透明矿物镜下鉴定教程
偏光显微镜下透明矿物的鉴定
偏光显微镜下透明矿物的鉴定偏光显微镜下透明矿物的鉴定2010年12月31日岩石磨成厚约0.03mm 的薄片，置于偏光显微镜下观察，我们可以发现有的矿物是透明的（绝大多数硅酸盐、碳酸盐矿物和部分氧化物），有的矿物是不透明的（金属硫化物及部分氧化物）。
鉴定不透明矿物需要反光显微镜，将在本书的下篇介绍，这里只介绍透明矿物在偏光显微镜下的鉴定方法。
偏光显微镜下鉴定矿物，分为单偏光、正交偏光、聚敛光下观察三个步骤，其原理在晶体光学中有详尽的论述，这里只介绍和岩石薄片观察描述有关的部分，而形成这些光性特征的光学原理就不详细说明。
单偏光镜下观察1 晶形晶形对识别典型的表现有良好晶面的矿物很有用。
如石榴子石在薄片中常为自形的六边形，白榴石常呈八边形，磷灰石横断面常为六边形而纵断面为柱状，榍石常为菱形，白云石常为信封状，电气石横断面呈弧状三角形而纵断面为柱状，锆石常常呈四方柱状或两端为锥形的长柱状。
需要注意的是，由于薄片切面的随机性，上述矿物的斜切面也可以表现为其他的形状，如石榴石和白榴石还可以出现正方形、长方形甚至三角形的晶形，磷灰石也可以表现为正方形或长方形晶形。
2 解理和裂理某些解理特征明显的矿物，能根据其解理很快确定，如云母具有一组细密、平直而不间断的解理，角闪石的两组解理以56 度相交，辉石、红柱石、方柱石的两组解理近于正交。
但与解理斜交的切面上所表现的角度要比其最大交角要小。
具两组解理的矿物，在其纵断面上只表现一组解理，如角闪石、辉石在薄片中经常只出现一组解理。
由于切面的限制，具有三6组以上解理的矿物在薄片上常常只显示一组或两组解理，甚至表现出没有解理。
如方解石和白云石有三组解理，但在薄片中一般只能看到两组。
裂理和解理很相似，但它们的成因不同，薄片中的特征也有所不同。
解理往往是沿着矿物晶体中面网间化学键力最弱的方向产生，而裂理面一般是沿双晶结合面或某种细微包裹体的夹层而产生；在形态上，裂理的宽度也明显比解理大，而且大多数情况也没有解理平直。
薄片中透明矿物鉴定方法介绍
第六章透明矿物薄片的系统鉴定偏光显微镜下对透明矿物薄片进行系统的光学性质测定，通常用于鉴定未知矿物或已知矿物的精确定名。
透明矿物薄片的系统鉴定，必须配合手标本观察，在系统测定光学性质之前，首先要观察矿物手标本的晶形、颜色、光泽、硬度、条痕、解理、断口、次生变化及共生组合等，并需了解矿物的野外产状。
如果经过系统鉴定之后，仍不能准确定出矿物名称，还需配合其他方法，作进一步鉴定。
一、透明矿物薄片系统鉴定的内容（一）单偏光镜下的观察晶形: 观察晶体的完整程度，结晶习性。
根据各方向切面形态，初步判断晶体形状及可能属于那一个晶系。
解理:观察解理的完全程度，根据不同方向的切面上的解理，判断解理的组数。
如为两组解理，需要测定解理夹角。
尽可能确定解理与结晶轴之间的关系。
突起:观察矿物的边缘、糙面及突起的明显程度，结合贝克线移动规律确定其突起等级，估计矿物折射率的大致范围。
颜色、多色性: 观察矿片有无颜色，如有颜色，则观察有无多色性、多色性的变化情况。
并在定向切片上测定多色性公式及吸收公式。
此外，还应观察有无包裹体，其排列与分布情况。
有无次生变化，其变化程度及变化产物。
（二）正交偏光镜下的观察干涉色: 观察矿片的最高干涉色级序，在平行光轴或光轴面切片上详细测定干涉色级序。
有无异常干涉色，其特点如何。
测定双折率: 根据矿片的最高干涉色级序、薄片厚度，确定双折射率值。
消光类型: 根据不同方向切片上的消光情况，确定矿物的消光类型。
