晶振检验规程
晶振检验规范
7．“★”表示选定项目。
检验项目Biblioteka 品质现象描述检验手段
及工具
缺陷类别
备注
CR
MA
MI
包
装
1. 包装无标识，外标识与实物不一致。
目测
★
2. 包装箱破损及严重脏污，包装不良。
★
3. 不同规格型号混装。
★
外
观
1. 表面脏污。
目测
★
2. 丝印不良，模糊不清晰。
锡炉
★
见仪器操作规程
试装
实装不符要求（使用对应的PCB进行试装，）。
★
★
3. 表面破损、变形，引脚断裂。
★
4. 无丝印。
★
5． 引脚脏污、氧化。
★
6. 混料，混有其它规格型号。
★
尺寸
外形尺寸不符要求（每批抽10PCS检验,判定标准AC=0）。
游标卡尺
★
见技术要求
及仪器操作
性能
１．不起振。
频率计
测试夹具
★
２．频率不符要求。
★
可焊性
可焊性不符要求（技术要求中未注明试验条件时，以温度为235℃，时间为3S试验。
晶振检验规范
1．目的：规范物料检验，保证产品质量。
2．范围：适用于IQC物料检验。
3．抽样标准：依据GB2828-87 II级一次抽样，致命缺陷（CR）AQL0.1；重缺陷（MA）AQL0.4；轻缺陷（MI）AQL1.5。
4．试验项目：可焊性、试装项目每批试验10PCS，判定标准AC=0。
5．本检验规程未尽项目，需检验可参照国标要求。当检验规范的检验项目在技术要求中未作规定时，可不作检验要求。
晶振检验规范
v
核准
审核
作成
编带品之胶带的晶孔长度和宽度必须符合sir要求任一不符合sir要求环保目视查询sap外箱须按要求粘贴环保标识无环保标识或漏贴标识物质环保资料符合规定期限查询sap显示检测报告已超期核准审核作成
文件名称 制定日期
20xx-xx-xx
xxxxx有限公司
晶振 检验规范
版本
1.0
文件编号 页次
3-PE-15 1-1
ˇ
2.本体丝印必须与SIR或样品相符全清晰， 1.丝印与SIR不符
放大镜 目视
完整
2.丝印模糊不清
依据AQL 抽样
3.引脚无变形，无氧化，无生锈现象
引脚变形、氧化、生锈
4.编带品胶带要整齐，方向一致
1.胶带扭曲变形、胶带散 2.方向不一致
卡尺 抽样 5pcs
1.本体长度、宽度、厚度各尺寸需符合SIR 要求
任一尺寸不符合SIR要求
2.引脚直径、长度及脚距需符合SIR要求
引脚直径、长度脚距任一不符合SIR或样品 要求
3.编带品之胶带的晶孔长度和宽度必须符合 SIR要求
任一不符合SIR要求
ˇ v
ˇ ˇ ˇ ˇ ˇ v
外箱须按要求粘贴环保标识 目视
无环保标识或漏贴标识
v
查询SAP
物质环保资料符合规定期限
查询SAP显示检测报告已超期
材料名称
晶振
料号
J类四、
检验 项目 包装
外观
尺寸 环保
检查 方式
目视
规格要求
缺点描述
1.包装方式不当，不能有效保护物料而造
1.包装方式应能有效保护物料在运输过程中 成物料损坏
不被损坏.
2.对静电敏感之LCD未用防静电胶袋包装
有源晶振检验规范
IQC检验规范产品名称有源晶振文件编号共 1 页第 1 页序号检验项目检验内容要求检验频次检验器具检验方法不良等级示意简图（备注）A B C1 供货商是否为合格供应商一次/每批目测B2 包装包装良好，附出厂合格证明一次/每批目测B3 规格、数量产品规格、名称、数量与实物一致一次/每批目测(与标样对比) B4 标识标识清晰、完整、正确一次/每批目测(与标样对比) C5 标识附着力标识附着力良好10只酒精(分析醇)、棉球用酒精棉球拭擦三次，字迹应保持清晰B6 外观检查无破损、变形、污迹，引脚无氧化10只目测(与标样对比) B7 频率频率符合产品标准10只专用检测工装、示波器、直流电源详见示波器操作说明和专用工装操作说明A8 可焊性焊点圆润有光泽，稳固10只恒温电烙铁温度235±5℃，焊接时间2±0.5S，焊点圆润有光泽，稳固A备注1、封样产品应该在供货商送的第一批合格产品中抽取，原则上以后规格、标识、外观等方面的检验以封样的产品为标准。
2、抽样标准：一般以10只/每批检验水平：一般检验水平Ⅱ级。
3、致命缺陷（A）：极重要质量特性不符合规定，导致产品性能完全丧失；AQL——0.065。
严重缺陷（B）：重要质量特性不符合规定，导致产品性能部分失效；AQL——0.65。
一般缺陷（C）：一般质量不符合规定，轻微影响或者不影响产品的正常性能；AQL ——1.5。
