物性讲义(电导3)
材料的电导性能
A1 exp( W / kT) A1 exp( B1 / T )
若有杂质也可依照上式写出: A2 exp( B2 / T )
一般A2<<A1,但B2<B1,故有exp(-B2)>>exp(-B1)这说明 杂质电导率要比本征电导率大得多。
4.2.4 影响离子电导率 的因素
(2) 已知电子的运动速度和电场强度成正比,定义载流子的迁移率m为单位电场下 ,载流子的运动速度,求迁移率m ;
(3) 单位电场下,单位时间内通过单位横截面积的电荷数,即电导率s ; (4) 根据载流子密度和载流子迁移率,求电导率 。 解: (1) J=nqn
=1.0×1018cm-3×1.6×10-19C×1.0×104cm.s-1 =1.6×103C. cm-2.s-1= 1.6×103A. cm-2 (2) m = n/E =1.0×104cm.s-1/(10v.cm-1)=1.0×103cm-2. v-1.s-1 (3) s=J/E = 1.6×103A. cm-2 /(10v.cm-1) =160A.v-1. cm-1 =160S. cm-1
(3)压碱效应
含碱玻璃中加入二价金属氧化物,尤其是重金属 氧化物,可使玻璃电导率降低,这是因为二价离 子与玻璃体中氧离子结合比较牢固,能嵌入玻璃 网络结构,以致堵住了离子的迁移通道,使碱金 属离子移动困难, 从而减小了玻璃的电导率。也 可这样理解,二价金属离子的加入,加强玻璃的 网络形成,从而降低了碱金属离子的迁移能力。
(2)迁移率和电导率的一般表达式
物体的导电现象,其微观本质是载流子在电场作 用下的定向迁移。
题:
一电子电导材料载流子是电子,载流子密度即单位体积的电子数为 n=1.0×1018cm-3, 在两端加一E=10v.cm-1的电场强度,若电子的运动速度为 n=1.0×104cm.s-1,求:
化学物质电导率
化学物质电导率
(最新版)
目录
1.化学物质电导率的定义
2.影响化学物质电导率的因素
3.化学物质电导率的应用
正文
化学物质的电导率是指化学物质导电的能力,是描述化学物质中电子流动的一种物理性质。
电导率通常用希腊字母σ表示,单位是西门子每米(S/m)。
电导率和电阻率是相反的概念,电阻率越高,电导率越低。
影响化学物质电导率的因素主要有以下几点:
首先,化学物质的结构和组成对其电导率有重要影响。
例如,金属元素的电导率通常很高,因为它们的原子结构中存在大量的自由电子。
而非金属元素,如碳、硅等,它们的电导率相对较低,因为它们的原子结构中没有足够的自由电子。
其次,温度也会影响化学物质的电导率。
一般来说,随着温度的升高,电导率也会增加。
这是因为温度的升高会增加原子中的热运动,使得电子更容易从一个能级跃迁到另一个能级,从而增加电导率。
此外,化学物质的电导率还会受到其物理形态的影响。
例如,金属在固态时具有很高的电导率,但在液态时电导率会大大降低。
化学物质的电导率在许多领域都有应用,如电子工业、金属冶炼、化学反应等。
在电子工业中,高电导率的材料被广泛用于制造电子器件,如导线、电缆、电极等。
在金属冶炼中,电导率可以用来监测金属的纯度和熔融程度。
在化学反应中,电导率可以用来研究离子的传输和反应速率等。
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物质的电导和电阻知识点总结
物质的电导和电阻知识点总结在物理学中,物质的电导和电阻是重要的概念。
它们用于描述物质对电流的导电性和阻碍电流流动的程度。
本文将对物质的电导和电阻进行知识点总结。
一、电导(Conductivity)电导是指物质导电性的度量,它与物质的电阻(Resistance)有着密切的关系。
在电导中,常常使用电导率(Conductivity)这一物理量来描述物质的导电性能。
电导率的定义如下:电导率(σ) = 1 / 电阻(R)电导率的单位是西门子/米(S/m)。
如果一个物质的电导率较高,意味着它对电流的导电性较好;反之,如果电导率较低,则表示该物质对电流的导电性较差。
实际上,电导率与物质的本征电导性质和物质的几何形状都有关系。
对于均质导体而言,电导率只与物质自身的导电性质有关;而对于非均质导体,则还与物质的形状和结构有关。
二、电阻(Resistance)电阻是指物质对电流流动的阻碍程度。
按照欧姆定律(Ohm's Law),电阻与电流(I)和电压(V)之间存在如下关系:电阻(R)= 电压(V)/ 电流(I)电阻的单位是欧姆(Ω)。
电阻的值越大,表示物质对电流的阻碍越强;反之,电阻值越小,表示物质对电流的阻碍越弱。
不同物质的电阻值是不同的,这是因为不同物质具有不同的导电性质。
例如,金属常常具有很低的电阻,因此是较好的导体;而绝缘体则具有很高的电阻,从而对电流的传导起到阻碍作用。
三、电阻与电导的关系电导和电阻是相互关联的概念,它们之间存在以下关系:电导率(σ)= 1 / 电阻(R)由此可见,电导率和电阻是互为倒数的关系。
如果两个物质的电阻分别为R₁和R₂,那么它们的电导率分别为1/R₁和1/R₂,大的电阻对应小的电导率,小的电阻对应大的电导率。
