TEM电镜操作说明
TEM操作步骤及注意事项
精品文档FEI TECNAI20透射电镜目录电镜操作面板................. - 2 - 使用步骤：................... - 4 -一.放置样品................ - 4 -二.合轴.................... - 4 -三.拍形貌.................. - 5 -四.踩带轴.................. - 6 -五、拍衍射................. - 6 -六、能谱分析............... - 7 -七、高分辨................. - 7 -八、拔样品杆及关机......... - 8 -电镜操作面板镜筒注意事项1. 使用电镜时，首先要观察电镜的状态。
2. 有黄色背景的按钮，要谨慎。
3. 观察一系列数值，包括：最佳电流值、Spot size 、样品各坐标是否都归零等。
使用步骤：一.放置样品1.放样品时，夹子不能碰到银环，放置后，用手振动玻璃管，使样品至中间状态，然后用螺丝帽压紧（不可过紧，固定住即可）2.插入样品杆时，要使杆上小柱的位置对准左上角螺丝，插至凹槽完全进入，然后连上数据线。
确认在双束（双倾台不是双束）下，点两下回车。
打开抽真空示意图→Vacuum Overview，开始抽真空。
3.两次抽真空完毕后，逆时针旋转小柱对准Close，插入。
抽真空共分成两段时间，第二个倒计时结束后，即红灯一灭，必须在20秒内将样品杆逆时旋入。
旋入样品杆时，要一手拿着，一手托着，放置进入过快。
然后点Tube on。
然后点Col Values Closed。
检查4．关灯，取下蒙皮。
5.点击→Search，即可看到样品所在位置。
开始找样品中心空洞。
二.合轴1.在Spot size为1，低倍（6200X或8700X）下找到薄区（朝着光亮处找）。
然后调焦。
选择最佳物镜电流值92.5854（按Eucentric focus）。
透射电子显微镜使用说明书
透射电子显微镜使用说明书一、介绍透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, TEM）是一种高性能的显微镜，通过使用电子束而非光束，可以提供高分辨率的样品图像。
本使用说明书将详细介绍透射电子显微镜的使用方法，以帮助您正确操作该设备。
二、安全操作指南1. 请确保在操作透射电子显微镜之前，您已经受过相关培训并明确了安全操作指南。
2. 使用透射电子显微镜时，请务必佩戴适当的个人防护装备，包括眼镜、手套和防护服。
3. 在操作过程中，严禁将任何物体直接接触到样品表面，以免损坏样品或损伤设备。
4. 当调整透射电子显微镜参数时，请小心操作，避免过度拉伸或扭曲设备部件。
三、样品准备1. 在进行透射电子显微镜观察之前，样品应该经过适当的预处理和制备。
例如，必要时使用透明薄膜包裹样品，以防止样品受到污染。
2. 样品应该足够薄，并且尺寸适中，以确保电子束能够透射样品并产生清晰的图像。
3. 在将样品放置在透射电子显微镜上之前，请确保样品表面干净且无杂质，并注意避免静电带来的干扰。
四、设备操作1. 打开透射电子显微镜之前，请先确认所有电线和连接器已正确插入并固定。
2. 根据需要，选择适当的电子束加速电压和焦距，以获得所需的图像清晰度。
3. 在操作设备时，请遵循制造商提供的操作手册，以确保正确的设备设置和参数调整。
4. 当使用透射电子显微镜时，应避免长时间持续使用，以防止设备过热或电子束损坏样品。
五、图像捕获与分析1. 在透射电子显微镜观察过程中，可以使用相机或其他图像捕获设备记录图像或视频。
2. 使用图像分析软件来处理和分析捕获的图像，以获得所需的数据和结论。
3. 在进行图像分析之前，请确保校准所有测量工具，以保证测量结果的准确性和可靠性。
六、设备维护和清洁1. 在每次使用透射电子显微镜之后，请仔细清理设备表面，以去除样品残留物和有害物质。
2. 定期检查设备的电线和连接器，确保其处于良好状态，没有磨损或损坏。
TEM操作步骤及注意事项
