SDH电接口参数测试资料

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SDH、WDM网元级测试内容及所用仪表

SDH、WDM网元级测试内容及所用仪表

SDH、WDM网元级测试内容及所用仪表:
测试内容使用的仪表
SDH;WDM (OTU) 平均发送光功率图案发生器、光功率计
发送信号波形(眼图)信号分析仪(高速示波器)
光接收灵敏度、最小过载光功率
传输分析仪(图案发生器、误码检测仪)、可变衰耗器、光
功率计
抖动测试SDH分析仪
WDM
OTU
中心频率与偏离多波长计或光谱分析仪
最小边模抑制比光谱分析仪
最小-20dB带宽光谱分析仪
OMU插入损耗及偏差、极化相关损

可调激光器光源、偏振控制器、光功率计
ODU插入损耗及偏差、极化相关损
耗、信道隔离度、中心波长与偏差
可调激光器光源、偏振控制器、光功率计、光谱分析仪OA输入、输出光功率范围、噪声系
数、光监测信道的光功率、工作波长
及偏差
光谱分析仪、光功率计。

SDH测试方法

SDH测试方法

1、简述SDH测试信号结构TSS1的功能。

答:为了测试提供高阶通道连接功能(HPC)和采用AU-4结构的网络单元(NE),测试信号结构TSS1是一种适用于C-4容器所有字节,其长度为2 23-1比特的PRBS测试序列。

2、简述SDH测试信号结构TSS3的功能。

答:为了测试提供高阶通道连接功能(HPC)和低阶通道连接功能(LPC)的网络单元(NE),测试信号结构TSS3是一种适用于C-3低阶容器所有字节,其长度为2 23-1比特的PRBS测试序列。

3、简述SDH测试信号结构TSS4的功能。

答:为了测试提供高阶通道连接功能(HPC)和低阶通道连接功能(LPC)的网络单元(NE),测试信号结构TSS4是一种通用于C-12低阶容器所有字节,其长度为2 15-1比特的PRBS测试序列。

4、简述TSS5的功能。

答:为了测试提供高阶通道适配功能(HPA-4)和采用AU-4结构的网络单元(NE),测试信号结构TSS5是一种适用于映射入C-4容器所有PDH支路比特,其长度为2 23-1比特的PRBS测试序列。

5、简述TSS7的功能答:(LPA-3),C-36、简述TSS8的功能。

答:LPA-12,C-12,2 15-17、SDH具有哪几类电接口。

答:SDH有155520kbit/s;PDH有2048kb/s,34368kb/s,139264kb/s三种速率;第三类为数字同步网接口,即2048khz和2048kbit/s基准定时源接口。

8、阐述测试SDH平均发送功率时的操作步骤。

(1)接好电路。

(2)对于SDH设备输入口一般不需要送信号,如需要送信号,按输入口的速率等级,图案发生器选择适当的伪随机二元序列(PRBS)或何时的测试信号结构向输入口输入测试信号。

(3)如有需要,测量并记录激光器的偏置电流(或输入功率)及温度。

(4)光功率计设置在被测光波长上,待输出功率稳定,从光功率计读出平均发送光功率。

(5)精细的测试,可以通过多次测试取平均值,然后再用光连接器和测试光纤的衰减对平均值进行修正。

SDH常用指标测试大全

SDH常用指标测试大全
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设备测试原理
抖动和漂移 定义: 抖动和漂移与系统的定时特性有关。定时抖动(抖动)是 指数字信号的特定时刻(例如最佳抽样时刻)相对其理 想时间位置的短时间偏离。所谓短时间偏离是指变化频 率高于10Hz的相位变化。而漂移指数字信号的特定时刻 相对其理想时间位置的长时间的偏离,所谓长时间是指 变化频率低于10Hz的相位变化。
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设备测试原理
抖动和漂移指标 4)抖动转移函数——抖动转移特性 在此处是规范设备输出STM-N信号的抖动对输入的STM-N信号 抖动的抑制能力(也即是抖动增益),以控制线路系统的抖动 积累,防止系统抖动迅速积累。 抖动转移函数定义为设备输出的STM-N信号的抖动与设备输入 的STM-N信号的抖动的比值随频率的变化关系,此频率指抖动 的频率。
SDH常用指标测试大全
学习完此课程,您将会: 掌握光口、电口的测试指标概念、测试原理与方法; 掌握误码性能测试指标概念、测试原理和方法; 掌握抖动和漂移的概念、测试原理和方法;
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第1章 光口、电口、误码、抖动和漂移 的概念及测试原理和方法。
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设备测试原理
光接口类型:
应用场合
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设备测试原理
光口指标 3、接收机过载功率 定义:是在R参考点(光板IN口),达到规定的误码(BER=10-10) 所能接收到的最高平均光功率。 测试方法:同接收灵敏度测试方法。 总结: 接收机正常工作的范围是有限制的:光功率太强,会产生误码甚 至可能毁坏收光模块;光功率太弱,也会产生误码或者收无光。 光板接收到的信号太强、太弱都不行。接收光功率只有在一定的 范围内,光板才能稳定工作。
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设备测试原理
光口指标 4、光输入口允许频偏 定义:是指光输入口在接受信号正常时,能够允许输入光信号最大频 偏范围。 指标要求:再生器的内部振荡器在自由运行方式下的长期频率稳定度 不得劣于±20×10-6, 下游SDH设备输入口接收到这样的信号应能正 常工作。 测试配置:

SDH光接口参数测试分解

SDH光接口参数测试分解

SDH光接口参数测试一、平均发送光功率A、指标要求:发送机的发送功率定义为发送参考点(S参考点)所测得的发送机发送伪随机序列(PRBS)信号时的平均光功率。

其指标要求见表1:L – 4.3 1480 1580 SLM 2dBm - 3dBmSTM –162488.320Mbit/s I - 16 1266 1360 MLM - 3dBm - 10dBm S –16.11260 1360 SLM 0dBm - 5dBm S –16.21430 1580 SLM 0dBm - 5dBm L –16.11280 1335 SLM 3dBm - 2dBm L –16.21500 1580 SLM 3dBm - 2dBm L –16.31500 1580 SLM 3dBm - 2dBm表1:SDH光接口平均发送光功率指标B、基本测试框图:C、测试步骤:1、按照图1进行配置连接;2、SDH测试设备发送规定传输比特率、码型和长度的伪随机信号;3、用标准测试光纤软线将待测光端机的发送端输出活动连接器与光功率计输入活动连接器相连,在光功率计上读得的光功率数值就是要测的平均发送光功率。

注:该项指标的测试尽管简单,但测量准确度却往往并不太理想,常可能超过0.5dB,因此,必须对光源、检测器(光功率计)、校准程序及环境条件按规定进行严格的要求,以控制测试偏差。

此外,采用标准测试光纤软线进行测试也是减小测试误差的重要手段。

二、眼图模板A、指标要求:在高比特率光通信系统中,发送光脉冲的形状不易控制,常常可能有上升沿、下降沿过冲、下冲和振铃现象。

这些都可能导致接收机灵敏度的劣化,需要严加限制。

为此,ITU-T G.957规定了一个发送眼图的模板,如图2,模板参数列于表2中。

采用眼图模板法比较简便,而且可能捕捉到一些观察单个孤立脉冲所不易发现的现象。

但测试结果与所选择的测试参考接收机(光示波器)密切相关,因此其低通滤波器必须标准化。

SDH测试

SDH测试
Lucent Technologies Information & Communications of Shanghai, Ltd.
同步数字体系(SDH) 测试方法
比特率(kbit/s) 2048 (vc12) 容 差 码 HDB3 型 测试用PRBS 215-1
±50 x 10-6
34368 (vc3)
±20 x 10-6
HDB3
223-1
139264 (vc4)
±15 x 10-6
CMI
223-1
155520
±20 x 10-6
CMI
223-1
CSO_WuWeiqing
Lucent Technologies Information & Communications of Shanghai, Ltd.
3. 3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 3.6 3.7 3.8 抖动和漂移性能测试 SDH 设备 STM-N 口输出抖动的产生 SDH 设备 STM-N 输入口的抖动容限 SDH 再生器的抖动传递特性 SDH 数字段的输出抖动 SDH 数字段输入口的抖动和漂移容限 PDH 支路口的输入抖动和漂移容限 PDH 支路口的映射抖动 PDH 支路口的结合抖动 CSO_WuWeiqing
同步数字体系(SDH) 测试方法
1. 1.1 光接口特性测试 光源工作波长 -- 光谱分析仪或光波长计 主纵模中心波长 最大均方根谱宽 σrms ( LED MLM) -- 光谱分析仪 σ2rms表示规定光谱积分区内的总功率,积分区的边界功率相对于主峰跌落 20dB-30dB. 最大 -20dB谱宽 ( SLM) -- 光谱分析仪 选取光功率下降到 - 20dB的点对应的波长 λ1和 λ2,σ -20=λ2- λ1。 最小边模抑制比 ( SLM) -- 光谱分析仪 在最坏反射条件下,全调制时,主纵模的平均光功率与最显著边模的光功率之比得最小值。 平均发送光功率 -- 光功率计 平均发送光功率是发送机耦合到光纤的伪随机数据序列的平均功率在 S 点的测试值。