四、温度对电导和电阻的影响在理想情况下,电导率是不随温度变化的。
但在实际应用中,很多物质的电导率和电阻会随温度的变化而发生改变。
对于金属来说,它们的电导率在一定温度范围内基本保持不变,但随着温度升高,电导率会略微下降。
材料物理性能第五章材料电导
二.电导的物理特性
1.载流子(电荷的自由粒子)
无机材料中的载流子可以是电子(负电子,空 穴),离子(正、负离子,空位)。载流子为离 子的电导为离子电导,载流子为电子的电导为电 子电导。
1)霍尔效应
电子电导的特性是具有霍尔效应。
轴方向沿加试一样磁x轴场方H向z,通那入么电在流y轴I(方电向流上密将度产Jx生)一,电Z 场Ey,这一现象称为霍尔效应。所产生电场为:
EyRHJxHz
RH为霍尔系数。若载流子浓度为ni,则
RH
1
ni e
根据电导率公式 niei ,则HRH
( H 称为霍尔迁移率)
霍尔效应的产生是由于电子在磁场作用下,产生 横向移动的结果,离子的质量比电子大得多,磁场作 用力不足以使它产生横向位移,因而纯离子电导不呈 现霍尔效应。利用霍尔效应可检验材料是否存在电子 电导。 2)电解效应(离子电导特征)
一.载流子浓度 对于固有电导(本征电导),载流子由晶体本
身热缺陷——弗仑克尔缺陷和肖脱基缺陷提供。
弗仑克尔缺陷的填隙离子和空位的浓度相等。都 可表示为:
N f N ex E fp 2 kT
N——单位体积内离子结点数
E f ——形成一个弗仑克尔缺陷所需能量
肖脱基空位浓度,在离子晶体中可表示为:
I SJ (5.2)
同样 电场强度也是均匀的 VLE (5.3)
把(5.2)(5.3)代入(5.1)则:
除以S得:
SJ LE R
J L E 1E
SR
RSL为材料的电阻率,电阻率倒数为电导率,
即 1 ,上式可写为
J E
这是欧姆定律的微分形式,适用于非均匀导体。
微分式说明导体中某点的电流密度正比于该点的 电场,比例系数为电导率σ。
导电性能
N N
3 4
c V
n n
e
2kT h 2 2kT h 2 m m exp Eg 2kT e h
h
2
2
32
E c E v exp me m h 2 kT
3 2
3 4
ne nh N e
E g
2 kT
二、杂质半导体中的载流子浓度 • 杂质对半导体的导电性能影响极大,例如
掺入受主杂质的半导体称为p 型半导体或空穴型半导体, 因为其中的载流子为空穴。
• p型半导体的载流子主要为空穴,设单位体 积中有NA个受主原子:
n NV N A exp E E / 2kT NV N A exp E
1 2 1 2 h A V
i
2kT
3.2.3电子电导率的表达式
E2 ne E1 G E F e E dE
• G(E)为电子允许状态密度,F(E)为电子存在的几 率。
8 G E 2 h
1
c 2
2
* me 2
32
E Ec
12
F E 1 e
e
e
c
1
E
E f kT
32 Ef kT
二、电导率的一般表达式 • 物体的导电现象,其微观本质是载流子在电场作 用下的定向迁移。设有一介质,设为单位截面积 (1cm2),在单位体积(1cm3)内载流子数为n(cm-3), 每一载流子的荷电量为q,则单位体积内参加导 电的自由电荷为nq。 • 如果介质处在外电场中,则作用于每一个载流子 的力等于qE。在这个力的作用下,每一载流子在 E方向发生漂移,其平均速度为v(cm/s) 。容易看 出,单位时间(1s)通过单位截面S的电荷量为
物质中的电导特性
物质中的电导特性物质中的电导特性是指物质对电流的导电能力,是电学中一个重要的概念。
不同的物质具有不同的电导特性,这对于电学理论的研究和应用有着重要的影响。
本文将从不同角度探讨物质中的电导特性。
一、电导特性的定义与单位电导特性指的是物质对电流的导电能力。
它是用来描述物质电导率的一个物理量。
电导率(conductivity)是指单位体积内导体两个相距为1米的平行导线间跨过的电荷量与导线间的电压之比。
电导特性的单位是西门子/米(S/m)。
二、电导特性与导体、绝缘体、半导体的关系根据物质在电流通过时的电导特性,可以将物质分为导体、绝缘体和半导体三类。
1. 导体(Conductor)导体是能够良好传导电流的物质,其电导特性较好。
导体中,由于自由电子的存在,电荷载流子能够自由移动,从而形成电流。
金属是典型的导体,金属中的自由电子能够快速移动。
导体的电阻较小,电阻和温度成正比。
导体常常被用作电线、电缆等导电材料。
2. 绝缘体(Insulator)绝缘体是电导特性非常差的物质。
绝缘体中,电荷载流子的运动受到很大的限制,导致电流无法通过。
绝缘体常用于隔离导体,防止电流泄露和电击等危险情况的发生。
常见的绝缘体有橡胶、塑料等。
3. 半导体(Semiconductor)半导体是介于导体和绝缘体之间的一类物质。
它的电导特性介于导体和绝缘体之间,具有一定的导电能力,但比导体差。
半导体在一些特殊条件下,例如施加电场或加热等,能够增强其电导特性。
因此,半导体的导电性质是可调控的。
半导体在电子学领域有着广泛的应用,如集成电路等。
三、影响电导特性的因素物质中的电导特性受到多种因素的影响,以下是影响电导性的几个重要因素:1. 导体材料不同的导体材料具有不同的电导特性。
