JTAG接口的定义及常见问题
jtag工作原理详解
jtag工作原理详解JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路（IC）的标准接口。
它提供了一种方便的方法来访问和控制IC内部的信号和寄存器，以便进行测试、调试和编程操作。
本文将详细解释JTAG工作原理，包括其基本原理、信号传输流程和应用案例。
一、JTAG的基本原理JTAG是一种串行接口，由四个主要信号线组成，即TCK（时钟线）、TMS（状态线）、TDI（数据输入线）和TDO（数据输出线）。
这四个信号线与目标IC的测试逻辑电路相连，通过JTAG接口与测试设备（如测试仪器或调试器）进行通信。
1. TCK（时钟线）：控制数据传输的时钟信号，用于同步数据传输。
2. TMS（状态线）：用于控制JTAG状态机的状态转换，控制JTAG接口的操作模式。
3. TDI（数据输入线）：用于将数据输入到目标IC的测试逻辑电路。
4. TDO（数据输出线）：用于从目标IC的测试逻辑电路输出数据。
JTAG接口的工作原理基于状态机的概念。
JTAG状态机有多个状态，包括测试逻辑重置状态（Test-Logic-Reset）、IDCODE读取状态（IDCODE）、数据移位状态（Data-Shift）、指令移位状态（Instruction-Shift）等。
通过TMS信号的控制，可以在不同的状态之间切换，实现不同的操作。
二、JTAG信号传输流程JTAG信号传输流程包括初始化、指令传输、数据传输和结束四个步骤。
下面将详细介绍每个步骤的具体操作。
1. 初始化在初始化阶段，测试设备通过TCK信号向目标IC发送一系列的时钟脉冲，将其置于测试逻辑重置状态（Test-Logic-Reset）。
这个过程称为测试逻辑重置。
2. 指令传输在指令传输阶段，测试设备通过TMS和TDI信号向目标IC发送指令，控制其进入指令移位状态（Instruction-Shift）。
指令可以是读取IDCODE、设置寄存器或执行其他特定操作的命令。
JTAG接口
JTAG接口JTAG接口1、JTAG(Joint Test Action Group；联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。
现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。
标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。
JTAG最初是用来对芯片进行测试的，JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP （Test Access Port；测试访问口）通过专用的JTAG测试工具对进行内部节点进行测试。
JTAG 测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。
现在，JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmer，在系统编程），对FLASH 等器件进行编程。
JTAG编程方式是在线编程，传统生产流程中先对芯片进行预编程现再装到板上因此而改变，简化的流程为先固定器件到电路板上，再用JTAG编程，从而大大加快工程进度。
JTAG 接口可对PSD芯片内部的所有部件进行编程。
具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引脚定义：TCK——测试时钟输入；TDI——测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口；TDO——测试数据输出，数据通过TDO从JTAG口输出；TMS——测试模式选择，TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式。
可选引脚TRST——测试复位，输入引脚，低电平有效。
含有JTAG口的芯片种类较多，如CPU、DSP、CPLD等。
JTAG内部有一个状态机，称为TAP控制器。
TAP控制器的状态机通过TCK和TMS 进行状态的改变，实现数据和指令的输入。
2、JTAG芯片的边界扫描寄存器JTAG标准定义了一个串行的移位寄存器。
寄存器的每一个单元分配给IC芯片的相应引脚，每一个独立的单元称为BSC（Boundary-Scan Cell）边界扫描单元。
AVR单片机JTAG接口的使用方法
AVR单片机JTAG接口的使用方法AVR单片机JTAG（Joint Test Action Group）接口是一种用于单片机的调试和编程工具。
它提供了一种高效的方式来进行硬件调试、固件编程和软件调试。
在本文中，我将详细介绍AVR单片机JTAG接口的使用方法。
1.JTAG接口简介JTAG接口由四条线组成，分别是TCK（时钟线）、TMS（状态线）、TDI（数据输入线）和TDO（数据输出线）。
它是一种串行接口，用于与其他外设进行通信。
JTAG接口能够通过硬件调试、固件编程和软件调试来提高系统调试的效率。
2.JTAG接口的初始化在使用JTAG接口之前，需要对其进行初始化。
首先，需要确定使用的JTAG接口类型，然后根据类型选择与之匹配的调试工具和软件。
接下来，需要连接JTAG接口的四个引脚到单片机的相应引脚上。
通常，这些引脚在单片机的数据手册中有详细的说明。
3.JTAG接口的连接连接JTAG接口的四个引脚到单片机的相应引脚上，确保连接正确无误。
通常，TCK（时钟线）和TMS（状态线）引脚是共享的，它们分别连接到单片机的相应引脚上。
TDI（数据输入线）和TDO（数据输出线）引脚则是分别连接到单片机的相应引脚上。
请务必根据单片机的数据手册正确连接JTAG接口引脚。
4.JTAG接口的编程在使用JTAG接口进行编程之前，需要确保已经安装了合适的调试工具和软件。
这些工具和软件可以帮助我们完成对单片机的编程操作。
通常，这些工具和软件提供了一些简单的命令和接口，用于与单片机进行通信。
通过这些命令和接口，我们可以读取和写入单片机的内部寄存器，从而实现对单片机的编程操作。
5.JTAG接口的调试使用JTAG接口进行调试可以帮助我们找到系统中的错误和问题。
通过读取和写入单片机的内部寄存器，我们可以查看程序的执行状态、输入和输出数据、栈的使用情况等信息。
通过这些信息，我们可以判断程序中的错误和问题，并进行调试操作。
