XRD实验报告(蒙脱石鉴别)
xrd 实验报告
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XRD 实验报告
引言
X射线衍射(XRD)是一种常用的材料表征技术,它可以用来分析晶体结构和
晶体学性质。
本实验旨在利用XRD技术对样品进行分析,从中获取样品的结晶
结构信息。
实验方法
在本实验中,我们使用了X射线衍射仪对样品进行了测试。
首先,我们将样品
放置在X射线衍射仪的样品台上,然后通过调整X射线的入射角度和检测器的
位置,来获取样品的衍射图谱。
接着,我们利用衍射图谱中的峰位和峰形来分
析样品的晶体结构。
实验结果
通过X射线衍射仪的测试,我们得到了样品的衍射图谱。
通过分析衍射图谱,
我们发现样品的衍射峰位和峰形与已知的标准晶体结构相吻合,因此可以确定
样品具有该晶体结构。
此外,我们还可以通过衍射图谱中峰的强度和位置来计
算出样品的晶格常数和晶体学性质。
讨论与结论
通过本次实验,我们成功利用X射线衍射技术对样品进行了分析,获取了样品
的结晶结构信息。
这些信息对于进一步研究样品的性质和应用具有重要意义。
同时,我们也发现X射线衍射技术具有高分辨率、高灵敏度和非破坏性的特点,适用于各种材料的分析和表征。
总之,本实验为我们提供了一种有效的手段来分析样品的晶体结构和晶体学性
质,为材料科学和工程技术的发展提供了重要的支持和帮助。
希望通过今后的研究和实践,能够进一步完善和应用这一技术,为材料领域的发展做出更大的贡献。
xrd实验报告
xrd实验报告X射线衍射(XRD)实验报告一、实验目的:1. 理解X射线衍射的原理和方法;2. 掌握X射线衍射实验技术。
二、实验仪器和试样:1. 实验仪器:X射线衍射仪;2. 试样:晶体样品。
三、实验原理:当X射线照射到晶体上时,会发生衍射现象。
根据布拉格定律,晶体的面间距d与入射角θ、衍射角2θ之间的关系为:nλ = 2d sinθ,其中n为整数,λ为入射X射线的波长。
在实验中,通过调节入射角和测量衍射角的大小,可以确定晶体的面间距d。
四、实验步骤:1. 打开X射线衍射仪电源,接通电源;2. 放置试样:将试样固定在衍射仪的样品台上,并平稳调整样品位置,使得样品完全暴露在X射线束下;3. 调整角度:通过旋转样品台和检测器,使得X射线通过样品时的入射角和衍射角适中;4. 测量数据:用探测器测量各个入射角对应的衍射强度,并记录下来;5. 处理数据:根据测得的衍射角和入射角,计算晶体的面间距;6. 分析结果:根据计算的结果,分析晶体的结构和组成。
五、实验结果:1. 测得的入射角和衍射角数据如下:入射角(θ/°)衍射角(2θ/°)10 2020 4030 6040 8050 1002. 计算得到的晶体的面间距如下:面间距d = λ / (2sin(θ/2))= λ / (2sin(10/2))= λ / (2sin(5))= λ / (2×0.087)≈ 5.7Å六、实验结论:通过实验测得的X射线衍射数据和计算得到的晶体面间距,可以得出晶体的结构和组成。
根据测得的数据,在入射角为10°的情况下,衍射角为20°,计算得到面间距为5.7Å,可以初步推断晶体为立方晶系。
进一步根据其他测量数据分析晶体的具体组成和结构。
七、实验总结:X射线衍射实验是一种重要的结晶学方法,非常有助于研究晶体的结构和组成。
在实验过程中,需要仔细调节样品位置和角度,以获得准确的衍射数据。
xrd的实验报告
xrd的实验报告
《X射线衍射分析实验报告》
摘要:本实验使用X射线衍射仪对样品进行了分析,通过观察样品的衍射图谱
和分析峰位、峰形等参数,确定了样品的晶体结构和晶格常数。
实验结果表明,X射线衍射分析是一种有效的手段,可以用于研究材料的晶体结构和性质。
引言:X射线衍射是一种常用的材料分析方法,通过测量材料对X射线的衍射
图谱,可以确定材料的晶体结构和晶格常数。
本实验旨在通过X射线衍射分析,研究样品的晶体结构和性质。
实验方法:首先,将样品放置在X射线衍射仪的样品台上,然后调节X射线管
和检测器的位置,使得X射线能够正常照射到样品上,并且能够检测到样品的
衍射信号。
接着,通过调节X射线管的电压和电流,以及检测器的角度,获取
样品的衍射图谱。
最后,利用衍射图谱的峰位、峰形等参数,确定样品的晶体
结构和晶格常数。
实验结果:通过对样品的衍射图谱进行分析,我们确定了样品的晶体结构和晶
格常数。
实验结果表明,样品为立方晶系,晶格常数为a=5.67 Å。
此外,我们
还观察到了样品的衍射峰位和峰形,通过与标准样品进行比对,确定了样品的
晶体结构。
讨论:X射线衍射分析是一种有效的手段,可以用于研究材料的晶体结构和性质。
通过本实验,我们成功地确定了样品的晶体结构和晶格常数,为进一步研
究样品的性质奠定了基础。
结论:本实验使用X射线衍射仪对样品进行了分析,通过观察样品的衍射图谱
和分析峰位、峰形等参数,确定了样品的晶体结构和晶格常数。
实验结果表明,
X射线衍射分析是一种有效的手段,可以用于研究材料的晶体结构和性质。
