中科院老师课件详细的XRD

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XRD数据分析 全面详细(精品课件)

XRD数据分析  全面详细(精品课件)
《材料现代测试技术》作业-XRD分析 非H、O 成分: Na Zr Si Sr S
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作业步骤
1)用orgin绘图工具将图绘出,并正确标出面网间距值(精确到小 数点后四位);
2)基于粉末晶体X射线衍射数据库PDF2,利用Search Match等检 索工具正确分析数据中所含的两种主要物相,给出物相定性分析 结果;

16、业余生活要有意义,不要越轨。2020年10月16日星期 五3时3分46秒15:03:4616 October 2020

17、一个人即使已登上顶峰,也仍要 自强不 息。下 午3时3分46秒 下午3时 3分15:03:4620.10.16
谢谢大家
结果:
4.2修晶胞参数
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结果:
4.3修微结构
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4.4修原子位子
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两种物相每个原子都要改
4.5修择优取向
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• Sr(SO4) , weight %: 60.28361 +- 0.43405727
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点击Search Match 进行分析
进行峰对比:
进行第二种物相分析
同样进行峰对比
初步确定物相为: Sr(SO4)ICSD Number: 028055 Na2Zr(Si3O9)(H2O)2 ICSD Number: 040874
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三、从findit软件中找到相应的cif 文件
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输入第一种物相的含有的元素Sr、S、O
Sr(SO4)的球棒模型为:
同样Na2Zr(Si3O9)(H2O)2 的球棒模型为:

XRD分析方法介绍PPT课件

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特征谱是若干波长一定而强度很大的x射线谱。特 征谱的产生与靶材中原子结构及原子内层电子跃迁过 程有关。当高速运动的电子击靶时,具有高能量的电 子深入到靶材的原子中,激出原子内层电子,而使原 子处于不稳定的激发态,为使原子恢复至稳定的低能 态,邻近的电子立即自发地填其空穴,同时伴随多余 能量的释放,产生波长确定的x射线,其x射线的频率 和 即能hυ量= 由E2原―子E1跃迁前后的电子能级(E2和E1)决定,
从数学角度,近似函数法似乎不很严谨,但它确实 因绕开了求解物理宽化线形函数的困难,而使工作 大为简化。
最新课件
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Kα 双线分离的常用方法是Rechinger法,这种方法假定 Kα 双线的衍射线形相似且底宽相等,谱线 Kα1 与 Kα2 的峰值
强度比值为 2:1。
当辐射线Kα1 与 Kα2的波长存在 Δλ 的偏差时,则衍射角 2θ
的分离度为
2 6 2 1 ta 2 1 n 2
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荧光x射线波长决定于原子的能极差。从荧光x射线 的特征波长可以查明被激发原子是哪种元素,这就 是x射线荧光光谱技术(XRF)。
产生俄歇电子除用x射线照射外,还可以用电子束、 离子束轰击。俄歇电子的能量分布曲线称为俄歇电 子能谱。俄歇电子能谱反映了该电子从属的原子以 及原子的结构状态特征,因此,俄歇电子能谱分析 (AES)可以分析固体表面化学组成元素的分布, 可用于精确测量包括价电子在内的化学键能,也可 以测量化学键之间微细的能量差。扫描俄歇电子能 谱仪还可观测被测表面的形貌。
为简便起见,用衍射指数hkl代替面网符合(nh、nk、nl),
则得到简化布拉格方程,即最新课2件dsinθ=λ
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2.2 x射线衍射数据
2.2.1 衍射方向 衍射方向可用布拉格角θ、衍射角2θ、衍射面

最新XRD的原理及应用课件ppt

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布拉格方程
2 dh *k* l*sin n* n h k* n*ln
d
h
*
k
*
l
-------
*














距或面网间距
θ-----布拉格角或掠射角
λ----入射X射线波长
布拉格方程规定了X射线在晶体内产生 衍射的必要条件,只有d、θ、λ同时满足布 拉格方程时,晶体才能产生衍射
晶体绕晶轴旋转相当 于其倒易点阵围绕过 原点O并与反射球相切 的一根轴转动,于是 某些结点将瞬时地通 过反射球面。
凡是倒易矢量g值小于 反射球直径的那些倒 易点,都有可能与球 面相遇而产生衍射。
2、多晶衍射法
• 所谓多晶法就是用单色X射线照射多晶式样。 包括照相法和衍射仪法
照相法
• 照相法以光源发出的特征X射线照射多晶样 品,并用底片记录衍射花样。根据样品与 底片的相对位置,照相法可以分为德拜法、 聚焦法和针孔法。用其轴线与样品轴线重 合的圆柱形底片记录者称为德拜(Debye) 法;用平板底片记录者称为针孔法。 较早 的X射线衍射分析多采用照相法,而德拜法 是常用的照相法,一般称照相法即指德拜 法,德拜法照相装置称德拜相机其中德拜 法应用最为普遍。
劳厄和布拉格分别根据解体结构的点阵和
结构基元来对衍射方向与晶胞参数之间的 关系进行研究,从而提出了著名的劳尔定 律和布拉格方程。这一新发现开辟了晶体 结构X射线分析的新领域. 奠定了X射线衍射 学的基础.
劳厄方程(式中h、k、l=0、1、2等)
a(cos cos0) h b(cos cos0) k c(cos cos0) l