测定消光角:对斜消光的矿物，在定向切片上测定消光角。
测定延性符号: 对一向延长的矿物，测定其延长方向的光率体椭圆半径名称，确定延性符号。
双晶:观察矿物有无双晶，确定双晶类型。
（三）锥光镜下的观察根据有无干涉色图区分均质体与非均质体。
根据干涉图特征确定轴性（区分一轴晶与二轴晶）、切片方向。
测定光性符号、光轴角大小。
二、定向切片的选择及其特征上述光学性质中，如多色性公式、干涉色级序、双折率大小，消光角大小及光轴角大小等，通常都需要在定向切片上测定。
透明矿物的系统鉴定
透明矿物的系统鉴定
3、突起及闪突起：主要根据矿物颗粒的边缘、 糙面及贝克线移动方向来判断。 正突起：正极高、正高、正中、正低； 负突起：负高、负低；
4、颜色及多色性： 无色矿物：无多色性； 有色矿物：有多色性，无多色性。
⑸ 选择一个平行光轴或平行光轴面的切面，在正 交偏光镜下测定最高干涉色级序、最大双折率和消 光角的大小。如为有色矿物，观察No、Ne或Ng、Np 等颜色。写出多色性和吸收性公式。
透明矿物的系统鉴定
系统测定光学性质后，查阅有关资料，定出矿物名 称。
★特殊切面特征： ⑴ 垂直光轴切面特征： ①有色矿物不显多色
透明矿物的系统鉴定
2020/12/19
透明矿物的系统鉴定一、透明矿的晶体光学分类1、高级晶族： 均质体。 2、中级晶族、低级晶族： 非均质体。 非均质体可进一步分为：
一轴晶: (+)、(-) 二轴晶: (+)、(-)
透明矿物的系统鉴定
二、透明矿物系统鉴定的内容
(一) 单偏光镜下(-N)：
1、晶形：需要综合各种切面进行归纳； 2、解理：不同方向的切面具有不同的解 理形态，需要进行综合归纳。
•非均质体：仅垂直 光轴切面全消光，有 干涉图。
•均质体：⑵在单偏光下观察晶 形、解理、突起等级、颜色、 等。
•非均质体：⑵在单偏光下观察晶 形、解理、突起等级、闪突起、颜 色、多色性、测定解理夹角等。
透明矿物的系统鉴定
非均质体：
⑶ 在正交偏光镜下观察消光类型、双晶、延性符 号及干涉色级序等。
⑷ 选择一个垂直光轴的切面，在锥光镜下确定轴 性测定光性符号。如为有色矿物，在单偏光镜下观 察No或Nm的颜色。
实验3 常见透明矿物的鉴定(均质体、一轴晶、二轴晶矿物)
3.4 实验步骤
3.二轴晶矿物的鉴定（辉石或角闪石类）
1）单偏光下的特征
a.形态、粒径大小的观察 b.根据贝壳线和突起的等级确定 c.颜色和多色性的观察 d.解理的观察
3.4 实验步骤
2）正交镜下的特征
a.垂直Bxa（Bxo）的切面的干涉光 b.平行光轴的切面的干涉光 c.斜交光轴的切面的干涉光
实验3 实验3 常见透明矿物的鉴定 （均质体、一轴晶、二轴晶矿物）
3.1实验目的和要求 3.1实验目的和要求
• 1.认识常见透明矿物偏光显微镜下的特 征 • 2.正握萤石、石榴石、橄榄石、辉石、 角闪石、磷灰石、石英等鉴定特征
3.2 实验内容
1.均质体矿物的鉴定（萤石和石榴石例） 2.一轴晶矿物的鉴定（石英或磷灰石） 3.二轴晶矿物 实验步骤
3）锥光镜下的特征
a.垂直Bxa（Bxo）的切面的干涉图 b.平行光轴的切面的干涉图 c.斜交光轴的切面的干涉图 d.确定光性正负、延性符号，2V角大小
3.5 实验报告
根据实验1和实验 掌握的知识观察 根据实验 和实验2掌握的知识观察下列矿物 和实验
并写出各自的鉴定特征： 并写出各自的鉴定特征：
2.一轴晶矿物的鉴定（磷灰石或石英）
1）单偏光下的特征
a.形态、粒径大小的观察 b.根据贝壳线和突起的等级确定 c.颜色和多色性的观察
