霍尔效应测磁场实验报告

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【最新整理,下载后即可编辑】实 验 报 告学生姓名: 学 号: 指导教师: 实验地点: 实验时间:一、实验室名称:霍尔效应实验室二、 实验项目名称:霍尔效应法测磁场三、实验学时:四、实验原理:(一)霍耳效应现象将一块半导体(或金属)薄片放在磁感应强度为B 的磁场中,并让薄片平面与磁场方向(如Y 方向)垂直。

如在薄片的横向(X 方向)加一电流强度为H I 的电流,那么在与磁场方向和电流方向垂直的Z 方向将产生一电动势H U 。

如图1所示,这种现象称为霍耳效应,H U 称为霍耳电压。

霍耳发现,霍耳电压H U 与电流强度H I 和磁感应强度B 成正比,与磁场方向薄片的厚度d 反比,即d BI RU H H =(1)式中,比例系数R 称为霍耳系数,对同一材料R 为一常数。

因成品霍耳元件(根据霍耳效应制成的器件)的d 也是一常数,故d R /常用另一常数K 来表示,有B KI U H H = (2)式中,K 称为霍耳元件的灵敏度,它是一个重要参数,表示该元件在单位磁感应强度和单位电流作用下霍耳电压的大小。

如果霍耳元件的灵敏度K 知道(一般由实验室给出),再测出电流H I 和霍耳电压H U ,就可根据式HH KI U B =(3)算出磁感应强度B 。

图 1霍耳效应示意图图2 霍耳效应解释(二)霍耳效应的解释现研究一个长度为l 、宽度为b 、厚度为d 的N 型半导体制成的霍耳元件。

当沿X 方向通以电流H I 后,载流子(对N 型半导体是电子)e 将以平均速度v 沿与电流方向相反的方向运动,在磁感应强度为B 的磁场中,电子将受到洛仑兹力的作用,其大小为evB f B =方向沿Z 方向。

在B f 的作用下,电荷将在元件沿Z 方向的两端面堆积形成电场H E (见图2),它会对载流子产生一静电力E f ,其大小为H E eE f =方向与洛仑兹力B f 相反,即它是阻止电荷继续堆积的。

当B f 和E f 达到静态平衡后,有E B f f =,即b eU eE evB H H /==,于是电荷堆积的两端面(Z 方向)的电势差为vbB U H = (4)通过的电流H I 可表示为nevbd I H -=式中n 是电子浓度,得nebdI v H -=(5)将式(5)代人式(4)可得 nedBI U H H -= 可改写为B KI dBI RU H H H == 该式与式(1)和式(2)一致,neR 1-=就是霍耳系数。

实验十六 霍尔效应测量磁场_北大物院普物实验报告

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±
������������������
=
������ ������������
=
(14.42
±
0.05)mV

mT−1

A−1
3. 根据 2 中计算的������������和������������,计算������,并作磁化曲线图
将由
������
=
������������ ������������������������
������������(mV) 32.22 32.19 32.13 32.11 32.09 32.06 32.05 32.04 32.03 32.02 32.01 31.99 31.98 31.97 31.97 31.97
������(mT) 223.4 223.2 222.8 222.7 222.5 222.3 222.3 222.2 222.1 222.1 222.0 221.8 221.8 221.7 221.7 221.7
2
������������������ )
+
������������ (������������������
2
������������������ )
+
������������ (������������������
2
������������������ )
且有σKH = 0.05mV ⋅ mT−1 ⋅ A−1, ������������������ = 0.09mA,σUH = 0.07mV,可得到 ������������ = 5mT
做出������ − ������图线如下:
表格 5
31.96 31.95 31.94 31.92 31.9 31.87 31.83 31.76 31.67 31.51 31.23 30.81 29.77 27.73 23.94 19.00 14.91 11.96 9.68 8.22 7.03 6.08 5.35 4.77 4.25 3.89 3.48 3.16 2.88 2.65 2.43 2.26 1.90 1.57 1.29

霍尔效应实验报告(共8篇)

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篇一:霍尔效应实验报告大学本(专)科实验报告课程名称:姓名:学院:系:专业:年级:学号:指导教师:成绩:年月日(实验报告目录)实验名称一、实验目的和要求二、实验原理三、主要实验仪器四、实验内容及实验数据记录五、实验数据处理与分析六、质疑、建议霍尔效应实验一.实验目的和要求:1、了解霍尔效应原理及测量霍尔元件有关参数.2、测绘霍尔元件的vh?is,vh?im曲线了解霍尔电势差vh与霍尔元件控制(工作)电流is、励磁电流im之间的关系。

3、学习利用霍尔效应测量磁感应强度b及磁场分布。

4、判断霍尔元件载流子的类型,并计算其浓度和迁移率。

5、学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。

二.实验原理:1、霍尔效应霍尔效应是导电材料中的电流与磁场相互作用而产生电动势的效应,从本质上讲,霍尔效应是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。

当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在不同侧的聚积,从而形成附加的横向电场。

如右图(1)所示,磁场b位于z的正向,与之垂直的半导体薄片上沿x正向通以电流is(称为控制电流或工作电流),假设载流子为电子(n型半导体材料),它沿着与电流is相反的x负向运动。

由于洛伦兹力fl的作用,电子即向图中虚线箭头所指的位于y轴负方向的b侧偏转,并使b侧形成电子积累,而相对的a侧形成正电荷积累。

与此同时运动的电子还受到由于两种积累的异种电荷形成的反向电场力fe的作用。

随着电荷积累量的增加,fe增大,当两力大小相等(方向相反)时,fl=-fe,则电子积累便达到动态平衡。

这时在a、b两端面之间建立的电场称为霍尔电场eh,相应的电势差称为霍尔电压vh。

设电子按均一速度向图示的x负方向运动,在磁场b作用下,所受洛伦兹力为fl=-eb式中e为电子电量,为电子漂移平均速度,b为磁感应强度。

同时,电场作用于电子的力为 fe??eeh??evh/l 式中eh为霍尔电场强度,vh为霍尔电压,l为霍尔元件宽度当达到动态平衡时,fl??fe ?vh/l (1)设霍尔元件宽度为l,厚度为d,载流子浓度为n,则霍尔元件的控制(工作)电流为 is?ne (2)由(1),(2)两式可得 vh?ehl?ib1isbrhs (3)nedd即霍尔电压vh(a、b间电压)与is、b的乘积成正比,与霍尔元件的厚度成反比,比例系数rh?1称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数,根据材料的电导ne率σ=neμ的关系,还可以得到:rh??/ (4)式中?为材料的电阻率、μ为载流子的迁移率,即单位电场下载流子的运动速度,一般电子迁移率大于空穴迁移率,因此制作霍尔元件时大多采用n型半导体材料。

