薄膜物理与技术复习资料
薄膜物理与技术-7薄膜的物理性质--(1)薄膜的力学性质
电镀膜的附着性能差(∵有一定数量的微孔)
第七章 薄膜的物理性质
7.1 薄膜的力学性质
7.1.1 薄膜的附着力
附着力的测试方法 机械方法数种如下:
扩散附着
通过中间层附着
宏观效应附着
第七章 薄膜的物理性质
7.1 薄膜的力学性质
简单附着
7.1.1 薄膜的附着力
(a)简单附着: 是在薄膜和基体之间存在一个很清楚的分界面。由两个接
触面相互吸引形成的。当两个不相似或不相容的表面相互接 触时就易形成这种附着。(如真空蒸镀)
附着能 : Wfs = Ef + Es - Efs
②静电力—薄膜和基体两种材料的功函数不同, 接触后发生电子转移→界面两边积累正负 电荷 → 静电吸引
物理吸附能:0.001eV~0.1eV
③化学键力(化学吸附能0.1-0.5eV)
共价键 离子键 金属键
价电子发生了转移, 短程力,不是普遍存在。
第七章 薄膜的物理性质
7.1 薄膜的力学性质
7.1.1 薄膜的附着力
须注意:T↑→薄膜晶粒大→热应力↑→其它性能变
第七章 薄膜的物理性质
7.1 薄膜的力学性质
7.1.1 薄膜的附着力
③引入中间过渡层 某种材料与一些物质间附着力大,与另一些物质的附
着力却可能很小。如:
(1)二氧化硅-玻璃→附着好;二氧化硅-KDP(磷酸二氢 钾)晶体→附着差 (2)金-玻璃→附着差;金-铂、镍、钛、铬等→附着好
方法:在基片Байду номын сангаас镀一层薄金属层(Ti、Mo、Ta、 Cr等).然后,在其上再镀需要的薄膜,薄 金属夺取基片中氧 中间层表面掺杂。
第七章 薄膜的物理性质
薄膜物理与技术复习范围
第一章真空技术基础真空:指低于一个大气压的气体状态。
托(Torr) =1/760atm = 133.322Pa对真空的划分:1、粗真空:105-102Pa特性和大气差异不大,目的为获得压力差,不要求改变空间性质,真空浸渍工艺2、低真空:102-10-1Pa 1016~1013个/cm3动力学性质明显,粘滞流状态→分子流状态,对流消失,气体导电,真空热处理,真空冷冻脱水3、高真空:10-1-10-6Pa 1013~1010个/cm3气体分子自由程大于容器线度,直线飞行,热传导和内摩擦性质与压强无关,蒸镀4、超高真空:<10-6Pa分子间碰撞极少,主要用途:得到纯净的气体,获得纯净的固体表面真空的获得:真空系统包括真空室、真空泵、真空计以及必要的管道、阀门和其他附属设备。
真空的测量热偶真空计:是利用低气压强下气体的热传导与压强有关的原理制成的真空计。
散热与气体压强相关加热丝的温度与气体压强相关用热偶测量加热丝的温度 压强20 ~10-3Torr热阻真空计:散热与气体压强相关加热丝的温度与气体压强相关加热丝的电阻与温度相关用平衡电桥测量加热丝的电阻 压强电离真空计:是利用气体分子电离的原理来测量真空度。
电离真空计用于高真空的测量热丝发射热电子热电子加速并电离气体,离子被离子收集极收集形成电流电流与压强成正比1 x 10-9 Torr to 10-11 Torr第二章真空蒸发镀膜法真空蒸发镀膜法(简称真空蒸镀)是在真空室中,加热蒸发容器中待形成薄膜的原材料,使其原子或分子从表面气化逸出,形成蒸气流,入射到基片表面,凝结形成固态薄膜的方法。
基本过程:(1)加热蒸发过程,凝聚相→气相该阶段的主要作用因素:饱和蒸气压(2)输运过程,气化原子或分子在蒸发源与基片之间的输运该阶段的主要作用因素:分子的平均自由程(工作气压),源—基距(3)基片表面的淀积过程,气相→固相凝聚→成核→核生长→连续薄膜饱和蒸气压:在一定温度下真空室内蒸发物质的蒸气与固体或液体平衡过程中所表现出的压力称为该物质的饱和蒸气压。
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一、填空题在离子镀膜成膜过程中,同时存在沉积和溅射作用,只有当前者超过后者时,才能发生薄膜的沉积薄膜的形成过程一般分为:凝结过程、核形成与生长过程、岛形成与结合生长过程薄膜形成与生长的三种模式:层状生长,岛状生长,层状-岛状生长在气体成分和电极材料一定条件下,起辉电压V只与气体的压强P和电极距离的乘积有关。
1.表征溅射特性的参量主要有溅射率、溅射阈、溅射粒子的速度和能量等。
2. 溶胶(Sol)是具有液体特征的胶体体系,分散的粒子是固体或者大分子,分散的粒子大小在 1~100nm之间。
3.薄膜的组织结构是指它的结晶形态,其结构分为四种类型:无定形结构,多晶结构,纤维结构,单晶结构。
4.气体分子的速度具有很大的分布空间。
温度越高、气体分子的相对原子质量越小,分子的平均运动速度越快。
二、解释下列概念溅射:溅射是指荷能粒子轰击固体表面(靶),使固体原子(或分子)从表面射出的现象气体分子的平均自由程:每个分子在连续两次碰撞之间的路程称为自由程,其统计平均值:称为平均自由程,饱和蒸气压:在一定温度下,真空室内蒸发物质与固体或液体平衡过程中所表现出的压力。
凝结系数:当蒸发的气相原子入射到基体表面上,除了被弹性反射和吸附后再蒸发的原子之外,完全被基体表面所凝结的气相原子数与入射到基体表面上总气相原子数之比。