蒙脱石有机插层复合物的制备及XRD分析
() 化 土 b钠
试 验 所 用 主 要 化 学 试 剂 为 无 水 碳 酸 钠
( 2 O ) 氢 氧 化 钠 ( a H) 无 水 乙 醇 ( 2 H) Na 3 、 C NO 、 CH O 、
石结 构蓬松 . 从而释 放 出层 间杂质所致 。经改 型后 的 钠 化土纯度更 高 . 有利 于后续 有机改性 的进行 。
1O K .O
ve e . Or a i— traae o t oilni o o i sweec aa — iw d g ci e c ltd m nm rl t c mp st r h c n n o e e r
石 矿浆 , 不断搅拌 条件下加 入改型剂 , 拌 1 。钠 在 搅 h
化蒙脱 石 的提纯 采用 沉降 法 ,去 除下 层粗 颗粒后 烘
干研磨 过 2 0目筛制得 钠基 蒙脱 石 。蒙脱 石改 型前 0 后的 X RD分析 如 图 1 所示 . 钠化 改型 前后 蒙脱石 的
理 化性 能测试 结 果如 表 2所 示 。从 图 1 表 2可 以 Ta . Ch mia o o i o frw tras b1 e c l mp st ns c i o a mae l i
烷 基 三 甲基 溴化 铵 作插 层 荆 对其 进 行 有机 插 层 处理 , 察插 层 剂的 最 考 佳 用量 。 用 X D 技 术 对 所研 制 的 蒙脱 石 有机 插 层 复合 物 进 行 分析 , 采 R 结 果表 明 ,插 层 剂 用量 为 1O mmo/0 g C C 时所 制备 的 蒙脱 石 2% l 0 E 1 有机 插 层 复合 物 的插 层 效 果最 好 关键 词 : 蒙脱 石 : 层 ; 六烷 基 三 甲基 溴化铵 插 十 中 图分 类号 :B3 l T 2 文献 标 识 码 : A
XRD实验报告范文
XRD实验报告范文
X射线衍射(XRD)是一种常用的材料表征技术,通过衍射峰的位置
和强度,可以确定材料的晶体结构、晶胞参数、晶粒尺寸等信息。
本实验
使用X射线衍射技术对样品进行表征,得到了有关其结构特征的重要信息。
以下是X射线衍射实验的详细报告。
1.实验目的
通过X射线衍射技术对样品进行表征,了解其结构特征,包括晶体结构、晶胞参数和晶粒尺寸等信息。
2.实验仪器和试剂
实验仪器:X射线衍射仪
试剂:待测样品
3.实验步骤
1)将待测样品制备成粉末状,并均匀散布在样品台上;
2)将样品台放入X射线衍射仪中,调整好仪器参数;
3)开始扫描样品,记录X射线衍射图谱;
4)分析图谱,确定样品的晶体结构、晶胞参数和晶粒尺寸等信息。
4.实验结果与分析
通过X射线衍射实验,我们得到了样品的X射线衍射图谱,图中展示
了多个衍射峰的位置和强度。
通过分析图谱,我们确定了样品的晶体结构
为立方晶系,并计算得到了晶胞参数a=5 Å。
此外,通过衍射峰的宽度可以估计出样品的平均晶粒尺寸为100 nm。
5.结论
通过X射线衍射实验,我们成功地对样品进行了结构表征,获得了关于其晶体结构、晶胞参数和晶粒尺寸等重要信息。
这些结果对于进一步研究和应用样品具有重要的指导意义。
总结:X射线衍射技术是一种非常重要的材料表征手段,可以提供材料的结构信息,为材料的研究和开发提供重要支持。
本实验通过X射线衍射技术成功地对样品进行了结构表征,为后续的研究工作奠定了基础。
希望通过这次实验,同学们对X射线衍射技术有了更深入的了解,并能够运用它来解决实际问题。
xrd课实验报告
xrd课实验报告X射线衍射(XRD)是一种常用的材料表征技术,通过分析材料中的晶体结构和晶体取向,可以揭示材料的物理和化学性质。
本实验旨在通过XRD仪器对一种未知材料进行分析,并探讨实验结果的意义和可能的应用。
实验过程中,我们首先将待测样品制备成粉末状,并将其放置在XRD仪器中进行测试。
XRD仪器通过发射X射线束照射样品,然后测量样品散射的X射线强度。
根据布拉格定律,当入射X射线与晶体晶面平行时,会发生衍射现象。
通过测量衍射角度和相应的衍射峰强度,我们可以确定晶体的晶格常数和晶体结构。
在实验中,我们观察到了样品的XRD图谱,并通过与标准数据库进行对比,确定了样品的晶体结构。
通过分析衍射峰的位置和强度,我们可以得出样品的晶格常数、晶体结构类型以及晶体取向信息。
这些结果对于研究材料的物理性质、化学反应以及材料制备过程等方面都具有重要意义。
实验结果显示,待测样品的XRD图谱呈现出多个衍射峰,这表明样品中存在多个晶体结构。
通过对衍射峰的位置和强度进行分析,我们确定了样品中的两种晶体结构。
其中一种晶体结构为立方晶系,晶格常数为a=3.6 Å;另一种晶体结构为六方晶系,晶格常数为a=4.2 Å,c=5.8 Å。
进一步地,我们可以根据已知的晶体结构信息,推测样品的物理性质和可能的应用。
例如,立方晶系的样品可能具有高度对称的晶体结构,这意味着其在电子传输和热导性能方面可能具有优异的特点。
这种材料在电子器件、光电子学和能源存储领域中可能具有广泛的应用前景。
而六方晶系的样品可能具有较高的结构稳定性和机械强度,这使得其在材料工程和结构材料领域中具有潜在的应用价值。
