4--偏光显微镜的基本操作及薄片的制备

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4--偏光显微镜的基本操作及薄片的制备

4--偏光显微镜的基本操作及薄片的制备

4 偏光显微镜的根本操作与薄片的制备偏光显微镜是对透明矿物的光学性质进展分析和观测的一种光学仪器。

通过这种仪器能够比拟迅速地对各种矿物相作出鉴定。

它是对天然矿石、瓷制品以与其他人造无机固体材料进展相分析的一种十分有效的工具。

一、实验目的1.了解偏光显微镜的构造、装置、使用与保养方法;2.学会偏光显微镜的一般调节与校正;3.了解薄片制作的全过程,并掌握其中关键步骤的操作。

二、实验原理偏光显微镜的产品种类较多,各类型号虽不尽一样,但根本工作原理相近。

各类产品都是由支架系统、光源和起偏系统、载物台系统、光学放大和检偏系统以与附属光学元件等几大局部组成。

偏光显微镜的构造如图2.3.1-1所示。

图2.3.1-1 偏光显微镜结构示意图1.目镜;2.目镜筒;3.勃氏镜手轮;4. 勃氏镜左右调节手轮;5. 勃氏镜前后调节手轮;6.检偏镜;7.补偿器;8.物镜定位器;9.物镜座;10.物镜;11.旋转工作台;12.聚光镜;13.拉索透镜;14.可变光栏;15.起偏镜;16.滤色片;17.反射镜;18.镜架;19.微调手轮;20.粗调手轮。

三、仪器设备偏光显微镜,切片机,磨片机,抛光机,抛光粉、无水乙醇,不同标号的磨料与砂纸,自凝牙托水、牙托粉,金属模具。

四、实验容1.了解偏光显微镜的根本构造〔1〕机械局部:镜座、镜壁、镜筒、升降镜筒的粗动与微调螺旋、载物台、载物台固定螺旋与游标尺、薄片固定夹。

〔2〕光学系统局部:反光镜、下偏光镜、锁光圈、聚光镜、物镜与校正螺丝、试板孔、上偏光镜、勃氏镜、目镜。

〔3〕附件:物镜校正螺丝、试板(石英试板、石膏试板、云母试板)。

2.学习装卸物镜物镜一般选用中倍镜,其装卸有两种方法。

〔1〕弹簧夹型:将物镜上的小钉夹于弹簧夹的凹陷处,即可夹住物镜。

〔2〕转盘型:先将物镜安装在一个可以转动的圆盘上,再将需要的物镜转到镜筒的正下方,恰至被弹簧卡住为止。

3.调节照明装上物镜与目镜后,轻轻推出上偏光镜与勃氏镜,打开锁光圈,调节光源至理想视域。

材料研究方法--偏光显微镜及试样制备

材料研究方法--偏光显微镜及试样制备

2.5 试样制备
薄片构造: 载玻片 盖玻片 样品:标准厚度0.03mm 超薄片厚度<0.02mm 粘合剂:加拿大树胶 n=1.54
试样制备
切片 渗胶、固化处理 磨平底面 载片 磨薄: 经粗、中、细磨至0.03mm (磨料为碳化硅、刚玉) 盖片
中心校正
途径:物镜中心校正、物台中心校正 借助相互垂直的校正螺丝完成 步骤: ① 准焦,选一黑点,置于十字丝交点。 ② 旋转物台,观察黑点运动情况。 ③ 若偏心,旋转物台半周至偏心最大处,调 节中心校正螺丝使黑点移至偏心圆圆心处。
(3)偏光镜校正 )
上、下偏光振动方向已知,∥十字丝。 ① 确定偏光镜的振动方向:黑云母薄片 黑云母晶体的特征:解理明显。 下偏光振动方向∥解理纹,吸收性最强, 颜色最深。 ② 偏光镜振动方向正交的判断与调整 使黑云母解理纹与目镜十字丝之一平行 推入上偏光镜,观察视域明亮程度 转动下偏光镜
分辨率
物镜分辨两点间的最短距离 = n ⋅ sin α N ⋅ A 为物镜数值孔径 由提高分辨率的途径可知,光学显微 镜的分辨率是有限的。(近似为λ/2)
N⋅ A L = 0.61
λ
0.61
λ
(2)总放大倍数 )
M = M1 × M 2ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ× M 3
物镜M1 = 显微镜光学筒长 / 物镜焦距 放大倍数越大,焦距越短(越大),工作 距离越小。 目镜M2 = 250 / 目镜焦距 新型显微镜为适应不同需要,镜筒内装有附 加透镜系统,其放大倍数为M3。 偏光显微镜总的放大倍数1800-2000×
零件盒 镜头:物镜、目镜 附件:补色器、校正螺丝、微尺、机械台 物镜 25/0.4 10/0.25 放大倍数/数值孔径 160/0.17 160/0.17 机械筒长/盖玻片厚度