物理气相沉积法:物理气相沉积法(Physical vapor deposition)是利用某种物理过程,如物质的蒸发或在受到粒子轰击时物质表面原子的溅射等现象,实现物质原子从源物质到薄膜的可控转移的过程真空蒸发镀膜法:是在真空室内,加热蒸发容器中待形成薄膜的源材料,使其原子或分子从表面汽化逸出,形成蒸气流,入射到固体(称为衬底、基片或基板)表面,凝结形成固态溅射镀膜法:利用带有电荷的离子在电场加速后具有一定动能的特点,将离子引向欲被溅射的物质作成的靶电极。
在离子能量合适的情况下,入射离子在与靶表面原子的碰撞过程中将靶原子溅射出来,这些被溅射出来的原子带有一定的动能,并且会沿着一定的方向射向衬底,从而实现薄膜的沉积。
薄膜物理与技术测验考试重点
1. 真空环境的划分:①低真空(> 102Pa );②中真空(102 —10-1Pa );③高真空(10-1—10-5Pa );④超高真空(< 10-5Pa )真空蒸发沉积:高真空和超高真空(<10-3 Pa )溅射沉积:中、高真空(10-2—10Pa )低压化学气相沉积:中、低真空(10—100Pa )电子显微分析:高真空材料表面分析:超高真空2. 为了获得高真空蒸发系统,通常采用旋片式机械泵和涡轮分子泵两级真空泵联用,其中与真空室直接相连的是涡轮分子泵。
真空泵的原理和适用范围:① 旋片式机械真空泵(输运式真空泵):依靠安置在偏心转子中的可以滑进滑出的旋片将气体隔离、压缩,然后排出泵体之外。
>10-1Pa② 涡轮分子泵(输运式真空泵):高速旋转的叶片将动量传给气体分子,并使其向特定方向运动。
10-8—1Pa③ 溅射离子泵(捕获式真空泵):高压下电离的气体分子撞击Ti 阴极,溅射出大量活性很高的Ti 原子,以吸附或化学反应的形式捕获大量气体分子。
10-8—10-5Pa 真空规测量气压的范围:① 热偶真空规和皮拉尼真空规(相对真空计) 10-2—102Pa② 电离真空规(相对真空计) 10-7—10-2Pa③ 薄膜真空规(绝对真空计) 10-3—105Pa3. 气体流动状态的划分:(克努森准数λDKn ,D 是气体容器的尺寸,λ是平均自由程)①分子流状态(Kn<1);②过渡状态(Kn =1—100);③粘滞流状态(Kn>100)4. 概念。
平均自由程:气体分子在两次碰撞的间隔时间里走过的平均距离。
通量:气体分子对于单位面积表面的碰撞频率。
流导:真空管路中气体的通过能力。
平衡蒸气压:一定温度下,蒸发气体与凝聚相平衡过程中所呈现的压力。
形核率:单位面积上,单位时间内形成的临界核心的数目。
化学气相淀积:利用气态先驱反应物,通过原子、分子间化学反应的途径生成固态薄膜。
薄膜物理与技术
1、为什么要真空?真空的概念?真空的用途?答:真空蒸发、溅射镀膜和离子镀膜等常称为物理气相沉积(PVD法)是基本的薄膜制作技术。
他们均要求淀积薄膜的空间要有一定的真空度。
因此,真空技术是薄膜制作技术的基础,获得并保持所需的真空环境,是镀膜的必要条件。
所谓真空是指低于一个大气压的气体空间。
同正常的大气相比,是比较稀薄的气体状态。
粗真空(105~102Pa):真空浸渍工艺低真空(102~10-1):真空热处理高真空(10-1~10-6):分子按直线飞行超高真空(< 10-6):一得到纯净的气体;二获得纯净的固体表面2、分子的三种速率答:最可几速度:平均速度:均方根速度:3、气体的临界温度:对于每种气体都有一个特定的温度,高于此温度时,气体无论如何压缩都不会液化,这个温度称为该气体的临界温度。
利用临界温度来区分气体与液体。
高于临界温度的气态物质称为气体,低于临界温度称为蒸汽。
极限压强(极限真空):对于任何一个真空系统而言,都不可能得到绝对真空(p=0),而是具有一定的压强Pu,称为极限压强(或极限真空),这是该系统所能达到的最低压强,是真空系统是否满足镀膜需要的重要指标之一。
4、溅射:所谓溅射,是指何能粒子轰击固体表面(靶),使固体原子(或分子)从表面射出的现象。
5、CVD(化学气相沉积):化学气相沉积是一种化学气相生长法,简称CVD技术。
这种方法是把含有构成薄膜元素的一种或几种化合物的单质气体供给基片,利用加热、等离子体、紫外光乃至激光等能源,借助气相作用或在基片表面的化学反应(热分解或化学合成)生成要求的薄膜。
6、薄膜的组织结构:是指它的结晶形态,分为四种类型:无定型结构、多晶结构、纤维结构和单晶结构。
7、薄膜的缺陷:在薄膜的生长和形成过程中各种缺陷都会进入到薄膜之中。
这些缺陷对薄膜产生重要的影响。
他们与薄膜制作工艺密切相关。
点缺陷:在基体温度低时或蒸发过程中温度的急剧变化会在薄膜中产生许多点缺陷,这些点缺陷对薄膜电阻率产生较大影响。
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真空相关•真空是指低于一个大气压的气体空间。
常用“真空度”度量。
真空度越高,压强越小。