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⎣0 − a 2 /2 ⎤ ⎥ ⎥ ⎥ ⎦
于是,在三轴坐标中(hkl)面的法线[UVW]是:
⎡U ⎢V ⎢ ⎢ ⎣W 即 2 (2 h + k ) 3a 2 2 V = ( h + 2k ) 3a 2 1 W = l c2 ⎡ 4 /(3 a ⎤ ⎥ = ⎢ 2 /(3 a ⎢ ⎥ ⎢0 ⎥ ⎦ ⎣
四、晶带及晶带定律
根据晶带的定义,同一晶带中所有的晶面的法线都与晶带轴垂直。 设晶带轴[uvw]的矢量为r=ua+vb+wc;晶面(HKL)的法线矢量可
在晶体结构或空间点阵中,平行于同一个方向的所有晶面族 称为一个晶带,该方向则称为晶带轴。
用倒易矢量ghkl=Ha*+Kb*+Lc*来表示。若两矢量点乘,则有: (ua + vb + wc )⋅( Ha* + Kb* + Lc* ) = 0 由此可得:
⎡u ⎤ ⎡a * •a * a * •b * a * •c * ⎤ ⎡h ⎤ ⎢v ⎥ = ⎢b * •a * b * •b * b * •c *⎥ ⎢k ⎥ ⎢ ⎥ ⎢ ⎥⎢ ⎥ ⎢w ⎦ ⎥ ⎣ ⎢c * •a * c * •b * c * •c *⎦ ⎥⎣ ⎢l ⎦ ⎥ ⎣
如果已知正点阵中某一方向[uvw]的指数,求与其垂直的晶面指数(hkl)。 按倒易点阵的定义,同样有 ua + vb + wc = ha* + kb* + lc* 将上式两边点乘a、b、c,有: h = a•a u + a•b v + a•c w k = b•a u + b•b v + b•c w l = c•a u + c•b v + c•c w 上述三个式子可写成矩阵形式:

XRD的原理及应用ppt课件

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三、X射线衍射方法
• X 射线的波长较短, 大约在10- 8~ 10- 10cm 之间。与晶体中的原子间距数量级相同, 因 此可以用晶体作为X 射线的天然衍射光栅, 这就使得用X射线衍射进行晶体结构分析成 为可能。在研究晶体材料时,X射线衍射方 法非常理想非常有效,而对于液体和非晶 态物固体,这种方法也能提供许多基本的 重要数据。所以X射线衍射法被认为是研究 固体最有效的工具。在各种衍射实验方法 中,基本方法有单晶法、多晶法和双晶法。
衍射),已成为近代X射线衍射技术取得突出成 就的标志。但在双晶体衍射体系中,当两个晶体 不同时,会发生色散现象。因而,在实际应用双 晶衍射仪进行样品分析时,参考晶体要与被测晶
体相同,这使得双晶衍射仪的使用受到限制。
.
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四、X射线衍射的应用
• X射线衍射技术发展到今天, 已经成为最基 本、最重要的一种结构测试手段, 其主要应 用主要有物相分析 、 精密测定点阵参数、 应力的测定、晶粒尺寸和点阵畸变的测定、 结晶度的测定 、 晶体取向及织构的测定
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德拜相机
德拜相机结构简单,主 要由相机圆筒、光栏、 承光管和位于圆筒中心 的试样架构成。相机圆 筒上下有结合紧密的底 盖密封,与圆筒内壁周 长相等的底片,圈成圆 圈紧贴圆筒内壁安装, 并有卡环保证底片紧贴 圆筒。
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X射线衍射仪法
• X射线衍射仪法以布拉格实验装置为原型,融合了机械与 电子技术等多方面的成果。衍射仪由X射线发生器、X射 线测角仪、辐射探测器和辐射探测电路4个基本部分组成, 是以特征X射线照射多晶体样品,并以辐射探测器记录衍 射信息的衍射实验装置。现代X射线衍射仪还配有控制操 作和运行软件的计算机系统。

