成像测井方法
合集下载
相关主题
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
3）侵入影响和探测深度 在均匀地层中，侵入对微电阻率扫描成像测井 FMI 测 量 响 应 中 低 频 分 量 的 影 响 类 似 于 对 浅 测 向 （LLs）测量响应的影响，在Rt /Rm =100,Rxo/Rm=3的 无限厚地层中，LLs和井壁微电阻率扫描成像测井的 测量响应随侵入半径rxo 的变化表明，两种仪器探测 深度很接近。 在薄互层中，侵入对井壁微电阻率扫描成像测 井测量响应的影响较之厚层时大得多。在厚6in的地 层中井壁微电阻率成像测井探测深度只有5in。
3、仪器结构 第二代FMS在4个极板上都装有两排钮扣 电极，每排8个共16个电极，4个极板共64个 电极。 对于8 1/2in的井眼，其井壁覆盖率为40%。
电极直径： 0.2in（5mm）
3、仪器结构
全井眼地层微电阻率扫描成像测井仪FMI 4个主极板 ， 4个辅极板 辅助极板可围绕主极板转动，这种设 计有三个特点： ①提高了井壁的覆盖率，改善了极板 与井壁的接触性能。 ②使仪器的直径减小，关腿直径仅为 5in。 ③ 满足不同测井方式的需要，可以提 高测井速度。
eXepress
DPP
一、成像测井概述
成像测井新方法：
微电阻率扫描成像 方位电阻率成像 高分辨率阵列感应/阵列侧向测井 交叉偶极子阵列声波测井 超声井周扫描成像 核磁共振成像测井
成像测井特点
♦ 具有大数据量、高分辨率、高精度的特
点，提供大量的、丰富的地层岩石物理 信息和数据。 ♦ 具有可视化的特点，可以给出井筒周围 地层二维或三维的物理参数图象。通过 软件把地层岩石结构、矿物含量、地层 孔隙、流体组分及其空间分布以图象的 形式展示出来。
微电阻率扫描 高分辨率阵列感应
井下 仪器
Fra Baidu bibliotek
USI CMR CSI
交叉偶极子 多极阵列声波 数字声波井周成像 核磁共振成像
XMAC MAC CBIL MRIL-C
交叉偶极子 阵列声波 井周声波扫描 核磁共振成像
CAST MRIL-P
解释 软件
Geo Fram 软件包： 岩石物理软件包 P包 井眼微地质学包 G包 油藏描述包 RM包 岩石力学参数包 Impact包
配备高分辨率、阵列探测的电、声、核、 核磁等新方法测井仪。 配备一套完整的、适应各类复杂非均质 储层参数定量评价、地质应用、工程应 用的测井解释软件包。
地面 装备 电缆 遥测
三台以太网连接的Micro Vax III+cpi3000阵列处理器计算机 测井系统；实时多任务；智能 接口 500kb/s 微电阻率扫描 阵列感应 阵列侧向 方位电阻率成像 偶极横波成像 超声成像 核磁共振 地震波成像 FMI/FMS AIT ARI DSI
成像测井概述
MAIXS-500
230kb/s
ECLIPS-5700
EXCELL-200
两台IBM RS6000工作站计算机测井 系统； 实时多任务；智能接口
三台以太网连接的HP730工作站计 算机测井系统； 实时多任务；智能接口
217.6kb/s STAR-II HDIL 微电阻率扫描 高分辨率阵列感应 EMI/XRMI
钮扣电极直径:0.16in 钮扣电极间距:0.1in 钮扣电极行距:0.3in 钮扣电极有效直径:0.2in
0.3in
0.16in
3、仪器结构
EMI、STAR-II、MCI
STARⅡ：6个独立的极 板，每个极板24个钮扣电 极，共144个钮扣电极 。 EMI：6个极板，每个极 板25个钮扣电极，共150个 钮扣电极 。 8.5 in的井眼，井壁覆 盖率为59%
一、成像测井概述
成像测井系统的主要特点：
车载高性能计算机系统，网络连接，人机 交互。能实时高速采集大量的测井信息， 能完成刻度、测井、数据处理、显示等多 任务并行处理。 具有高数据传输率的电缆遥测系统，数据 传输率达500kbps，实现井下仪器和地面 设备见得大数据量传输。
