岩相学二轴晶
最新中国矿业大学《矿物岩石学2》重点资料
1.光率体：它是表示当光波在晶体中传播时，光波的振动方向与相应振动方向上折光率值之间关系的立体图形。
光性方位：光率体主轴与结晶轴之间的关系称为光性方位。
2.胶结物:指成岩期在岩石颗粒之间起粘结作用的化学沉淀物。
自生矿物：沉积物在沉积当中，或其后在沉积物内所形成的矿物。
次生矿物：在岩石或矿石形成之后，其中的矿物遭受化学变化而改造成的新生矿物3.变质相：是在一定的温度和压力范围内，不同成分的原岩经变质作用后形成的一套矿物共生组合引。
变质带：不同变质级的岩石在空间上呈有规律的带状分布。
4.岩浆分异作用：原来成分均一的母岩浆﹐受温度﹑压力﹑氧逸度等物理化学条件的影响﹐形成不同成分的派生岩浆及岩浆岩的作用。
岩浆同化混合作用：岩浆熔化并与围岩及捕虏体交代的作用。
5.多色性与吸收性：由于光波在晶体中振动方向不同,而使薄片颜色发生改变的现象称为多色性, 这种颜色深浅变化也称为吸收性。
6.辉绿结构：岩石中基性斜长石和辉石颗粒大小相近，但是自形程度不同，自形程度好的斜长石呈板状，搭成三角形孔隙，孔隙中充填它形的辉石颗粒。
也可以与辉长结构过渡，称辉长辉绿结构。
辉长结构：指基性斜长石和辉石自形程度相同，都呈半自形或他形颗粒，是从岩浆同时析出的结果。
这是基性深成岩的典型结构。
7.气孔和杏仁构造：是发育在喷出岩中的常见构造，岩石中分布有大小不等、定向或者不定向排列的气孔，这是由于岩浆冷凝过程中气泡逸出后留下的空间，这样的岩石称为气孔构造；若气孔被后期的矿物和其他物质充填，则称为杏仁构造。
8.干涉色：白光发生干涉时，则产生由紫至红的一系列彩色条纹。
这些由干涉作用形成的颜色，称为干涉色。
消色：补色法则中，当异名半径平行且两个非均质体矿片的光程差相等时，总光程差为零，此时视野中的矿物为暗灰色，称为消色。
9.多色性：不同方向上矿物呈现不同颜色的现象称为矿物的多色性。
10.边缘及贝克线：在两个折射率不同的物质（矿物颗粒之间或者矿物与树胶）接触处，存在一条较黑暗的界线和一条比较明亮的细线，前者称为矿物的边缘，后者称为贝克线。
硅酸盐岩相学知识点
硅酸盐岩相学第一章几何结晶学1、晶体定义：晶体是内部质点在三维空间按周期性重复排列的固体。
也可以解释为，晶体是具有格子构造的固体。
2、空间格子：是晶体内部结构中质点重复规律的几何图形。
3、格子构造是真实存在的，空间格子是抽象的。
4、相当点必须具备的两个条件：质点种类相同、质点环境相同。
5、空间格子的几种要素：结点、行列、面网、平行六面体。
6、非晶质体：内部质点在三维空间不做规律排列的物质，即不具备格子构造。
晶体的基本性质：（1）自限性指晶体在适当的条件下可以自发地形成几何多面体的性质。
晶体上的平面为晶面，晶面的交棱为晶棱，晶棱会聚而成角顶。
（2）均一性指同一晶体的各个不同部分具有相同的性质。
因为晶体是具有格子构造的固体，在同一晶体的各个不同部分，质点的分布是一样的，所以决定了晶体的均一性。
（3）各向异性指晶体的性质因方向不同而有差异的特性。
（4）对称性指晶体中相等的晶面、晶棱和角顶，以及晶体物理化学性质在不同方向上或位置上做有规律的重复出现。
晶体的宏观对称性是由晶体内部格子构造的对称性所决定的。
（5）最小内能是指在相同的热力学条件下，与同种化学成分的非晶质体、液体、气体相比较，其内能最小。
（6）稳定性在相同的热力学条件下，具有相同化学成分的晶体和非晶质体相比，晶体是稳定的。
布拉维法则：晶体通常被面网密度大的晶面所包围。
对称定义：对称是物体上相等的部分有规律地重复晶体对称的特点：（1）由于晶体内部都具有格子构造，而格子构造本身就是对称的，因此可以说，所有的晶体都是对称的。
（2）晶体外形上共有32种对称型。
（3）晶体的对称取决于其内在的本质——格子构造，因此，晶体的对称不仅体现在外形上，而且在物理化学性质上也是对称的。
晶体的对称要素：对称面（P）、对称轴（L）、对称中心（C）、旋转反伸轴、旋转反映轴。
对称型：晶体中全部对称要素的组合。
共有32种。
在晶体中不可能出现五次对称轴及高于六次的对称轴。
晶体分类的依据：有无高次轴和高次轴多少。
二、二轴晶干涉图
Np
Nm Nm
Ng
Np
Nm
Np
Np Nm
二轴晶矿物主要切片类型示意图
一. 垂直锐角等分线切面干涉图
1. 垂直锐角等分线切面干涉图特点
(1).在0º 位置时由一个黑十字及“∞”字形干涉色色环组成. 黑十字交点在视域中心,为Bxa出露点.黑十字的两条臂粗细 不等，光轴面迹线方向黑臂较细，且在两光轴出露点处最细； Nm方向黑臂较粗. “∞”字形色环以两个光轴为中心，干涉 色向外逐渐升高, 当矿片双折射率很低时，四个象限只有灰 白干涉色而无干涉色色环. (2).转动物台时黑十字逐渐分裂为一对双曲线形的黑臂。 (3).在45º 位置时，双曲线形的弯曲黑臂顶点相距最远，顶 点的距离与光轴角的大小成正比，双曲线的顶点即光轴的出 露点，其连线方向为光轴面迹线，中点为Bxa出露点。