FEI TECNAI 20透射电镜目录电镜操作面板...................................... - 2 - 使用步骤：.......................................... - 4 -一.放置样品 ..................................... - 4 -二.合轴 ............................................. - 4 -三.拍形貌 ......................................... - 5 -四.踩带轴 ......................................... - 6 -五、拍衍射 ...................................... - 6 -六、能谱分析 .................................. - 7 -七、高分辨 ...................................... - 7 -八、拔样品杆及关机 ...................... - 8 -电镜操作面板镜筒注意事项1. 使用电镜时，首先要观察电镜的状态。
2. 有黄色背景的按钮，要谨慎。
3. 观察一系列数值，包括：最佳电流值、Spot size 、样品各坐标是否都归零等。
使用步骤：一.放置样品1.放样品时，夹子不能碰到银环，放置后，用手振动玻璃管，使样品至中间状态，然后用螺丝帽压紧（不可过紧，固定住即可）2.插入样品杆时，要使杆上小柱的位置对准左上角螺丝，插至凹槽完全进入，然后连上数据线。
确认在双束（双倾台不是双束）下，点两下回车。
打开抽真空示意图→Vacuum Overview ，开始抽真空。
3.两次抽真空完毕后，逆时针旋转小柱对准Close ，插入。
抽真空共分成两段时间，第二个倒计时结束后，即红灯一灭，必须在20秒内将样品杆逆时旋入。
高分辨电镜(TEM)分析操作指南
JEM2100F操作注意事项：1.抽拔样品杆时置KV档，抽真空<2×10-5Pa才可以开beam阀。
2.抽拔样品杆1）先置KV档2）将样品杆归零（如果是双倾台，拔下Y线）3）抽拔样品杆到不能动位置向内旋置顶端再抽拔一次再旋置顶端4）真空开关调下，听到放气声再全部拔出。
3.关机时，降高压160KV，即Stand By.4.下班前烘液氮：插加热棒；调KV档;maintenance--ACD Bake---ACD heat: on 开机步骤1：如果开始的光斑不是一个，而是多个类似衍射斑点的话，需要先调整Z方向将光斑缩小成一个点。
步骤2：照明系统合轴2.1. 电子枪合轴：1.开电子枪，按下STD FOCUS，倍率x40k，spot 1，Alpha 3；2.Maintenace---Alignment：调出面板，选择Anode+Gun3.调节DEF/STIG X，Y，直到光斑同心收缩（所有按钮旁边的CRS按键：按亮为粗调，暗为细调）4.关掉Anode2.2 Spot1-spot5合轴（1-5和轴）：1.Maintenance-Alignment 选取DEF Selector-Gun，转动BRIGHTNESS，将光斑束缩小之后，将Spot size 调至1，以Shift X,Y将光斑移到荧光屏中心2. Maintenance-Alignment 选择DEF Select-CLA (condenser lensaperture)，将Spot size 调到5，以Shift X,Y将光斑移到荧光屏中心。
3.重复上面两步，直到光斑不动，保持在中心为止。
2.3 聚光镜光阑校正：将光斑散开到与荧光屏相似大小，通过聚光镜光阑机械位置调节光斑位置到与荧光屏同心：调节Brightness，光斑能够同心收缩2.4 聚光镜消象散：1.顺时针调节Brightness，将光斑散开2.按下Cond STIG，调整DEF/STIG X,Y使光斑呈圆形。
TEM操作顺序
装好试样后，开始操作JEM-2100F的步骤：1、打开beam阀，在LOW MAG下，找到薄区所在的位置；2、在LOW MAG下将放大倍数调至500倍，然后切换至MAG1；3、找到一个薄区，将放大倍数调至2000倍，按下STD FOCUS，再进行调Z的步骤：1）方法一：将试样边沿移至屏幕中心，按下IMAGE WOBB X，试样呈抖动状态，再通过调节，使屏幕中心试样不在抖动为止；2）、方法二：找到试样薄区，逆时针旋转BRIGHTNESS，使电子束汇聚为一点，再通过调节，使各衍射斑点汇聚于同一点；4、将放大倍数调至100K倍（调节放大倍数时，需要同时旋转BRIGHTNESS和MAG/CAM L），并将无试样区域移至屏幕中心，逆时针旋转BRIGHTNESS至电子束呈合适大小内、外圆形；5、按下BRIGHT TILT按钮, 并通过调节SHIFT X和SHIFT