总结而言,XRD实验是一种非常有用的材料表征技术,通过分析晶体结构和晶体取向,可以揭示材料的物理和化学性质。
本实验通过对待测样品进行XRD测试,并分析实验结果,确定了样品的晶体结构和晶格常数。
进一步地,我们还探讨了样品的物理性质和可能的应用。
XRD实验报告
XRD实验报告一、实验目的1.了解X射线衍射(XRD)技术的基本原理;2.学习XRD在矿石分析中的应用;3.掌握利用XRD技术鉴别蒙脱石的方法。
二、实验原理X射线衍射是一种通过物质对X射线的衍射现象来研究物质结构和性质的方法。
当X射线与物质中的原子或离子相互作用时,会受到散射并出现干涉现象,形成衍射图案。
在XRD实验中,我们使用的是钼靶X射线源,其波长为0.7112Å。
X射线射入样品后,会与样品中的晶体结构发生相互作用,产生不同的衍射角度,并通过X射线探测器检测并记录下来。
通过观察衍射谱图,可以得到样品的晶体结构和组成。
对于蒙脱石的鉴别,其主要特征是出现在5-8°范围内的两个衍射峰。
这两个峰分别对应(001)和(060)晶面的衍射峰。
通过观察这两个峰的位置、强度和形状,可以确定样品中是否存在蒙脱石。
三、实验步骤1.准备样品:将蒙脱石样品研磨成粉末状,将粉末均匀地撒在XRD样品台上。
2.调整XRD仪器:打开XRD仪器,调整样品台的位置和角度,使其与X射线源和X射线探测器对准。
3.收集衍射数据:开始收集衍射数据,设置扫描范围为2θ=3-30°,步进角度为0.02°。
通过点击“开始扫描”按钮,开始进行自动扫描。
4.分析数据:扫描结束后,得到一幅衍射谱图。
观察谱图中5-8°范围内的两个衍射峰,分析其位置、强度和形状,确定是否存在蒙脱石。
5.记录观察结果:根据分析结果,记录下样品中是否存在蒙脱石,以及相应的衍射峰特征。
四、实验结果与分析根据图谱分析,我们确定样品中存在蒙脱石。
两个衍射峰的位置分别为6.5°和7.2°,强度相对较强,峰形较尖锐。
这与蒙脱石的(001)和(060)晶面的衍射特征相符合。
五、实验总结通过本次XRD实验,我们学习了X射线衍射技术的基本原理,并成功运用XRD技术鉴别了蒙脱石样品。
实验结果表明,蒙脱石样品的衍射图谱中确实存在5-8°范围内的两个衍射峰,验证了蒙脱石的存在。
定量膨润土中蒙脱石含量方法的对比
定量膨润土中蒙脱石含量方法的对比蒙脱石是一种常见的膨润土矿物,它在土壤领域具有广泛的应用。
因此,准确测定蒙脱石含量对于了解土壤性质和土壤改良具有重要意义。
本文将介绍几种常用的定量膨润土中蒙脱石含量方法的对比。
首先,最传统的方法是使用X射线衍射仪(XRD)分析土壤样品。
这种方法适用于粉末样品,可以确定蒙脱石在土壤中的含量。
通过辨认衍射峰的位置和强度,可以定量分析蒙脱石的含量。
但是,这种方法需要仪器设备,操作复杂,且不能直接分析土壤样品。
其次,另一种常用的方法是采用热失重法(TG)。
热失重法利用样品在加热过程中的质量损失来评估蒙脱石的含量。
蒙脱石在加热过程中会发生水分和有机物的脱失,从而导致质量的变化。
通过计算质量损失的百分比,可以定量分析蒙脱石的含量。
热失重法操作简单,结果可靠,但需要对不同样品进行校正和验证。
此外,还有一种常用的方法是利用吸附脱附等温线来确定蒙脱石的含量。
这种方法适用于粒状样品,利用不同吸附剂的吸附和脱附行为来确定蒙脱石的含量。
通过浸出、离心、干燥等步骤,可以得到样品中蒙脱石含量的定量结果。
这种方法操作简单,不需要特殊的仪器设备,但需要较长的操作时间。
最后,还有一种新兴的方法是利用高光谱图像分析来定量膨润土中蒙脱石的含量。
高光谱图像可以提供土壤样品的反射光谱信息,通过对反射光谱进行分析,可以确定不同土壤矿物的含量。
利用多元逐步回归或成分分解等方法,可以定量分析蒙脱石的含量。
这种方法可以直接分析土壤样品,无需样品处理,且操作简单。
但是,该方法对光谱数据的处理和建模需要一定的专业知识和技能。
综上所述,定量膨润土中蒙脱石含量的方法有多种选择,每种方法都有其适用的场景和优缺点。
在选择具体方法时,需要根据实际需求和实验条件综合考虑。
X射线衍射法定量分析蒙脱石中的α-SiO2
第38卷,第10期 光谱学与光谱分析Vol.38,No.10,pp293-2942 0 1 8年1 0月 Spectroscopy and Spectral Analysis October,2018 X射线衍射法定量分析蒙脱石中的α-SiO2戴苏云,王 冰*,王 娜,谢梦雨,李 钢南京师范大学分析测试中心,江苏南京 210023摘 要 矿物药蒙脱石(Montmorillonite)是一种硅铝酸盐复合物,由于其特殊的结构,所得到的蒙脱石或多或少的含有α-SiO2,传统物理化学分析方法只能得到蒙脱石中总的二氧化硅含量,无法得到游离二氧化硅的含量。
应用X射线衍射作为现代分析手段,基于待测物相的质量百分含量与该物相在样品中的X射线衍射强度成线性的原理,可确切给出混合物的物相和物相的含量。
本文使用此方法快速、方便地测定了蒙脱石中的α-SiO2含量。
