现代材料研究方法习题
材料现代研究方法习题加答案-考试实用
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第二部分电子显微分析一、电子光学1、电子波特征,与可见光有何异同?2、电磁透镜的像差(球差;色差;像散;如何产生,如何消除和减少)球差即球面像差,是磁透镜中心区和边沿区对电子的折射能力不同引起的,其中离开透镜主轴较远的电子比主轴附近的电子折射程度过大。
用小孔径成像时可使球差明显减小。
像散是由于电磁透镜的轴向磁场非旋转对称引起。
透镜磁场不对称,可能是由于极靴被污染,或极靴的机械不对称性,或极靴材料各项磁导率差异引起。
象散可由附加磁场的电磁消象散器来校正。
色差是由入射电子的波长或能量的非单一性造成的。
稳定加速电压和透镜电流可减小色差。
3、电磁透镜的分辨率、景深和焦长(与可见光),影响因素电磁透镜的分辨率主要由衍射效应和像差来决定。
(1)已知衍射效应对分辨率的影响(2)像差对分辨的影响。
像差决定的分辨率主要是由球差决定的。
景深:当像平面固定时(像距不变),能维持物像清晰的范围内,允许物平面(样品)沿透镜主轴移动的最大距离。
焦长:固定样品的条件下(物距不变),象平面沿透镜主轴移动时仍能保持物像清晰的距离范围,用D L表示。
二、透射电子显微镜1、透射及扫描电镜成像系统组成及成像过程(关系)扫描电镜成像原理:在扫描电镜中,电子枪发射出来的电子束,一般经过三个电磁透镜聚焦后,形成直径为0.02~20μm的电子束。
末级透镜(也称物镜,但它不起放大作用,仍是一个会聚透镜)上部的扫描线圈能使电子束在试样表面上作光栅状扫描。
通常所用的扫描电镜图象有二次电子象和背散射电子象。
2、光阑(位置、作用)光栏控制透镜成像的分辨率、焦深和景深以及图像的衬度、电子能量损失谱的采集角度、电子衍射图的角分辨率等等。
防止照明系统中其它的辐照以保护样品等3、电子衍射与x衍射有何异同电子衍射与X射线衍射相比的优点:1.电子衍射能在同一试样上将形貌观察与结构分析结合起来。
2.电子波长短,单晶的电子衍射花样婉如晶体的倒易点阵的一个二维截面在底片上放大投影,从底片上的电子衍射花样可以直观地辨认出一些晶体的结构和有关取向关系,使晶体结构的研究比X射线简单。
材料现代研究方法
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第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是( B )A.X射线透射学;B.X射线衍射学;C.X射线光谱学;D.其它2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称( B )A.Kα;B. Kβ;C. Kγ;D. Lα。
3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选(C )A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。
4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()A.短波限λ0;B. 激发限λk;C. 吸收限;D. 特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)A.光电子;B. 二次荧光;C. 俄歇电子;D. (A+C)二、正误题1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。
(X )2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。
()3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。
()4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。
()5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。
()三、填空题1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。
2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、、、、。
3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。
4. X射线的本质既是波长极短的电磁波也是,具有波粒二象性性。
5. 短波长的X射线称软X射线,常用于;长波长的X射线称硬X射线,常用于。
1.X射线的本质是什么?它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在?用哪些物理量描述它?2.Ⅹ射线与物质有哪些相互作用?规律如何?对x射线分析有何影响?反冲电子、光电子和俄歇电子有何不同?3. 如果用1mm 厚的铅作防护屏,试求Cr K α和Mo K α的穿透系数。
4. 试计算Cu 的K 系激发电压。
(答案:8980Ⅴ)5. 试计算Cu 的K αl 射线的波长。
(答案:0.1541 nm ).第二章一、选择题1.有一倒易矢量为*+*+*=*c b a g 22,与它对应的正空间晶面是( )。
材料研究方法试题库
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第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是()A.X射线透射学;B.X射线衍射学;C.X射线光谱学;D.其它2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()A.Kα;B. Kβ;C. Kγ;D. Lα。
3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。
4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()A.短波限λ0;B. 激发限λk;C. 吸收限;D. 特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)A.光电子;B. 二次荧光;C. 俄歇电子;D. (A+C)二、正误题1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。
()2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。
()3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。
()4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。
()5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。
()三、填空题1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。
2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、、、、。
3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。
4. X射线的本质既是也是,具有性。
5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称,常用于。
习题1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?2. 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射;(2)用CuK βX 射线激发CuK α荧光辐射;(3)用CuK αX 射线激发CuL α荧光辐射。
3. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”?4. X 射线的本质是什么?它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在?用哪些物理量描述它?5. 产生X 射线需具备什么条件?6. Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中?7. 计算当管电压为50 kv 时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。
现代材料分析方法试题及答案
