光谱分析仪常用参数测量参考手册

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光谱分析仪操作指导书

光谱分析仪操作指导书

岛津PDA直读光谱仪操作指导书1.取样和样品制备1.1 制备浇铸样应在试样下端三分之一处截取,得到直径30~35mm,高度小于30mm的样,试样的激发面用粒度24~60目的砂轮或砂纸磨平、抛光。

要求激发面平整、无气孔、夹杂和裂纹,抛纹清晰无交叉,不得触摸,以便封闭火花室保证激发正常。

试样的背面要除去氧化皮和污物,保持良好的导电性。

未经切割的试样,其表面必须去掉1mm的厚度。

1.2 棒材、线材样品要平直、分析端面平整或按特殊要求加工,使用小样夹具时试样正中心,样品分析面要和夹具底面在同一平面上,不得伸出或不到位。

1.3 标样、标准化样、控样、试样要在同一条件下磨抛,不得过热。

2.环境条件2.1允许工作温度:18~28℃,一小时内温度变化≤5℃。

2.2相对湿度: <70%RH(不解露)2.3接地阻抗: 30Ω以下(潮湿地区),10Ω以下(干燥地区)2.4 电源单相200/220/230/240V 50Hz 4KVA。

为避免电源对仪器的干扰需安装5K子交流稳压器(电源净化器)。

3.开机、关机顺序3.1合上电源闸,启动稳压器,待电压稳定到工作电压。

3.2将仪器侧面开关面板的黑色开关(MAIN)由“OFF”位置扳到“ON”的位置。

(每次后仪器应稳定4小时再开始试样的测量工作)3.3打开仪器侧面开关面板的三个白色开关。

3.4打开氩气阀门,将氩气的二级压力调整到0.3MPa。

3.5 按下真空泵开关。

3.6 依次打开WINKIT电源、显示器电源、打印机电源和计算机电源,进入WINDOWS操作3.7双击“PDA for Windows”图标,启动光谱仪分析软件。

3.8 打开光电倍增管负高压(单击光电倍增管负高压旁边的执行图标,使ON图标变成绿关机时单击光电倍增管负高压旁边的执行图标,使OFF图标变成绿色)。

3.9 真空度由‘空气’变成‘真空’(PDA-5500III除外)。

条件显示‘可以分析’。

3.10关机顺序和开机顺序相反。

SPECTROMAXx光谱分析仪中文操作手册

SPECTROMAXx光谱分析仪中文操作手册

德國SPECTROMAXx分光儀V0.01卓明貿易股份有限公司231台北縣新店市寶橋路235巷133號7樓之3 TEL : (02) 8919-1488 407台中市西屯區福順路140號16F-1 TEL : (04) 2462-0010 813高雄市左營區文康路197號4樓TEL : (07) 345-2867目錄Index 操作注意事項開機步驟選擇分析程式(Load Program)輸入樣品編號(Edit Sample Data)分析樣品(Analyze)ICAL校正(Intelligent Calibration Logic)微調校正關機步驟(Shutdoun Procedure)快速功能(Hot Key)設定材質規格資料庫(Alloy Grade Library)元素顯示排列(Element Format)元素顯示模式(Output Mode)故障排除(Trouble Shooting)操作注意事項1.環境操作條件Designation內容ValueElectric connection電力220 V +- 10VGround接地線必需採用獨立接地線Power during scan最大耗電400 VAPower during stand-by待機180 VATemperature range環境溫度具備空調的實驗室Air humidity range溼度20 – 80%, not condensingArgon cylinder pressure氬氣鋼瓶最低壓力Argon inlet pressure on the unit氬氣壓力10bar ( 1 Mpa) 7.0 bar (0.7 Mpa)Argon quality (min.)氬氣純度要求 4.9 (99.999% Ar)以上Argon flow rates Stand-by (low-flow):Constant flow:Analytic flow: 6 l/h 23l/h 200l/h2.試片之處理與分析i.樣品處理設備鐵基、鈷基、鎳基、鈦基…………環帶式砂輪機1Hp,無縫砂布帶60號鉛基、銅基、鋅基、鎂基、鍚基、鉛基…車床或銑床,可夾持¢25-80mm的樣品ii.試片不可氧化及不帄,車削時不可加切削液iii.不可用手觸摸分析面。

