实验一:电镜扫描

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扫描电镜实验报告

扫描电镜实验报告

扫描电镜实验报告扫描电镜(Scanning Electron Microscope,SEM)是一种应用广泛的高分辨率显微镜,能够对样品进行表面形貌和微观结构的观测和分析。

本实验旨在通过扫描电镜对不同样品的表面形貌和微观结构进行观察和分析,从而加深对扫描电镜原理和应用的理解。

首先,我们准备了几种不同的样品,包括金属材料、植物组织和昆虫外骨骼等。

在实验过程中,我们首先对样品进行了表面处理,包括金属样品的金属镀膜处理、植物组织的冷冻干燥处理以及昆虫外骨骼的金属喷镀处理,以保证样品在扫描电镜下的观察效果。

接下来,我们将样品放置在扫描电镜的样品台上,并调整好合适的观察条件。

在观察过程中,我们发现扫描电镜能够清晰地显示样品的表面形貌和微观结构,包括金属样品的晶粒结构、植物组织的细胞结构以及昆虫外骨骼的纹理结构等。

通过对这些结构的观察和分析,我们不仅可以直观地了解样品的表面特征,还可以深入地研究样品的微观结构和性质。

在实验中,我们还发现扫描电镜具有较高的分辨率和深度信息,能够对样品进行三维观察和分析。

通过调整扫描电镜的工作参数,我们成功地获得了不同角度和深度的样品图像,进一步揭示了样品的微观结构和表面形貌。

这为我们深入理解样品的微观特征提供了重要的信息和依据。

总的来说,通过本次实验,我们深入了解了扫描电镜的原理和应用,掌握了样品的表面形貌和微观结构的观察方法,提高了对样品性质和特征的认识。

扫描电镜作为一种重要的分析工具,将在材料科学、生物学、医学等领域发挥重要作用,为科学研究和工程应用提供有力支持。

通过本次实验,我们不仅提高了对扫描电镜的认识,还对不同样品的表面形貌和微观结构有了更深入的理解。

扫描电镜的高分辨率和深度信息为我们提供了更多的观察和分析角度,有助于我们更全面地认识样品的特性和性能。

希望通过今后的实践和研究,能够更好地利用扫描电镜这一强大的工具,为科学研究和工程应用做出更多的贡献。

扫描电镜实验报告

扫描电镜实验报告

扫描电镜实验报告扫描电镜实验报告引言:扫描电镜(Scanning Electron Microscope,SEM)是一种常用的高分辨率显微镜,通过扫描样品表面并记录电子信号来观察样品的微观结构。

本实验旨在利用扫描电镜对不同样品进行观察和分析,以探索其微观特征和结构。

一、实验目的:本实验的主要目的是通过扫描电镜观察和分析样品的表面形貌和微观结构,了解扫描电镜的工作原理和应用。

二、实验步骤:1. 样品准备:选择不同类型的样品,如金属、生物组织等,并进行必要的前处理,如切片、抛光等。

2. 样品固定:将样品固定在扫描电镜样品台上,确保样品表面平整。

3. 调整参数:根据样品的性质和所需观察的特征,调整扫描电镜的加速电压、放大倍数等参数。

4. 开始观察:打开扫描电镜,将电子束聚焦在样品表面,并开始观察样品的微观结构。

5. 图像获取:通过扫描电镜的控制系统,获取样品表面的图像,并进行记录和保存。

三、实验结果:1. 金属样品观察:在扫描电镜下观察金属样品,可以清晰地看到金属表面的晶粒结构和纹理。

不同金属的晶粒形状和大小有所差异,通过观察晶粒边界和晶粒内部的细节,可以进一步分析金属的晶体结构和性质。

2. 生物样品观察:利用扫描电镜观察生物样品,可以展示生物细胞、细胞器和细胞结构的微观特征。

例如,观察植物叶片的表面细胞,可以看到细胞壁、气孔和细胞间隙的形态和排列方式。

同时,观察细菌样品可以揭示其形态、大小和表面特征,有助于对细菌种类和功能的鉴定。

3. 其他样品观察:扫描电镜还可用于观察其他类型的样品,如纤维材料、陶瓷、矿物等。

通过观察这些样品的表面形貌和微观结构,可以了解它们的组织结构、纤维排列方式以及晶体形态等特征。

四、实验分析:通过扫描电镜的观察和分析,我们可以更深入地了解样品的微观结构和表面形貌。

这些观察结果对于材料科学、生物学和医学等领域具有重要意义。

例如,在材料科学中,通过观察金属晶粒的形态和排列方式,可以优化材料的力学性能和耐腐蚀性能。

扫描电镜实验报告

扫描电镜实验报告

扫描电镜实验报告扫描电镜是一种高分辨率的显微镜,能够对样品进行高分辨率成像。

在本次实验中,我们使用了扫描电镜对样品进行了观察和分析。

本报告将对实验的目的、方法、结果和结论进行详细的描述和分析。

实验目的。

本次实验的主要目的是利用扫描电镜对样品进行表面形貌和微观结构的观察和分析,了解扫描电镜在材料科学和生物科学领域的应用,掌握扫描电镜的操作技巧和注意事项。

实验方法。

1. 样品制备,首先,我们准备了需要观察的样品,如金属材料、生物组织等,并对样品进行表面处理和固定。

2. 扫描电镜操作,接下来,我们将样品放入扫描电镜的样品台上,并根据仪器操作手册进行电镜的开机、预热和调试,确保仪器处于正常工作状态。

3. 观察和记录,在样品放置好并仪器调试完成后,我们通过调整扫描电镜的参数,如放大倍数、对焦等,对样品进行观察,并记录观察到的表面形貌和微观结构。

实验结果。

经过扫描电镜的观察,我们得到了样品的高分辨率图像,并对样品的表面形貌和微观结构进行了分析。

我们观察到样品表面的微观结构非常复杂,有许多微小的颗粒和纹理,这些结构对样品的性能和功能具有重要影响。

通过扫描电镜的观察,我们能够更加深入地了解样品的微观特征,为进一步的研究和分析提供了重要的参考。

实验结论。

本次实验通过扫描电镜的观察和分析,我们对样品的表面形貌和微观结构有了更加深入的了解。

扫描电镜作为一种高分辨率的显微镜,能够为材料科学和生物科学领域的研究提供重要的技术支持。

通过本次实验,我们掌握了扫描电镜的操作技巧和注意事项,为今后的科研工作打下了良好的基础。

总结。

通过本次实验,我们不仅学习了扫描电镜的操作和应用,还对样品的表面形貌和微观结构有了更深入的了解。

扫描电镜在材料科学和生物科学领域具有重要的应用价值,能够为科研工作提供重要的技术支持。

希望通过本次实验,能够对大家对扫描电镜的应用有更深入的了解,为今后的科研工作提供帮助和指导。

在本次实验中,我们通过扫描电镜对样品进行了观察和分析,了解了扫描电镜在科研领域的重要应用价值。

扫描电镜试验报告资料(1)

