边界测试技术原理
轮廓测试是什么原理的应用
轮廓测试是什么原理的应用一、什么是轮廓测试轮廓测试是一种用来检测图像边缘的技术，它可以识别出图像中的目标物体，并将其边缘提取出来。
轮廓测试使用图像处理算法，通过对图像进行一系列形态学操作和阈值处理，来寻找物体的边界。
二、轮廓测试的原理轮廓测试基于边缘提取的原理，通过计算图像中每个像素点的梯度和方向，来找到边缘上的像素点。
这些像素点连起来就形成了物体的轮廓。
轮廓测试的具体步骤如下：1.将原始图像转换为灰度图像：由于灰度图像只有一个通道，更容易进行后续处理。
2.对图像进行高斯滤波：通过高斯滤波可以减少图像中的噪声，使得边缘检测更加准确。
3.进行边缘检测：常用的边缘检测算法有Sobel算子、Canny算子等。
这些算法根据图像中像素点的梯度和方向来确定是否为边缘点。
4.对检测到的边缘进行形态学操作：形态学操作包括膨胀和腐蚀，可以滤除边缘之间的噪声，并将断开的边缘点连接起来。
5.进行轮廓检测：根据图像中的边缘点，利用连通域分析算法，可以找到物体的轮廓。
轮廓是由一组像素点所组成的闭合曲线。
三、轮廓测试的应用轮廓测试可以应用于许多领域，下面列举了一些常见的应用场景：1.目标检测：通过轮廓测试可以识别图像中的目标物体，并对其进行定位和测量。
这在计算机视觉、机器人学等领域是一个重要的应用，可以用于机器人的控制和导航。
2.物体计数：在一幅图像中，可以利用轮廓测试来计数目标物体的个数。
这在监控系统、智能交通系统等领域非常有用。
3.缺陷检测：轮廓测试可以用于检测产品的缺陷，例如电子元件、制造业产品等。
通过分析物体的轮廓形状和面积，可以检测出缺陷并进行分类。
4.手势识别：通过利用轮廓测试，可以识别手的形状和动作，实现手势控制。
这在虚拟现实、游戏和人机交互等领域具有广泛的应用。
5.图像分割：轮廓测试可以帮助将图像分割成不同的区域，用于图像分析和处理。
例如，在医学图像中，可以利用轮廓测试将人体器官和肿瘤分离出来，进行进一步的分析与诊断。
软件测试中的边界值分析技术
软件测试中的边界值分析技术边界值分析是软件测试中一种常用的技术，它被广泛应用于各个测试阶段，包括单元测试、集成测试和系统测试等。
边界值分析的核心思想是通过测试边界值来发现潜在的错误和缺陷，提高软件的质量和可靠性。
本文将详细介绍软件测试中的边界值分析技术，以及它的应用场景和实施方法。
一、边界值分析的定义和原理边界值分析是一种基于边界条件的测试技术，它通过选择测试用例的边界值来检测程序的错误和异常。
边界值是指输入和输出的极限值，包括最大边界、最小边界和一些特殊边界。
通过测试这些边界值，可以发现程序在极端情况下的行为，进而检验程序的正确性和稳定性。
边界值分析的原理基于以下两个假设：1. 程序在边界值附近的行为可能与其他位置存在差异。
2. 错误通常在边界值处发生，而不太可能在常规值的范围内发生。
二、边界值分析的应用场景边界值分析技术适用于各种软件测试场景，特别适用于以下几种情况：1. 输入值范围非常大的情况：当输入值的取值范围非常大时，全面地进行测试是不现实的，因此边界值分析可以帮助我们找到输入范围的边界，并选择边界值进行测试。
2. 条件覆盖不容易实现的情况：在某些情况下，程序的条件覆盖非常难以实现，因此可以通过边界值分析的方法来减少测试用例的数量，节约测试成本。
3. 对程序输出有限制的情况：当程序的输出有一定限制时，边界值分析可以找到使输出达到边界的输入值，确保程序在极端情况下的正确性。
4. 对程序响应时间有要求的情况：当程序对响应时间有严格要求时，边界值分析可以检查程序在边界值情况下是否能满足时间要求。
三、边界值分析的实施方法边界值分析的实施方法主要包括以下几个步骤：1. 确定输入变量：首先需要确定程序的输入变量，即要进行边界值分析的变量。
2. 确定边界值：根据输入变量的定义和范围，确定边界值。
通常边界值可以分为最小边界、最大边界和特殊边界。
3. 选择测试用例：根据边界值，选择测试用例。
通常可以选择最小边界值、最大边界值和其他一些特殊边界值进行测试。
软件测试中的边界值和等价类测试技术
软件测试中的边界值和等价类测试技术
在软件测试中，边界值和等价类测试技术是两种常用的测试方法，能够有效地
提高测试效率和覆盖率。
边界值测试和等价类测试是基于不同的测试原理，可以帮助测试人员发现系统中隐藏的缺陷，提高软件的质量和稳定性。
边界值测试是一种测试方法，通过测试输入的边界值来检查系统的稳定性和正
确性。
在进行边界值测试时，测试人员会选择输入值的边界，包括最小边界、最大边界和临界值，以确保系统在这些边界值上能够正常工作。
边界值测试能够有效地发现输入错误和计算错误，提高系统的健壮性和可靠性。
等价类测试是一种测试方法，通过将输入值划分为等价类，并选择代表性的测
试用例来代表每个等价类，以提高测试效率。
在进行等价类测试时，测试人员会将输入值划分为有效输入和无效输入，然后选择代表性的测试用例来代表每个等价类。
等价类测试能够有效地减少测试用例的数量，提高测试效率和覆盖率。
边界值测试和等价类测试在软件测试中具有重要的意义。
通过这两种测试方法，测试人员可以有效地发现系统中的潜在问题，提高测试的全面性和可靠性。
在实际的软件测试过程中，测试人员应该结合边界值测试和等价类测试，以确保系统的质量和稳定性。
总的来说，边界值和等价类测试技术在软件测试中扮演着重要的角色，能够有
效地提高测试效率和覆盖率。
通过合理地运用这两种测试方法，测试人员可以发现系统中的隐藏缺陷，提高软件的质量和用户体验。