光纤通信测量电接口的指标和测试

光纤通信测量电接口的指标和测试
2 指针测试,包括定时偏移、净负荷输出抖动 等,用以显示SDH容许异步工作的能力。
3 嵌入开销测试,包括告警和性能监视功能测 试、协议分析等,用以确认开销功能。
4 线路接口测试,包括一系列电接口和光接口 参数的测试,用以保证光路上的横向兼容性。
光纤通信测量电接口的指标和测试
传送能力测试
虚容器BER测试
3 在外时钟源速率有偏差(在表4.6的容差范围 内),连接电缆衰减增大(在表4.6的允许衰减 范围内)的不利条件下,误码检测器仍然应检 测不到任何误码。
光纤通信测量电接口的指标和测试
最大允许输入抖动的下限
光端机输入口 不同速率的数字复用设备输入口 测试方法与第六章抖动容限的测试相同
光纤通信测量电接口的指标和测试
由于数字配线架和上游设备输出阻抗的不均匀 性,会产生信号反射,形成对有用信号的干扰, 为了保证光端机的正常工作,避免因干扰信号 进入输入口而引起的误码,要求输入口具有足 够能力指标
比特率
表称值 (kbit/s)
容差 (kbit/s)
2048
码(HDB3),4次群接口码型为传号反转 编码(CMI)
光纤通信测量电接口的指标和测试
接口名称
标称比特率 (kbit/s)
容差(或频率容差Hz)
×10-6
bit/s
一 次 群 2048
±50
±102.4
(基群)
二次群
8448
±30
±253.4
三次群
34368
±20
±687.4
四次群
139264
±15
标准化的信息结构等级,称为同步传送 模块
块状帧结构具有丰富的维护管理比特 开放的标准化光接口,在光路上实现不

SDH电接口参数测试

SDH电接口参数测试

SDH电接口参数测试SDH(Synchronous Digital Hierarchy)电接口是一种用于光纤通信系统的接口标准,它采用同步传输方式,可以实现高速、稳定的数据传输。

为了保证SDH电接口的正常工作,需要进行一系列的参数测试。

首先,需要测试的参数是SDH电接口的传输速率。

SDH系统采用了多层的速率结构,最常见的速率是STM-1(Synchronous Transport Module level-1),其传输速率为155.52Mbps。

在测试时,需要验证接口的传输速率是否符合标准,同时还需要测试在不同传输速率下的性能表现。

接下来,需要进行带宽测试。

在SDH电接口中,带宽是指每个光纤通道的数据传输能力,通常以Mbps为单位进行衡量。

通过带宽测试,可以确定SDH电接口的实际可用带宽,以及通道的承载能力是否符合设计要求。

此外,还需要进行误码率测试。

误码率是指在传输过程中出现的比特错误率,它可以反映系统的抗干扰能力和传输质量。

在测试中,需要通过发送大量数据,并在接收端进行比对,来计算误码率,并判断系统的稳定性和可靠性。

另外,需要进行时钟同步测试。

在SDH系统中,时钟同步是非常重要的,它保证了传输过程中各个节点的数据同步。

通过时钟同步测试,可以验证SDH电接口是否能够正常接收和传递时钟信号,以及时钟的精确度和稳定性。

此外,还需要进行抗干扰性测试。

在实际使用中,SDH系统可能会受到各种干扰源的影响,例如电磁辐射、电源干扰等。

通过抗干扰性测试,可以验证SDH电接口的干扰抑制能力,以及在干扰环境下的数据传输质量。

最后,需要进行连通性测试。

连通性测试是指验证SDH电接口与其他设备之间的连接是否正常,以及数据传输是否稳定。

在测试中,需要模拟不同的连接情况,例如点对点、多点连接等,以确保SDH电接口的兼容性和通用性。

综上所述,SDH电接口参数测试包括传输速率、带宽、误码率、时钟同步、抗干扰性和连通性等多个方面的测试。

SDH电接口参数测试全解

SDH电接口参数测试全解

SDH电接口参数测试1、比特率及容差、接口码型A、指标要求:比特率即二进制信号速率,定义为每单位时间内传送的比特数。

实际数字信号的比特率和规定的标称比特率多少有点差别,ITU-T规定了这种差别允许的范围,即容差。

见下表1。

输入口、输出口都应满足表1要求,输入口满足指能适应相应容差范围内的任何实际比特率,其它参数仍应满足指标;输出口满足指无论上游是何设备,数字信号从输出口送出,其实际比特率应在表1给出的容差之内。

表1:比特率及容差、接口码型指标要求B、测试基本框图:图1:比特率及容差测试框图C、测试步骤:(1)、输入口比特率及容差:---按图1接好电路,配置SDH测试设备使之产生相应表1的比特率及码型,使系统正常运行,确认SDH测试设备检测不到任何误码;---减少SDH测试设备的输出信号比特率,直到SDH测试设备刚好检测到任何误码的临界点,记下此时的频偏值(如到测试设备频偏设置的极限仍无误码,则记下此极限值);---增加SDH测试设备的输出信号比特率,重复上一步骤;---记录下的频偏值必须超过表1中的容差限值;---更换其它输入口重复以上测试步骤。

(2)、输出口数字信号比特率:---按图1接好电路,配置SDH测试设备使之产生相应表1的比特率及码型,使系统正常运行;---确认SDH测试设备的输出信号比特率无频偏,测试此时接收到的信号比特率频偏,其值应在表1所示容差限之内;---更换其它输入口重复以上测试步骤。

2、出口信号波形A、指标要求:实际工作条件下,输出口通过电缆连接在数字配线架(DDF)上,由于电缆长度和阻抗等不确定因素,无法规范实际工作的输出口信号波形参数指标。