扫描电镜试验报告资料(1)

实验一扫描电子显微镜的结构及原理分析1.表面形貌观察与分析
图1 F1号样品
图2 F2号样品
图3 F3号样品
图4 F4号样品
图1-1 F1号样品能谱图及成分数据表
图2-1 F2号样品能谱图及成分数据表
图3-1 F3号样品能谱图及成分数据表
图4-1 F4号样品能谱图及成分数据表
2. 根据所观察的22Cr双相不锈钢断口(D1号样品)的背散射图像,分析其析出相和基体相特征
图5为22Cr双相不锈钢断口(D1号样品)的背散射像,基体相为___相和___相,析
出相为___相和___相。

x相呈___色。

σ相呈___色:γ相呈___色:α相呈___色;
图5 D1号样品(22Cr钢)背散射像
3.复制22Cr双相不锈钢断口(D1号样品)各相的能谱图,分析各相的成分差别。

22Cr双相不锈钢断口(D1号样品)各相的能谱及各相的成分如图6、图7、图8、图9、
所示。

对比元素表中各相数据可知: x相中Mo含量最___,Fe含量最___,故图像颜色最明亮;σ相中Mo含量仅___于x相,故图像呈浅灰色;γ相中Ni含量最___, Cr含量最___,故图像呈深灰色;α相中Cr含量与Fe含量之和最___, Ni含量较γ相中___,故图像颜色最暗。

图6 D1号样品(22Cr钢)x相(001点)能谱图及成分数据表
图7 D1号样品(22Cr钢)σ相(002点)能谱图及成分数据表
图8 D1号样品(22Cr钢)γ相(003点)能谱图及成分数据表
图9 D1号样品(22Cr钢)α相(004点)能谱图及成分数据表。

材料电镜扫描透射分析实验报告范文透射电镜实验报告范文

材料电镜扫描透射分析实验报告范文透射电镜实验报告范文

材料电镜扫描透射分析实验报告范文透射电镜实验报告范文实验一材料的电镜(扫描透射)分析扫描电镜一实验目的1了解扫描电镜的基本结构和原理2掌握扫描电镜样品的准备与制备方法3了解扫描电镜图片的分析与描述方法二扫描电镜结构与原理(一)结构1.镜筒镜筒包括电子枪、聚光镜、物镜及扫描系统。

其作用是产生很细的电子束(直径约几个nm),并且使该电子束在样品表面扫描,同时激发出各种信号。

2.电子信号的收集与处理系统在样品室中,扫描电子束与样品发生相互作用后产生多种信号,其中包括二次电子、背散射电子、某射线、吸收电子、俄歇(Auger)电子等。

在上述信号中,最主要的是二次电子,它是被入射电子所激发出来的样品原子中的外层电子,产生于样品表面以下几nm至几十nm的区域,其产生率主要取决于样品的形貌和成分。

通常所说的扫描电镜像指的就是二次电子像,它是研究样品表面形貌的最有用的电子信号。

检测二次电子的检测器(图15(2)的探头是一个闪烁体,当电子打到闪烁体上时,1就在其中产生光,这种光被光导管传送到光电倍增管,光信号即被转变成电流信号,再经前置放大及视频放大,电流信号转变成电压信号,最后被送到显像管的栅极。

3.电子信号的显示与记录系统扫描电镜的图象显示在阴极射线管(显像管)上,并由照相机拍照记录。

显像管有两个,一个用来观察,分辨率较低,是长余辉的管子;另一个用来照相记录,分辨率较高,是短余辉的管子。

4.真空系统及电源系统扫描电镜的真空系统由机械泵与油扩散泵组成,其作用是使镜筒内达到10(4~10(5托的真空度。

电源系统供给各部件所需的特定的电源。

(二)工作原理从电子枪阴极发出的直径20(m~30(m的电子束,受到阴阳极之间加速电压的作用,射向镜筒,经过聚光镜及物镜的会聚作用,缩小成直径约几毫微米的电子探针。

在物镜上部的扫描线圈的作用下,电子探针在样品表面作光栅状扫描并且激发出多种电子信号。

这些电子信号被相应的检测器检测,经过放大、转换,变成电压信号,最后被送到显像管的栅极上并且调制显像管的亮度。

扫描电镜实验步骤

扫描电镜实验步骤

扫描电镜实验步骤
扫描电镜是一种高分辨率的显微镜,可以用于观察微小的物体表面结构。

在进行扫描电镜实验时,需要按照以下步骤进行操作。

第一步:样品制备
样品制备是扫描电镜实验的关键步骤之一。

样品应该具有一定的厚度和尺寸,以便于在扫描电镜中进行观察。

通常情况下,样品需要进行固定、切片、染色等处理,以便于观察。

第二步:样品表面处理
在进行扫描电镜实验之前,需要对样品表面进行处理。

这是因为扫描电镜只能观察样品表面的结构,而不能观察样品内部的结构。

常用的样品表面处理方法包括金属喷镀、碳喷镀、真空蒸镀等。

第三步:扫描电镜操作
在进行扫描电镜实验时,需要将样品放置在扫描电镜的样品台上,并调整扫描电镜的参数,如电子束的加速电压、扫描速度、探针电流等。

然后,通过扫描电镜的探针扫描样品表面,将样品表面的结构转化为电子信号,并通过电子显微镜将其显示出来。

第四步:图像处理和分析
在获得样品表面的图像之后,需要对图像进行处理和分析。

常用的
图像处理方法包括增强对比度、去噪、调整亮度和对比度等。

而图像分析则可以通过计算机软件进行,如图像分割、形态学分析、三维重建等。

扫描电镜实验是一项复杂的实验,需要进行样品制备、样品表面处理、扫描电镜操作和图像处理和分析等多个步骤。

只有在严格按照实验步骤进行操作的情况下,才能获得准确的实验结果。

扫描电镜实验报告doc

扫描电镜实验报告doc

扫描电镜实验报告篇一:扫描电镜实验报告扫描电镜实验报告班级:材化11学号:姓名:李彦杰日期: XX 05 16一、实验目的1. 了解扫描电镜的构造及工作原理;2. 扫描电镜的样品制备;3. 利用二次电子像对纤维纵向形貌进行观察;4. 了解背散射电子像的应用。