6.JTAG接口的注意事项在使用JTAG接口之前-确保JTAG接口的引脚连接正确无误，避免引脚连接错误导致的通信问题。
jtag功能以及故障分析说明
JTAG功能说明以及故障分析提示：在进行JTAG测试之前，确保每块板卡在上电前已经完成短路测试，并且上电后测量每点电压正常。
1 Infrastucture JTAG链测试Infrastructure测试主要是由三部分组成的,Capture, Identification,以及Trst功能测试,该测试主要是测试芯片的JTAG的TAP控制器基本功能是否正常,如果该项测试通过,可以认为芯片的供电基本正常,JTAG控制器相关的五个管脚焊接正常，芯片JTAG控制器工作正常。
可以支持下一步的JTAG测试.(注释: 上电最好等待1秒以后再进行JTAG测试,等待芯片上电自身初始化结束以后，否则Infrastucture 测试可能会出现问题)。
如果该项目的测试出现问题，可以首先关注供电是否正常，确保每个工作点的电压都正常。
其次是JTAG的接插件焊接是否正常，焊接的是否平整，然后考虑提供给芯片的几个基本信号是否有，TMS，TCK，TDO，TDI，TRST这些信号是否都有（示波器测量），以前出现过很多上拉电阻短路的情况，这个需要注意。
测量的时候注意测量244驱动器的前后是否都有，驱动器异常的可能性还是很高的。
注意，FPGA和EPLD这些可编程逻辑器件不需要TRST信号。
在分析问题的时候，可以从Infrastructure的第一项开始考虑，capture测试不需要TDI信号输入给芯片，只需要TMS信号和TCK信号就可以有TDO输出，便于分析和解决问题。
最后去考虑芯片的焊接是否正常。
对于某些芯片infra不过，还需要考虑是否reset信号常低输入给芯片，导致其工作不正常。
2 Interconnection连接测试这个测试主要是测试在支持JTAG功能的芯片之间的连接是否正常以及芯片外置的上拉和下拉电阻配置是否正常。
各芯片设置在JTAG功能的EXTEST模式。
在Infrastructure测试通过的基础上才能进行该项测试。
（注意，在测试之前，确保各卡之间的接插件连接到位，而且供电正常）如果该项目的测试出现问题，很可能是芯片的焊接问题，也可能是串联在电路里面的串联电阻断路，虚焊，现在维修下来的情况，电阻没有焊好的概率比较大。
JTAG各类接口针脚定义及含义
JTAG各类接口针脚定义及含义JTAG有10pin的、14pin的和20pin的，尽管引脚数和引脚的排列顺序不同，但是其中有一些引脚是一样的，各个引脚的定义如下。
一、引脚定义Test Clock Input (TCK) -----强制要求1TCK在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TCK为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号，TAP的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。
Test Mode Selection Input (TMS) -----强制要求2TMS信号在TCK的上升沿有效。
TMS在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TMS信号用来控制TAP状态机的转换。
通过TMS信号，可以控制TAP在不同的状态间相互转换。
Test Data Input (TDI) -----强制要求3TDI在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TDI是数据输入的接口。
所有要输入到特定寄存器的数据都是通过TDI接口一位一位串行输入的（由TCK驱动）。
Test Data Output (TDO) -----强制要求4TDO在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TDO是数据输出的接口。
所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过TDO接口一位一位串行输出的（由TCK驱动）。
Test Reset Input (TRST) ----可选项1这个信号接口在IEEE 1149.1标准里是可选的，并不是强制要求的。
TRST可以用来对TAPController进行复位（初始化）。
因为通过TMS也可以对TAP Controll进行复位（初始化）。
所以有四线JTAG与五线JTAG之分。
(VTREF) -----强制要求5接口信号电平参考电压一般直接连接Vsupply。
这个可以用来确定ARM的JTAG接口使用的逻辑电平（比如3.3V还是5.0V?）Return Test Clock ( RTCK) ----可选项2可选项，由目标端反馈给仿真器的时钟信号,用来同步TCK信号的产生,不使用时直接接地。
JTAG各类接口针脚定义及含义
JTAG 各类接口针脚定义及含义JTAG 有10pin 的、14pin 的和20pin 的，尽管引脚数和引脚的排列顺序不同，但是其中有一些引脚是一样的，各个引脚的定义如下。
一、引脚定义Test Clock Input (TCK) -----强制要求1TCK 在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TCK 为TAP 的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号，TAP 的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。
Test Mode Selection Input (TMS) -----强制要求2TMS 信号在TCK 的上升沿有效。
TMS 在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TMS 信号用来控制TAP 状态机的转换。
通过TMS 信号，可以控制TAP 在不同的状态间相互转换。
Test Data Input (TDI) -----强制要求3TDI 在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TDI 是数据输入的接口。
所有要输入到特定寄存器的数据都是通过TDI 接口一位一位串行输入的（由TCK 驱动）。