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现代材料分析方法试题3一、比较下列名词(每题 3分,共 15 分)1. X 射线和标识 X 射线,2.布拉格角和衍射角,3.静电透镜和磁透镜,4.原子核对电子的弹性散射和非弹性散射,5.热分析的热重法和热膨胀法二、填空(每空 1 分,共 20 分)1. X 射线衍射方法有、、和。
2.扫描仪的工作方式有和两种。
3. 在 X 射线衍射物相分析中,粉末衍射卡组是由委员会编制,称为卡片,又称为卡片。
4. 电磁透镜的像差有、、和。
5.透射电子显微镜的结构分为系统、系统和系统。
6. 影响差热曲线的因素有、、和。
三、回答下列问题(45 分)1. X 射线衍射分析可对无机非金属材料进行哪些分析、研究?(5 分)2. 在 X 射线衍射图中,确定衍射峰位的方法有哪几种?各适用于什么情况?(7 分)3. 在电子显微分析中,电子的波长是由什么决定的?电子的波长与该因素的关系怎样?关系式?(3 分)4. 扫描电镜对试样有哪些要求?块状和粉末试样如何制备?试样表面镀导电膜的目的?(8 分)5. 在透射电子显微分析中,电子图像的衬度有哪几种?分别适用于哪种试样和成像方法?(5 分) 6. 差热曲线中,如何确定吸热(放热)峰的起点和终点?起点和终点各代表什么意义?(5 分)7. 红外光谱分析主要用于哪几方面、哪些领域的研究和分析?红外光谱法有什么特点?(7 分)8. 光电子能谱分析的用途?可获得哪些信息?(5 分)现代材料科学研究方法试题3答案一、比较下列名词(每题 3 分,共 15 分)1. X 射线和标识 X 射线:X 射线:波长为0.01~1000Å 之间的电磁波,(1 分)标识 X 射线:只有当管电压超过一定的数值时才会产生,且波长与 X 射线管的管电压、管电流等工作条件无关,只决定于阳极材料,这种 X 射线称为标识X 射线。
(2 分)2. 布拉格角和衍射角:布拉格角:入射线与晶面间的交角,(1.5 分)衍射角:入射线与衍射线的交角。
材料研究方法试题库
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第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是()射线透射学;射线衍射学;射线光谱学;D.其它2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()A.Kα;B. Kβ;C. Kγ;D. Lα。
3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。
4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()A.短波限λ0;B. 激发限λk;C. 吸收限;D. 特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L 层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)A.光电子;B. 二次荧光;C. 俄歇电子;D. (A+C)二、正误题1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。
()2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。
()3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。
()4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。
()5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。
()三、填空题1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生 X射线和 X射线。
2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、、、、。
3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。
4. X射线的本质既是也是,具有性。
5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称,常用于。
习题1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?2. 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射;(2)用CuK βX 射线激发CuK α荧光辐射;(3)用CuK αX 射线激发CuL α荧光辐射。
3. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”?4. X 射线的本质是什么?它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在?用哪些物理量描述它?5. 产生X 射线需具备什么条件?6. Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中?7. 计算当管电压为50 kv 时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。
材料研究方法知识题库及答案
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材料研究方法知识题库及答案1、【单选题】由于近轴光线和远轴光线的折射程度不同,导致平面物体经透镜后形成曲面状的像称为( )A、像差B、球差C、像场弯曲D、色差答案:像场弯曲--------------------------------2、【单选题】由于透镜的中心区域和边缘区域对光的折射能力不符合预定规律而造成的图像模糊现象称为( )。
A、像差B、球差C、像散D、色差答案:球差--------------------------------3、【单选题】因光源的( )而导致图像模糊不清的现象称为色差。
A、波长长B、波长短C、波长有差异答案:波长有差异--------------------------------4、【单选题】光学显微镜具有( )放大功能。
A、一级B、二级C、三级答案:二级--------------------------------5、【单选题】成像物体上能分辨出来的两物点间的最小距离称为( )A、分辨率B、有效放大倍数C、景深答案:分辨率--------------------------------6、【单选题】光学显微镜的极限分辨能力为( )。
A.400nmB.400μmC.200nmD.200μm答案:C--------------------------------7、【单选题】金相显微镜的物镜放大倍数为100倍时,其景深有可能是( )A、1nmB、1μmC、1cmD、1dm答案:1μm--------------------------------8、【单选题】硬度最高的磨料是( )。
A、氧化铝B、氧化镁C、氧化锆D、碳化硅答案:碳化硅--------------------------------9、【单选题】取样后,对金相磨面方向没有要求的材料是( )。
A、轧制钢板B、渗碳小工件C、薄壁铸件D、经均匀化退火后的大型工件答案:经均匀化退火后的大型工件--------------------------------10、【多选题】会导致景深变小的因素有( )。
《材料现代研究方法》复习题及答案
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10.在选择滤波片时,当靶材原子序数Z靶<40时,Z滤波片=(Z靶-1);
Z靶≥40时,Z滤波片=(Z靶-2)
11.德拜相机底片的安装方法包括(正装法)、(反装法)、(不对称安装),其中(不对称安装)比较常用。
12.X-Ray衍射仪的结构主要包括(X-Ray发生装置)、(测角仪)、(X-Ray探测器)、(记录系统)。
七试推导内标法的基本公式并说明其意义。
设n个相的质量分别为W1 W2 W3…..Wn,总质量为W= W1+W2+W3…..+Wn,试样中加入的标准物质为S,其质量为Ws。第j相质量为Wj。 为第j相在为加入标准物质时的质量分数, ,为加入标准物质之后的质量分数, 为s相在新式样中的质量分数。
,
则 ,
4.什么是热分析参比物?选用原则是什么?经常用的参比物有哪些?
参比物是在测定条件下不产生任何热效应的惰性物质,应选择整个测温范围无热反应、比热与导热性及粒度与试样相近的作为参比物,如α-Al2O3(经1270K煅烧的高纯氧化铝粉,α-Al2O3晶型)
5.什么是磁透镜的像差?有哪些种类?其形成原因和减少的措施是什么?
