坐标的自动记数。

①读数头的原理。

主要由三部分组成,分别为准直系统、光栅系统和光电转换系统。

从光源S发出的光,经聚光镜L,变成平行光束,照射指标光栅G1和标尺光栅G2,在G2面上就形成莫尔条纹。

当明暗变化的莫尔条纹,经过光电元件P转换后,条纹的移动量便转化为相应数量的电信号,将这些电信号经过电路处理,得到的脉冲数,换算后就是所需测量的长度。

当工作台带动标尺光栅移动时,近似正弦变化的光电信号,经硅光电池接收,送给光栅数显表。

由于读数头输出信号幅值比较小,所以必须将该信号送至数显表内进行放大,并经过细分、辨向电路,送往可逆计数器,计数器的加减与工作台的移动位置相对应,最后结果直接有数码管或显示屏显示出来。

2 测量方法和维护保养2.1 影像法调焦原则在万工显上进行测量时,为了保证测量的正确性,必须要求物像和米字線分划线的像在同一聚焦面上,这就必须按照正确的调焦原则进行操作。

万能测量显微镜的基本原理及测量方法

万能测量显微镜的基本原理及测量方法

1影 像 法 测 量 螺 纹 . ( ) 光 圈 1调
才能 瞄 准 , 则 将 产 生瞄 准误 差 。 否
调 焦 也 可 采 用 焦距 规 。 即先 使
用 影像 法 测 量 时 ,理 想 照明 光 线是一束平行 于光轴 的平行光 . 这 样。 工件 的光学 成像 失真 最小 。但 实 际照 明光 束 中往往 包 含斜 照平 行 光 . 这 样 的光 束 用 作 边 缘 比较 薄 的 工 件 成像 , 影响 不大 , 以忽略 ; 可 但对 于 曲
不 平 行 引 起 的 系统 误 差 。测 出 ,取 其 算 术 平 均 值 作 为测 量 结果 , : 即
中啊 计量 2 o ∞E1 51
使 目镜 米 字 线 的 中心 虚 线 和 牙
维普资讯
ON
作 中最 常 用 的 光学 仪 器 之 一 。 万 能 测 量 显 微 镜 的光 学 系 统 形成 物 方 远 心光 路 。 使被 测 工件 的光 学成 像 落在 仪 器 的分 划板 上 , 然后 通 过 目镜 使分 划 板 上 的标 准 刻 线 对 工 件 影像 进行
来 计 算 , 测量 螺 纹 时 , 佳 光 圈 直 在 最

几 种测 量 方 法 程序 简 介
悬 臂 ,使 工件 的像 清晰 地 成 在 分 划
板 上 。只 有 在 二 者 都 清晰 的情 况 下
动 ,此 时 两 次 横 向读 数 之 差 即为 被
测 螺纹 的 中径 。为 消 除 螺 纹 定 位 时 被 测件 轴线 和 横 向导 轨 不 垂 直 产 生 的误 差 , 以在 牙 型 左 、 两 侧 面各 可 右 测 一 次 ,取 其 算 术 平 均 值 作 为 中径
() 5 螺距 测量 测 量 螺纹 时 .调 整 好 焦 距 和 光 将 米 字 线 的 中 心 线压 在 牙 型轮

测量显微镜操作规程

测量显微镜操作规程

测量显微镜操作规程测量显微镜是物理学、化学、材料学、生物学等学科中常用的测量仪器。

本文将介绍测量显微镜的操作规程。

1.前置准备•准备样品:根据实验要求,准备所需的样品。

•准备测量显微镜:将测量显微镜放在水平台面上,调节显微镜的高度和视角,使样品位于显微镜的视野中。

2.装载样品•将待测样品放在显微镜台上,并使用调节螺旋装置轻轻转动样品,直到找到合适的测量位置。

•使用切换装置将目镜和物镜与光路连接起来,并观察样品,调整样品位置,使所需测量的部位进入视野中。

•将光学测量装置连接到显微镜上,例如目镜放大器等3.测量样品•调整光源:适当调节光源,使样品清晰可见,但不要过亮,以免损坏显微镜。

•调节物镜:首先使用最低放大倍率调节物镜,使得样品的整体形状和结构可以清楚看到。

然后,增加放大倍率,逐步放大所需测量的部位,直到所需精度最高。

•测量尺寸和距离:使用测量仪器对样品进行测量。

当需要测量样品上的角度、尺寸、距离等时,需要使用带有刻度的测量仪器对样品进行测量。

•记录测量数据:对每次测量进行记录,包括所测量的参数和测量数据等,并及时保存。

4.操作注意事项•使用显微镜时,应轻柔操作,不要用力过度,以免损坏显微镜。

•测量显微镜使用之前,应检查仪器是否正常,尤其是光源是否调节恰当,以保障测量精度。

•在操作过程中,若发现问题或异常情况,需要及时停止使用,并及时进行维修或更换部件。

•操作人员应遵守操作规程,进行集中管理,并定期对显微镜进行维护保养。

结语以上是测量显微镜的操作规程,包括前置准备、装载样品、测量样品和注意事项等方面的内容。

在使用测量显微镜时,一定要注意安全操作,严格遵守操作规程,以保障实验的进行及操作人员的安全。

测量显微镜

测量显微镜

三、选择初始结构
2、物镜
-lI =34.782 -lH '=1.899 lF '=38.027
-l=50.565 lH =5.145
f'=39.926 l'=137.391
26
第10讲
测量显微镜设计实例
三、选择初始结构 3、半五角棱镜
尺寸关系: a=1.082D b=D c=D 角度关系: <ACB=112°30’ <BAC=45° <ABC=22°30’
6
第10讲
测量显微镜设计实例
二、分析
5、目镜视场角
tgω2'= y1 ' / f目' =1.75/25=0.07
ω2' = 4º , 2 ω2' = 8º
7
第10讲
测量显微镜设计实例
二、分析
6、物镜数值孔径 Γ ≥300NA NA≤Γ/300=25/300=0.083
取: NA=0.07
8
第10讲
第10讲
测量显微镜设计实例
三、选择初始结构
1、目镜 f目'=25mm Γ目=10× 2 ω2' = 8º
选凯涅尔目镜 X=±5 f 2目' /1000=±3.125mm 目镜调节螺纹长度>6.25mm
19
第10讲
测量显微镜设计实例
三、选择初始结构
1、目镜
>=7.5mm 镜板距
P'
20
第10讲
测量显微镜设计实例
测量显微镜设计实例
二、分析
7、显微镜分辨率 σ =0.5λ/NA σ =0.5 λ/NA =0.5×0.000555/0.07=3.96 μm