Test Data Output (TDO) -----强制要求4TDO 在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TDO 是数据输出的接口。
所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过TDO 接口一位一位串行输出的（由TCK 驱动）。
Test Reset Input (TRST) ----可选项1这个信号接口在IEEE 1149.1标准里是可选的，并不是强制要求的。
TRST 可以用来对TAPController 进行复位（初始化）。
因为通过TMS 也可以对TAP Controll 进行复位（初始化）。
所以有四线JTAG 与五线JTAG 之分。
(VTREF) -----强制要求5接口信号电平参考电压一般直接连接Vsupply 。
这个可以用来确定ARM 的JTAG 接口使用的逻辑电平（比如3.3V 还是5.0V?）Return Test Clock ( RTCK) ----可选项2可选项可选项，，由目标端反馈给仿真器的时钟信号,用来同步TCK 信号的产生,不使用时直接接地。
jtag的pin电压
jtag的pin电压摘要：1.JTAG简介2.JTAG的PIN电压定义3.JTAG PIN电压的作用4.JTAG PIN电压的常见问题及解决方案5.总结正文：JTAG（Joint Test Action Group）是一种国际标准测试接口，主要用于芯片内部测试、调试和编程。
它提供了一种非侵入性的方法，使测试仪能够与芯片进行通信，并控制内部信号以进行各种测试操作。
JTAG接口通常包括四个或五个引脚，即TDI（Test Data In，测试数据输入）、TDO（Test Data Out，测试数据输出）、TMS（Test Mode Select，测试模式选择）、TCK（Test Clock，测试时钟）和可选的TRST（Test Reset，测试重置）。
JTAG的PIN电压定义如下：- TDI, TDO: 低电平有效，高电平无效。
通常为3.3V或1.8V。
- TMS: 低电平有效，高电平无效。
通常为3.3V或1.8V。
- TCK: 是一个时钟信号，频率通常为1-100MHz。
- TRST（可选）：高电平有效，低电平无效。
通常为3.3V或1.8V。
JTAG PIN电压的作用如下：- TDI, TDO: 用于输入和输出测试数据。
- TMS: 用于选择和控制测试模式。
- TCK: 用于产生测试时钟，驱动JTAG操作。
- TRST（可选）：用于重置测试状态，以便在测试过程中进行复位操作。
在实际应用中，JTAG PIN电压可能遇到一些常见问题，例如：1.不同电压等级的PIN连接在一起，可能导致信号干扰或损坏。
2.PIN电压与实际电路中的其他电压等级不匹配，可能影响JTAG功能的正常工作。
3.JTAG接口的ESD保护不足，可能导致静电放电损坏。
针对以上问题，可以采取以下解决方案：1.确保使用相同电压等级的PIN连接，避免不同电压等级的PIN直接相连。
2.在设计电路时，确保JTAG PIN电压与其他电路电压等级匹配。
jtag参考电压 -回复
jtag参考电压-回复JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路的技术标准。
在JTAG接口中，参考电压是其中一个重要的参数。
本文将一步一步回答关于JTAG参考电压的问题。
第一步：什么是JTAG？JTAG是一种用于测试和调试集成电路的标准化接口。
它由IEEE（Institute of Electrical and Electronics Engineers）制定的标准1149.1定义，并于1990年首次发布。
JTAG接口为设计者和制造商提供了一种在芯片内部进行访问和控制的方式，以帮助诊断问题和验证电路功能。
第二步：为什么需要参考电压？JTAG接口中的参考电压是用来确保信号正确传输和有效测试的关键参数。
JTAG接口通过边界扫描链（Boundary-Scan Chain）提供了与外部测试设备的通信。
在该链中，每个芯片管脚被替换为输入或输出逻辑细胞，并与相邻管脚连接。
参考电压在这些逻辑细胞的工作过程中起到关键作用，确保信号稳定和可靠。
第三步：JTAG参考电压的作用是什么？JTAG参考电压的作用是为JTAG操作提供一个确定的基准，以确保正常的信号传输和可靠的测试。
在JTAG操作期间，参考电压用于提供正确的电平，使得逻辑细胞在每个时钟周期上都能以正确的方式切换。
第四步：如何确定JTAG参考电压的值？确定JTAG参考电压的值需要根据具体的芯片和测试环境来决定。
一般来说，JTAG参考电压应该与芯片工作电压相匹配。
这是因为在测试和调试过程中，JTAG接口需要与芯片的电源系统保持同步，以确保正确的信号传输。
第五步：如何提供JTAG参考电压？提供JTAG参考电压有多种方式。
最常见的方式是通过使用外部电源或模拟器来提供参考电压。
外部电源可以供应适当的电压级别，并通过连接到JTAG接口上的相应引脚来提供参考电压。
另一种方法是使用模拟器，它可以模拟芯片的电源系统，并提供所需的参考电压。
jtag工作原理详解
jtag工作原理详解JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试电子设备的标准接口协议。
它提供了一种简单而有效的方法，可以对集成电路（IC）进行测试、调试和编程。
本文将详细介绍JTAG工作原理，包括其基本原理、信号线定义、时序和应用示例。
一、基本原理JTAG工作原理基于一种称为“串行扫描链”的技术。
该技术通过在芯片上添加一组可编程逻辑电路，将芯片内部的各个功能模块连接起来，形成一个长链。
这个链可以通过JTAG接口与外部设备进行通信。
二、信号线定义JTAG接口由四根主要的信号线组成，分别是TCK、TMS、TDI和TDO。
1. TCK（Test Clock）：测试时钟信号，用于同步数据传输。
2. TMS（Test Mode Select）：测试模式选择信号，用于控制JTAG状态机。
3. TDI（Test Data Input）：测试数据输入信号，用于向芯片发送测试数据。
4. TDO（Test Data Output）：测试数据输出信号，用于从芯片读取测试数据。
三、时序JTAG的时序是由JTAG状态机控制的。
JTAG状态机有四种状态，分别是Test-Logic-Reset（TLR）、Run-Test/Idle（RTI）、Select-DR-Scan（SDR）和Select-IR-Scan（SIR）。
