第三章射线照相质量的影响因素
射线检测影像质量
3.1 影像质量的基本因素
对素
对比度(∆D):对应金属边界的黑度差,即影像与 背景的黑度差。影像的对比度决定了在射线透照 方向上可识别的细节尺寸。 不清晰度:从一个黑度到另一黑度的缓慢变化区 的宽度,即影像边界扩展的宽度。影像的不清晰 度决定了在垂直于射线透照方向上可识别的细节 尺寸。 颗粒度σD:黑度不规则变化的统计平均值(统计标 准差)。影像黑度的不均匀性程度,影像的颗粒度 决定了影像可显示的细节最小尺寸。
第3章 射线检测影像质量 章
主要内容
3.1 影响影像质量的基本因素
3.1.1 影像的对比度 3.1.2 影像的不清晰度 3.1.3 影像的颗粒度
3.2 射线检测影像质量评价-检测灵敏度
3.2.1 概念 3.2.2 像质计及射线照相灵敏度
3.3 IQI灵敏度与射线检测技术因素的关系 3.4 缺陷可检出性 3.5 ∆Dmin,∆D,w的关系 3.6 射线照相灵敏度计算
影像质量影响因素总结
对比度 主因对比度 透照厚度差∆T、μ、n 胶片梯度 不清晰度 几何不清晰度 焦点尺寸、焦距、透照厚度 固有不清晰度 射线能量、增感屏种类、屏-片紧 贴程度 颗粒度 胶片系统、射线能量、曝光量和底片黑度 胶片类型、显影条件、底片黑度
3.2 射线检测影像质量评价
对比度、不清晰度、颗粒度实际很难测量 ,采用灵敏度综合评定影像质量。 射线照相灵敏度 射线照相能够发现和识别细小缺陷或人 工细节的能力。(定性) 在射线底片上可以检测出的最小缺陷或 最小细节的尺寸。(定量)
根据射线照相原理
(
)
I ' = I D '+ I S '
∆I = I '− I
近似 I S = I S ' 因
第三章射线照相质量的影响因素
第三章射线照相质量的影响因素3.1 射线照相灵敏度影响因素3.1.1 概述评价射线照相最重要的指标是射线照相灵敏度。
所谓射线照相灵敏度从定量方面来说,是指在射线底片上可以观察到的最小缺陷尺寸或最小细节尺寸,从定性方面来说,是指发现和识别细小影象的难易程度。
灵敏度有绝对与相对之分,在射线照相底片上所能发现的沿射线穿透方向上的最小缺陷尺寸称为绝对灵敏度,此最小缺陷尺寸与射线透照厚度的百分比称为相对灵敏度。
由于工件中是否有缺陷,在探伤前是不可知的,经过探伤发现的缺陷,其沿射线穿透方向上的尺寸也是很难测定的。
因此,用自然缺陷尺寸来评价射线照相灵敏度是不现实的。
为便于定量评价射线照相灵敏度,常用与被检工件或焊缝的厚度有一定百分比关系的人工结构,如金属丝、孔、槽等组成所谓透度计,又称为象质计,作为底片影象质量的监测工具,由此得到灵敏度称为象质计灵敏度。
需要注意的是,底片上显示的象质计最小金属丝直径,或孔径、或槽深,并不等于工件中所能发现的最小缺陷尺寸。
即象质计灵敏度并不等于自然缺陷灵敏度。
但象质计灵敏度越高,则表示底片影象的质量水平越高,因而也能间接地定性反映出射线照相对最小自然缺陷检出能力。
对裂纹之类方向性很强的面积型缺陷,即使底片上显示的象质计灵敏度很高,黑度、不清晰度均符合标准要求,有时也有难于检出甚至完全不能检出的情况。
面积型缺陷检出灵敏度与象质计灵敏度存在着较大差异。
造成这种差异的影响因素很多,例如焦点尺寸等几何因素的影响,射线透照方向与缺陷平面有一定的夹角而造成透照厚度差减小的影响等。
要提高此类缺陷的检出率,就必须很好考虑透照方向及其他有助于提高缺陷检出灵敏度的措施。
射线照相灵敏度是射线照相对比度(小缺陷或细节与其周围背景的黑度差),不清晰度(影象轮廓边缘黑度过渡区的宽度),颗粒度(影象黑度的不均匀程度)三大要素的综合结果,而三大要素又分别受到不同因素的影响。
黑度是射线照相影象质量的基础,黑度与三大要素的关系可用图3.1表示三大要素的定义和区别可用图3.2表示。
-射线照相基础知识.doc
第3章射线照相质量的影响因素3.1射线照相灵敏度的影响因素射线照相灵敏度定义?射线照相灵敏度与超声波检测灵敏度属不同的概念射线照相灵敏度对应于提高图像信噪比, 灵敏度越高越有利于缺陷识别和检出;超声波检测灵敏度是指回波信号的放大倍数,与信噪比无关,灵敏度高并不意味缺陷检出率高;绝对灵敏度定义?相对灵敏度定义?像质计灵敏度定义?像质计灵敏度H自然缺陷灵敏度?射线照相灵敏度H缺陷检出率?为什么“即使底片上像质计灵敏度很高, 黑度、不清晰度符合要求,也会出现裂纹难于检出甚至完全不能检出的情况?射线照相对比度定义?射线照相不清晰度定义?射线照相颗粒度定义?怎样研究消化表3-1?底片对比度增大的有利和不利影响?射线照相对比度公式的意义和用途是什么?主因对比度和胶片对比度的关系?AT与缺陷尺寸和透照方向关系?