高加速寿命试验
开关电源高加速寿命试验方法团体标准
开关电源高加速寿命试验方法团体标准ICS号29.200中国标准文献分类号K85团体标准标准编号开关电源高加速寿命试验方法Highly accelerated life test methods of switching power supply（征求意见稿）202X-XX-XX发布 202X-XX-XX实施中国电源学会发布目次前言 (II)1 范围 (3)2 规范性引用文件 (3)3 术语和定义 (3)4 技术要求 (3)4.1 产品工作应力极限试验 (3)4.2 综合环境应力试验 (4)5 检测方法 (4)5.1 一般要求 (4)5.2 产品工作应力极限试验 (4)5.3 综合环境应力试验 (8)6 试验报告 (9)附录A（资料性附录）共模噪声试验 (10)1T/CPSS XXXX－XXXX2前言本规范依据《GBT 1.1-2009 标准化工作导则第1部分：标准的结构和编写》制订，规定了高加速寿命试验的技术要求和试验方法。
同时增加了部分特殊项目的测试要求和方法如下：——共模噪声试验。
本标准由中国电源学会提出并解释。
本标准起草单位：航嘉驰源电气股份有限公司、广东志成冠军集团有限公司、合肥华耀电子工业有限公司、杭州博睿电子科技有限公司、深圳市瓦特源检测研究有限公司、科华恒盛股份有限公司。
本标准主要起草人：罗勇进、伍金铨、李民英、王雪飞、李积明、涂建华、洪开慧、王志东。
本标准首次发布。
T/CPSS XXXX－XXXX开关电源高加速寿命试验方法1 范围本标准规定了开关电源高加速寿命试验的技术要求、试验方法等。
本标准适用于开关电源的高加速寿命试验。
2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。
凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。
凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
IPC-9592B—2012 计算机和电信行业电源转换装置的要求（Requirements for power conversion devices for the computer and telecommunications industries）3 术语和定义下列术语和定义适用于本文件。
可靠性测试产品高加速寿命试验方法指南解析
术语和定义HALT（High Accelerated Life Test）：高加速寿命试验，即试验中对试验对象施加的环境应力比试验对象整个生命周期内，包括运输、存储及运行环境内，可能受到的环境应力大得多，以此来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱环节，而后对暴露的缺陷和故障从设计、工艺和用料等诸方面进行分析和改进，从而达到快速提升可靠性的目的。
运行限或操作限（Operation Limit）：指产品某应力水平上失效（样品不工作或其工作指标超限），但当应力值略有降低或回复初始值时，试样又恢复正常工作，则样品能够恢复正常的最高应力水平值称为运行限。
破坏限（Destruct Limit）：在某应力水平上升到某值时，样品失效，即使当应力回落到低于运行限时，试样仍然不能恢复正常工作，这时的应力水平值称为破坏限。
裕度（Margin）：产品运行环境应力的设计限与运行限或破坏限的差值。
产品的裕度越大，则其可靠性越高。
夹具（Fixture）：在HALT试验的振动项目中固定试样的器具。
振动试验必须使用夹具，使振台振动能量有效地传递给试样。
加速度传感器（Accelerometer）：在某方向测量试样振动加速度大小的传感器。
在HALT试验的振动项目中使用加速度传感器可以监视试验箱振动能量通过夹具有效传递给试样的效率。
振动功率谱密度（Vibrating Power Spectral Density）：也称为加速谱密度，衡量振动在每个频率点的加速度大小，单位为（g2/Hz）。
Grms（Gs in a root mean square）：振动中衡量振动强度大小的物理单位，与加速度单位相同，物理含义为对振动功率谱密度在频率上积分后的平方根。
热电偶（Thermocouple）：利用“不同导体结合在一起产生与温度成比例的电压”这一物理规律制作的温度传感器。
在HALT试验的热应力测试项目中，利用热电偶监视产品各点的温度分布。
功能测试（Functional Test）：对试样的测试，用以判断试样能否在测试环境下完成规定的功能，性能是否下降。
高加速寿命试验标准
高加速寿命试验标准
高加速寿命试验是指在较短的时间内，通过加速实验的方法模拟产品在正常使用条件下所经历的极端环境，以确定产品的性能和可靠性。
一般来说，高加速寿命试验标准会包括以下内容：
1.试验目的和试验范围：明确试验所针对的产品和试验范围。