1. TLR状态：在此状态下，芯片的所有逻辑电路都将被复位，并将扫描链的状态重置为初始状态。
2. RTI状态：在此状态下，芯片处于正常工作状态，可以执行正常的操作。
3. SDR状态：在此状态下，可以对芯片的数据寄存器进行扫描操作。
4. SIR状态：在此状态下，可以对芯片的指令寄存器进行扫描操作。
四、应用示例JTAG广泛应用于各种电子设备的测试和调试中。
以下是一个应用示例，以展示JTAG在芯片测试中的应用。
假设我们有一个芯片，其中包含一个8位的数据寄存器和一个8位的控制寄存器。
ARM系统设计JTAG接口详细图解
ARM系统设计JTAG接口详细图解ARM系统的JTAG接口的设计不当往往使硬件系统无法调试，所以在设计ARM系统前要先熟悉ARM系统的JTAG接口的定义和常见问题。
1．ARM系统的JTAG接口是如何定义的？每个PIN又是如何连接的？下图是JTAG接口的信号排列示意：接口是一个20脚的IDC插座。
下表给出了具体的信号说明：表1 JTAG引脚说明序号信号名方向说明1 Vref Input 接口电平参考电压，通常可直接接电源2 Vsupply Input 电源3 nTRST Output (可选项) JTAG复位。
在目标端应加适当的上拉电阻以防止误触发。
4 GND -- 接地5 TDI Output Test Data In from Dragon-ICE to target.6 GND -- 接地7 TMS Output Test Mode Select8 GND -- 接地9 TCK Output Test Clock output from Dragon-ICE to the target10 GND -- 接地11 RTCK Input (可选项) Return Test Clock。
由目标端反馈给Dragon-ICE的时钟信号，用来同步TCK信号的产生。
不使用时可以直接接地。
12 GND -- 接地13 TDO Input Test Data Out from target to Dragon-ICE.14 GND -- 接地15 nSRST Input/Output (可选项) System Reset，与目标板上的系统复位信号相连。
可以直接对目标系统复位，同时可以检测目标系统的复位情况。
为了防止误触发，应在目标端加上适当的上拉电阻。
16 GND -- 接地17 NC保留18 GND -- 接地19 NC -- 保留20 GND -- 接地2．目标系统如何设计？目标板使用与Dragon-ICE一样的20脚针座，信号排列见表1。
JTAG各类接口针脚定义及含义
JTAG各类接口针脚定义及含义JTAG有10pin的、14pin的和20pin的，尽管引脚数和引脚的排列顺序不同，但是其中有一些引脚是一样的，各个引脚的定义如下。
一、引脚定义Test Clock Input (TCK) -----强制要求1TCK在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TCK为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号，TAP的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。
Test Mode Selection Input (TMS) -----强制要求2TMS信号在TCK的上升沿有效。
TMS在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TMS信号用来控制TAP状态机的转换。
通过TMS信号，可以控制TAP在不同的状态间相互转换。
Test Data Input (TDI) -----强制要求3TDI在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TDI是数据输入的接口。
所有要输入到特定寄存器的数据都是通过TDI接口一位一位串行输入的（由TCK驱动）。
Test Data Output (TDO) -----强制要求4TDO在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TDO是数据输出的接口。
所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过TDO接口一位一位串行输出的（由TCK驱动）。
Test Reset Input (TRST) ----可选项1这个信号接口在IEEE 1149.1标准里是可选的，并不是强制要求的。
TRST可以用来对TAPController进行复位（初始化）。
因为通过TMS 也可以对TAP Controll进行复位（初始化）。
所以有四线JTAG与五线JTAG之分。
(VTREF) -----强制要求5接口信号电平参考电压一般直接连接Vsupply。
这个可以用来确定ARM的JTAG接口使用的逻辑电平（比如3.3V还是5.0V?）Return Test Clock ( RTCK) ----可选项2可选项，由目标端反馈给仿真器的时钟信号,用来同步TCK信号的产生,不使用时直接接地。
jtag工作原理详解
jtag工作原理详解标题：JTAG工作原理详解引言概述：JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路的标准接口，它可以提供对芯片内部结构的访问。
在现代集成电路设计中，JTAG已经成为一种必不可少的工具。
本文将详细解释JTAG的工作原理，帮助读者更好地理解这一技术。
一、JTAG接口概述1.1 JTAG接口定义JTAG接口是一种标准的硬件接口，用于连接测试设备和被测试设备。
它由四个信号线组成，分别是TCK（Test Clock）、TMS（Test Mode Select）、TDI（Test Data Input）和TDO（Test Data Output）。
1.2 JTAG接口的作用JTAG接口可以实现对芯片内部结构的访问和控制，包括测试、调试、编程等功能。
通过JTAG接口，可以实现对芯片的全面测试和故障排查。
1.3 JTAG接口的应用领域JTAG接口广泛应用于集成电路的测试和调试领域，包括芯片设计、生产测试、故障排查等方面。
二、JTAG的工作原理2.1 TAP控制器JTAG的核心是TAP（Test Access Port）控制器，它负责控制JTAG接口的操作。