3.4 实验步骤
2）正交镜下的特征
a.垂直光轴的切面的干涉光 b. b.平行光轴的切面的干涉光 c.斜交光轴的切面的干涉光
3.4 实验步骤
3）锥光镜下的特征
a.垂直光轴的切面的干涉图 b.平行光轴的切面的干涉图 c.斜交光轴的切面的干涉图 d.确定光行正负
3.3 实验仪器和用品
1[1].8透明矿物薄片系统鉴定步骤
![1[1].8透明矿物薄片系统鉴定步骤](https://img.taocdn.com/s3/m/9346260652ea551810a68765.png)
①有色矿物不显多色性； ②全消光； ③锥光下显一轴晶或二轴晶垂直光轴切面干涉图
⑵平行光轴或平行光轴面切面特征：
①多色性； 最明显； ②干涉级序最高；
③锥光下显平行光轴或光轴面切面干涉图
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1.8.3偏光显微镜下材料的系统研究
• 陶瓷材料通常是由晶相、玻璃相和 气孔等组成的复合体。 • 在偏光显微镜中，陶瓷材料系统研 究的主要内容是物相的定性、定量 分析及材料的显微结构研究。
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图 单偏光镜下砂岩
图 单偏光镜下云母片岩
图 单偏光镜下大理岩
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①完全解理：解理缝细、密、长，往往贯穿整 个晶体，如图黑云母和方解石的解理。 ②中等解理：解理缝清楚，但较稀，一条缝不 完全连贯，如角闪石和图辉石的解理。 ③不完全解理：解理缝断断续续，勉强能看出 一个大致方向，如图萤石、图橄榄石的解理。
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4．用油浸法测定矿物的主折射率
• 均 质 体 测 定 N值 ， 一 轴 晶 测 定 Ne、 No值，二轴晶测定Ng、Nm、Np值。
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1.8.2系统鉴定透明矿物的程序
• 未知矿物的鉴定一般需按下列程序进 行
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化学成分－显微结构－材料性能的三角图形
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• 对显微结构的研究，不仅有利于探讨 瓷料配方中各组分在成瓷过程中的变 化及反应机理，而且有助于检查配方 及工艺设计的科学性，从而为材料改 性及制备预见性能的新材料提供依据。
晶体光学实验(九)透明矿物系统鉴定(角闪石)
(二) 平行光轴(一轴晶)或平行光轴面(二轴晶)切 面 包含主轴No、Ne (一轴晶)或Ng、Np，多色 性最明显，正交偏光镜下干涉色级序最高，具 闪变干涉图。在这种切面上，可以测定下列光 学性质： 1. 测定Ne、No或Ng、Np的颜色，测定主折 射率No或Nm的值。确定轴性，测定光性符号， 估计2V角(二轴晶)。 2. 观察闪突起。 3. 测定干涉色级序及最大双折射率。 4. 测定消光角。
实验八 透明矿物的系统鉴定 一、透明矿物系统鉴定的内容