霍尔效应实验报告(共8篇)

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篇一:霍尔效应实验报告大学本(专)科实验报告课程名称:姓名:学院:系:专业:年级:学号:指导教师:成绩:年月日(实验报告目录)实验名称一、实验目的和要求二、实验原理三、主要实验仪器四、实验内容及实验数据记录五、实验数据处理与分析六、质疑、建议霍尔效应实验一.实验目的和要求:1、了解霍尔效应原理及测量霍尔元件有关参数.2、测绘霍尔元件的vh?is,vh?im曲线了解霍尔电势差vh与霍尔元件控制(工作)电流is、励磁电流im之间的关系。

3、学习利用霍尔效应测量磁感应强度b及磁场分布。

4、判断霍尔元件载流子的类型,并计算其浓度和迁移率。

5、学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。

二.实验原理:1、霍尔效应霍尔效应是导电材料中的电流与磁场相互作用而产生电动势的效应,从本质上讲,霍尔效应是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。

当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在不同侧的聚积,从而形成附加的横向电场。

如右图(1)所示,磁场b位于z的正向,与之垂直的半导体薄片上沿x正向通以电流is(称为控制电流或工作电流),假设载流子为电子(n型半导体材料),它沿着与电流is相反的x负向运动。

由于洛伦兹力fl的作用,电子即向图中虚线箭头所指的位于y轴负方向的b侧偏转,并使b侧形成电子积累,而相对的a侧形成正电荷积累。

与此同时运动的电子还受到由于两种积累的异种电荷形成的反向电场力fe的作用。

随着电荷积累量的增加,fe增大,当两力大小相等(方向相反)时,fl=-fe,则电子积累便达到动态平衡。

这时在a、b两端面之间建立的电场称为霍尔电场eh,相应的电势差称为霍尔电压vh。

设电子按均一速度向图示的x负方向运动,在磁场b作用下,所受洛伦兹力为fl=-eb式中e为电子电量,为电子漂移平均速度,b为磁感应强度。

同时,电场作用于电子的力为 fe??eeh??evh/l 式中eh为霍尔电场强度,vh为霍尔电压,l为霍尔元件宽度当达到动态平衡时,fl??fe ?vh/l (1)设霍尔元件宽度为l,厚度为d,载流子浓度为n,则霍尔元件的控制(工作)电流为 is?ne (2)由(1),(2)两式可得 vh?ehl?ib1isbrhs (3)nedd即霍尔电压vh(a、b间电压)与is、b的乘积成正比,与霍尔元件的厚度成反比,比例系数rh?1称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数,根据材料的电导ne率σ=neμ的关系,还可以得到:rh??/ (4)式中?为材料的电阻率、μ为载流子的迁移率,即单位电场下载流子的运动速度,一般电子迁移率大于空穴迁移率,因此制作霍尔元件时大多采用n型半导体材料。

利用霍尔效应测磁场实验报告

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同理,计算其他组数据的霍尔系数,并取平均值。
六、实验误差分析
1、系统误差
实验仪器本身的精度限制,如电源输出的稳定性、电表的测量精度等。
磁场的不均匀性,可能导致测量的磁场值与实际值存在偏差。
2、随机误差
读数误差,在读取电表数据时,由于人的视觉和反应时间等因素,可能会产生一定的误差。
实验环境的干扰,如电磁场的干扰等。
|01|50|25|-24|245|
|பைடு நூலகம்2|50|48|-47|475|
|03|50|72|-71|715|
|04|50|96|-95|955|
根据实验数据,计算霍尔系数RH。由于VH=RHIB,所以RH=VH/(IB)
以第一组数据为例,RH=245×10^-3/(01×50×10^-3)=49×10^-3(m³/C)
三、实验仪器
霍尔效应实验仪、直流电源、毫安表、伏特表、特斯拉计。
四、实验步骤
1、连接实验仪器
将霍尔效应实验仪的电源、毫安表、伏特表等按照正确的方式连接好。
确保连接线路牢固,接触良好。
2、校准仪器
使用特斯拉计对实验仪器进行校准,确保测量磁场的准确性。
3、测量霍尔电压
接通电源,调节电流I为某一固定值。
改变磁场B的大小,测量不同磁场下对应的霍尔电压VH。
eEH=e(v×B)
设导体的宽度为b,厚度为d,则霍尔电压VH=EHb=(v×B)bd
又因为电流I=nevbd,其中n为单位体积内的电子数,所以v=I/(nebd)
将v代入霍尔电压的表达式,可得:
VH=IB/(ned)
令RH=1/(ned),称为霍尔系数,则VH=RHIB
通过测量霍尔电压VH、电流I和导体的几何尺寸b、d,就可以计算出磁场B的大小。

霍尔元件测量磁场实验报告

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霍尔元件测量磁场实验报告1. 引言嘿,大家好,今天咱们来聊聊一个酷炫的实验,那就是用霍尔元件测量磁场。

这玩意儿听起来可能有点高深,但其实也没那么复杂。

就像喝水一样,简单明了,来,跟我一块儿探究吧!霍尔元件,它的工作原理就像魔法一样。

你只需把它放到磁场中,它就能告诉你磁场的强度。

是不是很神奇?而且我们用这个实验,不仅能让大家对物理有更直观的认识,还能让学习变得更有趣,谁不想当个科学小达人呢?2. 实验原理2.1 霍尔效应首先,咱们得聊聊霍尔效应。

简单来说,就是当电流流过一个导体,放在垂直磁场里时,导体的一侧会出现电压差,这就是霍尔电压。

哇,这个原理听起来就像是在讲故事一样,对吧?电流、磁场、电压,这些元素混在一起,真的是一场科学的盛宴。

霍尔元件通过这种效应,能把磁场的强度转化成电信号,太厉害了!2.2 实验准备在实验之前,咱们得准备一些材料。

别担心,所需的东西可不复杂:一个霍尔元件、一块电源、一根电流表,还有一个可以调节磁场的装置。

哦,对了,还有个小黑板,用来记录数据。

只要把这些东西都准备好,就可以开始这场科学之旅啦!记得保持耐心哦,科学可不是一蹴而就的事情。

3. 实验步骤3.1 连接电路接下来,咱们开始实验。

首先,把霍尔元件连上电源。

电流一开,霍尔元件就开始“工作”了。

真是好像打开了一扇新世界的大门!记得检查一下连接是不是牢靠,别让电流跑了。

这就像养花,浇水的时候要保证水分足够,也不能太多,否则就容易烂根。

3.2 测量磁场好了,现在就轮到咱们测量磁场了。

把霍尔元件放进调节好的磁场里,慢慢调整磁场强度。

每次调整后,看看电流表上的数值,哇,真的是一目了然,数据在眼前一闪一闪的,就像星星一样。

记得要记录下每个强度对应的电压哦,数据可不能遗漏!这些数据将来可是你展示成果的“秘密武器”呢!4. 数据分析4.1 结果讨论当数据收集完后,咱们就要进行数据分析了。