TAP控制器包括状态机和寄存器，通过TMS信号控制状态机的状态转换。
2.2 TAP状态机TAP状态机包括Test-Logic-Reset、Run-Test/Idle、Select-DR-Scan、Capture-DR、Shift-DR、Exit1-DR、Pause-DR、Exit2-DR、Update-DR等状态，通过这些状态实现对芯片内部结构的访问。
2.3 寄存器链JTAG接口通过寄存器链实现对芯片内部寄存器的访问。
寄存器链包括数据寄存器（DR）和指令寄存器（IR），通过JTAG接口可以实现对这些寄存器的读写操作。
三、JTAG的应用3.1 芯片测试JTAG接口可以实现对芯片的功能测试和边界扫描测试，帮助检测芯片中的故障和缺陷。
jtag接口标准
jtag接口标准一、JTAG简介JTAG（Joint Test Action Group）是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部和板级测试。
它定义了一种用于访问芯片内部节点进行边界扫描和在系统编程的标准。
JTAG最初是用来对芯片进行测试的，但现在已经扩展到了包括编程和调试等应用。
二、JTAG接口标准JTAG接口标准通常由以下四个信号线组成：1.TCK（Test Clock）：测试时钟信号，用于驱动测试逻辑。
2.TMS（Test Mode Select）：测试模式选择信号，用于选择测试模式。
3.TDI（Test Data Input）：测试数据输入信号，用于输入测试数据。
4.TDO（Test Data Output）：测试数据输出信号，用于输出测试数据。
此外，还有可选的 TRST（Test Reset）信号，用于测试复位。
三、JTAG接口的信号线1.TCK：这是必需的信号，用于驱动测试逻辑。
2.TMS：这是必需的信号，用于选择测试模式。
3.TDI：这是必需的信号，用于输入测试数据。
4.TDO：这是必需的信号，用于输出测试数据。
5.TRST：这是可选的信号，用于测试复位。
四、JTAG接口的设备类型JTAG接口设备分为两种类型：内建JTAG（Build-In JTAG）和外挂JTAG（Plug-In JTAG）。
内建JTAG将JTAG接口集成在芯片内部，主要用于芯片内部测试和编程。
外挂JTAG将JTAG接口集成在外部设备中，主要用于板级测试和调试。
五、JTAG接口的测试方式JTAG接口支持以下几种测试方式：1.边界扫描测试：通过扫描芯片管脚的状态来检测和定位故障。
2.在系统编程：通过JTAG接口对芯片进行编程和配置。
3.调试：通过JTAG接口进行硬件调试和软件调试。
4.仿真：通过JTAG接口进行仿真和模拟。
5.烧录：通过JTAG接口将程序烧录到芯片中。
JTAG接口的定义及常见问题
JTAG接口的定义及常见问题ARM系统的JTAG接口的设计不当往往使硬件系统无法调试，所以在设计ARM 系统前要先熟悉ARM系统的JTAG接口的定义和常见问题。
1．ARM系统的JTAG接口是如何定义的？每个PIN又是如何连接的？下图是JTAG接口的信号排列示意：接口是一个20脚的IDC插座。
下表给出了具体的信号说明：表 1 JTAG引脚说明序号信号名方向说明1 Vref Input 接口电平参考电压，通常可直接接电源2 Vsupply Input 电源3 nTRST Output (可选项) JTAG复位。
在目标端应加适当的上拉电阻以防止误触发。
4 GND -- 接地5 TDI Output Test Data In from Dragon-ICE to target.6 GND -- 接地7 TMS Output Test Mode Select8 GND -- 接地9 TCK Output Test Clock output from Dragon-ICE to the target10 GND -- 接地11 RTCK Input (可选项) Return Test Clock。
由目标端反馈给Dragon-ICE的时钟信号，用来同步TCK信号的产生。
不使用时可以直接接地。
12 GND -- 接地13 TDO Input Test Data Out from target to Dragon-ICE.14 GND -- 接地15 nSRST Input/Output (可选项) System Reset，与目标板上的系统复位信号相连。
可以直接对目标系统复位，同时可以检测目标系统的复位情况。
为了防止误触发，应在目标端加上适当的上拉电阻。
16 GND -- 接地17 NC -- 保留18 GND -- 接地19 NC -- 保留20 GND -- 接地2．目标系统如何设计？目标板使用与Dragon-ICE一样的20脚针座，信号排列见表1。
JTAG接口定义相关知识汇总
JTAG接口定义相关知识汇总一、什么是jtag接口JTAG(Joint Test Action Group，联合测试行动小组) 是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试，JTAG 技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路TAP （Test Access Port，测试访问口），通过专用的JTAG 测试工具对内部节点进行测试。
目前大多数比较复杂的器件都支持JTAG 协议，如ARM 、DSP 、FPGA 器件等。
标准的JTAG 接口是 4 线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。
JTAG 测试允许多个器件通过JTAG 接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。
JTAG 接口还常用于实现ISP（In-System Programmable 在系统编程）功能，如对FLASH器件进行编程等。
通过JTAG 接口，可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。
目前JTAG 接口的连接有两种标准，即14 针接口和20 针接口，其定义分别如下所示。
在保证电源电路、晶振电路和复位电路正常工作的前提下，可通过JTAG 接口调试S3C4510B，在系统上电前，首先应检测JTAG 接口的TMS 、TCK 、TDI 、TDO 信号是否已与S3C4510B 的对应引脚相连，其次应检测S3C4510B 的nEWAIT 引脚（Pin71 ）是否已上拉，ExtMREQ 引脚（Pin108 ）是否已下拉，对这两只引脚的处理应注意，作者遇到多起S3C4510B 不能正常工作或无法与JTAG 接口通信，均与没有正确处理这两只引脚有关。