1. 单偏光镜下观察的矿物光学性质： 晶形、自形程度、大小、解理、突起、颜色、 多色性。 2. 正交偏光下观察矿物光学性质： 干涉色、测定双折射率、消光类型、消光角 大小、延性符号、双晶类型。 3. 锥光镜下观察的矿物光学性质： 均质体、非均质体，轴性、切片方向、光性 符号、光轴角大小。
角闪石类的光性特征
*绝大多数为单斜晶系； *沿C轴延伸呈长柱状、针状，横断 面为菱形或六边形； *横断面{110}＾{110} =126/54； *正中突起； *多色性明显，常呈绿、黄褐等色。 多大于50度。
角 闪 石 晶 体 的 主 要 切 面
实验内容:角闪石系统鉴定
一、目的：掌握角闪石类矿物的光性特征
二、内容： 在3#、或10#片中（变质岩角闪石片岩 片中） 选择角闪石进行系统鉴定。 三、要求： 用学到的晶体光学知识，认真鉴定角闪 石在单偏、正交、锥光镜下的所有晶体光学 性质，有的操作要画图完成。
二、常用的定向切面及其特征
(一) 垂直光轴切面 包含主轴No或Ne, 无多色性，正交偏光镜 下为全消光，锥光镜下为一轴晶或二轴晶垂 直光轴切面干涉图。在这种切面上，可以测 定下列光学性质： 1. 确定轴性，测定光性符号，估计2V角(二 轴晶)。 2. 测定No或Nm的颜色，测定主折射率No或 Nm的值。
实验3 常见透明矿物的鉴定(均质体、一轴晶、二轴晶矿物)
3.2 实验内容
1.均质体矿物的鉴定（萤石和石榴石例） 2.一轴晶矿物的鉴定（石英或磷灰石） 3.二轴晶矿物的鉴定（橄榄石或辉石或 角闪石）
3.3 实验仪器和用品
• 1.偏光显微镜 • 2.含石英、磷灰石、萤石、石榴石、橄 榄石、辉石、角闪石相关的薄片一套
3.4 实验步骤
1.均质体矿物的鉴定（石榴石或萤石）
a.垂直光轴的切面的干涉光 b. b.平行光轴的切面的干涉光 c.斜交光轴的切面的干涉光
3.4 实验步骤
3）锥光镜下的特征
a.垂直光轴的切面的干涉图 b.平行光轴的切面的干涉图 c.斜交光轴的切面的干涉图 d.确定光行正负
3.4 实验步骤
3.二轴晶矿物的鉴 b.根据贝壳线和突起的等级确定 c.颜色和多色性的观察 d.解理的观察
3.5 实验报告
根据实验1和实验 掌握的知识观察 根据实验 和实验2掌握的知识观察下列矿物 和实验
并写出各自的鉴定特征： 并写出各自的鉴定特征：
• 萤石 • 石榴石 • 石英 • 磷灰石 • 橄榄石 • 辉石 • 角闪石
1）单偏光下的特征
a.形态，粒径大小的测定 b.突起等观察 c.有否多色性等
2）正交镜下的特征
正交镜下视域为全光
3.4 实验步骤
2.一轴晶矿物的鉴定（磷灰石或石英）
1）单偏光下的特征
a.形态、粒径大小的观察 b.根据贝壳线和突起的等级确定 c.颜色和多色性的观察
3.4 实验步骤
2）正交镜下的特征
3.4 实验步骤
2）正交镜下的特征
a.垂直Bxa（Bxo）的切面的干涉光 b.平行光轴的切面的干涉光 c.斜交光轴的切面的干涉光
3.4 实验步骤
3）锥光镜下的特征
第八讲透明矿物鉴定(一)
(2) 单斜辉石亚族（普通辉石,透辉石,霓辉石,霓石等）
共同光学特征： 多为短柱状、横截面多为四边形和八边形，可见两组近正交完全解 理，纵切面长方形, 多见一组完全解理，正高突起，横截面多对称 消光, 2V角中等。
四、透明矿物及其薄片鉴定
（一） 常见造岩矿物
2、辉石类
辉石主要变种的光学特征
(2).锰橄榄石-铁橄榄石系列（Mn、Fe） (3).钙铁橄榄石-钙镁橄榄石系列（CaFe、CaMg） 橄榄石（贵橄榄石）主要光学特征: (1#) 粒状、无色、正高突起、解理不发育、裂开发育，最高干涉色二级
末到三级初，平行消光,二轴晶, ()2V角近90°.