二、实验仪器扫描电子显微镜(热发射扫描型号JSM-5610LV)、真空镀金装置。

扫描电镜原理是由电子枪发射并经过聚焦的电子束在样品表面扫描,激发样品产生各种物理信号,经过检测、视频放大和信号处理,在荧光屏上获得能反映样品表面各种特征的扫描图像。

扫描电镜由下列五部分组成,主要作用简介如下:1.电子光学系统。

其由电子枪、电磁透镜、光阑、样品室等部件组成。

为了获得较高的信号强度和扫描像,由电子枪发射的扫描电子束应具有较高的亮度和尽可能小的束斑直径。

常用的电子枪有三种形式:普通热阴极三极电子枪、六硼化镧阴极电子枪和场发射电子枪。

前两种属于热发射电子枪;后一种则属于冷发射电子枪,也叫场发射电子枪,其亮度最高、电子源直径最小,是高分辨本领扫描电镜的理想电子源。

电磁透镜的功能是把电子枪的束斑逐级聚焦缩小,因照射到样品上的电子束斑越小,其分辨率就越高。

扫描电镜通常有三个磁透镜,前两个是强透镜,缩小束斑,第三个透镜是弱透镜,焦距长,便于在样品室和聚光镜之间装入各种信号探测器。

为了降低电子束的发散程度,每级磁透镜都装有光阑;为了消除像散,装有消像散器。

样品室中有样品台和信号探测器,样品台还能使样品做平移、倾斜、转动等运动。

2. 扫描系统。

扫描系统的作用是提供入射电子束在样品表面上以及阴极射线管电子束在荧光屏上的同步扫描信号。

3. 信号检测、放大系统。

样品在入射电子作用下会产生各种物理信号、有二次电子、背散射电子、特征X射线、阴极荧光和透射电子。

不同的物理信号要用不同类型的检测系统。

它大致可分为三大类,即电子检测器、阴极荧光检测器和X射线检测器。

4. 真空系统。

镜筒和样品室处于高真空下,它由机械泵和分子涡轮泵来实现。

电镜扫描报告

电镜扫描报告

电镜扫描报告
报告名称:报告撰写人员:XXX
报告日期:XXX
报告内容
一、实验目的
通过电镜扫描技术对样品进行形貌和成分分析,了解样品的微观结构和微观组成。

二、实验原理
电镜扫描技术利用高度集中的电子束对样品进行扫描,然后通过接收的电子信号对样品的表面形貌和成分进行分析。

电镜扫描技术分为扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)两种。

SEM主要用于对材料的表面进行分析,TEM则可用于对样品的内部结构进行分析。

三、实验过程
1. 样品制备:将样品制成并加工成一定形状和大小,然后将其切成适当厚度的薄片,再进行氧化处理。

2. 电镜扫描:将样品放入电镜里进行扫描,利用电子束对样品进行分析。

3. 数据分析:通过接收到的数据对样品的微观形貌和成分进行分析。

四、实验结果
通过SEM对样品进行扫描,得到以下结果:
1. 样品表面大量存在颗粒状物质,大小分布不均匀,直径集中在20-50 nm之间。

2. 样品的成分主要为氧化物和金属元素,其中氧化物的比例较高。

五、实验结论
通过电镜扫描技术对样品进行形貌和成分分析,了解到样品表面存在大量的颗粒状物质,大小分布不均匀。

另外,样品的成分主要为氧化物和金属元素,其中氧化物的比例较高。

六、实验中存在的问题和改进方案
1. 样品制备过程中存在一定的误差,需要改进制备工艺。

2. 电镜扫描时需要掌握好电镜的操作技巧,避免误操作和对仪器造成损伤。

七、参考文献
无。

以上即是对XXX样品进行电镜扫描的报告内容,希望能对大家有所帮助。

扫描电镜实验报告

扫描电镜实验报告

扫描电镜实验报告一、背景介绍扫描电镜(Scanning Electron Microscope,SEM)是一种常用于观察材料表面形貌的高分辨率显微镜。

与光学显微镜不同,SEM使用电子束来对样品进行扫描,从而获得样品表面的高清晰度图像。

本文将对扫描电镜实验进行详细描述和分析。

二、实验目的本次实验的目的是研究和观察不同样品的表面形貌及其微观结构。

通过使用扫描电镜,我们可以进一步了解材料的性质和特征,并为后续的研究工作提供有力的支持。

三、实验步骤1. 样品制备:将待观察的样品进行必要的处理,例如切割、研磨、涂覆导电剂等,以保证样品的表面光滑且导电性良好。

2. 装备样品:将处理完成的样品放置在SEM样品台上,固定好并调整角度,确保样品表面垂直于电子束的入射方向。

3. 调整参数:根据不同样品的特性和需求,调整加速电压、放大倍数、探头电流等参数,以获得最佳的图像质量。

4. 扫描观察:打开SEM仪器,开始对样品进行扫描观察。

电子束在样品表面扫描时,与样品表面相互作用,产生二次电子信号,这些信号被探测器接收并转换成图像。

四、实验结果与分析在本次实验中,我们观察了不同样品的表面结构,并获得了一系列高分辨率的SEM图像。

以一块常见的金属材料——铝为例,通过SEM观察,我们可以清晰地看到铝表面的微观结构。

观察结果显示,铝表面呈现出许多沟槽和凸起的特征,这些特征是铝晶粒的显著标记。

SEM图像还揭示了铝表面的晶粒大小和分布情况,有助于我们进一步研究金属的力学性质和形变行为。

同样,我们还观察了纳米颗粒的表面形貌。

SEM图像显示,纳米颗粒具有较大的表面积和丰富的形态结构,这使得纳米颗粒在催化剂、材料科学等领域有着广泛的应用价值。

通过SEM观察,我们可以研究纳米颗粒的大小分布、形状特征以及粒子间的相互作用,为相关研究提供了重要的依据。

五、实验的意义与应用前景扫描电镜作为一种重要的表征工具,在材料科学、生物学、纳米技术等领域具有广泛的应用和重要意义。

扫描电镜能谱分析实验报告

扫描电镜能谱分析实验报告

扫描电镜能谱分析实验报告实验报告篇一:扫描电镜能谱分析实验能谱分析对于确定样品的结构与组成有着重要意义。

本实验通过探究硅片中磷原子的能级结构,得出结论。

具体实验方案如下: 1.扫描电镜分析:采用SPZ100型旋转扫描电子能谱仪,按国家标准,完成了对Z型和P型样品的能量分析。

2.测试分析:采用德国克劳斯特K40光谱仪测试待测样品,得出其成分分析值为:样品组成为:Si85%~91%、 Al2O31.5~3%、 Sn1.0~2.3%、 Fe0.6~0.7%、 S0.2~0.3%、 Cl0.4~0.8%、 Cu0.02~0.1%。