给系统上电后，可通过示波器查看S3C4510B 对应引脚的输出波形，判断是否已正常工作，若S3C4510B 已正常工作，在使能片内PLL 电路的情况下，SDCLK/MCLKO 引脚（Pin77 ）应输出频率为50MHz的波形，同时，MDC 引脚（Pin50 ）和其他一些引脚也应有波形输出。
JTAG各类接口针脚定义及含义
JTAG有10pin的、14pin的和20pin的，尽管引脚数和引脚的排列顺序不同，但是其中有一些引脚是一样的，各个引脚的定义如下。
一、引脚定义Test Clock Input (TCK) -----强制要求1TCK在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TCK为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号，TAP的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。
Test Mode Selection Input (TMS) -----强制要求2TMS信号在TCK的上升沿有效。
TMS在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TMS信号用来控制TAP状态机的转换。
通过TMS信号，可以控制TAP在不同的状态间相互转换。
Test Data Input (TDI) -----强制要求3TDI在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TDI是数据输入的接口。
所有要输入到特定寄存器的数据都是通过TDI接口一位一位串行输入的（由TCK驱动）。
Test Data Output (TDO) -----强制要求4TDO在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TDO是数据输出的接口。
所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过TDO接口一位一位串行输出的（由TCK驱动）。
Test Reset Input (TRST) ----可选项1这个信号接口在IEEE 1149.1标准里是可选的，并不是强制要求的。
TRST可以用来对TAPController进行复位（初始化）。
因为通过TMS也可以对TAP Controll进行复位（初始化）。
所以有四线JTAG与五线JTAG之分。
(VTREF) -----强制要求5接口信号电平参考电压一般直接连接Vsupply。
这个可以用来确定ARM的JTAG接口使用的逻辑电平（比如3.3V还是5.0V?）Return Test Clock ( RTCK) ----可选项2可选项，由目标端反馈给仿真器的时钟信号,用来同步TCK信号的产生,不使用时直接接地。
jtag各类接口针脚定义含义以及swd接线方式
JTAG各类接口针脚定义、含义以及SWD接线方式JTAG有10pin的、14pin的和20pin的，尽管引脚数和引脚的排列顺序不同，但是其中有一些引脚是一样的，各个引脚的定义如下。
一、引脚定义Test Clock Input (TCK) -----强制要求1TCK在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TCK为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号，TAP的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。
Test Mode Selection Input (TMS) -----强制要求2TMS信号在TCK的上升沿有效。
TMS在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TMS信号用来控制TAP状态机的转换。
通过TMS信号，可以控制TAP在不同的状态间相互转换。
Test Data Input (TDI) -----强制要求3TDI在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TDI是数据输入的接口。
所有要输入到特定寄存器的数据都是通过TDI接口一位一位串行输入的（由TCK驱动）。
Test Data Output (TDO) -----强制要求4TDO在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TDO是数据输出的接口。
所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过TDO接口一位一位串行输出的（由TCK驱动）。
Test Reset Input (TRST) ----可选项1这个信号接口在IEEE 1149.1标准里是可选的，并不是强制要求的。
TRST可以用来对TAPController进行复位（初始化）。
因为通过TMS也可以对TAP Controll进行复位（初始化）。
所以有四线JTAG与五线JTAG之分。
(VTREF) -----强制要求5接口信号电平参考电压一般直接连接Vsupply。
这个可以用来确定ARM的JTAG接口使用的逻辑电平（比如3.3V还是5.0V?）Return Test Clock ( RTCK) ----可选项2可选项，由目标端反馈给仿真器的时钟信号,用来同步TCK 信号的产生,不使用时直接接地。
1_预防JTAG失效的问题
如何预防JTAG失效JTAG是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1 兼容），主要用于芯片内部测试。
现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如ARM、DSP、FPGA 器件等。
标准的JTAG接口是 4 根线：测试模式选择TMS、测试时钟TCK、测试数据输出TDO，测试数据输入TDI。
在实际系统中可能还有测试复位TRST，低电平有效。
我们调试Stellaris 系列ARM 一般都采用JTAG 接口。
