(完整版)材料分析方法试卷A

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材料分析方法题目(完整版)

.说明孪晶与层错地衬度特征，并用各自地衬度形成原理加以解释.
.要观察钢中基体和析出相地组织形态，同时要分析其晶体结构和共格界面地位向关系，如何制备样品?以怎样地电镜操作方式和步骤来进行具体分析?资料个人收集整理，勿做商业用途
.动力学理论和运动学有什么区别?为什么说运动学理论是动力学在一定条件下地特例?
．洛伦兹因数是表示什么对衍射强度地影响？其表达式是综合了哪几方面考虑而得出地？
．试述衍射强度公式中各参数地含义？
．衍射线在空间地方位取决于什么？而衍射线地强度又取决于什么？
习题四
.试述射线粉末衍射仪由哪几部分组成，它们各自有哪些作用？
．测角仪在采集衍射图时，如果试样表面转到与入射线成角，则计数管与入射线所成角度为多少？能产生衍射地晶面，与试样地自由表面是何种几何关系？资料个人收集整理，勿做商业用途
．试比较外标法、内标法、值法、直接比较法和全谱拟合法五种定量分析方法地优缺点？
．精确测定点阵参数校正或消除误差常用地有哪三种方法？
．试总结衍射花样地背底来源，并提出一些防止和减少背底地措施.
习题六
．在一块冷轧钢板中可能存在哪几种内应力？它地衍射谱有什么特点？
．宏观应力对射线衍射花样地影响是什么？衍射仪法测定宏观应力地方法有哪些？
第八章
.透射电镜主要由哪几大系统构成？各系统之间关系如何？
.照明系统地作用是什么？它应满足什么要求？
.成像系统地主要构成及其特点是什么？
.分别说明成像操作和衍射操作地方法，并画出光路图
.样品台地结构与功能如何？它应满足那些要求？
第九章
.分析电子衍射与射线有何异同？
.倒易点阵与正点正间关系如何？倒易点阵与晶体地电子衍射斑点之间有何对应关系？
一、解释名词

材料分析测试方法练习与答案

第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（B）射线透射学；射线衍射学；射线光谱学；D.其它2. M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（ B ）A.Kα；B. Kβ；C. Kγ；D. Lα。

3. 当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（ C ）A．Cu；B. Fe；C. Ni；D. Mo。

4. 当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（A ）A.短波限λ0；B. 激发限λk；C. 吸收限；D. 特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L 层电子打出核外，这整个过程将产生（D）（多选题）A.光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C）二、正误题1. 随X射线管的电压升高，λ0和λk都随之减小。

（）2. 激发限与吸收限是一回事，只是从不同角度看问题。

（）3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。

（）4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。

（）5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。

（）三、填空题1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生连续X射线和特征X射线。

2. X射线与物质相互作用可以产生俄歇电子、透射X射线、散射X 射线、荧光X射线、光电子、热、、。

3. 经过厚度为H的物质后，X射线的强度为。

4. X射线的本质既是波长极短的电磁波也是光子束，具有波粒二象性性。

5. 短波长的X射线称，常用于；长波长的X射线称，常用于。

习题1. X 射线学有几个分支每个分支的研究对象是什么2. 分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么（1）用CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射；（2）用CuK βX 射线激发CuK α荧光辐射；（3）用CuK αX 射线激发CuL α荧光辐射。

3. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”4. X 射线的本质是什么它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在用哪些物理量描述它5. 产生X 射线需具备什么条件6. Ⅹ射线具有波粒二象性，其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中7. 计算当管电压为50 kv 时，电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。

材料研究方法试卷A答案

材料研究方法试卷A答案The document was finally revised on 2021一、名词解释（每题5分，共20分）1、短波限各种管电压下的连续X射线谱都具有一个最短的波长值，该波长值称为短波限。

2、光电效应光电效应是入射X射线的光量子与物质原子中电子相互碰撞时产生的物理效应。

当入射光量子的能量足够大时，可以从被照射物质的原子内部（例如K壳层）击出一个电子，同时外层高能态电子要向内层的K空位跃迁，辐射出波长一定的特征X射线。

这种以光子激发原子所发生的激发和辐射过程称为光电效应。

3、相干散射当入射线与原子内受核束缚较紧的电子相遇，光量子不足以使原子电离，但电子可在X射线交变电场作用下发生受迫振动，这样的电子就成为一个电磁波的发射源，向周围辐射电磁波，这些散射波之间符合波长相等、频率相同、位相差相同的光的干涉条件，故称相干散射。

4、球差球差即球面像差，是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律而造成的像差。

二、简答题（每题10分，共40分）1、实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe为主要成分的样品，试选择合适的X射线管和合适的滤波片？答：实验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射，应当避免使用比样品中主元素的原子序数大2~6（尤其是2）的材料作靶材的X射线管。

