LCR 表、阻抗分析仪 和测试夹具 (选型指南)
（整理）LCR测试仪的说明.
Hioki，日置是日本一家非常出名的测试厂商，提供颇为广泛的产品。其生产的LCR HiTESTER系列涵盖了1kHz~120MHz的 测试频率范围，除了1kHz的型号3511-50以外，其余型号均提供触摸面板。3532-50在本次对比中提供了最高的测试速度200 次每秒，但测试范围也是本次对比中最差的，详情可看附表。
Chenhwa 3305自动变压器测试仪/零件分析仪，除了提供变压器扫描的测试功能外，也提供LCR Meter功能，可应用於各式零 件之进出料检验，研发分析或生产线自动化应用。提供用于良品/不良品判定，10 级分类及总合计数的输出接口HANDLER。 提供高达100k的损耗因数D和品质因数Q的测试，并提供 0.01m~100M直流电阻测试功能。 Chroma，中茂或致茂电子，虽不是通用仪器制造商，但在生产测试方面却广有涉猎，并均有建树。其在Chenhwa 3302的基 础上做了如下改进，使得该机型适用范围更广。
7. Quadtech 7600
Quadtech是一家提供安规和被动元件测试解决方案的厂商，始创于1991年，创始人Phil Hiarris买下了著名ICT厂商GenRad的 精密仪器部门，GenRad后来被Terryda收购。7600测试频率高达2MHz，标准测试电压高达5V，损耗因数低至0.1u，品质因 数0.1u~1M，为本次对比中最佳。也提供图形化显示。
6. Wayne kerr 6440B
Wayne kerr是全球有名的元器件测试仪器制造商，LCR尤其出名。Wayne kerr 总部位于伦敦，其产品有个特点，性能十分出 众，价格卓越不群。由其生产的423x系列口碑十分的好，4239的测试频率更是高达10MHz，但不知何故官方网站现在不见这 个系列的踪影。现在能见到的最好产品就是6440B，频率到3MHz，基本精度0.2%，为本次对比中最好。支持直流电阻测试。
LCR 表、阻抗分析仪和测试夹具
射频 I-V 法
阻抗测量范围 (Ω)
测量频率范围 (Hz) 图 1. 阻抗分析仪 /LCR 表的阻抗测量技术
表 1. 阻抗测量产品类型
产品要点 扫频测量能力
显示屏 其他
优势
LCR 表 点 / 列表
只有数字显示方式 机械手接口 , 比较器
低成本解决方案 , 容易使用 , 测试速度快
● 用 42941A 阻抗探头可以进行在线器件或接地器件的测量
● 7-mm 射频测试夹具与 42942A 端子适配器
● 内置的 LAN 接口
● 测量参数 : |Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q ● 内置直流偏置 (0 至 ±40 V，最大值 ±100 mA)
4
网络分析仪
E5061B 低频 - 射频网络分析仪LCR 元件Fra bibliotekABB
LCR 元件、材料测试
和半导体测试
ABB
LCR 元件、材料测试
和半导体测试
ABB
LCR 元件、变压器
ABB
MLCC
1. 基本阻抗精度是仪表工作在最佳状态下的值 , 会随测量条件的改变而改变，详细信息需要阅 读具体产品的技术资料。
2. 只针对电容的测量 3. 阻抗测量精度为 10% 的测试范围。
● 选件 005 作为入门级型号，除了测量时间不同外 ( 速度 较慢 )，其他特性与基本型一样
● 选件 201 和 301 分别增添了机械手接口和扫描仪接口
● 在测试功率电感器和变压器时，应选择使用选件 002、 42841A 和 42842A/B，以实现 20 A 直流偏置电流 1
● 测量参数: |Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q， 选件 001 添加了 Rdc、Idc 和 Vdc。
使用 LCR 表和阻抗分析仪测量介电常数和导磁率的决方案
κ* =
ε*r
=
ε* ε0
= ε'r - j ε"r =
ε' ε0
-j
ε" ε0
实部
虚部
ε"r
ε*r
tan δ =
εr" 虚部 εr' 实部
δ
ε'r
tan δ = D (损耗系数)
κ* = 介电常数
ε = * 复数相对介电常数 r
ε = 0
自由空间 介电常数
1 36π
X 10-9 [F/m]
图 1. 相对复数介电常数 (εr*) 的定义。
8.854 x 10-12 [F/m]
A.1.4. 主要技术指标 ........................................................................................... 22
A.1.5. 操作方法 ....................................................................................................23
A.1.6. 特殊考虑事项 ........................................................................................... 23
参考文献 ........................................................................................................................... 24
阻抗分析仪转接夹具补偿算法研究