2.试验条件和试验方法：包括试验环境条件、试验载荷和试验时间等。
3.试验样品的制备和要求：确定试验所需的样品数量和制备方法，以及对样品的要求。
4.试验结果的评估和分析：对试验结果进行定量和定性分析，评估产品的性能和可靠性。
5.试验报告要求：详细记录试验的过程、结果和分析，以及试验所采用的方法和仪器等。
不同行业和产品的高加速寿命试验标准可能有所不同，具体要根据产品的使用环境和要求来确定。
高加速寿命试验与高加速应力筛选试验技术
高加速寿命试验与高加速应力筛选试验技术高加速寿命试验（HALT，highly accelerated life test）和高加速应力筛选（HASS,highly accelerated stress screen）是近年来不断发展起来的可靠性新技术，为考核产品质量和可靠性、快速暴露产品的设计和制造缺陷，提高其可靠性提供了强有力的工具。
一、 HALT/HASS技术的特点1．1 基本原理传统的可靠性试验的原理就是模拟现场工作条件和环境条件，将各种工作模式以及各种应力按照一定的时间比例、一定的循环次序反复施加到受试产品上，经过对受试产品的失效分析与处理，将得到的质量信息反馈到设计、工艺、制造、采购等部门，并进行持续的改进，以提高产品的固有可靠性；同时依据试验的结果对产品的可靠性作出评估。
HALT/HASS可靠性技术不同于传统的可靠性试验，它是利用高机械应力和高变温率来实现高加速的，因为具有很高的效率，能够将原来需要花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周，并且在这一周中所发现的产品质量问题几乎与顾客应用后所发现的问题一致，使得经过HALT/HASS试验的产品使用故障率大大降低。
简单地说，有缺陷器件（如焊点有气泡，元器件引线有划痕等）之所以容易失效是由于有缺陷部件的应力集中系数高达2-3倍，这样其疲劳寿命就相应降低了好几个数量级，使得有缺陷与无缺陷器件在相同的应力作用下疲劳寿命拉大了档次，导致有缺陷器件迅速暴露而无缺陷器件损伤甚小。
许多类型的应力所引起故障失效加速因子是与应力呈指数级增加关系，而不是呈等比例增加关系，所以提高应力能加速产品失效。
1．2 试验目的传统的可靠性试验的目的是为确定产品是否能够经受外场实际环境的模拟试验，即是一个通过与否的试验：如果“通过”就交付使用，如果“未通过”就查找产品失效的原因，并确保产品“通过”，这在一定程度上起到提高产品可靠性水平的作用。
HALT/HASS的试验则不同于传统的可靠性试验。
电工电子产品加速寿命试验
电工电子产品加速寿命试验之一1概述寿命试验是基本的可靠性试验方法，在正常工作条件下，常常采用寿命试验方法去评估产品的各种可靠性特征。
但是这种方法对寿命特别长的产品来说，不是一种合适的方法。
因为它需要花费很长的试验时间，甚至来不及作完寿命试验，新的产品又设计出来，老产品就要被淘汰了。
因此，在寿命试验的基础上形成的加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法逐渐取代了常规的寿命试验方法。
加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法，激发产品在短时间内产生跟正常应力水平下相同的失效，缩短试验周期。
然后运用加速寿命模型，评估产品在正常工作应力下的可靠性特征。
加速环境试验是近年来快速发展的一项可靠性试验技术。
该技术突破了传统可靠性试验的技术思路，将激发的试验机制引入到可靠性试验，可以大大缩短试验时间，提高试验效率，降低试验耗损。
2 常见的物理模型元器件的寿命与应力之间的关系，通常是以一定的物理模型为依据的，下面简单介绍一下常用的几个物理模型。
2.1失效率模型失效率模型是将失效率曲线划分为早期失效、随机失效和磨损失效三个阶段，并将每个阶段的产品失效机理与其失效率相联系起来，形成浴盆曲线。
该模型的主要应用表现为通过环境应力筛选试验，剔除早期失效的产品，提高出厂产品的可靠性。
2.1 失效率模型图示：O1典型的失效率曲线规定的失效率随机失效早期失效磨损失效t2.2应力与强度模型该模型研究实际环境应力与产品所能承受的强度的关系。
应力与强度均为随机变量，因此，产品的失效与否将决定于应力分布和强度分布。
随着时间的推移，产品的强度分布将逐渐发生变化，如果应力分布与强度分布一旦发生了干预，产品就会出现失效。
因此，研究应力与强度模型对了解产品的环境适应能力是很重要的。
2.3最弱链条模型最弱链条模型是基于元器件的失效是发生在构成元器件的诸因素中最薄弱的部位这一事实而提出来的。
该模型对于研究电子产品在高温下发生的失效最为有效，因为这类失效正是由于元器件内部潜在的微观缺陷和污染，在经过制造和使用后而逐渐显露出来的。
高加速寿命试验及高加速应力筛选(HaltHass)试验规范