二. 垂直一个光轴切面的干涉图
1.干涉图特点： 相当于垂直Bxa干涉图的一半.光轴出露点位于视 域中心.随着物台的转动,干涉图变化特点如下:
(1).在0º 位置时,光轴与上下偏光振动方向平行，出现一条 直的黑臂及卵形干涉色环，黑臂最细的地方为光轴出露点. (2).转动物台黑臂逐渐发生弯曲. (3).至45º 位置时，黑臂弯曲最大.黑臂弯曲的顶点位于视域 中心，为光轴的出露点，凸向Bxa的出露方位. (4).当物台转动角度大于 45º 时,黑臂又渐趋平直，到90º 时， 黑臂完全恢复平直，只是方向恰与最初位置正交。继续转动 物台上述变化重复出现。
AP 钝角区 锐角区
Nm
Bxa投影方向
钝角区
B晶垂直Bxa切面干涉图中 光率体要素分布(A)和Bxa/Bxo的投影方位(B)
光性符号测定方法
Nm 锐角区
Np
Nm
学好岩相
二轴晶正光性的莫来石（平行消光，正延性）：针状微晶，存在于颗粒中和基质中，有些聚集体不显光性，但显微弱的偏光效应。
一轴晶负光性的刚玉（负延性，平行对称消光，六方板状）：粒状，短柱状，存在于颗粒中，有些被玻璃相包围。
玻璃相：主要存在于基质中，充填在颗粒周围，但在颗粒中也有少量。
石英：极少量存在于颗粒中，分布不均匀。
方镁石(M)：浑圆状，多边形粒状颗粒，无色或淡黄色，均质性；
硅酸二钙(C2S正光性)粒状；镁橄榄石(M2S正光性)，干涉色较高；
钙镁橄榄石(CMS负光性)，干涉色较低；它们均存在于基质中，非
均质性，但干涉色，光性不同；
镁铝尖晶石(MA)：存在于基质中，均质性，无色，干涉色高级白，凸起较高；
铁酸镁(MF)：存在于方镁石颗粒中间，由于MgO与Fe2O3的固溶与
脱溶从方镁石晶粒中析出，呈树枝状。
烧成较好的镁砖有如下特征：。
岩矿鉴定基础知识
不等粒结构。 • ③斑状结构：岩石中矿物颗粒分为大小截然不同的两群，大的称为斑晶，小的及不
结晶的玻璃质称为基质。其间没有中等大小的颗粒，可与不等粒结构相区别。斑状 结构是浅成岩和喷出岩的重要特征。 • ④似斑状结构：岩石也是由两群大小不同的矿物颗粒组成，但斑晶和基质基本是同 一世代的产物，是在相同或接近的物理化学条件下结晶的，因此基质是显晶质的。
2021/3/2
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岩石中矿物的自形程度
• 自形程度是指组成岩石的矿物的形态特点。它主要取决于矿物的结晶习 性、岩浆结晶的物理化学条件、结晶的时间、空间等。
根据全晶质岩石中矿物的自形程度可以分为三种不同的结构： • 1．自形粒状结构(euhedral-granular texture) • 2．它形粒状结构(xenomorphic-granular texture) • 3．半自形粒状结构(hypidiomorphic-granular texture) • 另外，根据矿物的晶体形态，还可以分为粒状、柱状、片状、板状、纤
维状、针状、放射状，从而组成粒状结构、柱状结构、柱粒状结构—— 由柱状及粒状矿物构成的岩石结构等等。
霞石正长斑岩中霞石的自形结构 （MacKenzie和Adams，1993）
正长石自形晶-平行双晶（河北）
橄榄玄武岩中橄榄石的自形结构
（MacKenzie等，1982）P18
黑 云 母 自 形 晶 （ 新 疆 ）
（2）联合双晶
双晶结合面之间不平行。按 双晶单体的数目不同，可分为三 连晶、四连晶和六连晶，此外还 有特殊的双晶如微斜长石的格子 状双晶。
硅酸盐岩相学
（３）采用单色光源时，当光程差为半波 长的奇数倍时，振幅最大，干涉光最亮； 当光程差为半波长的偶数倍时，合成振 幅为０，干涉后光强为０，视域是黑的 （与消光不同，视域的黑暗是由于两光 振幅相等、方向相反干涉的结果）；
（2）颜色深浅随光波振动方向而改变——吸收 性（吸收性公式）；
（3）测定多色性和吸收性公式必须在定向切片
上进行。
一轴晶矿物有两个主要的颜色（二色性），分别平行于 Ne、No两个光学主轴方向。如电气石：
多色性公式： No=深兰，Ne=浅紫 吸收性公式： No＞Ne
二轴晶有三个主色，分别平行于三个光学主轴Ng、 Nm、Np。如角闪石： 多色性公式：Ng=深绿、Nm=绿、Np=黄绿 吸收性公式：Ng>Nm>Np(正吸收） （若Ng<Nm<Np称为负吸收，或称反吸收）
复前面步骤，直到转动物台360° 小黑点在十字丝中心不随物台的转动而移动为止，此时镜筒中心