“vacuum” = lower molecular density than in our atmosphere results in a lower pressure of gas.The vacuum degree is higher, the higher the vacuum degree, the smaller the pressure.•常用计量单位:Pa, Torr, mmHg, bar, atm.。
关系如下:•1mmHg=133.322Pa,•1 Torr=atm/760=133.322Pa≈1mmHg •1 bar=105Pa最可几度平均速度均方根速度v m= 2kT = 2RT = 1.41 RTMm Mv a=8kT=8RT= 1.59RTπm πM Mv r=3kT=3RT= 1.73RTm M M•平均自由程:每个分子在连续两次碰撞之间的路程称为自由程;其统计平均值成为平均自由程。
Mean free path: the distance between each molecule in a continuous twocollision is called a free path, and the average value of the system is amean free path.λ =kTπσ2 P2根据气体分子运动论,在气体压力为P时,单位时间内碰撞单位面积器壁上的分子数量,即碰撞分子流量(通量或蒸发速率)。
According to kinetic theory of gases, the gas pressure when P, the number of molecular collisions per unit time per unit area of the wall, ie, molecular collision flow (flux or evaporation rate).平均自由程与分子密度n和分子直径σ的平方成反比关系,平均自由程与压强成反比,与温度成正比。
薄膜物理与技术-绪论
液相外延生长
溶液生长法
将基底浸入含有所需材料的溶液 中,通过控制溶液浓度、温度等 因素,使材料在基底表面外延生 长形成薄膜。
溶胶凝胶法
利用前驱体溶液在基底表面进行 水解、缩聚等化学反应,形成凝 胶态薄膜,再经过热处理等后处 理形成固态薄膜。
04
薄膜特性与性能
力学性能
弹性模量
描述薄膜在受力时抵抗弹性变 形的能力,是材料刚度的度量
介电常数
衡量电场作用下,介质中电位移与电场强度 之比的虚部,与电容、电场能量有关。
热电效应
当温度梯度存在时,薄膜中产生电动势的现 象,与热能转换为电能有关。
光学性能
反射、折射与散射
描述光波通过薄膜时的行为,包括光 的传播方向和强度的变化。
吸收光谱
描述光波通过薄膜时被吸收的特性, 与光的频率和薄膜的组成有关。
例如,在显示器中,通过在玻璃基板表面蒸镀不同材质和厚 度的薄膜,可以形成多层结构,控制光的反射和透射,从而 实现高清晰度和高亮度的显示效果。
能源与环境领域
薄膜技术在能源与环境领域也具有广泛的应用。薄膜材料 在太阳能电池、燃料电池、环境监测和治理等领域中发挥 着重要作用。通过改进薄膜材料的性能,可以提高能源利 用效率和环境质量。
02
薄膜物理基础
原子结构与电子状态
原子结构
原子由原子核和核外电子组成,原子 核由质子和中子组成。原子的电子状 态由主量子数、角量子数和磁量子数 决定。
电子状态
电子在原子中的状态可以用电子云、 能级和电子自旋等描述。电子的跃迁 和能量吸收、发射与物质的光学、电 学和热学性质密切相关。
晶体结构与缺陷
薄膜物理与技术-绪论
目录
• 薄膜的定义与分类 • 薄膜物理基础 • 薄膜制备技术 • 薄膜特性与性能 • 薄膜应用领域
薄膜物理与技术
将气体在电场的作用下离化,形成离子束或等离子体,然后轰击材 料表面,使其原子或分子沉积在基底表面形成薄膜。
化学气相沉积(CVD)
常压化学气相沉积(APCVD)
在常压下,将反应气体在气相中发生化学反应,生成固态物质并沉积在基底表面形成薄膜 。
低压化学气相沉积(LPCVD)
在较低的压力下,将反应气体在气相中发生化学反应,生成固态物质并沉积在基底表面形 成薄膜。
等离子体增强化学气相沉积(PECVD)
利用等离子体激活反应气体,使其发生化学反应,生成固态物质并沉积在基底表面形成薄 膜。
液相外延(LPE)
溶胶-凝胶法
将金属盐溶液通过脱水、聚合 等过程转化为凝胶,然后在一
定条件下转化为薄膜。
化学镀
利用化学反应在基底表面沉积 金属或合金薄膜。
电镀
利用电解原理在基底表面沉积 金属或合金薄膜。
薄膜的特性与性能参数
特性
薄膜具有一些独特的物理和化学特性, 如高表面面积、高纯度、高密度等, 这些特性使得薄膜在电子、光学、磁 学等领域具有广泛的应用前景。
性能参数
评估薄膜性能的参数包括表面粗糙度、 透光性、导电性、硬度等,这些参数 决定了薄膜在不同领域的应用效果。
薄膜的形成与生长机制
形成
薄膜的形成通常是通过物理或化学方法将物质蒸发或溅射到基材表面,然后凝 结或反应形成薄膜。
涉及其他非主要性能的表征,如化学稳定性、热稳定性等。
详细描述
除了光学、力学和电学性能表征外,还有其他一些非主要性能的表征方法,如化学稳定 性表征和热稳定性表征等。这些性能参数对于评估薄膜在不同环境条件下的稳定性和耐 久性具有重要意义,尤其在化学反应容器制造和高温环境应用等领域中具有重要价值。