选择滤波片的原则是X射线分析中，在X射线管与样品之间一个滤波片，以滤掉Kβ线。

滤波片的材料依靶的材料而定，一般采用比靶材的原子序数小1或2的材料。

分析以铁为主的样品，应该选用Co或Fe靶的X射线管，它们的分别相应选择Fe和Mn为滤波片。

2、比较物相定量分析的外标法、内标法、K值法、直接比较法和全谱拟合法的优缺点？答：外标法就是待测物相的纯物质作为标样以不同的质量比例另外进行标定，并作曲线图。

外标法适合于特定两相混合物的定量分析，尤其是同质多相（同素异构体）混合物的定量分析。

内标法是在待测试样中掺入一定量试样中没有的纯物质作为标准进行定量分析，其目的是为了消除基体效应。

(完整版)材料分析方法试题及答案07

材料现代分析方法试题7（参考答案）一、基本概念题（共10题，每题5分）1．欲用Mo靶X射线管激发Cu的荧光X射线辐射，所需施加的最低管电压是多少？激发出的荧光辐射的波长是多少？答：欲使Cu样品产生荧光X射线辐射,V =1240/λCu=1240/0.15418=8042,V =1240/λCu=1240/0。

1392218=8907激发出荧光辐射的波长是0。

15418nm激发出荧光辐射的波长是0.15418nm2．判别下列哪些晶面属于［11]晶带：（0），（1），(231），（211）,(01），（13），(12），（12)，（01），(212)。

答：（0）（1）、（211）、（12)、(01)、（01）晶面属于［11]晶带，因为它们符合晶带定律:hu+kv+lw=0。

答：（0）(1）、（211）、(12）、（01）、（01）晶面属于[11］晶带,因为它们符合晶带定律：hu+kv+lw=0。

3．用单色X射线照射圆柱多晶体试样,其衍射线在空间将形成什么图案?为摄取德拜图相,应当采用什么样的底片去记录？答:用单色X射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成一组锥心角不等的圆锥组成的图案；为摄取德拜图相,应当采用带状的照相底片去记录.4．洛伦兹因数是表示什么对衍射强度的影响？其表达式是综合了哪几方面考虑而得出的？答:洛伦兹因数是表示掠射角对衍射强度的影响。

洛伦兹因数表达式是综合了样品中参与衍射的晶粒大小，晶粒的数目和衍射线位置对衍射强度的影响。

5．给出简单立方、面心立方、体心立方以及密排六方晶体结构电子衍射发生消光的晶面指数规律。

答：常见晶体的结构消光规律简单立方对指数没有限制（不会产生结构消光）f. c. c h。

k. L. 奇偶混合b. c。

c h+k+L=奇数h。

c。

p h+2k=3n, 同时L=奇数体心四方 h+k+L=奇数6．透射电镜的成像系统的主要构成及特点是什么?答：透射电镜的成像系统由物镜、物镜光栏、选区光栏、中间镜（1、2）和投影镜组成。

材料分析方法-试题及答案-西安理工大学

2010年秋季学期《材料分析测试方法》试卷A 命题教师卢正欣系主任审核考试形式闭卷考试类型√学位课非学位课（请打√选择）考试班级材物081～082，材化081~082，材081~084考试日期2010年12月21日考试时间2小时班级姓名学号成绩注意：1．命题时请适当留答题位置。

请用深蓝色墨水书写，字、图清晰，书写不出边框。

2．答题演草时不许使用附加纸，试卷背面可用于演草.试卷不得拆开。

一、填空：（每题2分，共20分)1。

X射线产生的三个基本条件是：、、。

2。

电子显微分析可获得材料的、_______________和方面的信息，并且可以将三者结合起来。

3. X射线衍射的强度主要取决于_______因子、________因子、_______因子、________因子和________因子.4。

是衍射的必要条件; 是衍射的充分条件。

5. 电子显微镜的分辨本领高是由于电子波的______________,其理论分辨本领是由______________和______________综合作用的结果。

6。

透射电子显微像的衬度来源于质厚衬度和衍射衬度，其中________衬度主要用于解释晶体样品，_________衬度主要用于解释非晶样品。

7。

在X射线衍射仪中，若X射线管固定，当样品转动θ角时，X射线探测器应转动______角；若样品固定，当X射线管转动θ角时，X射线探测器应转动_______角。

8. 在透射电镜中，明场（BF）像是用________光阑挡掉________束，只允许________束通过光阑成的像。

4。

在SrTiO3（立方晶系，晶格常数a=0.391nm）晶体中获得电子衍射花样如下，分别测得R1=11.6mm，R2=16.7mm，R3=20.3mm，φ=90°。