其他影响透照厚度差AT的因素?衰减系数U与试件材质和射线能量关系?其他影响衰减系数卩的因素?散射比的影响因素?高梯度胶片的有利和不利影响?高黑度的有利和不利影响?显影条件变化的有利和不利影响?怎样理解“本影消失,对比度显著下降现象” ?射线照相不清晰度u的定义?什么叫黑度过渡区的趾部和肩部?几何不清晰度的定义?固有不清晰度的定义?I 黑度过渡区的趾部和肩部是怎样形成的?U、Ug和U]的关系?公式(3-3)和(3-4)的不同点?JB/T4730怎样规定Li与比值的?通过哪些方法可以减小Ug值?在减小Ug值的同时有哪些不利影响?影响必值的两大因素:焦点投影?工件纵焊缝平板照相,底片上各点的u g值不同是焦点投影造成的?还是几何条件造成环焊缝平板照相,底片上各点的Ug值不同是焦点投影造成的?还是儿何条件造成的?几何不清晰度的计算:固有不清晰度大小就是散射电子在胶片乳剂层中作用的平均距离。
比较正常情况下(焦距700mm,射源尺寸2mm),不同能量射线对不同厚度焊缝透照(100KV透照10mm焊缝、300KV透照30mm 焊缝、Irl92 透照50mm 焊缝、Co60 透照100mm焊缝)的’和U值的大小?在y射线和高能X射线照相中,不同材质增感屏的固有不清晰度?JB/T4730对增感屏的使用是怎样规定的?如何解释增感屏和胶片不贴紧导致固有不清晰度增大的现象?什么叫颗粒性?什么叫颗粒度?颗粒度是怎样构成的?颗粒几何尺寸和黑度起伏的关系?为什么说颗粒度是随机的?形成底片颗粒度的随机性有几种? 胶片噪声与哪些工艺参数相关?量子噪声与哪些工艺参数相关?怎样理解胶片粒度和感光速度对颗粒性的影响?怎样理解射线能量对颗粒性的影响? 怎样理解颗粒度对细节显示的影响?3.2灵敏度和缺陷检出的有关研究什么是最小可见对比度?怎样理解“AD是底片上的客观存在的量值,而A D m in不是?对比度和最小可见对比度有什么关系?底片上的缺陷在较暗的灯下未发现,而在较亮的灯下发现了,为什么会出现这样的哪些因素影响最小可见对比度?讨论底片黑度、颗粒度、金属丝影像宽度等因素对最小可见对比度的影响,为什么■固ADmin随底片黑度、颗粒度、金属丝影像■度推测——拍摄不同黑度(从D=0到D= 无法观察)的像质计底片,在观片灯亮度固定的条件下,观察这些底片,总会有一张底片的像质计灵敏度最高。
第三章 射线照相质量的影响因素
第三章 射线照相质量的影响因素一、 射线照相灵敏度概念1.射线照相灵敏度所谓射线照相灵敏度,从定量方面来说,是指在射线底片上可以观察到的最小缺陷尺寸或最小细节尺寸,从定性方面来说,是指发现和识别细小影像的难易程度。
灵敏度有绝对与相对之分,在射线照相底片上所能发现的沿射线穿透方向上的最小缺陷尺寸称为绝对灵敏度。
此最小缺陷尺寸与射线透照厚度的百分比称为相对灵敏度。
为便于定量评价射线照相灵敏度,常用与被检工件或焊缝的厚度有一定百分比关系的人工结构,如金属丝、孔、槽等组成所谓透度计,又称为像质计,作为底片影像质量的监测工具,由此得到灵敏度称为像质计灵敏度。
需要注意的是,底片上显示的像质计最小金属丝直径、或孔径、或槽深,并不等于工件中所能发现的最小缺陷尺寸,即像质计灵敏度并不等于自然缺陷灵敏度。
2.影响射线照相灵敏度的因素射线照相灵敏度是射线照相对比度(缺陷影像与其周围背景的黑度差)、不清晰度(影像轮廓边缘黑度过渡区的宽度)和颗粒度(影像黑度的不均匀程度)三大要素的综合结果,而此三大要素又分别受到不同工艺因素的影响。
二、 射线照相对比度1.概念射线照相对比度:射线底片上缺陷影像与其周围背景的黑度差。
可分为主因对比度和胶片对比度。
主因对比度:由于工件厚度差引起的射线片上的黑度差。
胶片对比度:底片上某一小区域和相邻区域的黑度差。
2.影响射线照相对比度因素射线照相对比度ΔDΔD=0.434μGΔT/(1+n)主因对比度ΔI/I=μΔT/(1+n)胶片对比度G= ΔD/ΔlgE取决于:a)缺陷造成的透照厚度ΔT(缺陷高度、透照方向) b)射线的质μ(或λ、KV,MeV)c)散射比n(=Is/Ip)取决于:a) 胶片类型(或梯度G)b) 显影条件(配方、时间、活度、温度、搅动)c)底片黑度D三、 射线照相清晰度1. 概念不清晰度:影像轮廓边缘黑度过渡区的宽度。
射线照相不清晰度包括几何不清晰度Ug 和固有不清晰度Ui 。
3射线照相质量的影响因素
主因对比度:μΔT/(1+n); ΔT的相关因素:缺陷尺寸(高度、截面形 状); 透照方向 缺陷尺寸:(不仅高度,线状缺陷的截面宽 度、点状的体积也有影响;) 透照方向:(缺陷延伸方向与射线束角度) 形状:(圆形,三角形) 针对面积型缺陷,透照方向与ΔT的关系特别 明显。为了提高对比度,就应考虑合适的透 照方向,以得到尽量大的厚度差ΔT。裂纹检 出率很大程度取决于透照角度。