名词解释有错的地方说一下啊
x-ray强度:单位时间内通过垂直于X-ray传播方向的单位截面的X-ray的能量
吸收限:物质的质量吸收系数随波长 变化发生突变时的临界波长
结构消光:由两个以上等同点构成的复杂晶体,除了遵守各自所属的点阵消光外还会附加的消光
景深:成像时像平面不动,在满足成像清晰的前提下,物平面沿轴线前后可移动的距离
像差是指从物平面上一点散射出来的电子束不一定全部汇聚一点,或物平面上各点并不是按比例成像于同一像平面而导致图像模糊不清或与原物几何形状不成比例的现象。包括几何相差和色差。几何相差主要包括球差和像散。球差是由于电磁透镜磁场对近轴电子和远轴电子的会聚能力不同引起的,可通过减小电磁透镜孔径角来改善。像散是由于透镜的磁场不是旋转对称磁场引起的,可加装消像散器来改善。色差是由于入射电子的波长不单一引起的,可通过稳定电压与电流、减小试样厚度来改善。
材料的现代分析方法 测试题及答案
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2
答:⑴ 当χ射线通过物质时,物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动,受迫 振 动产生交变电磁场, 其频率与入射线的频率相同, 这种由于散射线与入射线的波 长和频率一 致,位相固定,在相同方向上各散射波符合相干条件,故称为相干散射。 ⑵ 当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后,可以得到波长比入射χ射线长的χ 射 线,且波长随散射方向不同而改变,这种散射现象称为非相干散射。 ⑶ 一个具有足够能量的χ射线光子从原子内部打出一个 K 电子,当外层电子来填充 K 空位 时,将向外辐射 K 系χ射线,这种由χ 射线光子激发原子所发生的辐射过程, 称荧光辐射。 或二次荧光。 ⑷ 指χ射线通过物质时光子的能量大于或等于使物质原子激发的能量, 如入射光子的能 量 必须等于或大于将 K 电子从无穷远移至 K 层时所作的功 W, 称此时的光子波长 λ称为 K 系的 吸收限。 ⑸ 当原子中 K 层的一个电子被打出后,它就处于 K 激发状态,其能量为 Ek 。如果 一个 L 层 电子来填充这个空位,电离就变成了 L 电离, K 其能由 Ek 变成 El ,此 时将释 Ek-El 的能量, 可能产生荧光χ射线,也可能给予 L 层的电子,使其脱离原子 产生二次电离。 即 K 层的一个 空位被 L 层的两个空位所替代, 这种现象称俄歇效应。 29.Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中? 答:波动性 主要表现为以一定的频率和波长在空间传播,反映了物质运动的连续性;微粒性 主要表现 为以光子形式辐射和吸收时具有一定的质量, 能量和动量, 反映了物质运动的分立性。 30.计算当管电压为 50 kv 时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱 的波限和光子的最大动能。 解: 已知条件:U=50kv -31 电子静止质量:m0=9.1×10 kg 8 光速:c=2.998×10 m/s -19 电 子电量:e=1.602×10 C -34 普朗克常数:h=6.626×10 J.s 电子从阴极飞出到达靶的过程中所 获得的总动能为 -19 -18 E=eU=1.602×10 C×50kv=8.01×10 kJ 2 由于 E=1/2m0v0 所以电子 与靶碰撞时的速度为 1/2 6 v0=(2E/m0) =4.2×10 m/s 所发射连续谱的短波限 λ0 的大小仅取 决于加速电压 λ0(?)=12400/v(伏) =0.248? 辐射出来的光子的最大动能为 -15 E0 =h?0 =hc/λ0=1.99×10 J 31.为什么会出现吸收限?K 吸收限为什么只有一个而 L 吸收限有三个?当激发 K 系荧光Ⅹ 射线时,能否伴生 L 系?当 L 系激发时能否伴生 K 系? 答:一束 X 射线通 过物体后,其强度将被衰减,它是被散射和吸收的结果。并且吸收是造成 强度衰减的主要 原因。 物质对 X 射线的吸收, 是指 X 射线通过物质对光子的能量变成了其他 形成的能 量。X 射线通过物质时产生的光电效应和俄歇效应,使入射 X 射线强度被衰减,是 物质 对 X 射线的真吸收过程。 光电效应是指物质在光子的作用下发出电子的物理过程。 因为 L 层有三个亚层,每个亚层的能量不同,所以有三个吸收限,而 K 只是一层,所以 只有一 个吸收限。 激发 K 系光电效应时, 入射光子的能量要等于或大于将 K 电子从 K 层移 到无穷远时所做 的功 Wk。从 X 射线被物质吸收的角度称入 K 为吸收限。当激发 K 系 荧光 X 射线时,能伴生 L 系, 因为 L 系跃迁到 K 系自身产生空位,可使外层电子迁入, 而 L 系激发时不能伴生 K 系。 32.物相定量分析的原理是什么?试述用 K 值法进行物相定量分析的过程。 答:根 据 X 射线衍射强度公式,某一物相的相对含量的增加,其衍射线的强度亦随之增加, 所 以通过衍射线强度的数值可以确定对应物相的相对含量。 由于各个物相对 X 射线的吸收 影 响不同,X 射线衍射强度与该物相的相对含量之间不成线性比例关系,必须加以修正。 这是内标法的一种,是事先在待测样品中加入纯元素,然后测出定标曲线的斜率即 K 值。 当要进行这类待测材料衍射分析时,已知 K 值和标准物相质量分数ωs ,只要测出 a 相 强 度 Ia 与标准物相的强度 Is 的比值 Ia/Is 就可以求出 a 相的质量分数ωa。
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材料现代分析方法试题库一、填空1、第一个发现X射线的科学家是,第一个进行X射线衍射实验的科学家是 02、X射线的本质是 ,其波长为 o3、X射线本质上是一种,它既具有性,又具有性,X射线衍射分析是利用了它的 o4、特征X射线的波长与和无关。
而与有关。
5、X射线一方面具有波动性,表现为具有一定的,另一方面又具有粒子性,体现为具有一定的,二者之间的关系为。
6、莫塞来定律反映了材料产生的与其的关系。
7、从X射线管射出的X射线谱通常包括和 o8、当高速的电子束轰击金属靶会产生两类X射线,它们是和,其中在X射线粉末衍射中采用的是。