电子衍射实验条件为：加速电压V=200KV（λ=0.00251nm)，相机长度L=1800mm。

①确定示意图中各衍射斑点的指数h i k i l i ；②确定倒易面指数（uvw)＊；③以该晶体为标样，标定电子衍射的相机常数Lλ。

期末考试卷：材料现代测试分析方法和答案

期末考试卷：材料现代测试分析方法和答案第一部分：选择题（共10题，每题2分，共20分）1. 以下哪项不是材料现代测试分析的主要方法？- A. X射线衍射分析- B. 扫描电子显微镜分析- C. 质谱分析- D. 核磁共振分析2. 在材料现代测试分析中，以下哪种方法适用于分析材料的晶体结构？- A. 红外光谱分析- B. 热重分析- C. X射线衍射分析- D. 高效液相色谱分析3. 以下哪项不是扫描电子显微镜分析的主要应用？- A. 表面形貌观察- B. 元素分析- C. 晶体结构分析- D. 电子能谱分析4. 质谱分析主要用于检测和分析材料中的什么？- A. 元素成分- B. 分子结构- C. 表面形貌- D. 晶体结构5. 核磁共振分析常用于确定材料中的什么信息？- A. 元素含量- B. 晶体结构- C. 分子结构- D. 表面形貌6. 以下哪种方法适用于分析材料的热性能？- A. 红外光谱分析- B. 热重分析- C. 扫描电子显微镜分析- D. 核磁共振分析7. 在材料现代测试分析中，以下哪种方法适用于分析材料的表面形貌？- A. 红外光谱分析- B. 扫描电子显微镜分析- C. X射线衍射分析- D. 质谱分析8. 以下哪项不是红外光谱分析的主要应用？- A. 元素分析- B. 分子结构分析- C. 表面形貌观察- D. 化学成分分析9. 在材料现代测试分析中，以下哪种方法适用于分析材料的化学成分？- A. 红外光谱分析- B. 热重分析- C. X射线衍射分析- D. 高效液相色谱分析10. 高效液相色谱分析主要用于检测和分析材料中的什么？- A. 元素成分- B. 分子结构- C. 化学成分- D. 表面形貌第二部分：简答题（共5题，每题10分，共50分）1. 简述材料现代测试分析的意义和应用范围。

2. 请列举并解释任意两种材料现代测试分析方法。

3. 简述扫描电子显微镜分析的原理和应用领域。

期末考试卷-现代材料测试分析法与答案

期末考试卷-现代材料测试分析法与答案一、选择题1. 下列哪种测试方法不适用于现代材料的分析？A. X射线衍射B. 热重分析C. 磁力显微镜观察D. 电子显微镜观察正确答案：C2. 现代材料测试分析法的目的是什么？A. 确定材料的物理性质B. 评估材料的化学成分C. 分析材料的力学性能D. 检测材料的表面缺陷正确答案：B3. 下列哪种测试方法可以用于测定材料的热稳定性？A. 热重分析B. 磁力显微镜观察C. X射线衍射D. 电子显微镜观察正确答案：A4. 现代材料测试分析法中，常用的表面缺陷检测方法是：A. 热重分析B. 磁力显微镜观察C. X射线衍射D. 电子显微镜观察正确答案：B5. X射线衍射是一种常用的测试方法，其主要用途是：A. 分析材料的化学成分B. 检测材料的表面缺陷C. 确定材料的物理性质D. 分析材料的晶体结构正确答案：D二、简答题1. 简要说明热重分析的原理和应用。

热重分析是一种通过测量材料在加热过程中质量的变化来分析材料性质的方法。

它基于材料在不同温度下的热稳定性不同的原理，通过测量样品在加热过程中的质量变化来评估材料的热稳定性。

热重分析广泛应用于材料科学、化学工程和环境科学等领域，用于研究材料的热分解、热失重、腐蚀性等性质。

2. 简要说明磁力显微镜观察的原理和应用。

磁力显微镜观察是一种通过使用磁场来观察材料的磁性和磁结构的方法。

它利用材料的磁性与磁场的相互作用，通过观察材料在磁场中的行为来推断材料的磁性和磁结构。

磁力显微镜观察广泛应用于材料科学、磁学和电子学等领域，用于研究材料的磁性、磁相变、磁畴结构等性质。

三、解答题1. 现代材料测试分析法存在哪些优势？现代材料测试分析法具有以下优势：- 准确性：现代测试方法能够提供精确的数据和结果，用于准确评估材料的性能和特性。

- 高效性：现代测试方法通常能够在短时间内完成测试，提高了工作效率。

- 非破坏性：大部分现代测试方法是非破坏性的，可以对材料进行分析而不损坏其结构和性能。

现代材料分析测试方法：期末考试卷和答案

现代材料分析测试方法：期末考试卷和答案第一部分：选择题1. 以下哪项不是常用的材料分析测试方法？- A. 扫描电子显微镜（SEM）- B. 红外光谱（IR）- C. 傅里叶变换红外光谱（FTIR）- D. 核磁共振（NMR）答案：D2. 扫描电子显微镜（SEM）主要用于：- A. 表面形貌观察- B. 元素成分分析- C. 分子结构分析- D. 力学性能测试答案：A3. X射线衍射（XRD）常用于：- A. 表面形貌观察- B. 元素成分分析- C. 分子结构分析- D. 晶体结构分析答案：D4. 热重分析（TGA）主要用于：- A. 表面形貌观察- B. 元素成分分析- C. 分子结构分析- D. 热稳定性分析答案：D5. 扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）的区别在于：- A. SEM可以观察表面形貌，TEM可以观察内部结构- B. SEM可以观察内部结构，TEM可以观察表面形貌- C. SEM只能观察金属材料，TEM只能观察非金属材料- D. SEM只能观察非金属材料，TEM只能观察金属材料答案：A第二部分：简答题1. 简述红外光谱（IR）的原理和应用领域。