01显微镜光学特性分析及参数测量

01显微镜光学特性分析及参数测量

实验一 显微镜光学特性分析及参数测量[实验目的]1.了解显微镜的结构及其光学特性参数。

2.掌握测量显微镜的视觉放大率、视场、数值孔径的原理和方法。

[仪器和装置]待测显微镜(10×物镜、5×目镜),测微目镜,小孔光阑,标准刻尺,照明光源[实验原理]显微镜是一种极为重要的目视光学仪器,它是人们用以观察小物体和认识微观世界的重要工具。

显微镜由物镜和目镜两部分组成。

1. 视觉放大率被观察的目标首先经物镜进行尺寸放大,然后由目镜组进行视觉放大。

所以显微镜的视觉放大率显Γ是物镜垂轴放大率β和目镜视觉放大率目Γ的乘积250f f β∆⨯ΓΓ''显目显目==- (1-1) 由几何光学可知,物镜的放大率β=物-f ∆ ,目镜的放大率250f Γ目目=,根据式(1-1)分别测量出显微物镜的垂轴放大率β和目镜的视觉放大率目Γ,即可得出显微镜的视觉放大率显Γ。

2. 视场通常是以能观察到的物平面上的最大尺寸作为显微镜的线视场,以毫米为单位。

显微镜的视场受安置在显微物镜像平面上的视场光阑所限制。

显微镜的放大率愈大,其线视场愈小。

测量显微镜的视场,可以用显微镜来观测标准毫米分划的刻度尺完成。

3. 数值孔径显微物镜数值孔径是显微镜分辨率和成象照度的基本判据。

数值孔径越大,显微镜的分辨率越高,照度也越大,因此它是显微镜的主要光学特性参数之一。

显微物镜的数值孔径等于物平面中心发出的成象光束孔径半角u 的正弦与物方折射率n 的乘积,用符号NA 表示,即N A = nsinu 。

对在空气中的物镜,物方折射率n =1,故N A = sinu 。

由数值孔径NA 的定义可知,若物方介质的折射率已确定,则只需测量物方孔径半角u 值即可通过计算求得NA 。

1-目镜2-被测显微物镜3-小孔光阑4-刻度尺图1 测量数值孔径的原理图图1是测量物方孔径角的原理图。

小孔光阑3放在物镜工作平面中心。

在距小孔光阑d 处安置一根标准刻尺4,刻尺上A 、B 两点发出的光线经小孔光阑后被物镜成象,因A 、B 两点之外发出的光线被物镜框挡住,不能参加成象,因而A 、B 对小孔光阑3的张角2u 就是孔径角2u 。