因此，在进行软件测试时，测试人员应该充分理解和掌握边界值和等价类测试技术，以提高测试的效果和价值。
边界扫描技术
互联测试步骤：
• 1）TDI经过各移位寄存器与各IC管脚相关的 单元连接，移位激励数据； • 2）更新输出单元上的数据，对PCB电路板 上的连线施加激励； • 3）在各接收IC的输入管脚捕获PCB电路板上 连线的状态； • 4）检查经过边界扫描寄存器向TDO移出的 最后结果。
扫描测试过程
互联测试工作模式
• • • • 1）串行链工作 2）并行链工作 3）多输出工作 4）旁路工作
测试工作模式
边界扫描测试数学模型
• 边界扫描测试是将由一定数量测试向量构 成的测试矩阵T输入电路板A，依据响应矩 阵R进行诊断。测试矩阵中的每个PTV向量 维数为N，它对应于N个网络的布尔输入， 而R矩阵中的每个PRV向量的维数也为N，它 对应于N个网络的布尔输出。因此，实质上 我们可以将被测电路板看作一个N输入/N输 出的系统 • • • 测试存取口( Test Access Port TA P ) TA P 控制器(TAP Controller) 指令寄存器( Instruction Register IR) 测试数据寄存器(Data Register DR )
• IEEE 1149. 1标准规定
标准边界扫描结构
测试存取口（TAP）
• • • • • • 由四个专用引脚组成: 测试数据输入(Test Data In TD I) 测试数据输出(Test Data Out TDO ) 测试模式选择(Test Mode Select TM S ) 测试时钟(Test Clock TCK )。 (另有一个TRST* 为可选)
边界扫描工作方式
• • • • 内部测试方式 外部测试方式 采样测试方式 电路板正常工作方式
外部测试原理
• 边界扫描外部测试是完成对电路板上的互 连故障进行测试诊断，基本思想是在靠近 器件的输入输出管脚处增加一个移位寄存 器单元。在测试期间，这些寄存器单元用 于控制输入管脚的状态（高或低），并读 输出管脚的状态，利用这种基本思想可以 测试出电路板中器件互连的正确性。在正 常工作期间，这些附加的移位寄存器单元 是“透明” 的，不影响电路板的正常工作。
BoundaryScan测试原理及实现
Boundary Scan测试原理及实现什么是边界扫描(boundary scan)?什么是边界扫描(boundary scan)?边界扫描(Boundary scan )是一项测试技术，是在传统的在线测试不在适应大规模，高集成电路测试的情况下而提出的，就是在IC设计的过程中在IC的内部逻辑和每个器件引脚间放置移位寄存器(shift register).每个移位寄存器叫做一个CELL。
这些CELL准许你去控制和观察每个输入/输出引脚的状态。
当这些CELL连在一起就形成了一个数据寄存器链(data register chain),我门叫它边界寄存器(boundaryregister)。
除了上面的移位寄存器外，在IC上还集成测试访问端口控制器(TAP controller),指令寄存器(Instruction register)对边界扫描的指令进行解码以便执行各种测试功能。
旁路寄存器(bypass register)提供一个最短的测试通路。
另外可能还会有IDCODE register 和其它符合标准的用户特殊寄存器。
边界扫描器件典型特征及边界扫描测试信号的构成。
如果一个器件是边界扫描器件它一定有下面5个信号中的前四个：1．TDI (测试数据输入)2．TDO (侧试数据输出)3．TMS (测试模式选择输入)4．TCK (测试时钟输入)5．TRST (测试复位输入，这个信号是可选的)TMS,TCK,TRST构成了边界扫描测试端口控制器(TAP controller)，它负责测试信号指令的输入，输出，指令解码等，TAP controller是一个16位的状态机，边界扫描测试的每个环节都由它来控制，所以要对TAP controller有一个比较清楚的了解。
在后续的文章中还会向大家介绍边界扫描的其它方面。
边界扫描为开发人员缩短开发周期，并且提供良好的覆盖率和诊断信息。
在不了解Boundary scan的目的：Boundary scan是一种用于测试数字集成电路的技术，它能找出，开路，短路，和功能不良的数字器件，另外它还能完成一些功能测试。
fuzz测试原理
fuzz测试原理Fuzz测试是一种自动化的软件测试方法，其目的是发现软件程序的安全漏洞、异常行为和崩溃等问题。
它基于输入模糊化（input fuzzing）的原理，通过大量生成随机、异常和边界测试数据来对目标系统进行测试，以发现潜在的安全问题和漏洞。
Fuzz测试的原理主要可以分为以下几个方面：1.输入模糊化：Fuzz测试的核心原理是对目标程序的输入数据进行模糊化处理。
模糊化技术可以用来生成各种类型的随机、异常和边界数据，例如将字符串中的特殊字符替换为随机字符，将数字的范围扩大或缩小，插入或删除字节等。
通过模糊化处理，可以使得输入数据具有更高的覆盖率和破坏性，从而更容易触发目标系统中的潜在漏洞和异常行为。
2.测序和执行：Fuzz测试一般是结合自动化工具来实现的，该工具会自动选择和生成模糊化数据，并将其作为输入发送给目标程序。
目标程序接收到输入后，会按照一定的执行路径进行处理和分析。
在执行过程中，Fuzz工具会监控目标程序的状态和行为，例如运行时间、内存使用情况、输出结果等。