浙江科正电子信息产品检验有限公司国家电子计算机外部设备质量监督检验中心浙江省物联网应用工程质量检验中心技术文件CPL/JS 046-2013高加速寿命试验及高加速应力筛选（Halt/Hass）试验规范2013-01-05发布2013-01-05实施信高加速寿命试验及高加速应力筛选（HaltHass）试验规范CPL/JS 046-2013目录1 目的2 范围3 术语4 试验人员需求5 试验设备需求6 试验样本7 功能性能测试需求8 试验报告与文档9 高加速寿命试验程序10 高加速应力试验结束后的测试1 目的本文档主要用于指导企业实施高加速寿命实验过程。
如果严格按照本指南实施，可以得到一个理想的高加速应力寿命实验结果，推广更多更健壮得产品到市场。
2 范围在本文档中，成功执行和实施HALT过程的基本原理将被详细描述。
它明确了技术人员职责、工具和设备需求以及测试试验资质。
如果坚持按照本文档实施，就能够获得最基本的指南以执行和完成一个成功的HALT试验。
本指南可用于各种产品部件，包括电子产品、电子－机械产品或者单纯的机械产品。
3 定义3.1. 振动带宽：3.2. 纠正措施：这里是指为了消除产品缺陷而进行得设计或者过程得改变。
纠正措施可以包括部件或者材料改变，也包括产品设计和生产过程得变化。
3.3. 破坏极限：是指让一个或者多个产品不再拥有产品规范里规定得产品功能特性，即使应力降低，(中国可靠性网)产品也不能恢复。
如我们常见得硬失效。
3.4. 功能测试：产品的一种测试，通过测量产品的功能性能、产品使用或者边界参数来评判产品是否实效（不能完成产品规定的功能）或者退化是否发生，这种测试也可以包括内部诊断。
功能性测试贯穿于HALT试验的整个环境应力过程。
3.5. 振动加速度均方值：3.6. 高加速寿命试验(HALT)：一种利用步进应力的过程，通过不同的加速应力发现产品的设计局限。
HALT主要用于暴露产品的应力极限和确认产品的缺陷。
高加速寿命试验(Highly Accelerated Life Test-HALT-HASA-HASS)
高加速寿命试验(Highly Accelerated Life Test-HALT/HASA/HASS) 加速应力试验源由(Accelerated Stress Test:简称AST/ALT)，源起于1960年代美国因应太空计划对高可靠度的需求而被发展出来。
随着科技高度发展及快速变化的市场需求，过去耗时的产品验证方式已逐渐无法应付如此快速变化的市场需求进而影响到产品于市场之竞争力，因此，如何快速且有效发现产品设计缺陷并于设计阶段加以修正为现今国内外各大厂之主要关键问题，亦即是HALT&HASS逐渐被重视的原因。
众所皆知，产品在设计阶段进行缺陷修正是极为容易的，在大量生产后进行缺陷修正则困难度相对提高。
微利时代若产品在市场于保固期内出现缺陷则所花费成本与商誉损失将无法计算。
因此1990年代后以美国为首的国际各大厂(包括hp、Dell、Cisco、Nortel、Tetronix、Motorola等)均相继以HALT手法作为新产品开发阶段迅速找出产品设计及制造的缺陷同时改善缺陷已达降低保固期成本、增加产品可靠度并缩短产品上市时间。
同时可利用HALT所发现之失效模式与相关资做为后续研发产品的重要依据。
目前有航空电子、汽车及信息等高科技产业皆已投入HALT 领域之测试，并且已有相当成效。
基本概念：1）HALT ：Highly AcceleratedLife Testing（高加速寿命测试）2）HASS：Highly AcceleratedStress Screen（高加速应力筛选）3）HASA：Highly AcceleratedStress Audit（高加速应力稽核）关于HALT:1)测试目的：在设计初期对已有的原型机或者工程样机进行应力测试并至失效，对于发现的失效进行分析改善，例如更换部件等方法，使得产品的设计更加强健，可靠性更高。
简单来说就是：测试->失效->分析->改善->测试....的循环，网上找了下面一张图以便于理解。
科普-高加速寿命试验是什么？
科普:高加速寿命试验是什么？[导读]一款新产品的推出都要经历很多阶段，其中最关键的部分可能要数设计研发阶段了。
新的产品理念的提出到试品的出现，可谓是从无到有的过程。
在整个产品设计研发阶段，工程师们需要通过很多手段使产品的种种缺陷提早暴露一款新产品的推出都要经历很多阶段，其中最关键的部分可能要数设计研发阶段了。
新的产品理念的提出到试品的出现，可谓是从无到有的过程。
在整个产品设计研发阶段，工程师们需要通过很多手段使产品的种种缺陷提早暴露出来，从而避免在投产后频频出现的质量问题。
最近，一种叫高加速寿命试验的试验方法成功吸引了很多人的注意力。
一、关于高加速寿命试验(HALT)高加速寿命试验，英文简称HALT(Hlighly Accelerated Life Test)，是一种新的试验方法或者思想，试验中采用的环境应力比常见的加速试验更加严酷。