看看这些数值有没有规律,能不能从中找到一些有趣的结论。

霍尔效应法测磁场实验报告

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霍尔效应法测磁场实验报告一、实验目的1、了解霍尔效应的基本原理。

2、学习用霍尔效应法测量磁场的原理和方法。

3、掌握霍尔元件的特性和使用方法。

二、实验原理1、霍尔效应将一块半导体薄片置于磁场中(磁场方向垂直于薄片平面),当有电流通过时,在垂直于电流和磁场的方向上会产生一个横向电位差,这种现象称为霍尔效应。

这个横向电位差称为霍尔电压,用$U_H$ 表示。

霍尔电压的大小与电流$I$、磁感应强度$B$ 以及薄片的厚度$d$ 等因素有关,其关系式为:$U_H = K_H IB$其中,$K_H$ 称为霍尔系数,它与半导体材料的性质有关。

2、用霍尔效应法测磁场若已知霍尔元件的灵敏度$K_H$ ,通过测量霍尔电压$U_H$ 和电流$I$ ,就可以计算出磁感应强度$B$ :$B =\frac{U_H}{K_H I}$三、实验仪器霍尔效应实验仪、直流电源、毫安表、伏特表、特斯拉计等。

四、实验步骤1、仪器连接(1)将霍尔效应实验仪的各个部件按照说明书正确连接。

(2)将直流电源、毫安表、伏特表等仪器与实验仪连接好。

2、调节仪器(1)调节直流电源的输出电压,使通过霍尔元件的电流达到预定值。

(2)调节特斯拉计,使其归零。

3、测量霍尔电压(1)在不同的磁场强度下,测量霍尔元件两端的电压。

(2)改变电流的方向,再次测量霍尔电压。

4、数据记录将测量得到的数据记录在表格中,包括电流、磁场强度、霍尔电压等。

五、实验数据及处理1、实验数据记录|电流(mA)|磁场强度(T)|霍尔电压(mV)(正电流)|霍尔电压(mV)(负电流)|||||||50|01|256|-258||50|02|512|-515||50|03|768|-771||100|01|512|-515||100|02|1024|-1028||100|03|1536|-1542|2、数据处理(1)计算每个测量点的平均霍尔电压:$U_{H平均} =\frac{U_{H正} + U_{H负}}{2}$(2)根据霍尔系数$K_H$ 和平均霍尔电压、电流计算磁场强度:$B =\frac{U_{H平均}}{K_H I}$3、绘制曲线以磁场强度为横坐标,霍尔电压为纵坐标,绘制霍尔电压与磁场强度的关系曲线。

霍尔效应法测磁场的实验报告

霍尔效应法测磁场的实验报告

霍尔效应法测磁场的实验报告一、实验目的本实验旨在通过霍尔效应法测量不同磁场强度下的霍尔电压,并计算出磁场的大小。

二、实验原理1. 霍尔效应当导体中有电流流过时,如果将另一个垂直于电流方向和导体面的磁场施加在导体上,则会产生一种称为霍尔效应的现象。

该效应表明,在垂直于电流方向和导体面的方向上,将会产生一个电势差,这个电势差就叫做霍尔电压。

2. 磁场大小计算公式根据霍尔效应原理,可以得到计算磁场大小的公式为:B = (VH/IR)×1/K其中,B表示磁场强度;VH表示测得的霍尔电压;I表示通过样品的电流;R表示样品材料的电阻率;K表示霍尔系数。

三、实验器材1. 万用表2. 稳压直流电源3. 磁铁4. 霍尔元件四、实验步骤及数据处理1. 将稳压直流电源接入到霍尔元件上,并设置合适的输出电压和输出电流。

2. 将磁铁放置在霍尔元件的两侧,使磁场垂直于霍尔元件的平面。

3. 测量不同磁场强度下的电压值,并记录数据。

4. 计算出每个电压值对应的磁场大小,并绘制磁场强度与电压之间的关系曲线。

5. 根据实验数据计算出样品材料的电阻率和霍尔系数,并进行比较分析。

五、实验结果分析通过实验测量得到了不同磁场强度下的霍尔电压,根据计算公式可以得到相应的磁场大小。

绘制出了磁场强度与电压之间的关系曲线,可以看出二者呈现线性关系。

通过计算得到样品材料的电阻率和霍尔系数,可以发现不同样品材料具有不同的电阻率和霍尔系数,这也说明了不同材料对于磁场强度的响应程度是不同的。

六、实验结论本次实验通过测量霍尔效应法测量了不同磁场强度下的霍尔电压,并计算出了相应的磁场大小。

通过数据处理得到了样品材料的电阻率和霍尔系数,并进行了比较分析。

实验结果表明,不同材料对于磁场强度的响应程度是不同的,这也为磁场探测提供了一定的参考依据。

霍尔效应实验报告步骤(3篇)

霍尔效应实验报告步骤(3篇)

第1篇一、实验目的1. 理解霍尔效应的基本原理。

2. 学习使用霍尔效应实验仪测量磁场。

3. 掌握霍尔效应实验的数据记录和处理方法。

4. 通过实验确定材料的导电类型和载流子浓度。

二、实验原理霍尔效应是当电流通过一个导体或半导体时,若导体或半导体处于垂直于电流方向的磁场中,则会在导体或半导体的侧面产生电压,这个电压称为霍尔电压。

霍尔电压的大小与磁感应强度、电流强度以及导体或半导体的厚度有关。

三、实验仪器1. 霍尔效应实验仪2. 直流稳流电源3. 毫伏电压表4. 霍尔元件5. 导线6. 螺线管7. 磁铁四、实验步骤1. 仪器连接与调整- 将霍尔元件放置在实验仪的样品支架上,确保霍尔元件处于隙缝的中间位置。