扫描电镜主要由真空系统、电子学系统和信号处理及图像采集系统组成。

与光学显微镜相比,电子显微镜具有极大的优越性,这是因为电子束具有极高的速度,可在瞬间获得数百万的信息,放大倍率一般在1万倍左右。

它是一种多功能的高分辨显微镜。

自从上世纪90年代以来,随着电子显微镜技术的发展,扫描电镜作为现代显微分析领域中研究生命科学和材料科学等方面的有力工具,已广泛应用于各个领域,而且,扫描电镜能谱分析技术也已被应用到众多领域。

例如:样品制备的表征,多元素同时分析,信号提取和图像重建,表面形貌和孔洞分析等。

对于石墨材料的扫描电镜能谱分析的目的主要是: 1、进行表面扫描电镜( SEM)和反射电镜( RIM)表面组成的表征; 2、确定石墨材料中的杂质类型及含量; 3、观察石墨层中二维或三维缺陷及结构缺陷; 4、确定石墨中裂纹的存在位置和走向。

扫描电镜(SEM)是当前应用最为广泛的表面结构研究手段之一。

扫描电镜能谱分析技术包括X射线光电子能谱和俄歇电子能谱,其中俄歇电子能谱又称“无损定量分析”。

俄歇电子能谱实际上是一种能量分析方法,它只分析特定能量的电子。

在原子吸收测量中,测量电子的能量范围约在0.1~0.45ev,此时单能态分辨能力较差,因此,采用双能级分析(即俄歇电子能谱),能够更好地对样品进行表征。

电镜_实验报告

电镜_实验报告

一、实验名称扫描电子显微镜(SEM)实验二、实验目的1. 了解扫描电子显微镜的原理和结构;2. 掌握扫描电子显微镜的使用方法和操作技巧;3. 通过扫描电子显微镜观察样品的表面形貌和微观结构;4. 分析和解释实验结果。

三、实验原理扫描电子显微镜(SEM)是一种利用高能电子束扫描样品表面,产生二次电子、背散射电子和透射电子等信号,通过信号检测和放大,在荧光屏上显示样品表面形貌和微观结构的分析仪器。

扫描电子显微镜具有高分辨率、高放大倍数、高亮度等特点,广泛应用于材料科学、生物学、地质学等领域。

四、实验仪器与样品1. 实验仪器:扫描电子显微镜(SEM)、样品台、样品夹具、样品制备设备等;2. 样品:金相样品、生物样品、地质样品等。

五、实验步骤1. 样品制备:将待观察的样品进行表面处理,如抛光、腐蚀等,然后进行喷金、碳膜等表面处理,以提高样品的导电性和反射率;2. 样品安装:将处理好的样品安装在样品台上,确保样品与样品台接触良好;3. 仪器调试:开启扫描电子显微镜,进行电压、电流、加速电压等参数的调整,以达到最佳的观察效果;4. 扫描观察:在荧光屏上观察样品表面形貌,根据需要调整放大倍数、扫描速度等参数;5. 数据采集:通过CCD相机或图像采集卡,将观察到的样品图像采集到计算机中;6. 图像分析:对采集到的图像进行分析,解释实验结果。

六、实验结果与分析1. 金相样品的表面形貌观察:通过扫描电子显微镜观察,发现金相样品的晶粒大小、形状、分布等微观结构特征;2. 生物样品的表面形貌观察:通过扫描电子显微镜观察,发现生物样品的细胞结构、细胞器、细胞膜等微观结构特征;3. 地质样品的表面形貌观察:通过扫描电子显微镜观察,发现地质样品的矿物颗粒、矿物结构、矿物组合等微观结构特征。

七、实验总结本次实验通过扫描电子显微镜观察了金相样品、生物样品和地质样品的表面形貌和微观结构,掌握了扫描电子显微镜的使用方法和操作技巧。

实验结果表明,扫描电子显微镜在观察样品表面形貌和微观结构方面具有很高的分辨率和放大倍数,能够为材料科学、生物学、地质学等领域的研究提供有力的技术支持。

扫描电镜实验步骤

扫描电镜实验步骤

扫描电镜实验步骤实验步骤:1、接通电源,打开扫描电镜主机上的开关(开关有三个档,diyi档为关闭,第二档开启,第三档为启动)启动的时候把钥匙放在第三档大约两秒钟松手,扫描电镜启动,钥匙自动回到第二档(回到第二档的原因是防止突然断电,又突然来电)。

2、打开电脑。

3、打开电脑桌面上的扫描电镜操作软件(打开软件扫描电镜真空泵会自动工作,开始抽电子枪与样品室内的空气。

此时软件上的“HT”为灰色,真空抽完之后,“HT”会变成蓝色)。

4、点操作界面的Sample,选择“Vent”(此时扫描电镜主机上的“放气”指示灯开始闪烁,停止闪烁为工作完成),调正“Staqe”中的“Z”轴为40mm 以上轴Zda位置为80mm),打开样品室,取出样品台(注意:在取样品台时手不得接触二次电子探头和背散射探头),固定样品(样品要确保良好的导电性),完成后再抽真空,点击Sample中的“Evac”,真空泵开始工作,当“HT”变为蓝色,抽真空完成。

5、确定工作电压与工作距离(工作电压“Acc.volt”一般为30KV,工作距离“WD”一般为10mm,束斑Spotsize一般为30,工作模式Signal:二次电子SEI背散射BEW,真空模式Vac.mode:HVLV)在确定工作电压和工作距离时,不用看原来的数值是多少都要重新指定。

