量具内部校准规程-高度尺、深度尺
高度尺指针校准规
高度尺指针校准规
一.且的:为使得内一起校准人员进行赢度只校准时有一致的标准可依循。
二.范围:适用于公司内部所有高度尺的校准作业。
三.名词定义:无
四.校准条件
1.环境温度:23±5℃。
2.相对湿度:小于80%。
3.经国家认可的第三方校准机构校准合格的高度尺量块一套。
4.高度尺校准用标准器:3级步距规、杠杆百分表、1级以上大理石平台等。
5.校准前,应将被校高度尺及量块置于木桌上1小时。
五.内部校准测试步骤:
1.清洁:用无尘布蘸酒精擦拭高度尺各部位油污、灰尘及杂物等;
2.外观目视:
高度尺表面应无影响其使用性能的锈蚀、碰伤、裂纹等外观缺陷;用手轮移动尺框时,手轮在摇动时手感力量应均匀;无卡滞和松动现象;锁紧手柄能准确、可靠地将尺框固定在尺身上;千分表各部分正常,如液表盘完整、清晰、探头正常工作。
3.底座工作面平面度:底面工作面平面度最大允许值为0.01mm (在底座工作面边缘1mm范围内不计)底面工作面平面度简易测量方法:将高度尺置于大理石平台上,用0.01mm薄片塞尺检测底面工作
面与大理石平台间间隙,若能塞入超过边缘1mm,底面工作面平面度超过允许公差。
4.示值误差测量:
将高度尺装上百分表,用步距规来测量,记录测量值与标准值于校准记录表中。
测量仪器内部校正规程(范本)
文件编号: 版本: 生效日期: 分发日期:
测量器具内部校准规范
(光回波损耗测试仪, 耐压测试仪, 绝缘电阻测试仪)
页码:
7. 目的 对光电性能测试仪器内部校准,确保其准确度和适用性保持完好。 8. 适用范围 适用 A19503A 型 回波损耗测试仪,TYH2681 型 绝缘电阻测试仪,MCH2672G 型 耐压测试仪的内部校准。 9. 校准用基准材料 a)经外校合格的以上型号的校准证书及检测报告 b)经外校合格的万用电表及购买符合国家标准的辅助测试的基准材料(如 5 环 100MΩ 精密电阻 20 个,1:100 的衰减器 1 支,基准跳纤 5 条等) 10.测验环境要求 室温 11.校准步骤 11.1 光回波测试仪校准步骤 a),将检测并标有插入损耗/回波损耗值的 5 条基准跳纤分别按 A19503A 型 回 波检测仪(具体检测顺序按产品使用说明书,测试原理如下图 1,图 2)进行检测,并 分别记录每条跳纤的实测数据,同时在跳纤上做好标识记录。 b), 将该被测数据与原回波测试仪外校时所测得数据(具体见外校检测报告) 对比,如各跳纤损耗均与原有数据几乎接近,损耗值偏差均在 0.01dB 范围内时,判定该 回波损耗测试仪为合格,否则判定为不合格。 c),该回波损耗测试仪已正常使用后应定期送国家认准的计量局校正,具体时 间见《年度测量仪器校准计划》 。 插入损耗测(试图 1)
3
测量仪器校正记录表
使用部门: 序 号
01 02 03 04 05 06 07 08 09 10 11 12 13 附:以上送校日期如逢节假日休息将往后类推一天送校
仪器编号
仪器名称
规格/型号
校正 类别
校正周期
送校 日期
校正 状态判定质检主 Nhomakorabea审核日期:
量具内部校准规程
1、游标卡尺内部校准规程1目的对游标卡尺进行内部校准,确保其准确度和适用性保持完好。
2范围适用于普通游标卡尺及带表游标卡尺的内部核准。
3校验基准外校合格的量块。
4环境条件室温5校验步骤检查卡尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹,带表卡尺表头的指针是否完好,有无松动,刻度是否清晰,推动表头是否平稳、平滑。