与载物台中心重合
6、偏光镜校正 （1）确定下偏光镜的振动方向 拉出上偏镜，将黑云母矿片置于视域中心，转动物台使黑云母解理
缝与目镜十字丝之一平行；转动下偏镜，黑云母的颜色由浅黄 渐变为深褐色，当黑云母颜色达到
最深时，其解理缝方向即为下偏光镜
（４）当非均质体切面内两振动光方向与 上、下偏光振动方向成45 º时，视域最 亮。（a只影响干涉色的亮度而不影响干 涉色颜色）
在可见光中，各色光的波长如下：
红光：770~622nm； 橙光：622~597； 黄光：597~577nm； 绿光：577~492nm； 蓝靛光：492~455nm； 紫光：455~390nm。
岩相学
1、空间格子要素与实际晶体的关系：（1）结点是空间格子的中点代表晶体结构中的相当点。
在实际晶体中在结点的位置上可为同种质点所占据。
（2）行列：结点在直线上的排列即构成行列。
（2）面网：结点在平面上的分布即构成面网（4）平行六面体：空间格子可画出的一个最小的重复单位，就是平行六面体，实际晶体结构中所划分出的这样的单位称晶胞。
2、晶体的形成方式：根据物质的存在状态，晶体的形成方式：由气体转变为晶体和有一种固体转变为晶体。
3、晶体的形成过程：{自发形成晶芽科赛尔理论：晶体在理想的情况下，其长大过程是质点以一个一个的方式往晶芽上粘附次序是先长一条行列再长相邻的行列，生长满一层面网再长第二层网，面网层层平行的向外推移。
还有是非自发形成晶芽。
4、对称：对称就是物体相同部分有规律的重复5、对称操作：欲使对称图形中相同部分重复，必须经过一定的操作。
这种操作称为对称操作6、对称型：晶体中全部对称要素的组合称为晶体的对称型，也称点群，晶体可能出现的对称型共有32种7、单形：单形是整个晶体各晶面形状相同，大小相等，以对称要素联系着的一组晶面的统称，各晶面可用晶体上存在着的对称要素的操作而有规律的重复出现。
（47种单形）P39图聚形：两个以上的单形的聚合称为聚形。
8、晶面符号（半氏符号）：晶体定向后，晶面在空间的相对位置即可根据它与晶轴的关系予以确定，这种相对位置可用一定的符号来表征，表征空间方位的符号称为晶面符号。
9、双晶：双晶是两个以上的同种晶体按一定的对称规律形成的规则连生，相邻的两个个体的相应的面棱角并非完全平行，但他们可借助对称操作—反映、旋转、拉伸，使两个个体彼此重合成平行。
10、矿物中的水（五大类型）1.吸附水2.结晶水3.沸石水4.层间水5.结构水11、类质同像：晶体结构中某种质点为他种类似的质点所替代，仅使晶格常数发生不大的变化，而结构形式并不改变，此现象称为类质同像。
同质多像：同种化学成分的物质，在不同的物理化学条件下，形成不同结构的晶体的现象。
岩相学知识点
一、晶体光学基础1. 光性均质体：等轴晶系矿物及非晶质体物质的光学性质各个方向相同，称为光性均质体。
2. 光性非均质体：中级晶族和低级晶族的矿物，其光学性质随方向而异，称为光性非均质体。
3. 中级晶族只有一个光轴方向，称为一轴晶；低级晶族有两个光轴方向，称为二轴晶。
4. 光率体：表示光波在晶体中传播时，光波的振动方向与相应折射率值之间关系的一种光性指示体。
5. 如何构成光率体？设想自晶体的中心起，沿光波在晶体中的振动方向，按比例截取相应的折射率值，每一个振动方向都可作一个线段，把各个端点连接起来便构成该晶体的光率体。
6. 一轴晶光率体是一个以Z轴为旋转轴的旋转椭球体。
而且有正、负之分：当Ne>No时为正光性；当Ne<No时，为负光性垂直光轴的切面:为圆切面，半径＝No，双折射率等于零。
平行光轴的切面:为椭圆切面，其两个半径为No和Ne。
有最大的双折射率值，Ne-No斜交光轴的切面：为椭圆切面，两个半径为No和Ne Ne’-No第三章单偏光系统下晶体的光学性质1. 单偏光下观察的内容包括三个方面：矿物的外表特征，如形态、解理等。
与矿物对透射光波吸收有关的光学性质，如颜色、多色性、吸收性等。
与矿物折射率有关的光学性质，如突起、糙面、边缘、贝克线、色散效应等。
2.解理夹角：只有同时垂直两组解理的切面上，才是两组解理的真正的夹角。
3.解理：解理是指矿物受力后，沿一定结晶方向裂开形成的光滑平面的性质。
4.解里夹角的测定：(1)两组解理缝最细最清楚：当解理缝平行目镜十字纵丝时，微微升降镜筒，改变焦点平面，解理缝不左右对称，按此原则选择适当的切面，至于视域中心。
(2)使一组解理缝平行目镜十字丝竖丝，在物台上读数为a。
(3)旋转物台使另一组解理缝平行竖丝，在物台上读数为b，两次读数之差即为所测之夹角。
5.多色性与吸收性：由于光波在晶体中的振动方向不同，而使矿片颜色变化的现象称为多色性，颜色深浅变化的现象称为吸收性。
实验3 常见透明矿物的鉴定(均质体、一轴晶、二轴晶矿物)