4、反应计划：若发现1个或1个以上A类缺陷或B类缺陷以及2个以上C类缺陷则该批产品则判为不合格品，并对不合格品并进行隔离、标识。
同时具备两种以上不合格的进行不合格评审；单项不合格的外检站应将统计结果上交质管部，质管部反馈给供应商。
5、质检单上应记录以上所有A类、B类检验项目的检验结果。
编制/日期校对/日期审核/日期。
08.晶振器件检验规程模板
八晶振器件检验规程
Q/xxxx.02.008.08 1 适用范围
适用于对本企业所使用的各类晶振器件的检验。
2 检验依据
相关产品的技术文件、说明书及资料。
3 检验方法
采用外观检查方法进行检验。
4 检验项目
4．1 同批产品外观精密度高，配合紧密可靠，工艺稳定，一致性好。
合格判据：交验的产品外观工艺稳定，一致性好为合格。
4．2 引线光亮笔直，无氧化痕迹，连接可靠。
4．3 引线与绝缘子同心度，垂直度高，有较高绝缘强度，高气密性。
4．4 晶振机械强度高，起振性好。
能适应较宽温度范围。
5 合格判定
凡在合格供方供货范围内，原则上由物料检验员检验（或确认）“包装”状态完好后盖“免检”章入库；不在免检范围的产品，在外观检验合格的前提下，对产品检验后盖“合格”章入库。
编制：审核：批准：
（1）。
晶振-来料检验规范
1 目的
本检验规范的目的是保证本公司所购晶振的质量符合要求。
2 适用范围
本检验规范适用于本公司生产产品无特殊要求的晶振。
3 规范内容：
3.1测试工量具及仪表：示波器，晶振测试工装，游标卡尺，锡炉，测力计，
浓度不低于95%的酒精
3.2缺陷分类及定义：
A类：单位产品的极重要质量特性不符合规定，或者单位产品的质量特性极严重不符合规定。
B类：单位产品的重要质量特性不符合规定，或者单位产品的质量特性严重不符合规定。
C类：单位产品的一般质量特性不符合规定，或者单位产品的质量特性轻微不符合规定。
3.3判定依据：抽样检验依样品为标准：
3.4检验项目、标准、缺陷分类一览表
4 参照文件：
《来料检验控制程序》
《可焊性、耐焊接热实验规范》
《电子产品（包括元器件）
5相关记录与表格
《来料检验报告》
《品质异常联络单》-。
晶振质量检验规范
晶振质量检验规范
（ISO9001-2015）
检验项目缺陷描述检验方式
缺陷分类
A B C
外观1.晶振的来料型号与实物需一致且印字清晰；表面
不能有严重的刮花、脏污、破损等现象；引脚无氧
化生锈现象。
目测
尺寸 2.符合图纸及安装要求（或比对样件）游标卡尺√
可焊性3.各引脚上锡光滑、饱满、无针孔、气泡上锡面积
大于95%。
恒温烙铁√
抗溶性4.用酒精等有机溶剂擦拭表面印字部分，不能有掉
字或印字颜色变浅现象。
(表面激光打标的除外)
有机溶剂√
频率 5.规定值符合规格书要求
频率计/
晶体阻抗
计
√
输出特性 6.输出高、低电平及占空比符合规定值测试工装√
绝缘电阻7.≥500MΩ(引脚对外壳) 耐压测试
仪
√
图示：
备注：
1、抽样计划：
1.1 MIL-STD-105E正常检验单次抽样计划，一般检验按II级,特殊检验按S-3水准
1.2 破坏性实验检测（产品经检测后不可使用）之抽样标准，每批1-5PCS， IQC依实际情况而定。
1.3允收标准：检验规范项目之允收水准（AQL）
严重缺点（CRT）：0 重要缺点（MAJ）：0.65 次要缺点（MIN）：1.0
2、当允收时,若于生产过程中发现不良之数量超过进料允收标准,则通知供货商全检,并要求提出改善对策。
晶振检验作业指导
晶振检验作业指导引言概述：晶振是电子设备中常见的一种元器件，它在电路中起到提供稳定的时钟信号的作用。
为了确保电子设备的正常运行，对晶振的质量进行检验是非常重要的。
本文将为大家介绍晶振检验的作业指导，帮助大家了解晶振检验的流程和注意事项。
一、外观检验1.1 外观检查首先，对晶振的外观进行检查。
检查晶振是否有明显的损伤、变形、划痕等情况。
同时，还要检查晶振的引脚是否完好，是否有松动、变形等问题。
1.2 标识检查接下来，对晶振的标识进行检查。
检查晶振上的标识是否清晰可见，包括型号、生产厂商、生产日期等信息。
同时，还要核对标识信息是否与产品规格书上的要求一致。
1.3 温度特性检查最后，对晶振的温度特性进行检查。
将晶振放置在不同的温度环境下，观察其频率变化情况。
晶振的频率应在一定温度范围内保持稳定，温度特性合格的晶振才能被认定为合格产品。
二、电性能检验2.1 频率测量首先，使用频率计对晶振的频率进行测量。
