紫外、可见分光光度计杂散光检定的建议

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７２１Ｂ型），对于光栅型可见分光光计，按现行检定规程应在３６０ｎｍ处检定杂散光，经检定此处杂散光为０．Ｏ％；但是在４２０ｎｍ处检定发现：此处的杂散光竟然达到１２．０％之大，远超过了现行检定规程规定的杂散光计量性能的合格要求。乍看无法理解，但认真分析分光光度计的工作原理得知：完全是有可能的。

光栅型可见分光光度计光学系统原理如图１所示，据光栅的色散原理可知：产生互相加强的干涉条件是如式（Ｉ）所示的光栅方程。

ｄｓｉｎｉ４－ｄｓｉｎＯ＝４－ｍＡ（１）式巾，ｄ为光栅常数；ｉ为人射角；０为衍射角；旯

为光谱波长；ｍ＝０，１，２，３…。

由光栅方程可看出：光栅一级光谱波长为旯的谱线和波长为２／２的二级潜线及波长为２／３的三级谱线将重叠在一起，这是光栅的一大缺点。这种次级重叠现象给光栅应Ｈｊ带来很多麻烦，在实际应用中要采用滤光片装置或预色散的棱镜进行消除。如图１中，卤钨灯与聚光镜问的滤光片组，就是用来消除次级重叠现象的。对于７２２型可见分光光度计，该滤光片组结构如图２所示，由四块滤光片组成，对于不同给定的工作波长，使用不同的滤光片消除次级重磋现象。而分光光度计杂散光的产生，除制造不良外，光学元件表面的灰尘和霉变是产生杂散光较主要原凶。凶为不同波长使用的消除次级重叠现象滤光片不同，当滤光片组中的各滤光片表面清洁程度不同，完全有可能在不同波长情况下，产生的杂散光不同。实际上即使是棱镜型分光光度计，给定波长不同，Ｔ作状态也会有不同，也很可能在不同的Ｔ作波长情况下，产生的杂散光是不同的。一台分光光度计只检定１—２个波长处，杂散光计量性能指标合格，远不能说明在所有工作波长范围内，杂散光计量性能指标合格。如留意观察会发现，不少分光光度计生产厂家，对于杂散光性能指标是这样给出的（以７２２型可见分光光度计为例）：杂光：＜０．５％（ｒ）（在３６０ｎｍ处，以ＮａＮＯ：测定）。

４建议

根据上述分析可知：现行检定规程，对于杂散光的检定，棱镜型可见分光光度计只规定在４２０ｎｍ处检定；光栅型可见分光光度计只规定在３６０ｎｍ处

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光栅

图１光栅型町见分光光度计光学系统原理图

图２７２２犁可见分光光度计外光路实物图

检定；紫外、可见分光光度计只是规定再增加在２２０ｎｍ处检定，是不够的。其实，这在现有条件之下，也是无奈之举。因为在现有条件下，无法提供足够多的使用波长的杂散光标准物质。

随着科学技术的进步，新技术、新材料的不断涌现。杂散光的检定最好能向检定波长最大允许误差及波长重复性那样，根据仪器的工作波长范围，每间隔１００ｎｍ选择一个合适的杂散光检定点。当然作为现行检定规程不仅要考虑需要，同时还要考虑是否有町能，即目前能否找到这样足够多使用波长的杂散光检定标准物质。但是，笔者建议：最起码要争取在分光光度计每一典型工作状态，一定要规定一个杂散光检定点。例如：图２所示的７２２型可见分光光度计，在消除次级重叠现象的滤光片组中，每一块滤光片对应的工作波长段，必需规定

一个杂散光波长检定点。

紫外、可见分光光度计杂散光检定的建议

作者：刘彦刚

作者单位：江西省萍乡市计量所,萍乡,337000

刊名：

计量技术

英文刊名：MEASUREMENT TECHNIQUE

年，卷(期)：2010(7)

1.李昌厚;孙呤秋杂散光与吸光光度误差和吸光度真值关系的研究 2001(01)

2.詹永用;韦桂樱可见分光光度计单色精度的检测与调修方法 2006(03)

3.李潞铭JJG 178-2007《紫外、可见、近红外分光光度计》检定规程解读 2008(07)

4.乔心民分光光度计的原理·使用·维修 1988

5.国家质量监督检验检疫总局JJG 178-2007,紫外、可见、近红外分光光度计检定规程 2008本文链接：/Periodical_jljs20100701

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