3.2 实验内容
1.均质体矿物的鉴定（萤石和石榴石例） 2.一轴晶矿物的鉴定（石英或磷灰石） 3.二轴晶矿物的鉴定（橄榄石或辉石或 角闪石）
3.3 实验仪器和用品
• 1.偏光显微镜 • 2.含石英、磷灰石、萤石、石榴石、橄 榄石、辉石、角闪石相关的薄片一套
3.4 实验步骤
1.均质体矿物的鉴定（石榴石或萤石）
a.垂直光轴的切面的干涉光 b. b.平行光轴的切面的干涉光 c.斜交光轴的切面的干涉光
3.4 实验步骤
3）锥光镜下的特征
a.垂直光轴的切面的干涉图 b.平行光轴的切面的干涉图 c.斜交光轴的切面的干涉图 d.确定光行正负
3.4 实验步骤
3.二轴晶矿物的鉴 b.根据贝壳线和突起的等级确定 c.颜色和多色性的观察 d.解理的观察
3.5 实验报告
根据实验1和实验 掌握的知识观察 根据实验 和实验2掌握的知识观察下列矿物 和实验
并写出各自的鉴定特征： 并写出各自的鉴定特征：
• 萤石 • 石榴石 • 石英 • 磷灰石 • 橄榄石 • 辉石 • 角闪石
1）单偏光下的特征
a.形态，粒径大小的测定 b.突起等观察 c.有否多色性等
2）正交镜下的特征
正交镜下视域为全光
3.4 实验步骤
2.一轴晶矿物的鉴定（磷灰石或石英）
1）单偏光下的特征
a.形态、粒径大小的观察 b.根据贝壳线和突起的等级确定 c.颜色和多色性的观察
3.4 实验步骤
2）正交镜下的特征
3.4 实验步骤
2）正交镜下的特征
a.垂直Bxa（Bxo）的切面的干涉光 b.平行光轴的切面的干涉光 c.斜交光轴的切面的干涉光
3.4 实验步骤
3）锥光镜下的特征
岩相学实验指导书
实验二偏光显微镜的认识、调节和校正一、实验目的1．熟悉偏光显微镜的构造及各部件的用途。
2．掌握偏光显微镜的调节和使用方法。
二、实验原理1．偏光显微镜的构造偏光显微镜的型号很多，但其主要构成部件大同小异，下面以实验室现有型偏光显微镜为例，对照实物做逐一介绍。
镜座：支持显微镜全部重力的基座，其外形一般为马蹄形或圆台形。
镜臂：连接镜筒与镜座的弓形臂，可向后自由倾斜。
但倾斜角度不宜过大，以防显微镜向后翻倒。
反光镜：一个具有平、凹两面的的小圆镜。
可以任意转动，以便对准光源，把光反射到显微镜的光路中去。
一般进行中、低倍观察时，用平面反光镜；若进行高倍观察，应使用凹面反光镜使光线少许聚敛，增加视域亮度。
下偏光镜：位于反光镜之上，从反光镜反射来的自然光，通过下偏光镜后即成为振动方向固定的偏光。
下偏光镜可以转动，以便调节其振动方向。
锁光圈：在下偏光镜之上，可自由开合，用以控制进入视域的光量。
聚光镜：在锁光圈之上，可以把下偏光镜透出的偏光聚敛成锥形偏光。
用以观察晶体的干涉图。
聚光镜可自由推进或拉出光路系统。
载物台：一个可以转动的圆形平台。
边缘有0°～360°的刻度，并附有游标尺，可以读出旋转的角度。
有固定螺丝可以固定物台。
物台上有一对弹簧夹，用来夹持矿物薄片。
镜筒：联结在镜臂上的一个长形圆筒。
转动镜臂上的粗动螺丝或微动螺丝可使镜筒上升和下降，用以调节焦距。
镜筒上端装有目镜，下端装有物镜，中间有试板孔、上偏光镜和勃式镜。
物镜：决定显微镜成像性能的重要构件。
每台显微镜上至少有三个不同放大倍数的物镜，物镜上均刻有放大倍数、数值孔径（N·A）等。
一般显微镜通常备有低倍（4×），中倍（10×、25×）和高倍（40×、63×）等物镜。
目镜：一般有5×、10×两个目镜，目镜中带有十字丝或分度尺，并附有测微尺和网格尺作定量分析用。
显微镜总的放大倍数为目镜放大倍数与物镜放大倍数之积。
1.2二轴晶光率体
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2、二轴晶光率体
Bxa究竟是Ng还是Np，是受Ng、Np、Nm三个主折射率的相 对大小所控制的。 当Ng-Nm>Nm-Np时，Bxa为Ng，正光性； Ng-Nm<Nm-Np时，Bxa为Np，负光性。 2V大小按下式求得：
Nm Np tgV Ng Nm
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2、二轴晶光率体
在二轴晶光率体中有三个主折射率， a 分别用 Ng，Np和Nm表示， 一般设Ng为最大，Np为最小，Nm为 Na 中间值，即Ng>Nm>Np。这三个互 Nc c 相垂直的主折射率代表主 要的光学 振动方向，称为光学主轴（或主轴）。 光学主轴（主轴）：代表主要的光 学振动方向。
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镁橄榄石晶体