红外光谱是一种基于物质吸收、散射和透射红外光的测试方法。

它利用物质分子的特定振动模式与入射红外光发生相互作用，从而获得物质的结构信息和化学成分。

红外光谱广泛应用于有机物的鉴定、无机物的分析、聚合物材料的检测以及药物和食品的质量控制等领域。

2. 简述傅里叶变换红外光谱（FTIR）的原理和优势。

傅里叶变换红外光谱是一种红外光谱的分析技术，它通过对红外光信号进行傅里叶变换，将时域信号转换为频域信号，从而获得高分辨率和高灵敏度的红外光谱图谱。

相比传统的红外光谱，FTIR 具有快速测量速度、高信噪比、宽波数范围和高分辨率等优势。

它广泛应用于材料分析、有机合成、生物医学和环境监测等领域。

3. 简述热重分析（TGA）的原理和应用领域。

热重分析是一种测量物质在升温过程中质量变化的测试方法。

材料分析方法期末考试试题

材料分析方法期末考试试题# 材料分析方法期末考试试题## 一、选择题（每题2分，共20分）1. 材料分析中，X射线衍射（XRD）技术主要用于分析材料的哪种特性？A. 化学成分B. 晶体结构C. 表面形貌D. 机械性能2. 扫描电子显微镜（SEM）的主要优点是什么？A. 高分辨率B. 快速分析C. 无需样品制备D. 无损检测3. 透射电子显微镜（TEM）与SEM的主要区别在于：A. 分辨率B. 样品制备C. 操作成本D. 样品厚度4. 原子力显微镜（AFM）能够提供以下哪种信息？A. 材料的化学组成B. 材料的表面形貌C. 材料的内部结构D. 材料的热稳定性5. 热重分析（TGA）通常用于测量材料的：A. 热导率B. 热膨胀系数C. 热稳定性D. 热容## 二、简答题（每题10分，共30分）1. 简述红外光谱（IR）分析在材料科学中的应用及其优势。

2. 描述差示扫描量热法（DSC）的工作原理，并举例说明其在材料分析中的一个应用。

3. 说明X射线光电子能谱（XPS）分析在表面分析中的重要性。

## 三、计算题（每题25分，共50分）1. 假设你正在使用XRD分析一种未知材料的晶体结构。

给出了以下衍射峰的位置（2θ）：20°、30°、40°、50°、60°。

请根据布拉格定律计算对应的晶面间距（d-spacing）。

2. 假设你通过TGA测试得到了一个材料的热重曲线，该曲线显示在300°C时材料的质量减少了10%。

如果已知该材料的初始质量为100g，请计算在300°C时材料的质量损失量，并解释可能的化学或物理变化。

## 四、论述题（共30分）1. 论述材料表征技术在新材料开发中的作用，并举例说明至少两种材料表征技术如何帮助科学家理解材料的微观结构和宏观性能。

2. 材料分析方法在环境科学中的应用越来越广泛。

请讨论材料分析技术如何帮助监测和评估环境污染，并提出至少两种具体的应用案例。

材料分析方法试题(2)精选全文

可编辑修改精选全文完整版《材料科学研究方法》考试试卷（第一套）一、 1、基态 2、俄歇电子 3、物相分析 4、色散 5、振动耦合 6、热重分析一．填空题（每空1分，选做20空，共20分，多答不加分）1. 对于X 射线管而言，在各种管电压下的连续X 射线谱都存在着一个最短的波长长值，称为，当管电压增大时，此值。

2. 由点阵常数测量精确度与θ角的关系可知，在相同条件下，θ角越大，测量的精确度。

3. 对称取代的S=S 、C ≡N 、C=S 等基团在红外光谱中只能产生很弱的吸收带（甚至无吸收带），而在光谱中往往产生很强的吸收带。

4. 根据底片圆孔位置和开口位置的不同，德拜照相法的底片安装方法可以分为：、、。

5. 两组相邻的不同基团上的H 核相互影响，使它们的共振峰产生了裂分，这种现象叫。

6. 德拜法测定点阵常数，系统误差主要来源于相机的半径误差、底片的伸缩误差、样品的偏心误差和。

7. 激发电压是指产生特征X 射线的最电压。

8. 凡是与反射球面相交的倒易结点都满足衍射条件而产生衍射，这句话是对是错？。

9. 对于电子探针，检测特征X 射线的波长和强度是由X 射线谱仪来完成的。

常用的X 射线谱仪有两种：一种，另一种是。

10. 对于红外吸收光谱，可将中红外区光谱大致分为两个区：和。

区域的谱带有比较明确的基团和频率对应关系。

11. 衍射仪的测量方法分哪两种：和。

12. DTA 曲线描述了样品与参比物之间的随温度或时间的变化关系。

13. 在几大透镜中，透射电子显微镜分辨本领的高低主要取决于。

14. 紫外吸收光谱是由分子中跃迁引起的。

红外吸收光谱是由分子中跃迁引起的。

15. 有机化合物的价电子主要有三种，即、和。

16. 核磁共振氢谱规定，标准样品四甲基硅δ TMS ＝。

17. 红外吸收光谱又称振-转光谱，可以分析晶体的结构，对非晶体却无能为力。

此种说法正确与否？0λ18.透射电子显微镜以为成像信号，扫描电子显微镜主要以为成像信号。

材料测试分析技术真题试卷

材料测试分析技术真题试卷一、选择题（每题2分，共20分）1. 材料的硬度测试中，布氏硬度测试使用的是：A. 钢球B. 金刚石锥C. 金刚石球D. 钢锥2. 下列哪项不是材料的机械性能测试？A. 拉伸测试B. 压缩测试C. 热膨胀测试D. 冲击测试3. X射线衍射分析主要用来研究材料的：A. 微观结构B. 化学成分C. 表面形貌D. 热稳定性4. 扫描电子显微镜（SEM）的主要优点是：A. 分辨率高B. 可进行元素分析C. 样品制备简单D. 所有以上选项5. 热重分析（TGA）主要用于：A. 测量材料的密度B. 测量材料的热稳定性C. 测量材料的导热性D. 测量材料的热膨胀系数二、填空题（每空2分，共20分）6. 材料的弹性模量是指材料在_________作用下，应力与应变的比值。