如果目标程序出现崩溃、异常行为或安全漏洞等情况，Fuzz工具就会将这些问题记录下来，并进一步分析和利用。
3.错误率比较和突变策略：Fuzz测试中，通常使用的是黑盒测试方法，即只关注程序的输入和输出，而不关心其内部逻辑和实现细节。
在每一轮的Fuzz测试中，工具会将上一轮测试中发现的错误和异常行为与当前轮次的结果进行比较。
比较的目的是找出新的错误或异常，以及判断之前发现的问题是否已经修复。
基于这种比较结果，Fuzz工具会采用一定的变异策略来生成下一轮的测试数据，以增加测试的覆盖率和多样性。
4.灰盒测试和符号执行：除了传统的黑盒测试方法外，Fuzz测试也可以结合一些静态和动态分析技术，例如灰盒测试和符号执行。
灰盒测试是一种介于黑盒和白盒测试之间的方法，它会利用程序的结构和逻辑信息来引导和优化测试过程，从而提高发现潜在漏洞的效率。
符号执行是一种基于路径覆盖的动态分析方法，它通过对程序的输入条件进行符号化处理，从而构造出不同的执行路径，以达到对目标系统更全面的测试。
boundaryscan应用实例 -回复
boundaryscan应用实例-回复什么是boundary scan技术？Boundary scan技术，又称JTAG（Joint Test Action Group）技术，是一种用于芯片级电路板测试和诊断的技术。
它使用了IEEE标准1149.1定义的边界扫描链（Boundary Scan Chain），通过在电路板上的闩锁功能来实现对芯片上的引脚的测试和调试。
Boundary scan技术的原理和功能如何工作？Boundary scan技术的原理基于一种边界扫描链结构（Boundary Scan Chain），该链将所有芯片引脚连接起来形成一个环。
这个环具有使能信号和测试控制信号，通过这些信号的控制，可以将测试数据从一个引脚传输到另一个引脚，实现对芯片引脚的测试和调试。
Boundary scan技术的功能主要有以下几个方面：1. 电路连通性测试：通过boundary scan技术，可以检测和诊断电路板上信号线的连通性是否良好，以及是否存在断路和短路。
2. 引脚功能测试：通过boundary scan技术，可以实时测试和诊断芯片引脚的功能是否正常。
这对于芯片级的调试和故障排除非常有用。
3. 元件配置和诊断：通过boundary scan技术，可以识别和配置电路板上的各种元件，例如存储器、逻辑门等。
这可以帮助工程师更好地了解电路板的组成和功能。
4. 容错性检查：通过boundary scan技术，可以检查电路板上的信号线是否遵循电气特性，例如正确的电阻和电容值。
这对于确保电路板的稳定性和可靠性至关重要。
Boundary scan技术的应用实例1. 电子设备制造：Boundary scan技术可以在生产线上用于测试和验证电子设备的电路板，以确保其质量和可靠性。
它可以有效地检测和排除电路板上的连通性问题和故障，提高生产效率和产品质量。
2. 电路板维修：当电子设备发生故障时，boundary scan技术可以用于定位和修复故障点。
软件测试中的边界值分析
软件测试中的边界值分析在软件测试中，边界值分析是一种常用的测试方法。
它通过针对输入、输出和系统边界的极限情况进行测试，以识别潜在的错误和问题。
本文将介绍边界值分析的定义、原理和应用，并分享一些在软件测试中进行边界值分析的实用技巧。
一、边界值分析的定义和原理边界值分析是一种黑盒测试技术，它基于以下原理：通常情况下，软件的错误往往发生在边界条件处。
因此，通过对输入和输出的边界条件进行测试，可以有效地发现潜在的错误和问题。
边界值分析主要关注以下边界条件：1. 最小边界：比最小允许值略小的值。
2. 最大边界：比最大允许值略大的值。
3. 边界值：刚好等于最小允许值或最大允许值的值。
通过测试这些边界条件，我们能够了解系统的行为和响应，从而发现潜在的错误和问题。
二、边界值分析的应用场景边界值分析可以应用于各种软件测试场景，特别适用于以下情况：1. 输入范围受限的场景：当输入的取值范围有明确的最小值和最大值时，可以使用边界值分析来测试系统对边界条件的处理。
2. 计算和数值处理场景：在进行计算、数值处理或者数据转换时，边界值分析可以帮助找出可能的计算错误和异常情况。
3. 数据结构和容器场景：当使用数据结构和容器存储数据时，边界值分析可以帮助检测数据溢出、访问越界等问题。
三、边界值分析的实用技巧在进行边界值分析时，以下几点是需要注意的技巧：1. 边界条件的选择：要选择具有代表性的边界测试用例，既要考虑最小边界情况，也要考虑最大边界情况，并测试边界值本身。
2. 边界外的值：边界值分析不仅要测试边界值，还要测试边界外的值。
例如，如果输入范围是1到10，我们不仅要测试1和10，还要测试0和11。
3. 多边界值测试：对于多个边界条件的情况，可以使用组合测试来测试各种边界条件的组合情况。
这有助于发现因不同边界条件的交叉而导致的问题。
4. 错误处理：在进行边界值分析时，还要重点测试系统对边界条件的错误处理能力。
例如，输入小于最小边界值的情况下，系统是否能够正确地给出错误提示。
Boundray scan技术原理
1边界扫描测试技术原理2.边界扫描指令集Extest指令--强制指令用于芯片外部测试，如互连测试测试模式下的输出管脚，由BSC update锁存驱动BSC scan锁存捕获的输入数据移位操作，可以从TDI输入测试激励，并从TDO观察测试响应。
在移位操作后，新的测试激励存储到BSC的update锁存原先EXTEST指令是强制为全“0”的，在IEEE 1149.1—2001中，这条强制取消了。