薄膜物理与技术-考试重点
薄膜物理与技术-考试重点1.真空环境的划分:①低真空(> 102Pa);②中真空(102—10-1Pa);③高真空(10-1—10-5Pa);④超高真空(< 10-5Pa)真空蒸发沉积:高真空和超高真空(<10-3 Pa)溅射沉积:中、高真空(10-2—10Pa)低压化学气相沉积:中、低真空(10—100Pa)电子显微分析:高真空材料表面分析:超高真空2.为了获得高真空蒸发系统,通常采用旋片式机械泵和涡轮分子泵两级真空泵联用,其中与真空室直接相连的是涡轮分子泵。
真空泵的原理和适用范围:①旋片式机械真空泵(输运式真空泵):依靠安置在偏心转子中的可以滑进滑出的旋片将气体隔离、压缩,然后排出泵体之外。
>10-1Pa②涡轮分子泵(输运式真空泵):高速旋转的叶片将动量传给气体分子,并使其向特定方向运动。
10-8—1Pa 溅射离子泵(捕获式真空泵):高压下电离的气体分子撞击Ti阴极,溅射出大量活性很高的Ti原子,以吸附或化学反应的形式捕获大核心的数目。
化学气相淀积:利用气态先驱反应物,通过原子、分子间化学反应的途径生成固态薄膜。
物理气相淀积:利用某种物理过程,实现物质原子从源物质到薄膜的可控转移的过程。
阴影效应:蒸发的物质被障碍物阻挡而不能沉积到衬底上。
溅射:离子轰击物质表面,并在碰撞过程中发生能量与动量的转移,将物质表面原子激发出来的过程。
溅射法:将被电场加速后具有一定动能的离子引向靶电极,与靶表面原子碰撞使之溅射出来,溅射原子能够沿一定方向射向衬底并沉积下来。
等离子体鞘层:等离子体相对器壁会呈正电性,在等离子体和壁之间的非电中性薄层称为鞘层。
弹性碰撞:参加碰撞的粒子的总动能和总动量保持不变,并且不存在粒子内能的变化。
溅射产额:被溅射出来的原子数与入射离子数之比。
(衡量溅射过程效率的参数)靶材的中毒:随着活性气体压力的增加,靶材表面可能形成一层相应的化合物,导致溅射和薄膜沉积速率降低。
薄膜物理复习资料
薄膜物理复习资料薄膜为什么受到重视?1,薄膜物理是物理学(特别是固体物理学)的重要分⽀,发展形成⾃⼰的体系--理论与实验(2)薄膜材料具有⼴泛的电、光、声、热、磁等应⽤场合许多制品(⼑具、容器、管道、板材等)主要决定于其表层特性⽽不是整体特性/ 电⼦元器件(微电⼦、光电⼦)是建⽴在发展于表⾯或表⾯近层的物理效应基础上/ 微电⼦器件、固体电⼦器件提⾼性能、⼩型化的关键—相关薄膜材料的制备和研究(3)薄膜具有许多明显不同于块材料的特性,如晶体结构多为⾮晶态、亚稳态等, 这些特性称为反常结构与特性—为薄膜所特有(值得研究和利⽤)/不仅是材料学研究的重要领域,也为发展新型功能材料开辟了⼴阔途径。
(⾮平衡冶⾦、⾮晶态⽣长、超微细结构、纳⽶材料…….)(4)薄膜材料是现代材料科学发展最迅速的⼀个分⽀。
现在科学技术的发展,特别是微电⼦技术的发展,打破了过去体材料的⼀统天下。
过去需要众多材料组合才能实现的功能,现在仅仅需要少数⼏个器件或者⼀块集成电路板就可以完成。
⽽薄膜技术正是实现器件和系统微型化的最有效的技术⼿段。
(5)器件的微⼩型化不仅可以保持器件原有的功能,⽽且可以使之更强化,随着器件的尺⼨减⼩以⾄于接近电⼦或其他离⼦量⼦化运动的微观尺度,薄膜材料或其器件讲显⽰出许多全新的物理现象。
薄膜技术作为器件微型化的关键技术,是制备这类具有新型功能器件的有效⼿段。
(6)每种材料的性能都有其局限性。
薄膜技术作为材料制备的有效⼿段,可以将各种不同的材料灵活地组合在⼀起,构成具有友谊特性的复杂材料体系,发挥每种材料各⾃的优势,避免单⼀材料的局限性。
薄膜(thin film):由物理⽓相沉积(PVD)、化学⽓相沉积(CVD)、溶液镀膜法等薄膜技术制备的薄层。
●厚膜(thick film):由涂覆在基板表⾯的悬浮液、膏状物经⼲燥、煅烧⽽形成。
薄膜材料的特点1.薄膜材料属于介观范畴,具有量⼦尺⼨效应;2.薄膜表⾯积与体积之⽐很⼤,表⾯能级很⼤,对膜内电⼦输运影响很⼤;3.薄膜界⾯态复杂,⼒学因素和电学因素交相作⽤,内应⼒和量⼦隧穿效应同时存在,对薄膜⽣长和微结构影响巨⼤;4.异常结构和⾮理想化学计量⽐特性明显;5.可实⾏多层膜复合,如超晶格。
半导体薄膜技术与物理复习
第一章真空技术1、真空的定义:真空是指在给定的空间内压力低于一个大气压的稀薄气体状态。
2、真空度:通常用压强为单位来描述“真空”状态下的气体稀薄程度——真空度。
(压强高则真空度低,压强低则真空度高)3、真空度单位:毫米汞柱(mmHg)托(Torr)帕斯卡(Pa)巴(bar)单位之间的换算:1 Pa =1 牛顿/米2=1 千克/米*秒2=10 达因/cm2=0.0075 Torr4、真空不同分区的特点:在气压高于10 Torr 的真空范围区域,气体性质和常压,气流特性也以分子间的碰撞为主;当压力渐渐减小,分子密度降低,平均自由程增加,分子间的碰撞开始减少;当达到高真空区域,真空特性以气体分子和真空器壁的碰撞为主;在超高真空区,气体分子在空间活动减少,而以在固体表面上吸附停留为主。