调校零位,或使指针对准零点。
取2~3块任意基准量块进行度量,量块被测面要干净、平整。
每块连续测量三次,每次测量值均应在允许误差范围内,将其平均值记录在《量具内部校验记录表》内。
允许误差范围根据不同卡尺的精度分为±、±。
测内径接触面磨损程度:取两块量块(构成测量的基准面)夹紧一块量块成“H”型,然后移动表头,使卡尺上面的测量端张开后靠紧两基准面进行读数,每块测量三次,取平均值。
测量值与标准值根据不同卡尺的精度分为±、±,将其平均值记录在《量具内部校验记录表》中。
可根据不同量程的卡尺选用不同的基准量块或组合进行校准;历次测量值与标准值之差,均在允许误差范围内,判校准合格;6校准周期每年一次7相关记录《量具内部校验记录表》2、千分尺内部校验规程1目的对千分尺进行内部校准,确保其准确度和适用性保持完好。
2范围适用于千分尺的内部校准。
3校验基准外校合格的标准量块。
4环境条件室温5校验步骤检查千分尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹,刻度是否清晰。
扭动千分尺螺栓调校零位,使刻度对准零点。
根据不同量程的千分尺选择适宜的标准量块3~4块,(可对标准量块进行组合测量)。
每块量块连续测量三次,每次测量值均应在允许误差范围内,将其平均值记录在《量具内部校验记录表》内。
允许误差范围为±。
外径千分尺的校验:任意取5-6块标准量块,取两块量块(构成测量的基准面)夹紧一块量块成“H”型,扭动螺栓使外径千分尺的测量端张开后靠紧两基准面进行读数,每块测量三次,每次测量值均应在允许误差范围内。
计量器具内部校准规程
计量器具内部校准规程1 目的对公司内的计量器具进行内部校验,确保其准确性和适用性,保持完好。
2 范围适用于公司内长度类度量尺(如游标卡尺、高度尺)、检具、塞规等的内部校准。
3 职责内校由质检部门标准校检量具校检。
4 校验仪器及设备送检合格的万能角度尺,送检合格的直角尺,送检合格的钢直尺,送检合格的钢卷尺,送检合格的数显卡尺等。
5 环境条件1. 温度: 23 ±2 ℃2. 湿度: 50 ±20 %RH6 校验6.1 卡尺、高度尺、深度尺6.1.1 校检项目:1. 外观检查2. 示值误差检测6.1.2 校验仪器及设备外校合格的卡尺、外校合格的标准块(1-100mm 38块2级)。
6.1.3 校验标准6.1.4 校验步骤:1. 外观检查:检查尺子测量接触面是否平整、干净,无污渍、锈迹,表头的指针/游标是否完好,有无松动,刻度是否清晰,推动表头是否平稳、平滑。
各功能能稳定、工作可靠。
2. 示值误差检测:(1)将尺子调至零点位置,使读数归零、指针对准零点。
(2)选取一块标准量块进行测量,读取其数值。
(注意:取放标准量块时,必需戴细纱手套;测量过程卡尺要与被测量块同方向平直。
(3)用同样的方法,取3~5组不同量块进行测量。
测量点如下图(4)不同量程的尺子可选用不同的基准块或其组合进行校准,对标准块量测值误差,不能大于6.1.3项表格内的允许误差。
(5)将检定结果填写在《计量器具校检表》内。
校准周期:12个月。
6.2 钢直尺6.2.1 校检项目:1. 外观检查2. 示值误差检测6.2.2 校验仪器及设备外校合格的标准直尺, 校准参考依据JJG1-1999钢直尺检定规程。
6.2.3 校验步骤:1. 外观检查:(1)尺的端边、侧边及背面应光滑,不应有毛刺、锋口和锉痕等现象。