金属通常能够良好导电,而一些合金或化合物的电导性就较差。
2. 导体尺寸导体的尺寸对其电导特性也有影响。
一般来说,导体的截面积越大,电导特性越好。
3. 温度温度是影响导体电导特性的重要因素之一。
材物讲义(电导)-1
M(II)+MX(III):
(t M M t X X) q
迁移率和电导率的一般表达式
迁移率的物理意义
载流子在单位电场强度作用下的迁移速度【cm2/V· s】
J n q v
J—电流密度,单位时间(s)通过单位截面s(cm2)的电荷量
n—单位体积载流子数(cm-3)
q—载流子荷电量
eEH=Hzevx
Jx 1 EH Hz vx Hz J x Hz R HJ x Hz ne ne
1 霍尔系数: R H ne
由电导率公式σ=n e μ可得到霍尔迁移率μH
μH=RHσ
在一定实验条件下,通过测定RH和σ,可以求出 载流子浓度n和迁移率μ 霍尔效应的产生是由于运动电荷受磁场中洛伦兹 力的作用
若将探针与接触处看成点 电源,则形成以点电源为 中心的半球等势面
那么在r处的电流密度为
I J 2 2r
由J=E/ρ,可得在r处得电场强度E为
Iρ E 2 2r
由于
dV E dr
且r→ ∞时,V→0 ,则 r 处的电位V为
Iρ V 2r
同理,电流由4流出样品时,在r处的电位为
Iρ V 2r
杂质离子电导浓度取决于杂质的数量、种类
h R V ρV S
反映材料的导电能力
RS―与表面环境有关,不反映材料的导电能力 体电阻率ρV是表征材料的本征参数
关键是测量材料的体电阻
圆片试样
A
r1 a r2
g h
V
b
E
主电极 a
环形电极 g 全电极 b
若a-g间为等电位,其表面电阻可忽略
π S (r1 r2 ) 2 4
V h 4h R V ρV ρV 2 I S π(r1 r2 )
物理化学:7.2 电导
增加电极的表面积)难以准确测量;
故直接将比值(l /A)定义为电导池常
数 (cell constant of a conductivity cell )
即定义电导池常数 K cell 为:
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K cell
l A
(m1)
G l A
• 则:
= G Kcell
• 可用已知准确电导率的标准溶液(如
正、负离子之间相互吸引作用力增大 使离子定向运动速度降低。如图
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• 弱电解质
溶液的电导 随浓度变化不 显著。
因为浓度↗ 时, 电离度 ↘, 离子浓度变化 不大。
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第 2 讲 (2005.09.02)
§7.2 电导 §7.3 离子的电迁移
§ 7.2 电 导
一、电解质溶液的电导、电导率、摩 尔(当量)电导率
电导 G :(electric conductance) 电导率 :(electrolytic conductivity) 摩尔(当量)电导率 m :(molar conductivity)
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1
电解液与金属导体的共同点
公式中的 c 实质上为电解质的当量浓度。
• “1mol 的电解质” 实质为 “1mol 电解 质基本单元” 或称 “1当量的电解 质”。
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例如:
对于0.1m的 KCl、CuSO4、La(NO3)3 及 La2(SO4)3 溶液,则其 “基本单元” 浓 度
(当量浓度)分别为0.1,0.2,0.3 及 0.6
电解质 m
m (Scm2mol-1 )-
电导、电导率、摩尔电导率PPT
物理化学电导、电导率及摩尔电导率Array1.什么是电导,电导率,摩尔电导率,三者定义式如何书写?2.描述导体导电能力的物理量有哪些?3.如何测量电导?4.如何计算电导率、摩尔电导率?5.如何求电导池系数?1、电导 电导、电导率、摩尔电导率定义一sA l R ρ= 电导 单位为 (西门子siemens ), 。
G S 111-Ω=S RG 1=R G 电导 为电阻的倒数。
电导、电导率、摩尔电导率都是描述导体导电能力大小的物理量。
2、电导率物理意义:相距单位长度、单位面积的两平行板电极 间充满电解质溶液时的电导,单位 S ·m -1。
ρκ1=电导率κ即为电阻率ρ的倒数。
m cκΛ=3、摩尔电导率 相距1m的两个平行电极之间含有1mol 电解质溶液,溶液所具有的电导。
S·m 2·mol -1Λm—mol·m -3S·m -1mΛWheatstone Bridge测定时,接通电源,选择一定电阻的R2,移动接触点C,直到检流计G显示为零,此时电桥平衡。
4321R R R R =电导的测定二11R G =根据ss A l R A l G ⨯=⨯=1κ 欲求得某一电导池的电导池系数,方法是用一已知电导率的溶液注入该电导池,测得其电阻,即可求出K cell 。