将晶振连接到频率计上，观察频率计显示的数值。
晶振的频率应该与产品规格书中的要求一致，并且在一定的误差范围内。
2.2 驱动能力检查接下来，对晶振的驱动能力进行检查。
将晶振连接到驱动电路中，观察晶振是否能够正常振荡，并且输出的信号幅度是否符合要求。
驱动能力强的晶振能够提供更稳定的时钟信号。
2.3 温度漂移检查最后，对晶振的温度漂移进行检查。
将晶振放置在不同的温度环境下，观察晶振的频率变化情况。
温度漂移应在一定范围内，以保证晶振在不同温度下的工作稳定性。
三、电气性能检验3.1 静态电流检查首先，对晶振的静态电流进行检查。
将晶振连接到电流表上，观察电流表的读数。
晶振的静态电流应在一定范围内，过高或过低的静态电流都可能影响晶振的正常工作。
3.2 相位噪声检查接下来，对晶振的相位噪声进行检查。
使用频谱仪对晶振输出的信号进行分析，观察频谱仪显示的相位噪声水平。
相位噪声应在一定范围内，以保证晶振输出的时钟信号稳定。
3.3 耐压检查最后，对晶振的耐压能力进行检查。
晶振检验作业指导
晶振检验作业指导一、任务背景和目的晶振是一种常见的电子元件，广泛应用于各种电子设备中，如计算机、手机、电视等。
晶振的质量和性能对设备的正常运行至关重要。
本文旨在提供一份详细的晶振检验作业指导，帮助检验员正确进行晶振的质量检验，确保产品的稳定性和可靠性。
二、检验流程1. 准备工作- 确认检验所需的晶振型号和规格。
- 准备检验所需的仪器设备，如频谱分析仪、示波器等。
- 确保检验环境符合要求，无干扰源。
2. 外观检验- 检查晶振外壳是否完整，无裂纹、划痕等损伤。
- 检查引脚是否完好，无弯曲或松动。
3. 电气参数检验- 使用频谱分析仪测量晶振的频率稳定性。
- 使用示波器测量晶振的振荡波形，确保波形稳定、幅度合适。
- 测量晶振的电流消耗，确保在正常范围内。
4. 温度特性检验- 将晶振置于恒温箱中，逐渐调节温度。
- 在不同温度下，测量晶振的频率变化情况，记录数据。
- 根据数据分析晶振的温度特性，判断其是否符合要求。
5. 环境适应性检验- 将晶振置于高温湿热环境中，持续一段时间。
- 在环境适应性测试结束后，进行电气参数检验，确保晶振的性能未受到影响。
6. 报告撰写- 将检验结果整理成报告，包括晶振的外观检验、电气参数检验、温度特性检验和环境适应性检验的数据和分析结果。
- 报告中应包括晶振的型号、规格以及检验日期等信息。
三、数据分析和判定标准1. 外观检验- 外壳完整，无损伤。
- 引脚完好，无弯曲或松动。
2. 电气参数检验- 频率稳定性：在正常工作条件下，频率变化不超过规定范围。
- 振荡波形：波形稳定，幅度合适。
- 电流消耗：在正常工作条件下，电流消耗符合规定范围。
3. 温度特性检验- 频率变化率：在不同温度下，频率变化率不超过规定范围。
4. 环境适应性检验- 经过高温湿热环境测试后，晶振的性能未受到影响。
四、注意事项1. 检验员应具备一定的电子元器件知识和实验操作经验。
2. 在检验过程中，应注意安全，避免触碰高压电源或其他危险部件。
晶振检验作业指导
晶振检验作业指导一、任务背景晶振（Crystal Oscillator）是一种能够产生稳定振荡信号的电子元件，广泛应用于各种电子设备中，如计算机、手机、通信设备等。
为了确保晶振的质量和性能符合要求，需要对晶振进行检验。
二、检验目的本次检验的目的是确保晶振的频率稳定性、波形完整性以及工作温度范围等参数符合产品规格要求，以保证晶振在实际应用中能够正常工作。
三、检验方法1. 频率稳定性检验：a. 使用频率计测量晶振的振荡频率。
b. 将测量结果与产品规格书中的频率范围进行比较，确保频率偏差在规定范围内。
2. 波形完整性检验：a. 使用示波器连接晶振的输出端，并观察输出波形。
b. 确保波形稳定、无畸变，且频率与产品规格书中的要求一致。
3. 工作温度范围检验：a. 将晶振置于低温箱或者高温箱中，分别调节温度至指定范围。
b. 在不同温度下进行频率稳定性和波形完整性检验，确保晶振在各温度条件下均能正常工作。
四、检验步骤1. 准备工作：a. 确保检验环境符合要求，如温度、湿度等。
b. 准备好所需的仪器设备，如频率计、示波器、温度箱等。
2. 频率稳定性检验：a. 将晶振连接至频率计，确保连接正确。
b. 打开频率计并设置合适的测量范围。
c. 开始测量，并记录测量结果。
d. 将测量结果与产品规格书中的频率范围进行比较，判断是否合格。