选择边界扫描寄存器连通TDI和TDO。
在这种指令下，可以通过边界扫描输出单元来驱动测试信号至其他边界扫描芯片，以及通过边界扫描输入单元来从其他边界扫描芯片接受测试信号。
EXTEST指令是IEEE 1149.1标准的核心所在，在边界扫描测试中的互连测试（interconnect test）就是基于这个指令的。
Sample/Preload指令编辑Sample/Preload指令--强制指令在进入测试模式前对BSC进行预装载输入输出管脚可正常操作输入管脚数据和内核输出数据装载到BSC的scan锁存中。
移位操作，可以从TDI输入测试激励，并从TDO观察测试响应。
在移位操作后，新的测试激励存储到BSC的update锁存。
原先这两个指令是合在一起的，在IEEE 1149.1--2001中这两个指令分开了，分成一个SAMPLE指令，一个PRELOAD指令。
选择SAMPLE/PRELOAD指令时，IC工作在正常工作模式，也就是说对IC的操作不影响IC的正常工作。
选择边界扫描寄存器连通TDI和TDO。
SAMPLE指令---通过数据扫描操作（Data Scan）来访问边界扫描寄存器，以及对进入和离开IC的数据进行采样。
PRELOAD指令---在进入EXTEST指令之前对边界扫描寄存器进行数据加载。
Bypass指令编辑Bypass指令--强制指令提供穿透芯片的最短通路。
输入输出管脚可正常操作选择一位的旁路（Bypass）寄存器强制全为1和未定义的指令为Bypass指令BYPASS指令为全“1”。
软件测试方法和技术
软件测试方法和技术软件测试方法和技术是指在软件开发过程中，为了确保软件的质量和功能的正确性而进行的一系列的测试工作。
软件测试方法和技术包括测试方法的选择，测试策略的制定，测试用例的设计等方面。
一、软件测试方法1.黑盒测试：黑盒测试主要是根据软件的需求规格，对软件的输入和输出进行测试，而不考虑软件内部的结构和实现方法。
黑盒测试方法的优点是便于测试用例的设计和测试工作的执行，缺点是无法全面覆盖软件的所有路径和逻辑。
2.白盒测试：白盒测试主要是根据软件的内部结构和代码进行测试，可以全面覆盖软件的所有逻辑和路径。
白盒测试方法的优点是能够发现软件内部的错误和漏洞，缺点是测试用例的设计和测试工作的执行相对较复杂。
3.灰盒测试：灰盒测试结合了黑盒测试和白盒测试的优点，既考虑了软件的输入和输出，又关注了软件的内部结构和代码。
灰盒测试方法的优点是能够综合发现软件的逻辑错误和代码漏洞，缺点是测试用例的设计和测试工作的执行相对较复杂。
二、软件测试技术1.边界值分析：边界值分析是一种测试技术，通过选择各种边界值测试用例来发现软件的错误和异常。
边界值分析的原理是认为软件在边界值附近容易出现问题，因此加重对边界值的测试。
2.等价类划分：等价类划分是一种测试技术，通过将输入域划分成若干等价类，选择一个代表性的等价类进行测试。
等价类划分的原理是认为在同一等价类中的测试用例具有相同的效果，可以用一个代表性的测试用例来代替。
3.状态转换测试：状态转换测试是一种测试技术，通过对软件在不同状态下的转换进行测试，发现状态转换中可能存在的问题。
状态转换测试的原理是认为软件在状态转换时容易出现错误，因此加重对状态转换的测试。
4.路径覆盖测试：路径覆盖测试是一种测试技术，通过覆盖软件的所有可能路径进行测试，发现路径中可能存在的问题。
路径覆盖测试的原理是认为软件的不同路径上可能存在不同的逻辑错误，因此需要覆盖所有可能的路径。
总结：软件测试方法和技术是确保软件质量和功能正确性的重要手段。
自动化测试中的随机测试与边界值测试
自动化测试中的随机测试与边界值测试在软件开发过程中，测试是一个至关重要的环节。
为了保证软件质量、减少潜在的错误和缺陷，测试工作必不可少。
自动化测试是一种高效的测试方法，可以提高测试效率和准确性。
在自动化测试中，随机测试和边界值测试是两种常用的测试技术，它们能够有效地发现软件中的问题。
一、随机测试随机测试是一种基于随机选择测试用例的测试方法。
它的原理是通过随机生成输入数据，对软件进行测试，以验证其各种功能的正确性和稳定性。
随机测试的优势在于能够对软件系统进行全面的覆盖，尤其是针对大规模的测试用例集合。
随机测试能够模拟用户的随机操作行为，发现一些非常规的异常情况和潜在的错误。
然而，随机测试也存在一些局限性。
一方面，随机测试无法保证对特定功能的深度覆盖，不能充分挖掘潜在的问题。
另一方面，随机测试过程中产生的大量测试用例可能会导致执行时间较长，增加测试资源的消耗。
为了解决随机测试的局限性，我们可以结合其他测试方法，如边界值测试，来提高测试效果。
二、边界值测试边界值测试是一种侧重于测试输入数据边界的测试方法。
它的原理是选择特定边界值作为测试输入，以验证软件在边界情况下的正确性和稳定性。
通过针对边界值的测试，可以有效地发现输入数据范围引起的问题。
边界值测试的优势在于能够发现一些由于输入数据范围引起的错误。
例如，如果一个软件要求输入年龄必须在18岁到60岁之间，那么边界值测试就可以选择18和60作为测试输入进行验证。
这样可以保证软件在边界情况下的正确处理。
然而，边界值测试也需要考虑一些问题。
一方面，边界值测试只能验证边界情况下的正确性，不能保证对其他部分的充分覆盖。
另一方面，边界值测试需要根据具体的测试需求和输入数据的特点来选择边界值，如果选择不当可能会遗漏一些潜在的问题。