光谱测定方法手册说明书

光谱测定方法手册说明书

1. MethodWith the help of two ready-to-use multiparameter solutions (standardsolution and addition solution) of defined content, measurement values are compared with desired values to determine any analytical errors.The error caused by the photometric measurement system (test kits, photometers, analytical procedures) and the mode of operation can be determined by means of the standard solution . This is used without dilution in place of the sample solution.Sample-dependent effects on the measurement result (matrix effects) are determined by measuring the sample after spiking it with addition solution (standard addition). The addition solution is a concentrated mixture of the ions contained in the standard solution.The standard solution and the addition solution are prepared by accurate weighing in, using an analytical scales controlled with standard weights. All scales are regularly calibrated and checked against PTB standards(P hysikalisch-T echnische B undesanstalt, Germany) and NIST standards (N ational I nstitute of S tandards and T echnology, USA).2. ApplicationsThe CombiCheck articles serve to check the quality of the photometric measurement system and of the mode of working, as well as to identifysample-dependent effects on the measurement result. The latter is an impor-tant indication of the necessity for sample pretreatment. The measurement results are traceable to NIST .Recommended frequency of application:Standard solution (reagent R-1) Addition solution (reagent R-2) • 1 x per series 1) • when the composition of the individualsamples differs considerably from each • approx. every 10th sample other• upon a switch in operating personnel • when measurement results do notappear plausible• upon the opening of a new test package• when measurement results do not appear plausible1)T o determine the random error , it is recommended to repeat the measurement atleast five times.3. Desired values and number of quality checksThe “working tolerance” given in column 2 of the following tables does not express the variation in the contents of the CombiCheck solutions (this lies below 1%), but instead the permissible dispersion of the results caused by the photometric measurement system and the mode of operation when using the respective test kit (column 3). The working tolerance defined in thismanner serves as an assessment criterion for the quality check (see section 5).Standard solution (reagent R-1)Parameter Desired value/ Can be used R-1 Number ofworking tolerancefor Cat. No.(ml)quality checksAluminium 0.40 + 0.05 mg/l Al 100594 6.016 0.40 + 0.05 mg/l Al 114825 1) 5.0 19Lead 2.00 + 0.20 mg/l Pb 114833 5.019 2.00 + 0.20 mg/l Pb 109717 1) 8.0 11Nickel 2.00 + 0.20 mg/l Ni 114554, 5.0 19 114785 1) Zinc 0.750 + 0.150 mg/l Zn 100861 10.0 9 0.75 + 0.15 mg/l Zn114832 5.0191)when a 10-mm rectangular cell is usedAddition solution (reagent R-2)ParameterDesired value/ Can be used Sample + Number ofconfidence interval for Cat. No. R-2 (ml)quality checksAluminium 0.20 + 0.03 mg/l Al 1005946.0 + 0.10 280 0.24 + 0.04 mg/l Al 114825 1) 5.0 + 0.10 280Lead 1.00 + 0.15 mg/l Pb 114833 5.0 + 0.10 2800.63 + 0.20 mg/l Pb109717 1) 8.0 + 0.10 280Nickel 2.00 + 0.20 mg/l Ni 114554, 5.0 + 0.10 280114785 1) Zinc 0.250 + 0.050 mg/l Zn 100861 10.0 + 0.10 280 0.50 + 0.10 mg/l Zn1148325.0 + 0.102801)when a 10-mm rectangular cell is used1 bottle of reagent R-1 (standard solution)1 bottle of reagent R-2 (addition solution)1 control chart5. Quality checkStandard solution (reagent R-1)Preparation• Make photocopies of the enclosed control chart.• Take the desired value and the working tolerance for the standard solution for the respective test kit from the table in section 3 and enter them in the enclosed control chart:desired value at , upper tolerance limit at , lower tolerance limit at .ProcedureProceed according to the instructions given in the package insert of the respective test kit and in the manual of the photometer used. In this case, however, use undiluted reagent R-1 in place of the sample without adjusting the pH!EvaluationEnter the measurement value as a number in a copy of the control chart and mark the grid at the corresponding place.If the measurement value is within the working tolerance (grey back-ground), the working materials and handling are in order .If the measurement value is outside the working tolerance , a systematic error is present. In such a case, among other things the following aspects must be checked:Standard solution and reagents Sample pretreatment• expiry date not yet exceeded? • thermoreactor set correctly?• storage under the recommended • solution colorless and without turbidity? conditions?ProcedurePipettes• operating instructions adhered to?•adjusted correctly? • correct quantity and sequence of reagents? • no contamination? • thoroughly mixed/dissolved after addition of • correct handling?reagents?• new pipette tip used? • reaction time and temperature adhered to? CellsPhotometric measurement• proper size? • correct wavelength (filter) selected? • clean? • correct factors entered?• light path free from foreign matter/dust?Sampling • correct sample volume?Addition solution (reagent R-2)ProcedureIn the following analyses always proceed according to the instruc-tions given in the package insert of the test kit to be checked and in the manual of the photometer used.• Analysis of the sample (measurement value A)• Analysis of a spiked sample: W hen preparing the measurement solution 0.10 ml of reagent R-2 is added by pipette immediately after the sample is added (measure-ment value B).EvaluationCalculate the concentration difference C:C = B - AIf C is within the working tolerance for the addition solution (see table in section 3), the sample does not contain any compounds that interfere with the measurement.If C is outside the working tolerance , a sample-dependent interference is present, and the measurement value A obtained with the sample is incorrect.To obtain a correct result, the sample must be appropriately pre-treated.Notes:• Spiking with the addition solution must not cause the measuring range for the respective test to be exceeded!If this possibility is to be expected, the original sample must be appropri-ately diluted.• The identification of interferences that cancel each other out and of individual interference factors is not possible using this method alone.6. Notes• Reclose the reagent bottles immediately after use.• For photometric measurement the cells must be clean. Wipe, if necessary, with a clean dry cloth.• For quality and batch certificates for Spectroquant ® test kits see the website.• Additional notes see under .7.75468.0004-xxxxxxxxxx msp. January 2019CombiCheck 100Merck KGaA, 64271 Darmstadt, Germany, Tel. +49(0)6151 72-2440EMD Millipore Corporation, 400 Summit DriveBurlington MA 01803, USA, Tel. +1-978-715-4321。