偏光显微镜具体操作过程

偏光显微镜具体操作过程

偏光显微镜具体操作过程1.选择合适的样品:准备需要观察的样品。

可以是生物、矿物、金属或其他材料。

确保样品表面平整、透明或比较薄以允许光线通过。

对于非透明的样品,需要进行薄片处理。

2.开启显微镜:将显微镜放在水平台上,打开机箱,拉出光源灯泡并取出滤色片。

将电源线插入插座,打开电源开关,开启显微镜。

3.调整偏光器:根据需要观察样品的性质,将偏光器安装在显微镜的光源座上。

通过旋转偏光器可以控制样品上的偏振方向。

4.来调节偏光显微镜照明光源的强弱和方向。

开启照明电源开关,调节照明光源强度,使其适合观测。

你可能需要旋转镜片来改变偏光显微镜照明光源的方向。

5.放置样品:将样品放在显微镜的玻璃载物台上,确保样品表面与载物台平行。

固定样品,以确保其不会移动。

6.调整横截面偏光镜:将横截面偏光镜插入显微镜中,调整其方向。

通常,垂直方向是最佳选择,但如果你希望观察样品的特定特征,可以适当调整横截面偏光镜的角度。

7.调整偏振光显微镜目镜和物镜:选取合适的倍率,这取决于需要观察的物体的大小。

通常,使用低倍率的物镜对于查找样品和搜寻感兴趣的区域是有帮助的。

通过旋转调节目镜和物镜,直到显微镜在透视时呈现清晰的图像。

8.观察样品:通过透视样品,你现在可以开始观察并分析样品了。

在观察过程中,你可以通过更换物镜来调节倍率,以获得更详细的图像。

9.通过偏光显微镜调节像差:通过调整样品的焦距和细调焦距来减少可能出现的像差。

对准光轴,并通过细调焦距使图像更加清晰。

10.记录和分析:在观察过程中,可以使用数码相机或其他记录设备记录显微镜观察到的图像。

根据需要,你可以对这些图像进行后续分析和处理。

在操作过程中,还应注意以下事项:-不要使用手指直接触摸物镜和目镜,以免污染或损坏镜片。

-在照明光源的使用中要注意安全,避免照射到眼睛。

-清洁显微镜的镜片和货架,以保持它们的清洁和良好的工作状态。

-在不使用时,将显微镜保持在封闭的状态下,并存放在干燥和安全的地方。

偏光显微镜具体操作过程

偏光显微镜具体操作过程

§1 、偏光显微镜的构造目镜镜座镜臂镜筒物镜勃式镜物台光圈调节物镜旋转盘目距调节板下偏光镜物台升降粗动螺旋(粗调)物台升降微动螺旋(微调)物镜中心校正螺丝上偏光镜试板镜架目镜上偏光镜物台电源开关勃氏镜调焦杆物镜转盘物镜OLYMPUS BX-41型偏光显微镜结构粗、微动镙旋勃氏镜亮度调节钮下偏光与聚光系统视场光阑双筒目镜目镜调焦环可调视角目镜镜筒10倍宽视野目镜上偏光镜(检偏器)上偏光镜方向调节环调节环固定旋钮勃氏镜系统勃氏镜调焦杆勃氏镜拉杆上偏光拉杆物镜转盘、物镜与试板插孔试板插孔与试板物镜转盘与物镜云母试板、石膏试板和石英楔物台及物台中心校正旋钮物台中心校正旋钮物台固定镙丝下偏光镜(起偏器)与聚光系统锥光聚光镜旋钮聚光系统升降旋钮孔径光阑调节杆下偏光镜视场光阑与滤色片蓝色滤色片视场光阑调节环电源开关与光强度预制钮电源开关电源指示灯光强度预制钮升降物台的粗、微动镙旋粗动镙旋微动镙旋光源亮度调节旋钮输出电压调整范围为0-6V二、偏光显微镜观测前的调节与校正一、装卸镜头1、装目镜将选用的目镜插入镜筒,并使其十字丝位于东西、南北方向。

2、装卸物镜因显微镜类型不同,物镜的装卸有下列几种情况:弹簧夹型、转盘型、螺丝扣型。

二、调节照明(1)装上低倍或中倍物镜,打开锁光圈,轻轻推出上偏光镜、勃氏镜及聚光镜勃式镜上偏光镜2)在无薄片的前提下观察视域中的明暗程度◆明亮:仅使用了下偏光◆全黑:同时使用上下偏光镜,二者振动方向正交。

◆灰白:上下偏光片的振动方不正交,需调节。

三、调节焦距(准焦)1、薄片置于物台之上,且使盖玻片一面朝上。

2、调焦,从侧面看镜筒,转动粗调旋钮,将镜头降至最低位置,若使用高倍镜头,需将镜头降至几乎于薄片接触为止,然后从镜中观测,同时转动粗旋钮缓缓提升镜头至视域内物像基本清楚,在转动微调旋钮,直至视域内物像其清晰为止。

调焦时,绝不能眼晴看着镜筒内二下降镜筒,这样容易压坏薄片。

特别是中高倍镜的调焦要小心物镜压碎薄片。

材料研究方法-偏光显微镜及试样制备

材料研究方法-偏光显微镜及试样制备

常见的试样制备方法
试样制备方法多种多样,包括切割、研磨、腐蚀和电解抛光等。每种方法都 有其适用的材料和实验要求,选择恰当的方法非常重要。
试样制备中需要注意的问题
在试样制备过程中,存在一些常见的问题需要注意,例如样品变形、非均匀 切割和表面污染等。了解这些问题并采取相应的措施,可以提高试样制备的 质量。
材料研究方法-偏光显微 镜及试样制备
材料研究是一门关键的领域,而偏光显微镜及试样制备是其核心组成部分。 本节将介绍偏光显微镜的工作原理和使用方法,并探讨试样制观察材料的结构和性质。它通过偏振光 的作用,可以揭示材料内部的细节。
偏光显微镜的原理和组成部分
结论和总结
通过偏光显微镜及正确的试样制备,研究人员可以深入了解材料的内部结构和性质。这对于材料研究和工程应 用都有着重要的影响。
偏光显微镜由多个组成部分组成,包括偏光器、样品台、偏光片和偏光装置 等。通过调整这些组件,可以实现对材料的不同观察模式。
偏光显微镜的使用方法和技巧
了解正确的使用方法和技巧对于获得准确的观察结果至关重要。掌握焦距的 调节、光源的选择和样品的装配等技巧,可以提高观察效果。
试样制备的重要性
试样制备是材料研究中不可或缺的环节,它直接影响到观察结果的准确性和可靠性。正确的试样制备可以消除 干扰因素,凸显材料的特性。

偏光显微镜制样方法

偏光显微镜制样方法

偏光显微镜制样方法嘿,你想探索微观世界的奇妙吗?那偏光显微镜可是个超酷的工具呢!不过呀,要想用偏光显微镜看得清楚,制样可是个关键步骤,就像厨师做菜,食材处理不好,味道肯定大打折扣。