传统的接口方式是电脑打印机并口转JTAG，但现在很多电脑已经没有并口了，尤其是便携的笔记本，这对电子工程师来说可能会很不方便。
但是我们选用J-link仿真器，即USB 转JTAG的硬件调试接口，因此调试起来会非常方便。
如下图所示：但是，在调试过程中有可能偶尔出现芯片的JTAG接口连接失效的问题，即遇到用调试器再也无法连接的情况。
导致芯片JTAG接口连接失效的原因有多种，如与JTAG接口复用的GPIO管脚被占用、程序中已启用看门狗定时器（总是在不断复位，干扰调试）等等，但最常见的原因还是与JTAG 接口复用的GPIO管脚被占用，从而导致上电后JTAG调试器来不及与芯片连接。
如下表1.2中列出了与JTAG接口复用的GPIO管脚。
如果出现JTAG接口连接失效的情况，可以通过LMFlashProgrammer编程工具软件来解锁。
该软件可以在Luminary Micro官方网站“”下载到。
解锁操作的具体步骤是：●运行LMFlashProgrammer 软件，把JTAG Speed(Hz)调到100,000 以下；●点击在Flash Utilties选项卡里的Erase按钮进行擦除操作，看能否恢复连接；●如果不行，则切换到Other Utilties 选项卡，在Debug Port Unlock 复选框里选择芯片的家族：LM3S1000以下的为Sandstorm家族，LM3S1000以上的为Fury和DustDevil家族；●先按住复位键不松手，再点击Other Utilties 选项卡里的Unlock 按钮进行解锁操作；●操作完成后重新复位芯片即完成解锁操作，同时片内Flash内容也被擦除。
名词解释jtag -回复
名词解释jtag -回复
JTAG（Joint Test Action Group，联合测试行动小组）是一种业界标准的硬件调试和测试接口。
它最初是为了在集成电路板上进行边界扫描测试而开发的，但现在广泛用于嵌入式系统的调试、编程和硬件诊断。
JTAG接口通常包括一个或多個引脚，如TMS（测试模式选择）、TCK（测试时钟）、TDI（测试数据输入）、TDO（测试数据输出）和TRST（测试复位）等。
通过这些引脚，开发者可以访问处理器内部的寄存器和内存，进行低级别调试和故障排查。
利用JTAG技术，开发者可以实现以下功能：
1. 下载和调试固件代码。
2. 监视和修改处理器内部寄存器的值。
3. 读取和修改内存中的数据。
4. 进行硬件级别的故障检测和诊断。
JTAG已经成为许多嵌入式系统设计的标准组成部分，为开发者提供了强大的调试和测试工具。
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JTAG接口的定义及常见问题ARM系统的JTAG接口的设计不当往往使硬件系统无法调试，所以在设计ARM 系统前要先熟悉ARM系统的JTAG接口的定义和常见问题。
1．ARM系统的JTAG接口是如何定义的？每个PIN又是如何连接的？下图是JTAG接口的信号排列示意：接口是一个20脚的IDC插座。
下表给出了具体的信号说明：表 1 JTAG引脚说明序号信号名方向说明1 Vref Input 接口电平参考电压，通常可直接接电源2 Vsupply Input 电源 (设备提供)3 nTRST Output (可选项) JTAG复位。
在目标端应加适当的上拉电阻以防止误触发。
4 GND -- 接地5 TDI Output Test Data In from Dragon-ICE to target.6 GND -- 接地7 TMS Output Test Mode Select8 GND -- 接地9 TCK Output Test Clock output from Dragon-ICE to the target10 GND -- 接地11 RTCK Input (可选项) Return Test Clock。
由目标端反馈给Dragon-ICE的时钟信号，用来同步TCK信号的产生。
不使用时可以直接接地。
12 GND -- 接地13 TDO Input Test Data Out from target to Dragon-ICE.14 GND -- 接地15 nSRST Input/Output (可选项) System Reset，与目标板上的系统复位信号相连。
可以直接对目标系统复位，同时可以检测目标系统的复位情况。
为了防止误触发，应在目标端加上适当的上拉电阻。
16 GND -- 接地17 NC -- 保留18 GND -- 接地19 NC -- 保留20 GND -- 接地2．目标系统如何设计？目标板使用与Dragon-ICE一样的20脚针座，信号排列见表1。
RTCK和 nTRST 这两个信号根据目标ASIC有否提供对应的引脚来选用。
nSRST则根据目标系统的设计考虑来选择使用。
下面是一个典型的连接关系图：复位电路中可以根据不同的需要包含上电复位、手动复位等等功能。
如果用户希望系统复位信号nSRST能同时触发JTAG口的复位信号nTRST，则可以使用一些简单的组合逻辑电路来达到要求。
后面给出了一种电路方案的效果图。
图3一个复位电路结构的例子在目标系统的PCB设计中，最好把JTAG接口放置得离目标ASIC近一些，如果这两者之间的连线过长，会影响JTAG口的通信速率。
另外电源的连线也需要加以额外考虑，因为Dragon-ICE要从目标板上吸取超过100mA的大电流。
最好能有专门的敷铜层来供电，假如只能使用连线供电的话，最小线宽不应小于10mil (0.254mm)。
3. 14脚JTAG如何与20JTAG连接?Dragon-ICE使用工业标准的20脚JTAG插头，但是有些老的系统采用一种14脚的插座。
这两类接口的信号排列如下：这两类接口之间的信号电气特性都是一样的，因此可以把对应的信号直接连起来进行转接。
Dragon-ICE配备这种转接卡，随机配备。
原文出处：/faq2.htm1 JTAG(Joint Test Action Group;联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。
现在多数的高级器件都支持JTAG 协议，如DSP、FPGA器件等。
标准的JTAG接口是4线：TMS、 TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。
JTAG最初是用来对芯片进行测试的，JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP （Test Access Port;测试访问口）通过专用的JTAG测试工具对进行内部节点进行测试。
JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。
现在，JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmable�在线编程），对FLASH等器件进行编程。
JTAG编程方式是在线编程，传统生产流程中先对芯片进行预编程现再装到板上因此而改变，简化的流程为先固定器件到电路板上，再用JTAG编程，从而大大加快工程进度。
JTAG接口可对PSD芯片内部的所有部件进行编程具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引脚定义：TCK——测试时钟输入；TDI——测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口；TDO——测试数据输出，数据通过TDO从JTAG口输出；TMS——测试模式选择，TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式。
可选引脚TRST——测试复位，输入引脚，低电平有效。
含有JTAG口的芯片种类较多，如CPU、DSP、CPLD等。
JTAG内部有一个状态机，称为TAP控制器。
TAP控制器的状态机通过TCK和TMS 进行状态的改变，实现数据和指令的输入。
图1为TAP控制器的状态机框图。
2 JTAG芯片的边界扫描寄存器JTAG标准定义了一个串行的移位寄存器。
寄存器的每一个单元分配给IC芯片的相应引脚，每一个独立的单元称为BSC（Boundary-Scan Cell）边界扫描单元。
这个串联的BSC在IC内部构成JTAG回路，所有的BSR（Boundary-Scan Register）边界扫描寄存器通过JTAG测试激活，平时这些引脚保持正常的IC功能。
图2为具有JTAG口的IC内部BSR单元与引脚的关系。
3 JTAG在线写Flash的硬件电路设计和与PC的连接方式以含JTAG接口的StrongARM SA1110为例，Flash为Intel 28F128J32 16MB容量。
SA1110的JTAG的TCK、TDI、TMS、TDO分别接PC并口的2、3、4、11线上，通过程序将对JTAG口的控制指令和目标代码从PC的并口写入JTAG的BSR中。
在设计PCB时，必须将SA1110的数据线和地址线及控制线与Flash的地线线、数据线和控制线相连。
因 SA1110的数据线、地址线及控制线的引脚上都有其相应BSC，只要用JTAG指令将数据、地址及控制信号送到其BSC中，就可通过BSC 对应的引脚将信号送给Flash，实现对Flash的操作。
JTAG的系统板设计和连线关系如图3所示。
4 通过使用TAP状态机的指令实行对Flash的操作通过TCK、TMS的设置，可将JTAG设置为接收指令或数据状态。
JTAG常用指令如下：SAMPLE/PRELOAD——用此指令采样BSC内容或将数据写入BSC单元；EXTEST——当执行此指令时，BSC的内容通过引脚送到其连接的相应芯片的引脚，我们就是通过这种指令实现在线写Flash的；BYPASS——此指令将一个一位寄存器轩于BSC的移位回路中，即仅有一个一位寄存器处于TDI和TDO之间。
在PCB电路设计好后，即可用程序先将对JTAG的控制指令，通过TDI送入JTAG 控制器的指令寄存器中。
再通过TDI将要写Flash的地址、数据及控制线信号入BSR中，并将数据锁存到BSC中，用EXTEST指令通过BSC将写入Flash。
5 软件编程在线写Flash的程序用Turbo C编写。
程序使用PC的并行口，将程序通过含有JTAG的芯片写入Flash芯片。
程序先对PC的并口初始化，对JTAG口复位和测试，并读Flash，判断是否加锁。
如加锁，必须先解锁，方可进行操作。
写Flash 之前，必须对其先擦除。
将JTAG芯片设置在EXTEST模式，通过PC的并口，将目标文件通过JTAG写入Flash，并在烧写完成后进行校验。
程序主流程如图4所示。
通过JTAG的读芯片ID子程序如下：void id_command(void){putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle;使JTAG复位putp(1,0,IP); //Run-Test/Idleputp(1,0,IP); //Run-Test/Idleputp(1,0,IP); //Run-Test/Idleputp(1,1,IP);putp(1,1,IP); //选择指令寄存器putp(1,0,IP); //捕获指令寄存器putp(1,0,IP); /移位指令寄存器putp(0,0,IP); //SA1110JTAG口指令长度5位，IDCODE为01100putp(1,0,IP);putp(1,0,IP);putp(0,0,IP);putp(0,0,IP);putp(0,1,IP); //退出指令寄存器putp(1,1,IP); //更新指令寄存器，执行指令寄存器中的指令putp(1,0,IP)； //Run-Test/Idleputp(1,0,IP); //Run-Test/Idleputp(1,0,IP); //Run-Test/Idleputp(1,1,IP);putp(1,0,IP);if(check_id(SA1110ID))error_out("failed to read device ID for the SA-1110");putp(1,1,IP); //退出数据寄存器putp(1,1,IP); //更新数据寄存器putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle,使JTAG复位putp(1,0,IP); //Run-Test/Idleputp(1,0,IP); //Run-Test/Idle}6 电路设计和编程中的注意事项①Flash芯片的WE、CE、OE等控制线必须与SA1110的BSR相连。
只有这样，才能通过BSR控制Flash的相应引脚。
②JTAG口与PC并口的连接线要尽量短，原则上不大于15cm。
③Flash在擦写和编程时所需的工作电流较大，在选用系统的供电芯片时，必须加以考虑。
④为提高对Flash的编程速度，尽量使TCK不低于6MHz，可编写烧写Flash程序时实现。