3. 波形完整性检验：a. 将晶振的输出端连接至示波器的输入端，确保连接正确。
b. 打开示波器并设置合适的时间和电压范围。
c. 观察示波器上的波形，并判断波形是否稳定、无畸变。
d. 比较波形频率与产品规格书中的要求，判断是否合格。
4. 工作温度范围检验：a. 将晶振置于低温箱或者高温箱中，根据产品规格书设置合适的温度。
b. 在不同温度下进行频率稳定性和波形完整性检验，记录测量结果。
c. 比较测量结果与产品规格书中的要求，判断是否合格。
五、检验记录与报告1. 在检验过程中，及时记录测量结果、温度值以及其他相关信息。
晶振检验作业指导
晶振检验作业指导引言概述：晶振是电子产品中常用的元器件，其稳定性和准确性对于产品的性能起着至关重要的作用。
因此，在生产过程中对晶振进行检验是必不可少的环节。
本文将详细介绍晶振检验的作业指导，帮助读者了解如何正确进行晶振的检验工作。
一、外观检查1.1 检查晶振外壳晶振外壳应该没有明显的划痕、变形或者氧化现象，外壳应该完整无损。
1.2 检查引脚检查晶振引脚的焊接是否完整，是否有断裂或者虚焊现象。
1.3 检查标识检查晶振上的标识是否清晰，包括型号、生产厂家等信息。
二、参数测试2.1 频率测试使用频率计对晶振进行频率测试，检查其频率是否在规定范围内。
2.2 阻抗测试使用阻抗仪对晶振进行阻抗测试，检查其阻抗是否符合标准要求。
2.3 温度测试在不同温度下对晶振进行测试，检查其工作稳定性和温度漂移情况。
三、震动测试3.1 震动测试设备准备准备震动测试设备，设置不同频率和幅度的震动条件。
3.2 震动测试将晶振置于震动测试设备上进行震动测试，检查其在震动条件下的工作性能。
3.3 结果记录与分析记录震动测试的结果，分析晶振在震动条件下的稳定性和可靠性。
四、Aging测试4.1 Aging测试设备准备准备Aging测试设备，设置不同时间和温度条件。
4.2 Aging测试将晶振置于Aging测试设备中进行Aging测试，检查其在不同时间和温度条件下的稳定性。
4.3 结果记录与分析记录Aging测试的结果，分析晶振在不同时间和温度条件下的性能变化情况。
五、封装检验5.1 封装外观检查检查晶振的封装外观是否完整，是否有漏胶或者封装不良现象。
5.2 封装可靠性测试对晶振的封装进行可靠性测试，检查其在不同环境条件下的耐久性。
5.3 结果记录与分析记录封装检验的结果，分析晶振的封装质量和可靠性。
结语：通过以上介绍，相信读者对晶振检验的作业指导有了更深入的了解。
在进行晶振检验时，需要严格按照标准操作流程进行，确保产品的质量和性能稳定。
(完整word版)晶振检验规程
石英晶体振荡器检验规程编制:审核:批准:天正集团质量部石英晶体振荡器检验规程１适用范围本规程适用于公司外购晶体振荡器的检验和验收。
２引用标准及检验依据GB2828逐批检查计数抽样程序及抽样表。
石英晶体振荡器检验标准。
可焊性检验规程。
包装标志检验规程。
产品封样。
３检验设备及工具TH2681A型绝缘电阻测试仪、KH1120/KH1240晶振测试仪、三氯乙烷清洗液。
４检验程序4.1 包装标志检验包装标志检验按《包装标志检验规程》进行，检验结果应符合要求。
4.2 可焊性检验可焊性检验按《可焊性检验规程》进行，检验结果应符合要求。
4.3 外观尺寸检验4.3.1 抽检要求正常检查一次抽样方案一般检验水平：Ⅱ AQL值：0.104.3.2 检验要求a) 外观：晶振封装壳体应整洁，无变形、破裂、划痕现象。
b) 标志：晶振的规格、文字、图符应正确、清晰，用三氯乙烷清洗液浸泡10min 后无掉字现象。
c) 引脚：晶振引脚应牢固、光洁，无氧化、腐蚀现象。
d) 尺寸：用卡尺测量晶振外形尺寸，引脚间距应符合设计要求或样品。
4.4 电性能检验4.4.1 抽检要求正常检查一次抽样方案一般检查水平：Ⅱ AQL值：0.044.4.2 检验要求a) 用晶振测试仪测量晶振的频差：32.768kHz晶振频差应小于10×10-6（负载电容12.5pF），3.5795MHz晶振频差应小于15×10-6（负载电容16.5pF）。
b) 用晶振测试仪测量晶振的阻抗：32.768kHz晶振阻抗应小于35kΩ；3.5795MHz晶振应小于300Ω。
）。
c) 用TH2681A型绝缘电阻测试仪测量晶振与外壳间绝缘电阻R≥500MΩ（100VDC5 检验结果及处理意见5.1 质量记录将检验结果按要求填写在《抽样检验报告单》上，对不合格品应写明质量情况。