7. 材料的疲劳测试通常采用_________循环加载方式。

8. 材料的断裂韧性通常用_________表示，其单位是MPa·m^{1/2}。

9. 差示扫描量热法（DSC）可以用来测量材料的_________和相变温度。

10. 原子力显微镜（AFM）利用探针与样品表面之间的_________来获取表面形貌信息。

三、简答题（每题10分，共30分）11. 简述材料的冲击测试的基本原理及其在材料性能评价中的意义。

12. 描述透射电子显微镜（TEM）与扫描电子显微镜（SEM）的主要区别。

13. 解释差示热分析（DTA）与差示扫描量热法（DSC）的异同点。

四、计算题（每题15分，共30分）14. 某材料的拉伸测试结果如下：原始截面积A0=50mm²，最大载荷Fmax=5000N。

试计算该材料的抗拉强度σb。

15. 假设你正在分析一种合金的热重分析（TGA）曲线，曲线显示在600℃时质量损失了5%。

如果初始质量为100g，请计算在600℃时的质量损失量。

五、论述题（共30分）16. 论述材料的微观结构分析技术在新材料开发中的重要性，并举例说明。

材料现代分析测试技术试卷

期末考试试卷课程名称：材料现代分析技术闭卷 A 卷 120分钟一、选择题（每小题2分，共20分）1、下列材料现代分析方法中能进行局部点的微结构分析的是（）A ）X 射线衍射分析B ）扫描电子显微镜C ）透射电子显微镜D ）热重分析法 2、X 射线衍射分析是近代材料微观结构与缺陷分析必不可少的重要手段之一，以下哪个选项不是X 射线衍射分析的应用（）A ）晶体结构研究 B) 物相分析 C ）精细结构研究 D ）表面元素分析 3、X 射线管所产生的特征谱的波长受以下哪种因素所影响（）A ）管电压 B) 管电流 C ）阳极靶材的原子序数 D ）电子电荷4、利用吸收限两边吸收系数相差十分悬殊的特点，可制作X 射线滤波片，滤波片材料是根据靶材元素确定的，根据滤波片材料选择规律，当阳极靶材料为元素Mo 时，选择的滤波片材料应该是下列选项中的（）A ）FeB ）CoC ）NiD ）Zr5、X 射线衍射定量分析中，如待测样品中含有多个物相，各相的质量吸收系数又不同，常常采用下列哪种方法（）A ）外标法B ）内标法C ）参比强度法D ）直接对比法6、透射电子显微镜成像系统中通常包含三级放大系统，下列选项中不是其三级放大系统的是（）A ）物镜B ）中间镜C ）目镜D ）投影镜7、利用透射电子显微镜观察纳米二氧化钛形态，通常采用下列哪种制样方法（）A ）支持膜法 B) 超薄切片法 C ）复型法 D ）晶体减薄法8、扫描电子显微镜观察中，二次电子像的衬度主要受以下哪个因素所影响（）A ）形貌B ）成分C ）电压D ）电磁9、采用X 光电子能谱分析Be 的化学状态，根据影响其化学位移的规律，下列选项中Be 的1s 电子结合能排列正确的是（）A ）BeO > BeF 2 > Be B) BeF 2 > Be > BeO C) BeF 2 > BeO > Be D) Be > BeF 2 > BeO 10、根据差热曲线方程，为了提高仪器的检测灵敏度，采用如下哪种方法（）二、填空题（每空1分，共20分） 1、X 射线管发出的X 射线，其波长并不相同，根据其波长变化的特点可分为和。

材料分析方法答案及题型

材料分析方法答案及题型题型：选择题、填空题、简答题、计算题1.以下哪种技术可用于对材料进行定量分析？a)X射线衍射分析b)扫描电子显微镜观察c)热重分析d)变温拉曼光谱答案：c)热重分析2.用于材料表面成分分析的技术有（）。

答案：X射线光电子能谱（XPS）、扫描电子显微镜能谱分析（EDS）3.对于材料的物理性质分析，以下哪种方法最适合用来研究材料的导电性？a)红外光谱分析b)电子能谱分析c)热重分析d)电阻率测量答案：d)电阻率测量4.对于材料的化学成分分析，以下哪种方法可以检测材料中的有机化合物？a)红外光谱分析b)X射线衍射分析c)拉曼光谱分析d)热重分析答案：a)红外光谱分析5.以下哪种材料分析方法适用于研究材料的晶体结构？a)红外光谱分析b)X射线衍射分析c)电子能谱分析d)热重分析答案：b)X射线衍射分析6.以下哪种方法适合用于研究材料的形貌和表面结构？a)红外光谱分析b)扫描电子显微镜观察c)热重分析d)傅里叶变换红外光谱分析答案：b)扫描电子显微镜观察7.下列哪种技术可用于材料的热性能分析？a)红外光谱分析b)热重分析c)X射线衍射分析d)电子能谱分析答案：b)热重分析8.以下哪种方法适用于研究材料的磁性？a)红外光谱分析b)磁性测量c)X射线衍射分析d)近红外光谱分析答案：b)磁性测量9.下列哪种技术可用于材料的力学性能分析？a)红外光谱分析b)弹性模量测量c)X射线衍射分析d)热重分析答案：b)弹性模量测量10.以下哪种方法适合用于材料的电化学性能分析？a)红外光谱分析b)电化学阻抗谱分析c)X射线衍射分析d)电子能谱分析。