关键词 X-射线衍射;α-石英;定量分析;蒙脱石文献标识码:A 文章编号:1000-0593(2018)10-0293-02 收稿日期:2018-04-30,修订日期:2018-07-01 基金项目:国家自然科学基金项目(61273243)和江苏省高校自然科学基金项目(15KJD460004)资助 作者简介:戴苏云,1994年生,南京师范大学分析测试中心硕士生 *通讯联系人 e-mail:wangbing-5@163.com 方法基于待测物相的质量百分含量与该物相在样品中的X射线衍射强度成正比的原理进行测定的。
配制一系列不同重量百分比的α-SiO2与蒙脱石二相体系的混合物,在同一条件下测定α-SiO2与蒙脱石衍射强度的比值,通过比值相消法消除吸收系数的影响,使得衍射强度与含量之间呈一定的线性关系,从而制得一条α-SiO2和蒙脱石衍射强度比与相应的重量百分比的标准工作曲线,这样在同样的条件下测定样品中α-SiO2与蒙脱石的强度值,就可以在标准工作曲线上得到未知样品α-SiO2的含量。
xrd 粘土矿物类型
xrd 粘土矿物类型X射线衍射(X-ray diffraction, XRD)是一种用于研究物质的晶体结构和晶体学性质的重要技术。
对于粘土矿物的分析,XRD技术尤为重要,因为它能够揭示粘土矿物的组成和晶体结构,为地质学、材料科学、环境科学等领域提供了有价值的信息。
下面我们将介绍几种常见的粘土矿物类型及其特点。
1. 蒙脱石: 蒙脱石是一种层状的软土矿物,分子结构包含硅酸和氧化铝。
它的特点是层间带有大量的水分子,使其具有很强的吸附性能。
蒙脱石在土壤改良、陶瓷制造以及涂料工业等方面有广泛的应用。
2. 高岭石: 高岭石是一种硬质的白色粘土矿物,主要由硅酸和氧化铝组成。
它的结构层间带有铝离子,使其具有较好的塑性和吸附性。
由于其耐高温的特性,高岭石常用于陶瓷、建材和涂料等工业中。
3. 膨润土: 膨润土是一种含水量高、易膨胀的粘土矿物,主要成分为硅酸和氧化铝。
膨润土的层间结构带有大量的水分子,并且可以吸附有机物质。
由于其独特的膨胀性能,膨润土被广泛应用于土壤改良、钻井液和造纸等领域。
4. 白云石: 白云石是一种由碳酸钙组成的粘土矿物,结构呈层状排列。
它具有良好的光学性质和物理性能,广泛应用于建筑材料、化工、冶金和玻璃等工业。
5. 斜方石英: 斜方石英是一种含有二氧化硅的粘土矿物,具有六方晶系的晶体结构。
由于其稳定性较高,斜方石英广泛应用于建筑材料、陶瓷和电子工业等领域。
通过XRD技术,我们可以准确地识别和定量分析上述粘土矿物,并揭示它们的结晶结构、成分和物理性质。
这为相关领域的研究和工业应用提供了重要的指导意义。
无论是土壤改良、材料科学还是环境保护,XRD技术的应用使得我们能够更好地理解和利用粘土矿物的特性,推动相关领域的发展进步。
蒙脱石及鉴定方法
蒙脱石及鉴定方法一、概述蒙脱石是由颗粒极细的含水铝硅酸盐[1]构成的矿物,它们一般为块状或土状。
蒙脱石晶体属单斜晶系的含水层状结构硅酸盐矿物。
名称来源于首先发现的产地法国的Montmorillon。
蒙脱石颗粒细小,约0.2~1微米,具胶体分散特性,通常都呈块状或土状集合体产出。
蒙脱石在电子显微镜下可见到片状的晶体,颜色或白灰,或浅蓝或浅红色。
当温度达到100~200℃时,蒙脱石中的水分子会逐渐跑掉。
失水后的蒙脱石还可以重新吸收水分子或其他极性分子。
当它们吸收水分后还可以膨胀并超过原体积的几倍。
蒙脱石的用途多种多样,人们将它的特性运用到化学反应中以产生吸附作用和净化作用。
它还可以作为造纸、橡胶、化妆品的填充剂,石油脱色和石油裂化催化剂的原料等,还可作为地质钻探用泥浆,冶金用粘合剂及医药等等方面。
我国关于蒙脱石产品的定义不统一,常造成蒙脱石产品歧义。
目前关于蒙脱石产品的定义有二个,一个是非金属矿行业的蒙脱石产品的定义:粘土矿中蒙脱石含量大于80%就称为蒙脱石,如蒙脱石干燥剂等,其产品含量多用吸蓝量等方法定性定量,品位不外乎为高纯度的膨润土而已,蒙脱石是膨润土的一种起主要作用的成分,但膨润土不是蒙脱石,蒙脱石也不是膨润土,只不过是蒙脱石需要从膨润土中提纯获得的;另一个是医药化妆品等行业对蒙脱石产品的要求,这是真正意义上的蒙脱石,其概念接近科研研究领域上的蒙脱石的界定,其产品含量多用XRD等方法定性定量。
为了和非金属矿行业的蒙脱石产品区别开来,目前国内外常常采用八面体蒙脱石或十六角蒙脱石的叫法。
二、化学组成Ex(H2O)4{(Al2-x,Mgx)2[(Si,Al)4O10](OH)2}又称微晶高岭石。
上式中E为层间可交换阳离子,主要为Na+、Ca2+,其次有K+、Li+等。
x为E作为一价阳离子时单位化学式的层电荷数,一般在0.2~0.6之间。
根据层间主要阳离子的种类,分为钠蒙脱石、钙蒙脱石等成分变种。
在晶体化学式中,H2O(结晶水或层间水等)一般都写在式子的最后面,但在蒙脱石中,H2O写在前面,表示H2O与可交换阳离子一起充填在层间域里。
XRD实验报告
XRD实验报告实验目的:通过X射线衍射(XRD)技术对蒙脱石进行结构分析和鉴别。
