MSA测量系统误差分析Minitab实例
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宽度 的1/10。 5、当被测项目变化时，测量系统统计特性的最大变差小
于 过程变差和规范宽度较小者。
•统计稳定性
➢ 测量系统必须处于统计稳定状态，也就是说，测量系统的
变差不受特殊原因支配
1、一般说来，当没有数值（点）落在特殊原因区域 内
时，测量系统便处于统计控制状态
•特殊原因区域
2、如果没有如SPC手册中描述的
•Minitab X bar – R图
•1、打开Minitab，建立工作表
•如图所示：图表的所有观测值 均在一列中
•Minitab X bar – R图
•2、选择统计 > 控制图 > 子组的变量控 制图 > Xbar-R。
•如图示： •1、选择：图表的所有观测 值均在一列中。 •2、在子组大小中，输入 3 。 •3、双击左侧“检测值”，到 右侧空白处。 •4、根据需要点击其他选项 ，填充相关内容，如“标签” 选项，也可不管； •5、点击“确定”。
测量数 据
(mm)
5.01 5.00
5.02 5.01
5.02 5.03
5.00 5.00
5.00 5.00
5.00 5.00
5.00 5.00
5.00 5.00
5.00 5.00
5.01 5.02
5.02 5.02
5.02 5.02
5.02 5.03
5.02 5.03
5.01 5.01
5.01 5.02
5.01 5.02
5.00 5.02
5.01 5.02
5.01 5.02
5.00 5.02
5.01 5.03
5.04 5.02
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
5.03 5.03
5.01 5.01
平均值 5.00 5.02 5.02 5.00 5.00 5.01 5.01 5.01 5.00 5.01 5.01 5.02 5.02 5.02 5.01 5.01 5.01 5.01 5.01 5.01 5.01 5.01 5.03 5.03 5.01 极差 0.02 0.01 0.01 0.01 0.00 0.02 0.02 0.02 0.01 0.02 0.02 0.01 0.02 0.02 0.01 0.02 0.03 0.02 0.02 0.01 0.02 0.03 0.02 0.01 0.01
准
• 样本分别进行测量和作出控制
图。
•统计稳定性分析指南
• 选取标准 样本
• 多次测量 样本
• 制作控制 图
• 解释控制 图
•
周期性(每天或每周等)地对标
准
• 样本测量多次, 一般为3 到5 次。
子
• 组容量及其采集周期的选择应该取
决
• 于测量系统的情况，例如需要进行
重
• 新标定或维修的周期是多长、该测
计量型控制图X Bar - R
零件编号：
零件名称（产品）：
操作（过程）：
上下偏差：
操作者：
量具：
测量单位：
日期 1
2
3
4
5
6
7
8
9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25
时间 10:00 ?
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4.99 5.02 5.02 4.99 5.00 5.02 5.02 5.02 5.01 5.00 5.00 5.01 5.01 5.01 5.00 5.00 4.99 5.00 5.00 5.01 5.01 5.00 5.02 5.02 5.00
量
• 系统使用的频繁程度如何、工作条
件
• 的紧张程度如何，等。应该在每天
的
•统计稳定性分析指南
• 选取标准 样本
• 多次测量 样本
• 制作控制 图
• 解释控制 图
•样本极差
•样本均值
• 稳定性的均值—极差图
•6. 3
•6.0
•5.7
•子组 •0
•5
•1
•1.0
0
•0.5
•UCL=6.297 •Mean=6.021
数据趋势或偏移时，我们也可
以认为是统计控制状态
•特殊原因区域
•统计稳定性分析指南
• 选取标准 样本
• 多次测量 样本
• 制作控制 图
• 解释控制 图
•
应选择一个落在过程产品
测
• 量值中程数的产品作为研究的
标
• 准样本。具备预期测量的最低
值、
• 最高值和中程数的标准样本是
比
• 较理想的。建议对上述每个标
•偏 倚
• 无偏倚
•偏 倚
• 量程较高 部位
• 基准值
• 量程较低 部位
•测量系统分析-重复性
• 第一次测 量
• 重复 性
• 第二次测 量 • 重复性是由一个操 作者
• 采用同一种测量仪 器,
• 多次测量同一零件 的同
• 一特性时获得的测 量值
• 变差。
• 表现为“设备差”
•测量系统分析-再现性
•
当测量值的分布规
律
•测量系统分析-偏倚
•基准值 •偏倚（B）