(2)尺的刻线面不应有碰伤、锈迹及影响使用的明显斑点、划痕。
(3)线纹必须清晰,垂直到侧边,不应有目力可见的断线现象存在,半毫米、毫米、半厘米、厘米线纹应用户不同长度的线纹表示。
量具及测量仪器校正指引
b.工作面平面度:清洁磁座、大理石平台及高度尺,使工作面无灰尘、油污,将磁座放置于平台上,用高度尺对磁座工作面测量其平面度及垂直度,测量差值不允许超过0.02MM。
5.3.6.4 校正周期:12个月。
5.3.6.5 相关记录:《量具仪器校正记录一览表》
5.1.2品管部(不影响生产的前提下)合理安排量具及测量仪器的外校;
5.1.3品管部填写《申购单》经批准后和需外校的量具仪器一起送交采购部;
5.1.4采购部联络有资格的校准机构,将校正的量具仪器送校准机构校正,并跟进校正的进度;
5.1.5对外校返回量具仪器的校正结果登记(包括校正日期、校正结果)在《量具仪器校正记录一览表》,保存校验报告。
a.检查塞尺的工作面有无划痕、毛刺、锈斑等影响使用计量特性的外观缺陷;
b.保护板上应标出制造厂商、规格及出厂编号,每片塞尺上应标出厚度的标称值;
C. 塞尺与保护板的联接应可靠,塞尺绕联接件转动应灵活,不得有松动、卡滞现象。
d.示值误差:用外校合格千分尺进行校准,对每片塞尺的工作长度至少取5点测量,边缘1㎜内超负公差可接受,误差不允许超过±0.005㎜。
5.3.3.2环境条件:室温20±5℃检定室内相对湿度不大于80%
版本号
生效日期
拟制
审核
批准
5.3.3.3校验步骤
a. 外观: 目视平台上色彩均匀,不应有裂纹、划痕、碰伤、凹坑等影响平台使用准确度的缺陷;
b. 工作面平面度误差校准:清洁平台,高度尺,使其无灰尘、油污,再在平台前、中、后各选取三点,用高度尺测量其值并记录之,测量结果的最大值与最小值的差值就是平面度的误差值,最大误差值不允许超过0.02MM。
高度尺检定规程
高度尺检定规程本规程依照中华人民共和国计量规程JJG 286-82,结合本厂实际情况而制定,适用于本公司新购、修理后和使用中的分度值为0.01mm、0.02mm、0.05mm的高度尺检定。
一、检定项目和检定工具高度尺的检定项目和检定用的主要工具见下表:注:表中“+”表示应检定,“-”表示可不检定二、检定室温度及室内平衡时间检定室的室内温度应为:20±6℃,被检尺与量块的平衡温度时间见下表规定:三、技术要求1、外观的检定新制的高度尺不应有碰伤、锈蚀、带磁或其它缺陷,刻线也应清晰、均匀。
高度尺上应有测量范围、制造厂名(或厂标)及出厂编号等标志。
测量爪刃口应无缺损,镀层完好。
显示器镜面清晰无伤痕,可清晰识别示值。
使用中和修理后的高度尺不应有影响使用准确度的外观缺陷。
2、各部分相互作用的检定高度尺各运动部分要灵活,不得有阻滞、摩擦和卡住现象。
锁紧装置的作用应切实有效。
底座放置在平台上应平稳,尺框与微动装置应能沿尺身平稳移动,无卡住或晃动现象,靠自重不得下滑,也不得与尺身刻线面摩擦。
3、刻线宽度和刻线宽度差检定对于游标型高度尺,尺身和游标的刻线宽度差,在测量范围内检定时,应不超过下表规定,我司内检允许目视判定,在尺身测量范围内和游标上各抽3条,目视无明显差距可判为合格。
4、量爪测量面和底座工作面的表面粗糙度量爪测量面和底座工作面的表面粗糙度应不超过0.4μm.5、量爪测量面和底座工作面的平面度量爪测量面和底座工作面的平面度应不大于0.012mm,只允许中间凹,沿边缘1mm范围内允许塌边。