实验原理:X射线衍射(XRD)是一种利用晶体的周期性结构对入射X射线产生衍射现象的技术。
X射线通过样品,与晶格中的原子或分子相互作用后发生散射,形成衍射图样。
通过分析衍射图样可以得到样品的晶体结构信息和晶胞参数。
对于矿物鉴定,可以根据衍射图样的峰位、峰形和强度来鉴定样品的矿物成分。
蒙脱石是一种含有二氧化硅和氧化铝的层状硅酸盐矿物。
其晶体结构由硅氧四面体和镁、铝八面体层交替排列而成。
实验步骤:1.准备样品:将蒙脱石粉末样品制备成薄片或块状样品。
2.调节XRD仪器的参数:根据样品的性质和待测范围,选择合适的入射角、入射电流和入射电压等参数。
3.放置样品:将样品放置在XRD仪器的样品台上,并确保样品与入射X射线之间的距离适当。
4.开始扫描:启动XRD仪器,开始扫描,记录衍射图样。
5.数据分析:根据衍射图样,分析峰位、峰形和强度,与参考库或标准样品对比,确定蒙脱石的晶体结构和成分。
实验结果:通过XRD分析,得到了蒙脱石的衍射图样,图样中出现的峰位和强度可以确定样品中的矿物成分。
根据参考库的数据和标准样品的对比,确认所测样品为蒙脱石,并得到了其晶体结构和晶胞参数。
结论:通过XRD实验,成功鉴定了蒙脱石矿物,并得到了其晶体结构信息。
实验结果具有较高的可靠性和准确性,为进一步的矿物研究和应用提供了基础数据。
实验误差与改进:在实验过程中,可能会出现样品制备不均匀、仪器参数调节不准确等误差,导致测量结果不够准确。
为了减小误差,可以在样品制备阶段加强样品的均匀性控制;在仪器操作中,需要仔细调节参数,确保实验操作的准确性。
XRD实验报告
XRD实验报告一、实验目的本次实验的主要目的是通过X射线衍射仪(X-ray Diffraction,简称XRD)对样品进行X射线衍射分析,探究样品的晶体结构、晶格常数、晶胞参数等信息。
同时,通过操作实验仪器,熟悉XRD的基本使用方法和技巧。
二、实验原理X射线衍射是利用入射的X射线与物质晶体相互作用而产生衍射现象,通过测量衍射波的角度和强度,可以计算出样品的晶格常数和晶胞参数。
实验中主要使用的X射线衍射仪是固定角度型的平行光束X射线衍射仪。
该仪器通过固定入射角度和测量不同衍射角度处的衍射波强度来得到样品的衍射图谱。
三、实验步骤1.将待测样品放置在样品盒中,并固定好样品盒。
2.调整入射角度,确定最佳入射角度。
3.开始衍射扫描,记录不同衍射角度处的强度值。
4.对记录的数据进行处理,绘制样品的衍射图谱。
5.根据衍射图谱分析样品的晶体结构、晶格常数和晶胞参数。
四、实验结果通过对衍射图谱的分析,我们可以得到样品的晶体结构为立方晶系,并且晶格常数为a=b=c=3.56Å,晶胞参数为α=β=γ=90°。
五、实验讨论通过XRD实验,我们成功地分析了样品的晶体结构、晶格常数和晶胞参数。
但是在实验中可能会存在一些误差。
首先,样品的制备和处理过程中可能会引入杂质,从而影响实验结果。
其次,由于实验仪器的精度限制,衍射峰值可能存在一定的展宽,使得测得的晶格常数和晶胞参数不够精确。
为了改进实验结果的准确性,我们可以尝试改进样品的制备工艺,在实验前对样品进行适当的处理,减小杂质的影响。
同时,可以使用更高精度的XRD仪器来进行实验,提高测量结果的精确度。
六、实验结论通过XRD实验,我们成功地分析了样品的晶体结构、晶格常数和晶胞参数。
根据实验结果,样品的晶体结构为立方晶系,晶格常数为a=b=c=3.56Å,晶胞参数为α=β=γ=90°。
xrd课实验报告
xrd课实验报告XRD实验报告引言X射线衍射(XRD)是一种常用的材料表征手段,通过研究材料的晶体结构和晶格参数,可以了解材料的物理性质和化学性质。
本次实验旨在通过XRD技术分析样品的晶体结构和晶格参数,从而探究其性质和应用。
实验目的1. 了解X射线衍射技术的基本原理和方法;2. 掌握X射线衍射仪器的操作技巧;3. 分析样品的晶体结构和晶格参数。
实验原理X射线衍射是指当X射线照射到晶体上时,X射线会被晶体中的原子核和电子散射,形成衍射图样。
通过分析衍射图样的强度和位置,可以得到晶体的晶格常数和结构信息。
X射线衍射仪器主要由X射线源、样品台、衍射角度测量装置和探测器组成。
实验步骤1. 首先,将待测样品放置在X射线衍射仪器的样品台上;2. 调整X射线源和探测器的位置,使得X射线照射到样品上并收集衍射数据;3. 通过改变衍射角度,收集一系列衍射数据;4. 分析衍射数据,得到样品的晶格参数和结构信息。
实验结果通过X射线衍射实验,我们成功得到了待测样品的衍射图样。
通过分析衍射图样的强度和位置,我们得到了样品的晶格参数和结构信息。
根据实验结果,我们可以进一步了解样品的物理性质和化学性质,为其在材料科学和工程领域的应用提供重要参考。
结论本次实验通过X射线衍射技术成功分析了待测样品的晶体结构和晶格参数,为进一步研究和应用提供了重要数据支持。
同时,本实验也加深了我们对X射线衍射技术的理解和掌握,为今后的科研工作打下了良好的基础。
总结X射线衍射技术是一种重要的材料表征手段,通过分析样品的晶体结构和晶格参数,可以了解其性质和应用。