电导率计算三Rcell K =κ定义:电导池系数,单位 m -1 。
Rκ=cell K Rcell K =κcm κ=Λmol·m -3已知待测例题PPT 模板下载:/moban/ 行业PPT 模板:/hangye/ 节日PPT 模板:/jieri/ PPT 素材下载:/sucai/PPT 背景图片:/beijing/ PPT 图表下载:/tubiao/ 优秀PPT 下载:/xiazai/ PPT 教程: /powerpoint/ Word 教程: /word/ Excel 教程:/excel/ 资料下载:/ziliao/ PPT 课件下载:/kejian/ 范文下载:/fanwen/ 试卷下载:/shiti/ 教案下载:/jiaoan/ 字体下载:/ziti/谢谢观看。
物性讲义(热学)
因为多晶体中,晶粒尺寸小, 晶界多,缺陷多,晶界处杂 质也多,声子更易受到散射, 其平均自由程要小得多,所 以热导率小。
温度愈高,差异愈大:晶界、缺陷、杂质在高温时对声 子的阻碍作用更强; 单晶的光子传导在高温时更明显。6
(4)非晶体的热导率
非晶体具有“近程有序,长 程无序”的结构。 其声子平均自由程在不同温 度上基本为常数,其值近似 等于几个晶格的间距。
7
3. 化学组成的影响
构成晶体的质点的大小、性质不同,其晶格振动状态不 同,导致其热导率不同。
一般而言,质点的原子量愈小,密度愈小,杨氏模量愈 大,德拜温度愈高,则热导率愈大。
因此,轻元素的固体和结合能高的固体热 导率较大。
如:金刚石=1.710-2 W/(m •K) Si=1.010-2 W/(m •K) Ge=0.510-2 W/(m •K)
热导率与电导率的关系
魏德曼-弗兰兹定律: 在室温时,金属的热导率和电导
Wiedemann Franz
率的比值是一个常数,不随金属
W
不同而改变。
洛伦兹(Lorentz)加以推广:
L T
L 2.45108 V2 / K2
(洛伦兹常数)
T:绝对温度
1
在较高温度下,电导率较高的金属,L为常数:
在较低温度下,电导率较低的金属,L为变数:
对于金属,度约为10%。
采用动态测试方法。
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2.动态测试
(激光热导仪法)
测量试样温度随时间的变化率,从
而直接得到导温系数,在已知材料
比热容后,算出热导率。
a
dc
a:导温系数
d:密度
c:比热
04.物性讲义(介电3)
介电强度Dielectric Strength介质的介电强度(击穿电场强度)电介质在强电场作用下,当电场强度超过某一临界值,介质由介电状态变为导电状态,这种现象称为介质的击穿,相应的临界电场强度称为介电强度。
b b U E d kV/mm Breakdown对于凝聚态绝缘体,通常的E b ~106V/cm10-2V/A介质击穿的主要类型✓电击穿✓热击穿电击穿电击穿,有时称为本征介电强度。
当结构内的电子受电场作用而加速到一定速度,以致通过碰撞而释放出附加的电子所产生的击穿现象。
从理论上可分为本征电击穿理论“雪崩”电击穿理论本征电击穿理论电子加速运动(动能)与晶格振动的相互作用,把能量传递给晶格。
当其处于平衡时,介质中有稳定的电导,若电子能量大到一定值而破坏平衡,电导由稳定态变为非稳定态。
A 表示单位时间内从电场获得的能量τ=*m E e A 22)U ,E (A )tU (A E =∂∂=E —电场强度;—松弛时间(与电子能量U 有关) B 表示电子与晶格振动相互作用时单位时间内能量的损失,晶格振动与温度有关B U t B T U L ==()(,)∂∂0平衡时,A(E,U)=B(T 0,U) τ当E 上升到使平衡破坏时,碰撞电离过程便立即发生晶格温度(电子平均自由行程时间)根据本征击穿模型:击穿强度与试样形状或者试样厚度无关!“雪崩”电击穿理论晶格的破坏过程,碰撞电离后的自由电子的倍增,产生雪崩现象。
以碰撞电离后自由电子数倍增到一定值作为电击穿判据。
“四十代理论”:定性解释了薄层介质具有较高击穿强度的原因。
通过估算:由阴极出发的初始电子,在其向阳极运动的过程中,1cm 内的电离次数达到40次,介质便击穿。
电击穿特征电击穿是瞬时完成的,10-7~10-8秒;低温下可产生,在一定温度范围内与温度无关。
热击穿电导产生的局部过热而引起的击穿。
电能损耗使温度上升并使局部电导率增加,产生电流通道,局部熔融或气化而破坏。
物性讲义(电学)-导体-半导体-绝缘体
淬火能够固定金属在高温时空位的浓度,从而 产生残余电阻。淬火温度愈高空位浓度愈高, 则残余电阻率就越大。
6. 几何尺寸效应
当导电电子的自由程同试样尺寸是同一数量级 时,将产生显著的“尺寸效应”,电阻率随试样 尺寸减小而显著增大。这一现象对研究和测试金 属薄膜和细丝材料(厚度 l- 10nm)的电阻非 常重要。
半导体 的能带结构,满带与空带之间也是禁带, 但是禁带很窄(E g 约0.1~2 eV )。
三、导电性的表征参数
1.电阻R与电阻率ρ I = U R=rL/S