我司内检使用1级刀口尺光隙法目力检定。
6、测高量爪工作尺寸偏差及两测量面平行度移动尺框使测量爪工作面与检验平台接触时,无论尺框紧固与否,测量爪工作面与检验平台的间隙不大于0.01mm,测量爪移动至测量范围其它位置时,测量工作面对平台的平行度不大于下表规定:检定方法:在测量爪和检验平台间放入101.2mm和大于101.2mm 的量块,在松开和紧固螺钉两种条件下,使测量爪与量块正常接触,从任何方向观察,光隙应不大于下表规定:7、量爪测量面对底座工作面的平行度要求:在零位时,分度值为0.01mm和0.02mm的高度尺,其平行度应不大于0.006mm,分度值为0.05mm和0.1mm的高度尺,其平行度应不大于0.010mm,在测量范围的其他位置时,其平行度应不大于下表之规定:检定方法:将高度尺置于检验平台上,移动尺框,使量爪测量面与平台正常接触,观察量爪测量面与平台间的光隙,我司内检可用光隙法目力检定,无可见光者可判为<0.006mm,合格.8、零位的正确性检定方法:a、对于游标高度尺:移动尺框使测量爪工作面与检验平台正常接触,游标上的零刻线和尾刻线与尺身的相应刻线应对准,我司内检可目力检测,两刻线有可观察到偏移时,可通过放大镜辅助检定。
量具内校规程
1、数显卡尺校准规程1目的对游标卡尺进行内部校准,确保其准确度和适用性保持完好。
2范围适用于数显卡尺的内部校准3校验基准外校合格的量块。
4环境条件室温5校验步骤5.1检查卡尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹,表头是否平稳、平滑。
5.2调校零位,或使指针对准零点。
5.3取2〜3块任意基准量块进行度量,量块被测面要干净、平整。
每块连续测量三次,每次测量值均应在允许误差范围内,将其平均值记录在《内校记录》内。
允许误差范围根据不同卡尺的精度分为±0.01mm、±0.02mm。
5.4测内径接触面磨损程度:取两块量块(构成测量的基准面)夹紧一块量块成“H”型,然后移动表头,使卡尺上面的测量端张开后靠紧两基准面进行读数,每块测量三次,取平均值。
测量值与标准值根据不同卡尺的精度分为±0.01mm、±0.02mm,将其平均值记录在《内校记录》中。
5.5可根据不同量程的卡尺选用不同的基准量块或组合进行校准;5.6历次测量值与标准值之差,均在允许误差范围内,判校准合格;6校准周期每半年一次7相关记录《内校记录》2、数显千分尺内部校验规程1目的对千分尺进行内部校准,确保其准确度和适用性保持完好。
2范围适用于千分尺的内部校准。
3校验基准外校合格的标准量块。
4环境条件室温5校验步骤5.1检查千分尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹,刻度是否清晰。
5.2扭动千分尺螺栓调校零位,使刻度对准零点。
5.3根据不同量程的千分尺选择适宜的标准量块3〜4块,(可对标准量块进行组合测量)。
每块量块连续测量三次,每次测量值均应在允许误差范围内,将其平均值记录在《内校记录》内。
允许误差范围为±0.01mm。
5.5历次测量值与标准值之差,均在允许误差范围内,判校准合格。
6校准周期每半年一次7相关记录《内校记录》1目的对FRT进行内部校准,确保其准确度和适用性保持完好。
2范围适用于FRT的内部校准。
量具内校规范1.docx
变更履历版本号变更摘要制定日期审批日期A0新制赵志涛1目的为了正确实施校准和计量分析活动,提高计量数据的信赖性,特制定本标准。