三、随机测试与边界值测试的结合应用在实际的自动化测试工作中，随机测试和边界值测试往往是相辅相成的。
通过综合应用这两种测试技术，可以发现更多的问题和缺陷，提高测试覆盖率和效果。
软件测试中的边界值分析
软件测试中的边界值分析在软件测试中，边界值分析是一种重要的测试技术，通过测试软件系统的边界值来检测系统在边界情况下的表现。
边界值是指输入数据、输出数据或者其他系统变量的最大值和最小值。
在软件测试中使用边界值分析可以有效地发现潜在的错误和缺陷，提高系统的稳定性和可靠性。
边界值分析的基本原理是在输入数据的边界值处进行测试，以验证系统在这些边界情况下的正确性和稳定性。
通过测试输入数据的边界情况，可以发现系统在特定情况下的错误和异常，从而及时修复和优化系统。
边界值分析通常包括以下几个步骤：首先，识别系统的边界值。
边界值分析需要定义系统输入数据、输出数据或其他变量的最大值和最小值，以确定在哪些情况下系统可能出现错误或异常。
其次，设计测试用例。
根据系统的边界值，设计相应的测试用例来验证系统在边界情况下的表现。
测试用例应包含在边界值处的最大值、最小值以及边界值的临界值，以确保系统在这些情况下的正确性和稳定性。
然后，执行测试用例。
根据设计的测试用例，执行测试过程来验证系统在边界情况下的表现。
通过测试输入数据的边界值，可以及时发现系统可能存在的错误和异常，提高系统的稳定性和可靠性。
最后，分析测试结果。
根据执行测试用例的结果，分析系统在边界情况下的表现，发现可能存在的错误和异常，并及时修复和优化系统。
通过边界值分析，可以提高系统的质量和可靠性，确保系统在各种情况下的正确性和稳定性。
总的来说，边界值分析是一种重要的软件测试技术，通过测试系统在边界情况下的表现，可以及时发现系统可能存在的错误和异常，提高系统的稳定性和可靠性。
通过边界值分析，可以保证系统在各种情况下的正确性和可靠性，提高系统的质量和可靠性。
因此，在软件测试中，边界值分析是一项必不可少的工作，能够有效地提高系统的稳定性和可靠性。
JTAG技术原理
JTAG技术俗称边界扫描技术，是近代发展起来的高级测试技术。
随着电子技术的高速发展，电路已经进入超大规模时代，芯片的封装技术也日新月异，从最初的DIP到QFP，已经当今的BGA，电路的物理可测试性正在逐渐消失。
为了寻找更先进的测试技术，1985年，IBM、AT&T、Texas Instruments、Philips、Siemens、Alcatel、Ericsson等几家公司联合成立了JETAG(Joint European Test Action Group欧洲联合测试行动小组)，并提出边界扫描技术。
通过存在于器件输入输出管脚与内核电路之间的BSC(Boundary Scan Cell)对器件及其外围电路进行测试。
1986年，一些欧洲之外的其他公司加入该组织，JETAG组织的成员已不仅仅局限在欧洲，所以该组织名称由JETAG更改为JTAG。
1990年，IEEE(Institute of Electrical and Electronics Engineers，美国电气和电子工程师协会)正式承认JTAG标准，命名为IEEE1149.1-1990。
JTAG主要有以下几个方面应用：1).互连测试。
判断互连线路是否存在开路、短路或固定逻辑故障。
2).可编程器件的程序加载。
如FLASH、CPLD、FPGA等器件的加载。
3).电路采样。
器件正常工作时，对管脚状态进行采样观察。
JTAG测试一般使用标准的TAP(Test Access Port)连接器,如下图所示。
A).1号脚为TCK。
JTAG测试参考时钟，由JTAG主控制器提供给被测试器件，该信号需要下拉处理，下拉电阻不能小于330ohm，一般选择1Kohm。
之所以TCK 要下拉处理，是因为JTAG测试规范规定：在TCK为低电平时，被测试器件的TAP 状态机不得发生变化。
所以，默认状态下，TCK必须为低电平，使TAP状态机保持稳定。
最小驱动电流为2mA。
ICT的基本知识和基本原理
ICT的基本知识和基本原理1 慨述1.1 定义在线测试，ICT，In-Circuit Test，是通过对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试手段。
它主要检查在线的单个元器件以及各电路网络的开、短路情况，具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点。
飞针ICT基本只进行静态的测试，优点是不需制作夹具，程序开发时间短。
针床式ICT可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试，故障覆盖率高，但对每种单板需制作专用的针床夹具，夹具制作和程序开发周期长。
1.2 ICT的范围及特点检查制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的连接情况。
能够定量地对电阻、电容、电感、晶振等器件进行测量，对二极管、三极管、光藕、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试，对中小规模的集成电路进行功能测试，如所有74系列、Memory 类、常用驱动类、交换类等IC。
它通过直接对在线器件电气性能的测试来发现制造工艺的缺陷和元器件的不良。
元件类可检查出元件值的超差、失效或损坏，Memory类的程序错误等。
对工艺类可发现如焊锡短路，元件插错、插反、漏装，管脚翘起、虚焊，PCB短路、断线等故障。