•偏倚： • 在测量系统具有 统计稳定性的前提下 ，测量值分布的均值 与基准值之间的距离 。 •
•观测平均值
•测量系统分析-线性
• 线性：在量具预期的工作范围内，偏倚值的差值。线性可以
•
被认为是关于偏倚大小的变化
•真值
• 有偏倚
•真值
• 操作 者A
• 操作 者B
• 再现性：由不同的操作 者，
• 采用相同的测量仪器， 测量
• 同一零件的同一特性时 ，测
• 量平均值的变差。
• 再现性体现“人差”。 • 操作
者C
•测量系统应具备的特性
1、处于统计控制状态，即只存在普通原因引起的变差。 2、测量系统的变异性（Variability）小于过程变异性。 3、测量系统的变异性小于技术规范界限。 4、测量增量（increments）小于过程变异性和技术规范
•LCL=5.746
•15
•20 •25
•ULC=1.01
•R=0.47792
•0
•LC
.0
L=
0
•Minitab X bar – R图
•例子：某标准件尺寸要求为5+/-0.05mm，采用千分尺进行测量，为进行 该测量系统稳定性分析，取一标准件，每天同一质检员采用同一千分尺对 其进行测量，每次测量3个数据，连续测量25组。具体数据见下表：
•Minitab X bar – R图
•3、点击“确认”后生成控制图
•如图示： •1、其中控制图中 上半部分为均值 图，下半部分为 极差图； •2、分析控制图， 判定是否处于统 计稳定性，详细 参考SPC相关法则 ； •3、一般至少满足 均值、极差图所 有点都在控制限 内，且平均极差 不能超出公差（ 0.05mm)控制要求.
MSA测量系统误差分析 Minitab实例
2020年5月28日星期四
•测量系统分析-稳定性
•稳定性 •基准值
•时间2
•时间 1
• 统计稳定性（稳定性、
• 飘移）：
•
测量系统在持续时
间
• 内，测量同一基准或零 件
• 的单一特性时获得的测 量
• 值的总变差。
•
它反映测量值的分
布
• 规律是否随时间发生变 化。
于 过程变差和规范宽度较小者。
•统计稳定性
➢ 测量系统必须处于统计稳定状态，也就是说，测量系统的
变差不受特殊原因支配
1、一般说来，当没有数值（点）落在特殊原因区域 内
时，测量系统便处于统计控制状态
•特殊原因区域
2、如果没有如SPC手册中描述的
•Minitab X bar – R图
•1、打开Minitab，建立工作表
•如图所示：图表的所有观测值 均在一列中
•Minitab X bar – R图
•2、选择统计 > 控制图 > 子组的变量控 制图 > Xbar-R。
•如图示： •1、选择：图表的所有观测 值均在一列中。 •2、在子组大小中，输入 3 。 •3、双击左侧“检测值”，到 右侧空白处。 •4、根据需要点击其他选项 ，填充相关内容，如“标签” 选项，也可不管； •5、点击“确定”。
测量数 据
(mm)
5.01 5.00
5.02 5.01
5.02 5.03
5.00 5.00
5.00 5.00
5.00 5.00
5.00 5.00
5.00 5.00
5.00 5.00
5.01 5.02
5.02 5.02
5.02 5.02
5.02 5.03
5.02 5.03
5.01 5.01
5.01 5.02
5.01 5.02
5.00 5.02
5.01 5.02
5.01 5.02
5.00 5.02
5.01 5.03
5.04 5.02
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
5.03 5.03
5.01 5.01
平均值 5.00 5.02 5.02 5.00 5.00 5.01 5.01 5.01 5.00 5.01 5.01 5.02 5.02 5.02 5.01 5.01 5.01 5.01 5.01 5.01 5.01 5.01 5.03 5.03 5.01 极差 0.02 0.01 0.01 0.01 0.00 0.02 0.02 0.02 0.01 0.02 0.02 0.01 0.02 0.02 0.01 0.02 0.03 0.02 0.02 0.01 0.02 0.03 0.02 0.01 0.01
准
• 样本分别进行测量和作出控制
图。
•统计稳定性分析指南
• 选取标准 样本
• 多次测量 样本
• 制作控制 图
• 解释控制 图
•
周期性(每天或每周等)地对标
准
• 样本测量多次, 一般为3 到5 次。
子
• 组容量及其采集周期的选择应该取
决
• 于测量系统的情况，例如需要进行
重
• 新标定或维修的周期是多长、该测
计量型控制图X Bar - R
零件编号：
零件名称（产品）：
操作（过程）：
上下偏差：
操作者：
量具：
测量单位：
日期 1
2
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时间 10:00 ?