Y将电子束移至屏幕中心，再通过调节DEF/STIG X和DEF/STIG Y将电子束的内圆恰好移至外圆的中心（若电压对中过程中，平移与偏转相互影响，则联动比有问题，需要调最新的合轴文件）；6、再按下COND STIG按钮，通过调节DEF/STIG X和DEF/STIG Y将电子束的内圆内的图形调成“奔驰”车标形状；7、逆时针旋转BRIGHTNESS，使电子束的内圆和外圆重合，再在HIGH VOLTAGE CONTROL 界面中点击“ON”，按下F4，通过调节DEF/STIG X和DEF/STIG Y使内外圆同心缩放；8、检查电压对中和聚光镜消象散；9、顺时针旋转BRIGHTNESS，使电子束充满整个屏幕，套取一号聚光镜光阑，将电子束调至屏幕中心（机械对中）；10、再次合轴，将放大倍数调节至400K倍，再次检查电压对中和聚光镜消象散；11、将放大倍数调至100K倍，并将薄区边沿移至屏幕中心，通过调节OBJ FOCUS旋钮，将试样边沿调至为微欠焦（略显白色边沿），再将放大倍数调至400K倍，并将边沿区移至屏幕中心，按下F1，然后打开CCD，并调出傅里叶变换，按下OBJ STIG，通过调节DEF/STIG X和DEF/STIG Y和OBJ FOCUS旋钮（使傅里叶变换为一圆环），得到清晰的高分辨像；12，关闭CCD，再按下F1，将放大倍数调至100K倍，找到感兴趣薄区，并将电子束汇聚于一点，按下SA DIFF 按钮，并将相机常数调至60CM，手动将菊池线的交点移至电子束中心；至此，已完成电镜合轴、消象散、踩带轴的步骤，接下来便可进行选区电子衍射、明场像、暗场像和高分辨像的操作。
TEM-2010操作步骤总结,可借鉴
透射电镜培训‐操作步骤总结先看冷却水水箱温度。
设定值是18℃。
正常在27℃以下都可以，高于27℃的时候，最好灭灯丝关lens，等一段时间，等到水箱温度降低之后，再接着做，以免电镜过热停机。
记录初始真空值以及各种附件。
上样品准备工作：样品杆分为单倾和双倾。
使用V栅样品时，要保证在电镜中V栅正面朝上。
单倾台上V栅的时候，正面朝上；双倾台上V栅的时候，反面朝上。
V栅反面边缘是亮的。
操作步骤：先用洗耳球将工作台面吹干净，将电镜纸摊开，放在合适的位置（离桌面边缘15厘米左右），左手按住纸的中心下部边缘，用洗耳球吹净。
将样品盒拿到合适的位置，打开，左手拿出样品杆，右手将支架取出，注意支架放的位置，支架右端位于电镜纸偏右3/4处，下边缘压住电镜纸的上边缘。
然后将样品杆放在支架上。
注意密封圈要在右边支架外面。
左手拿样品杆尾部，右手抬着样品杆中部，左手放手之后，攀到右手右边，左手抬着样品杆，然后右手扶住托盘，调整位置。
注意事项：样品杆上的帽要拔，不要转，拔的时候右手虎口冲向样品杆，以免拔掉帽之后手碰到样品杆，造成污染。
样品杆放在架子上的时候，不要碰到密封圈。
样品杆的盒子要锁好，移动之前先检查是否锁上。
上下样品的时候要坐着，坐稳。
每做一步都要将用完的东西整理好再做下一步。
怎么稳当怎么做，不要怕麻烦。
样品杆的帽拔掉之后，手不要再从样品杆上面过，要从旁边绕。
上样品杆：条件：1.看零；2.6灯OK；3.各个皮拉尼规的示数位于平衡值；4.离子泵运行指示灯亮。
动作即相应变化：第1步：将测角台上的开关置于pump，真空表置于SPEC 位置，准备好倒计时。
将样品杆上的销与测角台上的槽对好位，缓慢将样品杆送入预抽室，等销进去之后，用右手手掌将样品杆推进去，推到黄灯指示灯亮。
然后等到听到机械泵工作的响声之后，放手。
这时看真空表读数，指针从右向左移动，开始计时20分钟，看绿色指示灯是否亮，这两个条件都满足后，进行下一步。
这一步阀门变化：首先是机械泵抽预抽室，V2,V5B,V13关闭，V14,V12,V21开，之后扩散泵抽预抽室，V14，V12关，V8，V13开。
TEM操作步骤及注意事项
精品文档FEI TECNAI20透射电镜目录电镜操作面板................. - 2 - 使用步骤：................... - 4 -一.放置样品................ - 4 -二.合轴.................... - 4 -三.拍形貌.................. - 5 -四.踩带轴.................. - 6 -五、拍衍射................. - 6 -六、能谱分析............... - 7 -七、高分辨................. - 7 -八、拔样品杆及关机......... - 8 -电镜操作面板镜筒注意事项1. 使用电镜时，首先要观察电镜的状态。