- 按照实验仪的接线图连接电路,包括直流稳流电源、霍尔元件、螺线管和毫伏电压表。

- 调节稳流电源,使霍尔元件的工作电流保持在安全范围内(一般不超过10mA)。

- 使用调零旋钮调整毫伏电压表,确保在零磁场下电压读数为零。

2. 测量不等位电压- 在零磁场下,测量霍尔元件的不等位电压,记录数据。

3. 测量霍尔电流与霍尔电压的关系- 保持励磁电流不变,逐渐调节霍尔电流,从1.00mA开始,每隔1.0mA改变一次,记录每次霍尔电流对应的霍尔电压值。

- 改变霍尔电流的方向,重复上述步骤,记录数据。

4. 测量励磁电流与霍尔电压的关系- 保持霍尔电流不变,逐渐调节励磁电流,从100.0mA开始,每隔100.0mA改变一次,记录每次励磁电流对应的霍尔电压值。

- 改变励磁电流的方向,重复上述步骤,记录数据。

5. 绘制曲线- 根据实验数据,绘制霍尔电流与霍尔电压的关系曲线和励磁电流与霍尔电压的关系曲线。

6. 数据处理与分析- 根据霍尔效应的原理,计算霍尔系数和载流子浓度。

- 分析实验结果,确定材料的导电类型。

五、注意事项1. 操作过程中,注意安全,避免触电和电火花。

2. 霍尔元件的工作电流不应超过10mA,以保护元件。

3. 在调节电流和磁场时,注意观察毫伏电压表的读数变化,避免超出量程。

霍尔效应实验报告[共8篇]

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篇一:霍尔效应实验报告大学本(专)科实验报告课程名称:姓名:学院:系:专业:年级:学号:指导教师:成绩:年月日(实验报告目录)实验名称一、实验目的和要求二、实验原理三、主要实验仪器四、实验内容及实验数据记录五、实验数据处理与分析六、质疑、建议霍尔效应实验一.实验目的和要求:1、了解霍尔效应原理及测量霍尔元件有关参数.2、测绘霍尔元件的vh?is,vh?im曲线了解霍尔电势差vh与霍尔元件控制(工作)电流is、励磁电流im之间的关系。

3、学习利用霍尔效应测量磁感应强度b及磁场分布。

4、判断霍尔元件载流子的类型,并计算其浓度和迁移率。

5、学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。

二.实验原理:1、霍尔效应霍尔效应是导电材料中的电流与磁场相互作用而产生电动势的效应,从本质上讲,霍尔效应是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。

当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在不同侧的聚积,从而形成附加的横向电场。

如右图(1)所示,磁场b位于z的正向,与之垂直的半导体薄片上沿x正向通以电流is(称为控制电流或工作电流),假设载流子为电子(n型半导体材料),它沿着与电流is相反的x负向运动。

由于洛伦兹力fl的作用,电子即向图中虚线箭头所指的位于y轴负方向的b侧偏转,并使b侧形成电子积累,而相对的a侧形成正电荷积累。

与此同时运动的电子还受到由于两种积累的异种电荷形成的反向电场力fe的作用。

随着电荷积累量的增加,fe增大,当两力大小相等(方向相反)时,fl=-fe,则电子积累便达到动态平衡。

这时在a、b两端面之间建立的电场称为霍尔电场eh,相应的电势差称为霍尔电压vh。

设电子按均一速度向图示的x负方向运动,在磁场b作用下,所受洛伦兹力为fl=-eb式中e为电子电量,为电子漂移平均速度,b为磁感应强度。

同时,电场作用于电子的力为 fe??eeh??evh/l 式中eh为霍尔电场强度,vh为霍尔电压,l为霍尔元件宽度当达到动态平衡时,fl??fe ?vh/l (1)设霍尔元件宽度为l,厚度为d,载流子浓度为n,则霍尔元件的控制(工作)电流为 is?ne (2)由(1),(2)两式可得 vh?ehl?ib1isb?rhs (3)nedd即霍尔电压vh(a、b间电压)与is、b的乘积成正比,与霍尔元件的厚度成反比,比例系数rh?1称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数,根据材料的电导ne率σ=neμ的关系,还可以得到:rh??/???? (4)式中?为材料的电阻率、μ为载流子的迁移率,即单位电场下载流子的运动速度,一般电子迁移率大于空穴迁移率,因此制作霍尔元件时大多采用n型半导体材料。

霍尔效应测磁场实验报告(共7篇)

霍尔效应测磁场实验报告(共7篇)

篇一:霍尔元件测磁场实验报告用霍尔元件测磁场前言:霍耳效应是德国物理学家霍耳(a.h.hall 1855—1938)于1879年在他的导师罗兰指导下发现的。

由于这种效应对一般的材料来讲很不明显,因而长期未得到实际应用。

六十年代以来,随着半导体工艺和材料的发展,这一效应才在科学实验和工程技术中得到了广泛应用。

利用半导体材料制成的霍耳元件,特别是测量元件,广泛应用于工业自动化和电子技术等方面。

由于霍耳元件的面积可以做得很小,所以可用它测量某点或缝隙中的磁场。

此外,还可以利用这一效应来测量半导体中的载流子浓度及判别半导体的类型等。

近年来霍耳效应得到了重要发展,冯﹒克利青在极强磁场和极低温度下观察到了量子霍耳效应,它的应用大大提高了有关基本常数测量的准确性。

在工业生产要求自动检测和控制的今天,作为敏感元件之一的霍耳器件,会有更广阔的应用前景。

了解这一富有实用性的实验,对今后的工作将大有益处。

教学目的:1. 了解霍尔效应产生的机理,掌握测试霍尔器件的工作特性。

2. 掌握用霍尔元件测量磁场的原理和方法。

3. 学习用霍尔器件测绘长直螺线管的轴向磁场分布。

教学重难点: 1. 霍尔效应2. 霍尔片载流子类型判定。

实验原理如右图所示,把一长方形半导体薄片放入磁场中,其平面与磁场垂直,薄片的四个侧面分别引出两对电极(m、n和p、s),径电极m、n 通以直流电流ih,则在p、s极所在侧面产生电势差,这一现象称为霍尔效应。

这电势差叫做霍尔电势差,这样的小薄片就是霍尔片。

图片已关闭显示,点此查看假设霍尔片是由n型半导体材料制成的,其载流子为电子,在电极m、n上通过的电流由m极进入,n极出来(如图),则片中载流子(电子)的运动方向与电流is的方向相反为v,运动的载流子在磁场b中要受到洛仑兹力fb的作用,fb=ev×b,电子在fb的作用下,在由n→m运动的过程中,同时要向s极所在的侧面偏转(即向下方偏转),结果使下侧面积聚电子而带负电,相应的上侧面积(p极所在侧面)带正电,在上下两侧面之间就形成电势差vh,即霍尔电势差。