图7—2 镁橄榄石(Fo)
图7—3铁橄榄石(Fa)
No.3 单斜角闪石特征
普通角闪石单偏光镜下特征
普通角闪石正交偏光镜下特征
普通角闪石单偏光镜下特征
普通角闪石正交偏光镜7普通角闪石(Hb)
实习四橄榄石、辉石、角闪石
• 一、实习目的要求 • 全面掌握橄榄石、辉石、角闪石的单偏 光镜下、正交偏光镜下的光学特点。 • 二、实习内容 • 通过纯橄榄岩、橄榄辉长岩、橄榄苏长 岩、角闪片岩、角闪岩岩石薄片，分别 鉴定橄榄石、辉石、角闪石三种矿物的 镜下特征。
透明矿物系统鉴定的程序
不透明 矿物 单 偏 光 镜 （如磁铁矿、钛 铁矿、石墨等） 有色 矿物
非均质 体矿物
单偏光：晶形、解理、解理夹角、 突起等级、闪突起及包裹体等特征。 正交偏光：消光类型、延性符号、 双晶类型、干涉色级序等。 锥光镜：轴性、光性符号、光轴 角的大小（二轴晶）、（定向切片）
矿 片
No.2 辉石类镜下特征
透辉石单偏光镜下特征
透辉石正交偏光镜下特征
透明矿物镜下鉴定教程
No或Nm的颜色及折 射率值、轴性、光 性符号、二轴晶光 轴角及色散
Ne,No或Ng,Np的颜 色及折射率值，最 高干涉色、最大双 折射率, C∧Ng （单斜辉石及闪石。 Nm∥b）
平行 光轴 或光 轴面 切片
当该矿物 具有闪突 起时，该 矿片闪突 起最明显
多 色 性 明 显
干涉色 最高
闪图
透明矿物系统鉴定模式（以角闪石为例）
6、消光类型 消光角和延性符号的测定
平行消光
对称消光
斜消光
★★★ 正交偏光系统下晶体的光学性质
6、消光类型 消光角和延性符号的测定
45°
b1
45°
c1
a
消光位
d
解理缝∥纵 丝 （α2）
b2
定轴名
c2
Ng∥纵丝（α1）
★★★ 正交偏光系统下晶体的光学性质
6、消光类型 消光角和延性符号的测定
干涉色 降低
R总 = R1+ R 2
R总 = │R1- R2│
Ng2
Np2
Ng2
Np2
同名半径 平行
异名半径 平行
Np1
• 几种常用补色器
Ng1
Np1
Ng1
★★★ 正交偏光系统下晶体的光学性质
4、 矿片光率体椭圆半径方向和名称的测定
1. 将欲测矿物切片置于视域中心，转动物台使其消光，此时矿片的光 率体椭圆切面的长、短半径方向和上、下偏光镜的振动方向一致。 2. 转物台450，此时矿片的光率体椭圆切面的长、短半径方向和目镜十 字丝（代表上、下偏光的振动方向）成450角,，此时矿片的干涉色 最亮。 3. 从试板孔插入试板，观察矿片的干涉色变化，如果干涉色降低，异 名半径平行；如果干涉色升高，则为同名半径平行。 4. 试板上的光率体椭圆半径名称和方向是已知的，根据补色法则可确 定出矿片上光率体椭圆半径的名称和方向。 注意：根据矿片干涉色的高低选择适当的试板.