光谱分析仪器校准使用方法说明书

光谱分析仪器校准使用方法说明书

光谱分析仪器校准使用方法说明书一、引言光谱分析仪器是现代科学研究和工业生产中的重要工具之一,它能够通过分析物质的光谱信息来获取样品的组成、浓度等相关信息。

为了确保测量结果的准确性和可靠性,光谱分析仪器的校准至关重要。

本文将详细介绍了光谱分析仪器校准使用的方法和步骤,以确保用户能够正确地操作和校准光谱分析仪器,获得准确可靠的分析结果。

二、校准前的准备工作在进行光谱分析仪器的校准之前,有几项准备工作是必不可少的,以确保校准过程的顺利进行。

1. 清洁仪器表面使用干净的软布擦拭光谱分析仪器的表面,确保无尘和杂质的存在,以避免对校准结果的影响。

特别需要注意避免使用有腐蚀性的清洁剂或者清洁布,以免损坏仪器表面。

2. 检查仪器连接检查光谱分析仪器的线缆、接头等连接是否牢固可靠,确保在校准过程中不会出现信号干扰或者断开的情况。

3. 准备校准样品根据所需的校准参数和范围,准备相应的校准样品。

确保校准样品的纯度和浓度符合要求,并被储存在适当的条件下,以免失效或者变质。

三、仪器校准步骤1. 设置仪器参数打开光谱分析仪器的电源,确保仪器处于正常工作状态。

根据所要分析的样品和目标,设置仪器的参数,包括波长范围、曝光时间、扫描速度等。

这些参数的合理设置能够提高仪器的分辨率和灵敏度,从而获得更准确的分析结果。

2. 零点校准将光谱分析仪器置于无样品的状态下,进行零点校准。

这一步骤旨在消除仪器本身的漂移和背景信号,保证后续测量结果的准确性。

按照操作手册的指导,选择零点校准功能,并根据仪器要求进行操作,直至完成零点校准。

3. 校准曲线绘制使用标准校准样品,通过一系列不同浓度的标准溶液,制作出校准曲线。

校准曲线是仪器校准的关键步骤,它将不同浓度下的光谱信号与样品浓度之间建立了对应关系,使后续的样品定量分析成为可能。

4. 样品测试经过上述步骤的校准后,即可对待测样品进行测试。

根据实际需要,将待测样品放入样品室中,启动测量程序,记录光谱信号。

SPECTROTEST直读光谱仪使用手册

SPECTROTEST直读光谱仪使用手册

SPECTROTEST直读光谱仪使用手册1. 简介SPECTROTEST直读光谱仪是一种先进的分析仪器,用于测量和分析样品的光谱特性。

本使用手册旨在帮助用户了解光谱仪的基本操作和功能。

2. 连接光谱仪在使用光谱仪之前,首先需要将其连接到适当的电源和计算机。

请按照以下步骤进行连接:1. 将光谱仪的电源线插入可靠的电源插座。

2. 使用USB线将光谱仪连接到计算机的USB端口。

3. 启动软件在连接光谱仪后,需要启动光谱仪的控制软件。

请按照以下步骤进行操作:1. 双击桌面上的光谱仪控制软件图标。

2. 等待软件加载并显示主界面。

4. 校准光谱仪在使用光谱仪之前,需要进行校准以确保准确的测量结果。

校准光谱仪的步骤如下:1. 打开光谱仪控制软件。

2. 点击菜单中的“校准”选项。

3. 按照软件提示进行校准操作。

5. 测量样品完成光谱仪的校准后,可以开始测量样品的光谱特性了。

请按照以下步骤进行操作:1. 准备好待测样品,并将其放置在光谱仪的测量台上。

2. 在光谱仪控制软件中,点击菜单中的“测量”选项。

3. 根据软件提示选择适当的测量参数,并开始测量。

6. 分析数据一旦完成样品测量,光谱仪将提供相应的数据。

可以使用光谱仪控制软件进行数据分析和处理。

以下是一些常用的数据分析功能:- 谱线分析:分析光谱图中的谱线特征。

- 峰值识别:自动识别光谱图中的峰值。

- 数据导出:将数据导出为Excel或其他格式进行进一步处理。

7. 关闭光谱仪在使用完光谱仪后,应正确关闭光谱仪和控制软件。

请按照以下步骤进行操作:1. 在光谱仪控制软件中,点击菜单中的“关闭”选项。

2. 断开光谱仪与计算机之间的连接。

3. 关闭光谱仪的电源。

8. 故障排除如果在使用光谱仪过程中遇到问题,可以参考以下常见故障排除方法:- 确保光谱仪的连接正确,并重新连接。

- 检查光谱仪的电源线是否插入稳固,并重新插拔。

- 重启计算机并重新启动光谱仪控制软件。

以上是SPECTROTEST直读光谱仪的使用手册。

光谱分析仪使用方法说明书

光谱分析仪使用方法说明书

光谱分析仪使用方法说明书一、引言光谱分析仪是一种用于测量物质吸收、发射或散射光谱的仪器,广泛应用于化学、生物、材料科学等领域。

本说明书旨在详细介绍光谱分析仪的使用方法,帮助用户正确、高效地操作该仪器。

二、仪器概述光谱分析仪采用先进的光学系统和检测器件,可实现高精度的光谱测量。

仪器包含以下主要部件:1. 光源:用于发射特定波长的光线,常见的光源包括白炽灯、氘灯、氙灯等。

2. 光栅:通过光栅的衍射效应,将入射光线分解成不同波长的光谱。

3. 样品室:放置待测样品的空间,保证样品与光线的正常相互作用。

4. 检测器:用于接收、测量样品发射或吸收的光信号,并将其转换为电信号。

5. 控制系统:包括光学系统、电子系统以及数据处理和显示系统等,用于操作和控制整个仪器。

三、仪器准备在使用光谱分析仪之前,请按照以下步骤进行仪器准备:1. 安装:将光谱分析仪稳定地安装在干净、稳定的工作台上,并保证充足的通风和周围环境的干净。

2. 电源连接:将仪器的电源线连接到稳定的电源插座,并确保电压符合仪器要求。

3. 光源检查:检查光源的正常工作情况,确保光线稳定且光谱范围符合实验要求。

4. 校准:根据仪器要求,进行必要的校准步骤,以确保测量结果的准确性。

四、样品准备在进行光谱分析之前,需要准备好样品,并按照以下步骤进行处理:1. 样品选择:根据实验要求,选择合适的样品进行分析,并清洁样品以确保无杂质影响分析结果。

2. 样品装载:将清洁的样品放置于样品室中,并调整样品位置以保证光线能够正常照射和接收。

3. 样品数量:根据实验要求,确定需要分析的样品数量,并按照仪器的容量进行样品装载。

五、测量操作完成仪器准备和样品处理后,可以按照以下步骤进行测量操作:1. 仪器启动:打开仪器电源,并按照操作面板上的指示启动仪器。

2. 光谱选取:选择合适的光谱范围和分辨率,并进行相应的设置。

3. 扫描模式:根据实验要求,选择适当的扫描模式,例如连续扫描或单次扫描。

光谱分析仪参数

光谱分析仪参数

光谱分析仪参数一、仪器基本要求此设备要求是一款非真空条件下,采用高精度、高分辨率的探测器,根据测试材料自动选择滤光片,采用适合激发全元素的Mo靶材,综合应用经验系数法、基本参数法V8.0分析软件,利用X射线荧光原理,测试样品无损,快速检测合金材料中元素成分的光谱仪。

可以满足测试常规金属材料(铁材、铜材、锡合金、锌合金)元素材料分析,判定材料性质特性。

二、性能1、X射线荧光原理,无损、快速、准确的检测和鉴定材料成分;2、铜材、钢材、锌合金、锡合金等各种合金元素成分分析;3、高分辨率探测器,能够检测到几十ppm的元素含量;4、固体、粉末、液体等样品可直接测试5、几十秒可得出稳定准确的测试数据;6、测试过程简单、输出报告多种格式、查询筛选统计功能齐全。

7、谱图对比分析方法,供应商物料发生变化及时预警功能。

三、仪器技术指标1、测试元素范围:K-U2、检测范围:1ppm-99.99%3、测试样品类型:固体、粉末和液体4、测量时间:30-200s(系统自动调整)5、最佳分辨率6、准直器:Φ1mm、Φ2mm、Φ5mm7、滤光片:8种复合滤光片自动切换8、CCD观察:130万像素高清CCD9、样品微动范围:XY8mm10、输入电源:AC220V~240V,50/60Hz11、额定功率:350W12、工作环境温度:温度15—30℃13、工作环境相对湿度:≤85%(不结露)14、稳定性:多次测量重复性误差小于0.1%四、仪器硬件主体配置1、探测系统类型:Si-PIN探测器Be窗厚度:1mil(0.0254mm)最佳分辨率:145±5eV系统峰背比:≥6200/1能量响应范围:1keV~40keV推荐计数率:5000cps2、X光管电压:0~50kV最大电流:1.0mA最大功率:50W灯丝电压:2.0V灯丝电流:1.7A射线取出角:12°靶材:MoBe窗厚度:400um3、高压电源输入电压:DC+24V±10%输入电流:4.25A(最大)输出电压:0-50KV&1mA最大功率:50W电压调整率:0.01%(从空载到满载)电流调整率:0.01%(从空载到满载)纹波电压:输出额定电压前提条件下,纹波电压的峰值为最高输出电压的0.25%。

MSCC光谱分析仪使用说明书

MSCC光谱分析仪使用说明书

目录1 引言 (3)2 MSC9710C光谱分析的基本操作方法 (3)2.1 开机 (4)2.2 接好光源 (4)2.3 输入光源 (4)2.4 常用设置 (4)2.5 校准 (5)2.5.1 功率校准 (5)2.5.2 波长校准 (6)2.6 保存和输出 (6)3 常用测试项目测试简介 (7)3.1 光源光谱特性的测试方法 (7)3.1.1 工作波长的测试方法 (7)3.1.2 最小边模抑制比(SMSR) (9)3.1.3 最大-20dB谱宽 (11)3.1.4 最大均方根谱宽(б) (12)3.2 光放性能参数的测试 (13)3.3 WDM方式下光谱特性的测试 (14)3.4 插损和隔离度测试 (15)3.4.1 插损的测试 (15)3.4.2 隔离度的测试 (16)4 附录:MS9710C光谱分析仪菜单和面板快捷键说明 (18)4.1 屏幕菜单说明 (18)4.1.1 Wavelength(F1) (18)4.1.2 Level(F2) (20)4.1.3 Res/VBW/Avg(F3) (21)4.1.4 Peak/Dip Search(F4) (23)4.1.5 Anayling Waveforms (F5) (24)4.1.6 Trace Memory(F6) (25)4.1.7 Save/Recalling(F7)保存/调出保存结果 (26)4.1.8 Graph (F1)设置显示图形方式 (26)4.1.9 Application (F2) (27)4.1.10Measurement Modes (F3) (28)4.1.10 Titles(F4)设置文件名 (29)4.1.11 Calibration(F5)校准功能 (30)4.1.12 Conditions(F6) (30)4.1.13 Others(F7) (30)4.2 面板快捷键说明 (31)4.3 .................................................................................................................................... 错误!未定义书签。