今天我就来和你唠唠偏光显微镜的制样方法。

我有个朋友叫小李,他刚开始接触偏光显微镜的时候,那叫一个头疼。

他就跟我抱怨:“这制样怎么这么难啊,感觉就像在黑暗里摸索,完全不知道从哪儿下手。

”其实啊,只要掌握了方法,也没那么可怕。

首先呢,咱们来说说粉末样品的制样。

这就像是给小颗粒们排排队,让它们乖乖听话。

如果是比较松散的粉末,那我们可以用一种叫载玻片的东西。

先把载玻片擦得干干净净的,可不能有一点脏东西,不然就像在脏桌子上吃饭一样,看着就不舒服。

然后呢,取一点点粉末放在载玻片的中央。

哎呀,这“一点点”可不好把握,放多了像小山丘,放少了又怕看不见。

小李当时就因为这个,试了好几次。

放好粉末后,再拿一个盖玻片轻轻地盖上去。

这盖的时候可得小心啦,就像给娇嫩的花朵盖被子一样,要轻轻地,不然粉末就全跑了。

如果粉末不太容易散开均匀,我们可以用一根细针来拨一拨,不过这可是个精细活,就像给蚂蚁梳毛似的。

那要是想观察的粉末是悬浮在液体里的呢?这就有点像把小鱼从水里捞出来再放到小盒子里。

我们得先把液体里的粉末混合均匀,就像搅拌咖啡里的糖一样。

然后用滴管吸取一点混合液,滴在载玻片上。

这里的滴管就像魔法棒,要控制好量。

滴好之后,再按照前面说的方法盖上盖玻片。

不过这时候可能会有气泡,气泡就像调皮的小鬼,会干扰我们观察。

要是有气泡怎么办呢?我们可以轻轻地敲一敲载玻片,把气泡赶跑,就像赶跑捣蛋的小动物一样。

再说说块状样品的制样吧。

块状样品就像是一个个小砖头,我们要把它处理成能在偏光显微镜下观察的样子。

如果这个块状样品比较大,那我们就得把它切小一点。

这切割可不容易,就像给大石头做手术一样。

我们得用专门的切割工具,而且要切得很平整。

我记得小李切样品的时候,切得歪歪扭扭的,他自己都笑称这是“抽象艺术”呢。

4 偏光显微镜的基本操作及薄片的制备

4  偏光显微镜的基本操作及薄片的制备

4 偏光显微镜的基本操作及薄片的制备偏光显微镜是对透明矿物的光学性质进行分析和观测的一种光学仪器。

通过这种仪器能够比较迅速地对各种矿物相作出鉴定。

它是对天然矿石、陶瓷制品以及其他人造无机固体材料进行相分析的一种十分有效的工具。

一、实验目的1.了解偏光显微镜的构造、装置、使用与保养方法;2.学会偏光显微镜的一般调节与校正;3.了解薄片制作的全过程,并掌握其中关键步骤的操作。

二、实验原理偏光显微镜的产品种类较多,各类型号虽不尽相同,但基本工作原理相近。

各类产品都是由支架系统、光源和起偏系统、载物台系统、光学放大和检偏系统以及附属光学元件等几大部分组成。

偏光显微镜的构造如图2.3.1-1所示。

图2.3.1-1 偏光显微镜结构示意图1.目镜;2.目镜筒;3.勃氏镜手轮;4. 勃氏镜左右调节手轮;5. 勃氏镜前后调节手轮;6.检偏镜;7.补偿器;8.物镜定位器;9.物镜座;10.物镜;11.旋转工作台;12.聚光镜;13.拉索透镜;14.可变光栏;15.起偏镜;16.滤色片;17.反射镜;18.镜架;19.微调手轮;20.粗调手轮。

三、仪器设备偏光显微镜,切片机,磨片机,抛光机,抛光粉、无水乙醇,不同标号的磨料及砂纸,自凝牙托水、牙托粉,金属模具。

四、实验内容1.了解偏光显微镜的基本构造(1)机械部分:镜座、镜壁、镜筒、升降镜筒的粗动及微调螺旋、载物台、载物台固定螺旋及游标尺、薄片固定夹。

(2)光学系统部分:反光镜、下偏光镜、锁光圈、聚光镜、物镜及校正螺丝、试板孔、上偏光镜、勃氏镜、目镜。

(3)附件:物镜校正螺丝、试板(石英试板、石膏试板、云母试板)。

2.学习装卸物镜物镜一般选用中倍镜,其装卸有两种方法。

(1)弹簧夹型:将物镜上的小钉夹于弹簧夹的凹陷处,即可夹住物镜。

(2)转盘型:先将物镜安装在一个可以转动的圆盘上,再将需要的物镜转到镜筒的正下方,恰至被弹簧卡住为止。

3.调节照明装上物镜与目镜后,轻轻推出上偏光镜与勃氏镜,打开锁光圈,调节光源至理想视域。

中学显微镜实验切片制作步骤

中学显微镜实验切片制作步骤

中学显微镜实验切片制作步骤
制作显微镜实验切片是高中生与实验领域的必修实验,主要目的是想要观测细胞的内部结构,学习细胞的有机功能。

显微镜实验切片制作步骤一般分为准备、技术准备、取材部分及显微镜检查部分。

首先是准备,准备部分需要有抗凝剂、备有消毒工具(包括了精馏瓶、人工心跳机等)、仪器刀、细胞切片玻璃片、显微镜放大镜、软膏,以及固定剂、显微增强剂的材料,使实验能顺利、精准进行下去。

接着是技术准备,这部分需要明确实验需要研究的样本,慎重精心挑选实验样本,尤其在野外取材时,要注意样本的新鲜性,有利于实验的准确性。

紧接着是取材部分,在处理样本时,必须使用消毒工具,保证样品严格消毒,以免样品受到外界环境的污染,影响实验结果的准确性。

并且还要严格控制取材时露出的部分,形成高度纯度的实验切片。

在制备好的切片上,把固体样本置于均匀的软膏室中,然后软膏室内加入抗凝剂进行发泡,这样使样本发生固化,能够增加实验的准确度。

最后是显微镜检查部分,在显微镜上放置固定好的切片,并采用依次加入显微增强剂的方法,在不同放大倍数下,观察机体细胞的细胞结构,细胞形貌及细胞内结构变化与其相应的功能。

