SPC培训试题(答案)

合集下载
  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

SPC培训考试

部门:姓名:分数:

一﹑填空题﹕(每空0.5分﹐共25分)

1.SPC是英文StatisticalProcessControl的前缀简称,即统计过程控制,也称为统计制程管制。

2.CL表示_管制中心限_;UCL表示_上控制界限__;LCL表示下控制界限。

3.Ca表示__准确度__;Cp表示__精密度_;CPK表示制程能力。

4.

5.

6.

7.

8.

9.

10.

11.

12.

13.

14.

15.

16.

17.

18.

19.

20.当X-MR图中有连续9个点落在中心线同一侧时,说明过程处于失控状态。

21.当控制图中有连续14点交替升降时,说明过程处于失控状态。

22.当控制图中有连续6点上升或下降时,说明过程处于失控状态。

23.“σ?”指标准差,是用来衡量一个总数里标准误差的统计单位。

24.在“3σ”原则下,控制点落在μ-3σ到μ+3σ之间的概率是99.73%。

25.SPC执行成功的最重要条件是Action,即针对变差的特殊原因和普通原因分别采取措施。

二﹑选择题﹕(每题1分﹐共15分)

1.将收集的测定值或数据之全距分为几个相等区间作为横轴,并将各区间内之测定值所出现次数累积而成的面积以条状方式排列起来所产生的图形,称之为B。

A:.柏拉图B:直方图C:管制图D:层别法

2.以下哪种直方图的形态表现为缺齿形B。

A

3.以下几种原因﹐哪种不属于普通原因D。

A:原料之微小变异B:机械之微小振动C:仪器测定时不十分精确之作法D:新手之作业员4.生产部生产某一产品时,用快速检测夹具检测高度和同轴度,应该使用(B)控制图

A.

5

A.不良B.缺陷

6

A.

7

A.自动粘和机B.

8.(a)

(c)个数据以上。

件,每班填写一张能力测算表单。

(ad)符合客户要求。

<1.33d.CPK≥1.33e.CPK<1.33

(a)法。

c.柏拉图

d.直方图

13.对过程能力进行持续不断地改善,具体可以系统性从以下(ab)方面入手。

a)调整过程加工之分布中心,减少偏移量。

b)提高过程作业水平,减少分散程度。

c)修正上下控制限范围。

14.当客户有要求较高或较低之过程能力时,应在相应的(b)予以注明。

a.FMEA

b.控制计划

c.作业指导书

d.特殊特性清单

15.(a)负责进行过程能力统计以及数据分析。

a.质检部

b.生产部

c.技术部

d.采购部

e.市场部

三﹑判断题(对√,错×;每题1分,共15分)

1.(X)做初始能力研究时,Cp大于1.33,这台机器能力可以接受了。?

2.(X)只有超出USL和LSL才需要采取措施。

3.(X)没有超出控制界限的点,过程能力是可接受的。

4.(X)特殊特性的选择应由企业按产品/过程中特性的重要程度来制定,并没有绝对的正确与否。5.(X)在绘制控制图时,不管采取何种方法,均应注意控制图应能显示过程受控,否则不能计算过程能力。?

6.(X)P图控制法适用于对所有的计数型数据做统计过程控制。

7.()1924年,美国的品管大师休哈特博士提出将3Sigma原理运用于生产过程当中,并发表了着名的“控制图法”(亦称为:Shewhart控制图或3σ控制图。即:一种以实际产品质量特性与依过去经验所分析的过程能力的控制界限比较,而以时间顺序表示出来的图形)。通过对过程变差进行控制,为统计质量管理奠定了理论和

8.(X)因为X(bar)-R图最为精确和敏感

9.

10.(X)当过程能力较高时,

11.

12.(X)Ppk

13.()

14.(X)

15.()重要过程事件(如工具变更,机器修理等

?=R/d2来估计。

?S来估计。

4.过程:

一组将输入转化为输出的相互关联或相互作用的活动。过程是向过程的顾客(内部的和外部的)提供产品或服务

的增值活动链。

注:A)一个过程的输入通常是其它过程的输出。

B)组织为了增值通常对过程进行策划并使其在受控条件下运行。

C)过程的资源通常包括:人员、资金、设施、设备、材料、技术和方法。

5、过程能力:

一个稳定过程的固有变差(6?:R/d2)的总范围。

6、Cpk(稳定过程的能力指数):

为一稳定过程【某一天、某一班次、某一批、某一机台其组内的变差(R-bar/d2orS-bar/C4)】短期下的“能力指

数”,计算时须同时考虑过程数的趋势及该趋势接近于规格界限的程度。即:通常定义为CPU 或CPL

中的最小值。

7、Ppk (性能指数,即初期过程的性能指数):

为试生产阶段一项类似于Cpk 的能力指数,某一产品长期监控下的“能力指数”;但本项指数的计算,是以新产

品的初期过程性能研究所得的数据为基础。即:通常定义为PPU 或PPL 中的最小值。

8、PPM (质量水准,即每百万零件不合格数):

指一种根据实际的有缺陷材料来反映过程能力的一种方法。PPM 数据常用来优先制定纠正措施。

9、Xbar ,R ,σ(需列出计算公式):

Xbay :均值(一般指子组均值);

R :极差,i i MinX MaxX R -=

σ:标准差,122--∑==n X X d R i )(或σσ

10、正态分布:五、问答题(每题5分,共15分)

1

(X-RChart);

(X-?Chart); ③、中位数与极差控制图(Chart);

④、个别值与移动极差控制图(X-Rmchart);

⑤、最大值与最小值极差控制图(L-Schart)。

常用的四种计数型控制图的简称为:

①、不良率控制图(Pchart);

②、不良数控制图(Pnchart,又称npchart 或dchart);

③、缺点数控制图(Cchart);

④、单位缺点数控制图(Uchart)。

R X -~

相关文档
最新文档