光谱仪器使用方法说明书

光谱仪器使用方法说明书

光谱仪器使用方法说明书一、引言光谱仪器是一种常用的科学仪器,用于测量物质在不同波长下的光谱反射或吸收情况。

本说明书旨在向使用者详细介绍光谱仪器的使用方法,包括仪器组装、操作步骤、数据分析等内容,以帮助使用者正确高效地使用该仪器。

二、仪器组装1. 器件清单光谱仪器组装所需的器件清单如下:- 光源- 分光装置- 光栅- 探测器- 数据采集系统请确保所有器件齐全,并按照指定的连接方式将它们组装在一起。

2. 连接顺序按照以下顺序依次连接光谱仪器的各个部件:- 将光源连接到光谱仪的光源接口,确保连接牢固。

- 连接分光装置和光源,使其能够接受来自光源的光,并将其分散成不同波长的光束。

- 连接光栅和分光装置,确保光束通过光栅进行波长选择。

- 将探测器连接到光栅,接收并测量通过光栅的光信号。

- 连接数据采集系统和探测器,以实时记录和分析测量的数据。

三、操作步骤1. 仪器准备- 开启光源,并调整亮度和稳定性至合适的水平。

- 打开数据采集系统,确保其正常运行。

2. 校准- 使用标准样品对光谱仪进行校准。

选择已知反射或吸收光谱特性的标准样品,并按照指定程序进行校准。

- 记录校准结果以便后续数据分析时的修正。

3. 测量- 将待测样品放置在光谱仪器上,并按照指定的测量程序进行测量。

- 确保样品与光源的距离、角度等参数符合要求,避免光束衰减或污染。

- 按照指定的波长范围和步长进行测量。

4. 数据分析- 导出测量结果至数据分析软件,并进行必要的数据处理和图像绘制。

- 分析样品的光谱特征,比较不同样品之间的差异,提取有价值的信息。

四、注意事项1. 操作安全- 在操作光源时,避免长时间直视强光,以免损伤眼睛。

- 操作光谱仪器时,确保室内环境干净、静止,避免灰尘或其他杂质对测量结果的影响。

2. 仪器保养- 保持光源、分光装置等仪器部件的清洁,定期进行清洁维护。

- 注意仪器的存储环境,避免高温、潮湿等不良条件对仪器性能的影响。

3. 问题排查- 在使用过程中遇到问题时,首先检查仪器的各个连接部分是否正常。

光谱分析仪常用参数测量参考手册

光谱分析仪常用参数测量参考手册

光谱分析仪常用参数测量参考手册摘要:光谱分析仪是在光纤通信产品中常用的测试仪器,本文以横河的AQ6370光谱分析仪为例结合平时的测试工作,介绍了使用光谱分析仪进行一些常规参数的测量方法。

关键词:光谱分析仪;横河AQ6370一、概述光谱分析仪是在平时的光通信波分复用产品中较常使用到的仪表,当WDM 系统刚出现时,多用它测试信号波长和光信噪比。

其主要特点是动态范围大,一般可达70dB;灵敏度好,可达-90dBm;分辨率带宽小,一般小于0.1nm;比较适合于测试光信噪比。

另外测量波长范围大,一般在600~1700nm.,但是测试波长精度时却不如多波长计准确。

在光谱的测量、各参考点通路信号光功率、各参考点光信噪比、光放大器各个波长的增益系数和增益平坦度的测试都可以使用光谱分析仪。

光谱分析仪现在也集成了WDM的分析软件,可以很方便地把WDM的各个波长的中心频率、功率、光信噪比等参数用菜单的方式显示出来。

二、常用参数的测试光谱分析仪的屏幕显示测量条件、标记值、其它数据以及测量波形。

屏幕各部分的名称显示如下:图1:屏幕各部分的名称1、光谱谱宽的测量谱宽即光谱的带宽,使用光谱分析仪可以测量LD、发光二极管的谱宽。

在光谱的谱宽测量时,要特别注意光谱分析仪系统分辨率的选择,即原理上光谱分析仪的分辨率应当小于被测信号谱宽的1/10.,一般推荐设置为至少小于被测信号谱宽的1/5。

在实际的测量中,为了能够准确测量数据,一般选择分辨率带宽为0.1nm 以下。

分辨率带宽RES位于SETUP菜单中的第一项,直接输入所要设定的分辨率带宽的大小即可。

如下图2、3、4所示(图中只为区别光谱形状的不同),当选择的分辨率带宽不同时,从光谱分析仪观察到的光谱形状有很大的不同,并且所测量得到的谱宽大小的不同。

图2:分辨率带宽RES=0.5nm时的光谱形状图3:分辨率带宽RES=0.1nm时的光谱形状图4:分辨率带宽RES=0.02nm时的光谱形状在观察光谱谱宽的同时,也可以通过光谱分析仪读出光谱的中心频率、带宽、峰值功率和边模抑制比等参数。

光谱分析仪常用参数测量参考手册

光谱分析仪常用参数测量参考手册

光谱分析仪常用参数测量参考手册摘要:光谱分析仪是在光纤通信产品中常用的测试仪器,本文以横河的AQ6370光谱分析仪为例结合平时的测试工作,介绍了使用光谱分析仪进行一些常规参数的测量方法。

关键词:光谱分析仪;横河AQ6370一、概述光谱分析仪是在平时的光通信波分复用产品中较常使用到的仪表,当WDM系统刚出现时,多用它测试信号波长和光信噪比。

其主要特点是动态范围大,一般可达70dB;灵敏度好,可达-90dBm;分辨率带宽小,一般小于0.1nm;比较适合于测试光信噪比。

另外测量波长范围大,一般在600~1700nm.,但是测试波长精度时却不如多波长计准确。

在光谱的测量、各参考点通路信号光功率、各参考点光信噪比、光放大器各个波长的增益系数和增益平坦度的测试都可以使用光谱分析仪。

光谱分析仪现在也集成了WDM的分析软件,可以很方便地把WDM的各个波长的中心频率、功率、光信噪比等参数用菜单的方式显示出来。

二、常用参数的测试光谱分析仪的屏幕显示测量条件、标记值、其它数据以及测量波形。

屏幕各部分的名称显示如下:图1:屏幕各部分的名称1、光谱谱宽的测量谱宽即光谱的带宽,使用光谱分析仪可以测量LD、发光二极管的谱宽。

在光谱的谱宽测量时,要特别注意光谱分析仪系统分辨率的选择,即原理上光谱分析仪的分辨率应当小于被测信号谱宽的1/10.,一般推荐设置为至少小于被测信号谱宽的1/5。

在实际的测量中,为了能够准确测量数据,一般选择分辨率带宽为0.1nm以下。

分辨率带宽RES位于SETUP菜单中的第一项,直接输入所要设定的分辨率带宽的大小即可。

如下图2、3、4所示(图中只为区别光谱形状的不同),当选择的分辨率带宽不同时,从光谱分析仪观察到的光谱形状有很大的不同,并且所测量得到的谱宽大小的不同。

图2:分辨率带宽RES=0.5nm时的光谱形状图3:分辨率带宽RES=0.1nm时的光谱形状图4:分辨率带宽RES=0.02nm时的光谱形状在观察光谱谱宽的同时,也可以通过光谱分析仪读出光谱的中心频率、带宽、峰值功率和边模抑制比等参数。