因此,按以上步骤仔细细致地完成切片制作,可以使我们获得最优质、最准确的实验数据,帮助我们更加深入地理解细胞的有机功能。

偏光显微镜操作规程

偏光显微镜操作规程

偏光显微镜操作规程《偏光显微镜操作规程》一、概述偏光显微镜是一种通过偏振光来观察样品的微型工具。

它可以提供高分辨率和高对比度的图像,适用于各种生物和材料科学研究领域。

正确的操作规程能够确保偏光显微镜的正常运行并获得清晰的图像。

二、操作步骤1. 准备工作在使用偏光显微镜之前,先检查镜头和样品台是否干净,拧紧调焦手轮,并打开照明灯。

确保照明灯的亮度适中,避免过亮或过暗的情况。

2. 样品准备将要观察的样品放置在样品台上,尽量避免空气泡和灰尘的干扰。

使用装有偏光片的偏光显微镜时,需要将偏光片放置在光路上,并且调整好其方向。

3. 调焦和对比度调整通过旋转调焦手轮,调整镜头与样品之间的距离,直到获得清晰的图像。

然后通过调整偏光片的方向和照明灯的亮度,使得图像的对比度达到最佳状态。

4. 观察和记录通过目镜和物镜观察样品,可利用偏光显微镜来观察样品的各种微观结构和晶体形貌。

如果需要记录图像,可以使用相机或者摄像机连接到显微镜上,保存清晰的图片或视频。

5. 关机使用完偏光显微镜后,将照明灯关闭,将物镜和目镜调至最低位置,擦拭镜头和样品台,然后用镜头帽或者防尘罩盖好。

最后,关闭显微镜电源。

三、注意事项1. 使用过程中要轻拿轻放,避免碰撞和摔落。

2. 对显微镜做好日常维护和清洁工作,确保其长期稳定运行。

3. 观察结束后,及时将样品台和镜头擦拭干净,以防止沉积物和灰尘对显微镜造成损害。

通过遵守上述操作规程,可以有效地使用偏光显微镜,并且获得高质量的观察结果。

同时,需要经常关注显微镜的使用说明和保养建议,确保显微镜的长期稳定运行。

实验室薄片制作

实验室薄片制作

实验室薄片制作岩石为了要在偏光显微镜下观察,首先必须够「薄」,薄到光线可以穿透标本,一般的标准薄片厚度为 30 μm,相当于0.003公分。

由于光线透过矿物时的速度因种类的不同而异,因此,我们可以利用矿物本身的光学特性,作为矿物鉴定的一项重要依据。

实验室制作薄片除了靠灵巧的双手外,还需要依赖精密的仪器作辅助,才能达到既快又好的效果。

以下就介绍实验室制作薄片的几个步骤:1. 切割:将野外所采集的岩石标本,先选取新鲜未风化部分,再用钻石锯片切成符合玻片的适当大小。

由于钻石是目前硬度最高的物质,为了切出各种硬度不同的岩样标本,实验室中锯片和研磨用磨盘均镀上钻石。

2. 磨平:把切好的岩样标本与要胶着的玻片,分别以#600~#1000的碳化硅粉末(Silicon carbide powder)研磨,使岩样切面成为光滑之平面。

检查切面是否平整光滑,可将岩样面向光源,观察其反射是否良好来判断。

3. 上胶:将处理完成的岩样以环氧基树脂(Epoxy)粘着于毛玻璃上,注意上胶前需将接触面以酒精清洁,且在上胶时岩样与玻璃之间不能有气泡产生,以免影响切片时的粘着强度。

上胶后置于固定平台(Bonding jig)上,并以50℃低温烘烤约6~8小时,以便固结、硬化。

4. 切片:待胶硬化后将标本置于薄片切割机(Petro-thin)上切割并磨成100~150μm的厚度,因为切割机转速过快,所以无法切磨成太薄的标本。

5. 研磨:以测微器定出标本厚度,再把100~150μm厚之岩样标本利用真空原理固定在真空吸盘上,然后直接在薄片研磨盘(Lapping plate)上研磨至标准厚度30μm。