2.电导与电导率σ:电阻率R的倒数,电导率越大,
材料导电性越好。
3.导体、半导体与绝缘体
导 体: ρ <10 -5 。•m
纯金属ρ:10 ~1-08
过渡族以外的金属 α≈4×10-3℃-1 过渡族金属特别是磁性金属α较大,如铁的α=6×10-3
性能见图2.4
●低温时
电阻主要来源于“电子-电子”散射,电阻与温度的 平方成正比。
●高温时,增加1.5~2倍,金属原子规则排列遭到破坏, 电子散射增加所致;也有例外,如Sb金属。
普通非过渡族金属的电阻与温度的关系如下: 2
-7 •m
合金ρ:10 ~1-07
。-5 •m
半导体:ρ在10 -~3 10 9 。•m
绝缘体:ρ>10 9 。•m
1.2 金属的导电性
一、金属的导电机制与马基申定则
●用量子电子理论和能带理论可导出所有材料的电导
率:
=
ne 2m
2
= L (碰撞时间间隔)
此式完整地反应了晶体导电的物理本质。
材料物理导电物理
①满、导带间无禁带,电子可进入导带,此即导体导电;
②禁带宽度较窄(96-290kJ mol-1) 电子可在小能量下激发 到导带,通常不导电。此即半导体。
③满、导带间禁带很宽(480kJ mol-1),电子不能激发进入导带,
此即绝缘体;
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在半导体中,满带中一个电子被激发到导带,则导带中有 一个负电荷(电子),满带中有一个正电荷(空穴)。
E 电子和空穴是成对出现的
Si电子受到激励跃迁到导带,导致电子和空穴成对出现
此时外加电场,发生电子/空穴移动导电
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本征半导体的能带图
电子
导带 EC
电子跃迁
带隙 Eg = 1.1 eV
空穴
价带 EV
电子向导带跃迁 空穴向价带反向跃迁
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电子浓度 分布 电子态数量 空穴态数量
本征材料:电子和空穴总是成对出现
非本征材料:一种载流子的增加伴随着另一种载流子的减少 多数载流子:n型半导体中的电子或者p型半导体中的空穴 少数载流子:n型半导体中的空穴或者p型半导体中的电子
在热平衡的条件下,对于(非)本征半导体,两种载流子的 乘积总等于一个常数:
pn
n
2 i
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在电场中:
电子→正极;
空穴→负极
这就是半导体导电。
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E
2P 2S
1S
0
a
离子间距
能带重叠示意图
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固体按导电性能的高低可以分为
导体
半导体
绝缘体
它们的导电性能不同, 是因为它们的能带 结构不同。
化学物质的电导和电解质的特性
溶解度与离解度受温度、压力、溶剂种类和电解质性质等 多种因素影响。
酸碱平衡及缓冲溶液制备
要点一
酸碱平衡
电解质在溶液中会发生酸碱反应,达 到一定的酸碱平衡状态。这种状态对 于维持生物体内外环境的稳定具有重 要意义。
要点二
缓冲溶液
由弱酸及其盐或弱碱及其盐组成的溶 液,具有抵抗外来少量强酸、强碱或 稍加稀释不引起溶液pH值发生明显 变化的作用。缓冲溶液在生物体内外 环境中广泛存在,对于维持pH稳定 具有重要意义。
化学物质的电导和电解质的 特性
汇报人:XX 20XX-02-06
目录
• 引言 • 化学物质电导基础 • 电解质特性概述 • 典型化学物质电导分析 • 电解质在溶液中的表现及应用 • 化学物质电导与电解质特性关系探讨 • 总结与展望
01 引言
目的和背景
研究目的
探讨化学物质的电导性质以及电解质的特性,为相关领域提供理论基础和实践 指导。
生物体所处的外部环境,包括土壤、水体和大气等。这些 环境中也含有各种电解质,对于生物体的生存和繁衍具有 重要影响。
适应性
生物体通过调节体内外环境中电解质的种类和浓度等参数 来适应不同的生存环境。例如,在干旱环境中,植物通过 调节体内无机盐的浓度来降低水分蒸发速率;在寒冷环境 中,动物通过调节体内电解质的种类和浓度来维持体温稳 定等。
电导原理
在电场作用下,带电粒子在物质 中定向移动形成电流,电导反映 了物质对电流的传导能力。
影响电导的因素
物质性质
不同物质具有不同的电导率,与 其内部的带电粒子浓度和迁移率
有关。
温度
温度对电导有显著影响,一般情况 下,温度升高,物质的电导率增大 。
杂质与添加剂
无机材料的电导
36
固体电解质简介
定义 具有离子电导的固体物质称为固体电解质
❖ 固体电解质的电导以离子电导为主,但或多或少 地具有电子电导,因此:
σ
=
σ
i
+
σ
e
离子迁移数:ti = σi/σ =σi/(σi + σe)
电子迁移数:te = σe/σ=σe/(σi+σe)
迁移数表征各种载流子对总电导贡献的比例!