9、特征X射线是由元素原子中引起的,因此各元素都有特定的和电压,特征谱与原子序数之间服从定律。
10、同一元素的入入Kq、入邓的相对大小依次为;能量从小到大的顺序是。
(注:用不等式标出)11、 X射线通过物质时,部分X射线将改变它们前进的方向,即发生散射现象。
X 射线的散射包括两种:和 o12、hu+kv+lw=0关系式称为,若晶面(hkl)和晶向[uvw]满足该关系式,表明°15、倒易点阵是由晶体点阵按照次」一.''。
j)式中,为倒易点阵基矢,可为正点阵基矢的对应关系建立的空间点阵。
在这个倒易点阵中,倒易矢量「加的坐标表达式为,其基本性质为14、X射线在晶体中产生衍射时,其衍射方向与晶体结构、入射线波长和入射线方位间的关系可用、、和四种方法来表达。
15、当波长为A的X射线照射到晶体并出现衍射线时,相邻两个(hkl)反射线的波程差是,相邻两个(HKL)反射线的波程差是 o16、布拉格公式X=2dsin0中X表示, d表示,0表示。
17、获得晶体衍射花样的三种基本方法是、、18、获得晶体衍射花样三种基本的方法中,劳埃法是通过改变来获得衍射花样的,主要用于判断;旋转单晶法是旋转晶体,改变_______________________ 来获得衍射花样的,主要用于研究;粉末法是通过单色X射线照射多晶体样品,改变__________________ 来产生衍射的,测定样品的 o19、当X射线照射在一个晶体时,产生衍射的必要条件是,而产生衍射的充要条件是。
材料现代分析方法试题5(答案)精选全文完整版
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可编辑修改精选全文完整版材料现代分析方法试题5(答案)材料现代分析方法试题10(参考答案)一、基本概念题(共10题,每题5分)1.“一束X射线照射一个原子列(一维晶体),只有镜面反射方向上才有可能产生衍射线”,此种说法是否正确?答:不正确,因为一束X射线照射一个原子列上,原子列上每个原子受迫都会形成新的X射线源向四周发射与入射光波长一致的新的X射线,只要符合光的干涉三个条件(光程差是波长的整数倍),不同点光源间发出的X射线都可产生干涉和衍射。
镜面反射,其光程差为零,是特殊情况。
2.什么叫干涉面?当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射,相邻两个(hkl)晶面的波程差是多少?相邻两个(HKL)晶面的波程差是多少?答:晶面间距为d’/n、干涉指数为nh、nk、nl的假想晶面称为干涉面。
当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射,相邻两个(hkl)晶面的波程差是nλ,相邻两个(HKL)晶面的波程差是λ。
3.谢乐公式B=kλ/tcosθ中的B、λ、t、θ分别表示什么?该公式用于粒径大小测定时应注意哪些问题?答:B为半高宽或峰的积分宽度,λ为入射X射线波长,t为粒径大小,θ为表示选用X射线位置①这是运用X射线来测定晶粒大小的一个基本公式。
B为衍射峰的宽,t表示晶粒的大小。
可见当晶粒变小时,衍射峰产生宽化。
一般当晶粒小于10-4cm时,它的衍射峰就开始宽化。
因此式适合于测定晶粒<10-5cm,即100纳米以下晶粒的粒径。
因此,它是目前测定纳米材料颗粒大小的主要方法。
虽然精度不很高,但目前还没有其它好的方法测定纳米级粒子的大小。
②一般情况下我们的样品可能不是细小的粉末,但实际上理想的晶体是不存在的,即使是较大的晶体,它经常也具有镶嵌结构在,即是由一些大小约在10-4cm,取向稍有差别的镶嵌晶块组成。
它们也会导到X射线衍射峰的宽化。
4.试述极图与反极图的区别?答:极图是多晶体中某{hkl}晶面族的倒易矢量(或晶面法线)在空间分布的极射赤面投影图。
材料现代分析方法试题3(参考答案)
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材料现代分析方法试题6(参考答案)一、基本概念题(共10题,每题5分)1.试述获取衍射花样的三种基本方法及其用途?答:获取衍射花样的三种基本方法是劳埃法、旋转晶体法和粉末法。
劳埃法主要用于分析晶体的对称性和进行晶体定向;旋转晶体法主要用于研究晶体结构;粉末法主要用于物相分析。
2.试述布拉格公式2dHKLsinθ=λ中各参数的含义,以及该公式有哪些应用?答:d HKL表示HKL晶面的面网间距,θ角表示掠过角或布拉格角,即入射X射线或衍射线与面网间的夹角,λ表示入射X射线的波长。
该公式有二个方面用途:(1)已知晶体的d值。
通过测量θ,求特征X射线的λ,并通过λ判断产生特征X射线的元素。
这主要应用于X射线荧光光谱仪和电子探针中。
(2)已知入射X射线的波长,通过测量θ,求晶面间距。
并通过晶面间距,测定晶体结构或进行物相分析。
3.试述罗伦兹三种几何因子各表示什么?答:洛伦兹因数第一种几何因子是表示样品中参与衍射的晶粒大小对衍射强度的影响。
,第二种几何因子是表示样品中参与衍射的晶粒的数目对衍射强度的影响,第三种几何因子是表示样品中衍射线位置对衍射强度的影响。
4.在一块冷轧钢板中可能存在哪几种内应力?它们的衍射谱有什么特点?答:在一块冷轧钢板中可能存在三种内应力,它们是:第一类内应力是在物体较大范围内或许多晶粒范围内存在并保持平衡的应力。
称之为宏观应力。
它能使衍射线产生位移。
第二类应力是在一个或少数晶粒范围内存在并保持平衡的内应力。
它一般能使衍射峰宽化。
第三类应力是在若干原子范围存在并保持平衡的内应力。
它能使衍射线减弱。
5.设[uvw]是(hkl)的法线,用正、倒空间的变换矩阵写出它们之间的指数互换关系。
答:[uvw]=〔G〕[u*v*w*]其中[]⎥⎥⎥⎦⎤⎢⎢⎢⎣⎡=333231232221131211A A A A A A A A A G ,()()⎩⎨⎧=≠=⋅j i j i a a j i 10* 6.给出简单立方、面心立方、体心立方以及密排六方晶体结构电子衍射发生消光的晶面指数规律。
材料研究方法课后习题答案jd1-3
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§1-3.材料研究方法是如何分类的?如何理解现代研究方法的重要性?