光谱分析仪的使用教程

光谱分析仪的使用教程

光谱分析仪的使用教程光谱分析仪是一种常用的科学实验工具,它可以通过光的色散原理将物质的光谱特性展示出来。

光谱分析仪的使用方法既简单又复杂,需要一定的基础知识和技巧。

本文将引导读者了解光谱分析仪的基本原理,并详细介绍光谱分析仪的正确使用方法。

一、仪器介绍光谱分析仪是一种测量物质光谱的仪器,它通常由光源、光栅、光学系统和检测器组成。

其中,光源可以是可见光或紫外光的LED灯或激光器。

光栅是用于将光线进行色散和解析的关键部件。

光学系统负责引导光线,确保光线准确地射入检测器。

检测器是用于接收光信号并转化为电信号的元件。

二、原理解析光谱分析仪的工作原理基于光的色散现象。

当光线通过光栅时,不同波长的光会因光栅的作用而发生不同角度的偏折。

通过调整光栅的角度和间距,我们可以选择特定波长的光通过,而将其他波长的光从侧边散射出去。

这样,我们就能够观察到不同波长的光在光谱上的分布情况。

三、准备工作在使用光谱分析仪之前,我们需要进行一些准备工作。

首先,确保仪器处于正常的工作状态,检查光源、光栅、光学系统和检测器是否完好无损。

其次,准备待测样品,并注意清洁样品表面,以确保测量结果的准确性。

最后,合理安排实验环境,保证光谱分析仪能在稳定的条件下进行测量。

四、测量步骤1. 打开光谱分析仪电源,确保设备正常运行。

2. 调整光谱分析仪的波长范围和分辨率,以适应实验需求。

3. 将待测样品置于光谱分析仪的采样台上。

4. 选择合适的光源,并设置相应的光强度。

5. 点击开始测量按钮,记录下测量数据,并观察光谱曲线的变化。

6. 根据实验需要,对测量结果进行进一步处理和分析。

五、注意事项在进行光谱分析仪的使用时,还需要注意以下几点。

1. 避免样品表面的污染和刮伤,这可能会影响测量结果的准确性。

2. 注意调整光谱分辨率,不同实验需求可能需要不同的设置。

高分辨率会提供更详细的光谱信息,但也需要更长的测量时间。

3. 在进行测量时,要保持实验环境的稳定。

光谱仪操作手册

光谱仪操作手册

地物光谱仪操作手册寒旱所侯海艳(以下为个人使用光谱仪经验,不具有科学的严谨性,难免会有错误,供参考)光谱仪是测定地物光谱反射率的一种设备,其探测波长范围约为330nm~2500nm,也就是从紫外光到中红外波段。

常用光谱仪型号为:Spectral Evolution光谱仪,ASD光谱仪,SVC HR1024光谱仪。

在此以Spectral Evolution光谱仪为例。

SE光谱仪主要包含主机、手持PDA、光纤、电脑软件等组件。

别的还有白板,电池两块,PDA数据线,光纤手柄。

测量地物光谱有以下几种形式:1 主机单独测量,主机上有前置光学系统(4°,8°,14°视场角),有集成控制面板,可进行光谱测量。

但比较麻烦,通常不用这种方式。

2 主机+手持PDA+光纤,光纤视场角为25°,根据地面视场范围调节探头与地物的距离,以计算视场范围内的光谱反射平均值;通过手持PDA控制仪器。

这种方式较为方便,常用。

3主机+电脑软件+光纤,另一种控制仪器测量的方式为电脑软件DARWin SP软件,调节好输入输出端口即可,这种方式也是比较麻烦,在不得已的情况下可以使用。

以下是操作步骤和注意事项操作步骤1 组装好光谱仪,打开电源开关,预热几分钟2 打开PDA,开启蓝牙,打开DARWin SP软件,在device选项卡中选择COM 8端口,点击connect按钮与光谱仪主机连接,显示连接成功后即表明连接成功。

3 光谱仪白板校准,将白板平放在地上,面朝太阳,探头垂直对准白板,距离约10-15cm,人体稍微向后侧。

点击PDA的scan选项卡中的reference按钮校准。

4 地物目标测量,调整合适的距离,将探头对准地物,面朝太阳,点击PDA的scan选项卡中的target按钮开始地物波谱测量,待波谱曲线出来之后即是扫描测量完毕。

进行下一个目标。

5 收工后及时将地物波谱数据导入电脑中,可用DARWin SP软件查看光谱数据。

用户操作手册AQ6370光谱分析仪(可编辑)

用户操作手册AQ6370光谱分析仪(可编辑)

用户操作手册AQ6370光谱分析仪用户操作手册AQ6370光谱分析仪IM 735301-01C第一版产品注册感谢您购买横河公司的产品。

横河为注册用户提供丰富的信息资源和服务。

用户可以通过主页完成产品注册,我们将为用户提供最好的服务。

////0>.PIM 103-01C 前言感谢购买AQ6370 光谱分析仪。

此仪表可以高速测量LD 和LED 光源、光放大和其他设备的光学性能。

为了使操作更简单,此仪表内含一个基于鼠标模式的用户操作功能和一个全新的放大功能。

本用户手册介绍了仪表的功能、操作流程、操作注意事项和其他使用仪表的重要信息。

为了正确使用此仪表,使用前请仔细阅读本手册。

阅读本手册后,请把本手册放置在易于查阅的地方,以便在操作过程中出现问题时可及时取阅。

除了本手册以外,AQ6370 还包括另一本用户手册。

两本用户操作手册皆需阅读。

手册名称手册号说明AQ6370 光谱分析仪 IM 735301-0C本手册介绍了AQ6370 的全部功能用户操作手册和操作流程。

V (Vol 1/2 ) (除通信和编程功能以外)AQ6370 光谱分析仪 IM 735301-17C 本手册介绍了具有通信接口的通信接口用户操作手册仪表控制功能。