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b
Rs
r2 r1
s
dx
2x
s
ln(r2
2
r1 )
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无机材料的电导
12
4、直流四端电极法 适用于中高电导率的材料,能消除电极非欧 姆接触对测量结果的影响。
lI
sV
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无机材料的电导
13
在室温下测量电导率常采用四探针法
I (1 1 1 1 ) 2V l1 l3 l1 l2 l2 l3
该公式在试样尺寸比探针间距近似无限大的情况下成立。 若测量薄膜等试样,其结果必须进行修正。
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二、电导的物理特性
1、载流子
电流是电荷的定向移动,有电流就必须有电荷的运输过程。 电荷的载体即为载流子。
➢ 任何一种物质,只要存在带电荷的自由粒子——
载流子,就可以在电场下产生导电电流。
材料是否存在离子导电 可以判定载流子是正离子还是负离子
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无机材料的电导
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2、迁移率和电导率的一般表达式
v (载流子在单位电场中的迁移速度)
E
i
n i
q i
第三章 电导-电子电导
3.3 电子电导
Eg ---------------导带底附近的状态密度Gc(E)为: + + 2me * 3 / 2 p Gc(E)= 4 ( 2 ) (E-Ec)1/2 h +
Ec导带底
Ef费米能级 Ev价带顶
根据费米-狄拉克分布函数,电子在量子态上存在的几率Fe(E)为:
1 Fe(E)= 1 exp[(E E f ) / kT ]
第三章 无机材料的电导
3.3
电子电导
电子电导:载流子是电子或空穴.电子电导主要发生在导 体和半导体中.绝对零度下,在理想周期性点阵中,电子 运动不受阻力,迁移率无限大.周期性电场破坏后,电子 运动受阻.
一、电子迁移率
散射:电子与晶体中的声子、杂质离子、缺陷等发生碰撞的过 程。 散射的原因:周期性势场被破坏。 周期性势场被破坏的原因:半导体内存在附加势场,这一势场 使周期性势场发生变化。 附加势场的作用:使能带中的电子在不同k状态间跃迁,也即 原来沿某一个方向以v(k)运动的电子,附加势场可以使它散射 到其它各个方向,以速度v(k’)运动。
反应式如下: Ba2+Ti 4+O2-3+xLa3+=Ba2+1-xLa3+x(Ti 4+1-xTi3+x)O2-3+xBa2+ 缺陷反应: La2O3 =LaBa · +2e´ +2Oo× +O21/2(g)
添加 Nb实现BaTiO3的半导化,反应式如下: Ba2+Ti 4+O2-3+yNb5+=Ba2+[Nb5+y(Ti4+1-2yTi3+y)]O2-3+yBa2+ 缺陷反应: Nb2O5 =2LaTi· +2e´ +4Oo× +O21/2(g)
物性讲义(介电3)
介质损耗 Dielectric Loss介质损耗的形式介质加电场通过的电流:C P RI I I I =++ 电容电流—几何电容充电电流,不损耗能量。
I C介质极化过程的建立,即松弛极化所造成的电流, 引起损耗为极化损耗。
I P介质电导(漏导)造成的电流引起损耗,为电导损 耗。
I R复介电常数(Complex Dielectric Constant)平行板真空电容器dAC 00ε=加上交流电压U =U 0e i ωt ,则极板上电荷Q =C 0 UUC i e U C i dtdQ I 0ti 00ω=ω==ω在外电路上的电流: 电流与电压的相位差90︒嵌入理想绝缘、非极性电介质在外电路上的电流:电流与电压的相位差仍为 90︒C =εr C 0ICU i dtQ d I r ε=ω='=' 嵌入弱电导或极性电介质C =εr C 0电流与电压的相位差≠90︒,有电导分量GU (G :电导)U)G C i (GU CU i I +ω=+ω=Vi ωCUVi ωCUGUδ90︒电容器电流与电压的关系理想电容器非理想电容器d A G σ=dA C ε=U)G C i (I +ω=E)i (J σ+ωε=, 电流密度可从 J=σ*E 引出复电导率 σ*:可从 J=i ωε*E 定义复介电常数 ε* : σ+ωε=σi *ωσ-ε=ωσ=εi i **ε*、 σ*:与ω有关 跟恒定电场中的有本质区别静态介电系数稳态电导率电容项损耗项=ω==δC G I I tg CG ε''ε''-ε'=εi *实部 虚部损耗角正切rr tg ε'ε''=ε'ε''≡δ损耗引子 Loss factor用tg δ值来研究电解质损耗的优点:tg δ、ε同时直接测量得到。
如:电桥法、谐振法 tg δ与试样大小、形状无关,为电介质自身属性,远比ε敏感。
05 材料的电性质