测试的故障直接定位在具体的元件、器件管脚、网络点上，故障定位准确。
对故障的维修不需较多专业知识。
采用程序控制的自动化测试，操作简单，测试快捷迅速，单板的测试时间一般在几秒至几十秒。
1。
3意义在线测试通常是生产中第一道测试工序，能及时反应生产制造状况，利于工艺改进和提升。
ICT 测试过的故障板,因故障定位准，维修方便，可大幅提高生产效率和减少维修成本。
因其测试项目具体，是现代化大生产品质保证的重要测试手段之一。
ICT测试理论做一些简单介绍1基本测试方法1.1模拟器件测试利用运算放大器进行测试。
由“A”点“虚地”的概念有：∵Ix = Iref∴Rx = Vs/ V0*RrefVs、Rref分别为激励信号源、仪器计算电阻。
Boundary Scan测试原理及实现
什么是边界扫描(boundary scan)?Boundary Scan测试原理及实现JTAG标准的IC芯片结构IEEE 1149.1 标准背景JTAG什么是边界扫描(boundary scan)?边界扫描(Boundary scan )是一项测试技术，是在传统的在线测试不在适应大规模，高集成电路测试的情况下而提出的，就是在IC设计的过程中在IC的内部逻辑和每个器件引脚间放置移位寄存器(shift register).每个移位寄存器叫做一个CELL。
这些CELL准许你去控制和观察每个输入/输出引脚的状态。
当这些CELL连在一起就形成了一个数据寄存器链(data register chain),我门叫它边界寄存器(boundaryregister)。
除了上面的移位寄存器外，在IC上还集成测试访问端口控制器 (TAP controller),指令寄存器(Instruction register)对边界扫描的指令进行解码以便执行各种测试功能。
旁路寄存器(bypass register)提供一个最短的测试通路。
另外可能还会有IDCODE register和其它符合标准的用户特殊寄存器。
边界扫描器件典型特征及边界扫描测试信号的构成。
如果一个器件是边界扫描器件它一定有下面5个信号中的前四个：1．TDI (测试数据输入)2．TDO (侧试数据输出)3．TMS (测试模式选择输入)4．TCK (测试时钟输入)5．TRST (测试复位输入，这个信号是可选的)TMS,TCK,TRST构成了边界扫描测试端口控制器(TAP controller)，它负责测试信号指令的输入，输出，指令解码等，TAP controller是一个16位的状态机，边界扫描测试的每个环节都由它来控制，所以要对TAP controller有一个比较清楚的了解。
在后续的文章中还会向大家介绍边界扫描的其它方面。
边界扫描为开发人员缩短开发周期，并且提供良好的覆盖率和诊断信息。
白盒测试中的边界值分析技术
白盒测试中的边界值分析技术边界值分析是白盒测试中常用的一种技术，通过测试边界值来检测程序在输入边界附近的行为。
边界值分析技术有效地揭示了程序在边界值处可能出现的错误和异常。
一、边界值分析的原理和方法边界值分析是基于一种合理的假设：在边界处的错误往往比在范围内部的错误更容易出现。
因此，通过测试边界值，可以更有效地发现错误和缺陷。
边界值分析的方法主要包括以下几个步骤：1. 确定输入条件：首先，需要明确测试对象的输入条件，包括输入变量的范围、类型和限制。
2. 确定边界值：根据输入条件，确定输入变量的边界值。
一般情况下，会选择最小边界值、最大边界值和一些典型的边界值。
3. 设计测试用例：根据确定的边界值，设计测试用例。
测试用例应涵盖各种可能的边界情况，既包括正常的边界情况，也包括异常的边界情况。
4. 执行测试用例：按照设计的测试用例执行测试，记录测试结果和发现的问题。
5. 分析测试结果：分析测试结果，查找并修复发现的问题。
二、边界值分析的优势边界值分析技术在白盒测试中具有以下几个优势：1. 高效性：通过测试边界值，可以有效地检测程序在边界附近的错误和异常，提高测试效率。
2. 准确性：边界值分析将测试重点放在程序的边界条件上，更容易发现边界条件下的问题，增加测试的准确性。
3. 全面性：边界值分析要求设计测试用例时考虑各种边界情况，使得测试覆盖范围更广，更全面。
4. 可重复性：边界值分析的测试用例是基于程序的边界条件设计的，因此可以重复使用，提高测试效率。
三、边界值分析的应用场景边界值分析技术在软件测试中有广泛的应用场景，特别适用于以下情况：1. 输入范围较大：当输入变量的范围较大时，使用边界值分析可以有效地缩小测试范围，提高测试效率。
2. 输入限制较多：当输入变量有一些限制条件时，如输入值必须为正数、输入值不能为零等，边界值分析可以帮助检测这些限制条件下的错误和异常。
3. 关键业务逻辑：当程序的关键业务逻辑与输入变量相关时，边界值分析可以验证这些关键逻辑在边界情况下是否正确。
边界测试技术——健壮性测试、最坏情况测试、健壮最坏情况测试
边界测试技术——健壮性测试、最坏情况测试、健壮最坏情况测试转载==============================================⿊盒测试——边界测试边界值分析是⼀种常⽤的⿊盒测试⽅法，是对等价类划分⽅法的补充；所谓边界值，是指相对于输⼊等价类和输出等价类⽽⾔，稍⾼于其最⾼值或稍低于最低值的⼀些特定情况。
边界值分析的步骤包括确定边界，选择测试⽤例两个步骤。
⼀、基本原理：错误更可能出现在输⼊变量的极值附近.失效极少由两个（或多个）缺陷的同时发⽣引起的。
