最新土木工程测试技术-应变片测量技术

土木工程测试技术-应变片测量技术

土木工程测试技术—电阻应变片测量技术摘要：当今，在工程结构试验中，电阻应变片测量技术仍是应用最广泛和最有效的应力测量技术，并且在现今的工程结构健康监测方面也发挥着积极的作用。由电阻应变片制成的各种电阻应变式传感器，在各个工程行业中也发挥着极其重要的作用。本文简单的介绍下电阻应变片测量技术的发展史及其在目前建筑等行业中的应用。关键词：电阻应变片传感器横向效应应变片的灵敏度系数电阻应变片是电阻应变测量的传感元件。用电阻应变片进行测量时，一般将应变片粘贴于构件表面，当构件受力变形时，应变片亦随之变形，变化的结果将导致应变片的电阻变化。测量出这种变化，并转换成相应的应变，即实现非电量的电测。电阻应变片具有结构简单、性能稳定可靠、灵敏度高、频率范围广的特点。此外，将电阻应变片粘贴到各种弹性元件上还可以制成能测量位移、力、力矩、扭矩和加速度的传感器，因而，电阻应变片是使用最为广泛的应变测量器件。电阻式传感器的电阻变化量 R通常很小,所以转换的信号是微弱的,需要经过调理放大后驱动显示。

电阻应变片国内习惯称为电阻应变计，简称应变计或应变片，它是在第二次世界大战结束的前后出现的，已经有六七十年的历史了。作为一个敏感元件，其测量方法的技术已经十分成熟了。现今，随着应用光纤传感器等其他测量技术的发展，有些人认为应用电阻应变计的电测技术已趋于老化。这是一种误解，电阻应变计使用于空间（高真空、深低温）、海水中（高压、流水中）、土中等广泛的计测范围。适用结构对象有航空、航天器、原子能反应堆、发动机、汽车、机车车辆和轨道、架线；船舶。桥梁、道路、大坝以及各种建筑物、机场、港湾设施等；适用的材料，由开始时的钢铁和铝等各种金属材料，到木材、塑料、玻璃、土石类、复合材料，并且，它不仅适用于室内实验、模型实验，还可以在现场对实

际结构或部件进行测量。这些特点是任何一种传感元件或传感器所不能比拟的。另外它在今后对结构和设备的安全监护方面也有广泛的应用前景。

一、电阻应变片的发展史

1.外国的电阻应变片发展史

电阻应变计的工作原理是基于金属或合金材料受到应变作用时，其电阻将会发生相应的变化，这种所谓电阻—应变效应是由开尔文于1856年发现的，受载的铜丝和铁丝在拉伸时其电阻值增加，进一步观察发现，在同样应变作用下，铁丝的电阻增加比铜丝大。后来开尔文应用惠斯顿电桥测量电阻变化。这一系列实验中，确定了三个重要事实，即：（1）丝材的电阻变化是应变的函数；（2）不同的材料具有不同的灵敏度；（3）惠斯顿电桥可用来精确测量电阻变化，这一理论为电阻应变计的诞生、发展奠定了基础。

最早的粘贴式电阻应变计是由布鲁克于1935年发明的，他以碳膜为电阻体，把它用胶粘剂直接粘贴到被测试件表面进行应变测量，这种应变计曾做过几千次飞机螺旋桨应力测量，并成功地处理了螺旋桨迎角引起失败的主要原因。但是，由于碳膜电阻温度系数大、滞后和重复性差等原因，被后来的粘贴式金属电阻应变计取代。

1938年美国人西蒙斯利用金属电阻丝制成了现在形式的粘贴式电阻应变计。当时用于棒的冲击试验。与此同时，麻省理工学院的鲁奇指出了同样形式的粘贴式应变计，用于地震对结构影响的研究。后来美国鲍尔温公司取得该项目专利权，产品以西蒙斯和鲁奇姓名的字头命名为SR-4。初期的电阻应变计是一种纸基丝式应变计，简称丝式片。