霍尔效应实验报告(共8篇)

霍尔效应实验报告(共8篇)

篇一:霍尔效应实验报告大学本(专)科实验报告课程名称:姓名:学院:系:专业:年级:学号:指导教师:成绩:年月日(实验报告目录)实验名称一、实验目的和要求二、实验原理三、主要实验仪器四、实验内容及实验数据记录五、实验数据处理与分析六、质疑、建议霍尔效应实验一.实验目的和要求:1、了解霍尔效应原理及测量霍尔元件有关参数.2、测绘霍尔元件的vhis,vhim曲线了解霍尔电势差vh与霍尔元件控制(工作)电流is、励磁电流im之间的关系。

3、学习利用霍尔效应测量磁感应强度b及磁场分布。

4、判断霍尔元件载流子的类型,并计算其浓度和迁移率。

5、学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。

二.实验原理:1、霍尔效应霍尔效应是导电材料中的电流与磁场相互作用而产生电动势的效应,从本质上讲,霍尔效应是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。

当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在不同侧的聚积,从而形成附加的横向电场。

如右图(1)所示,磁场b位于z的正向,与之垂直的半导体薄片上沿x正向通以电流is(称为控制电流或工作电流),假设载流子为电子(n型半导体材料),它沿着与电流is相反的x负向运动。

由于洛伦兹力fl的作用,电子即向图中虚线箭头所指的位于y轴负方向的b侧偏转,并使b侧形成电子积累,而相对的a侧形成正电荷积累。

与此同时运动的电子还受到由于两种积累的异种电荷形成的反向电场力fe的作用。

随着电荷积累量的增加,fe增大,当两力大小相等(方向相反)时,fl=-fe,则电子积累便达到动态平衡。

这时在a、b两端面之间建立的电场称为霍尔电场eh,相应的电势差称为霍尔电压vh。

设电子按均一速度向图示的x负方向运动,在磁场b作用下,所受洛伦兹力为fl=-eb式中e为电子电量,为电子漂移平均速度,b为磁感应强度。

同时,电场作用于电子的力为 feeehevh/l 式中eh为霍尔电场强度,vh为霍尔电压,l为霍尔元件宽度当达到动态平衡时,flfe vh/l (1)设霍尔元件宽度为l,厚度为d,载流子浓度为n,则霍尔元件的控制(工作)电流为isne (2)由(1),(2)两式可得 vhehlib1isbrhs (3)nedd即霍尔电压vh(a、b间电压)与is、b的乘积成正比,与霍尔元件的厚度成反比,比例系数rh1称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数,根据材料的电导ne率σ=neμ的关系,还可以得到:rh/ (4)式中为材料的电阻率、μ为载流子的迁移率,即单位电场下载流子的运动速度,一般电子迁移率大于空穴迁移率,因此制作霍尔元件时大多采用n型半导体材料。

霍尔效应测量磁场实验报告

霍尔效应测量磁场实验报告

霍尔效应测量磁场实验报告一、实验目的1、了解霍尔效应的基本原理。

2、掌握用霍尔效应测量磁场的方法。

3、学会使用霍尔效应实验仪进行测量和数据处理。

二、实验原理1、霍尔效应当电流 I 沿垂直于磁场 B 的方向通过半导体薄片时,在薄片的垂直于电流和磁场的两侧面之间会产生一个横向电势差 UH,这个现象称为霍尔效应。

UH 称为霍尔电势差。

霍尔电势差的产生是由于运动电荷在磁场中受到洛伦兹力的作用。

设半导体薄片中的载流子(假设为电子)的电荷量为 q,平均定向移动速度为 v,薄片的宽度为 b,厚度为 d,则电子受到的洛伦兹力为:F = qvB在洛伦兹力的作用下,电子向一侧偏转,从而在薄片的两侧面之间形成了一个电场E,当电场力与洛伦兹力达到平衡时,电子不再偏转,此时有:qE = qvBE = vB电场强度 E 与电势差 UH 的关系为:E = UH / b所以霍尔电势差为:UH = IB / nqd其中,n 为载流子浓度。

2、霍尔系数和灵敏度霍尔系数 RH = 1 / nq,它反映了材料的霍尔效应特性。

霍尔元件的灵敏度 KH = RH / d,表示单位磁感应强度和单位控制电流下的霍尔电势差。

三、实验仪器霍尔效应实验仪、特斯拉计、直流电源、毫安表、伏特表等。

四、实验内容及步骤1、仪器连接按照实验仪器说明书,将霍尔效应实验仪、直流电源、毫安表、伏特表等正确连接。

2、调节磁场打开特斯拉计,调节磁场强度到一定值,并记录下来。

3、测量霍尔电势差(1)保持磁场强度不变,改变电流 I 的大小,测量不同电流下的霍尔电势差 UH,并记录数据。

(2)保持电流 I 不变,改变磁场强度 B 的大小,测量不同磁场强度下的霍尔电势差 UH,并记录数据。

4、数据处理(1)根据测量数据,绘制 UH I 曲线和 UH B 曲线。

(2)通过曲线斜率计算霍尔系数 RH 和灵敏度 KH。

五、实验数据记录与处理1、数据记录|电流 I (mA) |霍尔电势差 UH (mV) |磁场强度 B (T) |霍尔电势差 UH (mV) ||::|::|::|::|| 100 | 500 | 010 | 550 || 200 | 1000 | 020 | 1100 || 300 | 1500 | 030 | 1650 || 400 | 2000 | 040 | 2200 || 500 | 2500 | 050 | 2750 |2、绘制曲线以电流 I 为横坐标,霍尔电势差 UH 为纵坐标,绘制 UH I 曲线。

霍尔效应实验报告

霍尔效应实验报告

霍尔效应实验报告一、实验目的1、了解霍尔效应的基本原理。

2、掌握用霍尔效应法测量磁场的原理和方法。

3、学会使用霍尔效应实验仪器,测量霍尔电压和励磁电流等物理量。

二、实验原理1、霍尔效应将一块半导体薄片置于磁场中(磁场方向垂直于薄片),当有电流通过时,电子在磁场中受到洛伦兹力的作用而发生偏转。

在薄片的一侧会聚集电子,另一侧会聚集正电荷,从而在薄片的两侧产生电势差,这种现象称为霍尔效应。

所产生的电势差称为霍尔电压。

2、霍尔电压的表达式设半导体薄片的厚度为 d,载流子浓度为 n,电流为 I,磁感应强度为 B,则霍尔电压$U_{H}$的表达式为:$U_{H} =\frac{IB}{ned}$其中,e 为电子电荷量。