现在的输出口信号波形各参数都是在输出口终结规定的测试负载阻抗条件下所规定的指标,各级数字接口的输出口指标应符合表2的要求。

B、试用滤波器和探头要求:测试用滤波器的带宽要能覆盖被测信号,探头阻抗要高,电容要小,具体要求见表3。

C、测试基本框图:D、测试步骤:---按表3选择示波器和探头,按测试框图接好电路;---将测试负载阻抗(75。

SDH电接口参数测试

SDH电接口参数测试

SDH电接口参数测试1、比特率及容差、接口码型A、指标要求:比特率即二进制信号速率,定义为每单位时间内传送得比特数。

实际数字信号得比特率与规定得标称比特率多少有点差别,ITU—T规定了这种差别允许得范围,即容差。

见下表1.输入口、输出口都应满足表1要求,输入口满足指能适应相应容差范围内得任何实际比特率,其它参数仍应满足指标;输出口满足指无论上游就是何设备,数字信号从输出口送出,其实际比特率应在表1给出得容差之内。

表1:比特率及容差、接口码型指标要求B、测试基本框图:图1:比特率及容差测试框图C、测试步骤:(1)、输入口比特率及容差:—--按图1接好电路,配置SDH测试设备使之产生相应表1得比特率及码型,使系统正常运行,确认SDH测试设备检测不到任何误码;——-减少SDH测试设备得输出信号比特率,直到SDH测试设备刚好检测到任何误码得临界点,记下此时得频偏值(如到测试设备频偏设置得极限仍无误码,则记下此极限值);--—增加SDH测试设备得输出信号比特率,重复上一步骤;-——记录下得频偏值必须超过表1中得容差限值;ﻫ---更换其它输入口重复以上测试步骤.(2)、输出口数字信号比特率:——-按图1接好电路,配置SDH测试设备使之产生相应表1得比特率及码型,使系统正常运行;ﻫ--- 确认SDH测试设备得输出信号比特率无频偏,测试此时接收到得信号比特率频偏,其值应在表1所示容差限之内;ﻫ—--更换其它输入口重复以上测试步骤。

2、出口信号波形A、指标要求:实际工作条件下,输出口通过电缆连接在数字配线架(DDF)上,由于电缆长度与阻抗等不确定因素,无法规范实际工作得输出口信号波形参数指标。

现在得输出口信号波形各参数都就是在输出口终结规定得测试负载阻抗条件下所规定得指标,各级数字接口得输出口指标应符合表2得要求。

B、试用滤波器与探头要求:155520 ≥500 500 ~50≥5kΩ,≤1、0pf交流(AC)耦合电容≥0、01uf2048kHz同步信号接口≥ 60 / 0 ~ 60 ≥ 10MW,≤20pf 直流(DC)表3:接口测试用滤波器与探头要求C、测试基本框图:D、测试步骤:ﻫ—--按表3选择示波器与探头,按测试框图接好电路;--—将测试负载阻抗(75Ω电阻,误差小于±0、5%)或75Ω/50W阻抗变换器(若不用低电容高阻抗探头时)得75Ω侧接到待测得输出口上;ﻫ—--先校准零基线,方法就是不给示波器送信号(输入端短路),将水平扫描线调到屏幕适当得位置(模板得标称0伏线)处;ﻫ---将被测信号送入示波器,读出表2中各参数,应满足相应得指标;ﻫ—--对于139264与155520Kbit/s输出口,注意示波器用交流耦合(AC)方式.CMI码得幅度中线与示波器得零基线之差应不超过±0、05V。

SDH功能测试资料

SDH功能测试资料

SDH功能测试一、检验正确的机械安装在网元每个通道(VC-n)上进行BER测试,以检查网元的安装是否正确,包括:---在端口和数字配线架之间的电缆连接是否正确;---网元的基本电子性能(包括光性能)是否正常。

A、基本测试框图:B、测试步骤:1、配置网元,以便在所有已安装的支路端口上具有分/插功能;- 使每一支路端口与STM-N线路信号内的不同VC-n通道相连;- 不要激活踪迹识别失配告警(以避免在测试设备中设置路径踪迹识别符)。

2、配置SDH测试设备;- 设置映射类型、VC-n测试通道、映射进净负荷中的PRBS测试图案;- 在待测通道中发送测试图案。

3、完成BER测量(用较短的测量周期);- 检查SDH测试设备的接收信号是否有误码和告警产生,如有失效(误码和告警),则根据下表1查找可能的原因。

4、在传输STM-N线路信号所有通道中重复第2、3步。

失效可能的原因图案丢失(PRBS)-DDF电缆错误连接-VC-n通道为单工操作(必须是双工)低误码率(PRBS)-DDF电缆串音低误码率(B1/B2)-测试设备光接口接收光功率低(清洁连接器,检查衰减器)低误码率(MS-REI)-与测试设备相连的NE光接收机接收光功率低(清洁连接器,检查衰减器)通道RDI(FERF)-踪迹识别失配或信号标记失配已激活和作用(只对PDH落地支路,检查网元配置)表1:机械安装失效的可能原因二、检验至PDH支路端口的通道选路通过此测试以检验通过ADM或DXC的通道选路是否正确,若不正确,指出是那一个VC-n通道被网元终结(该通道将映射净负荷落地至PDH支路端口)。