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2、二轴晶光率体
当光线平行C轴射入时，发 生双折射，产生两条速度 不同，振动方向互相垂直的 偏光。其中一条振动方向平 行a轴，Na=1.670，另一条偏 光的振动方向平行b轴， Nb=1.635，按比例截取折射 率值，作为长短半径，可做 椭圆切面，则此面垂直入射 方向c轴。
有一点m，使得m到光率体中心的距离在数值上等于Nm，
所以通过m点与Nm的轴所作的切面为圆切面。 光线垂直此面入射时，不发生双折射，只有一个折射率Nm， 所以垂直此圆的方向为光轴方向。 同理在对称位置也可以找到另一个光轴。 所以在这类晶体中可以找到二根光轴，故为二轴晶。
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Ng Nm tgV Nm Np
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岩相学二轴晶
(一)．垂直锐角等分线Bxa的切面干涉图A.切面特点：光率体的切面为椭圆切面，主折射率分别为NmNp（+）和NmNg（-），有两个光轴出露点。
B.干涉图的特点1)当光轴面平行上下偏光时，干涉图为一个黑十字与“∞”干涉色色环组成；2)黑十字中较粗者为Nm方向，细者为光轴面的方向，最细的两点为光轴的出露点，中心为Bxa的出露点。
3)转动物台，黑十字分成两个弯曲的黑带，45°位置时两弯臂的顶点最远，并为光轴的出露点，连接两光轴出露点即为光轴面的投影迹线AP；干涉色色环随之转动。
4)再转动物台45°，双曲线合并为黑十字，粗细位置互换。
5)再转动物台45°，黑十字又分成两个弯曲的黑带，位置互换，依此类推。
C. 二轴晶干涉图的应用(1)测定光性的正负(2)判断轴性和切面方向2.利用二轴晶垂直Bxa的切面的干涉图测定光性的正负对于二轴晶：Bxa=Ng Bxo=Np 正光性Bxa=Np Bxo=Ng 负光性必须利用45°位置的干涉图测光性A.双折射率较高时，出现干涉色色环，选用云母试板。
色环内收，干涉色升高色环外扩，干涉色降低插入云母试板，锐角区色环外扩，干涉色降低，异名轴平行，Nm方向已知，光轴面迹线方向Ap=Ng,则Bxa=Np,所以为二轴晶负光性。
B.利用钝角区也可以测定，注意中心点的出露点为Bxo的方向。
插入云母试板，钝角区色环内收，干涉色升高，同名轴平行，Nm方向已知，光轴面迹线方向Ap=Np,则Bxo=Ng,那么Bxa=Np,所以为二轴晶负光性。
3.判断切面的方向和轴性转动物台360°黑十字和双曲线交替出现，即可判断为二轴晶，垂直Bxa的切面干涉图。
(二)．垂直一个光轴的切片干涉图1)切面特点：光率体切面为圆切面，半径为Nm，不发生双折射，正交偏光下，干涉色最低。
2)干涉图特点：相当于垂直Bxa切面干涉图的一部分，因为此切面即是在垂直Bxa切面的基础上，倾斜至垂直一个光轴。
《造岩矿物学》第十章 二轴晶矿物
长石族矿物的双晶
（1）卡斯巴双晶 （2）钠长石双晶
（3）卡斯巴－钠长石复合双晶
（4）钠长石－肖钠长石复合双晶
卡 斯 巴 双 晶
卡 斯 巴 双 晶
钠长石双晶
卡钠复合双晶
钠-肖钠复合双晶(格子状双晶)
正长石Orthoclase
正长石的化学组成是KAlSi3O8， 晶体属单斜晶系的架状结构硅 酸盐矿物。 短柱状或厚板状晶体，常见卡 斯巴双晶，集合体为致密块状。 肉红或浅黄、色，玻璃光泽。 两组完全解理相交成90°。硬 度6，比重2.57。900℃以上生 成的无色透明长石称透长石。
钡长石(Cn) Ba[Aal2Si2O8]
二种长石亚族
K
自然界的大多数长石都包 含在K[AlSi3O8] 、 Na[AlSi3O8] 、Ca[Al2Si2O8]三 成分体系中，据此，长石 又可分为：
长石
更
碱性长石 斜长石
Or和Ab的类质同象混晶统称为碱性长石 （An含量不超过5-10%） 高温Or和 Ab形成完 全类质同 象系列 低温Or和 Ab形成有 限类质同 象 Ab0-67 透长石，单斜晶系 Ab67-100 歪长石，三斜晶系 Ab100 钠长石的高温变体 条纹长石－以钾长石为主体，钠 长石为客体 反条纹长石－以钠长石为主体， 钾长石为客体
斜长石共分为6个矿物种： 钠长石、更长石、中长 石、拉长石、倍长石和 钙长石。 晶体属三斜晶系的架状结构硅酸盐矿物，多为 柱状或板状，常见聚片双晶，白至灰白色，玻 璃光泽，半透明。两组解理（一组完全、一组 中等）相交成86°，故得名斜长石。摩氏硬度 6-6.5，比重2.6-2.8。 斜长石分布广泛
斜长石在薄片中的特征
长 石 绢 云 母 化
正长石、石英、斜长石区别：
二轴晶光率体切面及特点
垂直于Bxo切面