阻抗分析仪转接夹具补偿算法研究赵敏,丁翔(工业和信息化部电子第五研究所,广东广州510610)摘要:利用阻抗分析仪测量元件阻抗时,有时需要使用转接夹具,通常做法是先进行开路/短路校准后再测量元件阻抗,但这种方法在频率高于1MHz 时误差较大。
因此,提出了用ABCD 矩阵建立转接夹具补偿算法模型,并推算出采用开路/短路/标准负载校准的误差计算公式。
对1Ω~10k Ω的多个四端对高频电阻标准器的测试表明,修正后结果与参考值的差异在0.00%~1.4%,优于开路/短路校准后直接测量的0.01%~4.2%。
关键词:转接夹具;元件阻抗;ABCD 矩阵;补偿算法中图分类号:TG 75文献标志码:A文章编号:1672-5468(2021)01-0069-05doi:10.3969/j.issn.1672-5468.2021.01.014Research on Compensation Algorithm of the TransferFixture for Impedance AnalyzerZHAO Min ,DING Xiang(CEPREI ,Guangzhou 510610,China )Abstract :When measuring the impedance of a component with an impedance analyzer ,it issometimes recessary to use a transfer fixture.The usual practice is to calibrate the component first and then measure the impedance of the component ,but this method has a larger error when thefrequency is higher than 1MHz.Therefore ,a ABCD matrix is used to establish the compensation algorithm model of transfer fixture ,and the error calculation formula ofopen circuit/short circuit/standard load calibration is calculated .The test of multiple four endsof 1Ω~10k Ωfor high frequency resistance standard device shows that the difference between the modified result and the reference value is between 0.00%~1.4%,which is better than the 0.01%~4.2%measured directly after open/short calibration.Keywords :transfer fixture ;element impedance ;ABCD matrix ;compensation algorithm收稿日期:2020-10-03作者简介:赵敏(1973-),女,上海人,工业和信息化部电子第五研究所计量检测中心高级工程师,主要从事电子计量测试方面的研究工作。
使用 LCR 表和阻抗分析仪测量介电常数和导磁率的决方案
– 频率范围宽: 从 20 Hz 到 1 GHz – 测量精度高 – 测量的准备工作非常简单 (材料制
备、测量设置)
本指南首先在第 2 部分介绍介电常数的 测量方法、测量系统和解决方案，而 后在第 3 部分介绍导磁率的测量方法、 系统和解决方案，最后在附录中说明 适用于液体的电阻率测量系统和导磁 率测量系统。
1. 引言
近年来，电子设备技术获得了蓬勃发 展，而这也使得电子元器件的材料特征 成为决定电路特性的关键因素。例如， 在制造数字 (媒体) 设备中常用的高容量 多层片式陶瓷电容器 (MLCC) 时，必须 要采用高 κ 值 (介电常数) 材料。此外， 在选择材料之前还必须执行各项电气性 能验证，例如频率和温度响应。
3.2. 电感测量法 ......................................................................................................... 17
3.3. 导磁率测量系统 .................................................................................................. 18
表 1. 介电常数和导磁率参数的测量技术和测量方法
测量参数
测量技术
阻抗分析
介电常数
导磁率
阻抗分析 网络分析
测量方法 平行板法 S 参数 腔体 真空 电感 反射波 S 参数 腔体
04 | Keysight | 使用 LCR 表和阻抗分析仪测量介电常数和导磁率的解决方案－应用指南
2. 介电常数测试
2.1. 介电常数的定义
3.4. 使用 16454A 磁性材料测试夹具的测量系统 ..................................................... 18
LCR测量仪
LCR测量仪LCR测试仪能准确并稳定地测定各种各样的元件参数，主要是用来测试电感、电容、电阻的测试仪。
它具有功能直接、操作简便等特点，能以较低的预算来满足生产线质量保证、进货检验、电子维修业对器件的测试要求。
目录测试原理测量步骤测试原理Vx与Vr均是矢量电压表，Rr是理想电阻。
自平衡电桥的意思是：当DUT(Device Under Test)接入电路时，放大器的负反馈配置自动使得OP输入端虚地。