电子电导的特征1正方向。
∑−=i i i T B A exp(σ南航材料学院 王寅岗5.1 材料的电导(29)1、电子迁移率 根据量子力学理论:2π d 2 E dk a= × 2 × h dk dt由于晶体中的共有化电子在每一个能带内能量变化几乎是连 续的,所以它与自由电子运动具有一定的相似性,故仿照自 由电子的运动形式,写出其加速度a与电场力eE0的关系。
4π 2 d 2 E a = eE0 × 2 × 2 h dk及2 2 h d E −1 m* = ( ) 2 2 4π dk式中,m*定义为电子的有效质量,则晶体中电子的运动状态 也可写成F=m*a的形式。
F为外力,这是指电场力eE0。
31南航材料学院 王寅岗5.1 材料的电导(30)对自由电子,m*=me; 对晶体中的电子,m*≠me,m*决定于 能态(电子与晶格的相互作用强度),如图 所示。
在第1区,E与k符合抛物线关系,属 于自由电子的性质,即经典现象,在这一区 的底部附近,m*=me;在第Ⅱ区,曲线的 曲率 d2E / dk2 为负值,因而有效质量是负 的,即价带(满带)顶部附近电子的有效质 量是负的;第Ⅲ区为禁带;第Ⅳ区,曲线曲 率是正的因而有效质量是正的,而且由于Ⅳ 区曲线的曲率比Ⅰ区的大,所以有效质量比 Ⅰ区小,此区的电子称为“轻电子”。
大多数 导体,由于价带只是一部分充满,所以 m* = me ;半导体和绝缘体以及部分导体,由 于价带充满或几乎充满,因而m*≠me。
一维周期场中 电子能量E与波数k的关系32南航材料学院 王寅岗5.1 材料的电导(31)必须指出,晶格中的电子的有效质量与自由电子真实 质量不同的地方在于,有效质量已将晶格场对电子的作用 包括在内了,使得外力(电场力)与电子加速度之间的关 系可以简单地表示为F=m*a的形式,这样我们就可避免对 晶格场的复杂作用的讨论,从而把问题简化。
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本征半导体或高温时的杂质半导体 的电导率与温度的关系
σ σ 0exp(
Eg 2kT
)
温度变化不大时,σ0 可视为常数,lnσ与1/T成直线关系 由直线斜率可求出禁带宽度Eg 取上式倒数,得到电阻率与温度的关系
ρ ρ 0exp(
Eg
2kT Eg lnρ lnρ 0 2kT
25
)
根据质量作用定律,写出平衡常数
2 ][O [VM ]p O Kp 1/2 PO 2
(p:空穴浓度)
从而得到
1/6 ] PO p 2[VM 2
温度一定时,空穴浓度与氧分压的1/6次方成正比,若迁移 率不随氧分压变化,则电导率与氧分压的1/6次方成正比
42
NiO单晶高温电导与氧分压的关系
空穴浓度 某能带(E1和E2间)存在的电子浓度为ne
n e G(E)Fe (E)dE
E1
E2
(1)
G(E) -电子允许状态密度 Fe(E) -能量为E的能级电子存在的几率
12
根据Fermi-Dirac分布函数
1 Fe (E) E Ef 1 exp( ) kT
(2)
Ef - Fermi能级,即电子存在几率为1/2的能级
m* e -电子有效质量
h - Plank常数
2
* e
3 2
1 2
(5)
14
将式(3)、 (5)代入式(4),得到
n e G C (E)Fe (E)dE
EC 3 1 1 8π 2 m* E E e 2 f 2 2 ( 2 ) exp( ) (E E C ) exp( )dE (6) 2π h kT E C kT
40
阳离子空位
MnO、FeO、CoO、NiO中金属不足(氧过剩),写为M1-δ O
δ取决于温度、氧分压以及物质的种类 平衡状态下,缺陷化学反应:
1 O 2 (g) VM O O 2 VM VM h VM h VM
41
1 O 2 (g) VM 2h OO 2
eE V τa τ m
τ -松弛(弛豫)时间,即电子每两次碰撞之间的 平均时间
V eτ μ E m
3
实际晶体中的电子质量一般不同于自由电子质量 根据量子力学理论,电子有效质量m*
2 ε 1 2 m* ( 2 ) κ
h-Plank常数 ε -电子能量
h 2π
κ -波矢量(波数)
迁移率与温度的关系
32
温度对载流子浓度的影响
载流子浓度与温度呈指数式变化
低温区:杂质电导
高温区:本征电导
中温区:饱和,杂质完全离解,载流子浓度不随
温度变化
33
ln ne ln nh
B
本征区
饱和区
B Eg 2k
EC ED 2k E EV B A 2k
(n e N A ) (n h N D )
+
e h
9
电离杂质散射的影响因素
掺杂浓度: 掺杂浓度↑散射↑ 温度:温度↑载流子运动速度↑吸引或排斥↓ 散射↓
高掺杂浓度时,迁移率μ随温度变化较小,与晶格 散射相反
10
二、载流子浓度
本征半导体中的载流子浓度 杂质半导体中的载流子浓度
11
本征半导体中的载流子浓度
根据Fermi统计理论,可计算导带电子浓度和价带
p型半导体的电导率
Eg 2kT
1 2
σ Nexp(
) (μ e μ h ) e
Ei (N V N A ) exp( ) μh e 2kT
26
ln σ
ln σ