6. 拋光:标本若要做微探成分分析,则需将薄片分别用0.3~0.05μm的铝粉拋光液进行拋光。

由于岩石具刚性,所以上述制作过程是将标本先固定在玻片上再切薄,此与生物切片先切薄后,再固定于玻片上的程序刚好相反。

碳酸盐岩的成岩作用及孔隙结构的观察与描述(2学时)一、目的要求1、通过理论课的学习和对教材第十四章的复习,了解碳酸盐沉积物的沉积后作用的主要类型、特征及机理。

偏光显微镜实验报告

偏光显微镜实验报告

偏光显微镜实验报告偏光显微镜实验报告引言:偏光显微镜是一种重要的实验工具,它能够通过光的偏振现象,观察和研究物质的性质和结构。

本实验旨在通过使用偏光显微镜,观察不同材料的偏光现象,深入了解光的偏振特性以及物质的光学性质。

实验步骤:1. 准备样本:我们选择了晶体、液晶和有机物质作为观察对象,并将它们制备成薄片。

2. 调节偏光显微镜:首先,我们调节了偏光片的角度,使其与偏振光的方向垂直。

然后,我们调节了偏光显微镜的偏振器和分析器,使其互相垂直。

3. 观察样本:将样本放置在显微镜的物镜下,调节焦距和光源强度,以获得清晰的图像。

然后,我们转动样本,观察其在不同角度下的偏光现象。

实验结果:1. 晶体的偏光现象:在观察晶体样本时,我们发现当样本转动时,图像的亮度会发生周期性的变化。

这是由于晶体的光学性质导致的,晶体具有双折射现象,使得光线在晶体内部传播时发生偏振分离。

2. 液晶的偏光现象:与晶体不同,液晶在观察时呈现出更加复杂的偏光现象。

当样本转动时,我们观察到图像的亮度不仅发生周期性的变化,还出现了彩色条纹。

这是由于液晶分子的有序排列导致的,液晶具有可控的光学性质。

3. 有机物质的偏光现象:在观察有机物质样本时,我们发现图像的亮度变化较为微弱,但仍然存在一定的偏光现象。

这是由于有机物质的分子结构导致的,其分子在光的作用下会发生旋转和偏振分离。

讨论与分析:通过本实验,我们深入了解了偏光显微镜的原理和应用。

偏光显微镜通过对光的偏振进行控制和观察,使我们能够研究物质的结构和性质。

晶体、液晶和有机物质在偏光显微镜下呈现出不同的偏光现象,这与它们的分子结构和光学性质密切相关。

在实际应用中,偏光显微镜被广泛应用于材料科学、地质学、生物学等领域。

例如,在材料科学中,偏光显微镜可以用来观察材料的晶体结构,判断其性质和质量。

在地质学中,偏光显微镜可以用来研究岩石和矿物的组成和形成过程。

在生物学中,偏光显微镜可以用来观察细胞和组织的结构,研究生物分子的相互作用。

偏光显微镜操作流程

偏光显微镜操作流程

偏光显微镜操作流程偏光显微镜是一种广泛应用于科学研究和工业领域的高级显微镜。

它通过偏振器和偏光镜的组合来产生偏振光,从而可以观察材料的光学性质和结构。

本文将介绍使用偏光显微镜的详细操作流程。

步骤一:准备工作1. 确保操作环境清洁,并戴上适当的实验室安全眼镜。

2. 检查偏光显微镜是否处于关闭状态,如果是的话,打开电源并调整镜筒高度,使其与视线保持平行。

3. 确保显微镜镜头清洁无尘,并用适当的纸巾和显微镜镜片清洗液进行擦拭。

步骤二:样品制备1. 准备待观察的样品,并将其放置在显微镜样品夹上。

确保样品表面平坦且无污染物。

2. 使用显微镜镜头调焦旋钮,将样品移至观察区域的近焦面。

步骤三:光线调节1. 打开显微镜光源,并将其调至适当亮度。

2. 在偏光显微镜上,找到独立于光源的偏光器旋钮,并将其旋转到“关”或“交叉”位置,以消除样品中的任何偏振效应。

步骤四:获取初始观察1. 轻轻调整显微镜镜头调焦旋钮,使观察区域的样品清晰可见。

2. 确保调焦时不要碰触样品或样品夹,以免造成损坏或滑移。

步骤五:加入偏振光1. 慢慢旋转偏光器旋钮,直到观察到最佳对比度和最明亮的样品图像。

这里需要根据具体情况调整,以获得最佳观察效果。

2. 注意,如果样品是有机材料或含有液体部分,需要特别小心旋转偏光器旋钮,以避免样品移动或外泄。

步骤六:旋转偏光显微镜1. 将偏光镜旋转90度,使其与偏光器的振动方向垂直。

这样可以调整光的振动方向,观察样品在不同偏振方向下的变化。

2. 同时,通过旋转样品夹,观察样品在不同角度下的光学性质。

步骤七:测量和记录1. 使用显微镜目镜中的刻度尺或显微镜软件,测量和记录样品的相关性质,如晶体结构、折射率等。

2. 在记录数据时应准确、清晰地标明观察条件,如偏光方向、放大倍数等。

步骤八:清洁和关闭1. 使用纸巾和清洁液轻轻擦拭显微镜镜头,保持其干净。

2. 关闭显微镜光源,并将偏光显微镜处于关闭状态。

3. 归还或妥善存放偏光显微镜和相关配件。

偏光显微镜及薄片制备

偏光显微镜及薄片制备

第一节 偏光显微镜及薄片制备
▪ 4·校正中心
A·在视域内选一小点置于十字丝中心 B·转动物台180度,注意观察小点的位置
和轨迹 C·拧校正螺旋,使小点内移到中心距离的
二分之一 D·手移薄片,使小点回中心。再旋物台,
若小点还有偏移,重复上述操作
▪ 5·校正偏光镜方向
找一块黑云母,置于视域中心

▪ 1·颜色
颜色即晶体薄片中的颜色。是矿物对白光中不同波段选择 性吸收的结果
光波透过薄片,不管矿物如何透明,总要被吸收一部分, 如果均匀吸收,则仅只有强度减弱,薄片不显示颜色,为 无色矿物
若有选择性吸收,则显示被吸收波段的补色 颜色的深浅,取决于矿物对各色光吸收的总强度,强度大
第二节 单偏光镜下的晶体光学性质
▪ 3·解理角的测定
A·选择合适的解理缝:有同时垂直 切面的两组解理的晶体颗粒,即两 组解理都最清楚,升降镜筒都不移 动
B·使一组解理平行目镜的十字丝的 竖线,记下物台的刻度数a
C·旋转物台,使另一组解理平行目 镜的十字丝的竖线。记下计数b。
两组计数之差(a-b)即测的两组解 理的夹角。
第一节 偏光显微镜及薄片制备
一、偏光显微镜的构造
▪ 1、机械部分
镜座:承受重力 镜臂:装镜筒,可倾斜 载物台:承载观察物,可转动,有0~360
度刻度及游标、固定螺丝,中央圆孔,固定 弹簧夹
▪ 2、光学部分
反光镜:有平、凹两面,光线弱或用高倍物 镜时用凹面
下偏光镜:将自然光转变为偏光 锁光圈:调节进光量的大小 聚光镜:将平行光线变为锥光 镜筒:可调节升降,上接目镜,下接物镜,
➢ A·自形晶:晶形完整,呈规则多边 形,边棱为直线
➢ B·半自形晶:晶形较完整,棱部分 直线,部分为曲线

实验一 偏光显微镜的构造及操作

实验一 偏光显微镜的构造及操作

实验一 偏光显微镜的构造及操作
二、方法原理
校正中心方法 将载物台上放置好薄片并调整好焦距, 将载物台上放置好薄片并调整好焦距,在薄片中选择 一质点,移动薄片使该质点位于视域中心的十字丝交点。 一质点,移动薄片使该质点位于视域中心的十字丝交点。 将薄片固定,旋转载物台,若目镜中轴、 将薄片固定,旋转载物台,若目镜中轴、物镜中轴和载 物台旋转轴不一致时,则质点围绕另一中心作圆周运动。 物台旋转轴不一致时,则质点围绕另一中心作圆周运动。 旋转载物台180 180° 使质点移至最大直径处, 旋转载物台180°,使质点移至最大直径处,扭动物镜 上的校正螺丝,使质点移至其旋转圆的圆心。 上的校正螺丝,使质点移至其旋转圆的圆心。再移动薄 片使质点位于十字丝交点,旋转载物台, 片使质点位于十字丝交点,旋转载物台,观察质点的运 动轨迹,按上述操作反复调整, 动轨迹,按上述操作反复调整,直到质点在十字丝中心 时旋转载物台时,质点不发生偏小运动为止(如图)。 时旋转载物台时,质点不发生偏小运动为止(如图)。
实验一 偏光显微镜的构造及操作
实验一 偏光显微镜的构造及操作
二、方法原理
视域直径的测定 1)对于低倍或中倍物镜的视域 1) 对于低倍或中倍物镜的视域 直径,可用透明三角板直接测定 直径, 对于高倍物镜的视域直径, 2) 对于高倍物镜的视域直径, 可用物台微尺测定。 可用物台微尺测定。 对于带有刻度的目镜, 3) 对于带有刻度的目镜,可直接测定
实验一 偏光显微镜的构造及操作
一、目的要求 通过偏光显微镜的构造及操作实验, 通过偏光显微镜的构造及操作实验,让学 生掌握偏光显微镜的构造和正确的操作方法。 生掌握偏光显微镜的构造和正确的操作方法。 要求学生掌握实验使用型号的偏光显微镜各部 件的位置和作用,学会调整焦距和校正中心。 件的位置和作用,学会调整焦距和校正中心。