是胶片的固有特性。 固有不清晰度大小就是散射电子在胶片 乳剂层中作用的平均距离。 固有不清晰度的大小(1)射线的能量对Ui的影响 表3-2 图3-6 射线的能量↑ → Ui ↑
Ui主要取决于能量,在100~400KV范围, 表达固有不清晰度的经验公式可以写为: Ui=0.0013(KV)0.79
(c)显影条件 显影条件(显影配方、时间、温度、显影液活度 )的变化可显著影响特性曲线形状,进而影响胶 片梯度。 显影温度引起胶片特性曲线改变(图2-50)
(d)对小缺陷,照相几何条件也影响对比度对 照图3-2: 简明解释: 图a所示,正常情况下,底片上缺陷影像由本影 和半影组成,图b所示,随着源尺寸的增大(或 随着缺陷至胶片的距离增大或源至缺陷的距离减 小),半影将增大,本影被半影覆盖,直至达到 图示的临界状态,本影缩小为一个点(或一条线 );图c所示,随着上述情况的进一步加剧,缺 陷本影将完全被半影覆盖,影像只由半影构成, 对比度显著下降。
其它:立方和求根法: U=(Ug3 + Ui3)1/3简单叠加法:U=(Ug+ Ui)
此外还有:运动不清晰度,(荧光增感)屏不清 晰度等等
(1)几何不清晰度
定义: 由于射线源非点源,其有一定尺寸,当透照物体 时,按照几何投影成像原理,物体成像边缘会产 生一定的半影,此半影宽度为几何不清晰度Ug。
第三章射线照相质量的影响因素
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第三章射线照相质量的影响因素
射线照相不清晰度
• 几何不清晰度Ug 由于射线源有一定尺寸引起。
• 固有不清晰度Ui 由于电子在胶片中散射引起。
• 总的不清晰度
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第三章射线照相质量的影响因素
射线照相不清晰度 ——几何不清晰度
• 几何不清晰度:因射线源有一定尺寸,使缺陷在 底片上的影像边缘产生一定宽度的半影。
• 提高几何清晰度措施: 选择小焦点射线源;选择大焦距。
• 对射线检测的影响: F↑→Ug↓→影像质量↑ ↓ 射线强度↓→曝光时间↑
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第三章射线照相质量的影响因素
射线照相不清晰度 ——几何不清晰度
• 在射线透照场中的不同位置,焦点尺寸不 同(阴极一侧较大), Ug也不同——平板 照相时底片上各点的Ug不同;
• 灵敏度的测量 像质计(透度计)——像质计灵敏度。
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第三章射线照相质量的影响因素
概述
• 像质计灵敏度≠自然缺陷灵敏度 像质计灵敏度↑→自然缺陷灵敏度↑
• 射线照相灵敏度:是对比度、不清晰度和 颗粒度三大要素的综合结果。
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第三章射线照相质量的影响因素
概述
• 影响灵敏度的三大要素:
• 有利影响:对比度↑→灵敏度↑ • 不利影响:对比度↑→宽容度↓有效判定区↓
曝光时间↑检测速度↓检测成本↑
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第三章射线照相质量的影响因素
射线照相对比度——理论计算
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第三章射线照相质量的影响因素
射线照相对比度
底片对比度△D的构成:
• 主因对比度△I/I——根本原因;
• 胶片对比度G——主因对比度的放大系数; 二者共同作用的结果。
第3章 射线照相的影像质量
第3章 射线照相的影像质量3.1 影像形成的简单分析图3—1画出了射线照相影像形成的过程。
从图3—1可以看到,在射线透照下,物体内部的情况将投影在胶片平面,形成射线照相影像的图像。
这幅图像的形成,以从射线直线传播的性质讨论。
作为初步分析,可以假设射线源是——个几何点,射线从这点发出,沿直线在空间传播,并沿直线穿透被透照物体。
上述影像形成的过程使影像具有下面一些特点。
1.影像重叠影像的每个点都是物体的一系列点对射线衰减产生的总结果,或者说是物体一系列点的影像的重叠。
例如,图中的影像A 是射线穿过1A 、2A 、3A ……等无数个点到达胶片后形成的,所以A 点影像反映了1A 、2A 、3A ……等无数个点对射线衰减的情况。