5.2 入库交接a) 检验员根据检验结果填写《产品报验单》。
b) 代用、应生产急用需代用的检验员根据实际情况填写代用单，交部门负责人签字批准后办理有关手续方可入库。
晶振检验作业指导
晶振检验作业指导一、任务背景晶振是一种电子元件，广泛应用于各种电子设备中，如计算机、手机、电视等。
在生产过程中，为了确保晶振的质量和性能稳定，需要进行晶振的检验工作。
本文将详细介绍晶振检验的步骤和标准，以确保产品质量符合要求。
二、检验步骤1. 外观检查1.1 检查晶振的外壳是否完整，无损坏、变形或划痕。
1.2 检查晶振的引脚是否完好，无弯曲或断裂。
1.3 检查晶振的标识是否清晰可辨，无模糊或磨损。
1.4 检查晶振的焊接是否牢固，无松动或虚焊现象。
2. 尺寸测量2.1 使用合适的测量工具，测量晶振的外形尺寸，包括长度、宽度和高度。
2.2 比对测量结果与产品规格书中的要求，确保尺寸符合标准范围。
3. 电性能测试3.1 使用专业的测试设备，将晶振连接至测试仪器。
3.2 测试晶振的频率稳定性，要求在一定温度范围内，频率变化应小于规定的范围。
3.3 测试晶振的启动时间，要求在规定的时间内能够启动并稳定工作。
3.4 测试晶振的电流消耗，要求在规定的电压下，电流消耗应小于规定的值。
4. 环境适应性测试4.1 将晶振放置在高温环境中，如70℃，持续一定时间，观察晶振的性能是否受影响。
4.2 将晶振放置在低温环境中，如-40℃，持续一定时间，观察晶振的性能是否受影响。
4.3 将晶振放置在高湿度环境中，如85%RH，持续一定时间，观察晶振的性能是否受影响。
4.4 将晶振放置在低湿度环境中，如10%RH，持续一定时间，观察晶振的性能是否受影响。
5. 可靠性测试5.1 使用可靠性测试设备，对晶振进行长时间的工作测试，如连续工作1000小时。
5.2 观察晶振在测试期间是否出现异常情况，如频率波动、启动困难等。
5.3 根据测试结果评估晶振的可靠性，确保其在实际使用中能够稳定工作。
三、检验标准1. 外观检查标准1.1 晶振外壳应完整，无损坏、变形或划痕。
1.2 晶振引脚应完好，无弯曲或断裂。
1.3 晶振标识应清晰可辨，无模糊或磨损。
晶振检验作业指导
晶振检验作业指导一、任务背景晶振是电子产品中常见的元器件之一，用于提供稳定的时钟信号。
在电子制造过程中，为了确保产品的质量和性能，需要对晶振进行检验。
本文将详细介绍晶振检验的步骤和要求，以帮助您正确完成晶振检验作业。
二、检验步骤1. 准备工作在进行晶振检验之前，需要准备以下工作：- 检验设备：万用表、示波器等。
- 检验环境：确保检验环境静电防护良好，避免静电对晶振产生影响。
- 检验样品：准备待检验的晶振样品。
2. 外观检验外观检验是对晶振外观进行检查，主要包括以下几个方面：- 确认晶振外壳是否完整，无裂纹或损伤。
- 检查晶振引脚是否弯曲或断裂。
- 观察晶振焊接是否牢固，无焊接虚焊或短路现象。
3. 电性能检验电性能检验是对晶振的电性能进行测试，主要包括以下几个方面：- 静态电阻测量：使用万用表测量晶振的静态电阻，确保其符合规定范围。
- 频率测量：使用示波器或频率计测量晶振的输出频率，确保其符合规定频率范围。
- 起振电压测量：使用示波器测量晶振的起振电压，确保其符合规定电压范围。
4. 动态性能检验动态性能检验是对晶振的振荡特性进行测试，主要包括以下几个方面：- 启动时间测量：使用示波器测量晶振从加电到稳定输出的时间，确保其符合规定时间范围。
- 衰减测量：使用示波器测量晶振的输出信号在一定时间内的衰减情况，确保其符合规定衰减范围。
- 相位噪声测量：使用频谱仪测量晶振的相位噪声水平，确保其符合规定要求。
5. 结果记录与分析在进行晶振检验时，需要记录每个样品的检验结果，包括外观检验结果、电性能检验结果和动态性能检验结果。
对于不合格的样品，需要进行分析，找出问题的原因，并采取相应的措施进行修复或替换。
三、检验要求在进行晶振检验时，需要注意以下要求：- 检验设备的准确性和可靠性，确保测试结果的准确性。
- 检验环境的静电防护，避免静电对晶振的影响。
- 检验样品的选择，确保样品具有代表性。
- 检验过程的严谨性，按照标准的步骤进行检验。
晶振-进料检验规范
目录
1目的 (1)
2适用范围 (2)
3检验仪器和设备 (2)
4检验项目和技术要求 (2)