1954年美国人史密斯发现了硅等半导体材料的压阻效应，尔后贝尔电话实验室的麦逊等于1957年制成压阻半导体应变计，1960年

作为商品销售。由于半导体应变计的灵敏系数是金属应变计的25~100倍，因而被用于测量微小应变和制作高灵敏度传感器。为了改善体型半导体应变计电阻温度系数大的缺点，人们利用半导体集成电路的平面工艺，开发了扩散型半导体应变计，大大改善和降低了半导体应变计的温度特性。

1953年英国的杰克逊发明了以环氧为基地，采用印刷电路技术生产的箔式应变计，从而使应变计技术进入了一个新的时代。电阻应变计先在美国商品化,后来逐渐扩展到英国、瑞典、瑞士、法国、前西德、前苏联等国。日本共和无线研究所（共和电业公司前身）于1950年试制成功电阻应变计和放大器,1951年开始商品化。

2. 中国的电阻应变片发展史

我国电阻应变计的研究、生产始于五十年代中期,是由前苏联和美国传入的,首先开始研制、生产的是机械科学研究院和北京航空学院（现北京航空航天大学）。北航在五十年代末以“祖国牌”命名的电阻应变计、胶水、静态应变仪实现市场化,六十年代初研制成箔式应变计,体型半导体应变计也开始供应市场,并且开始形成专业生产厂。从1965年至1985年期间是各种应变计技术工作最为活跃的时期,在此期间开展了温度自补偿康铜箔材的研制,并对各种高温用应变电阻、电阻合金进行了深入研究,开发了铂钨合金及铁铬铝合金族,高温应变计技术处于世界先进水平。在此期间开发的低温自补偿应变计,开拓了低温领域的应变测量技术,与此同时,为配合国内称重技术的发展,研究各种高精度称重传感器用应变计,并从美国、日等国引进了四条箔式应变计的生产线,使我国传感器用应变计达到一个新的水平。

七十年代中期,我国研制成功溅射薄膜应变计,由此制成的薄膜压力传感器直接用于飞机的压力测量。八十年代末,厚膜应变计的研制取得较大成果,并有厚膜传感器供应市场。半导体应变计也随着国外

技术的进步,在扩散硅、薄膜等应变计及传感器方面却取得突破性的进展,使我国的应变计、传感器技术趋于成熟。

二、电阻应变片的工作原理

1.电阻应变片的工作原理

电阻应变式传感器利用电阻应变片将应变转换为电阻变化的传

感器，传感器由在弹性元件上粘贴电阻应变敏感元件构成。其工作过程为被测物理量→弹性元件→弹性元件变形→敏感元件阻值变化→测量电路→电量输出。

应变片的工作原理分为以下几个过程：1.应变效应（电阻—应

变特性），电阻应变片的工作原理是基于应变效应，即在导体或半导体材料在外力作用下产生机械变形时，它的电阻值相应发生变化。一根金属电阻丝，在其未受力时，原始电阻值为ls R ρ=，当电阻丝受到拉力F 作用时，将伸长ΔL ，横截面积相应减小ΔS ，电阻率将因晶格发生变形等因素而改变Δρ，故引起电阻值相对变化量为+dR R d dL L dS S ρρ=-。由材料力学可知，在弹性范围内，金属丝受拉力时，沿轴向伸长，沿径向缩短，那么轴向应变和径向应变的关系可表示为：μεμ-=-=L dL r dr 。可得ρρεμd R dR ++=)21(。2.电阻丝的灵敏系数，ρερμεd R dR K s ++==)21(。灵敏度系数受两个因素影响：①受力后材料几何尺寸的变化，即（1+2μ）；②受力后材料的电阻率发生的变化，即（d ρ/ρ）/ε。大量实验证明，在电阻丝拉伸极限内，电阻的相对变化与应变成正比，即KS 为常数。定义K=(dR/R)/ε为应变片的灵敏系数。它表示安装在被测试件上的应变在其轴向受到单向应力时，引起的电阻相对变化(dR/R)与其单向应力引起的试件表面轴向应变(ε)之比。3.电阻应变片的基本原理，当测得应变片电阻值变化量ΔR 时，便可得到被测对象的应变值。根据应力与应变的关系，得到应力值σ为σ=E·ε。