Vx准确测定DUT两端电压（DUT的Low电位是0），Vr与Rr测得DUT电流Ix，由此可计算Zx。
HP4275的测试端Hp,Hc,Lp,Lc（下标c代表current, 下标p代表Potentail)，Guard（接地)的配置可导致测试的误差的差异。
提高精度的方法是:1、Hp,Lp,Hc,Lc尽量接近DUT;2、减小测试电流Ix的回路面积amp;磁通量（关键是分析Ix，要配合使用Guard与Cable最小化回路面积);3、使用Gurard与Cable构建地平面中断信号线间的电场连接，虽然会增加信号线的对地电容（对地电容不影响测试结果），但是会减少信号线的互容。
Guard与Cable的对地寄生阻抗（Zhg,Zlg) 不影响测试结果，电桥平衡时Zlg的两端电压是0，流向Rr的电流不会被Zlg分流，Zhg的分流作用不影响Hp的电压测量。
测量步骤LCR测试仪一般用于测试电感和电容。
测量步骤如下：设置测试频率测试电压或者电流水平选择测试参数，比如Z、Q、LS（串联电感）、LP（并联电感）、CS(串联电容）、CP（并联电容）、D等仪器校准，校准主要进行开路、短路校准，高档的仪器要进行负载校准选择测试夹具夹具补偿将DUT放在夹具上开始测试。
安捷伦LCR表,阻抗分析仪和网络分析应用列表
解决办法
• Picotest J2120A 信号转换器 (Line Injector，
10 Hz 至 10 MHz，高达 50 Vdc / 5 Adc) 使您能 够对被测件同时施加交流与高达 5 Adc 的外 部直流电流信号。
晶圆上测量 MOS 器件的晶圆上 C-V 表征 ................................................................................................. 22 低频至微波范围内的晶圆上器件表征 ............................................................................. 23
附录 1. 各种产品的应用列表 ........................................................................................................ 32 2. 产品更换指南 ....................................................................................................................... 34
参考
应用指南: 使用 E5061B LF-RF 网络分析仪测量 DC-DC 转换器和 PDN (5990-5902CHCN)
专题文章: 改善中低频范围内的 PDN Z 阻抗测量精度
测试附件信息(包括 Picotest 变压器): E5061B 网络分析仪配置指南 (5990-4391EN)
Picotest 注入器主页: https:///products_injectors.html
lcr数字电桥测量参数
lcr数字电桥测量参数
LCR数字电桥是一种用于测量电感（L）、电容（C）和电阻（R）的电子测量仪器。
以下是LCR数字电桥的测量参数：
频率范围：LCR数字电桥的测量频率范围可以根据具体型号而定，一般从几Hz到MHz不等。
测量精度：LCR数字电桥的测量精度一般优于±0.1%，可以满足大多数高精度测量需求。
分辨率：LCR数字电桥的分辨率可以根据具体型号而定，一般可以达到0.001pF、0.01pF、0.1pF等。
测试速度：LCR数字电桥的测试速度一般较快，可以在几秒内完成多个元件的测量。
测试方式：LCR数字电桥支持自动测试和手动测试两种方式，用户可以根据需要进行选择。
数据接口：LCR数字电桥可以通过USB、RS232等接口与计算机连接，方便数据的传输和处理。
显示方式：LCR数字电桥支持数字显示和图形显示两种方式，用户可以根据需要进行选择。
总之，LCR数字电桥是一种高精度、高速度、多功能、易操作的电子测量仪器，广泛应用于电子元件生产、检测、研发等领域。
同惠 LCR 测试仪器选择指南
TH2828/TH2828A TH2828S TH2818 TH2819 TH2825/TH2825A TH2816A/TH2816B TH2817A TH2817B/TH2817D TH2817 TH2810B TH2810D/TH2811D TH2811C TH2820 TH2821A TH2821/TH2821B
由于每一个产品均有其不同特点，本文力图从以下几个方面阐述相应产品的性能及功能比较： 1． 产品概览 2． 测试频率配置比较 3． 显示方式 4． 测量准确度 5． 测试速度 6． 测试电平配置及特点 7． 接口功能 8． 合适的测试附件（各型号 LCR 仪器随机附件和可用选件参见网站内容或相应的样本说明）。
15ms/次, 66ms/次, 500ms/次 ≥100Hz 信号源输出阻抗：
25Ω，100Ω，25Ω/100Ω，C.V. 信号电平：10mVrms—1Vrms 内置偏流源：0—50mA 内阻为 100Ω 时
0—200mA 内阻为 25Ω 时 列表扫描：4 点 频率，电平列表扫描 变压器测试功能：仅 TH2825A
基本测量准确度：0.1% 测试速度：
50ms/次, 125ms/次, 500ms/次 @1kHz 信号源输出阻抗：
30Ω，100Ω. 信号电平：0.1Vrms，0.3Vrms，1Vrms 内置 DC 偏置：仅 TH2817C