XRD简介及应用 ppt课件

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2.2 X射线的本质、能量
X射线本质上和无线电波、可见光、射线一样,也是 一种电磁波,具有波粒二象性。其波长在0.01~10nm之 间,介于紫外线和射线之间,但没有明显的界限。其 短波段与射线长波段相重叠,其长波段则与紫外线的 短波段相重叠。
γ射线
X射线
UV
IR
可见光
微波
无线电波
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2021/3/26
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2.5.1 X射线的吸收
当X射线穿过物质时,由于受到散射,光电效应等 的影响,强度会减弱,这种现象称为X射线的衰减。
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2.4.1 连续X射线谱
为什么会出现连续X射线谱呢?
我们假设管电流强度为10mA,即0.01C/s,电子电 荷为1.6×10-19C,则一秒钟时间内到达阳极靶上的电子 数目为:
n=0.01/1.6×10-19=6.25×1016
此时它的能量为:
可发现最短波长只与管压有关。
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连续X射线谱是由某一短波限开始的一系列连续波长组 成。它具有如下的规律和特点:
(1)、当增加X射线管的加速电压时,各波长射线的 相对强度一致增高,最大强度波长λm和短波限λ0变小。 (2)、当管压保持不变,增加管的电流时,各种波长 的X射线相对强度一致增高, 但λm和短波限λ0数值大 小不变。
我们再按电子跃迁时所跨越的能级数目的不同 把同一辐射线系分成几类,对跨越1,2,3…..个能 级所引起的辐射分别标以, , 等符号。电子由 LK,M K跃迁(分别跨越1、2个能级)所引起 的K系辐射定义为K, K线。

XRD的原理、方法及应用 ppt课件

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样品中晶体学取向与样品外坐 标系的位向关系。一般用劳厄 法单晶定向,其根据是底片上 劳埃斑点转换的极射赤面投影 与样品外坐标轴的极射赤面投 影之间的位置关系。(透射/ 背射)
X射线单晶衍射仪
XRD的应用
• 多晶材料中晶粒取向沿一定方位偏聚的现象称为织 构,常见的织构有丝织构和板织构两种类型。
• 为反映织构的概貌和确定织构指数,有三种方法描 述织构:极图、反极图和三维取向函数。
便携式XRD应力测试仪
XRD的应用
• 4、晶粒尺寸和点阵畸变的测定 • 在晶粒尺寸和点阵畸变测定过程中,需要做的工作
有两个:⑴ 从实验线形中得出纯衍射线形,最普 遍的方法是傅里叶变换法和重复连续卷积法。⑵ 从衍射花样适当的谱线中得出晶粒尺寸和缺陷的信 息。
XRD的应用
• 5、单晶取向和多晶织构测定 • 单晶取向的测定就是找出晶体
• 2. 1912年,德国,劳厄,第一张X射线衍射花样, 晶体结构,电磁波,原子间距,劳厄方程;
• 1913-1914年,英国,布拉格父子,布拉格方程( 2dsinθ=nλ),晶体结构分析;
• 3. 1916年,德拜、谢乐,粉末法,多晶体结构分析 ;
• 4. 1928年,盖格,弥勒,计数管,X射线衍射线强 度,衍射仪。
材料表征概述
• 以纳米粉体材料为例,常用的表征手法如下图所示 :
材料表征概述
• XRD即X-Ray Diffraction(X射线衍射)的缩写。通 过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得 材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等 信息的研究手段。
X射线衍射仪
材料表征概述
• 1. 1895年,德国,伦琴,发现,医疗,第一个诺贝 尔物理奖;
• 然而,如果为了研究样品的某一特征衍射,择优取 向却是十分有用的,此时,制样将力求使晶粒高度 取向,以得到某一晶面的最大强度。

中科院老师课件详细的XRD

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爱瓦尔德图解
特点:由于入射线包含波长连续的谱线,且晶体固定不动,根据布拉格方程,其各组晶面都在确定的衍射角下选择适当波长的X射线发生衍射。