CD-ROM Vol 2/2注意本手册的内容将根据仪表对性能和功能方面不断改良而随之更新。

其中的插图可能与仪表界面显示略有不一。

尽力做好本手册的准备工作,确保内容准确。

但是, 如果用户对本手册有异议或发现问题, 请联系列于本手册封底的横河公司代表处。

未经横河电机公司的许可禁止转载或复制本手册内容。

本手册还提供一张保证书。

此保证书不得重新发行。

阅读保证书后, 请把它放置于安全的地方。

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光谱分析仪通用作业指导书

光谱分析仪通用作业指导书

光谱分析仪通用作业指导书1、样品的准备1.1样品激发之前必须将其磨光。

对于钢和铸铁颗粒大小(钢是60目到90目之间,对铸铁是40目到60目之间),建议用适和本仪器样品的砂轮、砂纸磨削。

1.2砂轮、砂纸一定不要被高合金含量的样品污染(例如:应该先用于低合金样品,再用于高合金样品)。

1.3样品必须在清洁的、规范的砂轮、砂纸上磨(没有先前激发处理留下的激发的痕迹)。

样品表面不能被抛光(适时更新用过的砂轮、砂纸)。

1.4必须确保样品在磨的过程中没有过热(样品应该与砂轮、砂纸只有短暂的接触)。

如果需要,样品应该用水冷却,再干燥,再尽可能短的时间干磨。

1.5软质样品(例如:铜、铝、锌、铅)必须车削表面或用酒精湿磨。

1.6磨好的表面一定不要玷污(例如用手触摸)。

(砂轮或磨样机的磨样要求与以上所述相同)。

2、氩气供应要求2.1气体型号:只有纯氩气(含Ar99.999%)及更高纯度的氩气才可使用。

2.2减压阀门要求:两级减压阀门要保证纯净氩气的初始强度为3bar,流量最低要达到800L/h。

为确保精确,压力表的量程应该为4~5bar的最大范围,初始压强才会准确的表示出来。

3、日常规操3.1仪器的开机与关机用仪器内部电源接线板主开关开机与关机。

一旦光谱仪的开关置于“OFF”,仪器的所有组件都与电源断开。

警告:在维修和打开设备面板之前,主开关必须处于“OFF”位置,只有专业人员除外。

在预先知道要停电的情况下,一定要关机。

3.2分析仪状态检测3.2.1氩气的质量和压强达到标志牌的标准。

3.2.2氩气的排气管必须畅通无阻。

3.2.3光谱分析仪的温度要在允许范围之内,并保持恒定。

3.2.4光谱仪的真空值必须大于0.83.2.5样品的准备必须如前所述注意:设备启动到光学系统的温度达到稳定以及真空达到0.8,需要几个小时!3.3标准化:光谱分析仪根据两点法进行标准化每次设备内部状况和环境状况发生了对整个设备状况有影响的变化后,就要进行一次标准化,特别是下列情况之后:a、清理或修理了火花激发台;b、清理光学系统的入射窗口c、换了新的氩气瓶d、调整氩气流量e、测量控制样品时,在测量值和设置点值之间有大的偏差。

光谱分析仪操作方法说明书

光谱分析仪操作方法说明书

光谱分析仪操作方法说明书一、引言光谱分析仪是一种使用光学原理来量化和分析物质各种成分的仪器。

本操作方法说明书旨在提供使用者对光谱分析仪的正确操作方法的指导, 以确保正常、高效地完成光谱分析任务。

二、设备准备使用光谱分析仪之前, 用户需确认以下设备是否完好, 并准备就绪:1. 光谱分析仪本身;2. 电源和相应的电缆;3. 样品槽;4. 光学系统校准标准物质;5. 连接电脑所需的数据线及相关软件。

三、仪器连接和开机1. 使用电缆将光谱分析仪与电源连接;2. 将数据线插入光谱分析仪和电脑之间的接口;3. 按下电源按钮,待光谱分析仪启动完成后,将其预热10-15分钟,直至指示灯显示就绪。

四、样品准备和测量1. 根据需要,准备待测样品,并注意样品的保存和处理方法;2. 打开操作软件,并选择适当的测量模式;3. 将样品放置于样品槽中,并确保样品与光源之间的距离合适;4. 在软件中选择合适的参数设置,如光谱范围、光源类型、积分时间等;5. 开始测量前,请确保样品槽及光学系统处于清洁状态,避免灰尘和污渍对测量结果的影响;6. 点击软件中的“测量”按钮,开始进行光谱分析。

五、结果分析与保存1. 在测量完成后,软件会生成曲线或者光谱图,用户可根据自己的需求选择合适的界面展示结果;2. 对结果进行分析,可采用软件内置的数据处理工具或者导出数据到其他分析软件进行进一步处理;3. 如需保存结果,可以通过软件的存储功能将数据保存到指定位置。

六、仪器关机和清洁1. 在使用完毕后,将光谱分析仪从电源上断开,并拔掉电缆;2. 清理样品槽和其他可能受到污染的部件;3. 使用干净、柔软的布清洁光学系统,避免使用硬物或有机溶剂,以免损坏仪器表面;4. 将光谱分析仪放置在安全、干燥的环境中,以便下次使用。

七、故障排除在使用光谱分析仪的过程中遇到故障时,请参考《光谱分析仪操作方法说明书》的故障排除部分,或者联系售后服务人员进行解决。

八、安全注意事项1. 使用光谱分析仪时请注意避免光照射眼睛,以免造成伤害;2. 在清洁光学系统时,请确保仪器已经断开电源,并且使用柔软的布进行清洁;3. 不要在高温、高湿度或者尘土较多的环境下使用仪器;4. 注意避免仪器受到撞击或者摔落,以免损坏仪器。

XRF光谱分析仪作业指导书

XRF光谱分析仪作业指导书

制訂日期:2008/08/08 版本:AXRF光譜分析儀作業指導書一.目的:為了使操作人員更好的了解掌握XRF光譜分析儀的使用方法,對有害物質做到有效的的監測,防止含有HS的外購成品、半成品、原材料流入工廠和防止制程中的半成、成品受到污染流入客戶端。

二.范圍:XRF系列光譜分析儀均適用之三.權責:1.本文件制定與修訂:品管部2.本文件執行: 品管部3.本文件需經本公司環境管理物質技術委員會核準四.術語和定義:4.1. X-射线荧光光谱:作为一种比较分析技术,在较严格的条件下用一束X射线或低能光线照射样品材料,致使样品发射特征X射线。

这些特征X射线的能量对应于各特定元素,样品中元素的浓度直接决定射线的强度。

该发射特征X射线的过程称为X射线荧光或XRF。

4.2.X-射线激发源:通常是X-射线管或放射性同位素。

4.3X-射线探测器:检测X射线光子的装置,并能把它的能量按照光子的振幅比例来转化为具有电子能量的脉冲。

X-射线荧光光谱仪用的探测器必须满足所有波长谱线的需要才能达到表1中列出的测量样品的极限。

4.4XRF谱图的推荐分析谱线表1:单个分析物的特性X-射线五.校驗及點檢設備:5.1.打開XRF光譜分析儀,先熱機30分鐘,按《Xlt-797Wz重金屬元素分析儀操作手冊》對設備進行自檢,然後使用塑膠標準片點檢設備,並把測試數據記錄與“點檢記錄表”,對比測試數據是否在可接受范圍內。