5、常用的真空泵:机械运动——机械泵、涡轮分子泵蒸气流喷射——扩散泵化学吸附——吸气剂泵:升华泵吸气剂离子泵:溅射离子泵6、一般机械泵的极限真空度为0.1Pa, 可以在大气中与大气相连工作。
7、扩散泵使用注意事项:A.扩散泵不能单独工作,一定要用机械泵作为前级泵,并使系统抽到0.1Pa 量级时才能启动扩散泵。
B.泵体要竖直,按规定量加油和选用加热电炉功率。
C.牢记先通冷却水,后加热。
结束时则应先停止加热,冷却一段时间后才能关闭。
8、常用真空计:热电偶真空计、电阻真空计、热阴极电离真空计、冷阴极电离真空计、电容薄膜真空计、压缩式真快计、压敏真空计(记住常用的三种即可以了)。
9、真空系统的质量:指系统真空度的好坏,特别是系统内所含水蒸气与油污染的程度。
10、真空镀膜的过程(大致了解见书18面)11、要保持较高真空度需要:A、减少蒸发分子与残余气体分子的碰撞;B、抑制它们之间的反应,减少对衬底表面的污染。
第二章蒸发技术1、物理气相沉积:指在一定的真空条件下,利用热蒸发或辉光放电或弧光放电等物理过程使材料沉积在衬底上的薄膜制备技术。
薄膜物理技术考试知识点总结
1.1薄膜概述作业题:什么是薄膜1.薄膜的定义(1):由单个的原子、离子、原子团无规则地入射到基板表面,经表面附着、迁徙、凝结、成核、核生长等过程而形成的一薄层固态物质。
定义(2):采用特定的制备方法在基板表面上生长得到的一薄层固态物质。
·薄膜的尺度:通常:薄膜< 1μm 厚膜>10μm·微电子电路的工艺有哪些方法实现?答:光刻、镀膜、电子束。
1.2 薄膜结构和缺陷作业题:蒸发薄膜微观结构随基片温度的变化如何改变?低温时,扩散速率小,成核数目有限,形成不致带有纵向气孔的葡萄结构;随着温度升高,扩散速率增大,形成紧密堆积纤维状晶粒然后转为完全之谜的柱状晶体结构;温度再升高,晶粒尺寸随凝结温度升高二增大,结构变为等轴晶貌。
其他:·薄膜主要缺陷类型及特点?薄膜的缺陷分为:点缺陷(晶格排列出现只涉及到单个晶格格点,典型构型是空位和填隙原子,点缺陷不能用电子显微镜直接观测到,点缺陷种类确定后,它的形成能是一个定值)、位错(在薄膜中最常遇到,是晶格结构中一种“线性”不完整结构,位错大部分从薄膜表面伸向基体表面,并在位错周围产生畸变)、晶格间界(薄膜由于含有许多小晶粒,故晶粒间界面积比较大)和层错缺陷(由原子错排产生,在小岛间的边界处出现,当聚合并的小岛再长大时反映层错缺陷的衍射衬度就会消失)。
·薄膜晶粒织构(组织结构)模型:(能区分)·薄膜结构是指哪些结构?其特点是什么?(1)薄膜结构:组织结构(包含无定形结构、多晶结构、纤维结构、单晶结构)、晶体结构、表面结构。
(2)特点:组织结构:薄膜的结晶形态晶体结构:多数情况下,薄膜中晶粒的晶格结构与体材料相同,只是晶粒取向和晶粒尺寸不同,晶格常数也不同。
表面结构: a、呈柱状颗粒和空位组合结构;b、柱状体几乎垂直于基片表面生长,而且上下端尺寸基本相同;c、平行于基片表面的层与层之间有明显的界面;1.3 薄膜的形成作业题:1.薄膜生长的三个过程一、吸附、表面扩散与凝结过程二、核形成与生长过程三、连续薄膜的形成(岛形成与生长过程。
薄膜物理与技术 考试重点
1.真空环境的划分:①低真空(> 102Pa);②中真空(102—10-1Pa);③高真空(10-1—10-5Pa);④超高真空(< 10-5Pa)真空蒸发沉积:高真空和超高真空(<10-3 Pa)溅射沉积:中、高真空(10-2—10Pa)低压化学气相沉积:中、低真空(10—100Pa)电子显微分析:高真空材料表面分析:超高真空2.为了获得高真空蒸发系统,通常采用旋片式机械泵和涡轮分子泵两级真空泵联用,其中与真空室直接相连的是涡轮分子泵。
真空泵的原理和适用范围:①旋片式机械真空泵(输运式真空泵):依靠安置在偏心转子中的可以滑进滑出的旋片将气体隔离、压缩,然后排出泵体之外。
>10-1Pa②涡轮分子泵(输运式真空泵):高速旋转的叶片将动量传给气体分子,并使其向特定方向运动。
10-8—1Pa③溅射离子泵(捕获式真空泵):高压下电离的气体分子撞击Ti阴极,溅射出大量活性很高的Ti原子,以吸附或化学反应的形式捕获大量气体分子。
10-8—10-5Pa 真空规测量气压的范围:①热偶真空规和皮拉尼真空规(相对真空计)10-2—102Pa②电离真空规(相对真空计)10-7—10-2Pa③薄膜真空规(绝对真空计)10-3—105Pa3.气体流动状态的划分:(克努森准数Kn Dλ,D是气体容器的尺寸,λ是平均自由程)①分子流状态(Kn<1);②过渡状态(Kn=1—100);③粘滞流状态(Kn>100)4.概念。
平均自由程:气体分子在两次碰撞的间隔时间里走过的平均距离。
通量:气体分子对于单位面积表面的碰撞频率。
流导:真空管路中气体的通过能力。
平衡蒸气压:一定温度下,蒸发气体与凝聚相平衡过程中所呈现的压力。
形核率:单位面积上,单位时间内形成的临界核心的数目。
化学气相淀积:利用气态先驱反应物,通过原子、分子间化学反应的途径生成固态薄膜。
物理气相淀积:利用某种物理过程,实现物质原子从源物质到薄膜的可控转移的过程。
薄膜物理与技术
