最新07届半导体物理考试
合集下载
相关主题
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
07届半导体物理考试
A .符合机构
B .散射机构
C .能带结构
D .晶体结构
4. 在光电转换过程中,硅材料一般不如砷化镓量子效率高,因其
________ A .禁带较窄
B .禁带是间接跃迁型
C .禁带较宽
D .禁带是直接跃迁型
5. 公式*q m τμ=中的τ是载流子的___________
A .渡越时间
B .寿命
C .平均自由时间
D .扩散系数
二、解释下列概念(10分)
1. 空穴
2. 浅能级杂质
3.声子
4.迁移率
5.光电导
三、问答题(20分)
1.如下图是有三种原子构成的二维晶体网格
(1)画出布拉菲格子
(2)画出两种形式的原胞,并分别指出每个原胞的原胞个数2.画出砷化镓的晶体结构示意图,并说明其能带特点
四、证明题(20分)
当n p μμ≠且载流子的浓度n n =,p n =时,半导体材料的电导率最小,并求min σ的表达式
五、计算题(20分)
光照如图所示,n 型半导体样品,假设光被均匀吸收,电子空穴对的产生率是G ,(小注入)在以下两种情况下分别求出稳态的非平衡空穴浓度分布
(1) 不考虑表面复合
(2) 在x=0的表面的表面复合速度S
X
O
六、计算题(20分)
由金属-SiO2-P 型硅组成的MOS 结构,当外加电压使半导体表面少数载流子浓度ns 与内部载流子浓度PP0相等时,作为临界强反型条件
(1) 试证明临街强反型时,半导体表面势022ln A S B i k T N V V q n ==,其中i F B E E V q -=
(2) 画出临界强反型是半导体的能带图,标明相关符号,并把反型、耗尽、中
性区各部分用竖线分开,用文字指明