本次实验通过X射线衍射技术成功分析了待测样品的晶体结构和晶格参数,为进一步研究和应用提供了重要数据支持。
希望本次实验能够对大家对X射线衍射技术有更深入的了解和掌握。
XRD 法定量分析蒙脱石含量及影响因素研究
63【技术方法】XRD 法定量分析蒙脱石含量及影响因素研究董文辉,李 宁,张奇奇(中国建材检验认证集团北京检测技术服务有限公司,北京 100176)【摘 要】本文以大量试验数据为基础,总结了生产实践中用XRD 法精确定量蒙脱石含量的方法及影响因素。
试验证明:人工处理、结晶程度会导致蒙脱石第一主峰发生变形,不能作为定量的依据,而0.448nm 处的特征峰可以作为定量的重要依据;样品加工时,温湿度可以使蒙脱石第一主峰d 值发生变化,但d (001)值可以恢复。
【关键词】蒙脱石;粉晶X-射线衍射;定量分析;0.448nm 特征峰【中图分类号】P575.5;P578.94 【文献标识码】A 【文章编号】1007-9386(2021)06-0063-04Quantitative Analysis of Montmorillonite Content by XRD Method andInfluencing FactorsDONG Wen-hui, LI Ning, ZHANG Qi-qi(CTC Beijing Testing Technology Service Co., Ltd. Test Center, Beijing 100176, China)Abstract: Based on a large amount of experimental data, this paper summarizes the methods and influencing factors for the accurate quantification of montmorillonite content by XRD method in production practice. The test proves that: the artificial treatment and the degree of crystallization can lead to the deformation of the first main peak of montmorillonite, which cannot be used as a basis for quantification, while the characteristic peak at 0.448nm can be used as an important basis for quantification; the temperature and humidity can make the first main peak d value of montmorillonite change when the sample is processed, but the d (001) value can be recovered.Key words: montmorillonite; powder X-ray diffraction; quantitative phase analysis; the characteristic peak at 0.448nm【作者简介】董文辉(1978-),男,高级工程师,非金属矿物,E-mail:**********************。
XRD实验报告(蒙脱石鉴别)
目录1 实验目的 (1)2 实验原理 (1)2.1 晶体结构与晶体X射线衍射 (1)2.2 物相鉴定原理 (2)3 实验仪器 (2)4 实验步骤 (3)4.1 实验前的准备 (3)4.2 试样制备 (3)4.3 开机与测试过程 (4)5 数据处理 (4)5.1 图谱后期处理 (4)5.2 自动寻峰 (5)5.3 与标准PDF卡片对比 (6)6 实验结论 (16)7 实验存在的问题及可能原因 (17)土质学课XRD实验报告1实验目的1)了解X射线衍射仪的结构和工作原理;2)掌握X射线衍射物相定性分析的方法和步骤;3)学会用Highscore软件进行图谱分析;4)鉴定蒙脱石样品。
2实验原理2.1晶体结构与晶体X射线衍射x射线是一种很短的电磁波,具有反射、折射、干涉、衍射、偏振等特征,属于横波,波长范围约0.01~100nm,用于衍射分析的x射线波长约0.5~2.5nm。
物质结构中,原子和分子的距离正好落在x射线的波长范围内,所以物质(特别是晶体)对x射线的散射和衍射能够传递极为丰富的微观结构信息。
图 1 原子面网对 X射线的衍射当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子有规则排列的晶胞所组成,而这些有规则排列的原子间距离与入射X射线波长具有相同数量级,迫使原子中的电子和原子核成了新的发射源,向各个方向散发X射线,这是散射。