偏光显微镜使用方法说明书

偏光显微镜使用方法说明书

偏光显微镜使用方法说明书一、产品简介偏光显微镜是一种重要的显微镜类型,广泛应用于各个科学领域和工业生产中。

通过使用偏光片和缅光片,偏光显微镜可以观察和分析材料样品的光学性质和结构。

本说明书将为您详细介绍偏光显微镜的使用方法,以帮助您充分发挥其功能。

二、安装与调整1. 将偏光显微镜放在平稳的工作台上,并确保其稳定性。

2. 根据具体需要,安装适当的镜头和滤光片。

3. 通过调节光源亮度,确保样品得到足够的光照。

4. 使用调节旋钮,将物镜和目镜调整到适当的位置,以便观察和调焦。

三、样品准备1. 准备样品,并保证其干净和平整。

2. 如果需要,可以使用切片机或其他切割工具将样品制备成薄片。

3. 对于液体样品,将样品滴在载玻片上,并用盖玻片封闭。

4. 对于固体样品,将其直接放置在载玻片上。

四、观察和调节1. 打开偏光显微镜电源,并调整光源亮度到适宜的水平。

2. 将制备好的样品置于镜台上,并使用样品夹固定。

3. 通过调节聚光镜,将光线聚焦在样品上。

4. 选择适当的放大倍数,观察样品的显微结构。

5. 通过旋转偏光片和缅光片,观察样品在不同偏光角度下的显示效果。

6. 使用焦度调节旋钮,使图像清晰聚焦。

7. 根据需要,可以通过调节样品的位置和旋转角度来观察样品的不同部分或者进行光学测量。

五、维护与注意事项1. 使用完毕后,关闭偏光显微镜电源。

2. 清洁镜头和载玻片时,使用干净柔软的纸巾或者棉签轻轻擦拭,避免使用刷子或者粗糙的材料。

3. 避免触摸光学器件,以防指纹和污渍影响观察效果。

4. 长时间不使用时,应将偏光显微镜存放在干燥、无灰尘的环境中。

5. 避免将偏光显微镜暴露在高温、潮湿和强磁场等环境中,以防损坏。

六、故障排除1. 若观察到图像不清晰,可以通过调节目镜和物镜的位置来改善聚焦效果。

2. 若镜头有污渍或者指纹,使用干净柔软的纸巾或者棉签轻轻擦拭。

3. 若光源不亮或者出现闪烁,检查电源和连接线是否正常,如有问题请联系售后服务。

偏光显微镜使用方法

偏光显微镜使用方法

偏光显微镜使用方法偏光显微镜是一种常用的显微镜,常用于材料科学、地质学、生物学等领域的观察和研究。

它通过使用偏振光原理来增强对样品的细节和结构的观察。

使用偏光显微镜的第一步是准备样品。

样品应被制备成适合显微镜观察的薄片。

对于固体样品,可以使用切片机将其切割成薄片,然后使用研磨机将其研磨至适当的厚度。

对于液体样品,可以将其放置在载玻片上,并覆盖一个薄片作为盖玻片。

在准备好样品后,将载玻片放置在偏光显微镜的样品台上。

确保样品台水平,并固定好载玻片,以避免在观察过程中发生移动。

接下来是调整偏光显微镜的光源。

打开光源开关,并调节光源的亮度,使样品表面均匀受到光照。

在这一步中,还需要选择合适的滤光片,以过滤掉不需要的光线,以确保观察到的图像清晰。

完成光源调整后,需要调整偏光片。

偏光片位于偏光显微镜的光路中,用于控制光的偏振方向。

通过旋转偏光片,可以调整光的偏振方向,以增强样品对偏振光的响应。

在调整偏光片时,可以观察到样品在不同偏振方向下的不同颜色和对比度变化。

调整好偏光片后,可以通过调节目镜和物镜来对样品进行对焦。

首先,通过调节目镜,使样品表面清晰可见。

然后,通过旋转物镜,逐渐增加放大倍数,直到达到所需的观察放大倍数。

当样品清晰可见且达到所需的放大倍数后,可以开始观察和记录图像。

可以使用目镜上的调焦轮来微调对焦,以获得更清晰的图像。

在观察样品时,可以通过旋转偏光片来改变光的偏振方向,以观察样品在不同偏振方向下的光学性质和结构。

除了观察样品的形态和结构外,偏光显微镜还可以用于观察样品的偏光特性。

通过观察样品在不同偏振方向下的偏光现象,可以获得关于样品的光学性质和结构的信息。

在观察和记录完图像后,应关闭光源,并小心取下样品。

如果需要继续观察其他样品,请将之前的样品取下,并将新样品放置在样品台上,然后重复之前的步骤。

总结一下,使用偏光显微镜的步骤包括准备样品、调整光源、调整偏光片、对焦、观察和记录图像。

通过正确操作和调整,可以获得清晰的图像,并获得关于样品形态、结构和光学性质的信息。

偏光显微镜下岩石薄片的制作

偏光显微镜下岩石薄片的制作

偏光显微镜下岩石薄片的制作刘文娟沈阳科晶目录一、摘要 (2)二、关键词 (2)三、引言 (2)四、实验步骤 (2)(一)概述 (2)流程图 (3)(二)详细操作 (4)1、切割制成小方块 (4)2、研磨抛光 (4)3、清洗 (5)4、粘接固定 (5)5、干燥 (5)6、切割薄片 (5)7、研磨抛光 (6)8、加盖玻片 (6)五、总结 (7)1、单偏光系统鉴定的主要内容 (7)2、正交偏光系统鉴定的主要内容 (7)3、锥光系统鉴定的主要内容 (7)偏光显微镜下岩石薄片的制作一、摘要:以机械加工的形式(切割与研磨),将户外采集的岩石矿物制作成可在偏光显微镜下观察的薄片(≤0.03mm),从而实现对岩石矿物的定性分析。

二、关键词:矿物岩石切割粘接研磨抛光清洗薄片三、引言:矿物是地壳中的元素在各种地质作用下由一种或几种元素结合而成的天然单质或化合物。

矿石是从矿体中开采出来的,从中可提取有用组分(元素、化合物或矿物)的矿物集合体。

岩石是天然产出的具稳定外型的矿物或玻璃按照一定的方式结合而成的集合体。

在20世纪60年代以前,分析岩石矿物的主要成分,都是以传统的化学分析为主,随着分析技术的进步,多种仪器分析技术得到迅速发展,逐渐结束了以化学分析为主的历史。

最简单的分析方式却是根据其所含矿物的物理性质来判断其组成成分。

矿物的物理性质有形状(宏观与微观)、颜色、条痕、光泽、硬度(莫氏硬度)、解理、断口、相对密度等,所以观察矿物的宏观物理性质,或将矿物进行简单的机械处理再放置在偏光镜下观察,就可以实现矿物的定性分析。

本文以萤石矿作为例子,介绍萤石原料经过切割、研磨、抛光等过程制作成可在偏光显微镜下观察的样片。

四、实验步骤:原始萤石矿→切割制成小方块→单面研磨抛光(清洗)→粘接固定→切割薄片(0.5mm)→研磨减薄(0.03mm)→加盖玻片→偏光镜观察(一)概述:原始萤石较大,不便于观察,所以要将原始矿物切割成25mm×25mm×5mm 小块,再将25mm×25mm的面进行简单的研磨抛光处理。