A、基本测试框图B、测试步骤:1、配置网元,在所选择的PDH支路端口上实现分/插功能;- 使每一被选的支路端口与STM-N线路信号内的不同VC-n通道相连;- 不要激活踪迹识别失配告警(以避免在测试设备中设置路径踪迹识别符)。

2、配置SDH测试设备;- 设置映射类型、VC-n测试通道和映射进净负荷中的PRBS测试图案;3、向待测VC-n通道发送BIP误码(B3或BIP-2)。

SDH光接口参数测试实验

SDH光接口参数测试实验

实验三SDH光接口参数测试实验一、实验目的通过本实验,让学生了解SDH光传输设备的光口,电口各种最常见的参数,对SDH的指标有各大体的了解.二、实验器材1、SDH设备: 3 套2、光功率计:若干3、测试尾纤:若干三、实验内容说明本实验通过对单站点的调试和测试,让学生了解SDH各性能指标,并掌握SDH的部分测试方法。

四、实验步骤演示1:光接口功率测量测试准备:●测试前一定要保证光纤连接头清洁,连接良好,包括光板拉手条上法兰盘的连接、清洁;●事先测试尾纤的衰耗;●单模和多模光接口应使用不同的尾纤。

●测试尾纤应根据接口形状选用FC/PC(圆头)或SC/PC(方头)连接头的尾纤。

本演示采用FC/PC圆头尾纤连接。

1. 发送光功率测试发光功率测试如右图所示,测试操作如下:(1)光功率计设置在被测波长上。

(2)选择连接本站光接口输出端的尾纤(标记为)。

(3)将此尾纤的另一端连接光功率计的测试输入口,待接收光功率稳定后,读出光功率值,即为该光接口板的发送光功率。

(4)光功率计波长根据光板型号选择在“1550nm”或者“1310nm”.本测试实验实际ODF侧连接图如下:电源显示屏控制板光功率计光接口通过光缆尾纤连接到ODF光分配架上,这样可以将光板的发光口、接收口延长到学生电脑桌上来,便于学生实验。

学生可以直接在教学电脑桌前直接测试光功率。

ODF架上B行的2、4、6、8、10、12偶数端口为光口输出端口。

测量光功率时应该将光功率计连接到与输出端口连接的光纤上。

(注:由于设备配置原因,A行1~12暂无光输出口。

)测量时光功率计应波长应该选择“1310nm”.正常情况下,SDH设备的发光功率应该在-8dbm~-15dbm之间.演示2:光接口灵敏度测试。

1. 准备测试仪器:2M误码仪一台、固定光衰减器若干、光功率计一台。

2. 测试方法:如下图所示,在自环光路中逐个串接光衰减器,,然后用自环线把2M误码仪串接在一个2M电接口的收发端(如果连接了DDF架,就在DDF架侧进行串接)。

SDH光接口的测试

SDH光接口的测试
现代光纤通信技术
SDH光接口的测试
光接口的主要测试指标:
▪ 平均发送光功率Pt ▪ 消光比EX ▪ 光源器件的均方根谱宽或-20dB谱宽-20dB ▪ 光接收机灵敏度Pr ▪ 光接收机过载功率P0 ▪ 误码率BER ▪ 动态范围D
SDH光接口测试仪表
光功率计主要技术指标
波长范围; 光功率测试范围 光功率计工作原理,首先由探头中的光电探测器将微弱光信号转变为电 信号,然后将电信号进行放大,最后进行信号处理。
平均光发送功率、消光比的测试
信号源
光纤测试线
被测
S
光功
设备
率计
平均光发送功率的测试
按图接好电路; 对于SDH设备一般输入口不需要送信号;如需要送则可送入伪随机码; 光功率计上设置被测光的波长,待输出功率稳定,读出值即为平均发
送光功率。
消光比的测试
分别调制全“1”码和全“0”码输入光发送机,测得各自的平均光功
光发送机
Байду номын сангаас光纤
可变 光衰减器
光纤
光接收机
误码仪
伪随机码 发生器
光功率计
光接收机过载光功率测试:测试过程与灵敏度测试惟一不同的是减小光
衰减器的衰减值。当减少到一定程度时,误码率也会达到规定值。这时, 光接收机输入端的光功率值,即为光接收机过载光功率。
动态范围的测试:记录光接收机灵敏度和过载光功率对应的值P0和Pr,
光谱分析仪
光纤
光谱分析仪(OSA) 主要特点是动态
范围大;灵敏度好;等效噪声带宽
衍射光栅
小。但测量中心波长时精度稍差,
体积较大,一般适合在实验室、机
房,以及在工程开通、验收中使用。
探测器 光阑