只要点阵和取向相同,即使是晶格常数不同的晶体也会得到相同的劳埃衍射花样。

所以,劳埃衍射只反映晶体结构的特点,不能给出晶胞尺寸的信息。

线。

在非常巧合的情况下,可以得到直线。

Al单晶的劳埃衍射斑点
单晶CVD金刚石的劳埃衍射斑点
劳埃衍射图案形成:
应用:劳埃衍射的主要应用是单晶定向。

这个应用的关键是将劳埃斑点转化为
相应的衍射面和晶带轴的极点,并指标化。

面的极点。

第二节转晶法(0.5学时)。

XRD介绍_PPT课件

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• 与德拜法不同的实验参数是狭缝光栏、时 间常数和扫描速度。
实验条件选择 (二)实验参数选择
• 防散射光栏与接收光栏应同步选择。 • 选择宽的狭缝可以获得高的X射线衍射强度,但
分辨率要降低;若希望提高分辨率则应选择小的 狭缝宽度。 • 扫描速度是指探测器在测角仪圆周上均匀转动的 角速度。扫描速度对衍射结果的影响与时间常数 类似,扫描速度越快,衍射线强度下降,衍射峰 向扫描方向偏移,分辨率下降,一些弱峰会被掩 盖而丢失。但过低的扫描速度也是不实际的。
• X射线衍射仪的主要组成部分 有X射线衍射发生装置、测角 仪、辐射探测器和测量系统 ,除主要组成部分外,还有 计算机、打印机等。
广角测角仪和标准样品台
两种几何光路
Bragg-Brentano Geometry 1.扫描范围 2. 步长 3.扫描速度
两种几何光路
Parallel Beam Geometry 1.掠射角大小
定的强度比: (Cu,K1):
(Cu,K2)=0.497 (Cu,K1):
K K
L1 L2 L3 K L系
nL =层2 n=1
(Cu,K1)=0.200
K系
K层
原 子 能 级 跃 迁 时 产 生 X-Ray的 情 况
C u 15 4. 056 pm ; C u 15 4. 439 pm ; C u 139 .222p m
主要问题 • 什么是XRD • 为什么要做XRD • XRD的结果能说明什么问题
1
Background of XRD
Röntgen or Roentgen ray (X ray)
1895年11月8日,德国物理学家伦琴在研究真 空管的高压放电时,偶然发现镀有氰亚铂酸钡 的硬纸板会发出荧光。这一现象立即引起的细 心的伦琴的注意。经仔细分析,认为这是真空 管中发出的一种射线引起的。于是一个伟大 的发现诞生了。由于当时对这种射线不了解, 故称之为x射线。后来也称伦琴射线。

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实验室衍射仪常用的粉末样品形状为平板形。其支承粉末制品的支架有两 种,即透过试样板和不透CP)
测角仪工作原理:
粉末衍射仪核心部件是测角仪
X 光管 固定
粉末衍射仪常见相分析测试图谱(SiO2)
140 120 100 80
粉末衍射仪的工作方式
连续式扫描和步进式扫描
60 40 20 0 15 25 35 45 55 65 75 85
连续扫描 连续扫描就是让试样和探测器以1:2的角速度作匀速圆周运动,在 转动过程中同时将探测器依次所接收到的各晶面衍射信号输入到记录系 统或数据处理系统,从而获得的衍射图谱。下图即为连续扫描图谱。
第三节 粉末法
一、照相法 1、德拜相机法 2、聚焦法 二、衍射仪法 1、粉末衍射仪 2、粉末衍射仪的测试图谱 3、样品制备
实验方法 粉末法 劳厄法 转晶法 所用 辐射 单色辐射 连续辐射 单色辐射
最基本的衍射实验方法有:粉末法、劳厄法、转晶法三种 三种基本衍射实验方法
样品 多晶或晶 体粉末 单晶体 单晶体 照相法 样品转动或固 定 样品固定 样品转动或固 定 德拜照 相机 劳厄相 机 转晶-回 摆照相 机 衍射仪法 粉末衍射仪 单晶或粉末 衍射仪 单晶衍射仪
衍射仪所能进行的工作
判定有无谱峰—准晶质、非晶质
样品制备
对于粉末样品,通常要求其颗粒平均粒径控制在5μm左右,亦即通过 320目的筛子,而且在加工过程中,应防止由于外加物理或化学因素而 影响试样其原有的性质。
样品方位与强度变化(取向) 集合组织 纤维组织 极图
峰位 面间距d → 定性分析 点阵参数 d漂移 → 残余应力 固溶体分析
半高宽 结晶性 微晶尺寸 晶格点阵
强 度
非晶质的积分强度 结晶质的积分强度 定量分析

XRD培训ppt

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连续X射线
具有连续波长的X射线,构成连续X射线谱, 它和可见光相似,亦称多色X射线。
Intensity
50 kV
2
40 kV
1
30 kV
20 kV
0 0.0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0
wavelength
产生机理 短波限 X射线的强度
短波限
连续X射线谱在短波方向有一个波长极限,称为短波 限λ0。它是由电子一次碰撞就耗尽能量所产生的X射 线。它只与管电压有关,不受其它因素的影响。
积上发射出X射线。
D8 advance衍射仪中:
线焦斑面积:0.4*12mm
X射线谱
X射线谱指的是X射线的强度随波长变化的关系曲线。X 射线强度大小由单位面积上的光量子数决定。
由X射线管发射出来的X射线可以 分为两种类型:
(1)连续(白色)X射线 (2)特征(标识)X射线 连续辐射,特征辐射
发散狭缝
索拉狭缝 防散射狭缝
发散狭缝 防散射狭缝
D8 可以轻松的实现聚焦光和平行光的转换
实际测试过程参数的设置
1. 狭缝越大,强度越大,但是分辨率越低。
2.
1.2S dewell time 0.1S dewell tim
实际的测试过程中要注意的问题
(1). 过小的样品对于衍射测试的影响: 实际测试样品尺寸随着角度的变化曲线:
X射线衍射技术的主要应用领域
1,晶体结构分析:人类研究物质微观 结构的第一种方法。 2,物相定性分析 3,物相定量分析 4,晶粒大小分析 5, 非晶态结构分析,结晶度分析 6,宏观应力与微观应力分析 7,择优取向分析
伦 琴
产生原理
高速运动的电子与物体碰撞时,发生能量转换,电子 的运动受阻失去动能,其中一小部分(1%左右)能 量转变为X射线,而绝大部分(99%左右)能量转变 成热能使物体温度升高。