干涉显微镜测量原理

干涉显微镜测量原理

干涉显微镜测量原理
干涉显微镜测量原理是一种利用光干涉现象进行测量的方法。

该原理基于干涉仪的原理,利用光波的干涉现象来测量待测物体的形状和大小。

干涉显微镜的基本构造包括两个反射镜和一个光源。

光源通过透镜聚焦,然后经过一个分束器分成两束光,分别照射到待测物体的两个表面上。

由于待测物体表面的形状不同,两束光在经过物体表面反射后会产生相位差。

当这两束光重新汇聚时,就会发生干涉现象。

根据干涉现象的原理,当两束光的相位差达到某一特定条件时,就会出现明暗条纹,从而可以通过观察这些条纹来推断待测物体的表面形状。

干涉条纹的形状和间距与待测物体的厚度或高度有关,因此可以通过测量干涉条纹的参数来确定物体的大小。

干涉显微镜还可以用于测量物体的表面粗糙度。

当待测物体表面粗糙时,反射光的相位差会随着表面不平整度的增加而发生变化。

通过观察干涉条纹的变化,可以推断物体表面的粗糙度。

总结来说,干涉显微镜利用光波的干涉原理进行测量,通过观察干涉条纹的形状和变化来推断待测物体的形状、大小和表面粗糙度。

这种测量原理对于微小尺寸的物体非常有效,因此在纳米技术和微电子学领域具有重要应用价值。

显微镜尺寸测量方法

显微镜尺寸测量方法

显微镜尺寸测量方法显微镜尺寸测量是确定物体大小和形状的重要手段。

显微镜尺寸测量方法的正确应用可以大大提高测量精度和可靠性。

本文将介绍几种显微镜尺寸测量方法并分析其优缺点。

一、目测测量法目测测量是最常见的显微镜尺寸测量方法之一。

该方法根据目视颜色变化、大小、形状等特征估算测试对象的大小。

该方法简单易行,但准确性方面有限制。

目测测量法适用于要求测量区域在相对较大的范围内,并且只要求对样品进行大致估算和判断的情况。

目测测量方法通常不适用于需要测量细节或精度要求较高的情况。

二、比较法比较法是以已知尺寸的样品作为参照物,再将测试样品放在显微镜下与之比较来确定大小的方法。

该方法的优点在于准确性较高,适用于需要测量较小的物体的情况。

比较法需要选择正确的参照物,参照物的尺寸必须已知准确,参照物与测量样品的对比也需要准确对位。

比较法测量精度取决于选择的参照物质量和对比准确度。

三、分割法分割法是通过显微镜将被测样品分割成小部分,以精确定量的方式测量每部分大小来确定整体的大小。

该方法可以适用于测量种子、细胞等小尺寸物体。

分割法需要使用精密切割工具,和高分辨率显微镜。

该方法的主要限制是它是一项非常费时耗力的工作。

四、图像处理测量法图像处理测量法使用计算机数码技术和图像处理软件来分析显微镜图像,从而获取样品的大小。

该方法获得的测量结果精度高,而且可以自动化测量。

图像处理测量法适用于需要测量形状复杂,尺寸细微的样品。

但是,此方法需要专业的软件和设备,且相对较昂贵。

总结起来,显微镜尺寸测量方法有许多不同的种类和应用范围。

选择合适的测量方法需要考虑许多因素,如测量精度、测量时间、测量细节和使用成本等。

因此,在进行显微镜尺寸测量之前,应仔细分析需要测量的样品的大小、形状和其他特征,以选择最合适的测量方法。

测量显微系统

测量显微系统

16 15 14
17
18
19
13
11 12 10
9
8 7 6
123 4
5
斯米特棱镜
测微光路图
1物镜
2孔径光阑 3空气板(斯米特棱镜) 4分划板 5目镜内场镜 6目镜接目镜 7出瞳
测微的技术参数
• 1、镜筒:粗动:调节范围 90毫米,微动:调节范围2毫米,高(Z)测量:范围1毫米,最小读数 0.001毫米(比较测量),镜筒:双目镜筒 俯角45º;
普通显微光路图
物体AB经物镜第一次放大为像A`B`,像A`B`位于目镜的物方焦平面上, 它经目镜再次放大,形成虚象A``B``。
(一)、物镜 根据放大倍数的不同可分为 低倍物镜(10倍以下)、中倍物镜(20倍左右)高倍物镜 (40—65倍)。2、物镜主要参数包括:放大倍数、数值孔径和工作距离。 ①、放大倍数是指眼睛看到像的大小与对应标本大小的比值。它指的是长度的比值而不是 面积的比值。 ②、数值孔径也叫镜口率,简写NA 与显微镜的分辨力成正比。 ③、工作距离 物镜的工作距离与物镜的焦距有关,物镜的焦距越长,放大倍数越低,其 工作距离越长 (二)、目镜 1.目镜的结构 通常目镜由上下两组透镜组成,上面的透镜叫做接目透镜,下面的透镜 叫做会聚透镜或场镜。上下透镜之间或场镜下面装有一个光阑目镜的长度越短,放大倍数 越大(因目镜的放大倍数与目镜的焦距成反比)。 2.目镜的作用 是将已被物镜 放大的,分辨清晰的实像进一步放大,达到人眼能容易分辨清楚的程度。 常用目镜的 放大倍数为5—16倍。 (三)、聚光器 1、聚光镜的作用相当于凸透镜,起会聚光线的作用,以增强标本的照明。 2.可变光阑 可变光阑也叫光圈,位于聚光镜的下方,由十几张金属薄片组成,中心部 分形成圆孔。 (四)反光镜 反光镜是一个可以随意转动的双面镜,直径为50mm,一面为平面,一面为凹面,其作用是 将从任何方向射来的光线经通光孔反射上来。 (五)滤光器

测量显微镜操作规程

测量显微镜操作规程

测量显微镜操作规程
一、基本技术参数
1、测量工作台直径:120mm
2、工作台与物镜之间最大距离80mm
3、测微器分度值:0.01mm
4、测量台转动范围:不限
5、测量台刻度盘分度范围:0-360°
6、测量台刻度盘分度值:1°
7、测量精度:仪器示值±(5+L/15)微米。

(被测件长度mm)
二、操作方法
1、将被测试样放在测量工作台上,尽量放在玻璃中心位置。

2、转动显微镜调焦手轮,至视线清晰为止,用目视判断最薄点,旋转测量工作台并依靠纵横向的调节,把最薄点方向原始基准调至与十字线相重合,记录测试标志线所对应的刻度值X1.
3、调节横向手柄,测量工作台沿X线轴向移动,记录另一侧的读数X2,X1 与X2之差即为测量值。

4、旋转测量工作台,依次测出各点读数。

5、测量电线直径时,可用移动X、Y轴方向分别读取数值。

三、注意事项
1、随使用者眼睛视度,应预先调节目镜,使见到十字分划线清晰。

2、安放目镜的位置须将十字分划线与测量台X-Y轴方向重合。

3、测量环境光线不足时,须使用照明辅助设备,光源最好经过磨砂玻璃过滤,并尽量使光线对被测试样垂直照明,以免产生阴影,影响测量精度。

4、转动测微器进行测量时,应朝着同一方向运动,以免由于其他因素产生空位,影响测量精度。

5、如果被测试样尺寸固定,应该在测微螺杆上变换位置测量,以免某段长期使用,导致螺杆螺纹磨损,影响仪器精度。

6、使用后应对工作台及时清理,保持整洁。

编制:审核:批准:。

万能工具显微镜的测量方法和注意事项

万能工具显微镜的测量方法和注意事项

万能工具显微镜的测量方法和注意事项1 概述万能工具显微镜是一种多用途的光学机械式两坐标测量仪器,通常用影响法和轴切法测量精密机械零件的长度、角度和螺纹等。

以直角坐标或极坐标方法测量各种形状和位置复杂的机械零件的形状,例如扁平工件、光滑圆柱、椎体、螺纹的各项参数,刀具的轮廓角及其各项参数,样板和模具的几何形状,凸轮的坐标尺寸,圆弧半径、孔径和孔间距离等。

其长度测量读数可精确到微米,角度测量读数可精确到分,但在测量过程中一些细节的疏忽可导致其准确度大大降低。

本人在长期的工作实践中总结出一些经验。

2 测量方法2.1刀口法和轴切法:刀口法和轴切法是一种光学和机械综合的方法,主要测量螺纹的轴切面,这个方法也用于测量圆柱,圆锥和平的试件,因为调节误差极小不受外来影响。