5抽样方案 (2)
6应用表单 (4)
1目的
定义晶振的检验标准，与检验方法，确保使来料质量符合我公司的品质要求。
2适用范围
本公司使用所有晶振元件。
3检验仪器和设备
游标卡尺、波峰锡炉、放大镜、晶体阻抗计、酒精棉球。
4检验项目和技术要求
5抽样方案
正常抽样见下表，转移规则见《进料检验抽样方案》
6应用表单
序号表单名称表单编号责任部门保存期限6.1 《晶振进料检验记录》WF-QC-004 品管部一年6.2 《IQC检验报告单》WF-QC-013 品管部一年。
晶振检验作业指导
晶振检验作业指导一、任务概述晶振是一种常见的电子元器件，广泛应用于各种电子设备中，如计算机、手机、电视等。
晶振的质量直接影响到设备的性能和稳定性。
本文将为您提供晶振检验作业的详细指导，包括检验流程、检验项目和注意事项。
二、检验流程1. 准备工作（1）确保工作区域清洁整齐，避免灰尘和杂物对检验结果的影响。
（2）准备好所需的检验设备和工具，如万用表、频谱仪等。
（3）根据晶振的规格和型号，查阅相关技术资料，了解其电气特性和测试方法。
2. 外观检验（1）检查晶振外壳是否完好，无裂纹、变形或者划痕。
（2）检查引脚是否正常，无弯曲、断裂或者松动。
（3）检查焊接是否坚固，无虚焊、漏焊或者短路现象。
3. 电气参数检验（1）使用万用表测量晶振的电阻值，确保其在规定范围内。
（2）使用频谱仪测量晶振的频率，确保其与规格书中标注的频率一致。
（3）使用示波器观察晶振的波形，确保波形稳定且无明显的畸变。
4. 功能性检验（1）将晶振连接到相应的电路中，通过实际使用环境下的测试，检验其功能是否正常。
（2）观察晶振的工作状态，如是否有异常震动、发热或者住手振荡等现象。
5. 记录和报告（1）将每一项检验结果记录在检验表格中，包括外观检验、电气参数检验和功能性检验的数据。
（2）根据检验结果，判断晶振是否合格，并在报告中详细说明检验过程和结果。
三、检验项目1. 外观检验（1）外壳完好性：检查外壳是否有裂纹、变形或者划痕。
（2）引脚状态：检查引脚是否正常，无弯曲、断裂或者松动。
（3）焊接质量：检查焊接是否坚固，无虚焊、漏焊或者短路现象。
2. 电气参数检验（1）电阻值：使用万用表测量晶振的电阻值，确保其在规定范围内。
（2）频率：使用频谱仪测量晶振的频率，确保其与规格书中标注的频率一致。
（3）波形：使用示波器观察晶振的波形，确保波形稳定且无明显的畸变。
3. 功能性检验（1）正常工作：将晶振连接到相应的电路中，通过实际使用环境下的测试，检验其功能是否正常。
晶振检验作业指导
晶振检验作业指导引言概述：晶振是电子产品中常用的元器件之一，其稳定性和精准度对产品的性能起着至关重要的作用。
因此，在生产过程中对晶振进行检验是必不可少的环节。
本文将详细介绍晶振检验的作业指导，匡助读者了解如何正确进行晶振检验。
一、外观检查1.1 确认晶振外壳是否完整，有无明显损坏或者变形。
1.2 检查晶振引脚是否齐全，无断裂或者弯曲现象。
1.3 观察晶振表面是否有氧化、污渍或者异物，确保表面光洁。
二、参数测量2.1 使用万用表测量晶振的电阻值，确保引脚之间没有短路。
2.2 使用频率计测量晶振的振荡频率，与规格书上标明的频率进行比对。
2.3 测量晶振的静态电容值，确保符合规格要求。
三、功能性测试3.1 将晶振连接至电路板，通过示波器观察晶振的振荡波形。
3.2 测试晶振在不同温度下的振荡稳定性，确保在极端温度条件下仍能正常工作。
3.3 测试晶振的启动时间和启动功率，确保在各种工作条件下均能正常启动。
四、环境适应性测试4.1 将晶振放置在高温、低温、潮湿等不同环境条件下，观察其性能变化。
4.2 测试晶振在震动、冲击等外力作用下的稳定性，确保产品在运输过程中不会受到影响。
4.3 测试晶振在不同电磁场干扰下的抗干扰能力，确保产品在复杂电磁环境下正常工作。
五、记录与报告5.1 记录每一次晶振检验的结果，包括外观检查、参数测量、功能性测试和环境适应性测试的数据。
5.2 根据检验结果生成检验报告，详细描述晶振的性能指标和测试情况。
5.3 将检验报告归档保存，作为产品质量控制的重要依据。
结语：通过本文的作业指导，读者可以了解晶振检验的具体步骤和注意事项，确保产品质量和性能稳定。
希翼读者能够在实际生产中严格按照指导进行晶振检验，提升产品的竞争力和市场口碑。
晶振进货检验规范
晶振进货检验规范