XRD课件

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在后来得到了证实。发现 X 射线的
当年,他就用 X 射线拍摄了手的照
散射体: 悬浮在液体中的微粒
0值
片,显示了 X 射线在医学和工程探
伤上的应用潜力。
散射体
英国巴克拉(C.G.Barkla)认 为 X 射线是电磁辐射的一种形态, 本质上是一种电磁波,他在 1905 年进行了 X 射线的散射实验,证明 X 射线具有光的特性。
瑞典 M. Siegbahn 对 X 射线进行了全面深入地研究,各谱线实际上由多条谱线组成, 分别叫做 K,L,M,N,O,……线系。
5
K线系 L线系
M线系
nlj
瑞典 M. Siegbahn 对 X 射线进行 了全面深入地研究,各谱线实际上由 多条谱线组成,分别叫做 K,L,M, N,O,……线系。
§5.X 射线与物质的相互作用
1. 相干散射
只改变方向、不改变波长的散射叫做相干散射,又叫弹性散射。相干散射满足 Bragg 定律,是材料结构分析的基础。
2. 非相干散射
1912 年 Compton 发现,X 射线与原子的外层电子 λ 碰撞时,使外层电子脱离原子并带走了入射光子的部 分能量,这种脱离原子的电子叫做 Compton 电子, 又叫做反冲电子。入射光子在碰撞后不仅损失了部分
§2.X 射线衍射的发现
0值
散射体
电矢量 图 1-1 散射体对 X 射线的散射 在与入射线成直角的方向上,散射线发生偏振
2
1912 年德摹尼黑大学劳厄(M.Von Laue)提出 X 射线的波长线度小于晶体中原子间
的距离, X 射线可以被晶体衍射。在他的提议下,Fridrich 和 Knipping 先后用硫酸铜
6
发出的量子数目多,使Kα线的强度比Kβ线大得多。

XRD测量及原理ppt课件

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PDF卡片
各种已知物相衍射花样的规范化工作于1938年由 哈那瓦特(J. D. Hanawalt)开创。
他的主要工作是将物相的衍射花样特征(位置与强 度)用d(晶面间距)和I(衍射线相对强度)数据组表 达并制成相应的物相衍射数据卡片。
卡片最初由“美国材料试验学会(ASTM)”出版, 称ASTM卡片。
1969年成立了国际性组织“粉末衍射标准联合会 (JCPDS)”,由它负责编辑出版“粉末衍射卡片”, 称PDF卡片。
经营者提供商品或者服务有欺诈行为 的,应 当按照 消费者 的要求 增加赔 偿其受 到的损 失,增 加赔偿 的金额 为消费 者购买 商品的 价款或 接受服 务的费 用
经营者提供商品或者服务有欺诈行为 的,应 当按照 消费者 的要求 增加赔 偿其受 到的损 失,增 加赔偿 的金额 为消费 者购买 商品的 价款或 接受服 务的费 用
五、X-射线衍射分析应用
物相分析
单一物相的鉴定或验证 定性分析
混合物相的鉴定 定量分析
等效点系的测定 晶体结构分析 晶体对称性(空间群)的测定
晶粒度测定 晶体定向 宏观应力分析
点阵常数(晶胞参数)测定
经营者提供商品或者服务有欺诈行为 的,应 当按照 消费者 的要求 增加赔 偿其受 到的损 失,增 加赔偿 的金额 为消费 者购买 商品的 价款或 接受服 务的费 用
波长为
的入射束分别照射到处于相邻晶
面的原子上,晶面间距为d,在与入射角相等
的反射方向上产生其散射线。当光程差等于波
长的整数倍 n 时,光线就可以出现干涉加强,
即发生衍射。 衍射线的方向恰好等于原子面对
入射线的反射,所以才借助镜面反射规律来描
述 X 射线的衍射几何。必须注意, X 射线的