目前主要应用于产品开发阶段，它能以较短的时间促使产品的设计和工艺缺陷暴露出来，为改进产品设计、提升产品可靠性提供依据。
由于HALT试验主要应用于产品开发阶段，因而产品出问题的概率比较高，关键是还很难找出问题的症结，这就迫使众多硬件工程师们长期深陷于问题的分析当中。
从90年代开始，HALT获得推广应用。
HALT的最大特点是时间上的压缩，可以在短短的几天内模拟一个产品的整个寿命期间可能遇到的情况。
与传统的可靠性试验相比，HALT试验的目的是激发故障，即把产品潜在的缺陷激发成可观测的故障。
因此，它不是采用一般模拟实际使用环境进行的试验，而是人为施加步进应力，在远大于技术条件规定的极限应力下快速进行试验，找出产品的各种工作极限与破坏极限。
二、HALT优势所在：1、借助高环境应力，使产品设计缺陷提前激发出来，从而消除设计缺陷，大大提高设计可靠性;2、后期维修费用大大降低，因为所交付产品的可靠性得到了极大的保障;3、了解产品的设计能力及失效模式;4、可以找出产品的工作极限及破坏极限，为制定 HASS(高加速应力筛选) 方案，确定HASS 的应力量级提供依据;5、鉴定试验时故障大大减少，经过 HALT试验的产品，鉴定试验已不再成为必需，可能会流于一种形式。
电子产品整机高加速寿命试验(HALT)技术应用
电子产品整机高加速寿命试验（HALT）技术应用摘要高加速寿命试验（HALT）起源于上世纪80年代末期的美国，经过20多年的不断研究和发展，现已成为美国和西方发达国家进行产品设计质量验证与产品制造质量验证的一个最基本的也是必须执行的验证方法。
这项旨在提高电子产品质量可靠性的试验技术在2005年后随着外资企业在国内使用和带动下而逐渐为国内一些知名的电子产品生产企业所熟悉和接受，而如何有效地运用HALT 试验技术来达到提高自身电子产品质量的目的，是广大电子产品生产企业所最关心的问题。
在这样的背景下，本文对高加速寿命试验（HALT）方法技术应用进行了初步探析。
关键词电子产品；HALT；试验可靠性应用1 HALT技术介绍HALT的工作原理是按照一定的规范程序对产品逐渐的施加应力，直到产品应力超过了其承受极限从而暴露出相应的故障。
HALT主要是运用故障物理学来作为一种激发出产品故障的模式，它是将产品在超过了其承受的应力极限时失效作为主要的研究对象，从而找出它的缺陷来对产品进行相应的整改，提高产品的质量。
另外在进行HALT实验时，还可以还可以对产品进行测试，从而提高产品的测试性2 HALT的原理特点2.1 HALT技术原理HALT技术主要原理是通过步进（或叫阶梯）增加应力的方式来找出或者说确定所设计产品的“工作极限”和“破坏极限”，这里所说的应力包括环境应力（如高低温、振动、温度循环以及温度和振动综合）和工作应力（如电源通断、电压拉偏、非正常负荷以及电压和频率边际测试等）。
如上图所示，产品的工作极限指的是在HALT加速试验中，施加的环境应力远远超过了该产品能承受的最大应力，从而使产品发生了故障，不能进行正常的工作，但是一旦将实验停止环境应力恢复到标准值以后，产品又能进行正常工作的情况。
而产品还有破坏极限，顾名思义，就是在环境应力大大超过岂能承受的最大范围时，产品遭到了破坏，停止工作，就算应力恢复到正常值一样不能工作，受到了彻底的破坏。
产品高加速寿命试验技术概述
工业技术科技创新导报 Science and Technology Innovation Herald87DOI：10.16660/ki.1674-098X.2018.05.087产品高加速寿命试验技术概述①周鲁（中国人民解放军第四三二八工厂 山西长治 046011）摘 要：高加速寿命试验（Highly Accelerated Life Test简称HALT）技术，是一种采用比产品实际使用环境应力更高的应力对其进行寿命试验的技术方法。
采用高加速寿命试验技术，可以使产品的设计缺陷和工艺缺陷等质量问题在试验过程中加速暴露出来，从而可以有效地提高产品可靠性、缩短试验时间、节省试验经费。
关键词：高加速寿命试验 可靠性 步进试验中图分类号：TB24文献标识码：A文章编号：1674-098X(2018)02(b)-0087-02①作者简介：周鲁（1980—），男，汉族，山东莒县人，本科，工程师，研究方向:装备维修保障。
近二十年来，由于《军用设备环境试验方法》、《电子产品环境应力筛选方法》以及《可靠性鉴定和验收试验》等国家军用标准的贯彻实施，国内基于可靠性试验技术和环境试验技术等对产品尤其是电子类产品采用的寿命试验技术已经取得了较大地发展，产品的可靠性也获得了大幅度的提高。
目前，随着产品性能的不断提高、功能的不断增加，其复杂程度也越来越高，用户对产品的可靠性与寿命也有了更高的要求。
模拟产品在运输、贮存和使用等过程中可能遇到的各种环境条件而开展的可靠性与寿命试验技术，由于试验时间和试验经费的限制，已经远远不能满足产品研制单位与用户的需要。