晶振作为电子电路中的重要组成部分，其稳定性和精度直接影响到整个电路和产品的性能。
因此，在进货时要进行严格的检验和测试，才能确保晶振的质量和可靠性。
本文将介绍晶振进货检验规范，帮助大家更好地采购和使用晶振。
一、外观品质检验
1. 晶片外观：应无裂纹、凸起、凹陷、污渍、划痕等表面缺陷，金属引脚应直、匀、对称、无扭曲、错位、弯曲及接触疏松现象。
2. 铝壳外观：应无破损、裂纹、变形等表面缺陷，标记清晰、无掉色现象。
3. 整体外观：晶片与铝壳相结合紧密，铝壳与引线连接牢固。
二、尺寸和性能检验
1. 晶片尺寸：使用显微镜等仪器测量晶片尺寸，应与生产厂家提供的产品规格一致。
2. 引脚尺寸：使用千分尺等测量工具测量引脚尺寸，应与产品规格一致。
3. 频率测量：使用频率计等测量仪器对晶振进行频率测量，检查其频率是否符合产品规格要求。
4. 静电保护性能测试：使用静电放电测试仪对晶振进行静电放电测试，检查其静电保护性能是否符合要求。
5. 抗振动性能测试：使用振动台等仪器对晶振进行抗振动性能测试，检查其是否符合产品规格要求。
6. 工作温度范围测试：使用恒温箱等温度控制设备对晶振进行工作温度范围测试，检查其是否符合产品规格要求。
三、其他检验
1. 包装检验：检查晶振的包装是否完好无损，是否符合产品规格要求。
2. 产品质量证明文件检验：检查产品质量证明文件是否齐全、完整、真实、准确。
以上就是晶振进货检验规范的内容，希望能对大家有所帮助。
在进货时，尽量选择正规的生产厂家和供应商，确保晶振产品的质量和可靠性，以提高产品的性能和稳
定性。
晶振检验标准与规范
B类不合格：主要缺点（MAJ）AQL：0.65
C类不合格：次要缺点（MIN）AQL：1.0
3.常规项目检验标准及检验方法表一
检验项目
抽样水平
检验方法
检验标准
不良描述
不良判定
检验工具
CR
MA
MI
外观
外包装
全数包装
目视全数外包装
外包装完好,无破损、散乱
外包装破损、散乱
√
1.0以上视力
包装标识内容无误
包装标识内容错误
√
本体
一般抽样
目视本全表面
外表光滑，印字清晰，无压伤、刮伤及破裂鼓顶；品牌规格一致，无混料且与资料要求相符
外表粗糙，印字模糊，有压伤、刮伤及破裂；品牌规格与资料不符，有混料现象，周期≥1年
√
1.0以上视力
引脚
一般抽样
目视引脚
引脚光亮、无氧化成直线无弯曲现象
引脚灰暗有氧化现象，引脚弯曲变形
√
尺寸
本体
一般抽样
用卡尺测量本体高度及直径
尺寸与资料或样品相符
尺寸与资料或样品不符
√
卡尺
XXXX股份有限公司司
文件编号
版次
原材料检验标准与规范
修订码
生效日期
2016
原材料名称：晶振
页码
3/4
续上表一：
检验项目
抽样水平
检验方法
检验标准
不良描述
不良判定
检验工具
CR
MA
MI
4.3环境管理物质检验：
4.3.1环境管理物质管控项目:RoHS、PAHS、PHTS、SVHC、无卤素等（客户有要求时管控）
晶振的检测方法与技巧
晶振的检测方法与技巧
晶振好坏的区分，时常让初学者挠头。
晶振的个头比较小，但是在主板上起的作用不小，因此晶振的检测是主板维修非常重要的环节。
如何判断检测晶振的好坏呢？下面简单的介绍下检测晶振好坏的方法与技巧：
1、用万用表(R×10k挡)测晶振两端的电阻值，若为无穷大，说明晶振无短路或漏电；再将试电笔插入市电插孔内，用手指捏住晶振的任一引脚，将另一引脚碰触试电笔顶端的金属部分，若试电笔氖泡发红，说明晶振是好的；若氖泡不亮，则说明晶振损坏。
2、用数字电容表（或数字万用表的电容档）测量其电容，一般损坏的晶振容量明显减小（不同的晶振其正常容量具有一定的范围）
3、贴近耳朵轻摇，有声音就一定是坏的（内部的晶体已经碎了，还能用的话频率也变了）
4、测试输出脚电压。
一般正常情况下，大约是电源电压的一半。
因为输出的是正弦波（峰峰值接近源电压），用万用表测试时，就差不多是一半啦。
5、用代换法或示波器测量。
那么如何用万用表测量晶振是否起
振？可以用万用表测量晶振两个引脚电压是否是芯片工作电压的一半，比如工作电压是5V则测出的是否是2.5V左右。
另外如果用镊子碰晶体另外一个脚，这个电压有明显变化，证明是起振了的。
小窍门：就是弄一节1.5V的电池接在晶振的两端把晶振放到耳边仔细的听，当听到哒哒的声音那就说明它起振了，就是好的嘛！。
IC、晶振检验规范
编制：
审批：批准：V来自VVV
V