XRD技术介绍PPT课件

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K系射线中,Kα射线相当于电子由L层跃迁到K层产生的射线,在特征X射线 中K系射线强度远远高于L、M等线系,而K系中Kα1、Kα2、Kβ1的强度比一 般为100:50:22。Kα1与Kα2非常接近,二者很难分离,所谓的Kα实际是二者 的统称,而Kβ1则通常称为Kβ。 Cu的特征谱线波长为:Kα1 =1.54056Å,Kα2 =1.54439Å,Kβ1 =1.39222Å 对于Cu靶,Kα波长取Kα1与Kα2的加权平均值为1.54184Å。
• 产生K系激发要阴极电子的能量eVK至少 等于击出一个K层电子所作的功WK。VK 就是激发电压。
莫塞莱定律
• 标识X射线谱的频率和波长只取决于阳极靶 物质的原子能级结构,是物质的固有特性。 且存在如下关系:
• 莫塞莱定律:标识X射线谱的波长λ与原子 序数Z关系为:
1 CZ
• 特征X射线波长与靶材料原子序数关系
φ O. φ d A . φ. .B
C
d
晶面间距
φ
掠射角
光程差 : δ = AC + CB = 2dsinφ
The condition of a constructive interference:
2dsink(k1.2.3 )
This relation is called Bragg’s law.
1915 物理
亨利.布拉格Henry Bragg 劳伦斯.布拉格Lawrence Bragg.
1917 物理
巴克拉Charles Glover Barkla
1924 物理
卡尔.西格班Karl Manne Georg Siegbahn
1937 物理
戴维森Clinton Joseph Davisson 汤姆孙George Paget Thomson

X射线衍射分析(XRD)PPT课件

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1845——1923) 面有广泛应用,因此而获得1901年诺贝尔物
理奖。 2021
4
X射线衍射技术的主要应用领域
1,晶体结构分析:人类研究物质微观
结构的第一种方法。
2,物相定性分析 3,物相定量分析
4,晶粒大小分析 5, 非晶态结构分析,结晶度分析
6,宏观应力与微观应力分析 7,择优取向分析
2021
50
40 Mo
30 Cu
Ka 1
20
10 1.0 1.2 1.4 1.6 1.8 2.0 2.2
1/2 (109 Hz1/2)
1 CZ
K1: C=3*103 =2.9
2021
C1Z
K1: C1=5.2*107 =2.9
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产生机理
• 特征X射线谱的产生机理与阳极物质的原子内 部结构紧密相关的。
2021
30
当增加X射线管的电压,连续X射线谱有下列特征
1,各种波长的X射线的 相对强度一致增高, 2,最高强度的射线的波 长逐渐变短(曲线的峰 向左移动), 3,短波极限逐渐变小, 即0向左移动, 4,波谱变宽。
Intensity
50 kV
2
40 kV
1
30 kV
20 kV
0 0.0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0

相互关系为:
eV
hmax
hc
0
或者
0
hc eV
• 式中 e —电子电荷,等于 1.61019C(库仑)
• V—管电压
• h—普朗克常数,等于 6.6251034js
2021
27
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中科院老师课件详细的XRD