葛瑞格·K ·霍布斯(Gregg K Hobbs)博士于20世纪80年代提出了高加速寿命试验技术，这种试验技术通过使用比产品所处现场环境应力更高的应力对产品进行寿命试验，从而使产品的设计缺陷和工艺缺陷能够加速暴露出来，采用这种试验技术可以有效地节省试验时间和试验经费，使得产品研制单位可以较为快速、经济地通过不断改进试验中发现的产品缺陷来加强产品的可靠性。
高加速寿命测试方法
高加速寿命测试方法引言：高加速寿命测试是一种常用的测试方法，用于评估产品在短时间内的使用寿命。
本文将介绍高加速寿命测试的定义、目的、测试方法和注意事项。
一、定义高加速寿命测试是指通过模拟实际使用环境下的加速情况，将产品在相对较短时间内进行高强度的测试，以评估其在长期使用过程中的寿命表现。
二、目的高加速寿命测试的主要目的是通过提前暴露产品在实际使用过程中可能出现的问题，以便对其进行改进和优化。
通过测试，可以评估产品的可靠性和稳定性，提高产品的质量和性能。
三、测试方法1. 确定测试条件：根据产品的使用环境和要求，确定合适的测试条件，包括温度、湿度、振动等参数。
2. 设计测试方案：根据产品的特点和测试要求，设计合理的测试方案，包括测试时间、加载方式、测试步骤等。
3. 进行测试：按照测试方案进行测试，记录测试过程中的数据和观察结果。
4. 数据分析：对测试结果进行数据分析和统计，评估产品的寿命表现和可靠性。
5. 结果报告：根据测试结果，撰写测试报告，总结产品的寿命特性和存在的问题，并提出改进建议。
四、注意事项1. 选择合适的测试设备和环境，确保测试的准确性和可信度。
2. 遵循测试标准和规范，保证测试的一致性和可比性。
3. 注意安全问题，确保测试过程中的人员和设备的安全。
4. 随时记录测试数据和观察结果，确保测试过程的可追溯性。
5. 注意测试过程中的异常情况和问题，及时采取措施进行处理。
6. 结合产品的特点和使用环境，灵活调整测试方案和条件，以提高测试效果。
五、总结高加速寿命测试是一种重要的测试方法，可以帮助企业评估产品的寿命特性和可靠性。
通过合理的测试方案和方法，可以提前发现产品存在的问题，并采取相应的改进措施，以提高产品的质量和性能。
在进行高加速寿命测试时，需要注意选择合适的测试设备和环境，遵循测试标准和规范，保证测试的准确性和可信度。
同时，也需要注意安全问题和测试过程中的异常情况，以确保测试的顺利进行。
高加速寿命试验标准
高加速寿命试验标准项目介绍高加速寿命试验（Highly Accelerated Life Testing，简称HALT试验）是一种对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示设计缺陷和不足的过程。
HALT的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限，从而优化产品的可靠性。
高加速寿命试验HALT一词是Gregg K. Hobbs 于1988年提出的。
是一种利用阶梯应力加诸于试品，并在早期发现产品缺陷、操作设计边际及结构强度极限的方法。
试品通过HALT所暴露的缺陷，涉及线路设计、工艺、元部件和结构等方面。
HALT的主要目的是在产品设计和试产阶段，通过试验，快速发现产品的潜在缺陷，并加以改进和验证，从而增加产品的极限值，提高其坚固性及可靠性。
施加于试品的应力，包括振动、高低温、温度循环、电力开关循环、电压边际及频率边际测试等。
HALT试验是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法，现已成为美国电子业界的标准产品验证方法。
它将原需花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周，且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致，故HALT的试验方式已成为新产品上市前所必需通过的验证。
在产品研制阶段，为得出产品设计裕度和极限承载能力(破坏或损伤极限)而设计的一种试验，它应用步进的方法给产品施加环境应力并检测其性能，直到产品失效为止。
为提高试验效率，所施应力并非工作环境的模拟而是加速应力，通常为高变温率(至少应大于25°C/min)的温度循环和多轴随机振动，还包括有通电循环、电压偏低、频率偏差等电应力。
高加速寿命试验得到的应力极限值可以作为确定高加速环境应力筛选的应力量值的依据。
目前能进行高加速寿命试验的实验室有环境可靠性与电磁兼容试验服务中心、航天环境可靠性试验与检测中心等。
功能HALT以连续的测试、失效分析、缺陷改进及验证构成了整个程序，而且可能是个闭环循环过程。
高加速寿命试验
未知驱动探索，专注成就专业
高加速寿命试验
高加速寿命试验是对产品进行快速老化加速寿命测试的一
种方法。
该试验通过提高产品在短时间内的工作负荷和环
境条件，以加速产品的老化速度和寿命消耗，从而预测产
品在正常使用条件下的寿命。
