FCC_Part15_RE_Fail问题改善2015.12.1

1.RE_TEST(Radiated emission limits)

在361.8,723.6MHz

2.依据PCB布局，芯片手册，天线原理追踪原因如下：

（1）电源部分；

（2）芯片（ADM2582E）PCB布局；

3.测试验证及解决方案

（1）验证是否是AP辐射超限：

抽样1.测试数据如下：

抽样2.测试数据如下：

抽样3.测试数据如下：

测试过程中，AP烧录出厂程序，接通电源利用天线进行测试无线接收，可以测试到抽样的三个AP在362MHZ附近产生了杂散信号，

断开电源即AP不工作时测试不到上述强度的杂散信号。

（2）

①电源部分影响及解决方案

直流48V供电测试 AC-DC_48V测试

上述测试分别采用直流和AC-DC_48V电源分别给AP供电，用频谱仪外接天线，在AP电路板周围逐步移动，频谱仪设置参数不变情况下，AP没有辐射杂散信号。

直流48通过经N1给AP供电测试 AC-DC_48V通过N1给AP供电测试直流48V及AC-DC_48V两种方式都给N1供电，再经网线给AP供电，测试过程中都能在362MHz附件收到杂散信号。

②芯片周围布局影响验证及解决方案

排除电源（用直流电供电）影响基础上，验证芯片布局影响：用频谱仪外接天线，在AP电路板周围逐步移动，频谱仪设置参数不变情况下，在芯片ADM2582布局区域，接收到杂散信号，和FCC-part15测试到频点一致。

@362MHZ频点杂散信号

在芯片ADM2582区域进行屏蔽处理后再进行接收测试，取样的两块儿AP已经得到改善即杂散已经被衰减掉。测试数据如下：

芯片屏蔽后测试数据

该方法在找EMI 源头非常有效，这一点在后来整改中也验证了这一推断。解决方法自然也有多种途径。

2015.12