2范围适用于公司内长度类量具(如卡尺、内径量表、高度尺)、塞规的内部校准。
3.职责:使用单位:负责送量具校验员:负责对量具进行校验并填写校验报告及制定校验计划4校验仪器及设备外检合格的千分尺,外校合格的标准量块,三坐标测量机(可追溯符合国家或国际标准),大理石品台等。
5校验卡尺参考标准JJG30-2012 通用卡尺检定规程环境条件温度 : 20 ± 5 ℃湿度 : ≤ 80 %RH校准前应将标准器及被校仪器置于校准室内 1 小时以上;校准时需戴好细纱手套;校正时机:依据校正计划(半年一次)和使用频率。
校正项目:序号校正项目校正方式 / 设备1外观目视2各部分相互配合目视3零值误差目视4示值变动性目视5数字显示器的示值稳定目视6示值误差量块校验步骤:序号校检项目项目说明记录表单1外观仔细观察卡尺,卡尺表面应镀层均匀,标尺标记应清晰,表量具内校记录表蒙透明清洁。
不应有锈蚀,碰伤,毛刺,镀层脱落及明显划痕,有无目力可见的断线或粗细不匀等以及影响外观质量的其它缺陷。
使用中和修理后的卡尺,允许有不影响使用准确度的外观缺陷。
2各部位相互配尺框沿尺身移动应手感平稳,不应有阻滞或松动现象。
数字量具内校记录表合显示应清晰,完整,无黑斑和闪跳现象。
各按钮功能稳定,工作可靠。
紧固螺钉的作用应可靠。
微动装置的空程应不超过1/2转。
卡尺两外量爪合并时应无目力可见的间隙。
3零值误差移动尺框,使量爪两测量面相接触。
观察游标上的零标记和量具内校记录表尾标记与主标尺相应标记是否重合。
其重合度应符合下表:单位 mm分度值“零”标记重合度“尾”标记重合度±±±2、带表卡尺量爪两测量面相接触时,圆标尺的指针应位于12 点钟方位,左右偏位不大于一个标尺分度,此时毫米读数部位相对于主标尺“零”标记的位置离线不大于标记宽度,压线不大于标记宽度德 1/2.4示值变动性1、移动尺框,使游标卡尺或带表卡尺或电子数显卡尺量爪两量具内校记录表外测量面接触。
内校规程
内校规程文件编号:编制:审核:批准:分发编号:受控印章:修改记录2013年1月1日实施1. 校验范围:0mm-150mm2. 校验周期:一年3. 使用之标准件:经外校合格(可追溯至国家标准)之块规4. 校验环境:温度:25 ± 5 ℃湿度:60% - 80%5. 校验步骤:5.1.校正前先检查游标卡尺的外观是否有变形、生锈、密合性等是否正常。
5.2.戴上胶质式纯棉手套,用脱脂棉粘高纯度酒精(99.5%或以上),对游标卡尺各部位进行擦拭清洗干凈,并用纸吸干。
5.3.戴上手套将卡尺卡紧,旋转游标卡尺之刻度盘,让指针指正零位或让显示屏显示零数字。
5.4. 卡尺外侧量测之校正5.4.1待校正卡尺两端外侧测爪分别平夹于块规两端之量测面上。
5.4.2正确读取卡尺上的量测读数值,并如实记录于“校验记录表”5.4.3实测差值:差值=游标卡尺读示值-块规标准尺寸。
5.4.4每一个校正点测试1次,并分别将结果数值记录下来,然后用实际测量值与允许误差作比较,以判定是否符合标准。
5.4.5对于所设定之其它校正点,重复以上5.4.1-5.4.4即可。
5.4.6本公司依块规情况,对卡尺所设定校正点及所用块规值和允许误差值列表如下:5.4.7完成校正后清洗干凈所有用过的仪器,将其恢复原状放回仪器柜内, 长时间不用需包一层涂有保护油的纸,以免锈蚀。
5.4.8对校正合格之仪器贴上“合格标签”,校正不合格的仪器贴上“停用标签”。
5.4.9对于各项校正之“内校记录表”应存于质检部, 此记录保存期限为一年。