电压源 -5VDC— +5VDC 电流源 -50mA— +50mA 变压器测试：仅 TH2817C 初次级直流电阻、初次电感、互感 列表扫描：4 点 频率，电平列表扫描 变压器测试功能：仅 TH2817C 除具备一般 LCR 测试参数外，尚具备初、次级直流电阻 DCR、匝比、匝数、相位、初、次级电感、互感等 接口：RS232C，GPIB（选件），Handler 接口 ★ TH2817B：TH2817 的替代型号
同惠LCR测试仪器选择指南
同惠LCR测试仪器选择指南导语:LCR测试仪器是电子工程师在电感、电容和电阻测试过程中常用的工具。
同惠是一家专注于LCR测试的公司，提供了多种不同型号的LCR测试仪器，以满足不同用户的需求。
在选择适合自己的LCR测试仪器时，应该考虑以下几个因素：一、测试需求：首先，需要明确自己的测试需求。
根据不同的应用场景和测试对象，选择不同类型的LCR测试仪器。
例如，对于电感元件的测试，可以选择LCR桥或LCR表，而对于SMD元件的测试，可以选择LCR测试夹具。
二、测试频率：LCR测试仪器一般可以在不同的频率范围内进行测试，频率的选择与测试对象的特性直接相关。
一般情况下，测试频率越高，测量的精度越高，但也会受到更多的噪声干扰。
因此，在选择LCR测试仪器时应根据测试对象的特性和精度要求来选择适合的测试频率。
三、测试精度：LCR测试仪器的测试精度是选择的关键因素之一、测试精度的高低直接影响到测试结果的准确性。
一般情况下，测试精度越高，价格也会越高。
因此，在选择LCR测试仪器时应根据自己的实际需求来平衡测试精度和成本之间的关系。
四、便携性：便携性是选择LCR测试仪器时需要考虑的因素之一、如果需要经常在不同的地方进行测试，那么应该选择体积小巧、重量轻的LCR测试仪器。
相反，如果测试场所固定，那么大小和重量就可以不是首要考虑的因素。
五、价格：LCR测试仪器的价格因型号和配置不同而有所差异。
因此，在选择LCR测试仪器时，应当根据自己的实际需求和所能承受的价格范围来选择。
六、品牌和售后服务：选择有知名品牌和良好售后服务的LCR测试仪器是非常重要的。
知名品牌通常具有更好的品质和可靠性，而良好的售后服务可以提供技术支持和问题解决方案，以确保测试仪器的长期使用。
七、用户评价：在选择LCR测试仪器时，可以参考其他用户的评价和反馈。
用户评价可以直接反映该型号测试仪器的性能和可靠性，帮助选择者做出更准确的决策。
结语:通过以上几个方面的考虑，选择适合自己的LCR测试仪器是非常重要的。
LCR作业指导书
LCR作业指导书一、任务概述本文档为LCR作业的指导书，旨在提供详细的操作步骤和要求，确保作业的准确完成。
LCR作业是一项测试电路中电感、电容和电阻等元件参数的实验，通过测量电路中的电流和电压，计算出电感、电容和电阻的数值。
本指导书将详细介绍实验所需的仪器设备、实验步骤和数据处理方法。
二、实验所需仪器设备1. LCR计（LCR Meter）：用于测量电路中的电流和电压。
2. 电感器（Inductor）：用于测量电感值。
3. 电容器（Capacitor）：用于测量电容值。
4. 电阻器（Resistor）：用于测量电阻值。
5. 电源（Power Supply）：提供电路所需的电压。
6. 连接线（Connecting Wires）：用于连接电路中的各个元件。
三、实验步骤1. 准备工作：a. 确保所有仪器设备正常工作，并接通电源。
b. 将LCR计连接到电路中，确保连接线的插头正确连接到相应的插孔。
c. 将电源连接到电路中，调整电源输出电压至合适的范围。
d. 将电感器、电容器和电阻器按照电路图连接到电路中。
2. 测量电感值：a. 打开LCR计，并选择电感测量模式。
b. 将测试夹具连接到电感器的引脚上。
c. 通过LCR计的操作界面设置测试频率和测试范围。
d. 将测试夹具的另一端连接到电路中的电感器引脚上。
e. 按下LCR计的测试按钮进行电感值的测量。
f. 记录测量结果。
3. 测量电容值：a. 在LCR计上选择电容测量模式。
b. 将测试夹具连接到电容器的引脚上。
c. 设置测试频率和测试范围。
d. 将测试夹具的另一端连接到电路中的电容器引脚上。
e. 进行电容值的测量。
f. 记录测量结果。
4. 测量电阻值：a. 在LCR计上选择电阻测量模式。
b. 将测试夹具连接到电阻器的引脚上。
c. 设置测试范围。
d. 将测试夹具的另一端连接到电路中的电阻器引脚上。
e. 进行电阻值的测量。
f. 记录测量结果。
5. 数据处理：a. 将测量得到的电感、电容和电阻值记录在数据表中。
LCR测试仪操作指引_1
文 件 名
称
TH2816B LCR 测试仪操作指引
生效日期 页码
2/3
1. 目的：
TH2816B 型LCR 数字电桥测试仪操作提供指引，以确保操作安全、有效、符合规范要求 。
2. 范围：
适应于TH2816B 型LCR 测试仪操作作业。
3. 权责：
工程PE ：测试仪的异常确认及处理工作；
品质IQC ：测试仪之操作与点检巡查，并依规定要求抽检来料元件品质状况。
4、定义：无
5. TH2816B 型LCR 测试仪面板功能及测试操作步骤：
仪器前面板图：
1．电源开关；2.LCD 液晶显示屏;3.软件(SOFTKEYS);4.HOME 主要显示页面按键;5.PREV 显示页面翻页键;
6.NEXT 显示页面翻页键;
7.方向键;
8.测试端;
9.接地端;10.数字键盘;11.回车键(ENTER);12.退格键(BACKSPACE);13.触发键(TRIGGER) 6.操作说明:
6.1开启电源开关,打开或关闭开路、短路校正以及进行开路,短路清零.