2. 有黄色背景的按钮，要谨慎。
3. 观察一系列数值，包括：最佳电流值、Spot size 、样品各坐标是否都归零等。
使用步骤：一.放置样品1.放样品时，夹子不能碰到银环，放置后，用手振动玻璃管，使样品至中间状态，然后用螺丝帽压紧（不可过紧，固定住即可）2.插入样品杆时，要使杆上小柱的位置对准左上角螺丝，插至凹槽完全进入，然后连上数据线。
确认在双束（双倾台不是双束）下，点两下回车。
打开抽真空示意图→Vacuum Overview，开始抽真空。
3.两次抽真空完毕后，逆时针旋转小柱对准Close，插入。
抽真空共分成两段时间，第二个倒计时结束后，即红灯一灭，必须在20秒内将样品杆逆时旋入。
旋入样品杆时，要一手拿着，一手托着，放置进入过快。
然后点Tube on。
然后点Col Values Closed。
检查4．关灯，取下蒙皮。
5.点击→Search，即可看到样品所在位置。
开始找样品中心空洞。
二.合轴1.在Spot size为1，低倍（6200X或8700X）下找到薄区（朝着光亮处找）。
然后调焦。
选择最佳物镜电流值92.5854（按Eucentric focus）。
TEM透射电子显微镜教程
TEM透射电子显微镜一、制样二、开机1.开循环水：先按下下面的黑色按钮，再按下上面的黑色按钮；2.主机开Col键,开机（软件自启）；三、放样1.出样品杆：向外拉部分杆，顺时针旋转15°，再向外拉部分杆，逆时针旋转30°,红灯亮，松手，拨下Air开关，等红灯灭，完全拉出杆。
（黑色圈以后的部分不能碰到，注意不要碰到杆尖端的钻石）；2.放样：铜网放到四、进样1.杆上的螺丝对准进样孔的凹槽插入，等红灯亮，往上拨Air杆，绿灯亮，顺时针30°推进，然后逆时针15°推进，完成进样。
五、软件操作1.加压：点击右侧第四个HV图标，弹出一个框，在框内选择HV ON,等高压上升到100；2.点亮灯丝：点框内的Filame on(显示为10μA为正常)；3.按下操作键盘的lens reset钮，旋转Brightness钮调整亮度。
右击左侧工具栏Stage,弹出一个框，点击Holder,下拉菜单，选择样品序号。
关掉此框，移动轨迹球，调整倍数寻找样品；4.旋转M钮，放大倍数，若变暗，逆时针旋转Brightness旋钮；5.按下WOB按钮，进行辅助对焦。
如果样品在视野内晃动剧烈，调整样品杆下方的银色金属旋钮（Z轴），直到样品不在晃动；6.右击左侧工具栏CCD，又出来一个框，这个时候要进行调整亮度，使框中最下方的screen density调为-12.点击Run。
7.调节亮度使长方框里的最右侧的红色峰位于框中间位置，然后用Focus聚焦。
准备拍的时候要按灭WOB辅助聚焦按钮，点击Freeze,点save保存图片。
8.如果要在同一倍数下拍，点击Run,继续拍摄。
如果要缩小倍数大范围找样，点Stop,缩小倍数，调节亮度找到合适样品。
六、出样1.点击左侧工具栏HV，在框里点击beam off。
2.出样品杆：向外拉部分杆，顺时针旋转15°，再向外拉部分杆，逆时针旋转30°,红灯亮，松手，拨下Air开关，等红灯灭，完全拉出杆。
TEM-操作规范
查看仪器控制面板上的指示灯（正常情况为On 灯灭，Of 、Vac 和 HT 灯亮）。
A 口口查看样品台的指示灯（正常情况指示灯不亮）检查空调、冷却水机、空气压缩机、不间断电源及其他相关设备仪表的工作状况，确保 其正常运行。
检查实验器材（样品杆、镊子、杜瓦瓶、投影室视窗）是否有损坏。
检查仪器使用日志。
二、登陆用户界面（User In terface ）在登陆界面输入用户名和密码（直接进入，现在没设）。
启动主程序 Tec nai User In terface （一般是开启状态）。
再次检查仪器是否处于正常状况。
确认Column Valves Closed 按钮处于关闭状态（黄色）。
查看真空和高压值是否正常：真空：在Tec nai User In terface 软件中，在 Setup Vacuum 控制面板中：Gun ⑴，Column （6）, Camera （30-32）的压力指示条都应该是绿色的才为正常。
高压：在 TecnaiUser In terface 软件中，在 Setup HighTe nsio n 控制面板中：在正常情况 下，High Tension 指示条为黄色，高压指示值为 200kV （高压平时一直加到 200kV ）。