这样,当从不同方向进行射线检测时,对同一物体得到的影像可以不同。
影像的重叠性使得物体中不同位置的缺陷,在射线检测的影像上可能表现成一个缺陷,这给射线检测影像的判断带来困难。
2.影像放大影像放大是指在胶片上形成的影像的尺寸大于形成影像的物体的尺寸。
图3—2清楚地显示出,物体中一宽度为W 的区域,在胶片上形成的影像的宽度为W ,明显地这是一个放大的影像,从投影关系不难理解这一点。
影像放大的程度与射线源至被透照物体的距离有关、与影像所表示的物体和检测器的距离有关。
在一般的情况下,影像都存在一定程度的放大。
应注意的是,在实际射线照相检验时,如果X 射线机的焦点大于缺陷的尺寸,则影像可能不产生放大。
3.影像畸变如果得到的影像的形状与物体在投影方向截面的形状不相似,则称影像发生了畸变。
产生这种情况的原因是,物体截面上不同的部分在胶片上形成影像时产生的放大不同,这样就导致影像的形状与物体的形状不相似。
只要物体的投影截面与记录影像的截面不平行,就将发生影像畸变。
在实际射线照相中,缺陷影像畸变是经常发生的,这是由于缺陷总是具有一定的体积,具有一定的空间分布,形状常常是不规则的,这些情况使得透照时将存在多个投影截面,不同的投影截面形成的影像的放大总是存在一些不同,就造成了影像畸变。
RT2理论知识 第三章 射线照相质量的影响因素新2021
第三章 射线照相质量的影响因素
常用的线型像质计有: 1号线型像质计 线号为1~7; 6号线型像质计 线号为6~12; 10号线型像质计 线号为10~16; 13号线型像质计 线号为13-19。
第三章 射线照相质量的影响因素
透照材料不同,所用的像质计不同。 如:Fe、Ni、Ti、Al、Cu。
常用的FE(铁,钢)像质计用于碳钢、低 合金钢、不锈钢等。 表示为:10 FE JB。 符合JB/T7902-2015标准的最大线号为10的 钢像质计。
➢如:一张质量符合标准的射线底片,清晰 显示像质计丝线直径为 0.20 ㎜ 的影像。 不能确认为:该工件内部大于或等于0.20 ㎜的缺陷影像全部显示出来。
第三章 射线照相质量的影响因素
➢像质计灵敏度是评价射线照相技术质量的 一种手段。一般来说,像质计灵敏度和缺 陷检测灵敏度之间不能划等号,后者的情 况要复杂得多,是缺陷自身几何形状、吸 收系数、位置及取向角度的复合函数。
射线检测 第三章
淄博市特种设备检验研究院 徐长业
130 5338 4958
射线检测
射线照相法的原理:
射线在穿透物体过程中会与物质发生相互作用,因吸收和散射 而使其强度减弱。强度衰减程度取决于物质的衰减系数u和射线在 物质中穿越的厚度。如果被透照物体(试件)的局部存在缺陷,且 构成缺陷的物质的衰减系数又不同于试件,该局部区域的透过射线 强度就会与周围产生差异,把胶片放在适当位置使其在透过射线的 作用下感光。经暗室处理后得到底片。底片上各点的黑化程度取决 于射线照射量(又称曝光量,等于射线强度与照射时间乘积),由 于缺陷部位和完好部位的透射射线强度不同,底片上相应部位就会 出现黑度差异。底片上相邻区域的黑度差定义为“对比度”。把底 片放在观片灯光屏上借助透过光线观察,可以看到由对比度构成的 不同形状的影响,评片人员据此判断缺陷情况并评价试件质量。
射线照相质量的影响因素
射线照相质量的影响因素3.1射线照相灵敏度3.1.1 射线照相灵敏度评价射线照相最重要的指标是射线照相灵敏度。
所谓射线照相灵敏度,从定量方面来说,是指在射线底片上可以观察到的最小缺陷尺寸或最小细节尺寸,从定性方面来说,是指发现和识别细小影象的难易程度。
灵敏度有绝对与相对之分,在射线照相底片上所能发现的沿射线穿透方向上的最小缺陷尺寸称为绝对灵敏度。
此最小缺陷尺寸与射线透照厚度百分比称为相对灵敏度。
象质计作为底片影像质量的监测工具,由此得到的灵敏度称为象质计灵敏度。
需要注意的是,底片显示的象质计最小金属丝直径(或孔径、槽深),并不等于工件中所能发现的最小缺陷尺寸。
即象质计灵敏度并不等于自然缺陷灵敏度。
但象质计灵敏度越高,则表示底片影象的质量水平越高,因而也能间接地定性反映出射线照相对最小自然缺陷检出能力。
对裂纹类方向性很强的平面状缺陷来说,即使透照底片影像质量很高,黑度、灵敏度、不清晰度均能符合标准要求,有时也有难于检出甚至检不出的情况。
这是由于射线透照方向与此类缺陷的平面有一定夹角而造成厚度差减小,以至对比度降低的缘故。
要提高对此类缺陷的检出灵敏度,必须很好考虑透照方向及其它有助于提高缺陷显示清晰度和对比度的措施(如选用适当的胶片、增感屏、透照方式、几何布置、曝光条件及暗室处理等)。