一、成像测井概述
成像测井系统的主要特点：
4、影响因素与分辨率
1）电扣几何形状、分辨率、采样率之间关系
仪器的分辨率与极板电扣的几何结构密 切相关。 （1）电扣越小，分辨率愈高； （2）电扣越小，电扣电流Ib越小，Ib／If愈 小，要求仪器灵敏度越高； （ 3 ）电扣越小，电扣井壁之间泥饼厚度对 分辨率影响愈大；
4、影响因素与分辨率
1）电扣几何形状、分辨率、采样率之间关系
（一）微电阻率扫描成像测井
2、测量原理 采用侧向测井的屏蔽 原理。电极与极板绝缘。 由电源给极板和钮扣电极 供相同极性的电流，使极 板与钮扣电极的电位相 等，由电极流出的电流受 到极板的屏蔽作用，沿径 向流入地层。
（一）微电阻率扫描成像测井
2、测量原理 记录每一个钮口电极的电流强度和对应的测 量电位差。
Rt/Rm Ib/If (1/2000) Dh,in
1 1 1 1 1
10 0.45 0.4 0.33 0.3
100 0.27 0.17 0.12 0.1
1000 0.09 0.045 0.04 0.03
6 8 10 12
4、影响因素与分辨率
1）电扣几何形状、分辨率、采样率之间关系 分辨率： 指仪器测量的微电导率映射地层特征的能力。比 仪器分辨率大的地层特征可用几个分辨率单位像素来 表示，而比仪器分辨率小的地层特征只能表示成一个 分辨率单位。
（一）微电阻率扫描成像测井
2、测量原理 利用多个极板上的阵 列分布的钮扣状小电极向 井壁地层发射电流，电流 的变化反映了井壁各处的 岩石电阻率的变化，据此 可以显示电阻率的井壁成 像。
（一）微电阻率扫描成像测井
2、测量原理 测量时，推靠器使 极板贴靠井壁，由地 面系统控制向地层发 射交变电流，交变电 流由下部电极流入地 层，回到上部电极。
4、影响因素与分辨率
在均匀介质中测量时，每个电极电流和总电流的比 值是确定的，与介质的电阻率无关。在有井眼的情况下。 不同井眼的直径和不同的Rt／Rm值，对电极电流Ib和聚 焦电流If的比值（Ib／If））有着不同的影响，井眼直 径增大，Rt／Rm增大，均使Ib／If减小，导致测量难度 增加。 井眼直径和Ib／If、Rt／Rm的关系
3、仪器结构
全井眼地层微电阻率扫描成像测井仪FMI
4个主极板 ， 4个辅极板 每个极板两排钮扣电极，每排 12个电极，8个极板共192个电极。 8.5 in的井眼，井壁覆盖率为 80%，6in井眼，井壁覆盖率为 100%。
3、仪器结构
全井眼地层微电阻率扫描成像测井仪FMI
0.2in 0.3in
外形尺寸 有效阵列尺寸
8 192 0.2 0.1 0.3 80% 0.2 175 138 90° 5 6.25-21 <20000
EMI
6 150 0.2 0.1 0.3 59% 0.2 175 138 90° 5 6.7-21 <20000
STAR-Ⅱ
6 144 0.2 0.1 0.3 59% 0.2 175 138 90° 5.7 6.7-16 （5.875-16） <20000
STAR -Ⅱ和 CBIL并测组合
6、三种电成像测井仪主要技术指标
技术指标
极板数 钮扣电极数 钮扣电极有效直径(in) 钮扣电极间距(in) 钮扣电极行距(in) 8.5in井眼覆盖率 钮扣电极分辨率 (in) 耐温(℃) 耐压(MPa) 最大井斜 仪器外径(in) 适应井眼(in) Rt/Rm
FMI
4、影响因素与分辨率
2）极板和井壁之间间隙对测量响应的影响
极板和井壁之间的间隙会降低仪器垂向 分辨率，而且这种间隙对极板上中心电扣和 位于边缘部分的电扣垂向分辨率的影响是不 一样的，对边缘部分的电扣影响应更大些。 在进行井壁微电阻率成像的数据处理和 地层解释中应注意极板和井壁的贴合程度。
4、影响因素与分辨率
5、测量方式
FMI
测井方式 探头数 8.5in 井眼 覆盖率 最大测井速 度(ft/h)
全井眼 四极板 倾角 192 80% 1800 96 40% 3600 8 / 5400