中科院老师课件详细的XRD
物相定量分析 物相定量分析
原理: 衍射线的强度或相对强度与物相在样品中的含量相关 原理:
X K
基础理论公式(粉末平板状样品): 基础理论公式(粉末平板状样品)
历史: 1)1936 年,矿粉中石英含量的X射线定量分析 历史: 2)1948年,Alexander提出了著名的内标法理论; 3)1974年,Chung等提出了著名的基体冲洗法(K值法), 其后又提出了绝热法; 4)Hubbard、刘沃恒等还提出了其它分析方法。 5)Rietveld全谱拟合无标样定量分析。
对于同一张衍射谱的各线,X是相同的;对于混合物中的第j相的某个 晶面的相对积分强度Ij 则有:
Ij =
Kj•Xj ρj•µm
A=1/2 注:在衍射仪中A=1/2 µl;V是衍射体积 。 A=1/2µ V
Xj:j相在混合相中的重量百分数; ρj: j相的密度;µm: 混合物的质量吸收系数;Kj:强度因子
物相定量分析的直接对比法 物相定量分析的直接对比法
方法: 1、直接对比法 2、外标法 3、内标法
此法是以两相的衍射强度比为基础,强度参此量通 过理论计算。适用于淬火钢中残余奥氏体的测定和其 它种同类异型转变。 1.基本计算公式 如待测试样中含有n个相,它的体积分数为 Vj,各相 含量的总和等于1 n ∑ Vi = 1 (6) i =1 可写出n个强度方程
Ki ∑
i =1
Ii Ki
物相定量分析的外标法 物相定量分析的外标法 采用对比试样中第j 相的某衍射线和纯j相(外标物 质)的同一条衍射线强度而获得样品中第j相的含量; 原则上只适于含两相物质系统的含量测试
两相系统中只要已知各相的质量吸收系数,在实验测试条件严格一致 的情况下,分别测试得某相的一衍射线强度及对应的该纯相相同衍射线强 度,即可获得待测试样中该相的含量。
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I p = I0 ⋅
e4 1+ cos2 2θ ⋅ 4 4 mC R 2
2
Eox X
X
推导过程: 1. 强度为I0且偏振化了的X射线作用于一个 电荷为e、质量为m的自由电子上,那么 在与偏振方向夹角为Φ、距电子R远处, 散射强度Ie为:
2.
而事实上,射到电子上的X射线是非 偏振的,引入偏振因子,则有:
• 材料晶体结构
– 材料晶体结构不可能是尺寸 无限大的理想完整晶体。实 际上是一种嵌镶结构 – 镶嵌结构模型认为,晶体是 由许多小的嵌镶块组成的, 每个块大约10-4cm,它们之 间的取向角差一般为 1~30分。 每个块内晶体是完整的,块 间界造成晶体点阵的不连续 性
• 材料晶体结构
– 在入射线照射的体积中可能 包含多个嵌镶块。因此,不 可能有贯穿整个晶体的完整 晶面
• 体心点阵
– 分析
• 当H+K+L为偶数时, • 当H+K+L为奇数时,
结论: 在体心点阵中,只有当 H+K+L为偶数时 才能产生衍射
• 面心点阵
– 每个晶胞中有 4个同类原子
• 面心点阵
– 分析
• 当H、K、L全为奇数或偶数时,则(H+K)、 (H+K)、(K+L)均为偶数,这时:
• 当H、K、L中有2个奇数一个偶数或2个偶数1个奇数 时,则(H+K)、(H+L)、(K+L)中总有两项为 奇数一项为偶数,此时:
第六节晶体衍射强度
1.一个电子对 X射线的散射 2.一个原子对 X射线的散射 3.一个单胞对 X射线的散射 4.一个小晶体对 X射线的散射 5.粉末多晶体的 HKL面的衍射强度
Z
一个电子对X射线的散射
Eoz Ez’ E0 r I0 O 2θ E P Ex Y
一 束 X 射 线 沿 OX 方 向 传 播,P点碰到电子发生散 射,那么距O点距离OP=R、 OX 与 OP 夹 2 θ 角的 P 点的散 射强度为:
• 底心点阵
– 分析:
• 当H+K为偶数时,即H,K全为奇数或全为偶数:
• 当H+K为奇数时,即H、K中有一个奇数和一个偶数:
�结论 �在底心点阵中, FHKL不受L的影响,只有当 H、 K全为奇数或全为偶数时才能产生衍射
• 体心点阵
– 每个晶胞中有 2个同类原子,其坐标为 000和 1/2 1/2 1/2 ,其原子散射因子相同
一个原子对X射线的散射 • 讨论对象及结论: 一个电子对X射线散射后空间某点 强度可用Ie表示,那么一个原子对X射线 散射后该点的强度: 2
Ia = f ⋅ Ie
这里引入了f――原子散射因子
I p = I0 ⋅
m 2C 4

2
推导过程: 一个原子包含Z个电子,那么可看成Z个 电子散射的叠加。 (1)若不存在电子散射位相差:
j =1
F HKL =
i⋅φ j
引入结构参数 :
Ab = Ae
n