1/T (a)
TK (b)
1/T
ln σ
TK 1/T (c)
电导率与温度关系的典型曲线
27
四、电子电导率的影响因素
1 2
ND -施主杂质浓度 ED -施主能级 Ei = EC-ED,电离能
20
p型半导体
EA EV n h (N V N A ) exp( ) 2kT 1 Ei 2 (N V N A ) exp( ) 2kT
1 2
1 1 NA E f (E V E A ) kTln 2 2 NV
43
阳离子空位是负电中心,称作V心
VM
VM
能带结构和晶格缺陷能级模型
44
阴离子空位
TiO2等氧化物在还原炉中焙烧,失去氧,产生氧空位
x 4 3 2 Ti 4 O 2 O 2 (g) Ti1 Ti 2x 2x O 2 x □x 2
□为氧离子空位,分子表达式为TiO2-δ
4
电子的有效质量m*已经反映晶格周期势场的作用
因此可以把晶体中的电子在外电场作用下的迁移率
写成:
eτ μ m*
自由电子
m*= m
5
m*和τ的影响因素
电子和空穴的有效质量m* 平均自由运动时间τ 材料性质决定 载流子的散射强弱决定 散射弱,τ长,μ高
掺杂浓度和温度对μ的影响,本质上是对载流子 散射强弱的影响形成 p 型半导体 Nhomakorabea38
价控半导体可通过改变杂质的组成获得不同的电性能 杂质离子应具备以下条件: •
与被取代离子有几乎相同的离子半径
•
•
本身有固定的化学价
具有高的离子化势能
39
组分缺陷
非化学计量配比(nonstoichiometric)化合物中由于晶 体化学组成的偏离,而形成离子空位或间隙离子等 晶格缺陷称为组分缺陷。 晶格缺陷的种类、浓度对材料的电导有很大影响
ne≈ ND-NA
nh≈ NA-ND 1/T
34
缺陷对电导率的影响
• 杂质缺陷
• 组分缺陷
阳离子空位 阴离子空位 间隙离子
35
杂质缺陷
价控半导体
通过引入杂质形成新的局部能级 BaTiO3中添加La,在空气中烧成
2 2 3 4 3 2 2 Ba 2 Ti 4 O3 xLa3 Ba1 La (Ti Ti )O xBa x x 1 x x 3
6
散射的原因
晶格散射 电离杂质散射
7
晶格散射
晶格振动:半导体晶体中规则排列的晶格,在其晶 格点阵附近产生的热振动
晶格散射:由晶格振动引起的散射 温度↑ 晶格振动↑ 晶格散射↑
低掺杂半导体迁移率随温度升高而大幅下降的原因
8
电离杂质散射
电离杂质产生的正负电中心对载流子的吸引或排斥
作用,导致散射
积分后得到
3 2m* kT EC Ef e 2 n e 2( ) exp( ) 2 h kT
(7)
2m kT 令 N C 2( ) ,为导带的有效状态密度 h EC Ef n e N C exp( ) 则 kT
* e 2 3 2
(8)
15
本征半导体中,价带中的空穴和导带中的电子浓度 相等 F (E) 1 F (E)
1 La 2O3 2La 2e'2O O 2 (g) 2
Ba O
1 La 2O3 2TiO2 2La 2e'2Ti 6O O 2 (g) 2
BaTiO3 Ba Ti O
形成 n 型半导体
36
添加微量Nb5+的BaTiO3在空气中烧成
2 3 4 2 4 Ba 2 Ti 4 O3 yNb5 Ba 2 [Nb5 (Ti Ti )]O yTi y y 1 2y 3
温度
缺陷
28
温度对电导率的影响
• 迁移率 • 载流子浓度
29
温度对迁移率μ的影响
eτ μ * m
τ -载流子与声子碰撞的弛豫时间,受杂质浓度 和温度影响
τ的温度关系决定了μ的温度关系
30
总迁移率μ受散射的控制,包括两部分
声子对迁移率的影响
杂质离子对迁移率的影响
μL a T
3 2
h e
Fh(E)-空穴分布函数 Fe(E)-电子分布函数
只要 Ef -E >> kT,便有
1 1 E Ef Fh (E) 1 exp( ) E Ef Ef E kT 1 exp( ) 1 exp( ) kT kT
(9)
16
仿照导带电子浓度计算,得到价带中的空穴浓度
3 2
17
本征半导体中,ne= nh,由式(8)、(10)可计算出Fermi能级
NC 1 1 E f (E C E V ) kTln 2 2 NV
代入式(8)、(10),得到
(11)
3 EC EV 2kT 3 * * 4 2 n e n h 2( 2 ) (me m h ) exp( ) h 2kT 3 Eg 2kT 3 * * 4 2 2( 2 ) (me m h ) exp( ) h 2kT Eg Nexp( ) (12) 2kT
室温时,kT= 0.025 eV,E-Ef >>kT
E Ef Fe (E) exp( ) kT
(3)
13
EC、EV分别为导带底部能级和价带顶部能级 由式(1),得到导带中的电子浓度ne
n e G C (E)Fe (E)dE
EC
(4)
GC(E) - 导带电子允许状态密度
1 8π m G C (E) 2 ( 2 ) (E E C ) 2π h
电子电导
电子电导的载流子是电子与空穴 一、电子迁移率
二、载流子浓度
σ n eμ
三、电子电导率
四、电子电导的影响因素 五、晶格缺陷与电子电导
1