6、点击“HT”打开高压,“HT”变为绿色。

7、打开“Staqe”通过调正“X、Y、T、R”四个轴向找到样品的位置,再调正“Z”轴确定样品台的位置(注意:在确定工作位置的时候要确定样品的高度。

如:样品为2mm,那么轴的数值应调正为15mm),放大样品到模糊看不清的倍数,通过对“Z”轴的上、下位置调正样品为Z清淅的位置,再放大样品到模糊看不清的倍数,再用同样的方法调正到Z清淅的位置。

8、点击“Vlew”使扫描电镜放大倍数回到30X。

9、先放大到一个合适选择Z佳拍照位置的倍数,选择一个Z佳的拍照位置(样品表面尽量平整)。

扫描电镜实验报告3页

扫描电镜实验报告3页

扫描电镜实验报告3页一、实验目的:1.了解扫描电镜的工作原理和使用方法;2.学习制备样品的技术和方法;3.观察样品的形态、结构和微观结构;4.掌握扫描电镜的操作技巧和使用规范。

二、实验原理:扫描电镜是一种可以获得高分辨率图像的显微镜。

其主要原理是利用所谓的零接触方式,在真空中进行样品的扫描和成像。

扫描电镜的基本工作原理:样品表面受到高能电子束的轰击后,可以形成反射电子。

扫描电镜将这些反射电子采集并放大,然后用它们来形成高分辨率的图像。

扫描电镜分为常规扫描电镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)。

常规扫描电镜主要是在样品表面上进行扫描,而透射电子显微镜主要是在样品内部进行扫描。

扫描电镜可以观察到不同形态和大小的物体,并且可以观察到纳米级的结构。

三、实验步骤:1.制作样品:(1)样品准备:准备好需要观察的样品。

不同的样品需要不同的制备方法。

(2)切样品:将样品切成适当的大小和形状。

(3)去除表面粗糙:使用砂纸或者打磨机去除表面粗糙。

(4)去除表面杂质:使用超声波清洗仪去除表面杂质。

(5)制备导电层:使用金属喷涂或者碳喷涂制备导电层。

2.观察样品:(1)将样品放入扫描电镜的样品架上。

(2)调整扫描电镜的工作参数,如电压、电流、探针电流、扫描速度等。

(4)记录和保存观察结果。

四、实验结果:我们观察了一些不同的样品,如铜片、虫体、花粉等。

下面列出了观察结果。

(1)铜片:铜片的表面非常光滑,并且有许多颗粒状的凸起。

在高倍观察时,可以看到这些颗粒状的凸起是由许多小的颗粒组成的。

(2)虫体:虫体的表面有许多微小的颗粒状结构,这些颗粒状结构是由蛋白质和其他有机物质组成的。

这些颗粒状结构可以用扫描电镜清晰地观察到,从而更好地了解其微观结构。

(3)花粉:花粉表面非常光滑,并且具有不同的形态和大小。

不同的花粉具有不同的表面结构和形态,这些结构和形态可以用扫描电镜清晰地观察到。

本次实验我们使用扫描电镜观察了不同的样品,如铜片、虫体、花粉等。

扫描电镜实验报告

扫描电镜实验报告

扫描电镜实验报告
本次实验我们使用了扫描电镜来观察各种微观结构。

扫描电镜是一种高分辨率的显微镜,可以观察到小至0.01微米的结构。

首先,我们观察了一些有机物样品。

我们先将其放入扫描电镜中,并用电子束来激发样品表面的电子。

随后,样品表面的电子会被电子束所控制,造成电子的放出。

这些漫反射的电子就会被探测器拾取,最终转化成二维图像。

通过实验,我们所得到的图像结果十分有趣,有的组织结构长得像秋天的银杏叶,有的则如竹子一般,细长有弧度等。

我们可以清楚地看到它们的外形和细节。

接下来,我们观察了一些无机物样品,如一些金属纳米颗粒、各种晶体颗粒和非晶态颗粒等等。

我们不仅在超微结构方面能够看到一些非常细微的特征,如晶界(grain boundaries)、晶缺陷(lattice vacancies)、位错(dislocations)等等,我们还能观察到传统光学显微镜无法看到的微观特征,如金属内部结构的形态、非晶态的颗粒等等。

同时,我们还使用扫描电镜观察了一些细胞和细胞器的结构。

我们清楚地看到了生物组织中的微观结构,如细胞膜、微绒毛、高尔基体等等。

我们不仅仅看到了它们的外形,而且还能够通过结构上的细微变化来了解细胞的生理和病理状态。

最后,我们在实验中使用了一些特殊技术来进一步增强图像的细节,如图像增强、三维图像重建等等。

总的来说,本次扫描电镜实验让我们更加深入地了解了微观结构以及它们的性质和形态。

这样的结果对于探究材料科学、生物学、病理学等领域都有很大的意义。

同时,这也让我们更加深入了解了扫描电镜这种高级显微镜,它成为了化学科学和工程领域的重要工具之一。

【实验】扫描电镜实验报告

【实验】扫描电镜实验报告

【关键字】实验扫描电镜实验报告篇一:扫描电镜实验报告扫描电镜实验报告班级:材化11学号:姓名:李彦杰日期:XX 05 16一、实验目的1. 了解扫描电镜的构造及工作原理;2. 扫描电镜的样品制备;3. 利用二次电子像对纤维纵向形貌进行观察;4. 了解背散射电子像的应用。

二、实验仪器扫描电子显微镜(热发射扫描型号JSM-5610LV)、真空镀金装置。

扫描电镜原理是由电子枪发射并经过聚焦的电子束在样品表面扫描,激发样品产生各种物理信号,经过检测、视频缩小和信号处理,在荧光屏上获得能反映样品表面各种特征的扫描图像。