5、测量方式
STAR-Ⅱ
测量方式 成像模式 倾角模式 采样率 （点/ft） 最大测速 （ft/min） 120 15 60 30
（一）微电阻率扫描成像测井
3、仪器结构 第一代FMS
电极直径： 在地层倾角测井 0.2in（5mm） 仪两个相邻的极板上 安装钮扣电极，每个 极板上共有4排电 极，共装有27个电极。 两个极板共有54个电 极， 对于8 1/2in的井 眼，其井壁覆盖率为 0.1in 20%。
（一）微电阻率扫描成像测井
（4）电扣周边绝缘环带愈宽，噪音愈低， 信噪比愈大； （5）分辨率是由电扣电极有效直径决定的。 指从电扣中心延伸到两电扣电极之间绝缘 环带中点的两倍。
FMI、EMI、STAR 分辨率: 0.3in 周向为0.2in、 垂向为0.2in（5.08mm）
0.2in
4、影响因素与分辨率
1）电扣几何形状、分辨率、采样率之间关系 数据采样率是仪器所要求的分辨率的函数。信号 处理原理（采样定理）要求在等效于仪器分辨率的间 距内至少有两个采样点。 当微电阻率成像的仪器分辨率要求是0.2in时，仪 器的采样率每0.1in一个采样点。 0.1in的采样率即满 足周向0.2in分辨率的要求，又满足垂向0.2in 分辨率 的要求。 测量速度越低，采样密度越高。对于微电阻率扫 描成像测井，最大测速为1800ft／h。
成像测井解释
讲
座 内 容
♦ 成像测井概述 ♦ 井壁声电成像测井基本原理 ♦ 质量控制 ♦ 处理流程 ♦ 成像测井资料解释方法 ♦ 实例分析
一、成像测井概述
测井技术四个发展阶段 模拟记录（半自动→全自动测井仪） 数字测井 数控测井 成像测井、随钻测井、地质导向测井、 过套管电阻率测井
一、成像测井概述
二、井壁声电成像测井原理
♦ 测量原理 ♦ 仪器结构 ♦ 影响因素 ♦ 仪器指标
（一）微电阻率扫描成像测井 1、电成像测井仪
70年代末－地层倾角测井 80年代中－地层微电阻率扫描测井FMS 90年代初－FMI 90年代中 - Star Imager（STAR-Ⅱ，Ⅲ） - EMI→XRMI 21世纪初 – 国产MCI
一、成像测井概述
3、数控测井系统 斯伦贝谢公司CSU系列 阿特拉斯公司CLS-3700系列 吉尔哈特公司生产测井DDL系列
一、成像测井概述
数控测井系统特点：
以计算机为控制中心，通过电缆控制 系统实现数据交换和对井下仪器的控 制，在井场可以利用车载计算机系统处 理测井数据，实现资料的快速直观解释。
按照侧向测井原理，它们与地层电阻率的关系为： Rai=K（U/Ibi） 其中：Rai为第i个电极测量的井壁岩石视电阻率 U为电极表面电位 Ibi为电极发射的电流强度
（一）微电阻率扫描成像测井
2、测量原理
当极板与钮扣电极的电位相等，钮扣电极接触的井 壁地层的电阻率不同时，电流强度发生变化： Ra↑， Ib ↓； Ra ↓ ， Ib ↑。 因此，测量每个钮扣电极的电流变化，就能反映井 壁上地层电阻率的变化。 阵列电扣电流经适当处理，用彩色或灰度等级图 象，来显示井壁地层电阻率的变化，从而可反映出井壁 上地层岩石结构变化。
一、成像测井概述
数控测井测井新方法： 岩性密度测井 自然伽马能谱测井 碳氧比能谱测井 长源距声波测井 电磁波/介电测井 高分辨率地层倾角测井
一、成像测井概述
4、成像测井系统 斯伦贝谢公司的MAXIS-500 阿特拉斯公司的ECLIPS-5700 哈里伯顿公司的EXCELL-2000 CPL数控成像测井系统
成像测井特点
♦ 具有广泛适用性。适用于薄层、裂缝性
地层、低孔低渗、复杂岩性等特殊类型 油气藏，高含水油田开发，非均质和各 向异性地层，可用于深层次的地质应用 研究。
一、成像测井概述
井壁声电成像测井主要的地质应用：
裂缝、孔洞识别和评价 薄层划分和评价 地质构造解释 岩石结构分析 沉积构造识别，沉积相研究 帮助岩心定位和描述