答:(1)现代材料研究方法主要采用仪器分析的手段,它们按信息形式可分为图象分析法和非图象分析法。
图像研究法是材料结构分析的重要研究手段,主要分为形态学和体视学研究。
形态学是研究材料中组成相的几何形状及其变化,进一步探究它们与生产工艺及材料性能间关系的科学。
体视学是研究材料中组成相的二维形貌特征,通过结构参数的测量,确定各物相三维空间的颗粒的形态和大小以及各相百分含量。
非图像分析法分为衍射法和成分谱分析,前者主要用来研究材料的结晶相及其晶格常数,后者主要测定材料的化学成分。
衍射法包括X射线衍射、电子衍射和中子衍射等三种分析方法。
成分谱用于材料的化学成分分析,成分谱种类很多,有光谱,包括紫外光谱、红外光谱、荧光光谱、激光拉曼光谱等,色谱,包括气相色谱、液相色谱、凝胶色谱等,热谱,包括差热分析仪、热重分析仪、示差扫描量热计等;此外,还有原子吸收光谱,质谱等。
(2)研究材料必须以正确的研究方法为前提。
研究方法,从广义来讲,包括技术路线、实验技术、数据分析等。
具体来说,就是在充分了解所研究对象所处的现状的基础上,根据具体目标,详细制定研究内容、工作步骤及所采用的实验手段,并将实验获得的数据进行数学分析和处理,最后得出规律或建立数学模型。
其中,技术路线的制定是至关重要的,实验方法的选择也是非常关键的。
譬如说,虽然制定出完整的技术路线,但若没有相应的实验方法或先进的测试手段与之对应,则难以达到预期的目的;反过来,若仅有先进的测试手段,而没有正确的技术路线,也同样难以达到预期目的;两者相辅相成,缺一不可。
材料现代分析方法练习题及答案(XRD-EBSD-TEM-SEM-表面分析)
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材料现代分析方法练习题及答案(XRD-EBSD-TEM-SEM-表面分析)8. 什么是弱束暗场像?与中心暗场像有何不同?试用Ewald图解说明。
答:弱束暗场像是通过入射束倾斜,使偏离布拉格条件较远的一个衍射束通过物镜光阑,透射束和其他衍射束都被挡掉,利用透过物镜光阑的强度较弱的衍射束成像。
与中心暗场像不同的是,中心暗场像是在双光束的条件下用的成像条件成像,即除直射束外只有一个强的衍射束,而弱束暗场像是在双光阑条件下的g/3g的成像条件成像,采用很大的偏离参量s。
中心暗场像的成像衍射束严格满足布拉格条件,衍射强度较强,而弱束暗场像利用偏离布拉格条件较远的衍射束成像,衍射束强度很弱。
采用弱束暗场像,完整区域的衍射束强度极弱,而在缺陷附近的极小区域内发生较强的反射,形成高分辨率的缺陷图像。
图:PPT透射电子显微技术1页10. 透射电子显微成像中,层错、反相畴界、畴界、孪晶界、晶界等衍衬像有何异同?用什么办法及根据什么特征才能将它们区分开来?答:由于层错区域衍射波振幅一般与无层错区域衍射波振幅不同,则层错区和与相邻区域形成了不同的衬度,相应地出现均匀的亮线和暗线,由于层错两侧的区域晶体结构和位相相同,故所有亮线和暗线的衬度分别相同。
层错衍衬像表现为平行于层错面迹线的明暗相间的等间距条纹。
孪晶界和晶界两侧的晶体由于位向不同,或者还由于点阵类型不同,一边的晶体处于双光束条件时,另一边的衍射条件不可能是完全相同的,也可能是处于无强衍射的情况,就相当于出现等厚条纹,所以他们的衍衬像都是间距不等的明暗相间的条纹,不同的是孪晶界是一条直线,而晶界不是直线。
反相畴界的衍衬像是曲折的带状条纹将晶粒分隔成许多形状不规则的小区域。
层错条纹平行线直线间距相等反相畴界非平行线非直线间距不等孪晶界条纹平行线直线间距不等晶界条纹平行线非直线间距不等11.什么是透射电子显微像中的质厚衬度、衍射衬度和相位衬度。
形成衍射衬度像和相位衬度像时,物镜在聚焦方面有何不同?为什么?答:质厚衬度:入射电子透过非晶样品时,由于样品不同微区间存在原子序数或厚度的差异,导致透过不同区域落在像平面上的电子数不同,对应各个区域的图像的明暗不同,形成的衬度。
现代材料分析方法试题及答案
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一、单项选择题(每题 2 分,共 10 分)1.成分和价键分析手段包括【 b 】(a)WDS、能谱仪(EDS)和 XRD (b)WDS、EDS 和 XPS(c)TEM、WDS 和 XPS (d)XRD、FTIR 和 Raman2.分子结构分析手段包括【 a 】(a)拉曼光谱(Raman)、核磁共振(NMR)和傅立叶变换红外光谱(FTIR)(b)NMR、FTIR 和 WDS(c)SEM、TEM 和 STEM(扫描透射电镜)(d) XRD、FTIR 和 Raman3.表面形貌分析的手段包括【 d 】(a)X 射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM) (b) SEM 和透射电镜(TEM)(c) 波谱仪(WDS)和 X 射线光电子谱仪(XPS) (d) 扫描隧道显微镜(STM)和SEM4.透射电镜的两种主要功能:【 b 】(a)表面形貌和晶体结构(b)内部组织和晶体结构(c)表面形貌和成分价键(d)内部组织和成分价键5.下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括:【 c 】(a)–C-H、–OH 和–NH2 (b) –C-H、和–NH2,(c) –C-H、和-C=C- (d) –C-H、和 CO二、判断题(正确的打√,错误的打×,每题 2 分,共 10 分)1.透射电镜图像的衬度与样品成分无关。