FEG Control 控制面板中，Op erate 是黄色的（灯丝开启状态）。
查看样品台位置是否正常。
＜注意事项＞1. TEM 操作程序（笔记）检查仪器是否运行正常1. 2. 3.① ② ③d I --I T和 心 1代 ■■ Vrm ■上二^—-3*5 1 石.I I -J 1 I I . r1 绘I I ・■■* . ■■ ▼JnT£M Bn^nt AridSA 逊B[ it 宙.a 二a. 皿*曲 _1. 2. 3. 4. 5. 6. Vacuum 中，Status 显示为COL.V ALVES , Gun 的真空值必须为 1, Column 值必须为6, camera值小于40。
TEM操作步骤及注意事项
FEI TECNAI 20透射电镜目录电镜操作面板...................................... - 2 - 使用步骤：.......................................... - 4 -一.放置样品 ..................................... - 4 -二.合轴 ............................................. - 4 -三.拍形貌 ......................................... - 5 -四.踩带轴 ......................................... - 6 -五、拍衍射 ...................................... - 6 -六、能谱分析 .................................. - 7 -七、高分辨 ...................................... - 7 -八、拔样品杆及关机 ...................... - 8 -电镜操作面板镜筒注意事项1. 使用电镜时，首先要观察电镜的状态。
2. 有黄色背景的按钮，要谨慎。
3. 观察一系列数值，包括：最佳电流值、Spot size 、样品各坐标是否都归零等。
使用步骤：一.放置样品1.放样品时，夹子不能碰到银环，放置后，用手振动玻璃管，使样品至中间状态，然后用螺丝帽压紧（不可过紧，固定住即可）2.插入样品杆时，要使杆上小柱的位置对准左上角螺丝，插至凹槽完全进入，然后连上数据线。
确认在双束（双倾台不是双束）下，点两下回车。
打开抽真空示意图→Vacuum Overview ，开始抽真空。
3.两次抽真空完毕后，逆时针旋转小柱对准Close ，插入。
抽真空共分成两段时间，第二个倒计时结束后，即红灯一灭，必须在20秒内将样品杆逆时旋入。
TEM操作步骤及注意事项教学提纲
精品文档FEI TECNAI 20透射电镜目录电镜操作面板...................................... - 2 - 使用步骤：.......................................... - 4 -一.放置样品 ..................................... - 4 -二.合轴 ............................................. - 4 -三.拍形貌 ......................................... - 5 -四.踩带轴 ......................................... - 6 -五、拍衍射 ...................................... - 6 -六、能谱分析 .................................. - 7 -七、高分辨 ...................................... - 7 -八、拔样品杆及关机 ...................... - 8 -电镜操作面板镜筒注意事项1. 使用电镜时，首先要观察电镜的状态。
2. 有黄色背景的按钮，要谨慎。
3. 观察一系列数值，包括：最佳电流值、Spot size 、样品各坐标是否都归零等。
使用步骤：一.放置样品1.放样品时，夹子不能碰到银环，放置后，用手振动玻璃管，使样品至中间状态，然后用螺丝帽压紧（不可过紧，固定住即可）2.插入样品杆时，要使杆上小柱的位置对准左上角螺丝，插至凹槽完全进入，然后连上数据线。
确认在双束（双倾台不是双束）下，点两下回车。