材料分析方法题目(完整版)

材料分析方法题目(完整版)习题一一、解释名词物相：特征x射线：相干散射：非相干散射：光电效应：俄歇效应：吸收极限：X射线激发电压：II。

简短回答1．x射线的本质是什么？是谁首先发现了x射线，谁揭示了x射线的本质？2．特征x射线的特点？3.什么是光电效应？光电效应在材料分析中有什么用途？4.实验中选择X射线管和滤光片的原则是什么？给出一个以铁为主要成分的样品，试着选择一个合适的X射线管和一个合适的过滤器？5.特征X射线产生的机理是什么？6.过滤的目的是什么？7．物质对x射线的吸收主要是由什么引起？习题二1.以下是立方晶体系统的几个晶面。

试着把它们的平面间距从大到小排列：（），（100），（200），（121），（111），（220），（130），（030），（110），（110）。

2．什么叫干涉面?当波长为λ的x射线在晶体上发生衍射时，相邻两个（hkl）晶面衍射线的波程差是多少？相邻两个hkl干涉面的波程差又是多少？3．判别下列哪些晶面属于[]晶带：（），（），（231），（211），（），（），（），（），（），（212）。

4．获得晶体衍射花样的三种基本方法.5.试着描述布拉格方程2dsinθ=λ中的三个参数分别代表什么？，这个等式的两个主要用途是什么？6.晶体中X射线衍射的顺序极限条件是什么？7.哪些方法可以指示X射线衍射方向？8.解释名词：水晶带，水晶带轴，水晶带定律练习31.散射因数的物理意义是什么？某元素的原子散射因数与其原子序数有何关系？2.结构因子对衍射强度有什么影响？总结了简单点阵、体心点阵和面心点阵衍射光的系统消光规律。

3．多重性因数的物理意义是什么？某立方晶系晶体，其{100}的多重性因数是多少？如该晶体转变为四方晶系，这个晶面族的多重性因数会发生什么变化？为什么？4．洛伦兹因数是表示什么对衍射强度的影响？其表达式是综合了哪几方面考虑而得出的？5．试述衍射强度公式中各参数的含义？6.空间中衍射光线的方向取决于什么？衍射光的强度取决于什么？练习41.试述x射线粉末衍射仪由哪几部分组成，它们各自有哪些作用？2.测角仪采集衍射图案时，如果样品表面与入射光线形成300度角，则计数管与入射光线之间的角度是多少？可以产生衍射的晶面和样品的自由表面之间的几何关系是什么？3.X射线衍射仪的最新发展是什么？4．探测器的主要性能及正比、闪烁和固体探测器特点？5．与照相法相比，衍射仪法有哪些优缺点？习题五1．物相定性分析的原理是什么？对食盐进行化学分析与物相定性分析，所得信息有何不同？2.描述X射线衍射单相定性分析的基本原理和分析步骤？3.尝试描述多相定性分析的原理和方法？4．物相定量分析的原理是什么？试述用k值法进行物相定量分析的过程。