开路清零是用于清除用户测试夹具或测试电缆及内部杂散阻抗的影响，仪器可进行单频开路清零（OpCLP ）
或扫描开路清零（OpSWP ）。
6.1.1移动反白条到OPEN 区域：
1
2
3
4
5 6 7
8
9
10 12
11。
阻抗分析仪-LCR表原理
阻抗分析仪/LCR表原理阻抗分析仪和LCR表是非常通用的测量器件的电子仪器。
根据阻抗范围和频率范围的不同，有一系列不同原理的仪器来满足测试要求，图1是不同阻抗范围和不同频率范围的阻抗测量方法。
图1 阻抗测量方法 图2是自动平衡电桥法的原理框图。
通过精确测量加载到被测件DUT的电压和电流，从而精确测量出DUT阻抗值。
从图2中可以看出，通过DUT的电流等于通过电阻Rr的电流，而通过Rr的电流可以通过测量V2计算出来。
通常，在低频（图2 自动平衡电桥法原理框图 图3是RF I-V法原理框图。
RF I-V法是I-V技术在高频范围的扩展，可以紧密测量高达3GHz频率范围的阻抗值。
RF I-V电路和路径必须仔细设计，以确保能够以50ohm阻抗与被测件DUT相连。
如果连接路径的阻抗不是50ohm，不想要的反射将发生，将导致电流和电压的测量误差增大。
RF I-V法细分为高阻和低阻两种测量模式。
实际上，测量仪器保持不变，只是改变测试头，达到两种测量模式的要求。
高阻测量模式，测试电流很小，为了正确的探测电流，电流探头要尽量靠近DUT；低阻测量模式，为了灵敏的得到电压值，电压探头要尽量靠近DUT。
图3 RF I-V法原理框图 网络反射法即是网络分析仪方法，在此不着介绍。
各种方法的优缺点如下。
1、自动平衡电桥法优缺点：1）最准确，基本测试精度0.05%；2）最宽的阻抗测量范围：C,L,D,Q,R,X,G,B,Z,Y,O...；3）最宽的电学测量条件范围；4）简单易用；5）低频：f2、RF I-V法优缺点：1）宽的频率范围：1MHz100MHz的最准确测试方法；5）接地器件测试。
材料介电特性的测量基础
使用 LCR 表和阻抗分析仪测量介电常数和导磁率的决方案
2.