椭圆切面 正光性：相当于NgNm面，长短 半径为Ng和Nm，相应折射率分别等 于Ng和Nm，双折射率等于（Ng— Nm），其大小介于零与最大双折射 率之间。 负光性：相当于NmNp面，长短 半径分别为Nm和Np，相应折射率分 别等于Nm和Np，双折射率等于 （Nm—Np）。 无论正负光性，垂直于Bxa切面 的双折射率总是小于垂直于Bxo切面 的双折射率。
斜交切面
斜交切面：既不垂直于光轴也不垂直 于主轴的切面，椭圆切面，无数个。 分两种类型： 1、垂直于主轴面的斜交切面：椭圆 半径中一个半径为Nm轴，另一个为 Ng′或Nm′。 2、任意斜交切面：长短半径及相应 的折射率值为Ng′和Np ′ ，双折射率 等于（Ng′—Np ′ ）。
二轴晶正光性光率体切面 及特点
垂直于光轴切面（垂直于OA）：圆切 面，半径为Nm。相应的折射率为Nm， 双折射率为零。 平行于光轴切面（平行于Ap）：椭圆 切面，长短半径分别为Ng和Np；相应 的折射率值分别为Ng和Np，双折射率 值等于（Ng—Np），为二轴晶矿物最大 双折射率。 垂直于Bxa的切面 椭圆切面 正光性：相当于主轴面NmNp面，长短 半径为Nm和Np，相应折射率分别等于 Nm和Np，双折射率等于（Nm—Np）， 其大小介于零与最大双折射率之间。
二轴晶光率体
低级晶族（斜方、单斜、三斜晶系）属于二轴晶矿物。实验测定，这类矿物 具有大、中、小三个主折射率值，分别以以符号Ng、Nm、Np表示；显然，二轴 晶光率体是一个三轴不等的椭球体。 主轴：二轴晶光率体中，三个互相垂直的轴代表二轴晶矿物的三个主要光学 方向，称为光学主轴，简称主轴。 主轴面：包括两个主轴的面称主轴面（主切面）。则二轴晶光率体有三个互 相垂直的主轴面。 要素：三个主轴，三个主轴面，两个圆切面，光轴（OA），光轴面（Ap）， 光轴角（2V），锐角平分线Bxa，钝角平分线Bxo。 主要切面：垂直于光轴（垂直于OA）、平行于光轴面（平行于Ap）、垂直于 Bxa、垂直于Bxo、斜交切面五个主要切面。 正负光性：当Ng—Nm>Nm—Np时为正光性；反之为负光性。也可根据Bxa是 Ng还是Np确定，当Bxa=Ng时为正光性，当Bxa=Np时为负光性。
岩相学基础第二章第一节1
晶体形态，解理和解理角，突起、糙面、 贝克线，颜色、多色性、吸收性。
还可以进行粒度测定，折光率测定，薄片 厚度测定等
观察晶体形态的意义
研究晶体的形态可以进行矿物鉴定； 推测它们的形成条件、析晶顺序。
各种矿物都具有一定的结晶习性，构成一定 的形态。 形态（形状、大小、完整程度)与形成条件、 析晶顺序有密切关系。
解理缝——树胶充填在解理缝隙中，由于折射率不同，
而显示出一条条互相平行的细缝。
按解理发育程度，把解理分 为几类： 1) 极完全解理 — 解理缝 细、直贯。 2) 完全解理 — 解理缝 细，连贯性较差。 3) 不完全解理 — 解理缝 粗、少、不连贯。
（4）极不完全解理：实际上等于无解理
极完全解理-云母，石墨，石膏
(二)折射率对比 ① 将欲测矿物与浸油交线移于视域中心，适当缩小光 圈，即可见贝克线。 ② 视矿物与浸油折射率的大小，可选择换油间隔。 ③ 依次换油，当二者折射率值相差很小时，其突起低， 边缘细。 ④ 若二者折射率相差0.015-0.010时，开始出现色带， 至二者相差0.005时，则出现橙、黄和蓝色色带。提 升镜筒时，根据色带的移动规律可确定矿物碎屑折射 率。
第二章 偏光显微镜下晶体的光学性质
§2.1 单偏光镜下晶体的光学性质 §2.2 正交偏光镜下晶体的光学性质 §2.3 锥光镜下晶体的光学性质
偏光显微镜的构造
偏光显微镜是研究晶体光学性质的主要工具
熟练的掌握偏光显微镜下研究晶体的方法，已 成为从事科学技术研究人员的基本功。
研究晶体光学性质的主要工具 ——偏光显微镜
三、颜色和多色性
1.关于颜色的概念 矿物的颜色是矿物对白光中的七色光选择吸 收的结果。 如果矿物对白光中的七色光同等程度吸收， 则为无色。 如果矿物对白光中的七色光选择吸收，除去 被吸收的色光，其它色光混合起来的颜色即为矿物 的颜色。 2. 均质体的颜色 均质体的光学性质为各向同性，故各个方向 对白光中七色光的选则吸收也相同，所以均质体只 有一种确定的颜色。颜色的深浅称为浓度。
二轴晶负光性光率体切面及特征
二轴晶负光性光率体切面及特征低级晶族（斜方，三斜，单斜晶系）属于二轴晶矿物，这类晶体在三个结晶轴轴单位不等，即a，b，c都不等，表明它们在三维空间上内部结构和光学性质的不均一性，实验测定这类矿物具有大中小三个主折射率值，当光波沿其它方向振动时，相应的折射率递变于Ng,Nm,Np之间，显然，二轴晶光率体是一个三轴不等的椭球体。