1、模拟记录阶段测井方法 普通电阻率（电极）测井 感应测井 声速测井 自然伽马测井 自然电位测井 井径测井 以JD581测井系列为代表
一、成像测井概述
2、数字测井阶段测井方法 深、中、浅三电阻率测井 三孔隙度测井（中子、密度、声波） 三岩性测井(井径、自然伽马、自然电位) 九条曲线 地层倾角和声波全波变密度测井 3600数字测井系统 国产801测井系列
3、仪器结构 第二代FMS在4个极板上都装有两排钮扣 电极，每排8个共16个电极，4个极板共64个 电极。 对于8 1/2in的井眼，其井壁覆盖率为40%。
电极直径： 0.2in（5mm）
3、仪器结构
全井眼地层微电阻率扫描成像测井仪FMI 4个主极板 ， 4个辅极板 辅助极板可围绕主极板转动，这种设 计有三个特点： ①提高了井壁的覆盖率，改善了极板 与井壁的接触性能。 ②使仪器的直径减小，关腿直径仅为 5in。 ③ 满足不同测井方式的需要，可以提 高测井速度。
eXepress
DPP
一、成像测井概述
成像测井新方法：
微电阻率扫描成像 方位电阻率成像 高分辨率阵列感应/阵列侧向测井 交叉偶极子阵列声波测井 超声井周扫描成像 核磁共振成像测井
成像测井特点
♦ 具有大数据量、高分辨率、高精度的特
点，提供大量的、丰富的地层岩石物理 信息和数据。 ♦ 具有可视化的特点，可以给出井筒周围 地层二维或三维的物理参数图象。通过 软件把地层岩石结构、矿物含量、地层 孔隙、流体组分及其空间分布以图象的 形式展示出来。
微电阻率扫描 高分辨率阵列感应
井下 仪器
Fra Baidu bibliotek
USI CMR CSI
交叉偶极子 多极阵列声波 数字声波井周成像 核磁共振成像
XMAC MAC CBIL MRIL-C
交叉偶极子 阵列声波 井周声波扫描 核磁共振成像
CAST MRIL-P
解释 软件
Geo Fram 软件包： 岩石物理软件包 P包 井眼微地质学包 G包 油藏描述包 RM包 岩石力学参数包 Impact包
配备高分辨率、阵列探测的电、声、核、 核磁等新方法测井仪。 配备一套完整的、适应各类复杂非均质 储层参数定量评价、地质应用、工程应 用的测井解释软件包。
地面 装备 电缆 遥测
三台以太网连接的Micro Vax III+cpi3000阵列处理器计算机 测井系统；实时多任务；智能 接口 500kb/s 微电阻率扫描 阵列感应 阵列侧向 方位电阻率成像 偶极横波成像 超声成像 核磁共振 地震波成像 FMI/FMS AIT ARI DSI
成像测井概述
MAIXS-500
230kb/s
ECLIPS-5700
EXCELL-200
两台IBM RS6000工作站计算机测井 系统； 实时多任务；智能接口
三台以太网连接的HP730工作站计 算机测井系统； 实时多任务；智能接口
217.6kb/s STAR-II HDIL 微电阻率扫描 高分辨率阵列感应 EMI/XRMI
钮扣电极直径:0.16in 钮扣电极间距:0.1in 钮扣电极行距:0.3in 钮扣电极有效直径:0.2in
0.3in
0.16in
3、仪器结构
EMI、STAR-II、MCI
STARⅡ：6个独立的极 板，每个极板24个钮扣电 极，共144个钮扣电极 。 EMI：6个极板，每个极 板25个钮扣电极，共150个 钮扣电极 。 8.5 in的井眼，井壁覆 盖率为59%
一、成像测井概述
成像测井系统的主要特点：
车载高性能计算机系统，网络连接，人机 交互。能实时高速采集大量的测井信息， 能完成刻度、测井、数据处理、显示等多 任务并行处理。 具有高数据传输率的电缆遥测系统，数据 传输率达500kbps，实现井下仪器和地面 设备见得大数据量传输。
一、成像测井概述
成像测井系统的主要特点：
4、影响因素与分辨率
1）电扣几何形状、分辨率、采样率之间关系
仪器的分辨率与极板电扣的几何结构密 切相关。 （1）电扣越小，分辨率愈高； （2）电扣越小，电扣电流Ib越小，Ib／If愈 小，要求仪器灵敏度越高； （ 3 ）电扣越小，电扣井壁之间泥饼厚度对 分辨率影响愈大；