薄膜物理与技术薄膜物理与技术第⼀章1、真空:低于⼀个⼤⽓压的⽓体空间。
P12、真空度与压强的关系:真空度越低,压强越⾼。
P13、1Torr = 1/760 atm =133.322Pa.(或1Pa=7.5×10-3Torr)P24、平均⾃由程:每个分⼦在连续两次碰撞之间的路程。
P55、余弦定律:碰撞于固体表⾯的分⼦,它们飞离表⾯的⽅向与原⼊射⽅向⽆关,并按与表⾯法线⽅向所成⾓度θ的余弦进⾏分布。
P76、极限压强(或极限真空):对于任何⼀个真空系统⽽⾔,都不可能得到绝对真空(p=0),⽽是具有⼀定的压强。
P77、抽⽓速率:在规定压强下单位时间所抽出⽓体的体积,它决定抽真空所需要的时间。
P78、机械泵的原理:利⽤机械⼒压缩和排除⽓体。
P89、分⼦泵的⼯作原理:靠⾼速转动的转⼦碰撞⽓体分⼦并把它驱向排⽓⼝,由前级泵抽⾛,⽽使被抽容器获得超⾼真空。
P13第⼆章1、真空蒸发镀膜的三个基本过程:P17(1)加热蒸发过程:……(2)⽓化原⼦或分⼦在蒸发源与基⽚之间的输运:……(3)蒸发原⼦或分⼦在基⽚表⾯上的淀积过程:……2、为什么真空蒸发镀膜的三个过程必须在空⽓⾮常稀薄的真空环境中进⾏?P18答:如果不是真空环境,蒸发物原⼦或分⼦将与⼤量空⽓分⼦碰撞,使膜层受到严重污染,甚⾄形成氧化物;或者蒸发源被加热氧化烧毁;或者由于空⽓分⼦的碰撞阻挡,难以形成均匀连续的薄膜。
3、饱和蒸⽓压:在⼀定温度下,真空室内蒸发物质的蒸⽓与固体或液体平衡过程中所表现出的压⼒。
P184、蒸发温度:物质在饱和蒸⽓压为10-2托时的温度。
P185、碰撞⼏率:。
P236、点蒸发源:能够从各个⽅向蒸发等量材料的微⼩球状蒸发源。
P25-27计算:公式2-28、2-337、蒸发源与基板的相对位置配置P33(1)点源与基板相对位置的配置:为了获得均匀膜厚,点源必须配置在基板所围成的球体中⼼。
(2)⼩平⾯源与基板相对位置的配置:当⼩平⾯源为球形⼯作架的⼀部分时,该⼩平⾯蒸发源蒸发时,在内球体表⾯上的膜厚分布是均匀的。
薄膜物理与技术复习题
《薄膜物理与技术》1、薄膜的定义2、薄膜的制备方法3、真空的定义及性质(理想气体状态方程)4、真空的单位5、真空区域的划分6、气体的三种速度分布(最可几速度、平均速度、均方根速度)意义7、平均自由程的定义及计算8、余弦散射定律及意义9、确定真空系统所能达到的真空度的方程10、主要真空泵的排气原理与工作范围11、几类真空计的工作原理与测量范围(填空或选择)12、真空蒸发镀膜的定义13、真空蒸发镀膜的基本过程14、蒸发速率的表达式及蒸发源温度变化引起蒸发速率的变化15、蒸发过程的几点假设16、几种最常用的蒸发源及膜厚分布状况17、蒸发源的类型18、电子束蒸发源中电子束的加热原理及特点19、高频感应蒸发源的特点20、合金的蒸发中组元金属的蒸发速率之比21、合金及化合物的蒸发方法22、特殊的蒸发方法23、膜厚的定义24、膜厚的测量方法(尤其是原理:石英晶体振荡法、电离式监控计法光干涉法)25、溅射镀膜的定义26、溅射镀膜的优点及缺点27、直流辉光放电的区域28、辉光放电过程中,如何确定阴极与阳极之间的距离29、射频放电的频率30、溅射阈值、溅射率、溅射过程31、溅射的两种理论32、溅射镀膜的类型(重点为二极式、磁控式、射频式)33、离子镀膜的定义34、离子镀膜的成膜条件(公式的计算)35、离子镀膜的特点36、离子轰击的作用37、离子镀的类型(活性反应离子镀、射频离子镀)38、化学气相沉积的定义39、C VD的装置组成40、C VD反应的类型41、C VD法制备薄膜的过程42、C VD的特点43、C VD反应体系的条件44、低压化学气相沉积的原理45、等离子体化学气相沉积(定义及原理)46、等离子体的作用47、有机金属化学气相沉积、光CVD、电子回旋共振等离子体沉积48、溶液镀膜法的定义49、化学镀的定义及原理50、化学镀与化学沉积的异同点51、如何进行化学镀镍、铜、银等金属52、溶胶-凝胶法制备薄膜的工艺(至少三种)53、阳极氧化法的定义及原理54、阳极氧化法中氧化物薄膜厚度的计算公式55、电镀的定义与原理56、电镀过程中补充电极附件区域的离子的方法57、对电镀层的要求58、L B制备的定义及原理59、L B膜的分类60、薄膜的形成与生长形式61、薄膜的结构类型62、薄膜的组织结构63、薄膜的缺陷1、填空:1×202、名词解释:3×63、简答题:4×54、问答题:7×35、计算题:9×1综合题:12×1下面是赠送的保安部制度范本,不需要的可以编辑删除谢谢!保安部工作制度一、认真贯彻党的路线、方针政策和国家的法津法规,按照####年度目标的要求,做好####的安全保卫工作,保护全体人员和公私财物的安全,保持####正常的经营秩序和工作秩序。
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第一章最可几速率:根据麦克斯韦速率分布规律,可以从理论上推得分子速率在m v 处有极大值,m v 称为最可几速率M RT M RT m kT 41.122==,Vm 速度分布 平均速度:M RT m RT m kT 59.188==ππ,分子运动平均距离 均方根速度:M RT M RT m kT 73.133==平均动能真空的划分:粗真空、低真空、高真空、超高真空。