与常规寿命试验相比，高加
速寿命试验可以更快地获取产品的可靠性和使用寿命信息。
高加速寿命试验常用于电子产品、汽车零部件、航空航天
等领域的研发和生产，以验证产品的可靠性和持久性。
在
试验过程中，可以通过同时提高温度、湿度、震动、振动
等环境因素的方式来加速产品的老化过程，然后通过监测
产品在不同条件下的工作表现和故障情况，来评估产品的
寿命和可靠性。
高加速寿命试验的目的是提前发现产品的潜在问题，改进
产品的设计和制造过程，从而提高产品的品质和可靠性。
然而，需要注意的是，高加速寿命试验只能提供对产品在
短时间内的可靠性评估，无法完全代表产品在长期使用条
件下的寿命情况，因此还需要结合其他实际使用场景的测
试和验证来综合评估产品的寿命和可靠性。
1。
加速寿命试验与高加速寿命试验的比较分析
加速寿命试验都是卓越的加速环境试验技术 ， 也是可靠性试验领域的两个主要发展方向。 关键词 ： 加速寿命试验 （ Ｌ ） Ａ Ｔ ；高加速寿命试验（ ＡＴ ； Ｈ Ｉ ） 环境试验 ； 可靠性
中图分类 号 ： Ｂ １ ． Ｔ １４３ 文献标 识 码 ： Ａ
文章 编号 ： ６ ２—９ ４ （ ０ ７ ０ ０ ４ ０ １７ ２ ２ ２ ０ ）２— ０ ３— ２
Ａｂ ｔ ａ ｔ ｈ ａ ｉ ｃ ｎ ｅ ｔ ａ ｄ ｔ ｅ ｒ ｓ ｏ ｃ ｅ ｅａ ｅ ｉ ｅ ｔａ ｄ ｈ ｇ ｌ ｃ ｅｅ ａ ｅ ｉ ｅ ｔｗ ｒ ｎ ｒｄ ｃ ｄ ｓ ｒ ｃ ：Ｔ ｅ ｂ ｓ ｏ ｃ ｐ ｓ ｎ ｈ ｏ ｅ ｆ ｃ ｌｒ ｔ ｄ ｌ ｅ ｔ ｓ ｎ ｉｈ ｙ ａ ｃ ｌｒ ｔｄ ｌ ｅ ｔ ｓ ｅ ｅ ｉｔｏ ｕ ｅ 、Ｔ ｅ ａ ｃ ｌｒ ｃ ｉ ａ ｆ ｆ ｈ ｃ ｅｅ －
征可 复现 的数 值估 计 的一 种 试 验 方法 Ｊ 。简 言之 ，
要手段¨ 。近年来 ， Ｊ 加速寿命试验 （ Ｔ ） 高加速 ＡＪ 、 Ｔ 寿命试验 （ ＡＴ 等加速环境试验技 术不断地提 出 Ｈ Ｉ）
和发 展 ， 为考 核产 品 、 露产 品 的设 计 和制 造 中的 问 暴 题， 进而 提高 其可靠 性 ， 提供 了强 有力 的工 具 。
吴Байду номын сангаас林 ， 唐其环 ， 万军
（ 中国兵器工业第五九研究所 国防科技工业自然环境试验研究中心 ， 重庆 ４ ０３ ） ０ ０９
摘要： 介绍 了加速寿命试验 、 高加速寿命试验 的基本概念 、 原理 ， 从试验 目的、试验方法、试验时间等
方面对加 速 寿命试 验和 高加 速 寿命试 验进 行 了比较 ， 明 它们有 不 同的应 用 时机 和 范围。加 速 寿命 试验 、 说 高
HALT(高加速寿命测试)
定义：HALT 是“高加速寿命测试”（Highly Accelerated Life Testing）的英文缩写，其是一种利用阶梯应力加诸于试品，并在早期发现产品缺陷、操作设计边际及结构强度极限的方法。
试品通过HALT 所暴露的缺陷，涉及线路设计、工艺、元部件和结构等方面。
测试意义：是在产品设计和试产阶段，通过试验，快速发现产品的潜在缺陷，并加以改进和验证，从而增加产品的极限值，提高其坚固性及可靠性。
施加于试品的应力，包括振动、高低温、温度循环、电力开关循环、电压边际及频率边际测试等。
现已成为电子业界的标准产品验证方法。
它将原需花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周，且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致，故HALT 的试验方式已成为新产品上市前所必需通过的验证。
试验目的：1、通过系统地施加工作应力和逐步增大的环境应力，来激发故障，暴露产品设计中的薄弱环节，为开发人员改进产品设计方案提供依据，以对产品设计缺陷进行及时的修正。
2、提高产品在使用过程中的壮实度，保证产品圆满的无故障的完成任务；3、估计产品的工作极限和破坏极限，评估产品在实际使用条件下的可靠性，并为HASS的应力类型和应力量级的选择提供依据。
测试样品要求：样品需具有代表性，测试中样品的功能监控设备需要客户自备测试产品：电源、通讯发射/接受、空调控制器板、车载系统（DVD、音响、多媒体接收系统），继电器（电子元件）、电脑主板、电机（散风扇）等名词解释：工作（操作）极限：样品的失效点在环境应力消失后，样品的功能不可恢复（不能满足技术要求），但应力降低后，产品仍能恢复正常工作的那个应力强度值（软故障）。
工作（操作）极限包括：工作（操作）极限上限值（Upper Operating Limit--- UOL）工作（操作）极限下限值（Lower Operating Limit---LOL）对于振动实验只有上限。
破坏极限：样品的失效点在环境应力消失后,样品可恢复功能（满足技术要求），且应力降低后，产品也不能恢复正常工作的那个应力强度值（硬故障）。