介电常数测试 ........................................................................................................ 4
2.1. 介电常数的定义 .................................................................................................... 4
+
电场
06 | Keysight | 使用 LCR 表和阻抗分析仪测量介电常数和导磁率的解决方案－应用指南
接触电极法:
这种方法通过测量与 MUT 直接接触的电 极的电容来推导出介电常数 (图 4)。介电 常数和损耗角正切通过以下公式 计算:
被保护电极 d
保护电极 g
Cp: MUT 的等效平行电容 [F] D: 耗散系数 (测量值) tm: MUT 的平均厚度 [m] A: 被保护电极的表面积 [m2] d: 被保护电极的直径 [m] ε0: 自由空间的介\电常数 =
边缘 (杂散) 电容
保护电极
-
-
使用保护电极，可以消除边缘电容所导 致的测量误差。保护电极会吸收边缘的 电场，所以在电极之间测得的电容只是 由流经介电材料的电流形成，这样便可以 获得准确的测量结果。当结合使用主电极 和保护电极时，主电极称为被保护电极 (guarded electrode)。
+
电场
图 3. 保护电极的效应
3.2. 电感测量法 ......................................................................................................... 17
LCR电桥测试仪操作指引
LCR电桥测试仪操作指引1.仪器准备(1)确保仪器处于稳定的工作环境，远离干扰源。
(2)检查电源电压是否符合仪器要求，接通电源并打开仪器的电源开关。
(3)启动仪器并等待仪器初始化完成。
2.连接被测件(1)根据被测件的类型选择合适的测量夹具，确保夹具与被测件接触良好。
(2)将夹具的接线引出口与仪器的测试引脚相连，确保连接稳固。
(3)检查连接是否正确，没有接错引脚。
3.设置测量参数(1)使用仪器面板上的菜单按钮进入设置界面。
(2)根据被测件的类型选择相应的测量模式，例如电感、电容或电阻。
(3)根据实际需要设定额定值范围和测量精度。
(4)确认设置并返回测量界面。
4.进行测量(1)通过仪器面板上的选项或软键盘输入被测件的基本参数，例如电感的感值、电容的容值等。
(2)点击"开始测量"按钮，仪器开始进行测量。
(3)等待测量完成，并注意仪器面板上的指示灯和数值显示。
5.记录测量结果(1)在测量完成后，记录仪器显示的测量数值。
(2)如果需要，可以按下仪器面板上的保存按钮将测量结果保存到仪器内部存储器或外部存储介质。
(3)根据需要打印测量结果或导出到计算机进行后续处理。
6.断开连接(1)测量完成后，断开夹具与被测件的连接。
(2)断开夹具与仪器测试引脚的连接。
(3)断开仪器的电源，并将测试引脚与夹具收好，以便下次使用。
7.仪器维护(1)定期清洁仪器外壳和面板，确保仪器正常工作。
(2)避免仪器受到强磁场或高温环境的影响。
LCR电桥测试仪操作指引的上述步骤可帮助用户正确且有效地使用LCR电桥测试仪进行测量，提高测量效率和准确性。
用户在操作测试仪前，应仔细阅读仪器说明书，并根据实际需要进行适当的调试和设置，以获得准确的测量结果。
同时，用户还应注意对仪器进行正确的维护和保养，以延长仪器的使用寿命。
阻抗分析仪和LCR表介绍
■应用介绍 ・有关高频LCR的重点客户 ・关于测试方法 ・用IM35xx系列测试
1
© 2017 HIOKI E.E. CORPORATION
2
◼ HIOKI的LCR测试仪、阻抗分析仪介绍 ・产品阵容 ・测试原理 ・高频阻抗分析 ・自动平衡电桥法 LCR测试仪、阻抗分析仪
26
对应0201尺寸(JIS）尺寸 治具为2探针测试
通过引导元件和防止试料迸出的开关门 即使是0201的微尺寸零件也能简单放入
© 2017 HIOKI E.E. CORPORATION
高频测试仪器 开发背景
27
日系厂商产量推移图[亿个]
4500 4000 3500 3000 2500 2000 1500 1000
V
V
L
I
© 2017 HIOKI E.E. CORPORATION
12
・关于LCR的值
・Ｌ和C的值用Z和θ来计算.
© 2017 HIOKI E.E. CORPORATION
13
・交流电阻(总结)
位相差θ
Z θ的计算方式
© 2017 HIOKI E.E. CORPORATION
14
测试原理的区别
主要注重于不会受到周围设备或电源带来的外部干扰。也不会对周围设备或人体发出有害的干扰。
但是，产品使用的时钟频率或数字控制信号等，都是会成为干扰源的高速信号，所以EMC的对策 就成了一个重大的课题。