例如:边缘不光洁,倒角遮住等影响。

应用这种方法的条件是试件要有光滑的平直的测量面,用手把测量刀移到靠住试件,它在测量平面上与试件接触。

对于圆形件,此测量平面与旋转轴相切,平行于刀口边缘的细线表示出试件的轴切面。

用角度测量目镜的基准刻线对准细线。

未磨损刀口的边缘与视场中通过十字线的对准轴线接触,在测量时不必考虑从细线到刀口边缘之间的距离,只有用磨损了的刀口测量时,才要求从量值中减去刀口的误差。

在这里需要注意的是:清除检验面上的灰尘和液体残迹,根据光隙检验刀口位置时,液体残迹会引起误差。

垫板和仪器的顶尖高度是配好的,不可调错,使用前要清洗一下。

2.2阴影法:阴影法纯粹的光学方法,它可以迅速的调节仪器来对准试件轮廓和比较形状。

这个方法要求试件放在自下而上的光路中,并处在对准显微镜的清晰范围内,这样才能得到试件的阴影像。

圆形工件的像是轴向平面的轮廓阴影,而平试件的阴影像决定于其边缘。

应用旋转目镜和角度测量目镜上的刻线与阴影相切而测量。

把试件的形状与自绘的图形比较时,可以用投影装置,使用双目观察。

2.3反射法:反射法和阴影法相似,也是光学接触法,反射法的特点是可以测量边缘和标记,例如:划线,样冲眼等此法也可以用旋转目镜的刻线图形来比较形状。

光学显微镜的测量极限

光学显微镜的测量极限

光学显微镜的测量极限
光学显微镜是一种利用光学原理,使显微样品可以被观测和分析的仪器。

它是研究物理、化学和生物学问题的重要工具。

一般而言,光学显微镜可将一个样品分辨成10~100倍大小,而最高的分辨率也可以达到1nm。

光学显微镜的最小测量极限取决于光学子系统的参数,如焦距、像差等。

一般而言,像素尺度(pixel)最小分辨率存在一定的测量极限,光圈的大小也是极限的因素。

根据光学定律,焦距贡献最大的极限因素是空间分辨率(L/NA),其中L 表示观察体积的最大距离,NA表示工作口径的数量值。

此外,NA值越大,极限分辨率也越高。

在技术上,最为现代的光学显微镜具有高分辨率,如低空间分辨率、高A值和高口径容量,可以提供0.1μm甚至0.03μm的单位空间分辨率。

另外,某些类型的显微镜,如扫描电子显微镜,其最小测量极限可以达到0.1nm。

总之,光学显微镜测量极限依赖于该镜头系统的性能,最低分辨率可以达到0.1μm~1nm,高端显微镜的最低空间分辨率可以达到0.03μm,细节的显微量测更加依赖于扫描电子显微镜,其最小测量极限可以达到0.1nm。

工具测量显微镜的测量介绍

工具测量显微镜的测量介绍

工具测量显微镜的测量介绍前言工具测量显微镜是指一种带有刻度线或数字显示装置的显微镜,可以用于精确测量微小零件的尺寸和形状。

它的使用范围很广,包括机械、电子、光学工业以及生命科学等领域。

在进行精密制造和精密测量的过程中,工具测量显微镜是极其重要的工具之一。

工具测量显微镜的分类工具测量显微镜通常分为两类:目镜刻度型和读数型。

目镜刻度型目镜刻度型的工具测量显微镜在目镜中添加了一条刻度线。

用户通过调整工具测量显微镜,使被测的物体与刻度线重合,以此来测量被测物体的大小和长度。

其最大的特点就是简单易用、价格低廉,因而在许多实验室和工作场所得到了广泛的应用。

读数型读数型的工具测量显微镜则安装了读数装置,可以直接读出被测物体的长度、宽度、高度等尺寸参数。

其最大的优点是测量精度高、准确度高,用户可以非常精确地读出测量数据。

而且,这种显微镜还有一个重要的功能,即保存和输出数据,使得测量结果可以被多方面地处理和分析,大大增加了实验数据的分析深度。

工具测量显微镜的使用方法使用工具测量显微镜,需要具备以下三个步骤:调整、对准、测量。

1.调整经过一段时间的使用,工具测量显微镜的各个部分可能会出现一定的变化,此时需要进行一定的校准。

首先,需要检查目镜调焦机构,以确保调焦能够正常工作;然后,调整亮度、对比度等参数,使图像清晰。

2.对准对准是指调整工具测量显微镜,使其观测的部位与被测物体重合。

这一步骤要素诸如优化放大倍率,调整焦距,调整角度等因素以进行最小最优点的对准,在量测之前将尽量排除误差。

3.测量测量是工具测量显微镜使用的最重要的部分。

在测量时,需要找到被测物体的最小点,在点上放置梭形部位,以获得最小测量值。

通常情况下,梭形部位的尺寸都已经排除了影响因素,使得测量结果更加准确。

工具测量显微镜的注意事项使用工具测量显微镜时候,需要注意以下几点:1.测量前后需要对显微镜进行彻底清洁显微镜使用后需要清洁,以消除引起误差的杂质,同时,在使用前还需要再次检查一下显微镜的清洁情况。

显微测量的原理

显微测量的原理

显微测量的原理
显微测量是一种精密测量方法,主要应用于精密仪器、光学元件、电子元件等的制造和检验。

显微测量的原理主要包括以下几点:
1. 显微镜的放大原理
显微镜通过将物体放置于镜头和目镜之间,利用透镜的放大作用将物体放大,从而达到清晰观察的目的。

显微镜的放大倍数取决于物镜和目镜的焦距比。

2. 误差来源
显微测量中的误差主要来源于显微镜的光学系统、测量目标的形状和表面状况、光源的光强和色温等因素。

其中,最主要的误差源是显微镜的光学系统,包括物镜和目镜的误差、镜筒的误差等。

3. 显微镜的调焦原理
显微镜的调焦是通过向上或向下移动物镜或目镜,改变物镜和目镜的相对位置来实现的。

当物镜和目镜的距离减小时,物镜的焦距也会随之减小,从而使得观察到的物体更加清晰。

4. 显微测量的方法
显微测量主要包括直接显微测量和比较显微测量两种方法。

直接显微测量是通过读取显微镜刻度盘上的刻度值来进行测量;比较显微测量则是将待测量的物体与一已知值进行比较,从而得出其精确尺寸。

总之,显微测量是一种高精度的测量方法,其原理主要包括显微镜的放大原理、误差来源、调焦原理以及测量方法等。

在实际应用中,还需要考虑光线、光源等因素的影响,以确保测量结果的准确性。

原子力显微镜测量标准

原子力显微镜测量标准

原子力显微镜测量标准原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)是一种表面形貌和力学性质的纳米级测量仪器。