4、影响因素与分辨率
1）电扣几何形状、分辨率、采样率之间关系
（一）微电阻率扫描成像测井
2、测量原理 采用侧向测井的屏蔽 原理。电极与极板绝缘。 由电源给极板和钮扣电极 供相同极性的电流，使极 板与钮扣电极的电位相 等，由电极流出的电流受 到极板的屏蔽作用，沿径 向流入地层。
（一）微电阻率扫描成像测井
2、测量原理 记录每一个钮口电极的电流强度和对应的测 量电位差。
Rt/Rm Ib/If (1/2000) Dh,in
1 1 1 1 1
10 0.45 0.4 0.33 0.3
100 0.27 0.17 0.12 0.1
1000 0.09 0.045 0.04 0.03
6 8 10 12
4、影响因素与分辨率
1）电扣几何形状、分辨率、采样率之间关系 分辨率： 指仪器测量的微电导率映射地层特征的能力。比 仪器分辨率大的地层特征可用几个分辨率单位像素来 表示，而比仪器分辨率小的地层特征只能表示成一个 分辨率单位。
（一）微电阻率扫描成像测井
2、测量原理 利用多个极板上的阵 列分布的钮扣状小电极向 井壁地层发射电流，电流 的变化反映了井壁各处的 岩石电阻率的变化，据此 可以显示电阻率的井壁成 像。
（一）微电阻率扫描成像测井
2、测量原理 测量时，推靠器使 极板贴靠井壁，由地 面系统控制向地层发 射交变电流，交变电 流由下部电极流入地 层，回到上部电极。
4、影响因素与分辨率
在均匀介质中测量时，每个电极电流和总电流的比 值是确定的，与介质的电阻率无关。在有井眼的情况下。 不同井眼的直径和不同的Rt／Rm值，对电极电流Ib和聚 焦电流If的比值（Ib／If））有着不同的影响，井眼直 径增大，Rt／Rm增大，均使Ib／If减小，导致测量难度 增加。 井眼直径和Ib／If、Rt／Rm的关系
3、仪器结构
全井眼地层微电阻率扫描成像测井仪FMI
4个主极板 ， 4个辅极板 每个极板两排钮扣电极，每排 12个电极，8个极板共192个电极。 8.5 in的井眼，井壁覆盖率为 80%，6in井眼，井壁覆盖率为 100%。
3、仪器结构
全井眼地层微电阻率扫描成像测井仪FMI
0.2in 0.3in
外形尺寸 有效阵列尺寸
8 192 0.2 0.1 0.3 80% 0.2 175 138 90° 5 6.25-21 <20000
EMI
6 150 0.2 0.1 0.3 59% 0.2 175 138 90° 5 6.7-21 <20000
STAR-Ⅱ
6 144 0.2 0.1 0.3 59% 0.2 175 138 90° 5.7 6.7-16 （5.875-16） <20000
STAR -Ⅱ和 CBIL并测组合
6、三种电成像测井仪主要技术指标
技术指标
极板数 钮扣电极数 钮扣电极有效直径(in) 钮扣电极间距(in) 钮扣电极行距(in) 8.5in井眼覆盖率 钮扣电极分辨率 (in) 耐温(℃) 耐压(MPa) 最大井斜 仪器外径(in) 适应井眼(in) Rt/Rm
FMI
4、影响因素与分辨率
2）极板和井壁之间间隙对测量响应的影响
极板和井壁之间的间隙会降低仪器垂向 分辨率，而且这种间隙对极板上中心电扣和 位于边缘部分的电扣垂向分辨率的影响是不 一样的，对边缘部分的电扣影响应更大些。 在进行井壁微电阻率成像的数据处理和 地层解释中应注意极板和井壁的贴合程度。
4、影响因素与分辨率
5、测量方式
FMI
测井方式 探头数 8.5in 井眼 覆盖率 最大测井速 度(ft/h)
全井眼 四极板 倾角 192 80% 1800 96 40% 3600 8 / 5400
5、测量方式
STAR-Ⅱ
测量方式 成像模式 倾角模式 采样率 （点/ft） 最大测速 （ft/min） 120 15 60 30
（一）微电阻率扫描成像测井
3、仪器结构 第一代FMS