材料分析方法试题及答案

材料分析方法试题及答案材料分析是一门重要的学科，在各个领域都有着广泛的应用。

本文将提供一些材料分析方法的试题以及对应的答案，以便读者更好地理解和掌握这一领域的知识。

试题一：1. 请简要说明材料分析的定义和意义。

2. 举例说明材料分析在实际应用中的重要性。

3. 简要介绍几种常见的材料分析方法。

答案一：1. 材料分析是通过使用科学的方法和工具对材料的组成、结构、性质进行研究和分析的过程。

它的意义在于帮助人们更好地理解材料的特性和性能，并为材料的设计和应用提供科学依据。

2. 材料分析在实际应用中起到了至关重要的作用。

例如，材料分析可以帮助科学家研究材料的特性，以及在制造过程中如何控制这些特性，从而改善产品的质量和性能。

此外，材料分析还可以用于检测产品中的有害物质，对环境和人体健康进行保护。

3. 常见的材料分析方法包括以下几种：a. 谱学分析方法：如红外光谱分析、质谱分析等，通过测量物质的光谱特性来确定其组成和结构。

b. 表面分析方法：如扫描电子显微镜（SEM）和原子力显微镜（AFM），用于观察和分析材料表面的形貌和结构。

c. X射线衍射分析：利用X射线的衍射现象，研究材料的晶体结构和晶格参数。

d. 热分析方法：包括差示扫描量热法（DSC）、热重分析（TGA）等，用于研究材料的热性能和热稳定性。

e. 电化学分析方法：如电化学阻抗谱（EIS）、电化学循环伏安法（CV）等，用于研究材料在电化学反应中的行为和性能。

试题二：1. 请简要介绍红外光谱分析的原理和应用。

2. 简要解释红外光谱图中的峰的意义。

3. 通过红外光谱分析，可以得到哪些信息？答案二：1. 红外光谱分析是一种利用物质对红外辐射吸收的特性来研究物质组成和结构的方法。

原理是当红外光通过物质时，物质中的化学键根据其振动模式吸收红外光的不同频率，从而产生特定的红外光谱图。

红外光谱分析广泛应用于有机物和无机物的研究领域。

2. 在红外光谱图中，峰的位置和强度反映了物质分子中不同的化学键和官能团。

材料现代分析方法试题5(答案)精选全文完整版

可编辑修改精选全文完整版材料现代分析方法试题5(答案)材料现代分析方法试题10(参考答案)一､基本概念题(共10题,每题5分)1.“一束X射线照射一个原子列(一维晶体),只有镜面反射方向上才有可能产生衍射线”,此种说法是否正确?答:不正确,因为一束X射线照射一个原子列上,原子列上每个原子受迫都会形成新的X射线源向四周发射与入射光波长一致的新的X射线,只要符合光的干涉三个条件(光程差是波长的整数倍),不同点光源间发出的X射线都可产生干涉和衍射。

镜面反射,其光程差为零,是特殊情况。

2.什么叫干涉面?当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射,相邻两个(hkl)晶面的波程差是多少?相邻两个(HKL)晶面的波程差是多少?答:晶面间距为d’/n､干涉指数为nh､nk､nl的假想晶面称为干涉面。

当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射,相邻两个(hkl)晶面的波程差是nλ,相邻两个(HKL)晶面的波程差是λ。

3.谢乐公式B=kλ/tcosθ中的B､λ､t､θ分别表示什么?该公式用于粒径大小测定时应注意哪些问题?答:B为半高宽或峰的积分宽度,λ为入射X射线波长,t为粒径大小,θ为表示选用X射线位置①这是运用X射线来测定晶粒大小的一个基本公式。

B为衍射峰的宽,t表示晶粒的大小。

可见当晶粒变小时,衍射峰产生宽化。

一般当晶粒小于10-4cm时,它的衍射峰就开始宽化。

因此式适合于测定晶粒<10-5cm,即100纳米以下晶粒的粒径。

因此,它是目前测定纳米材料颗粒大小的主要方法。

虽然精度不很高,但目前还没有其它好的方法测定纳米级粒子的大小。

②一般情况下我们的样品可能不是细小的粉末,但实际上理想的晶体是不存在的,即使是较大的晶体,它经常也具有镶嵌结构在,即是由一些大小约在10-4cm,取向稍有差别的镶嵌晶块组成。

它们也会导到X射线衍射峰的宽化。

4.试述极图与反极图的区别?答:极图是多晶体中某{hkl}晶面族的倒易矢量(或晶面法线)在空间分布的极射赤面投影图。

现代材料分析测试题答案

现代材料分析测试题答案一、选择题1. 材料的力学性能主要包括哪些方面？A. 硬度和韧性B. 强度和塑性C. 韧性和导电性D. 硬度和导热性答案：B2. 扫描电子显微镜（SEM）的主要优点是什么？A. 可以观察活细胞B. 可以获得元素的化学成分信息C. 可以进行大范围的形貌观察D. 分辨率高于透射电子显微镜答案：B3. 差示扫描量热法（DSC）主要用于测量材料的哪些特性？A. 热导率和比热容B. 相变温度和焓变C. 热膨胀系数和热稳定性D. 热分解温度和质量损失答案：B4. X射线衍射（XRD）技术主要用于分析材料的哪些方面？A. 晶体结构和晶格常数B. 表面形貌和元素分布C. 化学成分和热性能D. 力学性能和电学性能答案：A5. 拉曼光谱是一种非破坏性的分析手段，它主要用于分析材料的哪些特性？A. 晶体缺陷和杂质含量B. 分子结构和化学键振动C. 热稳定性和耐腐蚀性D. 电导率和磁性质答案：B二、填空题1. 材料的硬度是指材料抵抗__________的能力，而韧性是指材料在受到冲击或载荷作用时抵抗__________的能力。

答案：硬度；断裂2. 原子力显微镜（AFM）能够达到的横向分辨率可以达到__________，这使得它能够观察到单个原子或分子的结构。

答案：纳米级3. 动态机械分析（DMA）是一种用于测量材料在动态载荷下的__________和__________的分析技术。

答案：模量；阻尼4. 红外光谱（FTIR）可以用于分析材料中的__________和__________，从而获得材料的化学组成和结构信息。

答案：官能团；化学键5. 紫外-可见光谱（UV-Vis）主要用于分析材料的__________和__________，这对于研究材料的光学性质非常重要。

答案：吸收光谱；反射光谱三、简答题1. 简述材料的疲劳性能及其对工程应用的重要性。

答：材料的疲劳性能是指材料在循环载荷作用下抵抗裂纹形成和扩展的能力。

现代材料分析方法试题含有答案

(d ) XRD FTIR 和 Raman 和透射电(a ) - C-H 、-OH 和-NH2 (b) - C-H 、(c) 和-C=C- (d) - C-H 和 CO2分，共10分)1 ( 2. . -C-H判断题（正确的打V,分无关。