6 相关记录6.1《内校记录表》………………………………………………FM7.6-01-PG-061. 校验范围:1g-15kg2. 校验周期:一年3. 使用之标准件:经外校合格之砝码4. 校验环境:温度:25 ± 5 ℃湿度:60% - 80%5. 校验步骤:5.1. 校正前先检查电子称的外观是否變形、生銹、密合性等是否正常。
高度尺检定规范(参照模板)
高度尺检定规范1 范围本规范规定了通用游标卡尺、高度游标卡尺的检定,适用于使用中和修理后的分度值为0.02、0.05和0.10mm,测量范围上限至1000mm的通用游标卡尺、高度卡尺的首次检定、后续检定和使用中检验。
2 引用文献JJG 30-2002 中华人民共和国国家计量检定规程(通用卡尺)JJG31-1999 中华人民共和国国家计量检定规程(高度卡尺)3 检定条件3.1检定室内温度:20±5℃3.2检定室内湿度:≤80%RH4检定方法和技术要求4.1 外观检查4.1.1检查方法:用专用擦布擦试卡尺表面,保持表面清洁、无油污,目力观察卡尺。
4.1.2在卡尺的表面上不应有碰伤、锈鉵或其他缺陷;4.1.3游标刻线和数字应清晰、均匀,不应有脱色现象,游标刻线应刻到斜面下边缘;4.1.4卡尺上应刻有制造厂名或商标、出厂编号和分度值。
4.1.5 使用中和修理后的卡尺,允许有不影响使用准确度的外观缺陷。
4.2 各部分相互作用检查4.2.1检查方法:目测和手动检查4.2.2轻轻移动尺框,尺框沿尺身移动应手感平稳,不应有阻滞或松动现象;4.2.3旋动各紧固螺钉,紧固螺钉的作用应可靠;4.2.4移动深度尺杆,深度尺不允许有窜动,尺身或尺框的配合间隙引起的外量爪不错位。
4.3各部分相对位置检定4.3.1目力观察或用2级塞尺进行比较检定;4.3.2游标尺标记表面棱边至主标尺标记表面的距离应不大于0.3mm;4.4测量面的表面粗糙度检定用表面粗糙度比较样块对游标尺量爪的测量面和底座工作面的粗糙度进行比较检定。
4.5外量爪测量面的平面度检定对于分度值为0.02mm的卡尺,用0级样板直尺以光隙法检定,必要时,可以用2级平面平晶检定,用平面平晶检定时,在整个测量面上应呈现任意形状的干涉带。
4.6外量爪两测量面的间隙检定移动尺框,使两量爪测量面至手感接触,观察两量爪测量面间的间隙,以光隙法检定,这一检定应分别在尺框紧固和松开的两种状态下各测量一次。
高度尺内校标准
1、目的:为了确保产品质量,所有品质、生产、工程等部门用于测量用的高度尺都要定期进行计量,以确保其在尺寸测量中的精确度。
2、计量所需工具及计量环境:已送外计量并有合格证明的量块,可追溯符合国际或国家标准,大理石平台。
温度:24±4℃,相对湿度为:20~70%的环境中放置最少2小时。
3、计量点:量程0~500mm校准点为:50mm、100mm、191.8mm、291.8mm、391.8mm、500mm.量程0~600mm校准点为:100mm、191.8 mm、291.8mm、391.8mm、500mm、600mm.校准点也可以根据高度尺的实际量程而定.4、校准步骤:4.1 校正前4.1.1 检查高度尺是否有碰伤锈蚀带磁或其他缺陷.4.1.2 检查高度尺的刻度线及数值是否清晰可见.4.1.3 检查是否有影响测量精度的外观缺陷.4.1.4 尺框在尺身上移动应平稳无卡住现象.4.1.5 锁紧装置的作用是否有效.4.2 校准中4.2.1 当游标划线量爪下平面与底座平面在同一平面时,检查游标刻度零线与尺身刻度零线是否对齐, 不对齐则先行调整.4.2.2 根据校准点选择适当的不同长度的量块,分别用高度尺对量块量测3次, 其平均值与量块实际值作比对将高度尺量测读数平均值减去量块实际值即为误差值.4.3校准后测量的结果如果示值与标准值误差不超过0.05mm 即判定为合格,并在仪器上贴上合格标签.如果示值误差超出0.05mm,则根据仪器计量不合格的处理方法进行处理.5、校准周期:一年6、记录保存6.1 校准合格后贴上校准合格标签。