在使用原子力显微镜进行测量时,通常需要考虑一些标准和最佳实践,以确保测量的准确性和可重复性。

以下是一些常见的原子力显微镜测量标准和注意事项:1.样品准备:样品的准备对于原子力显微镜测量至关重要。

表面应该尽可能平整,清洁,并且在显微镜的工作范围内。

确保避免样品表面上的尘埃、杂质或其他污染物。

2.扫描参数:针对不同的样品和测量目的,需要优化和选择适当的扫描参数,包括扫描速度、扫描范围、力曲线采集速度等。

这些参数的选择可能受到具体测量目的和样品性质的影响。

3.校准:在进行测量之前,需要对原子力显微镜进行仔细的校准。

这包括对扫描头的力常数(spring constant)和光栅(grating)的校准。

确保力常数的准确性对于力曲线的解释和力的测量非常重要。

4.力曲线:在进行力曲线测量时,确保力的范围和力曲线的形状适合于所研究的表面性质。

力曲线的解释可能包括弹簧常数、反馈增益、位移信号等参数。

5.温度和湿度控制:根据测量要求,可能需要对环境条件进行控制,以确保测量的稳定性。

温度和湿度的变化可能会影响样品表面的性质。

6.数据分析:进行测量后,对数据进行适当的分析是必要的。

这可能包括表面形貌分析、力谱分析、纳米力学性质的计算等。

7.标定和参考样品:对于一些应用,可能需要使用标定样品或参考样品,以验证仪器的性能和校准。

请注意,具体的原子力显微镜测量标准可能因设备型号、厂商和测量目的而有所不同。

因此,最佳的实践和标准应该参考所使用的原子力显微镜的操作手册和相关文献。

测量显微镜操作规程

测量显微镜操作规程

测量显微镜操作规程显微镜作为一种重要的科学研究工具,在生命科学、物理学、地质学等领域都有着广泛的应用。

为了保证显微镜的正常运行,提高显微镜工作人员的操作技能和安全意识,制定出一套规范的操作规程显得非常重要。

下面就给大家介绍一下测量显微镜的操作规程。

一、显微镜的开机操作1. 将显微镜的电源线插入通电插座。

2. 将镜头转至最下端。

3. 用清水或者特定的清洁剂擦拭台面以及显微镜的各个部分。

4. 按下开关,打开显微镜的电源。

5. 调节亮度按钮,调整显微镜照明光源的强弱。

二、样品置入1. 将显微镜的台面调整至水平状态,并用水平仪检验稳定程度。

2. 取出样品,并将样品放置在显微镜的台面上。

3. 用调节器将样品向上移动,直至样品与显微镜的镜头之间产生焦距。

三、显微镜的调焦1. 使用调焦器将样品放至显微镜屏幕中央。

2. 使用四个旋钮(粗调、细调、上下、左右)进行调焦。

四、显微镜的测量1. 首先使用目镜进行预测测量,以大致了解样品的大小和形态。

2. 使用目镜的刻度尺进行初步测量。

3. 使用镜头的主刻度尺和辅刻度尺进行精细测量。

4. 记录测量结果,包括样品的大小、形态、色泽、厚度等方面的数据及测量误差。

五、显微镜操作注意事项1. 操作前应注意洗手及消毒,减少污染源。

2. 操作过程中注意不要碰撞、摔落显微镜。

3. 操作时要注意用专门的工具进行调节,不要用力过猛。

4. 操作完毕后,及时关闭电源及清洁显微镜。

以上就是显微镜的操作规程,大家在操作显微镜时应严格遵守操作规程,确保显微镜的正常运行,提高显微镜工作人员的操作技能和安全意识。

测量显微镜使用说明书

测量显微镜使用说明书

测量显微镜使用说明书一、引言感谢您选择使用本产品,为了帮助您更好地使用测量显微镜,我们提供以下使用说明。

请仔细阅读本手册并按照指导进行操作。

二、产品概述测量显微镜是一种用于实现高精度物体测量的专用显微镜。

它结合了光学显微镜和测量仪器的功能,能够提供高放大倍数和精确的测量结果。

三、产品特点1. 高放大倍数:本产品提供多种放大倍数,可根据需要选择适当的倍数进行观察和测量。

2. 数字显示:测量结果以数字方式在显微镜上显示,提供直观的测量数值。

3. 高精度:采用先进的光学设计和数字测量技术,确保测量结果的高准确性。

4. 易于操作:设备操作简单易懂,用户无需专业的培训即可快速上手。

四、使用方法1. 准备工作:a. 将测量显微镜放置在平稳的工作台面上,并接通电源。

b. 使用合适的清洁布清理测量显微镜的镜片和物体台。

2. 调节放大倍数:a. 根据需要选择合适的放大倍数,可通过旋转镜管上的倍数切换钮进行调节。

b. 观察显微镜显示屏或目镜,确保放大倍数切换到期望的倍数。

3. 放置待测物体:a. 将待测物体放置到物体台上,并使用固定装置固定物体。

b. 调节物体台的高度,使待测物体处于最佳观察位置。

4. 进行测量:a. 使用显微镜观察待测物体,并通过显微镜显示屏或目镜对其进行调焦,确保图像清晰。

b. 通过显微镜上的测量按钮,将显示屏或目镜对准待测物体上的两点或多点进行测量。

c. 结果将以数字显示在显微镜上,您可以记录或进行进一步的数据处理。

五、维护保养1. 保持清洁:a. 使用干净的布或专用清洁布擦拭镜片和物体台,保持其清洁无尘。

b. 防止污染物进入显微镜内部,避免对仪器造成损坏。

2. 避免猛烈震动:a. 使用时请避免将测量显微镜暴露在猛烈震动的环境下,以免影响测量的准确性。

3. 定期检查:a. 定期检查显微镜的各部件是否完好,如发现损坏请及时维修或更换。

六、常见问题与解答1. 为什么测量结果与实际值有偏差?答:可能是由于未调焦准确或放置不稳造成的物体移动,需要稳定放置物体并进行准确定焦。