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4.99 5.02 5.02 4.99 5.00 5.02 5.02 5.02 5.01 5.00 5.00 5.01 5.01 5.01 5.00 5.00 4.99 5.00 5.00 5.01 5.01 5.00 5.02 5.02 5.00
量
• 系统使用的频繁程度如何、工作条
件
• 的紧张程度如何，等。应该在每天
的
•统计稳定性分析指南
• 选取标准 样本
• 多次测量 样本
• 制作控制 图
• 解释控制 图
•样本极差
•样本均值
• 稳定性的均值—极差图
•6. 3
•6.0
•5.7
•子组 •0
•5
•1
•1.0
0
•0.5
•UCL=6.297 •Mean=6.021
数据趋势或偏移时，我们也可
以认为是统计控制状态
•特殊原因区域
•统计稳定性分析指南
• 选取标准 样本
• 多次测量 样本
• 制作控制 图
• 解释控制 图
•
应选择一个落在过程产品
测
• 量值中程数的产品作为研究的
标
• 准样本。具备预期测量的最低
值、
• 最高值和中程数的标准样本是
比
• 较理想的。建议对上述每个标
•偏 倚
• 无偏倚
•偏 倚
• 量程较高 部位
• 基准值
• 量程较低 部位
•测量系统分析-重复性
• 第一次测 量
• 重复 性
• 第二次测 量 • 重复性是由一个操 作者
• 采用同一种测量仪 器,
• 多次测量同一零件 的同
• 一特性时获得的测 量值
• 变差。
• 表现为“设备差”
•测量系统分析-再现性
•
当测量值的分布规
律
•测量系统分析-偏倚
•基准值 •偏倚（B）
•偏倚： • 在测量系统具有 统计稳定性的前提下 ，测量值分布的均值 与基准值之间的距离 。 •
•观测平均值
•测量系统分析-线性
• 线性：在量具预期的工作范围内，偏倚值的差值。线性可以
•
被认为是关于偏倚大小的变化
•真值
• 有偏倚
•真值
• 操作 者A
• 操作 者B
• 再现性：由不同的操作 者，
• 采用相同的测量仪器， 测量
• 同一零件的同一特性时 ，测
• 量平均值的变差。
• 再现性体现“人差”。 • 操作
者C
•测量系统应具备的特性
1、处于统计控制状态，即只存在普通原因引起的变差。 2、测量系统的变异性（Variability）小于过程变异性。 3、测量系统的变异性小于技术规范界限。 4、测量增量（increments）小于过程变异性和技术规范
•LCL=5.746
•15
•20 •25
•ULC=1.01
•R=0.47792
•0
•LC
.0
L=
0
•Minitab X bar – R图
•例子：某标准件尺寸要求为5+/-0.05mm，采用千分尺进行测量，为进行 该测量系统稳定性分析，取一标准件，每天同一质检员采用同一千分尺对 其进行测量，每次测量3个数据，连续测量25组。具体数据见下表：
•Minitab X bar – R图
•3、点击“确认”后生成控制图
•如图示： •1、其中控制图中 上半部分为均值 图，下半部分为 极差图； •2、分析控制图， 判定是否处于统 计稳定性，详细 参考SPC相关法则 ； •3、一般至少满足 均值、极差图所 有点都在控制限 内，且平均极差 不能超出公差（ 0.05mm)控制要求.
MSA测量系统误差分析 Minitab实例
2020年5月28日星期四
•测量系统分析-稳定性
•稳定性 •基准值
•时间2
•时间 1
• 统计稳定性（稳定性、
• 飘移）：
•
测量系统在持续时
间
• 内，测量同一基准或零 件
• 的单一特性时获得的测 量
• 值的总变差。
•
它反映测量值的分
布
• 规律是否随时间发生变 化。