真空计:利用低压强气体的热传导和压强有关; (热偶真空计)利用气体分子电离;(电离真空计)真空泵:机械泵、扩散泵、分子泵、罗茨泵机械泵:利用机械力压缩和排除气体扩散泵:利用被抽气体向蒸气流扩散的想象来实现排气作用分子泵:前级泵利用动量传输把排气口的气体分子带走获得真空。
平均自由程:每个分子在连续两次碰撞之间的路程称为自由程;其统计平均值成为平均自由程。
常用压强单位的换算 1Torr=133.322 Pa 1 Pa=7.5×10-3 Torr1 mba=100Pa 1atm=1.013*100000Pa真空区域的划分、真空计、各种真空泵粗真空 1×105 to 1×102 Pa 低真空 1×102 to 1×10-1 Pa 高真空 1×10-1 to 1×10-6 Pa 超高真空 <1×10-6 Pa旋转式机械真空泵油扩散泵复合分子泵属于气体传输泵,即通过气体吸入并排出真空泵从而达到排气的目的分子筛吸附泵钛升华泵溅射离子泵低温泵属于气体捕获泵,即通过各种吸气材料特有的吸气作用将被抽气体吸除,以达到所需真空。
不需要油作为介质,又称为无油泵绝对真空计:U 型压力计、压缩式真空计相对真空计:放电真空计、热传导真空计、电离真空计机械泵、扩散泵、分子泵的工作原理,真空计的工作原理第二章1.什么是饱和蒸气压?蒸发温度?饱和蒸气压:在一定温度下,真空室内蒸发物质的蒸气与固体或液体平衡过程中所表现出的压力蒸发温度:物质在饱和蒸气压为10-2托时的温度。
2.克--克方程及其意义?克-克方程)(Vs Vg T H dT dP -=νν,可以知道饱和蒸气压和温度的关系,对于薄膜的制作技术有重要实际意义, 帮助我们合理地选择蒸发材料和确定蒸发条件. 3.蒸发速率、温度变化对其的影响?根据气体分子运动论,在气体压力为P 时,单位时间内碰撞单位面积器壁上的分子数量,即碰撞分子流量(通量或蒸发速率)J :在蒸发源以上温度蒸发,蒸发源温度的微小变化即可以引起蒸发速率发生很大变化。
4.平均自由程与碰撞几率的概念?气体分子处于不规则的热运动状态,每个气体分子在连续两次碰撞之间的路程称为“自由程”,其统计平均值称为“平均自由程”。
或者 粒子在两次碰撞之间所飞行的平均距离称为蒸发分子的平均自由程。
蒸发材料分子能与真空室中残余气体分子相互碰撞的数目占总的蒸发材料分子的百分数。
热平衡条件下,单位时间通过单位面积的气体分子数为气体分子对基板的碰撞率。
7.MBE 的特点?外延: 在一定的单晶材料衬底上,沿衬底某个指数晶面向外延伸生长一层单晶薄膜。
1)MBE 可以严格控制薄膜生长过程和生长速率。
MBE 虽然也是以气体分子论为基础的蒸发过程,但它并不以蒸发温度为控制参数,而是以四极质谱、原子吸收光谱等近代分析仪器,精密控制分子束的种类和强度。
2)MBE 是一个超高真空的物理淀积过程,即不需要中间化学反应,又不受质量输运的影响,利用快门可对生长和中断进行瞬时控制。
薄膜组成和掺杂浓度可以随源的变化作迅速调整。
3)MBE 的衬底温度低,降低了界面上热膨胀引入的晶格失配效应和衬底杂质对外延层自掺杂扩散的影响。
4)MBE 是一个动力学过程,即将入射的中性粒子(原子或分子)一个一个地堆积在衬底上进行生长,而不是一个热力学过程,所以它可以生长普通热平衡生长难以生长的薄膜。
5)MBE 生长速率低,相当于每秒生长一个单原子层,有利于精确控制薄膜厚度、结构和成分,形成陡峭的异质结结构。
特别适合生长超晶格材料。
6) MBE 在超高真空下进行,可以利用多种表面分析仪器实时进行成分、结构及生长过程分析,进行科学研究。
8.膜厚的定义?监控方法?厚度:是指两个完全平整的平行平面之间的距离,是一个可观测到实体的尺寸。
理想薄膜厚度:基片表面到薄膜表面之间的距离。
由于实际上存在的表面是不平整和不连续的,而且薄膜内部还可能存在着针孔、杂质、晶体缺陷和表面吸附分子等,所以要严格的定义和测准薄膜的厚度实际上比较困难的。
膜厚的定义,应该根据测量的方法和目的来决定。
称重法(微量天平法 石英晶体振荡法 ) 电学方法(电阻法 电容法 电离式监控记法)光学方法(光吸收法 光干涉法 等厚干涉条纹法) 触针法(差动变压器法 阻抗放大法压电元件法 P50P kT22πσλ=第三章1.溅射镀膜和真空镀膜的特点?优点:1.任何物质都可以溅射,尤其是高熔点、低蒸气压元素化合物2.溅射膜和基板的附着性好3.溅射镀膜密度高,针孔少,且膜层的纯度较高4.膜度可控性和重复性好缺点:5溅射设备复杂,需要高压装置;6成膜速率较低(0.01-0.5 m)。
2.正常辉光放电和异常辉光放电的特征?正常辉光放电:在一定电流密度范围内,放电电压维持不变。
在正常辉光放电区,阴极有效放电面积随电流增加而增大,从而使有效区内电流密度保持恒定。
异常辉光放电:电流增大时,放电电极间电压升高,且阴极电压降与电流密度和气体压强有关。
当整个阴极均成为有效放电区域后,只有增加阴极电流密度,才能增大电流,形成均匀而稳定的“异常辉光放电”,并均匀覆盖基片,这个放电区就是溅射区域。