Min、Min+、Nom、Max-、Max.⼆、单缺陷假设和多缺陷假设：单缺陷假设是边界值分析的关键假设。
单缺陷假设指“失效极少是由两个或两个以上的缺陷同时发⽣引起的”。
在边界值分析中，单缺陷假设即选取测试⽤例时仅仅使得⼀个变量取极值，其他变量均取正常值；多缺陷假设，则是指“失效是由两个或两个以上缺陷同时作⽤引起的”，要求在选取测试⽤例时同时让多个变量取极值。
三、边界值测试数据类型：数值、速度、字符、地址、位置、尺⼨、数量等。
四、边界值测试的分类五、边界值测试技术：（⼀）、基本边界值测试。
有n个输⼊变量，设计测试⽤例使得⼀个变量在数据有效区内取最⼤值、略⼩于最⼤值、正常值、略⼤于最⼩值和最⼩值。
如下图所⽰,两个变量X1,X2。
它们的有效取值区间分别为[c,d],[a,b]。
对于有n个输⼊变量的程序，基本边界值分析的测试⽤例个数为4n+1。
(⼆）、健壮性测试。
健壮性是指在异常情况下，软件还能正常运⾏的能⼒。
健壮性考虑的主要部分是预期输出，⽽不是输⼊。
健壮性测试是边界值分析的⼀种简单扩展。
除了变量的5 个边界分析取值还要考虑略超过最⼤值（max）和略⼩于最⼩值（min）时的情况。
健壮性测试的最⼤价值在于观察处理异常情况，它是检测软件系统容错性的重要⼿段。
如下图所⽰。
对于有n个输⼊变量的程序，健壮性测试的测试⽤例个数为6n+1。
(三）、最坏情况测试。
边界扫描测试的原理及应用
Ｃ Ｔ Ｒ Ｒ 时 ，所 有 的扫 描 单 元 都 能 在 ＣＬ Ｋ ＡＰ Ｕ Ｅ Ｄ ＯＣ
ＤＲ 的上 升 沿取 样输 入 数据 。 测试 数据 的输 出也相 类
似 ， 它是 在Ｔ ＡＰ状 态 在 Ｐ Ａ Ｅ Ｄ 的下 降沿 时 将 扫 Ｄ Ｔ Ｒ
描 输入 端锁存 并输 出。 所有 的扫描 单 元都 能完成 以上
数据 稳 定后 ，第 二个 锁存 器 由ＵＰ Ａ ＥＤＲ控制 锁 存 Ｄ Ｔ
输 出第 一个 锁 存器 移 出 的数据 。 ＭＯＤＥ信 号 的 电平 决定 是 测试模 式还 是工作 模式 。边 界扫描 单 元 既有 输
入又 有输 出。 一般 来说 ，在每 一 个物理 引脚 不论输 入
还是 输 出 ，都 有一 个独 立 的边 界扫 描单 元 ，但 区别是 输 入在每 一个 物理 引脚 的后面 ，而对于 所 有的输 出是
图 １中 “ ＡＰＣ ｎｒｌ ｒ 其 实 质 上 是 一 个 状 态 Ｔ ｏｔ ｌ ” ｏｅ
机 ， 它根 据 不 同 的操 作 指 令 能 产 生 １ ６个 不 同 的 状 态 ，具 体状 态 逻辑 参 考 图２ 从 一个 状 态切 换 成另 一 。 个状 态 总 是 发生 在Ｔ Ｋ 的上升 沿 ， 由Ｔ Ｃ ＭＳ从 两个 状
试 。 它是 在 芯 片 的Ｉ ／ 上 增加 移 位 寄 存器 ，把 这 些 Ｏ端
寄存 器连 接起来 ，加 上 时钟复 位 、测试 方式选 择 以及
６２
ｆ 墼
维普资讯
（ Ｃ Ｎ）或 者 是 扫描 输 入 的数 据 （ Ａ Ａ Ｉ） Ｓ ＡＮ Ｉ Ｄ Ｔ ，并 Ｎ 且 由Ｃ ＯＣ Ｒ 制锁 存输 出。 在第 一个 锁存 器移 出 Ｌ ＫＤ 控
在每 一个 物理 引脚 的前面 。 态。 Ｔ Ｓ 测 试 重置） 可选 项 ，可作 为硬件 重 置信 ＲＴ（ 是 号 ，一般 不用 。详 细边界 扫描 结构 及信号 流 程参 考图
边界测试技术原理
4.7 边界扫描的主要应用－VCCT
4.8 边界扫描的主要应用－VCCT
VCCT:Virtual Component Cluster Test
4.10 边界扫描的主要应用－PPT
PPT:Parallel Port Test
通 过 计 算 机 并 口 进 行 BS测 试 ， 不 需 要 其 他 任 何 设 备 可 以 测 试 到 5种 类 型 的 网 络 ： 纯 粹 的 BS器 件 之 间 的 网 络 （ VIT） ； VC C T的 网 络 ； 上 下 拉 的 网 络 ； 有 测 试 点 的 网 络 ； TAP 口 的 网 络 。
5.1 边界扫描设计规范
JTAG 管脚上下拉须符合规 范，且都有测试点。 尽可能使用 2× 5PIN 插 座。 尽可能连成一条菊花链。 应能保证菊花链的信号质 量。 DKBA01-200101-010 《 JTAG 接口电路设计规 范》 DKBA3551-2001.08 《 ICT 可测性设计规范》
0 0
0
0
2.5 TAP控制器
TAP 控 制 器 是 16-states 的 有 限 状 态 机 TAP 控 制 器 的 状 态 在 TCK 的 上 升 沿 变 化 TAP 控 制 器 在 上 电 时 进 入 逻 辑 复 位 状 态 Shift-IR state 扫 描 IR ， TDO 输 出 有 效 Shift-DR state 扫 描 DR ， TDO 输 出 有 效 其 它 状 态 下 TDO 输 出 无 效
3.4 BYPASS指令的执行
MDA&JTAG测试原理
JTAG 测试的方法
标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO,分别为模式 选择、时钟、数据输入和数据输出线。 相关JTAG引脚的 定义为：
TCK (test clock)--测试时钟输入；
TDI (test data input)--测试数据输入，数据通过 TDI引脚输入JTAG接口；
MDA & JTAG 測試原理
Copyright © 2009. Alpha Networks Inc. All rights reserved.