扫描电镜由下列五部分组成,主要作用简介如下:1.电子光学系统。

其由电子枪、电磁透镜、光阑、样品室等部件组成。

为了获得较高的信号强度和扫描像,由电子枪发射的扫描电子束应具有较高的亮度和尽可能小的束斑直径。

常用的电子枪有三种形式:普通热阴极三极电子枪、六硼化镧阴极电子枪和场发射电子枪。

前两种属于热发射电子枪;后一种则属于冷发射电子枪,也叫场发射电子枪,其亮度最高、电子源直径最小,是高分辨本领扫描电镜的理想电子源。

电磁透镜的功能是把电子枪的束斑逐级聚焦缩小,因照射到样品上的电子束斑越小,其分辨率就越高。

扫描电镜通常有三个磁透镜,前两个是强透镜,缩小束斑,第三个透镜是弱透镜,焦距长,便于在样品室和聚光镜之间装入各种信号探测器。

为了降低电子束的发散程度,每级磁透镜都装有光阑;为了消除像散,装有消像散器。

样品室中有样品台和信号探测器,样品台还能使样品做平移、倾斜、转动等运动。

2. 扫描系统。

扫描系统的作用是提供入射电子束在样品表面上以及阴极射线管电子束在荧光屏上的同步扫描信号。

3. 信号检测、缩小系统。

样品在入射电子作用下会产生各种物理信号、有二次电子、背散射电子、特征X射线、阴极荧光和透射电子。

不同的物理信号要用不同类型的检测系统。

它大致可分为三大类,即电子检测器、阴极荧光检测器和X射线检测器。

4. 真空系统。

扫描电镜实验报告

扫描电镜实验报告

扫描电镜实验报告扫描电镜实验报告姓名:XXX 专业:有机化学学号:312070303004 时间:2012.10.17⼀、实验⽬的:1、了解扫描电镜的基本原理、仪器结构及特点2、了解扫描电镜的应⽤⼆、实验原理:扫描电镜是利⽤细聚焦的电⼦束,在样品表⾯逐点扫描,⽤探测器⼿机在电⼦束作⽤下,样品中产⽣的电⼦信号,把信号转换成图像的仪器。

在扫描显微镜中,由电⼦枪发射并经过聚焦的电⼦束在样品表⾯扫描,激发样品产⽣各种物理信号,包括背散射电⼦、⼆次电⼦、吸收电⼦、透射电⼦、特征X射线等,其强度随样品表⾯特征⽽变。

于是样品表⾯不同的特征,按顺序、成⽐例地被转换成视频信号。

然后检测其中某种物理信号,并经过视频放⼤和信号处理,⽤来同步地调制阴极线管(CRT)的电⼦束强度。

原则上说,⾼能电⼦与固体样品互相作⽤产⽣的各种物理信号,经检测放⼤后皆可作为调制信号,在CRT荧光屏上获得反映样品表⾯各种特征的扫描图像。

三、仪器结构:扫描电镜主要有真空系统、电⼦束系统以及成像系统三部分构成。

1、真空系统:真空系统主要包括真空泵和真空柱两部分。

(1)真空柱是⼀个密封的柱形容器。

(2)真空泵⽤来在真空柱内产⽣真空。

由机械泵、油扩散泵以及涡轮分⼦泵三⼤类,机械泵加油扩散泵的组合可以满⾜配置钨枪的扫描电镜的真空要求,但对于装置了场致发射枪或六硼化镧枪的扫描电镜,则需要机械泵加涡轮分⼦泵的组合。

成象系统和电⼦束系统均内置在真空柱中。

真空柱底端是密封室,⽤于放置样品。

之所以要⽤真空,主要基于以下两点原因:⼀、电⼦束系统中的灯丝在普通⼤⽓中会迅速氧化⽽失效,所以除了在使⽤扫描电镜时需要⽤真空以外,平时还需要以纯氮⽓或惰性⽓体充满整个真空柱。

⼆、为了增⼤电⼦的平均⾃由程,从⽽使得⽤于成象的电⼦更多。

2、电⼦束系统:电⼦束系统由电⼦枪和电磁透镜两部分组成,主要⽤于产⽣⼀束能量分布极窄的、电⼦能量确定的电⼦束⽤以扫描成象。

(1)电⼦枪:⽤于产⽣电⼦。

扫描电镜实验要求

扫描电镜实验要求

扫描电镜实验要求下面就是扫描电镜实验的一些要求啦,可得好好听着哦。

一、样品准备方面。

1. 首先呢,你的样品得够干净。

就像你去参加一个超级正式的派对,不能脏兮兮的就去了对吧。

可不能有那些灰尘啊、油污之类的东西粘在上面。

要是不干净,电镜下看到的就全是那些脏东西,就跟你想看清一个帅哥或者美女,结果他/她脸上全是泥巴一样糟糕。

2. 样品的大小也很关键。

它不能太大,要能放到电镜的样品台上才行。

要是太大了,就像你想把一头大象塞进一个小汽车里,根本就放不进去嘛。

一般来说,按照实验室给的尺寸标准来准备就好啦。

3. 还有哦,如果你的样品不导电,那就得想办法处理一下。

因为在扫描电镜里,要是不导电,就会产生电荷堆积,图像就会变得模糊不清,就像近视眼没戴眼镜看东西一样。

可以用喷金或者镀碳之类的方法让它导电起来。

二、操作仪器的时候。

1. 在使用扫描电镜之前,一定要先接受培训。

这可不是在逗你玩,这仪器很精密也很昂贵,就像一个超级娇贵的宝贝,要是你不懂乱弄,可能就把它搞坏了。

培训的时候要认真听,每个按钮、每个功能都要搞清楚。

2. 操作的时候,要按照操作手册一步一步来。

别自己瞎创新,这不是玩游戏可以随便试错。

比如说调整电压、电流这些参数,一定要在规定的范围内调整,不然可能就会损坏仪器或者得到很糟糕的图像。

3. 当你在观察样品的时候,要小心移动样品台。

就像你在小心翼翼地挪动一个装满了鸡蛋的盘子,稍微不小心就可能把样品撞到什么东西上,那就前功尽弃了。

三、实验安全要求。

1. 电镜周围可能会有一些高电压的部件,千万不要乱摸。

这可不是摸小猫小狗,被电一下可不得了,那感觉就像被雷劈了一样(当然没那么夸张啦,但也很疼很危险)。

2. 要是有什么特殊的样品,比如说可能会释放有害气体之类的,一定要提前告诉老师或者实验室管理员。

可不能偷偷摸摸地做实验,要是发生危险,那可就闯大祸了。

3. 在实验室里,要遵守实验室的所有安全规定,像戴手套、穿实验服这些都是最基本的。

扫描电镜实验报告

扫描电镜实验报告

HUNAN UNIVERSITY姓名: 扫描电镜实验报告姓名: 高子琪学号: 2一、实验目的1.了解扫描电镜的基本结构与原理;2.掌握扫描电镜样品的准备与制备方法;3.掌握扫描电镜的基本操作并上机操作拍摄二次电子像;4.了解扫描电镜图片的分析与描述方法。