02 第二节 SDH(PDH)产品的常见指标测试

02 第二节  SDH(PDH)产品的常见指标测试
同图2-1。
表2-2 PDH输出的数字信号抖动指标
网络接口容限值ຫໍສະໝຸດ 测量滤波器参数B1(UIp-p)
1.5 1.5 1.5
B2(UIp-p)
0.2 0.15 0.075
f1(Hz)
20 100 200
f3(Hz)
18k 10k 10k
f4(Hz)
100k 800k 3500k
3. 仪表设置 基本设置与2.1.1同,不同地方在于: 1) Jitter设置中将Jitter TX设置为OFF;将.RX设置如下: Range (2UI) Filter选(Hp1+LP)为B1,(HP2+LP)为B2,其他不动。 2) 在Result菜单中,按Set键选Jitter/wander,即可测出PDH的输出抖动值。
19
课程 SS 0515 Issue 2.0
SBS设备测试
5)按Result键至绿灯亮,并利用Set键将Result模式设为Performance即可进行 误码观测。
2.1.2 PDH频偏容限测试
1. 目标
为了检测PDH输入口的抗频偏能力,ITU-G.703建议中对PDH输入频偏有如 下规定:
表2-1 PDH输入频偏表
A2
A1
f0(kHz)
f1(kHz)
1.5
0.15
6.5
65
1.5
0.15
25
250
1.5
0.15
1.2
12
1.5
0.15
1.2
12
2. 连接方式
SDH SDH
OUT IN
STM-1 STM-1
设设
图2-4 光接口输入抗抖动测试接线图
3. 仪表设置 1)按Setup键,选mapping,再选TX&RX,measuring mode选out of service, Bit 选156M。 2)按Setup键,在屏幕顶部设置映射关系,将映射关系调到本站上下的2M上, 并用网管将此2M作软件远端环回或用一个2M电缆自环回。 3)按Setup,按Testmenu至绿,选jitter tolerance按start/stop即可进行测试。 4)按Result键至绿,选jitter tolerance显示测试进程和结果。 5)按Analyze至绿,选jitter tolerance显示测试进程和图形。

SDH测试方法及指标

SDH测试方法及指标

2、基本组网介绍 3、开销介绍,B1,B2,B3 的概念
二、SDH测试
1、光、电接口 2、抖动(漂移) 3、保护倒换 功能性测试 告警的 激励和响应 G.727 G.783 G.841 4、误码测试 传送能力 G.821 G.826 目标性测试 M2100 业 务性指标
测试内容
• a、参数指标测试 • 光电接口、抖动、 • b、功能测试 • 保护倒换、误码
支路侧
群 路 侧 自 环
RX
发送
PDH输出口抖动
2.048 Mbit/s 1.5 0.2 34.368 Mbit/s 1.5 0.15 139.264 Mbit/s 1.5 0.075
B1
B2
3.6、SDH设备映射抖动
SDH测试仪 被 测 设 支路侧 备
TX
RX
SDH映射抖动
2.048 Mbit/s 34.368 Mbit/s
同步数字传输系统 测试标准、方法简介
拟制:本部用服
参数指标的重要性
关系到系统可靠、稳定地运行至寿命终了
一、SDH基本概念
1、Network Device: SDH Regenerator Line Terminal Mux(LTM) Add Drop Mux(ADM) Synchronous Digital Cross Connect System (SDXC)
发送功率指标
STM-1 155 STM-4 622 STM-16 2.5G S16.x: 0~-5 L16.x: 3~-2
S1.x: -8~-15 S4.x: -8~-15 L1.x: -5~0 L4.x: 2~-3
1.2、接收机灵敏度
• .
支路侧环回
被测设备 发送侧

光纤通信测量电接口的指标和测试资料课件

光纤通信测量电接口的指标和测试资料课件

军事领域
光纤通信在军事领域的应用包括卫星 通信、导弹制导系统和保密通信等。
02
光纤通信测量电接口的指标
电压范围
总结词
电压范围是衡量电接口能够处理电压 波动的能力的重要指标。
详细描述
电压范围决定了电接口在正常工作条 件下能够处理的电压波动范围。通常 情况下,电压范围越宽,电接口的稳 定性越好,能够适应更复杂的工作环 境。
案例分析一:高速光纤通信系统测试
测试指标
传输速率、误码率、抖动、延迟等。
测试方法
使用高速光收发器和误码测试仪进行测试,确保 系统性能符合要求。
测试结果
系统传输速率达到100 Gbps,误码率低于1e-12 ,抖动和延迟均在可接受范围内。
案例分析二:长距离光纤通信系统测试
测试指标
光信号损耗、色散、噪声等。
测试方法
使用光功率计、光谱分析仪和示波器进行测试,确保系统性能符合 要求。
测试结果
系统光信号损耗低于0.5 dB/km,色散系数在可接受范围内,噪声 水平较低。
案例分析三:复杂光纤网络测试
测试指标
网络连通性、路由稳定性、带宽可用性等。
测试方法
使用网络分析仪和流量负载测试仪进行测试,确保网络性能符合 要求。
详细描述
电磁兼容性包括电磁干扰、电磁辐射等多个方面。良好的电 磁兼容性能保证电接口在复杂电磁环境中正常工作,不受干 扰影响。在光纤通信中,高电磁兼容性的电接口能够提高通 信稳定性,减少故障率。
03
光纤通信测量电接口的测试资料
测试设备
光功率计
用于测量光信号的功率,是光纤通信系统测 试的基本设备之一。
带宽
总结词
带宽是衡量电接口传输数据速度的重 要指标。