3、用霍尔效应测量磁场若已知霍尔元件的灵敏度$K_{H} =\frac{1}{ned}$,通过测量霍尔电压$U_{H}$和电流 I,就可以计算出磁感应强度 B:$B =\frac{U_{H}}{K_{H}I}$三、实验仪器霍尔效应实验仪,包括霍尔元件、励磁线圈、直流电源、毫安表、伏特表等。

四、实验步骤1、连接电路按照实验仪器的说明书,将霍尔元件、励磁线圈、电源、毫安表、伏特表等正确连接成实验电路。

2、调整仪器打开电源,预热一段时间,调节励磁电流和工作电流到合适的数值。

3、测量霍尔电压(1)保持励磁电流不变,改变工作电流,测量不同工作电流下的霍尔电压。

(2)保持工作电流不变,改变励磁电流,测量不同励磁电流下的霍尔电压。

4、数据记录将测量得到的数据记录在表格中,包括工作电流、励磁电流、霍尔电压等。

五、实验数据及处理1、数据记录表格|工作电流 I(mA)|励磁电流 IM(A)|霍尔电压 UH(mV)||||||_____|_____|_____||_____|_____|_____||_____|_____|_____|||||2、数据处理(1)根据实验数据,绘制霍尔电压$U_{H}$与工作电流 I 的关系曲线,分析其线性关系。

用霍尔效应测量磁场的实验报告

用霍尔效应测量磁场的实验报告

用霍尔效应测量磁场的实验报告
实验目的:掌握用霍尔效应测量磁场的方法,并测量出磁场的大小。

实验原理:当一个电流通过一块导体板时,如果与该板垂直方向的磁场发生变化,板上就会产生电势差,即霍尔电压,这就是霍尔效应。

霍尔效应的公式为:VH=B·IB·d,其中VH为霍尔电压,B为磁场大小,IB为电流大小,d为针对霍尔元件的厚度。

实验材料:磁铁、霍尔元件、导线、电流表、电压表、万用表。

实验步骤:
1. 在实验板上固定霍尔元件,并将元件上的三个接头与接线柱连接。

2. 连接电路:电流表与霍尔元件串联,接线柱连接电流源,电源的正电极通过导线连接与霍尔元件的横向端子相接,负极通过导线连接与霍尔元件的竖向端子相接。

3. 调节电流源的纹波电流为零,保证恒流源的输出电流稳定在一个合适的电流值。

4. 将磁铁从霍尔元件上方经过,记录其所在位置和霍尔电压。

5. 依次改变磁铁的位置,记录每个位置的霍尔电压。

6. 将上述实验结果整理,根据霍尔效应公式求出磁场大小B。

实验结果:
磁铁位置(cm)霍尔电压(V)
0 0
1 0.14
2 0.28
3 0.42
4 0.56
公式计算:B=VH÷IB÷d,VH=0.56V,IB=0.5A,d=0.1mm。

B=0.56÷0.5÷0.1=11.2T。

实验结论:通过霍尔效应测量出磁场大小为11.2T。

霍尔效应测量磁场实验报告

霍尔效应测量磁场实验报告

霍尔效应测量磁场实验报告霍尔效应测量磁场实验报告引言:霍尔效应是指当电流通过导体时,垂直于电流方向的磁场会引起导体中的电荷分布不均匀,从而产生电势差。

这一效应在磁场测量中有着广泛的应用。

本实验旨在通过使用霍尔效应测量磁场的方法,了解霍尔效应的原理,并通过实验验证霍尔效应的可行性。

实验仪器和材料:1. 霍尔效应测量仪2. 磁铁3. 电源4. 导线5. 铜片实验步骤:1. 将霍尔效应测量仪连接到电源上,确保电源正常工作。

2. 将磁铁放置在霍尔效应测量仪的一侧,使其产生一个均匀的磁场。

3. 将铜片固定在测量仪的另一侧,使其与磁场垂直。

4. 调整电源的电流大小,记录下相应的电势差值。

5. 移动磁铁的位置,重复步骤4,记录不同位置下的电势差值。

6. 根据记录的数据,绘制出电势差与磁场强度的关系曲线。

实验结果:根据实验数据绘制的曲线显示,电势差与磁场强度之间存在线性关系。

随着磁场强度的增加,电势差也随之增加。

这一结果与霍尔效应的原理相符。

讨论:在本实验中,我们利用霍尔效应测量了磁场的强度。

霍尔效应的基本原理是,当导体中的电荷受到磁场的作用时,会在导体内部产生一个电势差。

通过测量这个电势差,我们可以间接地得到磁场的强度。

在实验中,我们使用了铜片作为导体。

铜具有良好的电导率和热导率,因此非常适合用于霍尔效应的测量。

通过调整电流大小和移动磁铁的位置,我们可以得到不同磁场强度下的电势差值。

通过绘制电势差与磁场强度的关系曲线,我们可以得到一个直观的结果。

实验结果显示,电势差与磁场强度之间存在线性关系。

这一结果与霍尔效应的原理相符。

根据霍尔效应的数学表达式,电势差与磁场强度之间的关系应该是线性的。

因此,我们的实验结果验证了霍尔效应的可行性。

结论:通过本实验,我们成功地利用霍尔效应测量了磁场的强度。

实验结果显示,电势差与磁场强度之间存在线性关系,这与霍尔效应的原理相符。

因此,我们可以得出结论,霍尔效应是一种可靠的测量磁场的方法。

霍尔效应及磁场的测定实验报告

霍尔效应及磁场的测定实验报告

霍尔效应及磁场的测定实验报告霍尔效应及磁场的测定实验报告实验目的:1.了解霍尔效应的概念及其表现形式;2.掌握霍尔元件的使用和原理;3.探究磁场对于霍尔效应的影响及其测定方法。

实验原理:霍尔效应是指在垂直于导体芯片的方向上,当导体内部流动电荷受外磁场力作用弯曲轨迹时,在芯片两端被电极接收时所产生的电势差的现象。

霍尔效应是一种利用磁场和电流来测量电学参数的重要方法。

常用的霍尔元件由具有导电性的半导体材料经特殊处理后制成,通过对霍尔电压和磁场的测量,可以确定材料中载流子的类型、浓度、迁移率等参数。

实验装置:霍尔元件、恒流源、电子万用表、多用万用表、直流稳压电源、磁铁。

实验过程:1.连接实验电路:将霍尔元件放在磁场中心,使用恒流源连接霍尔元件的两端,同时使用电子万用表测量霍尔电势差;2.调整磁场:将磁铁放置在霍尔元件下方,并调整磁铁的位置,使得磁场与芯片法向垂直;3.测量数据:固定电流值,分别测量不同磁场下的霍尔电势差,并记录测量数据。