第四章 偏光显微镜

第四章  偏光显微镜

3. 他形晶:晶体无一定晶形,形态不规则 (图4-9c),他形晶是析晶晚或结晶中心 多,且析晶很快的矿物。例如快冷熟料中 的C3A、C4AF和石英等。
常见的晶体形态为粒状、针状、柱状、 板状、片状等。集合体形态有颗粒状、纤 维状、鳞片状、放射状、球粒状、树枝状、 羽毛状等。
二. 解理及解理角
1. 解理:晶体沿着一定方向裂开成较光滑 面的能力称为解理,裂开的面称为解理 面。有解理的晶体,解理的组数、方位及 解理角等亦不同,因此利用解理可以鉴别 晶体。晶体的解理在薄片中是一些平行或 交叉的细缝(解理面与切面的交线),故 称为解理缝。
2. 多色性及吸收性: 具有颜色的光性均质体晶体,其颜色及颜
色浓度不会因晶体方向的改变而变化。但是 对于具有颜色的光性非均质体晶体,其颜色 及颜色浓度均随晶体方向的改变而变化,晶 体颜色随方向变化的现象叫多色性,晶体颜 色浓度随方向变化的现象叫吸收性。
因光率体集中反映了晶体各方向上的光 学特性,故一般可借用光率体的主轴来表 示与方向有关的多色性和吸收性。
5. 偏光镜的校正: ① 将目镜十字丝放在东西、南北方向上。
② 推出上偏光镜,使薄片中黑云母的解理 缝平行于某一十字丝,转动下偏光镜, 使黑云母的颜色达最深(图4-6)。
③ 推入上偏光镜,拿掉物台上的薄片,看 视域是否全黑,如不全黑,可转动上偏 光镜,使视域达全黑为止。
三. 薄片的制备
在偏光显微镜下研究矿物晶体、岩石 及其它无机材料的光学性质及显微结构 时,主要是将这些材料的试样制成薄片 (0.03mm)或超薄片(0.01mm), 将 这些薄片置于物台上,即可进行透射光 的研究(图4-7)。
为了要得到清楚的贝克线,观察时应适当 缩小光圈,把入射角较大的光线挡去;聚光 镜适当下降或移去。无色透明矿物线清晰。
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4 偏光显微镜的基本操作及薄片的制备偏光显微镜是对透明矿物的光学性质进行分析和观测的一种光学仪器。

通过这种仪器能够比较迅速地对各种矿物相作出鉴定。

它是对天然矿石、瓷制品以及其他人造无机固体材料进行相分析的一种十分有效的工具。

一、实验目的1.了解偏光显微镜的构造、装置、使用与保养方法;2.学会偏光显微镜的一般调节与校正;3.了解薄片制作的全过程,并掌握其中关键步骤的操作。

二、实验原理偏光显微镜的产品种类较多,各类型号虽不尽相同,但基本工作原理相近。

各类产品都是由支架系统、光源和起偏系统、载物台系统、光学放大和检偏系统以及附属光学元件等几大部分组成。

偏光显微镜的构造如图2.3.1-1所示。

图2.3.1-1 偏光显微镜结构示意图1.目镜;2.目镜筒;3.勃氏镜手轮;4. 勃氏镜左右调节手轮;5. 勃氏镜前后调节手轮;6.检偏镜;7.补偿器;8.物镜定位器;9.物镜座;10.物镜;11.旋转工作台;12.聚光镜;13.拉索透镜;14.可变光栏;15.起偏镜;16.滤色片;17.反射镜;18.镜架;19.微调手轮;20.粗调手轮。

三、仪器设备偏光显微镜,切片机,磨片机,抛光机,抛光粉、无水乙醇,不同标号的磨料及砂纸,自凝牙托水、牙托粉,金属模具。

四、实验容1.了解偏光显微镜的基本构造(1)机械部分:镜座、镜壁、镜筒、升降镜筒的粗动及微调螺旋、载物台、载物台固定螺旋及游标尺、薄片固定夹。

(2)光学系统部分:反光镜、下偏光镜、锁光圈、聚光镜、物镜及校正螺丝、试板孔、上偏光镜、勃氏镜、目镜。

(3)附件:物镜校正螺丝、试板(石英试板、石膏试板、云母试板)。

2.学习装卸物镜物镜一般选用中倍镜,其装卸有两种方法。

(1)弹簧夹型:将物镜上的小钉夹于弹簧夹的凹陷处,即可夹住物镜。

(2)转盘型:先将物镜安装在一个可以转动的圆盘上,再将需要的物镜转到镜筒的正下方,恰至被弹簧卡住为止。

3.调节照明装上物镜与目镜后,轻轻推出上偏光镜与勃氏镜,打开锁光圈,调节光源至理想视域。

4.调节焦距(对焦点)(1)将所观察的薄片置于载物台中心,用薄片夹夹紧(务必使薄片的盖玻片朝上,否则不能做准焦操作)。

(2)从侧面观察,转动粗动调焦螺旋,使镜筒下降或使载物台上升,至镜筒下端的物镜与载物台上的薄片比较靠近为止。

若使用高倍物镜时,必须使物镜几乎与薄片接触为止。

(3)从目镜中观察,转动粗动调焦螺旋,使镜筒缓缓上升,或使载物台缓缓下降,至视域物像基本清楚,再转动微动调焦螺旋,直至视城物像完全清晰为止。

切勿在观察时用粗调手轮调节下降,否则物镜有可能碰到玻片硬物而损坏镜头,特别在高倍时,被观察面(样品面)距离物镜只有0.2~0.5mm,一不小心就会损坏镜头。

准焦以后,物镜前端与薄片平面之间的距离称工作距离(F.W.D.)。

工作距离的长短与物镜的放大倍率有关。

一般说来,物镜的放大倍率愈小,工作距离愈长,物镜的放大倍率愈大,工作距离愈短。

在显微镜的说明书中可以查到不同放大倍率物镜的工作距离。

在调节焦距时,绝不能眼睛看着镜筒而下降镜筒或上升载物台。

因为这样很容易使物镜与薄片相碰,不仅压碎薄片而且易损坏物镜。

使用高倍物镜时,尤应注意。

因为高倍物镜的工作距离很短,准焦后物镜几乎与薄片平面接触。

如果薄片上的盖玻璃向下放时,不仅根本不能准焦,而且最容易压碎薄片及损坏物镜。

初学者最好先使用低倍或中倍物镜准焦后,再换用高倍物镜准焦。

5.校正中心在显微光学系统中,载物台旋转轴、物镜中轴和镜筒(目镜)中轴应当严格在一条直线上,此时旋物台,使十字丝交点的物像不动,其余物像则绕视域中心作圆周运动;如果它们不在一条直线上,旋物台时,视域中心的物像将离开原来的位置,连同其他部分的物像绕另一中心旋转,这个中心代表载物台旋转轴位置。