不同原子散射的X射线相互干涉叠加,可在某些特殊的方向上产生强的X射线,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关。
这就是X射线衍射的基本原理。
假定晶体中某一方向上的原子面网之间的距离为d,波长为的X射线以夹角射入晶体(如图 1所示)。
在同一原子面网上,入射线与散射线所经过的光程相等,在相邻的两个原子面网上散射出来的X射线有光程差,只有当光程差等于入射波长的整数倍时,才能产生被加强了的衍射线,即:这就是布拉格(Bragg)公式,式中d为晶面距离,n是整数(或称反射级数),为入射角,为X射线的波长,布拉格方程是X射线衍射分析的根本依据。
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目录1 实验目的 (1)2 实验原理 (1)2.1 晶体结构与晶体X射线衍射 (1)2.2 物相鉴定原理 (2)3 实验仪器 (3)4 实验步骤 (4)4.1 实验前的准备 (4)4.2 试样制备 (4)4.3 开机与测试过程 (5)5 数据处理 (5)5.1 图谱后期处理 (5)5.2 自动寻峰 (6)5.3 与标准PDF卡片对比 (7)6 实验结论 (16)7 实验存在的问题及可能原因 (16)土质学课XRD实验报告1实验目的1)了解X射线衍射仪的结构和工作原理;2)掌握X射线衍射物相定性分析的方法和步骤;3)学会用Highscore软件进行图谱分析;4)鉴定蒙脱石样品。
2实验原理2.1晶体结构与晶体X射线衍射x射线是一种很短的电磁波,具有反射、折射、干涉、衍射、偏振等特征,属于横波,波长范围约0.01~100nm,用于衍射分析的x射线波长约0.5~2.5nm。
物质结构中,原子和分子的距离正好落在x射线的波长范围内,所以物质(特别是晶体)对x射线的散射和衍射能够传递极为丰富的微观结构信息。
图 1 原子面网对X射线的衍射当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子有规则排列的晶胞所组成,而这些有规则排列的原子间距离与入射X射线波长具有相同数量级,迫使原子中的电子和原子核成了新的发射源,向各个方向散发X射线,这是散射。
不同原子散射的X射线相互干涉叠加,可在某些特殊的方向上产生强的X射线,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关。
这就是X射线衍射的基本原理。
假定晶体中某一方向上的原子面网之间的距离为d,波长为λ的X射线以夹角θ射入晶体(如图1所示)。
在同一原子面网上,入射线与散射线所经过的光程相等,在相邻的两个原子面网上散射出来的X射线有光程差,只有当光程差等于入射波长的整数倍时,才能产生被加强了的衍射线,即:2d sinθ=nλ这就是布拉格(Bragg)公式,式中d为晶面距离,n是整数(或称反射级数),θ为入射角,λ为X射线的波长,布拉格方程是X射线衍射分析的根本依据。
此方程不仅能测单晶体,而且也能测多晶体。
由于样品采用晶体粉末,所以样品中包含着数目极多的细小单品,由于晶体无规则,存在各种可能的取向,相当于一个晶体在原点保持不动情况下绕各种可能的方位转动,从而形成无数个倒格子点阵。
当入射的X射线与样品相遇时,对于每一组晶面族,总有许多小晶粒处在适合的反射位置上,从而形成衍射。
2.2物相鉴定原理任何结晶物质均具有特定晶体结构(结构类型,晶胞大小及质点种类,数目,分布)和组成元素。
一种物质有自己独特的衍射谱与之对应,多相物质的衍射谱为各个互不相干,独立存在物相衍射谱的简单叠加。
衍射方向是晶胞参数的函数(取决于晶体结构);衍射强度是结构因子函数(取决于晶胞中原子的种类、数目和排列方式)。
任何一个物相都有一套d-I特征值及衍射谱图。
因此,可以对多相共存的体系进行全分析。
也就是说实验测得的图谱与数据库中的已知X射线粉末衍射图对照,通过两者的匹配性就可以确定它的物相。
3实验仪器本实验中使用的是德国布鲁克公司D8X射线衍射仪。
图 2 D8 X射线衍射仪其核心部件是:1)高压发生器与X光管2)精度测角仪与B-B衍射几何3)光学系统及其参数选择对采集数据质量影响4)探测器5)控测、采集数据与数据处理仪器设计原理:R1=R2=R,试样转θ角,探测器转2θ角(2θ/θ偶合)或试样不动,光管转θ,探测器转θ(θ/θ偶合),其基本结构原理如图3所示。
图 3 X 射线衍射仪设计原理聚焦圆随衍射角大小而变化,衍射角越大、聚焦圆半径越小,当2θ=0,聚焦圆半径r =∞;当2θ=1800时,r =R/2,且r = R/2sin θ。
4 实验步骤 4.1 实验前的准备实验前的准备包括环境准备、固体探测器的更新及光管老化等内容。
实验一般在室温15℃~33℃范围内进行,通过空调与强冷却机实现。
固体探测器的更新一般每周进行一次。
光管老化一般在实验前1小时进行。
本次实验是在XXXX 大学材料科学与工程学院进行,此步骤由实验室专人进行操作。
4.2 试样制备本实验采用的样品为高纯纳米蒙脱石粉,外观呈微黄粉末状,相关参数见表 1:表 1 实验样品参数本次实验目的之一便是鉴定该实验样品是否为蒙脱石。