3.射频辉光放电的特点?1.在辉光放电空间产生的电子可以获得足够的能量,足以产生碰撞电离;2.由于减少了放电对二次电子的依赖,降低了击穿电压;3.射频电压可以通过各种阻抗偶合,所以电极可以不是导体材料。
4.溅射的概念及溅射参数?溅射是指荷能粒子轰击固体表面(靶),使固体原子或者分子从表面射出的现象。
1.溅射阈值2.溅射率及其影响因素3.溅射粒子的速度和能量分布4.溅射原子的角度分布5.溅射率的计算5.溅射机理?溅射现象是被电离气体的离子在电场中加速并轰击靶面,而将能量传递给碰撞处的原子,导致很小的局部区域产生高温,使靶材融化,发生热蒸发。
溅射完全是一个动量转移过程该理论认为,低能离子碰撞靶时,不能直接从表面溅射出原子,而是把动量传递给被碰撞的原子,引起原子的级联碰撞。
这种碰撞沿晶体点阵的各个方向进行。
碰撞因在最紧密排列的方向上最有效,结果晶体表面的原子从近邻原子得到越来越多的能量。
1.溅射率随入射离子能量增大而增大,在离子能量达到一定程度后,由于离子注入效应,溅射率减小;2.溅射率的大小与入射离子的质量有关;3.当入射离子能量小于溅射阈值时,不会发生溅射;4.溅射原子的能量比蒸发原子大许多倍;5.入射离子能量低时,溅射原子角度分布不完全符合余弦定律,与入射离子方向有关;6.电子轰击靶材不会发生溅射现象。
6.二极直流溅射、偏压溅射、三极或四极溅射、射频溅射、磁控溅射、离子束溅射结构及原理?二极直流溅射靶材为良导体,依靠气体放电产生的正离子飞向阴极靶,一次电子飞向阳极,放电依靠正离子轰击阴极所产生的二次电子,经阴极加速后被消耗补充的一次电子维持。
三极或四极溅射:热阴极发射的电子与阳极产生等离子体,靶相对于该等离子体为负电位.为把阴极发射的电子全部吸引过来,阳极上加正偏压,20V左右。
为使放电稳定,增加第四个电极——稳定化电极.偏压溅射: 基片施加负偏压,在淀积过程中,基片表面将受到气体粒子的稳定轰击,随时消除可能进入薄膜表面的气体,有利于提高薄膜纯度,并且也可除掉粘除力弱的淀积粒子,对基片进行清洗,表面净化,还可改变淀积薄膜的结构。
射频溅射: 可以用射频辉光放电解释。
等离子体中的电子容易在射频场中吸收能量并在电场内振荡,与工作气体的碰撞几率增大,从而使击穿电压和放电电压显著降低。
磁控溅射:使用了磁控靶,施加磁场来改变电子的运动方向,束缚并延长电子运动轨迹,进而提高电子对工作气体的电离效率和溅射沉积率。
在阴极靶的表面上形成一个正交的电磁场。
溅射产生的二次电子在阴极位降区内被加速成为高能电子,但是它并不直接飞向阳极,而在电场和磁场的作用下作摆线运动。
高能电子束缚在阴极表面与工作气体分子发生碰撞,传递能量,并成为低能电子。
离子束溅射:离子源、屏蔽罩。
由大口径离子束发生源引出惰性气体,使其照射在靶上产生建设作用,利用溅射出的粒子淀积在基片上制得薄膜。
第五章1.CVD 热力学分析的主要目的?CVD 热力学分析的主要目的是预测某些特定条件下某些CVD 反应的可行性(化学反应的方向和限度)。
在温度、压强和反应物浓度给定的条件下,热力学计算能从理论上给出沉积薄膜的量和所有气体的分压,但是不能给出沉积速率。
热力学分析可作为确定CVD 工艺参数的参考2.CVD 过程自由能与反应平衡常数的过程判据?与反应系统的化学平衡常数 有关。
3.CVD 热力学基本内容?反应速率及其影响因素?按热力学原理,化学反应的自由能变化 可以用反应物和生成物的标准自由能来计算,即 较低衬底温度下, τ随温度按指数规律变化。
较高衬底温度下,反应物及副产物的扩散速率为决定反应速率的主要因素。
4.热分解反应、化学合成反应及化学输运反应及其特点?热分解反应:在简单的单温区炉中,在真空或惰性气体保护下加热基体至所需温度后,导入反应物气体使之发生热分解,最后在基体上沉积出固体图层。
特点:主要问题是源物质的选择和确定分解温度。
选择源物质考虑蒸气压与温度的关系,注意在该温度下的分解产物中固相仅为所需沉积物质。
化学合成反应:化学合成反应是指两种或两种以上的气态反应物在热基片上发生的相互反应。
特点:比热分解法的应用范围更加广泛。
可以制备单晶、多晶和非晶薄膜。
容易进行掺杂。
化学输运反应:将薄膜物质作为源物质(无挥发性物质),借助适当的气体介质与之反应而形成气态化合物,这种气态化合物经过化学迁移或物理输运到与源区温度不同的沉积区,在基片上再通过逆反应使源物质重新分解出来,这种反应过程称为化学输运反应。
特点: 不能太大;平衡常数KP 接近于1。
5.CVD 的必要条件?1.在沉积温度下,反应物具有足够的蒸气压,并能以适当的速度被引入反应室;2.反应产物除了形成固态薄膜物质外,都必须是挥发性的;3.沉积薄膜和基体材料必须具有足够低的蒸气压,6.什么是冷壁CVD ?什么是热壁CVD ?特点是什么?12T = T T ∆-r G ∆()()r f f G G G ∆=∆-∆∑∑生成物反应物RT EAe ∆-=τr G ∆P K2.3log r P G RT K ∆=-11()n m P i j i j K P P ===∏∏生成物(反应物)冷壁CVD :器壁和原料区都不加热,仅基片被加热,沉积区一般采用感应加热或光辐射加热。