JB4730标准中规定采用金属丝透度计相对灵敏度 %100T d S Amin⨯=(3.1) 式中:S —相对灵敏度百分数d min —底片上可识别的最小线径 T Δ—透照厚度JB4730标准中规定的射线照相灵敏度,是用底片上可以识别的最细金属丝直径或线编号表示影象质量。
在给定工件厚度时,底片可识别的金属丝直径越小,象质指数越大,表示达到的象质水平越高,此时可识别最细金属丝直径d或其min就称为象质计的绝对灵敏度。
对应的最大象质计指数Zmax3.1.2 射线照相灵敏度的影响因素射线照相灵敏度是射线底片对比度(小缺陷或细节与其周围背景的黑度差),不清晰度(影象轮廓边缘黑度过渡区的宽度),颗粒度(影象黑度的不均匀程度)三大要素的综合结果。
射线照相质量的影响因素叶宇峰总结
2、底片对比度越大,影像越容易被观察到和 识别清楚。 3、为检出较小的缺陷,获得较高的灵敏度, 就必须设法提高底片对比度。但在提高对 比度的同时,也会产生一些不利后果,例 如试件能被检出的厚度范围减小(厚度宽 容度 ↓ ),底片上的有效评定区域缩小, 曝光时间延长,检测速度下降,检测成本 增大等等。
二、影响射线照相灵敏度的因素
射线照相对比度ΔD
D 0.434 G
主因对比度
射线照相不清晰度U
2 U Ug U i2
几何不清晰度 固有不清晰度
0.79
T (1 n)
D lg E
射线照相颗粒度 σD
N ( Di D) 2 D N 1 i 1
B. 影响胶片对比度的因素 : 胶片种类、底片黑度,显影条件 1)不同类型的胶片具有不同的梯度
通常,非增感胶片的梯度比增感型胶片的梯 度大。非增感型胶片中,不同种类的胶片有时梯 度也不一样,要想提高对比度,可以选择梯度较 大的胶片。(梯度:T1>T2>T3>T4) 若要增大G值,可选用G值更高的微粒胶片; 由于非增感胶片G值和黑度成正比,也可通过提高 底片黑度增大G值。但高G值的微粒胶片感光速度 往往较慢,需要增大曝光时间,提高黑度也需要 增加曝光时间,此外,黑度的提高会增加最小可 见对比度△Dmin ,对灵敏度产生不利影响。
射线照相质量的影响因素
浙江省特种设备检验研究院 ---叶宇峰 2013年3月8日
第三章的主要内容
一、射线照相灵敏度的影响因素 1、基本概念及相关定义 2、射线照相--对比度ΔD 3、射线照相--清晰度U 4、射线照相--颗粒度σD 二、灵敏度和缺陷检出的有关研究 1、最小可见对比度△Dmin 2、底片黑度与灵敏度 3、缺陷检出试验 4、几何因素对小缺陷对比度的影响 5、不同缺陷的灵敏度关系式 6、裂纹检出的研究 7、信噪比
第3章 射线照相质量的影响因素--叶宇峰
胶片对比度公式:
• 胶片的梯度即胶片对不同曝光量在底片上映出不同黑度差别的固有能 力。可用胶片特性曲线上某一点切线的斜率表示。此斜率称为胶片梯 度G或称为胶片反差系数γ。 胶片特性曲线中某点的胶片梯度为: •
•
由于特性曲线上各点的G值不同,所以常用特性曲线上两点连线的斜 率来表示称为胶片的平均梯度 或平均反差系数 。 • 所以胶片 对比度公式为:
4)减小散射比n可以提高对比度。
n的相关因素(源的种类、射线的能量、工件材质、 工件形状、散射线屏蔽) A.源的种类:X射线、高能X射线和γ射线的差异; B.射线能量:能量与透照厚度; C.工件材质:钢与轻金属; D.工件形状:大厚度差工件、厚而窄的工件、有余 高的焊缝; E.散射线屏蔽措施:因此透照时就必须采取有效措 施控制和屏蔽散射线,如使用铅窗口与铅屏蔽, 这些也将降低工作效率,使曝光时间延长。
一、基本概念及相关定义
1、射线照相灵敏度:
• 从定量方面来说,是指在射线底片上可以观察到 的最小缺陷尺寸或最小细节尺寸。 • 从定性方面来说,是指发现和识别细小影像的难 易程度。
2、绝对灵敏度:在射线照相底片上所能发现的
沿射线穿透方向上的最小缺陷尺寸。
3、相对灵敏度:能发现的沿射线穿透方向上的
最小缺陷尺寸与射线透照厚度的百分比。
12
胶片对比度
I T I 1 n
G
Ug
df b
kV F b Ui 0.0013
取决于: 1)射线的质μ (或λ、KV、 MeV) 2)增感屏种类 (Pb、Au、Sb 等) 3)屏一片贴紧 程度
取决于: 取决于: 1)缺陷造成 1)胶片类 的透照厚度差 型(或梯 ΔT(缺陷高 度G ) 度、透照方向)2)显影条 2)射线的质μ 件(配方、 (或λ、KV、 时间、活 MeV) 度、温度、 搅动) 3)散射比 n=Is/Ip 3)底片黑 度D
射线检测第三、四、五、六、七章
db 3 30 Ug 0.15mm F b 600 30
16