实验结果:1.横向霍尔电势差随着磁场的增加呈线性增长关系;2.随着电流的增大,横向霍尔电势差的值也增大;3.改变磁场方向,横向电势差的正负号随之改变。

实验分析:在固定电流的情况下,横向霍尔电势差的大小与磁场的大小呈线性关系,符合霍尔效应的理论预测。

横向电势差的正负号与磁场的方向有关,这是因为电子在磁场力的作用下,被弯曲侧向流动,而侧向电场的方向随之方向改变。

此外,仪器误差也会对测量结果造成影响。

实验结论:通过对横向霍尔电势差与磁场的关系的测量,初步探究了霍尔效应的表现形式,并明确了磁场方向对霍尔电势差的影响。

通过对测量数据的处理和分析,了解了霍尔元件的使用及其参数的测量方法,为今后在电学和材料科学领域的实际应用提供了基础。

霍尔效应法测磁场实验报告

霍尔效应法测磁场实验报告

竭诚为您提供优质文档/双击可除霍尔效应法测磁场实验报告篇一:物理实验报告3_利用霍尔效应测磁场实验名称:利用霍耳效应测磁场实验目的:a.了解产生霍耳效应的物理过程;b.学习用霍尔器件测量长直螺线管的轴向磁场分布;c.学习用“对称测量法”消除负效应的影响,测量试样的Vh?Is和Vh?Im曲线;d.确定试样的导电类型、载流子浓度以及迁移率。

实验仪器:Th-h型霍尔效应实验组合仪等。

实验原理和方法:1.用霍尔器件测量磁场的工作原理如下图所示,一块切成矩形的半导体薄片长为l、宽为b、厚为d,置于磁场中。

磁场b垂直于薄片平面。

若沿着薄片长的方向有电流I通过,则在侧面A和b间产生电位差Vh?VA?Vb。

此电位差称为霍尔电压。

半导体片中的电子都处于一定的能带之中,但能参与导电的只是导带中的电子和价带中的空穴,它们被称为载流子。

对于n型半导体片来说,多数载流子为电子;在p型半导体中,多数载流子被称为空穴。

再研究半导体的特性时,有事可以忽略少数载流子的影响。

霍尔效应是由运动电荷在磁场中收到洛仑兹力的作用而产生的。

以n型半导体构成的霍尔元件为例,多数载流子为电子,设电子的运动速度为v,则它在磁场中收到的磁场力即洛仑兹力为Fm??ev?bF的方向垂直于v和b构成的平面,并遵守右手螺旋法则,上式表明洛仑兹力F的方向与电荷的正负有关。

自由电子在磁场作用下发生定向便宜,薄片两侧面分别出现了正负电荷的积聚,以两个侧面有了电位差。

同时,由于两侧面之间的电位差的存在,由此而产生静电场,若其电场强度为ex,则电子又受到一个静电力作用,其大小为Fe?eex电子所受的静电力与洛仑兹力相反。

当两个力的大小相等时,达到一种平衡即霍尔电势不再变化,电子也不再偏转,此时,ex?bV两个侧面的电位差Vh?exb由I?nevbd及以上两式得Vh?[1/(ned)]Ib其中:n为单位体积内的电子数;e为电子电量;d为薄片厚度。

令霍尔器件灵敏度系数则Vh?IsVh?KhIb若常数Kh已知,并测定了霍尔电动势Vh和电流I就可由上式求出磁感应强度b的大小。

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(3)
实验报告
学生姓名: 学 号: 指导教师:
实验地点:
实验时间:
一、 实验室名称:霍尔效应实验室 二、 实验项目名称:霍尔效应法测磁场 三、 实验学时: 四、 实验原理:
(一)霍耳效应现象
将一块半导体(或金属)薄片放在磁感应强度为 B 的磁场中,并让薄片平面与磁场
方向(如Y 方向)垂直。

如在薄片的横向( X 方向)加一电流强度为|H 的电流,那么在与
磁场方向和电流方向垂直的
Z 方向将产生一电动势 U H 。

如图1所示,这种现象称为霍耳效应,
U H 称为霍耳电压。

霍耳发现,霍耳电压
U H 与
电流强度I H 和磁感应强度 B 成正比,与磁场方向薄片的厚度
d 反比,即
U H R-^^B
( 1

d
式中,比例系数R 称为霍耳系数,对同一材料 R 为一常数。

因成品霍耳元件 (根据霍耳效应
制成的器件)的d 也是一常数,故 R/d 常用另一常数 K 来表示,有
U H KI H B
式中,K 称为霍耳元件的灵敏度,它是一个重要参数,表示该元件在单位磁感应强度和单位
电流I H 和霍耳电压U H ,就可根据式
U H KI H
电流作用下霍耳电压的大小。

如果霍耳元件的灵敏度
K 知道(一般由实验室给出),再测出
算出磁感应强度Bo
(5)
v
(5)
v
(二)霍耳效应的解释
现研究一个长度为I 、宽度为b 、厚度为d 的N 型半导体制成的霍耳元件。

当沿 X 方向
通以电流I H 后,载流子(对 N 型半导体是电子)e 将以平均速度v 沿与电流方向相反的方 向运动,在磁感应强度为 B 的磁场中,电子将受到洛仑兹力的作用,其大小为
f B evB
方向沿Z 方向。

在f B 的作用下,电荷将在元件沿Z 方向的两端面堆积形成电场 E H (见图2), 它会对载流子产生一静电力
f E ,其大小为
f E eE H
方向与洛仑兹力 f B 相反,即它是阻止电荷继续堆积的。

当 f B 和f E 达到静态平衡后,有
f B f E ,即evB eE H eU H /b ,于是电荷堆积的两端面(Z 方向)的电势差为
U H vbB
通过的电流I H 可表示为
I H
nevbd
式中n 是电子浓度,得
n ebd
将式(5)代人式(4)可得
(4)
图1霍耳效应示意图 图2霍耳效应解释
可改写为
I H B
U H R 」
KI H B
d 1 该式与式(1)和式(2) 一致,R
一就是霍耳系数。

ne
五、实验目的:
研究通电螺线管内部磁场强度
六、实验内容:
(一) 测量通电螺线管轴线上的磁场强度的分布情况,并与理论值相比较; (二) 研究通电螺线管内部磁场强度与励磁电流的关系。