测量显微镜操作规程

测量显微镜操作规程

测量显微镜操作规程
测量显微镜操作规程之相关制度和职责,1、调节目镜,使操作者视度与目镜一致,见到清晰的十字分划一线。

2、显微镜调焦时,先将镜筒下降使物镜将近工作件表面时,然后逐渐上升,至见到清晰象面为止。

3、反光镜使用条件,被测件属于透明件,工作体...
1、调节目镜,使操作者视度与目镜一致,见到清晰的十字分划一线。

2、显微镜调焦时,先将镜筒下降使物镜将近工作件表面时,然后逐渐上升,至见到清晰象面为止。

3、反光镜使用条件,被测件属于透明件,工作体积甚小未能充满视场者,在边缘处进行测量时,可随光源方向转动反光镜,取得适当亮度的视场。

应该避免直射光线,以免发生耀光,影响测量精度。

4、转动测微器进行测量时,应朝同一方向运动,以免由于其他因素产生空位,影响测量精度。

5、作精密测定时工作地点必须维持温度变化范围在20±5℃以内。

6、仪器存放必须防尘、防潮、防震、清洁。

篇2:显微镜技术岗位职责
岗位职责:
1.掌握公司产品技术特点、应用领域,关注产品应用和技术改进,及时沟通反馈。

2.产品应用解决方案的调研、制定、沟通与反馈。

3.研究负责产品的应用情况,包括客户群体特点、行业现状及未来发展等,开拓更多潜在市场。

4.负责光学显微镜及附属设备的售前技术交流,公司内外部培训。

任职条件:
1.硕士及以上学历,金属材料相关专业。

2.英语六级以上,良好的英文表达能力,能够阅读并翻译相关仪器的资料。

3.具有良好的沟通能力、有责任心、进取心,遵守职业道德。

4.有使用光学显微镜等仪器经验者优先。

电子测量显微镜用途有哪些

电子测量显微镜用途有哪些

电子测量显微镜用途有哪些电子测量显微镜用途广泛,可以在很多领域发挥重要作用。

以下是电子测量显微镜常见的用途:1. 材料科学与工程:电子测量显微镜被广泛应用于材料科学与工程领域,用于研究和评估材料的微观结构和性能。

例如,可以使用电子测量显微镜观察金属、合金、陶瓷、高分子材料、纳米材料等的晶体结构、晶体缺陷、晶界结构和微观组织等特征。

2. 生物学和医学研究:电子测量显微镜在生物学和医学研究领域起到了至关重要的作用。

它可以用于观察和研究生物细胞、组织和器官的微观结构和形态特征,如细胞器、细胞核、细胞膜等。

同时,电子测量显微镜还可以用于研究病原体、病毒等微生物的结构和特征,对于疾病的研究和诊断有重要意义。

3. 纳米技术与纳米材料研究:由于电子测量显微镜具有较高的空间分辨率,因此也被广泛应用于纳米技术与纳米材料研究领域。

通过电子显微镜的方法,可以观察和研究纳米材料的形貌、结构、大小分布等特征,同时还可以评估纳米材料的表面形貌和光学性质等重要参数。

4. 材料性能表征与分析:电子测量显微镜不仅可以观察和分析材料的形貌和结构特征,还可以用于评估材料的物理和化学性质。

例如,可以通过电子能谱分析(EDS)和选区电子衍射(SAED)等技术,对材料进行成分分析和晶体结构表征。

5. 环境科学和地质学:电子测量显微镜在环境科学和地质学领域也有重要应用。

例如,可以用于观察和研究大气颗粒物、水中悬浮物、土壤颗粒、矿物颗粒等微观颗粒物的形貌和结构,从而了解其来源和性质。

同时,电子测量显微镜还可以用于对岩石、矿物、煤炭等地质样品进行形貌和组织特征分析,为地质学研究提供重要支持。

6. 电子器件和半导体研究:电子测量显微镜在电子器件和半导体研究中也有广泛应用。

例如,可以用于观察和表征微电子器件、集成电路、晶体管、光电二极管等器件的形貌和结构特征,从而评估其性能和可靠性。

同时,电子测量显微镜还可以用于研究半导体材料的晶体缺陷、禁带结构、界面特性等重要参数。

测量显微镜

测量显微镜

测量显微镜第四章光学实验本章安排的光学实验,实验中要用到多种光源和光学仪器,仪器的核心部分是各种光学元件,如平面镜、透镜、棱镜、光栅、狭缝等,其中每一元件都对光的传播产生一定的影响,从而形成不同用途的特定光路,最终成像于一定位置以便观测。

由于实际上看不到光路,因而借助光路图来了解光学仪器的原理就具有十分重要意义,只有彻底弄懂光路和光路中各元件的作用,才能在调节仪器时头脑清楚、操作有序,以较短的时间达到预期目的。

光学仪器大多精密贵重,每台仪器价值动辄千元、数千元,使用时要特别注意维护。

尤其是光学元件的工作面,都是精密加工而成的光学面,其光学性能很高但是机械性能很差,所以严禁触摸、摔碰。

有的仪器还具有精密的调节和读数机构,使用时一定要按规程进行。

§4.1 等厚干涉【预习重点】21.利用等厚干涉现象测微小厚度和凸透镜曲率半径的原理和方法。

2.等厚干涉条纹的分布和形状由什么决定。

3.处理数据的逐差法。

【实验目的】1.观察研究等厚干涉现象。

2.利用等厚干涉测量微小厚度和凸透镜的曲率半径。

3.学习逐差法处理数据。

【实验原理】利用透明薄膜两表面对入射光的依次反射,入射光的振幅波分解成有一定光程差(Optical path length difference)的几个部分。

这是一种获得相干光的重要途径,称为分振幅法,它被多种干涉仪所采用。

若两束反射光在相遇时的光程差取决于产生反射光的薄膜厚度,则同一干涉条纹上各点所对应的薄膜厚度相同,这就是等厚干涉(Interference of equalthickness)。