c.若以L1表示源到 缺陷距离 ,L2表 示缺陷到胶片距离, 几不清晰度也可表 示为: L2 Ug d f L1
17
b.固有不清晰度Ui 固有不清晰度是由于照射到胶片上的射 线在乳剂层中激发出的电子的散射产生的。 当光子穿过乳剂层时,与乳剂相互作用 发生光电效应、康吴效应以及电子对效应, 在乳剂中激发出电子。这些电子向各向散射, 使乳剂中的卤化银晶粒感光,形成潜影。胶 片显影后,使影象轮廓模糊 固有不清晰度的大小主要取决于 射线的能量,能量越大,固有不清晰 度就越大。 使用增感屏也会使固有不清晰度增大, 特别是屏—片接触不良时更为显著。
28
2)、焦距的选择
选择焦距的原则是满足规定的几何不清 晰度的要求: 由于:
Ug df b f b
Fmin b df Ug
L2 L1
如几何不清晰度以U g d f
L1 min
表示,
L2 df L1
29
JB/T4730.2-2004标准规定: a.所选用的射线源至工件表面的距离f应 满足下式的要求: A 级:f ≥ 7.5d· 2/3 b AB级:f ≥ 10d· 2/3 b B 级:f ≥ 15d· 2/3 b b.采用源在内中心透照方式周向曝光时, 只要得到的底片质量符合要求,f值可以减小, 但减小值最多不应超过规定值的50%。 c.采用源在内单壁透照方式时,只要得到 的底片质量要求,f值可以减小,但减小值最 多不应超过规定值的20%。
9
ΔI/I即称为主因对比度,它反映透过试件 完好部位与有缺陷部位的射线强度的相差程度。 由公式(6)可以看出,影响主因对比度 的因素有试件吸收系数、散射比和试件厚度差。 b.胶片对比度由胶片特性曲可知,胶片对 比度:
射线照相灵敏度的影响因素
不紧贴散射大。不清晰度大 前后屏与胶片不贴紧影响>前屏与胶片不贴紧 影响>后屏与胶片不贴紧影响; 前屏与胶片间距0.1 mm,Ui增大一倍;
第三章
射线照相灵敏度的影响因素
33
几何不清晰度构成黑度过渡区直线部分,而固有不清 晰度则使黑度过渡区产生趾部和肩部。 射线照相不清晰度可以用铂-钨双丝像质计测定。 提高清晰度的方法是设法减小二者之中影响较大的; 对于中低能X射线照相,Ui很小,Ug成为主要影响因素 ; 对于Co60、γ源照相,Ui值较大,是主要影响因素。 为了提高清晰度尽量减少Ug,使之不超过Ui。对于裂 纹宜选Ug=Ui,必要时通过改变几何条件使Ug=Ui/2。
示例
第三章
射线照相灵敏度的影响因素
30
在 NB/T47013 中规定:射线源至工件表面的距离 L1应满足下式的要求: A 级:L1≥ 7.5df· L2 2/3 (Ug≤L2 1/3×2/15) AB级:L1≥ 10df· L2 2/3 (Ug≤L2 1/3×1/10) B 级: L1≥15df· L2 2/3 (Ug≤L2 1/3×1/15) 上世纪70年代德国国家标准首先采用的经验公式, L2 ↑→允许的最大Ug↑;
第三章
射线照相灵敏度的影响因素
25
阶边影像的射线照相不清晰度
第三章
射线照相灵敏度的影响因素
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2.射线照相不清晰度 射线照相不清晰度越小,影像的轮廓越清晰, 射线照相的清晰度越高,常用射线照相不清晰度 描述射线照相清晰度。 正常情况下,构成射线照相不清晰度主要两个 方面因素:几何不清晰度 Ug 与固有不清晰度 Ui 叠 加。 常用:平方和求根法:U=(Ug2 + Ui2)1/2
第三章
射线照相质量影响因素
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射线照相质量影响因素
• 4、 答:由于不同区域射线强度存在差异所产生 的对比度称为主因对比度,其数学表达式为:
•
ΔI/I=μ(ΔT)/(1+n)
• 式中:I:透过试件到达胶片的射线强度; ΔI:局部区域射线强度增量; μ:射线的吸收 系数;ΔT:局部区域透射厚度差;n:散射比。
• 由上式可以看出,主因对比度取决于透照厚度 差、射线的质以及散射比。
射线照相质量影响因素
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2020/11/18
射线照相质量影响因素
• 是非题
• 1. 影像颗粒度完全取决于胶片乳剂层中卤
化银微粒尺寸的大小。
(×)
• 2. 像质计灵敏度1.5%,就×意味着尺寸大 于透照厚度1.5%的缺陷均可被查出。 ( ×)
• 3. 使用较低能量射线可得到较高的主因对
比度。
A. 纵缝Ug值各处都一样,而环缝Ug值随部位而变化 B. 环缝Ug值各处都一样,而纵缝Ug值随部位而变化 C. 无论纵缝、环缝,Ug值在任何部位都相同,不发