© 2017 HIOKI E.E. CORPORATION
36
铁氧体磁珠
这是一个使用了磁性材料的，起到抗干扰作用的零部件 直接串联进信号线路
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
E4991B 阻抗分析仪
– 3 种频率选件：1 MHz 至 500 MHz/1 GHz/3 GHz，可升级 – ±0.65% （±0.45% 典型值）基本测量精度和Pģ至 52 Nģ阻抗测量范围（10% 测量精度范围） – 测量参数：|Z|、|Y|、q、R、X、G、B、L、C、D、Q、 |G|、Gx、Gy、qG、Vac、Iac、Vdc 1、Idc 1 – 内置直流偏置（选件 001）：0 V 至 ±40 V，0 A 至 ±100 mA – 10.4 英寸彩色 LCD 触摸屏可显示 4 个通道和 4 条迹线 – 数据分析功能：等效电路分析、极限线测试 – 介电/磁性材料测量（选件 002）：|[r|、[r'、[r''、 tand([)、_U_、U
色的精度和可重复性，以及超快的测量速度。表 1 中列出的三 种阻抗测量解决方案可满足不同的测量需求。
是德科技阻抗分析仪/LCR 表测量方法比较 10% 精度范围
100M 10M 1M
全面的解决方案： 是德科技的阻抗分析仪产品系列可在
从 5 Hz 到 3 GHz 的频率范围内执行测量，使您能在十分广阔 的范围内根据测量需求做出更好的选择。本选型指南为您概括
E4990A 阻抗分析仪
– 5 种频率选件； 20 Hz 至 10/20/30/50/120 MHz， 可升级 – ±0.08% （±0.045% 典型值） 基本阻抗测量精度 – 25 mģ 至 40 Mģ 宽阻抗测量范围 （10% 测量精度范围） – 测量参数： |Z|、 |Y|、 q、 R、 X、 G、 B、 L、 C、 D、 Q、 复数 Z、 复数 Y、 Vac、 Iac、 Vdc、 Idc – 内置直流偏置源： 0 V 至 ±40 V， 0 A 至 ±100 mA – 10.4 英寸彩色 LCD 触摸屏可显示 4 个通道和 4 条迹线 – 数据分析功能： 等效电路分析、 极限线测试 – 用 42941A 阻抗探头 （仅选件 120） 可以进行在线器件或接 地器件的测量 – 7 mm 测试夹具与 42942A 端子适配器 （仅选件 120） 配合 使用
应用范围十分广泛的先进测量技术
图 1 是 Keysight LCR 表和阻抗分析仪所使用的不同测试技术 的比较，正如您所看到的那样，每一种技术都有其特别的测量 优势： – 自动平衡桥法的阻抗测量范围最宽， 典型的测量频率在 20 Hz 到 120 MHz 之间， 这项技术适用于低频和通用测试。
卓越的产品性能： 是德科技产品可提供同类产品中更出
E4980A 精密 LCR 表
– 20 Hz 至 2 MHz 频率范围， 4 位分辨率 – 在高低阻抗下进行测量， 均可实现卓越的测量 可重复性和 0.05% 的基本测量精度 – 测量时间 （1 MHz） ： 5.6 ms （短） 、 88 ms （中） 、 220 ms （长） – 选件 E4980A-001 增添了 ±20 Vrms/±100 mArms 测试信 号、 ±40 V/±100 mA 内部直流偏置、 第 2 个直流源以及 Vdc/ Idc 测量 – 选件 201 和 301 分别增添了机械手接口和扫描仪接口 – 测量参数： Idc 1 |Z|、 |Y|、 θ、 R、 X、 G、 B、 L、 C、 D、 Q、 Rdc、 Vdc 1、 – 通用 PC 连通性 — LAN、 USB （存储器/USBTMC） 和 GPIB
1.
关于每种方法阻抗测量范围的详细信息，请参见《配有选件 005 阻抗分析功能的 E5061B-3L3/3L4/3L5 低频－射频网络分析仪》技术资料（5990-7033CHCN）。
06 | 是德科技 | LCR 表、阻抗分析仪和测试夹具 — 选型指南
LCR 表
Keysight LCR 表在可以承受的价格上为研发和生产应用提供了 出色的测量精度、速度和通用性。 – 宽频率范围： 20 Hz 至 3 GHz – 频率列表扫描， 可实现在大量频率点上进行的连续测试 – 在高低阻抗范围内都具有卓越的测量精度 – 提供广泛的附件， 适用于测试引线型元件、 表面贴装型元件、 半导体和材料 – 测量速度快， 可重复性高 – 机械手接口和料仓分选功能让您非常容易地在生产环境中 实现自动化测试
RF I-V
专业技术：是德科技在提供阻抗测量解决方案方面拥有几十
年的经验。多年的经验和持续的技术创新已经融入是德科技各 种 LCR 表和阻抗分析仪的设计和制造过程当中。是德科技还有 大量相关的技术资料，帮助您更加正确高效地完成各种测量任 务（这些资料的清单在第 15 页列出）。
测量频率范围（Hz）
图 1. 阻抗分析仪/LCR 表的阻抗测量技术
如何使用这个选型指南