SDH硬件指标测试

SDH硬件指标测试

SDH硬件指标测试董延荣本测试以Agilent37718为主。

一、 光接口指标测试: 根据《光同步传输系统测试?,光接口指标共有18个项目,其中有关发送机参数的测试7项,有关接收机参数的测试5项,有关光通道参数测试4项,有关光接口定时的2项。

由于有些指标不需要在厂验环节测试,所以本文只介绍厂验中需要测试的一些指标。

1、平均发送光功率: 发送机发射的光功率与所传的数字信号中“1”占的比例有关,“1”越多发射光功率越大。

当传送的数据信号是伪随机序列时,“1”和“0”大致各占一半,所以测试时最好向光板送入信号,并根据速率选择适当地伪随机二元序列(PRBS),将这种情况下发送机耦合到光纤的光功率定义为平均发送光功率。

操作步骤:2、接收机最差灵敏度: 接收机最差灵敏度是指,达到规定的BER所能接收到的最低平均光功率。

这个指标应该有一定的富余度,一般为3dB。

这个指标的测试方法较多,生产线上一般采用支路侧挂2M误码仪的方法,而且很少用可变衰减器,只是通过手来调节发送端光接头的松紧度,在将要出误码时,拔出接收端光接头,用光功率计测量光功率。

在厂验时,由于使用的是Agilent的37718,并且在光板做了AU穿通,所以一般采用直接在群路侧利用37718挂误码的方法。

示意图如下,测量方法同上:即调节衰减器,在将出误码时,运行一般一分钟,若无误码,拔下被测有入口接收到这样的信号应能正常工作。

示意图如下, 37718的接收光功率应在-10~-20dB之间,这可以通过调节尾纤接头的松紧来实现,光功率可以直接从37718上读取。

在输入口分别加入正负,直至出项误码为止,此值即光输入口允许频偏。

5、光输出口AIS 速率: SDH 设备输入口丢失等情况下,应从向下游发AIS 。

接线图如下所示,二、 1、三、 抖动测试: 抖动测试的结果的单位为UI 。

UI 即Unit Interval ,单位间隔。

也就是同步信号两个有效瞬间之间的标称时间差,对于比特率为B 的信号相对应的单位间隔可按下式计算:BUI 1)(1= 各比特率信号1(UI )对应的时间见下表,比特率(kbit/s) 1(UI)2048 488ns34368 29.1ns139264 7.18ns155520(STM-1) 6.43ns622080(STM-4) 1.61ns2488320(STM-16) 0.40ns1这里应注意:①输入抖动容限有网络和单机两种。

SDH测试

SDH测试

接收侧或 在再生器
R
R’ R”
被测设备
光功率 计
13
(续)
b.支路光接收
光 功率计
SDH分析仪 被测设备
光 衰减器
发 送 侧
接收
接 收 侧
发送
14
灵敏度及过载功率测试注意事项
调整光衰减器,逐渐加大或减小衰减值, 使误码检测器测到的误码尽量接近,但不 大于规定的BER; 断开R点的活动连接器,将光衰减器与光 功率计直接相连,即可读出所要的测量值 (R点的接收光功率PR); 为了判断BER=1×10-x,一次观察的时间, 按所测比特数计,需要不少于10 ×10x比 特。
32
SDH系统误码测试 系统误码测试
SDH系统的误码测试方法可分成两大类,即停业 务测试和在线测试。在维护工作中,一般对于较低的 网络级较多地采用停业务测试,而对于较高的网络级 由于停业务测试对业务影响面太大,较多采用在线测 试。 SDH系统的误码测试有三种被测实体,即通道、 复用段和再生段。
3
关于第Ⅰ 关于第Ⅰ类光接口的主要参数
光接口的表示 光接口的位置 发送机的主要参数 接收机的主要参数
不同的光接口用不同的代码来表 示,代码由一个字母和两个数字 组成。 第一个字母表示应用的场合和传 输距离,第一个数字表示STM-N 的等级,第二个数字表示光纤类 型 例如:S-1.2 表示局间短距离通信(目标距离为 2~15KM),速率为STM-1,工作波长为 1550nm,用G.652光纤
测试光纤 图案发生器 被测设备 光功率计
7
光功率测试( 光功率测试(续)
平均发送光功率表中给出了最大和最小平均发送光功率。这 并不意味着受检产品的平均发送光功率在此范围内就合格,应根 据需要,在该范围内选一个具体的数值作为指标,同时按照激光 器的类型或厂商产品说明选定发送机的余度。
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SDH电接口参数测试
1、比特率及容差、接口码型
A、指标要求:
比特率即二进制信号速率,定义为每单位时间内传送的比特数。

实际数字信号的比特率和规定的标称比特率多少有点差别,ITU-T规定了这种差别允许的范围,即容差。

见下表1。

输入口、输出口都应满足表1要求,输入口满足指能适应相应容差范围内的任何实际比特率,其它参数仍应满足指标;输出口满足指无论上游是何设备,数字信号从输出口送出,其实际比特率应在表1给出的容差之内。