打开抽真空示意图→Vacuum Overview ，开始抽真空。
3.两次抽真空完毕后，逆时针旋转小柱对准Close ，插入。
抽真空共分成两段时间，第二个倒计时结束后，即红灯一灭，必须在20秒内将样品杆逆时旋入。
透射电镜—TEM
5、严禁将铜网专用镊子用于他处；
6、严禁普BUCT
1、H800透射电镜和FEI电镜使用普通铜网，正反面均可，高分辨透
射电镜（HRTEM）只使用微栅铜网，只有正面滴加样品；
2、样品中尽量洗去有机物或者易分解物质，以免污染电镜； 3、铜网使用完毕后可以用铜网板保存一些时日，以备不时之需，避 免造成浪费； 4、保持镊子与未用铜网的整洁，以免造成污染；
Beijing University of Chemical Technology
透射电镜的使用、注意 事项及禁止操作
使用说明
BUCT
一般选择溶剂作分散剂使颗粒分散成悬浊液,再滴于载网膜上。由于不同材料的 表面性质不同,所用分散剂亦应不同。 1.对分散剂的要求: ① 能与待分析材料相互浸润而不溶解,且不溶解铜网上的支持膜; ② 分散剂有良好的挥发性,且在滤纸上有适当的扩散速度,挥发性能好,能确保纳米粒 子团聚前即粘附于铜网上。 2. 纳米材料分散方法： ① 超声波法 将纳米材料加入分散剂后,用手摇动或搅拌,很难破坏颗粒间的 作用力,因此采用超声波进行超声处理。 ② 表面活性剂法 使用表面活性剂来克服表面能,防止团聚。 3. 磁性材料样品的制备： 由于电镜中的磁透镜由电磁线圈组成，故对磁性颗粒的操作须十分谨慎。磁颗 粒吸附在磁透镜线圈上永久性无法去除。因此磁性样品（含Fe，Co）的样品做透 射，一定要先告知测试员，滴膜后才能测。
TEM-操作规范
TEM-操作规范TEM 操作程序（笔记）1. 检查仪器是否运⾏正常①查看仪器控制⾯板上的指⽰灯（正常情况为On 灯灭，Off 、Vac 和HT 灯亮）。
②查看样品台的指⽰灯（正常情况指⽰灯不亮）。
③检查空调、冷却⽔机、空⽓压缩机、不间断电源及其他相关设备仪表的⼯作状况，确保其正常运⾏。
④检查实验器材（样品杆、镊⼦、杜⽡瓶、投影室视窗）是否有损坏。
⑤检查仪器使⽤⽇志。
⼆、登陆⽤户界⾯（User Interface ）1.在登陆界⾯输⼊⽤户名和密码（直接进⼊，现在没设）。
2.启动主程序Tecnai User Interface （⼀般是开启状态）。
3.再次检查仪器是否处于正常状况。
①确认Column Valves Closed 按钮处于关闭状态（黄⾊）。
②查看真空和⾼压值是否正常：真空：在Tecnai User Interface 软件中，在Setup→Vacuum 控制⾯板中：Gun(1), Column(6), Camera(30-32)的压⼒指⽰条都应该是绿⾊的才为正常。
⾼压：在TecnaiUser Interface 软件中，在Setup→HighTension 控制⾯板中：在正常情况下，High Tension 指⽰条为黄⾊，⾼压指⽰值为200kV （⾼压平时⼀直加到200kV ）。
FEG Control 控制⾯板中，Operate 是黄⾊的（灯丝开启状态）。
③查看样品台位置是否正常。
<注意事项>62001.Vacuum中，Status显⽰为COL.V ALVES，Gun的真空值必须为1，Column值必须为6，camera值⼩于40。
2.如果出现红⾊，数值为99，说明仪器真空破坏，不得进⾏实验。
3.High Tention必须为黄⾊，数值为200kV。
4.FEG中Operate必须为黄⾊。
5.⽆报警符号出现。
6.若样品位置X，Y，Z，A，B不为0，需要进⾏归零。
三、装液氮1.将投影室视窗⽤挡板挡住。
高分辨电镜(TEM)分析操作指南
JEM2100F操作注意事项：1.抽拔样品杆时置KV档，抽真空<2×10-5Pa才可以开beam阀。
2.抽拔样品杆1）先置KV档2）将样品杆归零（如果是双倾台，拔下Y线）3）抽拔样品杆到不能动位置向内旋置顶端再抽拔一次再旋置顶端4）真空开关调下，听到放气声再全部拔出。
3.关机时，降高压160KV，即Stand By.4.下班前烘液氮：插加热棒；调KV档;maintenance--ACD Bake---ACD heat: on 开机步骤1：如果开始的光斑不是一个，而是多个类似衍射斑点的话，需要先调整Z方向将光斑缩小成一个点。