34 在白光照射下,肥皂泡、油膜以及氧化的金属表面上的彩虹,都是薄膜上常见的等厚干涉现象。

这种干涉条纹类似于地形图上的等高线,每一条纹就是膜上一切光学厚度(薄膜折射率n 与厚度d 的乘积nd )为常数的点的轨迹。

一般情况下,n 并不改变,所以条纹的位置实际上对应于薄膜厚度为常数的区域。

本实验将根据等厚干涉条纹的分布分析薄膜的特性。

  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

第四章光学实验本章安排的光学实验,实验中要用到多种光源和光学仪器,仪器的核心部分是各种光学元件,如平面镜、透镜、棱镜、光栅、狭缝等,其中每一元件都对光的传播产生一定的影响,从而形成不同用途的特定光路,最终成像于一定位置以便观测。

由于实际上看不到光路,因而借助光路图来了解光学仪器的原理就具有十分重要意义,只有彻底弄懂光路和光路中各元件的作用,才能在调节仪器时头脑清楚、操作有序,以较短的时间达到预期目的。

光学仪器大多精密贵重,每台仪器价值动辄千元、数千元,使用时要特别注意维护。

尤其是光学元件的工作面,都是精密加工而成的光学面,其光学性能很高但是机械性能很差,所以严禁触摸、摔碰。

有的仪器还具有精密的调节和读数机构,使用时一定要按规程进行。

§4.1 等厚干涉【预习重点】1.利用等厚干涉现象测微小厚度和凸透镜曲率半径的原理和方法。

2.等厚干涉条纹的分布和形状由什么决定。

3.处理数据的逐差法。

【实验目的】1.观察研究等厚干涉现象。

2.利用等厚干涉测量微小厚度和凸透镜的曲率半径。

3.学习逐差法处理数据。

【实验原理】利用透明薄膜两表面对入射光的依次反射,入射光的振幅波分解成有一定光程差(Optical path length difference)的几个部分。

这是一种获得相干光的重要途径,称为分振幅法,它被多种干涉仪所采用。

若两束反射光在相遇时的光程差取决于产生反射光的薄膜厚度,则同一干涉条纹上各点所对应的薄膜厚度相同,这就是等厚干涉(Interference of equalthickness)。

在白光照射下,肥皂泡、油膜以及氧化的金属表面上的彩虹,都是薄膜上常见的等厚干涉现象。

这种干涉条纹类似于地形图上的等高线,每一条纹就是膜上一切光学厚度(薄膜折射率n与厚度d的乘积nd)为常数的点的轨迹。

一般情况下,n并不改变,所以条纹的位置实际上对应于薄膜厚度为常数的区域。

本实验将根据等厚干涉条纹的分布分析薄膜的特性。

一、用劈形膜测微小厚度如图4.1.1,把两块光学平玻璃OB和OA迭在一起(图中略去了玻璃厚度),在一端插入欲测厚度的薄片,则在两玻璃板间形成一个劈形空气膜(Wedge-shaped airfilm),也称空气劈尖。

12当用单色平行光垂直照射时,任一条光线在空气劈尖上下两表面反射产生的两条光线是相干光,考虑到空气的折射率可看作是1,其光程差为22λδ+=e (4.1.1)式中e 为入射点薄膜的厚度,λ为入射光的波长。

当 2)12(λδ+=k , k =0,1,2,… (4.1.2a )是相消干涉,呈暗条纹;当 λδk =, k =1,2,… (4.1.2b )是相长干涉,呈明条纹。

整个劈形空气膜上的干涉呈现一族与劈棱平行的间隔相等、明暗相间的直条纹,且相邻条纹之间的厚度差2λ=∆e 。

图4.1.1 劈形薄膜干涉的观测(4.1.2a )和(4.1.2b )式表示的是最大相消、相长干涉的条件,对应于干涉条纹的最暗和最明。

实际上条纹的明暗是逐渐过渡的,并无明显的界限,但由于人眼容易判定最暗,所以常观测暗条纹来进行有关的测量。

把(4.1.1)式和(4.1.2a )式联立,解得与k 级暗条纹对应的空气膜厚度为2λke = (4.1.3)3图4.1.2 牛顿环设劈尖上由劈棱到被测厚度之间暗条总数为N ,则被测厚度2λNd = (4.1.4)若入射光波长λ已知,则数出N 即可求得d 。

二、用牛顿环测平凸透镜的曲率半径设被测平凸透镜的凸面曲率半径是R ,把它的凸面与一光学平玻璃迭在一起,如图4.1.2(a ),则二者之间就形成一空气薄膜,中间接触点厚度为向边缘逐渐变厚。

当波长为λ的单色光垂直射入时,干涉图样是以接触点为中心的同心园环,明暗相间,中心条纹宽而疏、边缘条纹细而密,称为牛顿环(Newton ′s ring ),如图4.1.2(b ),牛顿环也是等厚干涉条纹,表示劈形空气膜光程差的(4.1.1)式仍然适用。

由图4.1.2(a )可知。

222)(e R r R -+=化简得222e eR r -=由于空气膜的厚度远小于透镜的曲率半径,即e <<R ,可略去2e ,得Rr e 22= (4.1.5)将(4.1.5)式代入(4.1.1)式,得22λδ+=R r与相消干涉的条件2)12(λδ+=k 联立,可解得,2λkR r k = k =0,1,2,… (4.1.6) 式中k r 为第k 级暗环的半径,λ已知,测出k r 就可由(4.1.6)式求得R 。

理论上,透镜凸面和平板玻璃只有一点接触,但由于接触压力引起的形变,接触处实际上为一圆面;再者,若有微小尘粒,又能使两玻璃面相离一定距离而没有接触点,这两种情况都引入附加的光程差,给测量结果带来系统误差。

设附加厚度为±a ,则由相消干涉的条件 2)12(2)(2λλδ+=+±=k a e得 a k e ±=2λ将(4.1.5)式代入得 Ra kR r 22±=λ 即系数误差相当于(4.1.6)式右端增加了一常数项Ra 2±。

4此误差可用下述方法消除。

取第m 、n 级暗条纹,相应的暗环半径为Ra nR r Ra mR r n m 2,222±=±=λλ两式相减,即可消去附加项,得λR n m r r n m )(22-=-在实验中,由于不易确定暗环中心,因而不便测暗环的半径,所以用易测量的直径取代得λ)(422n m d d R nm --= (4.1.7)三、等厚条纹的定性判断等厚干涉相邻暗条纹间的薄膜厚度恒差半个波长,这一事实启发我们用作图法定性判断各种形状的条纹的分布。