6、清洗 b.本体经超声波清洗后丝印模糊仍可辨别其规格，保护膜无损伤、无残缺 V
编制：
审批：
批准：
文件编号
工作文件 生效日期
来料检验标准
版次 页次 第5页 共13页
检验方法：在距40W荧光灯1m-1.2m光线内,眼睛距物20-30cm，视物约３-5秒 缺陷判定 No. 物料名称 检验项目 检验依据：MIL-STD-105E-II MA:0.65 品 1、尺寸 b.DIP件长/直径（圆体）/脚径允许公差范围为+0.25mm a.电感色环标示必须清晰无误 2、外观 电感 磁珠 3、包装 b.本体无残缺、剥落、变形 c.焊端/引脚不得有严重氧化及沾染有碍焊接之异物 9 d.焊接端轻微氧化但不影响其焊接 a.外包装需贴有明显物品标示且应与实物相符 b.SMT件必须用密封盘装且不允许有中断少数现象 a.量测其线圈应无开路 4、电气 b.与对应之产品焊接进行电脑测试，整体功能OK（参照测试标准） 5、浸锡 6、清洗 1、尺寸 a.焊端/引脚可焊锡度不低于90% a.经超声波清洗后色环不得有脱落或偏移1/4原始位置 a.长/宽/高/脚距尺寸不得超出图面公差范围 a.表面丝印需清晰可辨，型号、内容清楚无误 b.本体无残缺、变形 2、外观 c.表体划伤长不超过2mm，深度不超过0.1mm，整体不得超过2条 V V V V V V V V V V a.SMT件长/宽/高允许公差范围+0.2mm 质 MI:1.5 要 求 MA V V V V V V MI
编制：
审批：
批准：
文件编号
工作文件 生效日期
来料检验标准
版次 页次 第4页 共13页
检验方法：在距40W荧光灯1m-1.2m光线内,眼睛距物20-30cm，视物约３-5秒 No. 物料名称 检验项目 检验依据：MIL-STD-105E-II MA:0.65 品 1、尺寸 质 MI:1.5 要 求 MA V V
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石英晶体振荡器检验规程
编制:
审核:
批准:
天正集团质量部
石英晶体振荡器检验规程
１适用范围
本规程适用于公司外购晶体振荡器的检验和验收。
２引用标准及检验依据
GB2828逐批检查计数抽样程序及抽样表。
石英晶体振荡器检验标准。
可焊性检验规程。
包装标志检验规程。
产品封样。
３检验设备及工具
TH2681A型绝缘电阻测试仪、KH1120/KH1240晶振测试仪、三氯乙烷清洗液。
４检验程序
4.1 包装标志检验
包装标志检验按《包装标志检验规程》进行，检验结果应符合要求。
4.2 可焊性检验
可焊性检验按《可焊性检验规程》进行，检验结果应符合要求。
4.3 外观尺寸检验
4.3.1 抽检要求
正常检查一次抽样方案
一般检验水平：Ⅱ AQL值：0.10
4.3.2 检验要求
a) 外观：晶振封装壳体应整洁，无变形、破裂、划痕现象。
b) 标志：晶振的规格、文字、图符应正确、清晰，用三氯乙烷清洗液浸泡10min 后无掉字现象。
c) 引脚：晶振引脚应牢固、光洁，无氧化、腐蚀现象。
d) 尺寸：用卡尺测量晶振外形尺寸，引脚间距应符合设计要求或样品。
4.4 电性能检验
4.4.1 抽检要求
正常检查一次抽样方案
一般检查水平：Ⅱ AQL值：0.04
4.4.2 检验要求
a) 用晶振测试仪测量晶振的频差：32.768kHz晶振频差应小于10×10-6（负载电容
12.5pF），3.5795MHz晶振频差应小于15×10-6（负载电容16.5pF）。
b) 用晶振测试仪测量晶振的阻抗：32.768kHz晶振阻抗应小于35kΩ；3.5795MHz
晶振应小于300Ω。
）。
c) 用TH2681A型绝缘电阻测试仪测量晶振与外壳间绝缘电阻R≥500MΩ（100V
DC
5 检验结果及处理意见
5.1 质量记录
将检验结果按要求填写在《抽样检验报告单》上，对不合格品应写明质量情况。
5.2 入库交接
a) 检验员根据检验结果填写《产品报验单》。
b) 代用、应生产急用需代用的检验员根据实际情况填写代用单，交部门负责人签字批准后办理有关手续方可入库。
c) 对检验合格后的产品给予合格标识，见本部门《内部管理制度》中规定关于检验合格后产品入库操作程序。
d) 对检验查出的不合格品进行不合格标识，并放入不合格专用箱内，并按公司有关制度对外协进行罚款。
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