表1:比特率及容差、接口码型指标要求
B、测试基本框图:
图1:比特率及容差测试框图
C、测试步骤:
(1)、输入口比特率及容差:
---按图1接好电路,配置SDH测试设备使之产生相应表1的比特率及码型,使系统正常运行,确认SDH测试设备检测不到任何误码;
---减少SDH测试设备的输出信号比特率,直到SDH测试设备刚好检测到任何误码的临界点,记下此时的频偏值(如到测试设备频偏设置的极限仍无误码,则记下此极限值);
---增加SDH测试设备的输出信号比特率,重复上一步骤;
---记录下的频偏值必须超过表1中的容差限值;
---更换其它输入口重复以上测试步骤。

(2)、输出口数字信号比特率:
---按图1接好电路,配置SDH测试设备使之产生相应表1的比特率及码型,使系统正常运行;
--- 确认SDH测试设备的输出信号比特率无频偏,测试此时接收到的信号比特率频偏,其值应在表1所示容差限之内;
---更换其它输入口重复以上测试步骤。

2、出口信号波形
A、指标要求:
实际工作条件下,输出口通过电缆连接在数字配线架(DDF)上,由于电缆长度和阻抗等不确定因素,无法规范实际工作的输出口信号波形参数指标。

现在的输出口信号波形各参数都是在输出口终结规定的测试负载阻抗条件下所规定的指标,各级数字接口的输出口指标应符合表2的要求。

B、试用滤波器和探头要求:
测试用滤波器的带宽要能覆盖被测信号,探头阻抗要高,电容要小,具体要求见表3。

表3:接口测试用滤波器和探头要求
C、测试基本框图:
D、测试步骤:
---按表3选择示波器和探头,按测试框图接好电路;
---将测试负载阻抗(75Ω电阻,误差小于±0.5%)或75Ω/50Ω阻抗变换器(若不用低电容高阻抗探头时)的75Ω侧接到待测的输出口上;
---先校准零基线,方法是不给示波器送信号(输入端短路),将水平扫描线调到屏幕适当的位置(模板的标称0伏线)处;
---将被测信号送入示波器,读出表2中各参数,应满足相应的指标;
---对于139264和155520Kbit/s输出口,注意示波器用交流耦合(AC)方式。

CMI码的幅度中线和示波器的零基线之差应不超过±0.05V。

3、阻抗和反射衰减
A、指标要求:
输入口或输出口的实际阻抗与标称阻抗的差异用反射衰减规定,它表示接口失配时反射造成的能量损失,又称回波损耗。

相应各数字接口的反射衰减指标见下表4:
表4:接口阻抗特性指标
B、基本测试框图:
图3:阻抗和反射衰减测试配置
C、测试步骤:
---按图3接好电路,振荡器的阻抗按反射桥的要求设置,输出电平0dB,频率在表4相应的范围内。

电平表阻抗按反射桥的要求设置;
---先将待测接口与反射桥完全断开,此时电平表指示电平为P1(dB);
---将待测接口接在反射桥上,此时电平表指示电平为P2(dB);
---反射衰减bρ=P1 - P2,其值应满足表4的要求;
---改变频率,重复以上步骤,可得到整个频率范围内的bρ。

注意:连接被测接口和反射桥的电缆要尽量短。

YB536-92规定,2048Kbit/s及更低速率接口测试所用电缆在10MHz的衰减不得超过0.5dB,8448Kbit/s及更高速率接口测试所用电缆在
200MHz的衰减不得超过0.2dB,这样才能使测得的结果准确。

4、输入口允许衰减和抗干扰能力
A、指标要求:
连接输出口和输入口的电缆和数字配线架会引入衰减,对于减弱的信号,输入口应能正确接收,输入口的这种特性用允许的衰减范围表示。

另外,由于数字配线架和输出口阻抗不均匀性,在接口上可能呈现信号反射,反射信号对有用信号形成干扰,因此必须保证输入口有足够的抗干扰能力。

其指标要求见下表5:
B、测试基本框图:
见下图4。

C、测试步骤:
---按图4接好电路,仪表参数按表5设置;
---调整干扰支路衰减器,使信号/干扰比等于表5所要求的数值;
---SDH测试设备设置相应的速率、码型,连接电缆衰减接近0dB时,SDH测试设备应检测不到误码;
---在SDH测试设备速率有偏差(范围不超过表5所给容差),连接电缆衰减增大(范围不超过表5所给衰减范围)的不利条件下,SDH测试设备仍应检测不到误码。

图4:输入口允许衰减和抗干扰能力测试配置
5、过压保护要求
通过比较输入口经标准闪电脉冲冲击前后各项指标的测试结果,检验闪电脉冲冲击后输入口是否损坏。

由于该项试验带有一定的破坏性,一般作为抽测项目,维护测试中一般不作要求,此出不再繁述。

6、输入口容许抖动容限
输入口抖动容限指标及测试方法详见第五部分《传输性能测试---抖动测试》。

7、输出口输出信号最大峰峰抖动
输出口输出信号最大峰峰抖动指标及测试方法详见第五部分《传输性能测试---抖动测试》。

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