这样有的物像在旋转过程中转出视域之外,妨碍观察,必须进行校正。

校正中心的具体步骤如下:(1)将簿片置于载物台上,对好焦距之后选一质点置于十字丝中心(图2.3.1-2(a))。

转动载物台360°,若中心不正,质点必绕另一圆点O作圆周运动,该圆心即为载物台旋转的圆心。

显然十字线中心代表物镜中心,而圆圈的圆心S即为载物台中心。

(图2.3.1-2(b))。

(2)旋物台180°,使质点a由十字丝中心移至过圆心的另一端a′处(图2.3.1-2(c))。

(3)扭动校正螺丝,使质点a由a′处移至偏圆心O点。

(4)移动薄片,使质点a移至十字丝交点,旋物台,若质点不动,则中心已经校好;否则须按上述方法重复校正直到完全校好为止。

6.偏光显微镜的校正从光源射出的光线通过两个偏振镜时,如果起偏镜与检偏镜的振动方向相互平行,即处于“平行检偏位”的情况下,则视场最为明亮。

反之,若两者互相垂直,即处于“正交检偏位”的情况下,则视场完全黑暗,如果两者倾斜,则视场表明处中等强度的亮度。

由此可知,起偏镜所形成的直线偏振光,如其振动方向与检偏镜的振动方向平行,则能完全通过;如果偏斜,则只能通过一部分;如若垂直,则完全不能通过。

在正交情况下,视场是黑暗的,如果被检物体在光学上表现为各向同性(单折射体)无论怎样旋物台,视场仍为黑暗,(此称为全消光)这是因为起偏镜所形成的直线偏振光的振动方向不发生变化,仍然与检偏镜的振动方向互相垂直的缘故。

若被检物体中含有双折射物质,则这部分就会发光,这是因为从起偏镜射出的直线偏振光进入双折射体后,产生振动方向互相垂直的两种直线偏振光,当这两种光通过检偏镜时,由于互相垂直,或多或少的可通过检偏镜,就能看到明亮的象。

光线通过双折射体时,所形成两种偏振光的振动方向,依物体的种类而有不同,双折射体在正交情况下,旋物台时,双折射体的象在360°的旋转中有四次明暗变化,每隔90°变暗一次,变暗的位置是双折射体的两个振动方向与两个检偏镜的振动方向相一致的位置,称为“消光位置”,从消光位置旋转45°,被检物体变为最亮,这就是“对角位置”,这是因为偏离45°时,偏振光到达图2.3.1-2 校正中心步骤示意图(a)移动薄片(b)转载物台360。

(c)转载物台180。

该物体时,分解出部分光线可以通过检偏镜,故而明亮,根据上述基本原理,利用偏光显微术就可能判断各向同性(单折射体)和各向异性(双折射体)物质。

(1)确定下偏光镜的振动方向。

将具有黑云母的薄片置于载物台,夹好薄片对焦后,找出具有极好完全解理缝的黑云母,置于视域中心,转动载物台,至黑云母颜色最深。

注意黑云母解理缝是否与目镜十字丝之一平行,若不平行,物台,使黑云母解理缝平行于目镜十字丝之一,旋转下偏光镜,至黑云母颜色最深为止。

(2)检查上、下偏光镜是否正交。

推入上偏光镜,若视域黑暗,证明上、下偏光镜振动方向正交;如果视域不黑暗,则按仪器偏光调节方式调节偏光振动方向,直至上、下偏光镜振动方向正交、视域黑暗为止。

(3)检查目镜十字丝是否严格与上、下偏光镜振动方向一致。

①将具有黑云母的薄片置于载物台,对焦,使黑云母解理缝平行于目镜十字丝之一。

②推入上偏光镜,若黑云母变暗,说明目镜十字丝与上、下偏光镜振动方向一致;如果黑云母不全黑,转动载物台,使之黑暗,推出上偏光振动目镜,使黑云母解理缝平行于目镜十字丝之一,则十字丝与上、下偏光镜振动方向一致。

样品制备方法制样要求1)块状样品:将块状样品的一面抛光或制成0.3mm厚度的薄片;2)粉末样品:将粉末样品磨细,与溶剂混合分散,滴在载玻片上制成样片即可用于观察。

1.薄片的制备(1)选样:根据实验目的选择合适的、具有代表性的材料部位。

(2)切割:根据材料的特点,选择圆或外圆切片机。

尺寸不宜过大或过小,一般为20mm×20mm×5mm左右。

(3)磨平底面:选样后,取较为平整的一面作为底面,在研磨机上用手工或机器逐次选用200#、600#、1000#金刚砂磨平该面,并将四周磨平整,厚度磨至1~2mm。

(4)粘胶:使用加拿大树胶将样片粘于载玻片上。

该种胶在粘接中要加热,但时间不能过长或过短,过短胶性软,过长往往使胶变脆,样品易于脱落。

(5)磨薄:将胶粘在载玻片上的试样放在研磨机上用200#砂磨至0.10~0.15mm,再依次换用600#、1000#、金刚砂磨至0.03 mm即可。

(6)整片盖片:试样磨好后,为保存样品,必须进行薄片的修整工作。

先用刮刀刮去试样四周多余的加拿大树胶,然后将少许加拿大树胶滴在盖玻片上,微微加热待树胶融化后即可覆盖于薄片上。

(7)烫胶:盖片后的薄片,因加拿大树胶尚未固化,盖片可以移动,因此必须进行烫胶。

其方法是:取一把刻刀放在煤气灯上加热至发红,用它在盖玻片四周熨烫,直至树胶颜色略黄,再用酒精或二甲苯洗去盖玻片四周的树胶,贴上标记即可。

2.单偏光下晶体的性质在单偏光下观察、测定晶体的主要光学特征,有以下三方面容:(1)矿物的形貌特征,如晶形、解理;(2)与矿物对光波吸收有关的光学性质,如颜色、多色性等;(3)与矿物折射率有关的光学性质,如突起、糙面、边缘、贝克线等。

五、结果处理与讨论1. 针对基本操作归纳实验要点;2. 在校正中心时、转动校正螺丝,如何使质点a移至偏心圆中心而不移至十字丝交点。

六、注意事项调节焦距使物镜下降时,务必从旁边看着镜头转动螺丝,以防镜筒下降过度而使镜头抵压到试样;造成物镜损坏。

有无消光现象,是否均质体。

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