生变化 D. 以上都不是。
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射线照相质量影响因素
• 20. 用置于透照区中心附近的铂——钨双丝透度 计可以从射线底片上测出一定管电压下的( C)
A.对比度
B. 不清晰度
C. 颗粒度
D. 以上都是
• 8. 射线底片的颗粒性是由什么因素造成的 (D )
A. 影像颗粒或颗粒团块的不均与分布
B. 底片单位面积上颗粒数的统计变化
C. 颗粒团块的重重叠叠
D. 以上都是
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射线照相质量影响因素
• 9. 下列四种因素中,不能减小几何不清晰度的因 素是( C)
第三章 射线照相质量的影响因素分析
1.2像质计和像质计灵敏度
用像质计灵敏度计量:金属丝直径、或孔径、 或槽深 ;不同类型像质计没有严格对应关系, 只有大致对应关系。 JB/T4730灵敏度表示方法:绝对灵敏度法。 像质计灵敏度不等于自然缺陷灵敏度。 面积型缺陷检出灵敏度与像质计灵敏度存在着 较大差异。 原因——形状不同,尺寸不同 结果——透照角度不同,灵敏度变化不同; 焦点尺寸和焦距不同,对灵敏度影响不同。
K=d/T×100%
式中:K---丝型像质计射线照相灵敏度; d---射线照片上可识别的金属丝最 小直径; T---工件的透照厚度。
1.2像质计和像质计灵敏度
1.2.3像质计灵敏度: 在实际工程应用中,并不需要计算每次透 照的灵敏度数值,而是通过底片上金属丝 (即像质指数)的显示来了解和控制灵敏 度的。金属丝直径的编号即称为像质指数, 像质指数从 1 ~ 19 ,代表的直径从 3.2mm ~ 0.063mm。母材公称厚度不同、检测等级不 同,透照方式不同要求显示的像质指数号 值也不相同。表2-5-1是单壁透照像质计灵 敏度值。
1.3射线照相灵敏度的影响因素
如图所示,设入射到底片的光强度为I0,透 过底片的光强度为I,记光学密度为D,则光 学密度定义为
D=lg(I0/I )
I0
I
1.3射线照相灵敏度的影响因素
即光学密度为入射光强度与透射光强度 之比的常用对数之值。 曝光量是在曝光期间胶片所接收的光能 量,记光(射线)强度为I,曝光时间 为t,曝光量为 H,则曝光量可以用下 式定义
1.3射线照相灵敏度的影响因素
在射线检验中,影像质 量的基本因素,可以从 金属边界射线照相的影 像导出。如图,当透照 一锐利的垂直的金属物 体边界时,理想的情况 应得到一阶跃式的黑度 分布曲线,即当从一个 厚度过渡到另一个厚度 时,对应的黑度应从一 个黑度以阶跃的形式过渡到另一个黑度。
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射线照相不清晰度 ——固有不清晰度——影响因素
•
射线照相不清晰度 ——固有不清晰度——影响因素
• 增感屏因素 射线光子穿过增感屏时发射出电子使乳化银颗粒 产生潜影,同样产生固有不清晰度。
• 要素 增感屏材质:在中低能量射线照相中,使用铅屏 不使用铅屏的Ui大;在γ射线和高能X射线照相中 ,使用铜、钽、钨增感屏比铅屏的Ui小; 厚度; Ui与厚度有关; 使用情况:如果屏与胶片贴合不紧, Ui明显大。
•
射线照相颗粒度
• 定义:描述在均匀曝光下,底片黑度地不均匀性 。黑度不规则变化的统计平均值
• 原因: 感光乳剂中溴化银晶体分布的随机性; 单位面积内溴化银晶体的数目(尺寸)的随机性; 射线光子吸收的随机性; 显影条件和过程。
•
射线照相颗粒度
• 影响因素 胶片、射线能量、曝光和显影。
• 结论 感光乳剂粒度↑ 射线能量↑ 曝光量↓黑度↓ → 颗粒度↑
•
射线照相对比度 ——影响胶片对比度的因素
• 不同的胶片具有不同的梯度; • 黑度↑→梯度↑——限制最小黑度; • 显影条件:
配方、显影时间、温度、显影液活度。
•
射线照相对比度—— 照相几何条件对小缺陷对比度的影响
• 小缺陷:横向尺寸远小于射线源尺寸。 • 底片上影像:本影+半影 • 如本影消失,对比度显著下降。
与相邻区域的黑度差。 • 有利影响:对比度↑→灵敏度↑ • 不利影响:对比度↑→宽容度↓有效判定区↓
曝光时间↑检测速度↓检测成本↑
•
射线照相对比度——理论计算
•
射线照相对比度
底片对比度△D的构成: • 主因对比度△I/I——根本原因; • 胶片对比度G——主因对比度的放大系数;
二者共同作用的结果。
•
射线照相对比度 ——影响主因对比度的因素