二.实验设备及样品1.实验仪器:D5000-X衍射仪基本组成:1)电子光学系统:电子枪、聚光镜、物镜光阑、样品室等2)偏转系统:扫描信号发生器、扫描放大控制器、扫描偏转线圈3)信号探测放大系统4)图象显示与记录系统5)真空系统2.样品:块状铝合金三、实验原理1、扫描电镜成像原理从电子枪阴极发出的电子束,经聚光镜及物镜会聚成极细的电子束(0、00025微米-25微米),在扫描线圈的作用下,电子束在样品表面作扫描,激发出二次电子与背散射电子等信号,被二次电子检测器或背散射电子检测器接收处理后在显象管上形成衬度图象。

二次电子像与背反射电子反映样品表面微观形貌特征。

而利用特征X射线则可以分析样品微区化学成分。

扫描电镜成像原理与闭路电视非常相似,显像管上图像的形成就是靠信息的传送完成的。

电子束在样品表面逐点逐行扫描,依次记录每个点的二次电子、背散射电子或X射线等信号强度,经放大后调制显像管上对应位置的光点亮度,扫描发生器所产生的同一信号又被用于驱动显像管电子束实现同步扫描,样品表面与显像管上图像保持逐点逐行一一对应的几何关系。

因此,扫描电子图像所包含的信息能很好地反映样品的表面形貌。

2、X射线能谱分析原理X射线能谱定性分析的理论基础就是Moseley定律,即各元素的特征X射线频率ν的平方根与原子序数Z成线性关系。

同种元素,不论其所处的物理状态或化学状态如何,所发射的特征X射线均应具有相同的能量。

X射线能谱定性分析就是以测量特征X射线的强度作为分析基础,可分为有标样定两分析与无标样定量分析两种。

在有标样定量分析中样品内各元素的实测X射线强度,与成份已知的标样的同名谱线强度相比较,经过背景校正与基体校正,便能算出它们的绝对含量。

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中级仪器分析实验报告班级:______________________ 姓名:______________________ 学号:______________________ 指导教师:___________________ 完成时间:___________________化学与材料科学学院2007应用化学 刘远旭 070804010032 周建威 2010年12月23日目录实验一枪击残留物的电镜分析实验二未知Fe浓度溶液的ICP-AES分析实验三 X射线衍射(XRD)物相分析实验四龙脑的气质谱分析实验五丙三醇红外分析实验一枪击残留物的电镜分析一、仪器简介1仪器名称:扫描式电子显微镜2型号:日本JSM-6490LV扫描电子显微镜(配置:英国牛津INCA-350X射线能谱仪)3扫描电子显微镜——JSM-6490LV型介绍在当代迅速发展的科学技术中,科学家需要观察、分析和正确地解释在一个微米(μm)或亚微米范围内所发生的现象,电子显微镜是强有力的仪器,可用它们观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、亚微米局部范围内的物质的显微组织、晶体结构(电子衍射)、化学成分(X射线能谱仪)进行表征。

电子显微镜主要有扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜,都用一束精细聚焦的电子照射需要检测的区域或是需要分析的微体积,该电子束可以是静止的,或者沿着样品表面以一光栅的方式扫描。

其差别仅仅在于它们感兴趣的信号不同。

在扫描电镜(SEM)中,人们最感兴趣的信号是二次电子和背散射电子,因为当电子束在样品表面扫描时,这些信号随表面形貌不同而发生变化。

二次电子的发射局限于电子束轰击区附近的体积内,因而可获得相当高分辨率的图象。

象的三维形态起因于扫描电镜的大景深和二次电子反差的阴影起伏效果。

象的三维形态起因于扫描电镜的大景深和二次电子反差的阴影起伏效果。

其它的信号在许多情况下也同样有用。

在通常称为电子探针的电子探针显微分析仪(EPMA)中,人们最感兴趣的辐射是由于电子轰击而发射的特征X射线,从特征X射线的分析能够得到样品中直径小到几微米区域内的定性和定量成分信息。

样品要求:干燥、固定,若为矿样等二次离子产生少的需要度导电膜。

电子显微镜与光学显微镜的主要区别:电镜分辨率较高,无彩色但立体感强,光学有色彩但为平面结构。

主要成像类别:SEI图像——二次电子产生,主要对样品的表面信息进行表征。

BES图像——被散射的电子产生,为元素相,周期表中原子序数越大的越亮。

1)、扫描电子显微镜成象原理扫描电子显微镜是以能量为1-30KV间的电子束,以光栅状扫描方式照射到被分析试样的表面上,利用入射电子和试样表面物质相互作用所产生的二次电子和背散射电子成象,获得试样表面微观组织结构和形貌信息。

配置波谱仪和能谱仪,利用所产生的X射线对试样进行定性和定量化学成分分析。

2).成象原理扫描电镜的成象过程与电视的摄象——显象过程很相似。

来自扫描发生器的扫描信号分别送给电子光学系统的扫描线圈和显象管的扫描线圈,让电子束与显象管的阴极射束(实际上也是电子束)做同步扫描,使阴极射束在荧光屏上的照射点(称为象点)与电子束在样品上的照射点(称为物点)按时间顺序一一对应,样品上的物点在电子束作用下所产生的信号被检测器随时检出,经视频放大器放大后控制显象管阴极射束的强度使荧光屏上象点的亮度受试样上物点所产生的信号的大小的调制,从而得到与样品性质有关的图象。

这是一种按时间顺序逐点成象的方式。

前面提到的电子束与样品相互作用所产生的各种信息都可以作为调制图象的信号。

3).分辨本领分辨本领在扫描电子显微镜中定义为:清楚地分辨样品上两个点或两个细节之间的距离的能力。

实际上,分辨本领主要取决于电子束照射在样品上的束斑大小。

普通钨丝电子枪的分辨本领在 6.0-3.5nm之间,而场发射电子枪可达到1.0nm。

应该指出:仪器的分辨本领与仪器状态和操作技术有很大关系。

上述数值是在最佳状态下,观察特殊样品的二次电子图象时得到的,是仪器的极限。

通常使用时都是低于这个值。

4).电子束与样品的相互作用当电子束轰击样品表面时,一部分的能量转变成热能,这可能造成样品的辐照损伤。

还有部分的能量由于电子与样品原子的相互作用而发射出各种有用的信息。

主要有:(1)二次电子:入射电子使样品原子激发所产生的电子,它们的能量很低,一般小于50eV。

只有10nm左右的深度范围的二次电子才能逸出样品表面而被检测。

(2)背散射电子:一部分入射电子因与样品原子碰撞而改变运动方向,经多次碰撞又由样品表面散射出来,称之为背散射电子,其能量接近入射电子的能量。

(3)特征X射线:样品原子的内层电子被激发后所产生的X射线。

当入射电子束与样品相互作用时,有二种方式可导致产生X射线:(A)入射电子与原子核的非弹性散射:这种作用,使运动电子在原子核的库仑势场中失去能量而发射出连续的X射线光谱,这又称为白色辐射或韧致辐射(Bremshrahluny )。