序言
伴随着当代科技的迅猛发展 , “test” 几乎已经人所共知,可以毫 不夸张的说,它贯穿了所有产品的始终, 标度衡量着产品的品质,是 产品赖以生存的质量把关标兵.测试覆盖随即也被推上了历史的舞 台…
run every action
In this window you can see Scanwork’s power
(All action can be used for test)
This windows represent what action you use for test on UUT(you can drag from left window and drop in this window)
电阻的量测方法
定电流测量法
A
I
R
ADC V
R= V I
定电压测量法
当待测电阻并联大电容时，若用定电
流测量法，大电容器的充电时间太长， 因此， 用定电压的测试方式可以缩短 测试的时间
B
相位测量法
当电阻与电容或电感并联量测法来做测 试。此法是利用交流定电压源为信号源，量测待 测零件两端的电压与电流的相位差，藉以计算出 各别的电阻抗、电容抗或感抗的值。
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1
U pdate-D R
1
0
1 Select-IR -Scan
0
1 C apture-IR
0
S h ift-IR
0
1 1
E x it1 -IR
0
P au se -IR
0
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E x it2 -IR
1
U pdate-IR
1
0
2.5 TAP控制器
TA P 控 制 器 是 16-states的 有 限 状 态 机 TAP控制器的状态在TCK的上升沿变化 TAP 控制器在上电时进入逻辑复位状态 Shift-IR state扫描IR，TDO输出有效 Shift-DR state扫描DR，TDO输出有效 其它状态下TDO 输出无效
2.6 TAP控制器口线功能和关系1
TCK为低时Test logic的存储单元保持不变，TCK在上升 沿采样TMS和TDI输入值，在TCK下降沿TDO输出变化
测试指令（test instruction)和测试数据（test data）从 TDI输入线输入到指令寄存器（instruction register ）和 各种数据寄存器（various test data registers）
5 JTAG接口电路设计规范
1.1 什么是JTAG ？
JTAG:Joint Test Action Group（联合测试工 作组）的英文缩写 边界扫描要求符合IEEE1149.1（JTAG）标准 BSDL(Boundary- Scan Description Language)边 界扫描描述语言 边界扫描测试（Boundary-Scan-TEST）： 对符合IEEE1149.1标准的器件，通过BSDL 文件生成测试向量，测试器件开路短路的一 种测试方法。
边界扫描测试技术原理
员工培训中心 2005年11月15日
课程目的
1、了解边界扫描器件的基本结构； 2、了解边界扫描测试技术的原理； 3、了解边界扫描描述语言BSDL的基本格式； 4、了解边界扫描测试技术的主要应用； 5、了解边界扫描JTAG接口的设计规范；
课程目录
1 引言
1.1 JTAG的介绍 1.2 边界扫描技术的经济分析
TAP 接口必须包括: TCK, TMS, TDI, TDO TCK（Test Clock Input)：测试时钟输入线 TMS (Test Mode Selector) ：测试方式选择输入线 TDI （Test Data Input） ：测试数据输入线 TDO（Test Data Output）：测试数据输出线 /TRST（Test Reset Input） ：测试复位输入线， 可选
2.7 TAP控制器口线功能和关系2
只有在移位时（Shift-DR or shift-IR）TDO输出才有效
测试操作受TMS输入的序列‘ 1’ 和‘ 0’ 控制
TRST可以异步复位
当TMS在连续五个TCK时钟周期内保持高时，TAP 控 制器（TAP controller)也会自动进入测试逻辑复位状态 （ Test-Logic-Reset）
INTEST, RUNBIST
IC厂商可以自定义Public or Private Instructions， Public Instructions的资料必须公开。
3.2 JTAG电路指令码
BYPASS: 全1，IC厂商可以再分配几个其它的binary code. EXTEST: 全0，IC厂商可以再分配几个其它的binary code. SAMPLE/PRELOAD, INTEST, RUNBIST, IDCODE, USERCODE: IC厂商自行分配binary code。
3.1 JTAG电路指令
必须提供的Public Instructions
BYPASS, SAMPLE/PRELOAD, EXTEST 如果有Device Identification Register，必须提供IDCODE； 如果是可编程IC，还要提供USERCODE。
可选的Public Instructions
1.2 使用JTAG的好处
缩短产品面世时间 降低测试成本 提高产品质量和可靠性 降低PCB成本
2.1 边界扫描器件的结构
2.2 边界扫描器件的结构
Data Registers
Design-Spec. Reg.
TDO TDI
T
TRST* A T
TMS
PA P
TCK
C
Device-ID Reg. BS Register
(0000000111), "& (0000001010), "& (0000001011)";
2 边界扫描器件
2.1 边界扫描器件的结构 2.2 测试存取通道 2.3 边界扫描寄存器单元结构 2.4 指令寄存器单元结构 2.5 TAP控制器 2.6 指令寄存器 2.7 数据寄存器组
3 测试指令
课程目录
4 主 要 应 用 (ICT)
4.1 TAPIT 4.2 BICT 4.3 VIT 4.4 VCCT 4.5 器 件 功 能 （ Intest） 测 试 4.9 PLD编 程
2.4 控制器的16位状态机
TRST=1
1 Test-Logic-reset
0
0
1 R un-test/Idle
Select-D R -Scan 1
1： TMS=1 0： TMS=0
0
1 C apture-D R
0
Shift-D R
0
1 1
Exit1-D R
0
Pause-D R 0
1 0
Exit2-D R
未分配的binary code表示BYPASS。
3.3 BSDL简单介绍
FPGA器件EP1C12F256的BSDL文件指令：
"BYPASS "EXTEST "SAMPLE "IDCODE "USERCODE "CLAMP "HIGHZ
(1111111111), "& (0000000000), "& (0000000101), "& (0000000110), "&
M
U
0
1D
X
1
C1
EN
Bypass Reg.(1 bit)
3
ClockDR ShiftDR
UpdateDR
Reset*
3 ClockIR
Shiftstruction Register
Select TCK Enable
2.3 TAP-Test Access Port