以薄膜表面OA 为基准,以/2λ的象征间距,作一平行线族,各条平行线与薄膜表面OB 的交点记为1、2、3,…,从这些点向下投影,即可定出干涉条纹的位置。

图4.1.3画出两个棱角不等的劈尖和一个单调增厚的曲面薄膜产生的等厚条纹。

图4.1.3 等厚条纹的分布与薄膜厚度变化的关系【实验仪器】一、测量显微镜(读数显微镜)测量长度时,如果被测物体不能与量具直接接触,或者被测物体较小时,常用光学仪器来进行测量,其中最常用的就是测量显微镜(Measuring microscope),也叫读数显微镜(Reading microscope)。

它可以用来测量刻线距离、刻线宽度、园孔直径等,用途较广。

显微镜的光路如图4.1.4。

被测物位于物镜焦点F1外稍远处,因此通过物镜成一个放大的实像,位于目镜焦点F2之内一点。

此实像作为目镜的物,经目镜成虚像到明视距离上进行观测。

显微镜上装配一定的测量系统就成为测量显微镜,其读数原理与千分尺相同,图 4.1.5是载物台移动式显微镜,图4.1.6是其光学系统,目镜安装在目镜座的目镜套管内,可前后伸缩,目镜止动螺旋可以固定目镜的位置,目镜可转动,也有固定螺旋。

物镜直接装在镜筒上。

转动调焦轮,可使显微镜筒上下升降进行调焦。

测量时,旋转测微鼓轮,载物台沿X轴方向移动,旋转测微器则载物台沿Y轴方向移动。

测微鼓轮上刻有100条等分线,每格相当于移动0.01mm,其仪器最大允许误差(MPE)为△仪=±0.005mm。

图4.1.4显微镜光路图测量显微镜的调节和使用步骤如下:1.采光。

调整反光镜的角度,使从目镜中看到明亮的视场。

2.调叉丝像清晰。

叉丝是用于测量的准线,所以在使用之前,必须改变目镜和叉丝之间的距离,使得叉丝清晰。

方法是转动目镜筒的端盖(目镜就安装在此盖上),使从目镜中观察到的叉丝清晰(即叉丝成虚像在明视距离上)。

用目镜观察时,两眼都要睁开,两眼离开目镜适当距离,以能轻松地看清叉丝和整个视场为宜。

3.调待测物的像清晰。

把待测物放在载物台的中心,旋转X轴测微器与Y轴测微器使待测物与物镜对准。

从侧面观察,旋动调焦手轮使整个镜筒下移接近但不能接触待测物。

然后反向旋动调焦手轮使镜筒上升,同时从目镜中观察,直至看清物体的像,此步调节称为调焦。

注意:从目镜中观察时,切不可错调手轮,以免物镜与待测物接触而损坏仪器和待测物。

测圆的直径时,务必要调焦到圆的边缘清晰,调焦正确时,待测物准确成像在叉丝平面上。

56如略有偏差,很难直接判断,此时可左右晃动眼睛,观察物像与叉丝有无相对移动,如有,则说明物体成像面与叉丝平面不重合,这种现象就是视差(关于视差可参见§2.2望远镜的介绍)。

此时需要继续细致的调焦,直至消除视差才能进行下一步调节。

4.调叉丝方位。

其目的是使横竖叉丝分别与载物台的X 轴和Y 轴平行。

先粗调,松开目镜的止动螺丝,转动目镜筒,使从目镜中观察到的叉丝尽量横平竖直。

再细调,(1)用X 、Y 测微器将物像调到叉丝交点处,且与横叉丝相切,如图4.1.7(a );(2)用X 轴测微器将物像调到视场边缘,如图4.1.7(b )(或物像下移至与横叉丝相割);(3)微转目镜筒,使物像与横叉丝相切,如图4.1.7(c )。

重复(1)、(2)、(3)调节,直至旋动X 轴测微器时,物像一侧始终与横叉丝相切移动为止。

调好后,旋紧目镜的止动螺丝。

图4.1.7 差丝方位调节过程图4.1.6 测量显微镜光学系统1.目镜接筒2.目镜3.锁紧螺钉4.调焦手轮5.标尺6.测微鼓轮7.载物台8.半反镜9.物镜筒 图4.1.5 测量显微镜结构75.测量(用X 轴测微器):(1)转动X 轴测微器,使物像与竖叉丝相离,如图4.1.8(a )。

(2)反向旋转X 轴测微器,使物像靠拢竖直叉丝,直到物像的一侧与竖直叉丝相切为止,如图4.1.8(b ),记录X 轴测微器的读数1X 。

(3)沿同一方向转动X 轴测微器,使物像越过竖直叉丝在另一侧与竖直叉丝相切,如图4.1.8(c ),记录X 轴测微器的读数2X 。

则被测长度(圆的直径)为21X X d -=图4.1.8 测量圆的直径6.注意:(1)测量时,中途(由图8(a )→(b )→(c ))不允许改变X 轴测微器的转动方向,这是为了避免回程误差。

在相同条件下,计量器具正反行程在同一点示值上被测量值之差的绝对值,叫回程误差。

由于工艺的原因,测微螺栓(与X 轴测微鼓轮相连)和螺母(与载物台相连)之间不是紧密配合的,如图4.1.9,当X 轴测微器改变转动方向时,总有一段空转过程(即鼓轮空转而不拖动载物台),在此过程中X 轴测微器读数的改变不能反映物像与竖直叉丝的相对移动,因而导致回程误差。

图4.1.9 形成回程误差的原因(2)X 轴测微螺旋的螺距为1毫米,因此鼓轮分度为100,读数的有效数字与千分尺相同。

使用前应核对一下当鼓轮示值为零时,主尺基准线是否恰好与某一毫米刻线对齐。

若不齐,属于安装问题。

使用中注意不要读错一毫米;更不要在主尺上反向读数,如将27毫米多读成32毫米多。

相关文档
最新文档