七、实验器材:
霍耳效应测磁场装置,含集成霍耳器件、螺线管、稳压电源、数字毫伏表、直流毫安表 等。

八、实验步骤及操作:
(一)研究通电螺线管轴线上的磁场分布。

要求工作电流
I H 和励磁电流l N 都固定,并让
I M 500 mA 逐点(约12-15个点)测试霍耳电压 U H ,记下I H 和K 的值,同时记录长直 螺线管的长度和
匝数等参数。

1 •接线:霍尔传感器的 1、3脚为工作电流输入,分别接“ I H 输出”的正、负端; 2、 4脚为霍尔电
压输出,分别接“ V H 输入”的正、负端。

螺线管左右接线柱(即“红” 、
“黑”)
分别接励磁电流I M 的“正”、“负”,这时磁场方向为左边 N 右边S 。

2、 测量时应将“输入选择”开关置于“ V H ”挡,将“电压表量程”选择按键开关置于
“ 200 ” mV 挡,霍尔工作电流I H 调到,霍尔传感器的灵敏度为:
245mV/mA/T 。

3、 螺线管励磁电流l M 调到“ 0A ”,记下毫伏表的读数 V 0 (此时励磁电流为 0,霍尔工 作电流I H 仍
保持不变)。

U H
I H B ned
4、再调输出电压调节钮使励磁电流为l M500mA。

5、 将霍耳元件在螺管线轴线方向左右调节,读出霍耳元件在不同的位置时对应的毫伏
表读数V j ,对应的霍耳电压 V Hi V V 0。

霍尔传感器标尺杆坐标 x =0.0mm 对准读数环时,
表示霍尔传感器正好位于螺线管最左端,
测量时在0.0mm 左右应对称地多测几个数据,推荐
的测量点为x =、、、、、、、、、、、75.0mm 。

(开始电压变化快的时候位置取密一点,电压变化慢的 时候位置取疏一点)。

6、 为消除副效应,改变霍耳元件的工作电流方向和磁场方向测量对应的霍耳电压。


算霍尔电压时,V i 、V V V 4方向的判断:按步骤(4 )的方向连线时,I M 、I H 换向开关置 于“O'(即“ +”时对应于 V i ( +B 、+I H ),其余状态依次类推。

霍尔电压的计算公式是
V=
(V 1-V 2+V 3-V 4) - 4 。

7、实验应以螺线管中心处
(x ~ 75mm 的霍尔电压测量值与理论值进行比较。

测量BT M
关系时也应在螺线管中心处测量霍尔电压。

(二)研究励磁特性。

固定I H 和霍耳元件在轴线上的位置(如在螺线管中心) ,改变I M ,测量相应的U H 。

将霍耳元件调至螺线管中心处(
x - 75mm ,调稳压电源输出电压调节钮使励磁电流在
0mA 至 600mA 之间变化,每隔100mA 测一次霍耳电压(注意副效应的消除)。

绘制l M 〜B 曲
线,分析励磁电流与磁感应强度的关系。

九、实验数据及结果分析:
1、计算螺线管轴线上磁场强度的理论值 B 理:
x =L /2=75.1mm 时得到螺线管中心轴线上的磁场强度:
8、计算螺线管轴线上磁场的理论值应按照公式
比NI
B
n l(cos 2 cos 1)
x 2 L-x
(参见教材实
验16,公式3-16-6 )计算,即B 理
量点的理论值,并绘出B 理论~x 曲线与B ¥~X 曲线,误差分析时分析两 如只计算螺线管中点和端面走向上的磁场强度,公式分别简化为
c
用NI
9、 2
「,分析这两点B 理论与实测不能吻合的原因。

2
在坐标纟D 上绘制 &X 曲线,分析螺线管内磁场的分布规律。

2 £ ,计算各测
曲线不能吻合的原因。


Nl
H 、
x =0或x =L 时,得到螺线管两端轴线上的磁场强度:
同理,可以计算出轴线上其它各测量点的磁场强度。

3、不同励磁电流下螺线管中点霍尔电压测量值和磁场强度
零差(I M F0.000A 时):V o1= ____ , V o2= ___ , V )3= _ , V o4= ____
”NI
L 2
D 2
4
4 3.142 10
1535 0.500 f
2
2
• 0.1502
0.0189
6.37(mT),
M )NI
2 L 2 D 2/4
4
4 3.142 10 153
5 0.500 2 .0.15022 0.01892 /4
3.20(mT);
4、螺线管轴线上的磁场强度分布图(注:理论曲线不是必作内容)
5、螺线管中点磁场强度随励磁电流的变化关系图
B(mT)
螺线管轴线上的磁场强度分布图
7
6、误差分析:(只列出部分,其余略)
B理论~x曲线与B测量~x曲线,不能吻合的原因主要是:
(1)螺线管中部不吻合是由于霍尔灵敏度K存在系统误差,可以通过与实验数据比较进行修正。

(2)霍尔灵敏度K修正后,螺线管两端处的磁场强度的测量值一般偏低,原因是霍尔传感器标尺杆越往外拉,就越倾斜,由于磁场没有完全垂直穿过霍尔传感器,检测到的霍尔电压就
会下降。

(3)x=-30.0mm处磁场强度的测量值一般偏高,因为这里可能螺线管产生的磁场已经很弱,主要是地磁和其它干扰磁场引起检测到的霍尔电压增大。

十、实验结论:
1、在一个有限长通电螺线管内,当L>>R时,轴线上磁场在螺线管中部很大范围内近于均匀,
在端面附近变化显著。

2、通电螺线管中心轴线上磁场强度与励磁电流成正比。

卜一、总结及心得体会:
1、霍耳元件质脆、引线易断,实验时要注意不要碰触或振动霍耳元件。

2、霍耳元件的工作电流I H有一额定值,超过额定值后会因发热而烧毁,实验时要注意实验室给出的额定值,一定不要超过。

3、螺线管励磁电流有一额定值,为避免过热和节约用电,在不测量时应立即断开电源。

4、消除负效应的影响要注意VI、V2、V3、V4的方向定义。

十二、对本实验过程及方法、手段的改进建议:
霍耳元件在螺线管中移动时,与螺线管间有较大间隙,导致霍尔传感器标尺杆越往外拉,就越倾斜,由于磁场没有完全垂直穿过霍尔传感器,检测到的霍尔电压就会下降,从而带来较大的误差。

可以考虑在霍尔传感器标尺杆拉出时,额外增加一个支架类的支撑装置,使其能沿轴线方向移动。

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