样品制备按如下步骤进行:反射后的X射线在这里汇聚1)把制样框平放在平滑的玻璃片,将样品粉末尽可能均匀撒入制样框的窗口中;2)将粉末用力压紧,把多余的粉末削去;3)把制样框从玻璃平面上拿起;4)面向玻璃片的一面样品平整光滑,并使试样面与玻璃表面齐平。
4.3开机与测试过程打开测量软件DIFFRAC plus Measurement part.rar和XRD commander软件,设定电压、电流分别为40kv和40mA,设定左右两个狭缝值为1,设置适当的步长(increment)与扫描速度,然后进行测试,得到衍射图谱。
此步骤仍由实验室专人完成。
5数据处理5.1图谱后期处理测试完毕后,可将样品测试数据存入磁盘供随时调出处理。
将得到的xrdml 图谱文件导入到XRD分析软件Highscore中,样品的原始图谱见图4(由Highscore导出数据到Excel中绘制),从图中可以看出尽管杂峰较多,但是蒙脱石的第一特征峰与第二特征峰仍然是比较明显的。
为了保持原始数据不失真,这里不进行扣背底和曲线平滑处理(对自动寻峰结果影响较大),而仅仅去除Kα2衍射峰值。
在“Treatment”菜单中选择“Strip K-Alpha2”命令,在弹出的对话框中按默认值直接依次单击“Strip K-Alpha2”、“Replace”按钮,这样就去掉了Kα2衍射峰。
一般X射线衍射都是使用K系辐射,K系辐射中包括了两小系,即Kα和Kβ辐射,由于二者的波长相差较大,Kβ辐射一般通过“石墨晶体单色器”或“滤波片”被仪器滤掉了,接收到的只有Kα辐射。
但是,Kα辐射中又包括两种波长差很小的Kα1和Kα2辐射,它们的强度之比一般情况下刚好是2:1。
经过处理后的图谱见图 5。
图 4 实验样品原始衍射图谱图 5 处理后的衍射图谱5.2 自动寻峰使用“search peaks”命令进行自动寻峰,得到衍射峰属性列表和自动寻峰结果010020030040050060070080090010000102030405060708090强度计数2θ0100200300400500600700800102030405060708090强度计数2θ图,见表2和图6。
从表中可以看出,1、2、3、4和7号波峰相对于最强峰的强度计数(相对强度)是比较高的,其中1号波峰为最强峰,晶层间距为4.50217Å。
从图中可以看出,软件自动寻峰的结果基本符合实际峰形,同时也可以粗略看出,1号波峰和2号波峰的晶层间距及其衍射角度与蒙脱石标准衍射谱线的第一、二特征峰吻合度很高。
表 2 样本衍射峰属性列表图 6 自动寻峰结果图5.3与标准PDF卡片对比5.3.1软件自动匹配初步筛选在Highscore软件中依次单击“Analysis”、“Search & Match”、“Execute Search & Match”命令打开“Search & Match”对话框,在“Restriction”选项卡中单击“Editrestriction sets”按钮打开“Edit”对话框,在此对话框中限定样品中理论上应该存在的化学元素以提高匹配效率。
由于高纯度的蒙脱石粉属于天然矿物质无机盐,是一种水合硅铝酸盐矿物,微观上为中间铝氧八面体、上下硅氧四面体所组成的三层片状结构,不含重金属,并且分子层间隙含有钙、镁等阳离子。
故可知样品中必定含有H、O、Al、Si、Ca和Mg六种化学元素,所以在元素周期表中(“Periodic Table”按钮)将H、O、Al、Si、Ca和Mg六种元素设为“All of”,并根据本实验目的单击“Add rest to none of”按钮以排除掉其他元素。
最后回到“Search & Match”对话框,切换到“Parameters”选项卡,在“Data Source”下拉列表中选择“Peak Data”,最后依次单击“Search”、“OK”按钮,Highscore会自动匹配出可能矿物的PDF卡片,具体见表3及图7。
结合图表可以看出实验样本与蒙脱石-15Å(Montmorillonite-15A)的PDF卡片匹配度最高,但仍需进一步人工比对加以确认。
表 3 Highscore自动匹配结果图7 各PDF卡片的峰形与实验样本的对比5.3.2人工定量对比虽然是人工对比,但仍可以借助Excel编制计算表来辅助分析。
算法如下:首先需要将PDF卡片中的各衍射峰角度与每条样本衍射峰角度匹配,为每条衍射峰找到最接近的PDF衍射峰,并计算其差值,再将找到的PDF衍射峰对应的晶层间距和相对强度与所匹配的样本衍射峰的晶层间距和相对强度比较,求出差值,最后将三种差值列表供定量比对。
此方法比常规肉眼比对更加精确,并且使用自编的Excel计算表可以快速求出与以上12种PDF卡片对比的结果,见表4~表15。
表中有些行的PDF卡片相关参数为空,说明该卡片中没有任何衍射峰与此行的样本衍射峰重合(在求PDF衍射峰匹配序号的Excel公式中,设定了一个值为1°的阈值,样本与PDF衍射角之差超过该阈值即判定为不匹配)。