(×)2.扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。
(√)3.透镜的数值孔径与折射率有关。
(√)4.放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。
(×)5.在样品台转动的工作模式下,X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。
(√)三、简答题(每题 5 分,共 25 分)1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关?为什么?和所用的信号种类和束斑尺寸有关,因为不同信号的扩展效应不同,例如二次电子产生的区域比背散射电子小。
束斑尺寸越小,产生信号的区域也小,分辨率就高。
2.原子力显微镜的利用的是哪两种力,又是如何探测形貌的?范德华力和毛细力。
习题集-材料现代研究方法151217汇总
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习题集-材料现代研究方法151217汇总第一章 X 射线衍射分析1、什么是X 射线?什么是特征X 射线(标识X 射线)谱?特征X 射线可用于对材料进行哪两方面的分析?X 射线与可见光一样,也是电磁波,其波长范围在0.001nm~100nm 之间;在X 射线谱中,有若干条特定波长的谱线,这些谱线只有当管电压超过一定的数值时才会产生,而这种谱线的波长与管电压、管电流等工作条件无关,只决定于阳极材料,不同元素制成的阳极材料发出不同波长的谱线,因此称之为特征X 射线谱或标识X 射线谱。
特征X 射线谱—元素分析——电子探针X 射线显微分析的依据。
2、根据波尔的原子结构壳层模型,阐述K 系特征X 射线的产生(画图说明)。
3、推导莫塞来定律。
4、什么是X 射线强度?X 射线作为一种电磁波,在其传播过程中是携带着一定的能量的,多带能量的多少,即表示其强弱的程度。
208E c I π= 5、X 射线衍射分析在无机非金属材料研究中有哪些应用?(1)物相分析:定性、定量(2)结构分析:a 、b 、c 、α、β、γ、d (3)单晶分析:对称性、晶面取向—晶体加工、籽晶加工(4)测定相图、固溶度(5)测定晶粒大小、应力、应变等情况6、X 射线管中焦点的形状分为哪两种?各适用于什么分析方法?点焦点,照相法;线焦点,衍射仪法。
7、目前常用的X 射线管有哪两种?封闭式X 射线管,旋转阳极X 射线管。
8、元素对X 射线的吸收限?简述元素X 射线吸收限的形成机理。
9、单色X 射线采用的阳极靶材料的哪种特征X 射线、滤波片材料的原子序数与阳极靶材料的原子序数关系如何?滤波片吸收限λk 与阳极靶材料的特征X 射线波长是什么关系?采用K α射线;滤波片材料的原子序数一般比X 射线管把材料的原子序数小1或210、K α是由那两条X 射线合成的?怎样合成的?11、X 射线与物质相互作用时,产生哪两种散射?各有什么特点?哪种散射适用于X 射线衍射分析?相干散射,非相干散射。
现代材料分析方法试题及答案3
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现代材料分析方法试题及答案3现代材料分析方法试题3一、比较下列名词(每题 3分,共 15 分)1. X 射线和标识X 射线,2.布拉格角和衍射角,3.静电透镜和磁透镜,4.原子核对电子的弹性散射和非弹性散射,5.热分析的热重法和热膨胀法二、填空(每空 1 分,共20 分)1. X 射线衍射方法有、、和。
2.扫描仪的工作方式有和两种。
3. 在X 射线衍射物相分析中,粉末衍射卡组是由委员会编制,称为卡片,又称为卡片。
4. 电磁透镜的像差有、、和。
5.透射电子显微镜的结构分为系统、系统和系统。
6. 影响差热曲线的因素有、、和。
三、回答下列问题(45 分)1. X 射线衍射分析可对无机非金属材料进行哪些分析、研究?( 5 分)2. 在X 射线衍射图中,确定衍射峰位的方法有哪几种?各适用于什么情况?(7 分)3. 在电子显微分析中,电子的波长是由什么决定的?电子的波长与该因素的关系怎样?关系式?( 3 分)4. 扫描电镜对试样有哪些要求?块状和粉末试样如何制备?试样表面镀导电膜的目的?(8 分)5. 在透射电子显微分析中,电子图像的衬度有哪几种?分别适用于哪种试样和成像方法?( 5 分) 6. 差热曲线中,如何确定吸热(放热)峰的起点和终点?起点和终点各代表什么意义?( 5 分)7. 红外光谱分析主要用于哪几方面、哪些领域的研究和分析?红外光谱法有什么特点?(7 分)8. 光电子能谱分析的用途?可获得哪些信息?( 5 分)现代材料科学研究方法试题3答案一、比较下列名词(每题 3 分,共15 分)1. X 射线和标识X 射线:X 射线:波长为0.01~1000? 之间的电磁波,(1 分)标识X 射线:只有当管电压超过一定的数值时才会产生,且波长与X 射线管的管电压、管电流等工作条件无关,只决定于阳极材料,这种X 射线称为标识X 射线。
(2 分)2. 布拉格角和衍射角:布拉格角:入射线与晶面间的交角,(1.5 分)衍射角:入射线与衍射线的交角。