二轴晶光率体中，三个互相垂直的轴代表二轴晶矿物的主要方向，称为光学主轴，简称主轴，即Ng轴，Nm轴和Np轴。
包括两个主轴的面称主轴面（主切面），二轴晶光率体有三个互相垂直的主轴面，即NgNp 面，NgNm面，NmNp面。
因为二轴晶光率体是一个三轴不等的椭球体，通过中等轴Nm轴，在光率体一侧的Ng 轴与Nm轴之间，可以连续企鹅一系列的椭球切面，这些切面的半径之一始终是Nm轴，另一半径的长短递变于Ng与Np之间因为是连续变化，在他们之中，必定有一个半径为Nm 的圆切面，在光率体的另一侧通过Nm轴同样可以截出另一个圆切面，光波垂直与两个圆切面入射时，不发生双折射，不改变入射光波的振动特点及振动方向，因而这两个方向为光轴，以符号ＯＡ表示通过二轴晶光率体中心，只能截出两个圆切面，即只有两个光轴方向蘑菇城二轴晶。
二轴晶光率体的主要切面有：（１）垂直于光轴（垂直于ＯＡ的切面）为圆切面，其半径等于Ｎｍ，光波垂直于这种切面入射时，不发生双折射，不改变入射光波的振动特点及振动方向，相应的折射率值等于Ｎｍ，双折射率等于零。
（２）平行于光走面为椭圆切面，其长短半径分别等于Ｎｇ和Ｎｐ，光波垂直这种切面入射时，发生双折射，分解形成两束偏光，其振动方向分别平行于椭圆切面的长短半径Ｎｇ轴和Ｎｍ轴，相应的折射率值分别等于Ｎｇ和Ｎｐ值，双折射率等于椭圆半径之差（Ｎｇ－Ｎｐ），是二轴晶矿物的最大双折射率。
（３）垂直于Bxa的切面为椭圆切面，正光性光率体相当于主轴面NmNp面，其长短半径分别灯于Ng和Nm，光波垂直这种切面入射时，发生双折射，分解形成两束偏光，其振动方向必定分别平行于椭圆切面的长短半径轴Nm和Np或Ng和Nm，相应的折射率值分别等于Nm-Np或Ng-Np，其大小介于零和最大折射率之间。
岩矿实验六套试题
资勘三四，齐头并进，势比云峰《岩矿实验》模拟试卷（1）一、填空（15分）1．未受应力的高级晶族的矿物属于,其光率体形状为，这种矿物的薄片在正交偏光下呈。
2．方解石和白云母具有为突起，正长石突起等级为，石英突起等级为为。
3．石膏试板的光程差为，插入石膏试板可使矿片干涉色升高或降低一个。
云母试板的光程差为，插入云母试板可使矿片干涉色升或降一个。
当正交偏光镜间仅为这两种试板叠加时，同名轴相平行时干涉色为；异名轴平行时干涉色为。
4．消光类型通常与矿物的对称程度、晶族及切面方向有关，中级晶族矿物Z轴与光率体光轴平行，因此其绝大5.123451.2.3解理缝的关系（12四论述题时，？《岩矿实验》模拟试卷（2）一、填空(每空1分，共28分，本题完成在试卷上)1.一轴晶光率体为，有二光学主轴，其一为旋转轴，又称为Ne轴，另一与旋转轴垂直，又称为；其光轴的方向恒与的方向一致(平行)。
2.正长石的突起是，石英的突起是，橄榄石的突起是，方解石具有突起。
3.二轴晶光率体为；有三个互相正交的主折射率(光学主轴)，其最大值为，最小值为，中值为；有三个相互正交的主切面，光轴始终位于主切面内。
4.二轴晶中二光轴(AO)的夹的锐角称为。
其锐角平分线记为；其钝角平分线记为。
二轴晶正光性晶体的光轴锐角平分线恒与重合；二轴负光性晶体光轴锐角平分线恒与重合。
5.在正交偏光镜下，当光程差R＝2nλ／2,干涉结果呈现；R＝（2n+1）λ／2,干涉结果呈现。
6.某矿物沿c轴一向伸长,测得其慢光方向与c轴方向呈62°夹角,该矿物为_______延性;另一矿物沿c延长柱状矿物,其快光与c轴呈35°夹角,该矿物为________延性。
7.常见具有明显闪突起的矿物是和。
8.在正交光系统下，影响矿物晶体最大光程差和最高干涉色的因素有二：其一是___，其二是_____。
9.某矿物在正交偏光镜下最高干涉色为二级紫红，若薄片为标准厚度，则其最大双折射率为。
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(一)．垂直锐角等分线Bxa的切面干涉图
A.切面特点：光率体的切面为椭圆切面，主折射率分别为NmNp（+）和NmNg（-），有两个光轴出露点。
B.干涉图的特点
1)当光轴面平行上下偏光时，干涉图为一个黑十字与“∞”干涉色色环组成；
2)黑十字中较粗者为Nm方向，细者为光轴面的方向，最细的两点为光轴的出露点，中心为Bxa的出露点。
3)转动物台，黑十字分成两个弯曲的黑带，45°位置时两弯臂的顶点最远，并为光轴的出露点，连接两光轴出露点即为光轴面的投影迹线AP；干涉色色环随之转动。
4)再转动物台45°，双曲线合并为黑十字，粗细位置互换。
5)再转动物台45°，黑十字又分成两个弯曲的黑带，位置互换，依此类推。
C. 二轴晶干涉图的应用
(1)测定光性的正负
(2)判断轴性和切面方向
2.利用二轴晶垂直Bxa的切面的干涉图测定光性的正负