在这种情况下,产生的X射线光谱的能量可以从零能量一直延伸到与入射电子束能量相等的X射线。

这种连续X射线光谱,在电子探针中,提高了测量的背底,降低了探测的灵敏度和分辨率,是我们要尽力加以消除的一种有害影响。

(B)入射电子与原子的内层电子发生互作用:带有足够能量的入射电子,它能够撞击一个K、L或者M能级上的内层电子,使原子处于激发和电离的状态,原子通过它的外层电子跃迁到内层的空位而回到基态。

在这种回复到原来状态的过程中,多余的能量就以X射线光量子的形式释放出来,产生特征X辐射,这是电子探针主要利用的信号方式。

(4)俄歇电子:样品原子的内层电子被激发后所产生的电子。

(5)吸收电子:一部分入射电子在与样品原子碰撞过程中将能量全部释放给样品,而成为样品中的自由电子,称之为吸收电子。

(6)荧光:样品原子的外层电子被激发后所产生的可见光或红外光。

(7)感生电动势:入射电子照射样品的pn结时产生的电动势(或电流)。

二、实验部分1.实验目的:通过实验,初步了解扫描电镜的原理结构和操作方法。

2.枪击残留物取样:特质双面胶带取样。

3.操作规程:①开机准备②试样观察③试样更换④关闭程序4.安全规程:1)VACVUM SYSTEM控制面板的进气阀控制开关VENT,抽真空开关EVAC都需要按住延迟3秒来执行开启,灯闪亮表示还需要等候,灯直亮表示完成动作已准备好。

2)仪器必须到达高真空后,方可开启灯丝高压(HV)。

3)必须在关闭灯丝高压(HV)后方可开去试样室进气阀控制开关,VENT更换进样。

4)在样品台五轴调整Stage control操作时,Z轴位移一定要大于8,若样品高于样品台的距离为Amm,Z轴位移一定要大于(8+A)mm,这一点对于保护物镜极靴非常重要。

5)JSM-6490LV扫描电子显微镜计算机不能使用外来软件和磁盘(包括U盘、光盘等)。

5.实验步骤①按照操作规程,开机进行准备。

②放进样品,抽真空,并对谱图进行分析处理,得到谱图分析结果。

③实验结束,关闭程序。

④打印谱图。

6、谱图解析:由谱图可知,检测点中含有C O Pb Sb等元素,其中C O可能是外界的污染,则枪击残留物中主要的重金属为Pb Sb。

实验二未知Fe浓度溶液的ICP-AES分析一、实验仪器1、仪器型号:ICP-AES2、仪器介绍:美国perkinelmer:optima5300V 40.68MHz 1.3KW CCD检测器组成:循环水空气压缩机 Ar 主机数据处理及操作系统3. 技术条件:40.68MHz 1.3KW CCD检测器4.性能特点:①检测限低(低达10-3-10-4ppm),可同时或顺序测定多元素(数十种),快速定性、半定量,应用范围广。

②线性分析范围宽。

ICP光源是一种光薄的光源,自吸现象小,所以ICP-AES法校正曲线的线性范围可以达到5~6个数量级,即可以同时测定0.00n%~n0%的含量。

③干扰效应小 (背景干扰小,性噪比高)。

具有较高的蒸发、原子化和激发能力,且系无电极放电,无电极沾污。

④准确度高具,稳定性好,精密度高。

有溶液进样分析方法的稳定性和测量精度,其分析精度可与湿式化学法相比。

⑤灵敏度高。

5.进样技术:ICP-AES法可以对固、液、气态样品直接进行分析6. 主要工作参数二、工作原理ICP(inductive coupled piasma emission spectrometer)电感耦合等离子体发射光谱仪。

ICP-AES就是利用不同元素原子中的中外层电子在激发态想基态跃迁时所发出光谱线那个测定的。

ICP只是使式样离解为气态原子和使之达到激发态的一种方式。

三、实用范围大部分金属元素及少量非金属元素的分析:植物样品、组织样品、环境样品、金属材料、化学试剂等。

四实验流程1、分析方法先将样品处理为液体再进样:1、酸消解(硝酸-高氯酸、硝酸-高氯酸-硫酸、硝酸-高氯酸-硫酸-盐酸、硝酸-高氯酸-盐酸-氢氟酸);2、高温灰化;3、微波消解;4、碱融2、测量顺序1、打开循环水、空气压缩机、Ar、开机、打开程序、预热准备2、编辑方法:选择元素及其波长、设置各元素的浓度及单位、设置样品结果表示单位3、设置分析结果保存文件打开等离子体火焰(点火)4、分析标准溶液及调整积分波长5、分析标准空白、标准溶液(浓度从低到高)、试剂空白、样品溶液6、清洗管路,关上等离子体火焰7、打印结果:选择元素及其波长、选择样品、选择打印模板8、退出程序、关机、关气、循环水、空气压缩机六、结果计算分析编号含Fe浓度(mg/L) 含量强度(g)1 0 7.92 10 2708.13 20 5407.84 40 10934.55 60 16450.36 80 22069.4图1 Fe标准曲线编号含量强度(g)含Fe浓度(mg/L)样品2(m=0.9618)4032.2 14.72022一定条件下,元素浓度与发射光谱强度成正比,符合朗伯比尔定律:I=KC M=c*v*f/m mg/kgC Fe =gLLmg9618.005.0/72022.14⨯=306.097mg/g=5103.06⨯mg/Kg七、ICP光源主要优点1、检出限低:许多元素可达到PPb的检出限2、测量的动态范围宽:5-6个数量级3、准确度好4、基体效应小:ICP是一种具有6000-7000K的高温激发光源,样品又经过化学处理,分析用的标准系列很易于配制成与样品溶液在酸度、机体成分、总盐度等各种性质十分相似的溶液。

同时,光源能量密度高,特殊的激发环境,使ICP光源具有基体效应小的突出优点。

5、精密度高:RSD—0.5%6、曝光时间短:一般只需10-30秒7、电感耦合等离子体发射光谱分析所具有的多元素同时分析的特点与其他分析方法逐个元素单独测定相比,效率更高。

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