观察矿物的透明度的方法
观察矿物的透明度的方法《观察矿物透明度的超有趣方法》宝子们，今天我来给你们分享一个超酷的独家秘籍——观察矿物的透明度的方法。
这就像是一场探秘矿物小世界的奇妙之旅，跟紧我的步伐哈。
首先呢，咱们得准备好工具。
这就好比你要出门旅行，得把行李收拾好一样。
你需要一块干净的白色瓷板或者白色的无釉瓷片，这东西就像是矿物的小舞台，让它们在上面尽情展示自己的透明度。
这个瓷板可重要啦，就像厨师做菜离不开锅一样，没有它，咱们的观察可就不那么准确咯。
然后呢，找到你要观察的矿物。
不管是你从野外捡到的奇怪小石头，还是从矿物标本里挑出来的神秘小晶体，都可以拿来观察。
我曾经就捡到过一块特别好看的石头，当时我以为是块宝石呢，结果一观察透明度，发现它也就那样，哈哈哈。
接下来就是关键步骤啦。
把矿物轻轻地放在白色瓷板上，就像把小宝宝放在小床上一样，得轻拿轻放哦。
然后，咱们就开始观察。
透明度呢，大致可以分为三种情况。
第一种是透明的矿物。
这种矿物就像透明的玻璃一样，你可以透过它很清楚地看到下面瓷板的白色。
比如说水晶，水晶就像那种特别清澈的冰，你从这头能一眼看到那头的感觉。
如果你能透过矿物看到瓷板上很清晰的纹理或者杂质，那这个矿物大概率就是透明的。
这时候你就可以在心里默默给它打个“透明度超高”的标签。
第二种是半透明的矿物。
这种矿物就有点像那种磨砂玻璃，你能感觉到有光透过来，但是你看不太清楚瓷板下面的细节。
就像是你戴着雾蒙蒙的眼镜看东西一样，模模糊糊的。
像岫玉这种矿物就常常是半透明的。
这时候你就知道，哦，这个矿物的透明度是中等的，就像一个成绩不上不下的学生，卡在中间。
最后一种是不透明的矿物。
这就简单啦，你完全看不到瓷板的颜色，矿物就像一堵墙一样，把光都挡住了。
比如说石墨，石墨黑黝黝的，就像黑夜一样，一丝光都透不过去。
这时候你就可以给它判个“透明度超低”的结论啦。
在观察的时候呢，还有几个小窍门。
你可以变换一下角度，就像你拍照找最佳角度一样。
有时候从正面看不太清楚，换个侧面可能就一目了然了。
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萤石 正长石
石英 透闪石
辉石
1.78
糙CH面EN极LI其显著,边缘很宽
石榴石12
★★★ 正交偏光系统下晶体的光学性质
1、 消光现象及消光位
• 全消光（永久消光). 旋转物台一周, 均质体或非均质体 垂直光轴切片的消光现象不改变
A A
• 四次消光 旋转物台一周, 非均质体晶体非垂直 光轴切片出现四次消光现象.
轴性、光性符号、光轴角、切面类型等
2021/3/27
CHENLI
7
★★★ 单偏光系统下晶体的光学性质
1.矿物的外表特征--形态
a.矿物自形程度：自形晶、半自形晶、它形晶。 b.矿物单体形态：粒状、针状、板（条）状、柱状、片状。 c.矿物集合体形态：纤维状、放射状、球粒状、雏晶状等。
综 合 观 察
2021/3/27
CHENLI
B
=60
D
C
E
＞60
H
F
＜60
G
K 不同方向解理夹角变化示9意图
★★★ 单偏光系统下晶体的光学性质
2.矿物的外表特征—解理
• 解理夹角的测定
（2）解理夹角的测定步骤
1）选择颗粒,置于视域心.
2）转动物台使一组解理缝平行目镜十字丝纵丝 (图A),读取此时载物台刻度盘上的度数a.
3）再转动物台，使另一组解理缝平行目镜十字
• 吸收性公式 B
Ne No(正吸收) ；Ng Nm Np(正吸收).
2021/3/27
CHENLI
11
★★★ 单偏光系统下晶体的光学性质
4.与矿物折射率有关的光学性质—
边缘、贝克线、糙面、突起、闪突起
表1-1
突
突起等级
负高突起
负低突起
正低突起
正中突起 正高突起 202极1/高3/2突7 起
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8
★★★ 单偏光系统下晶体的光学性质
2.矿物的外表特征—解理
A
• 解理在薄片中的表现形式
• 解理等级的划分 • 解理夹角的测定
（1）切片方向的选择
选择同时垂直两组解理面的切片.
特征是两组解理缝最细最清楚, 当
解理缝平行目镜十字丝时, 微微升
降镜切片
• 消光位
•非均质体非垂直光轴切片在正交偏光
P
P
镜间处于消光现象时的位置.
注意:矿片处于消光位时的意义
2021/3/27
CHENLI
13
★★★ 正交偏光系统下晶体的光学性质
2、干涉色及干涉色色谱表 • 干涉色：
在正交偏光系统下，非均质体在消光位以外的位置，两 束偏光将发生干涉作用，结果将产生一系列复杂彩色条 带的组合。即称为干涉色.