GMW8287-2011高加速寿命测试(HALT )解析
1 试验目的本试验主要应用于产品研发设计阶段，用于快速发现产品设计的薄弱环节，或快速确认产品的工作条件极限和破坏极限，包括温度条件和振动条件。
注意，本试验不适用于确认产品的使用/设计寿命是否满足要求。
2 试验设备试验设备需达到如下条件：3 试验方法3.1 GMW 8287方法试验分四个步骤进行：温度步进试验、快速温变试验、振动步进试验、综合试验。
当发生失效后，应该允许更换新样件继续进行试验（无样件数量和样件分配要求）。
3.1.1 温度步进试验1) 试验从室温（一般在+20℃~+30℃之间）开始。
在试验前，应该根据所涉及材料的相变温度确定出样件的最大（工作）温度范围。
为了使电子部件达到更高的试验温度，试验时最好拆掉产品的塑料壳体。
本试验不允许发生材料的相变，温度范围的合理性关键在于不故意制造低级失效。
步进量一般选取10℃/次（如有必要也可选取20℃/次），根据图 1 试验剖面进行试验。
图 1 GMW8287温度步进示例剖面2) 温度保持时间以样件温度完全达到稳定为准。
一般要求在样件温度达到试验设定温度值（热电偶采集值）之后再保持 5min~15min，以保证样件温度达到稳定和饱和。
根据样件的热质量来确定选用最短保持时间还是最长保持时间。
在温度保持结束后立即进行全功能检查，或者在整改温度步进试验过程中进行全功能检查。
3) 试验温度的下（上）限以样件工作温度极限或试验设备温度极限为准。
4) 找到产品的工作温度极限时（失效发生），步进量统一选取10℃/次。
这时应该继续将试验进行到破坏极限或设备极限为止，一般情况下，当样件不能完全正常工作时，需将温度应力进行回退（例如：回退到+20℃或+20℃到工作极限之间），用以确认样件是否还能正常工作。
这里确认的工作温度极限对于每一个试验都是非常重要的。
但是，对于较昂贵的原理样机级别的样件可以不继续进行，待样件达到较成熟状态、成本较低时再确认破坏极限。
3.1.2 快速温变试验1) 至少进行 3个循环的快速温变试验（除非在试验中发生失效）。
2024年高度加速寿命试验机市场前景分析
2024年高度加速寿命试验机市场前景分析摘要随着科技的不断进步和发展，高度加速寿命试验机作为一种重要的测试设备，被广泛应用于多个行业。
本文通过市场调研和数据分析，对高度加速寿命试验机市场前景进行了深入分析。
分析结果表明，高度加速寿命试验机市场具有广阔的发展前景，将有望在未来几年内实现快速增长。
1. 研究背景1.1 高度加速寿命试验机的定义和应用高度加速寿命试验机是一种用于模拟产品在实际使用过程中的加速老化和疲劳寿命试验的设备。
它通过对产品进行高强度、高频率的振动、冲击和循环加载等检验，以评估产品的性能和寿命。
高度加速寿命试验机广泛应用于制造业、电子产品、汽车工业、航空航天等领域。
在制造业中，高度加速寿命试验机可用于评估产品的质量和可靠性；在电子产品领域，可用于测试电子器件的稳定性和耐久性；在汽车工业中，可用于检验汽车零部件的韧性和耐久性；在航空航天领域，可用于模拟飞行和舰船振动环境下的产品使用寿命。
1.2 高度加速寿命试验机市场现状目前，高度加速寿命试验机市场呈现出稳步增长的趋势。
随着技术和设备的不断更新，高度加速寿命试验机在产品质量监测和可靠性测试领域的应用越来越广泛。
不同行业对产品性能和寿命的要求不断提高，也推动了高度加速寿命试验机市场的发展。
另外，各种新兴行业的兴起，如新能源汽车、智能家居等，也为高度加速寿命试验机市场带来了新的机遇。
2. 市场前景分析2.1 市场规模和增长趋势根据市场数据统计，在过去几年里，高度加速寿命试验机市场规模持续增长。
预计未来几年内，市场规模将继续保持较高增长率。
这主要得益于以下几个因素：•不同行业对产品质量和可靠性要求的提高；•新兴行业的崛起和快速发展；•科技水平的不断提升，促进了高度加速寿命试验机的技术升级和性能改进。
2.2 市场竞争格局高度加速寿命试验机市场竞争激烈，目前市场上存在多家知名品牌和制造商。
这些企业在技术研发、产品质量和客户服务方面具有一定的竞争优势。
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一般来说，有缺陷部件和元器件（如焊点有气泡，元器件引线有划痕等）之所以容易失效是由于有缺陷部件的应力比无缺陷的要高，筛选的目的就是要剔除有缺陷的部件或元器件。
Gregg K. Hobbs根据1973年Steinberg“电子设备振动分析”一文从试片拉伸疲劳试验给出的应力与失效循环次数关系图（见图1）证明了公式（1）的存在，并证明失效循环次数与应力呈指数函数关系，应力相差一倍，失效循环次数相差1000倍，（相当于寿命相差1000倍）。这种由机械应力引起的疲劳损伤是累积的，不可逆的，通常不能消除。一般情况下有缺陷部件引起的应力集中系数可达到2或3，其应力是无缺陷部件的2或3倍，因而可使疲劳寿命相应降低好几个数量级。