(V ) (V )《现代材料分析方法》期末试卷 1 一、单项选择题（每题2分，共10分） 1 •成分和价键分析手段包括【b 】（a ）WDS 能谱仪（EDS 和 XRD （b ） WDS EDS 和 XPS （c ） TEM WDS 和 XPS （d ） XRD FTIR 和 Raman 2 •分子结构分析手段包括【a 】（a ）拉曼光谱（Rama ）核磁共振（NMR 和傅立叶变换红外光谱（FTIR ）（b ） NMR FTIR 和 WDS （c ） SEM TEM 和STEM （扫描透射电镜） 3 •表面形貌分析的手段包括【d 】（a ） X 射线衍射（XRD 和扫描电镜（SEM （b ） SEM （c ）波谱仪（WDS 和X 射线光电子谱仪（XPS （d ） SEM 4 •透射电镜的两种主要功能：【b 】（a ）表面形貌和晶体结构（b ）内部组织和晶体结构（c ）表面形貌和成分价键（d ）内部组织和成分价键 5. 下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括：【c 和-NH2,4. 放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。

5. 在样品台转动的工作模式下，X 射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。

（V ）三、简答题（每题5分，共25分）1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关？为什么？和所用的信号种类和束斑尺寸有关，因为不同信号的扩展效应不同，例如二次电子产生的区域比背散射电子小。

束斑尺寸越小，产生信号的区域也小，分辨率就高。

2. 原子力显微镜的利用的是哪两种力，又是如何探测形貌的？范德华力和毛细力。

以上两种力可以作用在探针上，致使悬臂偏转，当针尖在样品上方扫描时，探测器可实时地检测悬臂的状态，并将其对应的表面形貌像显示纪录下来。

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贵州大学2009-2010学年第二学期考试试卷 A
材料分析方法
一、名词解释（共12分,每小题3分）
相干散射、激发限、系统消光、结构因子、球差、景深、焦长、衍射衬度、暗场像、二次电子、化学位移
1. 荧光辐射
2. 倒易矢量
3. 结构因子
4. 明场像
二、填空题（共27分,每空1分）
1．用于衍射分析的X射线的波长范围为。

2．波长和频率是描述X射线性的物理参量，能量和动量则是描述X射线性的物理参量。

3. Kα特征谱线是原子中壳层的电子跃迁到K壳层产生的，它的强度约是Kβ的
倍。

4. 已知X射线管是钴靶，应选择的滤波片材料是。

5. 当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射，相邻两个（hkl）晶面的波程差是，
相邻两个（HKL）晶面的波程差是。

6. 面心立方结构晶体产生消光的晶面指数条件为。

7. X射线衍射仪测样时，测角仪的计数管支架转速与样品转速之比为。

8. 粉末法的厄瓦尔德图解法解释中,衍射圆锥的顶点代表试样所在位置,轴代表
,母线代表。

9.多晶体X 射线衍射分析方法主要是和两种。

10.电磁透镜的像差中，可以控制或消除的是和。

11. 透射电镜的成像衬度中，由样品不同部位的厚度和密度差别而形成的衬度称为，由样品不同部位衍射效应不同而形成的衬度称为。

12. 薄膜样品制备过程中的最终减薄方法有和。

13. 若扫描电镜的荧光屏尺寸A C =100mm ，电子束在样品上的扫描振幅A S =0.01mm ，则扫
描电镜此时的放大倍数为倍。

14. 扫描电镜的两种常用成像信号中，既反映表面形貌衬度又反映原子序数衬度的是。

15. 波谱仪是，
能谱仪是。

16. X 射线光电子能谱分析中，导电固体样品产生光电效应时的光电方程表达式为。

17. 扫描隧道显微镜的成像信号为，而原子力显微镜是通过检测针尖—样品间的来成像的。

三、问答题（共35分）
1. (8分)（1）推导布拉格方程；（2）为什么说衍射方向反映了晶胞的形状和大小。

2. (9分)X 射线衍射线的强度公式为M c e A P F V V c m e R I I 2222242430)(cos sin 2cos 132-+=θθ
θθπλ， (1)说明五个影响因子的名称及含义。

(2)对立方系晶体,P 200为多少?若为正方系晶体,P 200为多少?并写出所包含的晶面指数。

3. (6分)为什么透射电镜既可做电子衍射又可观察电子衍衬像？
4. (5分)对于理想晶体，其薄膜样品的楔形边缘处的衍衬像有何特征？并用运动学理论公式加以解释。

5. (7分) (1)下图的断口形貌照片包含了哪些微观断口形貌？(2)简述二次电子像的成像原理。

四、应用题（共26分）
1. （14分）残余奥氏体的电子衍射花样如图，已知mm R R 1021==，mm R 3.163=，R 1和R 2之间的夹角为70º，L λ=
2.05mm •nm ，
(1) 标定斑点指数;
(2) 计算晶带轴指数[uvw]；
(3) 验证该物相。

已知γ-Fe 的点阵常数为nm a 3585.0=。

2. （共12分，每小题2分）下列分析内容优先选用何种仪器进行分析?何种分析方法？并简单说明对试样的要求。

(1) 表面渗层、镀层的物相鉴定；
(2) 淬火钢中孪晶马氏体与位错马氏体的形貌观察；
(3) 碳钢脱碳层碳浓度分布；
(4) 金属表面约2nm 深的污染物成分分析；
(5) 金属断口形貌及其断口上粒状夹杂物的化学成分；
(6) 超细粉末形状、大小及结构测定。

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