对于二轴晶：Bxa=Ng Bxo=Np 正光性
Bxa=Np Bxo=Ng 负光性
必须利用45°位置的干涉图测光性
A.双折射率较高时，出现干涉色色环，选用云母试板。
色环内收，干涉色升高
色环外扩，干涉色降低
插入云母试板，锐角区色环外扩，干涉色降低，异名轴平行，Nm方向已知，光轴面迹线方向Ap=Ng,则Bxa=Np,所以为二轴晶负光性。
B.利用钝角区也可以测定，注意中心点的出露点为Bxo的方向。
插入云母试板，钝角区色环内收，干涉色升高，同名轴平行，Nm方向已知，光轴面迹线方向Ap=Np,则Bxo=Ng,那么Bxa=Np,所以为二轴晶负光性。
3.判断切面的方向和轴性
转动物台360°黑十字和双曲线交替出现，即可判断为二轴晶，垂直Bxa的切面干涉图。
(二)．垂直一个光轴的切片干涉图
1)切面特点：光率体切面为圆切面，半径为Nm，不发生双折射，正交偏光下，干涉色最低。
2)干涉图特点：相当于垂直Bxa切面干涉图的一部分，因为此切面即是在垂直Bxa切面的基础上，倾斜至垂直一个光轴。
3)当光轴面的迹线与上下偏光的振动方向平行时，出现一个黑臂和“∞”形干涉色色环的一部分。
4)转动物台，黑臂弯曲，至45°位置时，弯曲程度最大，顶点为光轴的出露点，位于视域的中心。
5)继续转至90°，又变成一直的黑臂，位置互换。
*二轴晶垂直一个光轴的切面的干涉图的应用
测定光性的正负
判断轴性和切面方向
&利用垂直一个光轴的切面干涉图测定光性的正负
1)方法同垂直Bxa切面干涉图道理一样：
2)利用45°位置的干涉图，找出锐角区，根据垂直Bxa切面干涉图的对称性，找出另一个黑臂及Bxa的出露点的位置，利用试板测定光性。
A.测定光性的正负
如图，
a.无色环，选用石膏试板。
插入石膏试板后，锐角区（弯臂凸出的方向）变蓝，干涉色升高，同名轴平行，连接AP，Nm与之垂直，则AP=Np,Bxa=Ng,所以为二轴晶正光性。
b.如果利用钝角区，注意中心出露点为Bxo的方向。
插入石膏试板后，钝角区（弯臂凹的方向）变黄，干涉色降低，异名轴平行，连接AP，Nm与之垂直，则AP=Ng,Bxo=Np,那么Bxa=Ng,所以为二轴晶正光性。
c.如果有色环，则利用云母试板。
插入云母试板后，锐角区（弯臂凸出的方向）色环内收，干涉色升高，同名轴平行，连接AP，Nm与之垂直，则AP=Ng,Bxa=Np,所以为二轴晶负光性。
d.也可以利用钝角区测定，但要注意，钝角区中心点是Bxo的出露点。
插入云母试板后，钝角区（弯臂凹的方向）色环外扩，干涉色降低，异名轴平行，连接AP，Nm与之垂直，则AP=Np,Bxo=Ng,那么Bxa=Np,所以为二轴晶负光性。
(三). 二轴晶斜交光轴的切面干涉图
1)切面特点：光率体的切面为椭圆，无数多个
分两种类型：垂直光轴面与光轴斜交的切面
与光轴面和光轴均斜交的切面
干涉图的特点:
不垂直光轴，也不垂直Bxa，与光轴斜交角度大小有差异。
2)二轴晶斜交光轴切面干涉图的应用
测定光性的正负
判断轴性和切面方向
因为它们是⊥Bxa切面或⊥一个光轴的切面干涉图的一部分，所以测定光性时，利用这两种切面测定光性的方法，即利用45°的位置，找出锐角区或钝角区，选择合适的试板来测定。
举例：1)插入石膏试板后，钝角区由灰白变蓝，对石膏试板而言，干涉色升高，同名轴平行；连接光轴面迹线方向Ap，与Ap垂直的方向为Nm ，则Ap=Ng, 又Nm方向已知Bxo=Np,那么Bxa=Ng,所以为二轴晶正光性。
2)插入石膏试板后，锐角区（双曲线凸的一侧）由灰白变蓝，对石膏试板而言，干涉色升高，同名轴平行；连接光轴面迹线方向Ap，与Ap垂直的方向为Nm ，则Ap=Ng, 又Nm方向已知，所以Bxa=Np,该即晶体为二轴晶负光性。
3)插入石膏试板后，钝角区（双曲线凹的一侧）由灰白变黄，对石膏试板而言，干涉色降低，异名轴平行；连接光轴面迹线方向Ap，与Ap垂直的方向为Nm ，则Ap=Np, 又Nm方向已知,Bxo=Ng,那么Bxa=Np,所以为二轴晶负光性。
(四).垂直Bxo的切面干涉图
1)切面特点：光率体切面为椭圆，主折射率为NmNg和NmNp。
2)干涉图特点：因与垂直Bxa切面有相似之处，所以干涉图也有相似之处，只不过两光轴出露点相距较远。
由于视域小，有时只能看见粗大的黑十字位于视域的中心，转动物台，黑十字迅速沿光轴面
迹线逸出视域并分裂为两个弯曲的黑带。
（五）．平行光轴面的切面干涉图
1）切面特点：光率体的切面为椭圆，包含两个最大主折射率Ng,Np,正交偏光镜下，干涉色最高。
2）干涉图特点：与一轴晶平行光轴的切面干涉图相似，当Bxa 与Bxo 平行上下偏光时，干涉图呈一个粗大的黑十字，几乎占满整个视域，稍微转动物台迅速逸出视域（瞬变干涉图）。
Bxa。