这种新的可靠性试验方法就是高加速寿命试验（HALT）和高加速应力筛选（HASS），它们都是由美国Hobbs工程公司的Gregg K Hobbs博士研究并于1988年在讲授“筛选技术”课程时提出来的，从九十年代开始HALT和HASS获得推广应用。与传统的可靠性试验不同，HALT试验的目的是激发故障，即把产品潜在的缺陷激发成可观察的故障。因此，它不是采用一般模拟实际使用环境进行的试验，而是人为施加步进应力，在远大于技术条件规定的极限应力下快速进行试验，找出产品的工作极限甚至最终达到的损坏极限（工作极限和损坏极限的几个具体定义见附录A）。然后，根据HALT确定的极限来制订HASS方案，通过HASS剔除生产制造缺陷，使产品快速达到高可靠性。
b．大大减少鉴定试验时的故障，经过HALT的产品，鉴定试验已不重要，仅是一种形式而已；
c．降低寿命周期费用；
d．能确切了解工作极限和损坏极限，为制定HASS方案，确定应力量级提供依据。
HASS的主要优点归纳如下：
a．能用最低费用和最短时间激发出产品的潜在缺陷；
b．能用最低费用和最短时间检测出尽可能多的缺陷；
表1根据元器件数量规定的温度循环次数
产品元器件数量
<100
Hale Waihona Puke 100～500500～1000
1000～2000
2000～4000
循环次数
2
4
6
8
12
高效价廉的新试验设备的推出和确认使可靠性试验新方法的使用和推广成为可能。新试验设备是由用液氮制冷的高变温率温箱和气动式三轴六自由度（6DOF）振动台组成的。目前OVS2.5HP HALT/HASS试验系统的主要性能参数已达到：随机振动的频率带宽从2Hz～10KHz；温度范围从-100℃～+200℃；变温率≥60℃/min。
高加速寿命试验（HALT）与高加速应力筛选（HASS）
一、研究开发HALT和HASS的背景情况
以往，环境试验被作为一种产品预期要经受外场实际环境的模拟试验。研制产品时通常把技术条件规定的应力极限值作为鉴定或考核产品的条件。但是，即使已顺利通过了设计阶段的鉴定试验和生产阶段的验收试验，残留的潜在缺陷仍然很多，大量产品使用时可靠性差，平均故障间隔时间（MTBF）短，外场返修频繁，导致担保费用、维修费用居高不下，用户或客户不满意，严重影响研制部门和制造厂商的信誉。
2、温度变化率与激发缺陷所需温度循环次数之间的关系
温度循环属热疲劳性质，S.A. Smithson在1990年环境科学学会年会发表的论文中给出了如表2所示的不同变温率下的筛选效果，图2和图3给出了相应关系的曲线图。
附录B给出的是美国Tandem计算机公司在一种容错计算机的CPU上进行的HALT和HASS研究，从中可以看出产品正常工作环境极限，HALT极限和给出的HASS极限之间的大致数值关系，无可置疑地说明了经过HALT和HASS后，在正常使用条件下产品所具有的高可靠性。
HALT的主要优点归纳如下：
a．消除设计缺陷，大大提高设计可靠性，确保能获得早期高可靠性，使设备具有高的外场可靠性；
传统的可靠性试验（包括环境应力筛选（ESS）、可靠性增长试验和可靠性鉴定试验等）大多也是在模拟环境下进行的试验，以ESS为例，最早电子产品的ESS是根据美国海军1979年NAVMAT-P9492《生产筛选试验大纲》确定的。温度范围一般采用技术条件规定的上下限，温度循环次数由产品的复杂程度决定，如表1所示。随机振动采用梯型谱，20～80Hz为+3db/OCT，80～350Hz,为功率谱密度0.02～0.04g2/Hz的平直谱,350～2000Hz为3db/OCT，振动时间为单向10min，三向时每向5min。90年制定的国军标GJB1032《电子产品环境应力筛选方法》参照《MIL-STD-2164-85》，强调无故障检验要求，规定环境应力筛选应包含两部分试验。第一部分为缺陷剔除试验（尽可能激发故障、并修复），要求完成40h温度循环和5min随机振动。第二部分为无故障检验试验，以验证筛选的有效性，其应力量级与第一部分试验相同，要求完成80h温度循环中连续40h循环无故障和15min中连续5min无故障振动试验。每一次循环时间约4h，变温率为5℃/min，振动要求与早期标准相一致。可靠性增长试验则选用模拟现场实际的综合环境条件进行。GJB1407-92《可靠性增长试验》规定可靠性增长的总试验时间一般为（5～25）MTBF。这些试验费用昂贵，试验时间长，而价格和研制周期已成为当今市场激烈竞争的焦点。因此研究开发一种快速、经济、有效的新的可靠性试验方法已势在必行。
c．提高产品外场可靠性；
d．降低产品生产、筛选、维修和担保总费用。
二、高加速的基本原理
1、疲劳损伤与机械应力之间的关系
众所周知提高应力能加速产品失效，疲劳损伤与机械应力具有如下关系：
D≈nσβ（1）
式中：D是累积的疲劳损伤；
n是应力循环次数；
σ是机械应力，即单位面积的作用力（由热膨胀，静载荷，振动或任何其它导致机械应力的作用所引起）；