电极直径： 在地层倾角测井 0.2in（5mm） 仪两个相邻的极板上 安装钮扣电极，每个 极板上共有4排电 极，共装有27个电极。 两个极板共有54个电 极， 对于8 1/2in的井 眼，其井壁覆盖率为 0.1in 20%。
（一）微电阻率扫描成像测井
（4）电扣周边绝缘环带愈宽，噪音愈低， 信噪比愈大； （5）分辨率是由电扣电极有效直径决定的。 指从电扣中心延伸到两电扣电极之间绝缘 环带中点的两倍。
FMI、EMI、STAR 分辨率: 0.3in 周向为0.2in、 垂向为0.2in（5.08mm）
0.2in
4、影响因素与分辨率
1）电扣几何形状、分辨率、采样率之间关系 数据采样率是仪器所要求的分辨率的函数。信号 处理原理（采样定理）要求在等效于仪器分辨率的间 距内至少有两个采样点。 当微电阻率成像的仪器分辨率要求是0.2in时，仪 器的采样率每0.1in一个采样点。 0.1in的采样率即满 足周向0.2in分辨率的要求，又满足垂向0.2in 分辨率 的要求。 测量速度越低，采样密度越高。对于微电阻率扫 描成像测井，最大测速为1800ft／h。
成像测井解释
讲
座 内 容
♦ 成像测井概述 ♦ 井壁声电成像测井基本原理 ♦ 质量控制 ♦ 处理流程 ♦ 成像测井资料解释方法 ♦ 实例分析
一、成像测井概述
测井技术四个发展阶段 模拟记录（半自动→全自动测井仪） 数字测井 数控测井 成像测井、随钻测井、地质导向测井、 过套管电阻率测井
一、成像测井概述
二、井壁声电成像测井原理
♦ 测量原理 ♦ 仪器结构 ♦ 影响因素 ♦ 仪器指标
（一）微电阻率扫描成像测井 1、电成像测井仪
70年代末－地层倾角测井 80年代中－地层微电阻率扫描测井FMS 90年代初－FMI 90年代中 - Star Imager（STAR-Ⅱ，Ⅲ） - EMI→XRMI 21世纪初 – 国产MCI
一、成像测井概述
3、数控测井系统 斯伦贝谢公司CSU系列 阿特拉斯公司CLS-3700系列 吉尔哈特公司生产测井DDL系列
一、成像测井概述
数控测井系统特点：
以计算机为控制中心，通过电缆控制 系统实现数据交换和对井下仪器的控 制，在井场可以利用车载计算机系统处 理测井数据，实现资料的快速直观解释。
按照侧向测井原理，它们与地层电阻率的关系为： Rai=K（U/Ibi） 其中：Rai为第i个电极测量的井壁岩石视电阻率 U为电极表面电位 Ibi为电极发射的电流强度
（一）微电阻率扫描成像测井
2、测量原理
当极板与钮扣电极的电位相等，钮扣电极接触的井 壁地层的电阻率不同时，电流强度发生变化： Ra↑， Ib ↓； Ra ↓ ， Ib ↑。 因此，测量每个钮扣电极的电流变化，就能反映井 壁上地层电阻率的变化。 阵列电扣电流经适当处理，用彩色或灰度等级图 象，来显示井壁地层电阻率的变化，从而可反映出井壁 上地层岩石结构变化。
一、成像测井概述
数控测井测井新方法： 岩性密度测井 自然伽马能谱测井 碳氧比能谱测井 长源距声波测井 电磁波/介电测井 高分辨率地层倾角测井
一、成像测井概述
4、成像测井系统 斯伦贝谢公司的MAXIS-500 阿特拉斯公司的ECLIPS-5700 哈里伯顿公司的EXCELL-2000 CPL数控成像测井系统
成像测井特点
♦ 具有广泛适用性。适用于薄层、裂缝性
地层、低孔低渗、复杂岩性等特殊类型 油气藏，高含水油田开发，非均质和各 向异性地层，可用于深层次的地质应用 研究。
一、成像测井概述
井壁声电成像测井主要的地质应用：
裂缝、孔洞识别和评价 薄层划分和评价 地质构造解释 岩石结构分析 沉积构造识别，沉积相研究 帮助岩心定位和描述
1、模拟记录阶段测井方法 普通电阻率（电极）测井 感应测井 声速测井 自然伽马测井 自然电位测井 井径测井 以JD581测井系列为代表
一、成像测井概述
2、数字测井阶段测井方法 深、中、浅三电阻率测井 三孔隙度测井（中子、密度、声波） 三岩性测井(井径、自然伽马、自然电位) 九条曲线 地层倾角和声波全波变密度测井 3600数字测井系统 国产801测井系列