5.2.若測試數據超過標準范圍,用酒精清洗設備測試窗口,然後再測試塑膠標準件。

5.3.設備測試窗口要定期(1禮拜/次)使用酒精清洗,使窗口保持清潔,以免影響設備的準確性。

審核:制訂:22mm12mm圖1:測量窗口圖2:樣品杯。

cs2000a光谱仪使用指导书

cs2000a光谱仪使用指导书

cs2000a光谱仪使用指导书一、简介1.1仪器概述c s2000a光谱仪是一款高精度的光学测量仪器,广泛应用于颜色测量、光谱分析等领域。

本文档将详细介绍c s2000a光谱仪的使用方法和操作步骤,帮助用户快速掌握该仪器的使用技巧。

1.2适用范围本文档适用于所有使用c s2000a光谱仪的用户,包括初学者和有一定经验的用户。

对于初学者,我们将从基本操作开始介绍;对于有经验的用户,我们将提供更高级的功能和应用技巧。

二、仪器准备2.1连接电源首先,将cs2000a光谱仪插入电源插座,并确保电源线与仪器连接牢固。

接下来,打开电源开关,待仪器启动完成后,屏幕上将显示出c s2000a的主界面。

2.2连接计算机c s2000a光谱仪可以通过U SB接口与计算机进行连接。

使用附带的U S B数据线将光谱仪与计算机相连,并确保连接稳固。

此时,计算机将自动识别到cs2000a光谱仪,并安装相关驱动程序。

三、仪器操作3.1主界面介绍c s2000a光谱仪的主界面分为三大部分:菜单栏、测量参数设置区和测量结果显示区。

菜单栏包含了各项功能和设置选项,用户可以通过菜单栏进行相关操作;测量参数设置区用于设置测量所需的参数,如光源类型、波长范围等;测量结果显示区将实时显示测量结果。

3.2测量步骤步骤一:选择光源类型点击菜单栏中的“光源”选项,选择合适的光源类型,常见的光源类型有“A型”、“D50”、“D65”等。

步骤二:设置波长范围点击菜单栏中的“波长”选项,设置所需的波长范围。

根据具体的测量需求,可以选择设置单一波长或连续波长范围。

步骤三:进行测量在测量参数设置区域输入相关测量参数后,点击菜单栏中的“开始测量”按钮,c s2000a光谱仪将开始进行光谱测量。

测量结果将实时显示在测量结果显示区域。

步骤四:保存测量数据在完成测量后,点击菜单栏中的“保存数据”选项,选择保存路径和文件名,将测量结果保存到计算机中。

3.3测量技巧光源选择-不同光源类型适用于不同的应用场景,根据具体需要选择合适的光源类型,以获得准确的测量结果。

光谱仪使用说明书

光谱仪使用说明书

目录第一章.介绍 (2)1.1产品概述 (2)1.2产品特点 (2)第二章.基本操作 (3)2.1概述 (3)2.2软件整体说明 (4)2.3外触发操作 (4)2.4基础参数设置 (5)2.4.1积分时间 (5)2.4.2平均次数 (7)2.4.3平滑度 (8)2.5运行状态设定 (9)2.6尺寸操作 (9)2.6.1窗口最大化 (9)2.6.2图像自适应 (9)2.6.3垂直自适应 (10)2.6.4放大和缩小 (10)2.6.5选择放大区域 (11)2.6.6设置坐标 (12)2.6.7移动图像 (13)2.7标线 (13)2.8自动寻峰 (14)2.9数据处理 (15)2.9.1存储暗电流 (16)2.9.2存储参考光谱 (16)2.9.3显示原始图像 (16)2.9.4扣除暗光谱 (16)2.9.5吸光度 (18)2.9.6透过率 (20)2.9.7反射率 (21)2.9.8其它 (22)2.10光谱处理 (22)2.10.1叠加活动光谱 (22)2.10.2保存光谱数据 (23)2.10.3叠加光谱数据 (24)2.10.4删除光谱数据 (25)2.10.5保存光谱图像 (25)2.11设备信息 (26)2.11.1查看设备信息 (26)2.11.2选择设备 (27)第一章.介绍1.1产品概述光谱分析软件(Spectral Analysis)是一个基于模块化设计和开发的光谱学软件平台。

该软件使用VC++开发,能够完美运行于Windows2000以上的Windows 操作系统,兼有易维护、易升级等优点。

该软件能够有效的控制光谱仪,并进行光谱分析。

软件使用渐进增量式开发模式,测试人员对每个新版本软件的正确性和易用性进行严格测试,确保每个用户能够快速学会和方便使用,并保证用户得到正确的光谱分析结果。

1.2产品特点(1).用户友好性。

软件在开发和完善阶段充分考虑用户感受,避免软件出现繁琐、复杂的操作。

光谱分析仪教材

光谱分析仪教材

五、怎樣導入Excel 檔.

四、怎樣導入Excel 檔. a、在指定路徑新建Excel檔 b、在XGT-1000軟件或(窗口)中單擊 菜單欄Edit→copy,然後分別粘貼在Excel 檔 中。 c、然後在測試數據結果中單擊copy, 粘 貼在Excel 檔中。 d、排版Excel檔。
result:2.134ppm. Br result:0.1234ppm
Pb機差為24%,Cd機差為14%,Cr機差為32%,Hg機差為28% Br機差為7%。 設 result為A,Spec為廳美規范。則 結果=A+(A*機差)<Spec Pb: 120+(120*24%)=148.8ppm<1000ppm PASS Cd: 4.012+(4.012*14%)=4.573ppm<5ppm PASS Cr: 1+0.32=1.032ppm 廳美要求Cr6+=ND Br: 0.1234+(0.1234*7%)=0.132ppm PBB&PBDE=ND Hg: 2.134+(2.134*28%)=2.731ppm<5ppm PASS
錫膏測試400S 延時 保存



b、快捷鍵備注

當物質是錫膏、塑膠或者金屬時,單擊所 需要的快捷鍵,軟件自動檢測物質所需要 的時間。對不能判定的結果,需進行延時 延時四倍。
四、檢測結果的判定
檢測結果的判定: 舉例:檢測烙鐵頭值 為 Pb result:120ppm, Cd result:4.012ppm, Cr result:1.0ppm, Hg



頻譜Y軸線性/ Log刻度 切換 頻譜顏色的選擇 測試開始/結束 定量檢測5種有害元素 定性檢測和元素周期 表 自動定性
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光谱分析仪常用参数测量参考手册
摘要:光谱分析仪是在光纤通信产品中常用的测试仪器,本文以横河的AQ6370光谱分析仪为例结合平时的测试工作,介绍了使用光谱分析仪进行一些常规参数的测量方法。

关键词:光谱分析仪;横河AQ6370
一、概述
光谱分析仪是在平时的光通信波分复用产品中较常使用到的仪表,当WDM 系统刚出现时,多用它测试信号波长和光信噪比。

其主要特点是动态范围大,一般可达70dB;灵敏度好,可达-90dBm;分辨率带宽小,一般小于0.1nm;比较适合于测试光信噪比。

另外测量波长范围大,一般在600~1700nm.,但是测试波长精度时却不如多波长计准确。

在光谱的测量、各参考点通路信号光功率、各参考点光信噪比、光放大器各个波长的增益系数和增益平坦度的测试都可以使用光谱分析仪。

光谱分析仪现在也集成了WDM的分析软件,可以很方便地把WDM的各个波长的中心频率、功率、光信噪比等参数用菜单的方式显示出来。

二、常用参数的测试
光谱分析仪的屏幕显示测量条件、标记值、其它数据以及测量波形。

屏幕各部分的名称显示如下:
图1:屏幕各部分的名称
1、光谱谱宽的测量
谱宽即光谱的带宽,使用光谱分析仪可以测量LD、发光二极管的谱宽。

在光谱的谱宽测量时,要特别注意光谱分析仪系统分辨率的选择,即原理上光谱分析仪的分辨率应当小于被测信号谱宽的1/10.,一般推荐设置为至少小于被测信号谱宽的1/5。