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第一章1.什么是连续X射线谱?为什么存在短波限λ0?答:对X射线管施加不同的电压,再用适当的方法去测量由X射线管发出的X射线的波长和强度,便会得到X射线强度与波长的关系曲线,称之为X射线谱。
在管电压很低,小于20kv时的曲线是连续的,称之为连续谱。
大量能量为eV的自由电子与靶的原子整体碰撞时,由于到达靶的时间和条件不同,绝大多数电子要经过多次碰撞,于是产生一系列能量为hv的光子序列,形成连续的X射线谱,按照量子理论观点,当能量为eV的电子与靶的原子整体碰撞时,电子失去自己的能量,其中一部分以光子的形式辐射出去,在极限情况下,极少数的电子在一次碰撞中将全部的能量一次性转化为一个光量子,这个光量子具有最高的能量和最短的波长,即λ0。
2.什么是特征X射线?它产生的机理是什么?为什么存在激发电压Vk?答:当X射线管电压超过某个临界值时,在连续谱的某个波长处出现强度峰,峰窄而尖锐,这些谱线之改变强度,而峰位置所对应的波长不便,即波长只与靶的原子序数有关,与电压无关,因为这种强度峰的波长反映了物质的原子序数特征,故称为特征X射线,由特征X射线构成的X射线谱叫做特征X射线谱。
它的产生是与阳极靶物质的原子结构紧密相关当外来的高速粒子(电子或光子)的动能足够大时,可以将壳层中的某个电子击出,或击到原子系统之外,击出原子内部的电子形成逸出电子,或使这个电子填补到未满的高能级上。
于是在原来位置出现空位,原子系统处于激发态,高能级的电子越迁到该空位处,同时将多余的能量e=hv=hc/λ释放出来,变成光电子而成为德特征X射线。
由于阴极射来的电子欲击出靶材的原子内层电子,比如k层电子,必须使其动能大于k 层电子与原子核的结合能Ek或k层的逸出功Wk。
即有eV k=1/2mv2〉-Ek=Wk,故存在阴极电子击出靶材原子k电子所需要的临界激发电压Vk。
3、X射线与物质有哪些互相作用?答;X射线的散射:相干散射,非相干散射X射线的吸收:二次特征辐射(当入射X射线的能量足够大时,会产生二次荧光辐射);光电效应:这种以光子激发原子所产生的激发和辐射过程;俄歇效应:当内层电子被击出成为光电子,高能级电子越迁进入低能级空位,同时产生能量激发高层点成为光电子。
4、线吸收系数μl和质量吸收系数μm的含义答:线吸收系数μl:在X射线的传播方向上,单位长度的X射线强度衰减程度[cm-1](强度为I的入射X射线在均匀物质内部通过时,强度的衰减率与在物质内通过的距离x成正步-dI/I=μdx,强度的衰减与物质内通过的距离x成正比)。
与物质种类、密度、波长有关。
质量吸收系数μm:他的物理意义是单位重量物质对X射线的衰减量,μ/P=μm[cm2/g]与物质密度和物质状态无关,而与物质原子序数Z和μm=kλ3Z3,X射线波长有关。
5、什么是吸收限?为什么存在吸收限?答:1)当入射光子能量hv刚好击出吸收体的k层电子,其对应的λk为击出电子所需要的入射光的最长波长,在光电效应产生的条件时,λk称为k系激发限,若讨论X射线的被物质吸收时,λk又称为吸收限。
当入射X射线,刚好λ=λk时,入射X射线被强烈的吸收。
当能量增加,即入射λ〉λk时,吸收程度小。
6、如何选择滤波片和阳极靶?为什么?答:质量吸收系数为μm,吸收限为λk的物质,可以强烈的吸收λ〈=λk的入射X射线,在X射线衍射分析中,希望得到单色的入射X射线,因此需要将k系特征谱线滤掉一条。
由于Kβ谱线波长更短,能量更高,可以选择吸收限λk刚好位于辐射源的Kα,Kβ之间的金属薄片作为滤波片,这样就能滤掉Kβ,而保留Kα,铝箔片如果太厚对Kα也会有吸收。
在X射线衍射实验,若产生荧光X射线,对衍射分析不利。
针对试样的原子序数,可以调整靶材种类避免产生荧光辐射,若试样的K系吸收限为λk,应选择靶的Kα波长稍稍大于λk,,并尽量靠近λk,这样可产生K系荧光,而且吸收又最小,Z靶〈=Z试样+1第二章1、推到布拉格方程,说明干涉面及其指数HKL的含义,衍射极限条件是什么?答:根据波动光学理论,要产生干涉,则必须由两束光线的光程差为波长为波长的整数倍,故有2dsinθ=nλ(n=1、2、3……)这是晶面间距为1/n的实际存在或不存在的假象晶面的一级反射,将这个晶面叫干涉面。
其晶面指数称为干涉指数,一般用HKL表示,H=nh,K=nk,L=nl,干涉指数和晶面指数的明显差别是,干涉指数有公约数,λ〈2d'产生衍射的条件极限条件:晶面间距〉=半波长才能产生衍射角。
2、什么是劳埃法,周转晶体法,详细说明多晶(粉末)法的原理答:劳埃法:用连续谱(波长不变)照不动(入射角不变)的单晶体而产生衍射的方法。
周转晶体法:用单色X射线照射旋转的单晶体产生衍射的方法(波长不变)。
多晶法:用单色的X射线照射多晶体试样,利用晶粒的不同取向来改变入射角,以满足布拉格方程。
把单晶体研磨成粉末,就有足够多的(hkl)晶面,在2θ方向上产生衍射,衍射线形成单晶体旋转的衍射圆锥。
第三章3、简要总结一个电子、原子、晶胞、单晶体、多晶体衍射强度思路——〉反射强度与引起散射的粒子两的平方成反比振动因子取决于2θ。
答:1)一个电子将X射线散射后,在距电子为R处的强度为I e=I0[e2/(4πε0mc2)][(1+(cos2θ)2)/2]。