• △T——与缺陷的尺寸及透照方向有关; • μ——与工件的材质和射线能量有关; • μ‘——与缺陷的材质和射线能量有关; • n——与散射的控制有关。
•
射线照相对比度 ——影响主因对比度的因素
• 结论 为提高主因对比度的措施: 选择透照方向,使△T↑ 选择低能射线, 使μ ↑ 减少散射,使n↓
•
射线照相不清晰度
• 不清晰度:几何不清晰度、固有不清晰度。
•
射线照相不清晰度
• 几何不清晰度Ug 由于射线源有一定尺寸引起。
• 固有不清晰度Ui 由于电子在胶片中散射引起。
• 总的不清晰度
•
射线照相不清晰度 ——几何不清晰度
• 几何不清晰度:因射线源有一定尺寸,使缺陷在 底片上的影像边缘产生一定宽度的半影。
• 射线照相灵敏度:是对比度、不清晰度和 颗粒度三大要素的综合结果。
•
概述
• 影响灵敏度的三大要素:
对比度△D——缺陷影像与其背景
的黑度差 不清晰度U——影像轮廓边缘黑
度过渡区的宽度
颗粒度σD——影像黑度的不均匀
程度
•
概述
• 影响射线照相灵敏度的因素
•
射线照相对比度
• 影像:底片上不同黑度的阴影构成。 • 底片对比度(底片反差):底片上某一小区域
第三章射线照相质量的 影响因素
2020年7月8日星期三
内 容 Contents
• 射线照相灵敏度的影响因素
Some Factors Influencing sensitivity for RT
• 灵敏度和缺陷检出的有关研究
Study on sensitivity and detectability for RT
• 几何不清晰度的计算
No Image
•
射线照相不清晰度 ——几何不清晰度
• 最大几何不清晰度的计算 相当于射线源侧工件表面缺陷或放置的像质计的 几何不清晰度。
•
射线照相不清晰度 ——几何不清晰度
• 影响因素: 射线源焦点尺寸、焦距、工件厚度。
• 提高几何清晰度措施: 选择小焦点射线源;选择大焦距。
底片上可识别最小缺陷或最小细节的尺寸。 • 灵敏度分类:绝对灵敏度、相对灵敏度。
•
概述
• 绝对灵敏度 底片上所能发现的沿射线穿透方向上的最小缺陷 的尺寸。
• 相对灵敏度 底片上所能发现的沿射线穿透方向上的最小缺陷 的尺寸与穿透厚度之比。
• 灵敏度的测量 像质计(透度计)——像质计灵敏度。
•
概述
• 像质计灵敏度≠自然缺陷灵敏度 像质计灵敏度↑→自然缺陷灵敏度↑
•
射线照相灵敏度的影响因素
• 概述 Introduction • 射线照相对比度 Contrast • 射线照相不清晰度 Unsharpness • 射线照相颗粒度 Graininess
•
概述
• 无损检测灵敏度:发现最小缺陷的能力。 • 评价射线照相影像质量(Image Quality)指标
灵敏度。 • 射线照相灵敏度
• 原因: 光子穿过乳剂层时,激发出电子,使乳化 银颗粒产生潜影造成影像边界的扩散和轮 廓的模糊。
• Ui的大小: 散射电子在乳剂层中的作用的平均距离。
•
射线照相不清晰度 ——固有不清晰度——影响因素
• 能量因素 射线光子的能量越高,激发出的电子动能就 越大,在乳剂层中的射程越长, Ui越大。
• 计算 在100-400kV内,固有不清晰度为:
•
总结
因素
含义
影响
对比度 影像与背景的黑度差 决定在射线透照方向上可识
别细节的尺寸
不清晰度 影像边界扩展的宽度 决定在垂直于射线透照方向
上可识别细节的尺寸
颗粒度 影像黑度的不均匀性 决定可显示的细节最小尺寸
•
灵敏度和缺陷检出的有关研究
• 例2 采用双壁双影透照φ76×3的管子对接焊缝,已知X射 线机焦点尺寸为3mm,焦距为600mm,焊缝表面加 强高为2mm,焊缝根部没有加强高,求胶片侧焊缝和 射线源侧焊缝的照相几何不清晰度。
•
射线照相不清晰度 ——几何不清晰度
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射线照相不清晰度 ——几何不清晰度
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射线照相不清晰度 ——固有不清晰度——产生原因
• 对射线检测的影响: F↑→Ug↓→影像质量↑ ↓ 射线强度↓→曝光时间↑
•
射线照相不清晰度 ——几何不清晰度
• 在射线透照场中的不同位置,焦点尺寸不 同(阴极一侧较大), Ug也不同——平板 照相时底片上各点的Ug不同;
• 特殊工件如环焊缝的Ug复杂。
•Hale Waihona Puke 射线照相不清晰度 ——几何不清晰度
• 例1 平板对接焊缝厚度为20mm,射线源焦点为2mm,焦 距为700mm,忽略焊缝加强高,求几何不清晰度。