在实际的测量中,为了能够准确测量数据,一般选择分辨率带宽为0.1nm 以下。

分辨率带宽RES位于SETUP菜单中的第一项,直接输入所要设定的分辨率带宽的大小即可。

如下图2、3、4所示(图中只为区别光谱形状的不同),当选择的分辨率带宽不同时,从光谱分析仪观察到的光谱形状有很大的不同,并且所测量得到的谱宽大小的不同。

图2:分辨率带宽RES=0.5nm时的光谱形状
图3:分辨率带宽RES=0.1nm时的光谱形状
图4:分辨率带宽RES=0.02nm时的光谱形状
在观察光谱谱宽的同时,也可以通过光谱分析仪读出光谱的中心频率、带宽、峰值功率和边模抑制比等参数。

同时可以启动MARKER菜单,进行相应的标识,以方便量取所需要测试的参数值。

2、边模抑制比的测量
边模抑制比(Side-Mode Suppression Ratio,缩写为SMSR),SMSR表示峰值能级与横模能级之间的能级差值。

一般测量边模抑制比时,需要配合使用MARKER菜单和ANALYSIS菜单中相应的键。

用MARKER菜单对主波峰值和最高的副波峰进行标识,读取两者的峰值功率值。

边模抑制比为最高峰与次高峰之间的能级差。

可以通过ANALYSIS 菜单中相应的子选项计算得到最后的值。

图5:边模抑制比测量示意图
3、增益的测量
在进行OA 板或光放大器模块测试的时候,需要测试增益参数(Gain )。

增益定义为输出信号功率out P 与 输入信号功率 in P 之比。

增益的一般表达式如式(1)所示:
out
in
P G P
(1) 以上的公式使用于以mw 为单位的情况。

若两者单位为dBm ,则G 的值为两者之差。

在进行增益的测量时,需要用到TRACE 菜单中的相关选项。

首先将Trace A 设置为未接放大器之前的输入光,按下 Fix A ;再将Trace B 设置为经过光纤放大器之后的输出光,按下Fix B;取两者的峰值功率,即可计算出。

图6:增益测量示意图
在多波的情况下,还可以测试增益平坦度和增益斜率。

其中,增益平坦度为增益的最大值和最小值之间的差值;增益斜率为两个波长在光放大器工作在两个增益状态变化值的比值。

增益斜率主要用来衡量光放大器的不同波长增益的相对变化值,增益斜率越小,说明光放大器增益变化时各波长的一致性越好,越容易实现各波长的增益均衡。

应用光谱分析仪进行增益斜率的测量时,需要假设光放大器工作在两种增益状态(假如为20dB 和 25dB),然后分别在不同的波长点如1550nm 、1551nm 、1552nm 、1553nm 波长下进行增益点的测量,记录各波长点测试得到的增益值,可以计算出增益斜率。

4、噪声系数的测量
光谱分析仪的一项重要功能是测量EDFA 的等效噪声噪声系数(NF ),简称噪声系数。

首先,光放大器噪声系数的一般公式如式(2)所示:
1
ASE P NF Gh B G
ν=
+ (2)
其中右边第一项是ASE 噪声功率,w B 为测量谱宽;h 为普朗克常数;ν为中心频率,即找到轨迹B 波形的峰值波长值接着又进行了频率转换后所获得的值;G 为增益。

目前所有的光谱分析仪一般都采用内插减源法、时域消光法、偏振消光法等光放大器噪声系数测量方法,不同的测量方法得到不同的噪声系数的测量精度。

内插减源法采用了曲线拟合的算法。

在信号的波长中插入ASE ,并采用四点两次或者更精确的曲线拟合法来计算噪声的大小。

噪声包含放大过程中产生的自发辐射噪声ASE P 和放大的源噪声ASE G P ⨯。

其中光谱分析仪多采用的内插减源法原理图如图7所示。

波长
输入光
理想输出光
实际输出光
图7: 光放大器噪声计算内插减源法原理图
在利用光谱分析仪进行NF 的测量时,需要用到TRACE 菜单和ANALYSIS 菜单。

首先将输入光纤放大器的输入光设置为可写状态,点击writeA ,然后固定该轨迹Fix A ;再将从光纤放大器输出的光的光谱设置为可写状态,点击writeB ,然后固定该轨迹Fix B ;之后再按ANALYSIS 菜单中选择 EDFA NF 子选项,即可得到光谱分析仪计算NF 的结果。

表1为用光谱分析仪横河AQ6370,选择EDFA_NF 子选项得到的分析结果,仪表分辨率设置为0.1nm ,灵敏度选择MID 。

共有4个波长的信号。

表1 AQ6370 测量NF 的结果
5、系统OSNR 的测量
在DWDM 系统中,光信噪比(OSNR )能够比较准确地反映信号质量,成为最常用的性能指标。

OSNR 的定义如下:
10lg
10lg i m i r
P B
OSNR N B =+ (3) 其中:i P 是第i 个通路内的信号功率;r B 是参考光带宽,通常取0.1 nm ;m B 是噪声等效带宽;i N 是等效噪声带宽m B 范围内窜入的噪声功率。

一般常用的OSNR 的计算公式为: 0.40.40.110lg(
)Signal nm Noise nm
Noise nm
P P OSNR P -=
(4) 使用光谱分析仪测量OSNR 常用的方法是积分法。

通常采用光谱分析仪所能提供的最小分辨率带宽(RBW )扫描待测光谱,用积分的方法计算中心频率左右r B 范围内的功率为信号功率,信道中间m B 范围内的功率为噪声功率,两者相比得到OSNR 。

信号光功率的积分范围一般取0.4 nm 的带宽范围;噪声功率的积分范围要取0.4 nm 和0.1 nm 的带宽范围内的功率。

一般用0.4nm 带宽范围内的信号光功率减去0.4nm 带宽范围内的噪声光功率,再用其差值除以0.1nm 带宽范围内的噪声光功率,之后再取10倍的对数值,可计算出OSNR 的大小。

采用积分法测试信号和噪声功率。

具体步骤如下。

1)打开测试波道OTU ,用积分法测试整个信号光谱范围内的功率,记作1P 。

2)关闭测试波道OTU ,用积分法测试整个信号光谱范围内的功率,记作2P 。

3)保持OTU 的关闭状态,用积分法测试等效噪声带宽Br 范围内的功率,记作3P 。

为了方便,工程测试也可以将P2值换算到m B 范围的3P 。

4)计算OSNR 。

实验时进行了TST3板的OSNR 的测试得到以下的测试结果。

表2: OSNR 的测量数据
三、总结
以上所举的例子都是在平时使用光谱分析仪时常用到的一些操作,文中结合平时的测试工作只挑了比较常用的参数进行说明,还有很多其他的参数如何使用光谱分析仪进行测量没有进行详细的阐述,例如在进行梳状滤波器(Interlever )的测试时通道隔离度的测量也可以采用光谱分析仪直接分析得到测试结果。

光谱分析仪中的各项菜单的详细功能描述需要先阅读该光谱分析仪的详细手册。

在实际的测试中,需要根据要求来设置测试条件。

若能够熟练使用光谱分析仪将能更加快捷准确地进行相关指标的测量。

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