2)一个原子:Ia<ZIe,引入系数f为原子散射因子,f=Au/Ae=(Iu/Ie)0.5,评价原子散射能力。
3)晶胞:F=A0/Ae=∑fie iφ,A0为一个单胞内所有原子散射的相干散射波振幅,Ae 为一个电子系的相干散射波振幅,F-以一个散射波振幅为单位所表征的晶胞散射波振幅,F hkl=fj(sinθ/λ)4)单晶体:Ic=Ie|F hkl|2|G|25)多晶体:4、点阵体心和旋点原子种类不同时,消光条件有什么变化?答:|F hkl|与晶胞内原子的种类、原子个数、原子位置有关。
1)体心:h+k+l=偶数时不消光,为奇数时消光2)面心:h、k、l为同性数时,即h+k,k+l,h+l为偶数时不消光。
不同原子、散射因子f不同,从而结构因子不同,消光规律和发射强度都发生变化5、试述干涉函数的意义答:干涉函数|G|2表示衍射线自身的强度分度,在hkl倒易点阵周围|G|2不等于0的区域成为选择反射区,选择反射区中心是严格满足布拉格方程的倒易点hkl,反射球与选择反射区任何部位相交都能产生衍射。
6、说明选择反射区与实际晶体之间的联系答:在hkl倒易点周围|G|2不等于0的区域成为选择反射区。
选择反射区中心(倒易点上)是严格满注布拉格方程的倒易点hkl,反射球与选择反射区任何部位相交产生衍射。
倒易点阵是与正点阵相对应量纲为长度倒数的一个三维空间点阵,在倒易空间中,hkl 倒易点周围|G|2不等于0。
电子衍射斑点就是与晶体相对应的倒易点阵中某一截面上点阵排列的点。
第七章1、电子波有何特征?与可见光有何异同?电子显微镜的照明源是电子波,电子波的波长比可见光短十万倍,电子波的波长取决于电子运动的速度和质量λ=h/mv2、分析电磁透镜对电子波的聚焦原理,说明电磁透镜的结构对聚焦能力的影响答:电磁透镜是利用磁场来使电子波聚焦成像的,其焦距总是正的,焦距f=kU r/(IN)2,改变激磁电流,电磁透镜的焦距和放大倍数将发生相应变化,是一种变焦距倍率的会聚透镜。
3、电磁透镜的像差是怎么产生的,如何来消除和减少像差?答:像差分为两类,即几何像差和色差。
几何像差是因为透镜磁场的几何形状上的缺陷造成的。
几何像差主要是指球差和象散;色差是由于电子波的波长或能量发生一定幅度的改变而造成的。
球差是球面像差可,是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律而造成的。
用小孔径角成像时,可使球差明显减小。
象散是由透镜磁场的非旋转对称而引起的,可以通过“消象散器”消除。
色差是由于入射电子波长(或能量)的非均一性造成的,可采取稳定加速电压的方法减小色差。
4、说明影响光学显微镜和电磁透镜分辨率的关键因素是什么?如何提高电磁透镜的分辨率?答:是衍射效应和球差,Δr0=0.61λ/(Nsinα),孔径角α越大,Δr0越小,分辨率越高,但关键是确定最佳的孔径半角α0,使得衍射效应Airy斑和球差散焦斑尺寸大小相等。
5、景深受什么因素的影响?焦长受什么因素影响?景深和焦长改变是什么因素影响的结果?假设电磁透镜没有像差,也没有Airy斑,即分辨率极高,此时它的景深和焦长如何。
答:景深是受孔径半角α影响;焦长主要受孔径半角的影响(在放大倍数和分辨率本领一定时)。
电磁透镜的景深大,焦长长时孔径半角小的结果。
Df=2Δr o/α,Dl=2Δr o M2/α此时,他的景深大,焦距长,M-为透镜放大倍数。
第八章1、透射电镜主要由哪几大系统构成?各系统之间关系如何?答:透射电镜主要由电子光学系统,电源与控制系统及真空系统构成。
电子显微镜工作时,整个电子通道都是必须置于真空系统之内的;电子光学系统是透射电镜的核心,包括照明系统,成像系统和观察系统;电源与控制系统对整个透射电镜提供能源,并控制操作过程。
2、照明系统的作用是什么?它应满足什么要求?答:其作用是提供一束高亮度,照明孔径角小,平行度好、束流稳定的照明源。
为满足明场和暗场成像需要,照明束可在2~3度范围内倾斜。
3、成像系统的主要构成及其特点是什么?答:成像系统主要是由物镜、中间镜和投影镜组成物镜是一个强激磁短焦距的透镜,用来形成第一幅高分辨率电子显微图像或电子衍射图像的透镜。
(图像清晰度决定于物镜)中间镜是一个弱激磁长焦距变倍透镜,用来控制电镜的总放大倍数。
投影镜是一个短焦距的强磁透镜,其景深和焦长都非常大。
即使改变中间镜的放大倍数,使显微镜的总放大倍数有很大的变化,也不会影响图像的清晰度。
作用,把中间镜放大的作用进一步放大,并投放到荧光屏上。
5、分别说明成像操作和衍射操作的方法,并画出光路图答:成像操作:中间镜的平面和物镜像平面重合,荧光屏上得到一幅放大的像。
衍射操作:中间镜的物平面和物镜的背焦面重合,荧光屏上得到一幅电子衍射花样。
6、样品台的结构与功能如何?它应满足那些要求?答:样品台上有外径为3mm的样品铜网,铜网有许多网孔(根据不同要求就要不同的晶粒)样品台的作用就是承载样品,并使样品能在物镜极靴孔内平移,倾斜,旋转以选择感兴趣的样品区域或位相进行观察分析。
对样品台的要求是非常严格的。
首先必须使样品铜网牢固地夹持在样品座中并保持良好的热电接触,减小因电子照射引起的热或电荷堆积而产生样品的损伤或图像漂移,样品移动机构要有足够的机械精度,无效行程应尽可能少。
第十章1、分析电子衍射与X射线有何异同?答:电子衍射原理与X射线相似相同之处:都是满足布拉格方程作为产生衍射的必要条件,两种衍射技术所得到的衍射花样在几何特征上是大致相似的。