6.2 校准不合格时依实际情况定为暂停使用或降级使用严重者作报废处理。
6.3 将校准结果登录在《设备校准记录表》上。
通用尺内校准规程
通用尺内校准规程1.0目的:对游标卡尺、千分尺、深度尺进行内部校准,确保其准确性和使用性保持完好。
2.0范围:适用于本公司所有千分尺、卡尺维护与校验均适用。
3.0职责:1、品质部对全公司所有千分尺、卡尺进行内部校准2、内校人员正确使用量块标准并负责维护、保养,使其保持良好的技术状态,保证校准的原始数据和有关技术资料的完整;3、各部门负责人有责任对本部门所使用的千分尺、卡尺校准周期截止时通知品质部安排校准。
4.0内容:4.1校准基准外校合格的游标卡尺、千分尺,标准量块进行校准。
4.2坏境条件室温、正常温度中进行4.3校准步骤一、游标卡尺:1、外观要求:卡尺表面无生锈、碰伤或其他缺陷,有无松动,刻度是否清晰,推动是否平稳、平滑,不能有影响使用准确度的外观缺陷。
检定方法:目视观察。
2、各部分相互作用要求:尺框沿尺身移动平稳,无阻滞现象。
紧固螺钉作用可靠。
深度尺无窜动。
尺身与尺框的配合无明显晃动。
检定方法:目视与试验。
3、外量爪两侧量面的合并归零间隙检定方法:移动尺框,使两量爪测量面归零,观察两量爪测量面间的间隙,以光隙发检定,不透光为准。
测量面的平面度应不大于0.003mm,平行度应不大于0.01mm。
可用平晶检定。
4、内量爪的尺寸和深度要求:受检卡尺为10mm时的偏差,应不超过下表所示的规定。
检定方法:将1块为10mm的3级量块长边夹持于两外测量爪测量面之间,紧固螺钉后,该量块应能在量爪面间滑动而不脱落。
尺寸用测力为6N-7N的外径千分尺沿刀口尺寸之间确定。
在其它任意方向,测量所得之值与量块尺寸之差,应不超过量爪尺寸偏差的上偏差。
将1块为10mm 的3级量块,卡尺测深杆测面贴紧块规齐平,所测值与块规值之间,应不超过以上偏差表之值。
5、外爪示值误差要求:应不超过下表的规定。
检定方法:用3级或6等量块检定。
受检点的分布,为3-6个点,根据卡尺的尺寸范围来确定,也可根据实际使用情况适当增加点位。
检定时,每一受检点应在量爪里端和外端两位置检定。
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划线尺、深度卡尺内校规程
1目的
对划线尺、深度卡尺进行内部校准,确保其准确度、精密度符合要求。
2适用范围
适用于全厂生产使用的划线尺、深度卡尺。
3校验基准
外校合格标准量块。
4环境条件
室温
5检验步骤
5.1检查划线尺、深度卡尺的测量接触面干净、无污渍、锈迹,刻度是否清晰。
5.2将参照平台表面擦拭干净,划线尺、深度卡尺垂直放置使刻度归
零。
取出3~4块标准量块,放在平台进行测量,每块测量3次每次测量值均在允许误差±0.02mm范围内,将平均值记录在《检测设备校验记录表》内;
5.3历次测量值与标准值之差,均在允许误差范围内,判校准合格。
6校准周期
每年1次
7相关记录
《检测设备校验记录表》。