步骤2：照明系统合轴2.1. 电子枪合轴：1.开电子枪，按下STD FOCUS，倍率x40k，spot 1，Alpha 3；2.Maintenace---Alignment：调出面板，选择Anode+Gun3.调节DEF/STIG X，Y，直到光斑同心收缩（所有按钮旁边的CRS按键：按亮为粗调，暗为细调）4.关掉Anode2.2 Spot1-spot5合轴（1-5和轴）：1.Maintenance-Alignment 选取DEF Selector-Gun，转动BRIGHTNESS，将光斑束缩小之后，将Spot size 调至1，以Shift X,Y将光斑移到荧光屏中心2. Maintenance-Alignment 选择DEF Select-CLA (condenser lensaperture)，将Spot size 调到5，以Shift X,Y将光斑移到荧光屏中心。
3.重复上面两步，直到光斑不动，保持在中心为止。
2.3 聚光镜光阑校正：将光斑散开到与荧光屏相似大小，通过聚光镜光阑机械位置调节光斑位置到与荧光屏同心：调节Brightness，光斑能够同心收缩2.4 聚光镜消象散：1.顺时针调节Brightness，将光斑散开2.按下Cond STIG，调整DEF/STIG X,Y使光斑呈圆形。
TEM 操作规程
TEM 操作规程1、接通电源。
2、接通循环冷却水电源。
3、接通电镜电源开关，红灯亮。
4、接通电脑开机键，同时接通显示器开关。
5、输入登陆密码，进入电脑工作界面。
6、待工作界面电镜标识变绿色，点击电镜操作标识登陆。
7、进入登陆操作界面后，接通抽真空开关VAC键，电镜开始抽真空。
8、回答提示栏提出的问题，机器自检。
9、戴震控指示处变为绿色时及相应按键处激活状态时，点击HT按键。
10、从20KV起逐步加HT。
11、检查发射电流的设置是否在适当位置。
12、装入超薄切片：1）首先检查样品室红灯是否处于熄灭状态，红灯亮时不得送样品2）将样品杆销对准白色标识线且水平插入样品室，此时样品室红灯亮3）待红灯灭，逆时针旋转样品杆，将其送入镜筒。
13、观察镜筒真空，当COL在20LOG以下时，点击电镜电流按键。
14、待电流强度升至预先设置的数值后，点击镜筒阀门开关，此开关按键由黄色变为灰色。
15、用放大倍率扭，将放大倍率降到合适位置。
16、用操作盘，左手旋钮控制观察亮度。
17、同时用左手轨迹球控制光斑对中。
18、同时用右手轨迹球移动被观察样品的图象，用聚焦旋钮聚焦图象。
19、消除物镜像散。
20、将要拍照的视野放入观察屏的四框内，调整亮度使曝光时间在3.0秒左右，按左手操作台上的Export键拍照图象。
21、数码摄像。
22、关机：1) 将放大倍率降低，取出样品杆2) 切断灯丝电源3)切断HT4)切断Vac真空开关5)带冷却30分钟后关循环水电源6)推出操作界面7)按电镜开关OFF键红、绿灯同亮。
注意事项：1、必须确认冷却循环水启动无误后，方可进行下一步操作；2、更换样品需由仪器负责人操作，以免发生故障。
工作原理：利用电子射线（或称电子束也称电子波）穿透样品，而后经多级电子放大后成像于荧光屏。
主要优点：分辨率高，可用来观察组织和细胞内部的超微结构以及微生物和生物大分子的全貌。
根据加速电压的大小分为以下3种：1）一般TEM。
完整版TEM高分辨透射电镜讲稿
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?以单相的多晶体薄膜样品为例说明。设：
薄膜内两晶粒 A和 B，其唯一差别在于晶体学位向不同。
?在入射束照射下，B 晶粒的
某(hkl)晶面组恰好与入射束 满足精确的布拉格角θB ，
衍射束
?TEM发展概述
主要内容
?TEM的结构和成像原理
?TEM的样品制备
?影响TEM分辨率的因素
?TEM的应用
一. TEM发展概述
1926年德国科学家Garbor和Busch发现用 铁壳封闭的铜线圈对电子流能折射聚焦， 既可作为电子束的透镜。 1932年德国科学家Ruska和Knoll在前面两 个发现的基础上研制出第一台TEM。
中间镜：
第一中间镜的物平面为物镜的像平面，可观察图像；第一 中间镜的物平面为物镜的焦平面，可观察电子衍射
成像过程图解：
由电子枪发射高能、高速电子束 经聚光镜聚焦后透射薄膜或粉末样品 透射电子经过成像透镜系统成像
激发荧光屏显示放大图像 专用底片/数字暗室记录带有内部结构信息的高分辨图像
透射电镜图像的解读
质厚衬度像
小
明场像
孔
径
电子衍射图 暗场像
成
像
中心暗场像
相位衬度像（高分辨率像）
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透射电镜的小孔径角成像:
?为了确保透射电子显微镜的高分辨本领，采用小孔径角成像。 ?小孔径角成像：是通过在物镜背焦面上沿径向插入一个小孔径的物镜
光阑来实现的，如图所示。
?这样可把散射角大于α的 电子挡掉，只允许散射角 小于α的电子通过物镜光 阑参与成像，增加了图像 的衬度。
衍射束
透射束
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TEM简介
TEM简介1.操作事项（1）检查仪器是否运行正常。
（2）登录用户界面。
（3）装液氮。
①将投影室视窗用挡板挡住。
②戴上手套，将液氮小心地倒入杜瓦瓶中（不要装满），慢慢将铜辫伸入杜瓦瓶中，并将杜瓦瓶安置在支架上。
③将瓶中的液氮装满，并盖上盖子。
④往能谱罐中加满液氮（一般不用此操作）。
（4）装样品。
将待测样品装入样品杆，样品正面需朝下。
样品杆有两种类型：单倾：只能在A方向倾转；双倾：在A，B两个方向都能倾转，如不需倾转样品，请选择单倾样品杆。
①选择单倾样品杆，取下前端套筒。
②检查样品杆尖端以及夹具是清洁干燥的。
③保持一只手顶在样品杆的末端，确保它不会移出套管。
④将（套管支持架上其中一个孔中的）工具插入到夹子前面的孔中，然后提起夹子到最大可能的角度。
⑤将样品正面朝下，放在样品杆尖端圆形的凹槽处。
⑥用工具把夹子小心地降到样品之上，并确保样品保持在正确位置。
样品安全夹子必须小心地放低，否则，样品和夹子会被损伤，将样品杆旋转180o，轻敲套管，确保样品不会掉落。
双倾样品杆：①选择双倾样品杆，取下前端套筒。
②检查样品杆O圈是清洁干燥的。
③保持一只手顶在样品杆的末端，确保它不会移出套管。
④用六角棒将样品固定螺母旋下，并取出垫圈（垫圈可以不用）。
⑤将样品正面朝下，放在样品杆O。
（5）进样。
①再次确认样品的x，y，z，A，B五个坐标近似为零。
如果不为零，点击Holder进行归零。
②确认样品台的红灯熄灭（如果红灯是亮的，应点击Holder，这时红灯就会熄灭）。
③手拿样品杆，将限位突针对准标线，沿轴线平行将样品杆小心插入，向内滑动样品杆直到遇到阻挡。
样品预抽室开始预抽，样品台的红灯亮，预抽开始。
④此时，样品杆不能旋转。
若样品杆能够旋转，说明样品杆没有进到位，应慢慢把样品杆向左、右稍微转动直到完全进到位。
圈内，并确保样品保持在正确位置。
（6）启动场发射枪电流（一直是开启状态）。
（7）启动软件。
（8）开启阀门。
（9）设置共心高度。
透射电镜的使用流程
透射电镜的使用流程简介透射电镜（Transmission Electron Microscope，简称TEM）是一种能够使用电子束来观察物质的高分辨率显微镜。
它可以提供比光学显微镜更高的放大倍数和更高的分辨率，因此被广泛应用于材料科学、生物学和纳米技术等领域。
本文将介绍透射电镜的使用流程。
使用流程1.准备工作–关掉手机等干扰设备，确保安静的实验环境。
–戴上护目镜和手套，确保实验操作的安全。
–确保透射电镜和相关设备处于正常工作状态，并联网（如果需要）。
2.打开透射电镜–打开透射电镜的主机，并等待系统启动。
–检查电子束的亮度和对比度，根据需要进行调整。
3.样品制备–准备样品，并将其切割成薄片，确保透射电镜的电子束可以穿透样品。
–使用显微镜或其他相关设备，将样品转移到透射电镜的样品台上。
4.调整透射电镜参数–使用透射电镜的控制台，调整电子束的聚焦和对准，以确保获得最佳的图像质量。
–根据样品的特点和需要，选择适当的电子束诸如干涉仪或投影仪。
5.开始观察–将透射电镜设置为所需的放大倍数，并将样品移动到电子束的路径上。
–通过电子感应器或激光系统，记录所观察到的图像，可以通过照相机或视频设备进行记录。
6.数据分析和保存–对所得到的图像进行分析和解释，可以使用透射电镜软件进行图像处理和测量。
–根据需要，将数据保存到计算机或其他存储设备中，以备后续分析和研究。
7.关闭透射电镜–使用透射电镜的控制台，将电子束设置为关机状态。
–关闭透射电镜的主机，并确保所有相关设备也被关闭。
注意事项•在操作透射电镜时，注意避免触摸样品或其中的部分，以免造成污染或损坏。
•当使用透射电镜时，要避免使用过高的电子束能量，以防止样品的热损伤。
•在整个使用流程中，保持实验环境干净和整洁，以确保获得高质量的图像结果。
•在存储和处理数据时，注意合理规划数据的文件结构和命名，以方便后续的管理和使用。
透射电镜是一项复杂而强大的工具，在使用过程中需要谨慎操作，并了解每个步骤的目的和要求。