X射线系列实验

二、实验内容
调校测角器的零点
实验中会出现测角器的零位偏离很明显，有什么办法可 以较快地调零？ 靶台偏离较大时，即使直射时信号也会很小，大概只能 看到200/s左右的信号，此时可确定靶台偏离较大，需 重新调节。 实验中若是探测器偏离较大时，可用如下办法较快的调 零。 不放晶体，让X-ray直射sensor，调sensor 至信号最 大值，此时大概为sensor的零点。 放NaCl晶体并将sensor转过14.4度，调target获得最 大峰值，找到后用coupled模式回转7.2度，归零。 再进行细调，至最终零点。
Zr
0.05295±0.01448 2.39771±0.06745 0.98435 2.39771±0.06745
a b R2 α
二、实验内容
研究X光在材料中的衰减系数与波长及材料 的原子序数的关系 Cu Zr
二、实验内容
研究X光在材料中的衰减系数与波长及材料 的原子序数的关系
观察图形，数据点的偏差还是很大的，且在某 些点τa有跳变。
二、实验内容
研究x光在材料中的衰减系数与波长及材料 的原子序数的关系
二、实验内容
研究X光在材料中的衰减系数与波长及材料的原子序数的关 系。 为求α，先用软件编辑公式，找出τa~T对应关系，再用公 式Z=a*（λ）α次方进行拟合
Z=a*（λ）b
Cu
0.01583±0.00481 2.39888±0.07249 0.97684 2.39888±0.07249
二、实验内容
测量LiF晶体的晶面间距
由2dsinθ=kλ对实验中测得数据进行拟合有 y=Bx，其中d=B=（0.229±0.0003)nm NaCl和LiF属于面心立方晶系，实验中测得的d 应为（0 0 1）方向上的a/2。 对于“3β”衍射，可根据测得d算出晶面间距为 d=λb/2sinθ=4sin60*d001 有可能为（1 1 1）方向的衍射 即可通过变化target和sensor的角度，通过测 不同的晶面间距，来确定晶体的结构。
X射线系列实验
徐天昊/0519029
一、实验简介
调较测角器的零点。 测定LiF晶体的晶面间距。 用电离腔探测X射线。 测定X光在铝中的衰减系数，并验证Lambert定律。 研究X光在材料中的衰减系数与波长及材料的原子 序数的关系。 检验Moseley’s Law。 Planck常数h的测定。
测量饱和离子电流Ic随X光管流I的变化 (U=35kV,Uc=250V)
饱和电流与管流呈线性关系 这是因为X射线多少决定了 空气中可电离的离子和电子 的多少，由之前实验可知： Uc=250V导致所有带电粒 子均能碰到极板，因此应该 呈线性关系 。
二、实验内容
用电离腔探测X射线
测量饱和离子电流Ic随X光高压U的变化 实验结果用指数关系进 行拟合效果如图 。 R`2=0.99053
三Fra Baidu bibliotek实验总结
涉及晶体的步骤中的误差主要来自于晶体自 身，有的凹凸不平，有的已经有氧化现象。 仪器自动操作，电脑软件采集数据为实验很 大程度上减少了误差。 实验仪器的精确也保证了对数据处理得出结 论的有效性。
改进方法
为了减小误差，可使Δt变长。
二、实验内容
用电离腔探测X射线
高压与饱和电流的关系(I=1mA)： 从图中分析： 直线反向延伸，并未 过原点，且Uo=35KV 的y值小于Uo=25KV 的y值。这应该是由零 电流时Uco的值不稳定 所造成的
二、实验内容
用电离腔探测X射线
二、实验内容
验证Lambert’s Law，测在铝中的衰减系数
做d~LnR的图象,二 者呈很好的线形关系 R=0.99998
二、实验内容
验证Lambert’s Law，测在铝中的衰减系数
在电压为21KV及18KV时测量并对结果拟合：
二、实验内容
验证Lambert’s Law，测在铝中的衰减系数
用公式y=A1*exp(-x/T1)+y0进行拟合通过对两组 实验结果的比较，发现都存在一定误差，但在电压为 21kv时的μ值更接近标准值。
U A1
21kv 3944.4
18kv 2721.5
T1 R2 μ
0.89993±0.02804 0.51315±0.00565 0.99635 1.1112±0.0336 0.99978 1.9487±0.0212