《构造地质学》《岩石物理化学》《岩石成因理论》等。
2021/3/27
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2
课程简介
•主要内容
• 透明矿物薄片鉴定 透明矿物鉴定内容、方法、程序；常见透明矿物的鉴定
• 火成岩组构成因分析 地幔岩、幔源岩、混染杂岩、海相火山岩、熔结凝灰岩、 花岗质岩石
• 变质岩组构成因分析 变余组构、共生组构、反应组构、变形组构、变质相及 相转化标志、获得PTt轨迹的组构标志
2021/3/27
CHENLI
4
第一部分 透明矿物的薄片鉴定
主要内容
一、透明矿物薄片鉴定的一般方法 二、透明矿物薄片鉴定的基本内容 三、透明矿物系统鉴定的一般程序 四、常见透明矿物及其薄片的鉴定
2021/3/27
CHENLI
5
一 、透明矿物薄片鉴定的一般方法
• 系统鉴定法：
鉴定单偏光系统、正交偏光系统、锥光系统下的各种光 学特征。对照《光性矿物鉴定表》准确定出矿物名称的 过程。
《岩矿综合鉴定》
任课教师： 联系电话：
于介江 8502314
2021/3/27
CHENLI
1
课程简介
•课程性质
• 术语解释：通过偏光显微镜来鉴定透射光下矿物的种属、 结构构造、岩石类型及相关成因分析的一门综合学科。
• 面向专业：岩石学、矿物学、矿床学、构造地质学、勘探学。 • 课程设置：在地学研究生教学体系中属专业基础课。 • 前导课：《结晶学与矿物学》《晶体光学》《岩石学》
丝纵丝，读取此时载物台刻度盘上的度数b
(图B), a与b之差即为所测解理夹角.
2021/3/27
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图A
图B
10
★★★ 单偏光系统下晶体的光学性质
3.与吸收性有关的光学性质— 颜色、多色性和吸收性
• 多色性和吸收性的现象解释 • 多色性和吸收性的表达方式:
• 多色性公式 A
Ne= 浅紫色 No=深蓝色；Ng= Nm= Np=
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课程简介
• 主要参考书
• 康维国等. 晶体光学. 长春: 东北师范大学出版社, 1992. • 刘春华等. 结晶岩的组构及成因分析. 北京: 地质出版社，1995. • 穆克敏等. 透明薄片综合鉴定. 长春地质学院出版，1985. • 北京大学地质系. 光性矿物学. 北京: 地质出版社，1979. • 路风香. 地幔岩石学. 北京: 中国地质大学出版社, 1988. • J. B. 道森. 金伯利岩及其捕虏体. 金鹤生等译. 北京: 地质出版社, 1986. • 路风香等. 岩石学. 北京: 地质出版社，2002. • .刘喜山. Metamorphic Geol0gy. 长春: 吉林大学出版社, 2001.
干涉色高低取决与光程差 R=d·△
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★★★ 正交偏光系统下晶体的光学性质
2、干涉色及干涉色色谱表 • 干涉色色谱表
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★★★ 正交偏光系统下晶体的光学性质
3、 补色法则和补色器
在正交偏光镜间的450位置,放置两个互相重迭的非均质体矿片(垂 直光轴方向切片除外), 光通过这两个矿片后,它们总的光程差增 减的法则.
起等级分类及简要特征
折射率
糙面及边缘特征
实例
1.48 1.48--1.54 1.54—1.60 1.60—1.66 1.66—1.78
糙面及边缘显著,提升镜筒,贝克 线移向树胶.
表面光滑, 边缘不清楚,提升镜筒, 贝克线移向树胶.
表面光滑, 边缘不清楚,提升镜筒, 贝克线移向矿物.
表面略显粗糙, 边缘清楚显著.
• 典型特征鉴定法：
抓住矿物突出的组合特征来确定矿物种类及名称。
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二、透明矿物薄片鉴定的基本内容
• 单偏光系统鉴定的主要内容
矿物的形态、解理、颜色、多色性、吸收性、突起等
• 正交偏光系统鉴定的主要内容
消光现象、消光类型、消光角、干涉色级序、延性等
• 锥光系统鉴定的主要内容