表 2 汇总了是德科技的所有阻抗测量产品，它可以帮助您对是 德科技的各种仪表进行更好的比较，并使您能够根据下面列出 的几方面需求选出更适合应用要求的解决方案： – 测试频率范围 – 器件的类型或应用的类型 – 精度要求 （测量技术） – 任何其他特殊需求 如果您觉得有多种选择都能满足某一应用要求，那么可以翻到 相应的页码去阅读关于每种产品更加详细的信息。
阻抗分析仪
是德科技阻抗分析仪具有 mģ 至 Mģ 的阻抗测量范围和 5 Hz 至 3 GHz 的频率测量范围，可以提供超越同类产品的测量精度。 您可以选择适合自身应用的频率范围。 – 频率、直流偏置、交流电压/电流扫描功能使您可以自行决 定在哪些测量条件下以何种方式得到测试结果。 – 内置等效电路分析功能可以给被测器件找出一个符合应用 条件的多元件电路模型。 – 先进的校准和补偿方式可以显著降低测量误差。 – – 多种夹具选择满足各种应用需求：材料介电常数和磁导 率、元器件高温特性表征、各种无源器件，以及接地测量 的阻抗探头等等。
5. 测量方法代码的意义： ABB： 自动平衡桥法 I-V： I-V 法 C: 点频测试和彩色 LCD 显示 D: 点频测试和普通 LCD 显示 RF I-V：射频 I-V 法 Ref： 反射法 Series：串联-直通法 Shunt：并联-直通法
04 | 是德科技 | LCR 表、阻抗分析仪和测试夹具 — 选型指南
是德科技 LCR 表、阻抗分析仪 和测试夹具
材料、半导体和元器件测试及在线测量解决方案
选型指南
02 | 是德科技 | LCR 表、阻抗分析仪和测试夹具 — 选型指南
使用作为业标准的仪器， 成功完成阻抗测量
过去的半个多世纪中，惠普、安捷伦和是德科技不断创新，为 业界提供了卓越的阻抗分析产品。无论研发、生产、质控、进 货检查或者其他应用，能够帮助客户成功完成任务是我们最大 的荣耀。从阻抗分析仪到全面的测试附件，我们将一如既往地 为您提供完整解决方案，满足您的需求。选择是德科技阻抗测 量解决方案，实现业务成功。是德科技提供：
表 1. 阻抗测量产品类型
产品类型 产品特点 扫频测量功能 显示器 其他 LCR 表 点/列表 只有数字显示 方式 机械手接口，比 较器 低成本解决方 案，容易使用， 测试速度快 阻抗分析仪 连续 （开始/停止、中心/扫宽） 图像 内置等效电路分析功能、材 料测量、在线测量 测量范围最宽，谐振分析， 电路建模 网络分析仪 连续 （开始/停止、中心/扫宽） 图像 内置等效电路分析功能，在 一台仪表中提供多种测试功 能 经济高效，功能多
高性能/材料/ 高温 多功能
E4991B
1M至3G
（%） （ģ） 0.65 （0.45， 120 m 至 52 k 3 典型值） 2（典型值） 1 至 2 k/5 至 20 k/1 m 至 5 3 （典型值）
LCR 元件测试、材料测试和 半导体测试 LCR 元件测试、PDN 测试
25 m 至 40 M 3
1.
基本阻抗精度是仪表工作在最佳状态下 的值 , 会随测量条件的改变而改变，详细 信息需要阅读具体产品的技术资料。 2. 只针对电容的测量。 3. 阻抗测量精度为 10% 的测试范围。
4. 产品特性代码的意义： A：内置等效电路分析 B：频率扫描测试和彩色 LCD 显示 C：点频测试和彩色 LCD 显示 D：点频测试和普通 LCD 显示
A、B
ABB
LCR 元件测试、材料测试和 半导体测试 在线测试、半导体测试
50 m 至 4 M 3
A、B
IV
140 m 至 4.8 k 3 C 4 m 至 100 M 3 10 fF 至 2 mF 3 D D
射频 I-V ABB ABB
LCR 元件测试 LCR 元件测试、材料测试和 半导体测试 MLCC
优点
03 | 是德科技 | LCR 表、阻抗分析仪和测试夹具 — 选型指南
– I-V 法适用的频率范围从 20 Hz 到 120 MHz， 能够测量的 阻抗范围要小一些， 另外也适用于用探头进行测量的在 线测试。 – RF I-V 法是 I-V 法的扩展， 在 I-V 法所适用的阻抗测试范围 内， 又增加了网络分析在高频测量时所具有的一些优点。 RF I-V 法是专为精确地分析和测量射频器件的高频特性而 设计的， 在测量小电感和小电容方面体现出优越的性能。 – 此外， 是德科技的网络分析仪提供了阻抗测量解决方案， 综 合运用三种测量方法 （反射、 串联直通和并联直通） 进行 S 参数和增益相位测量。
、U
、tand – 温度特征测量（选件 007）和可靠的晶圆上测量（选件 010）功能
– 测量速度： 3 ms~ / 点 （选件 120， 以及配有选件 001 的 选件 010/020/030/050）
1.
需要选件 001
05 | 是德科技 | LCR 表、阻抗分析仪和测试夹具 — 选型指南
阻抗测量范围（ő）
自动平衡桥法 I-V
介绍可以选择的所有产品和附件。
100K 10K 1K 100 10 1 100m 10m 1m 1 10 100 1K 10K 100K 1M 10M 100M 1G 10G
适合应用所需的频率范围：