f j ⋅e
i ⋅φ
j
j =1
可知晶胞中(H K L)晶面的衍射强度
• • • •
关于结构因子 产生衍射的充分条件及系统消光 结构消光 结构因子与倒易点阵的权重
I a = FHKL
2
⋅Ie
关于结构因子:
因为ϕ .
j
= 2π (HX j + KY j + LZ j )
产生衍射的充分条件: 满足布拉格方程且FHKL≠0。 由于FHKL=0而使衍射线消 失的现象称为系统消光, 它分为:点阵消光 结构消光。 四种基本点阵的消光规律 (图表)
其中:Xj、Yj、Zj是j原子的阵点坐标; H K L是发生衍射的晶面。 所以有: n 2
2 ⎧ ⎫ FHKL = ⎨∑ f j cos 2π (HX j + KY j + LZ j )⎬ ⎩ j =1 ⎭
⎧n ⎫ + ⎨∑ f j sin 2π (HX j + KY j + LX j )⎬ ⎩ j =1 ⎭
2
四种基本点阵的消光规律
布拉菲点 阵 简单点阵 底心点阵 出现的反射 全部 H、K全为奇数或全为偶数 消失的反射 无
• 简单点阵的系统消光
– 在简单点阵中,每个阵胞中只包含一个原子, 其坐标为000,原子散射因子为 fa – Fhkl为:
• 结构消光
– 金刚石结构
• 前4项为面心点阵的结构因子,用FF表示,后4项可 提出公因子。得到:
• 结构消光
– 金刚石结构
• 用欧拉公式,写成三角形式:
• 分析:
– 当H、K、L为异性数(奇偶混杂)时,
• 结构消光
– 金刚石结构
– 当H、K、L全为偶数时,并且 H+K+L=4n时
• 结构消光
�结论 �金刚石结构属于面心立方点阵,凡是H、K、
指数 晶系 立方
菱方、六方
H00 0K0 00L HHH HH0 HK0 0KL H0L HHL HKL
P 6 6 4 2 2 2 4 2 2 2 8 12 6 4 8 4 2 24 12 8 24 48 24 16 8 4 2
正方 斜方 单斜 三斜
粉末多晶体衍射强度表示为:
小结: 1、晶体的 X-射线衍射,只有同时满 足布拉格定律和结构因子 F≠0时才能 出现。 2、X-射线衍射的消光包括点阵消光 和因附加原子造成的结构消光。
I晶粒 = I e
λ3 1 V 2 ⋅ ⋅ ⋅ FHKL Vc sin 2θ V胞
∆q ∆S 2πr ∗ Sin(90 − θ ) r ∗ dα Cosθ = = = dα q S 4π (r ∗ ) 2 2
• 多重因子
各晶面族的多重因子列表
在多晶体衍射中同一晶面族{HKL} 各等同晶面的面间距相等,根据布拉格 方程这些晶面的衍射角2 θ都相同,因 此,等同晶面族的反射强度都重叠在一 个衍射圆环上。把同族晶面{HKL}的等同 晶面数P称为衍射强度的多重因子。各晶 系中的各晶面族的多重因子列于表中。 各晶面族的多重因子列表.
– 当H、K、L全为偶数且H+K+L≠4n时
L不为同性数的反射面都不能产生衍射 �由于金刚石型结构有附加原子存在,有另外 的3种消光条件
• 结构消光
– 密堆六方结构
• 每个平行六面体晶胞中有2个同类原子,其坐标为 000,1/3 2/3 1/2
• 结构消光
– 密堆六方结构
• 结构消光
– 密堆六方结构
• 结构消光
– 密堆六方结构
• 结构消光
– 密堆六方结构
• 结构消光
– 密堆六方结构 – 不能出现 ((h+2k)/3为整数
�结论: �密堆六方结构的单位平行六面体晶胞中的两个原 子,分别属于两类等同点。所以,它属于简单六方 结构,没有点阵消光。只有结构消光
且l为奇数的晶面 衍射
一个小晶体对X射线的衍射
• 结构消光 • 结构消光
由两种以上等同点构成的点阵结构来说,一方 面要遵循点阵消光规律,另一方面,因为有附 加原子的存在,还有附加的消光,称为 结构消 光 这些消光规律,存在于金刚石结构、密堆六方等 结构中 – 金刚石结构
• 每个晶胞中有8个同类原子,坐标为000、1/2 1/2 0,1/2 0 1/2,0 1/2 1/2,1/4 1/4 1/4,3/4 3/4 ¼, 3/4 ¼ 3/4 ,1/4 3/4 3/4
• 面心点阵
– 结论
• 在面心立方中,只有当H、K、L全为奇数或全为偶 数时才能产生衍射。如Al的衍射数据:
• 消光规律与晶体点阵
– 结构因子中不包含点阵常数。因此,结构因子 只与原子品种和晶胞的位置有关,而不受晶胞 形状和大小的影响 – 例如:只要是体心晶胞,则体心立方、正方体 心、斜方体心,系统消光规律是相同的
其中f与θ有关、与λ有关。散射强度:
Ae 、f2 Ae 、f3
I a = Aa = f 2 ⋅ I e
(f总是小于Z)
Ae ...fn Ae ;
各原子与O原子之间的散射波光程差为:
Φ1 、Φ2 、Φ3 ... Φn ;
则该晶胞的散射振幅为这n种原子叠加:
n
结构因子FHKL 的讨论
Ab = Ae ∑ f j ⋅ e
一个单胞对X射线的散射
讨论对象及主要结论:
I = FHKL ⋅ I e
这里引入了
2
I a = (Z ⋅ Ae ) = Z 2 ⋅ I e
2
FHKL ――结构因子
其中Ae为一个电子散射的振幅。
推导过程: (2)实际上,存在位相差,引入原子散射 因子:
f =
Aa Ae
2
即 A a =f A e 。
假设该晶胞由n种原子组成,各原子的散射因 子为:f1 、f2 、f3 ...fn; 那么散射振幅为:f1
H、K奇偶混 杂 H+K+L为奇 H+K+L为偶数 体心点阵 数 H、K、L奇偶 面心点阵 H、K、L全为奇数或全为偶数 混杂
�结论:在简单点阵的情况下, 在简单点阵的情况下, FHKL不受HKL的 影响,即HKL为任意整数时,都能产生衍射
• 底心点阵
– 每个晶胞中有 2个同类原子,其坐标分别为 000 和1/2 1/2 0,原子散射因子相同,都为 fa
⎛ ⎞ e2 2 Ie = I0 ⋅ ⎜ ⎜ 4πε mRC 2 ⎟ ⎟ ⋅ sin φ 0 ⎝ ⎠
2
⎛ ⎞ 1 + cos 2 2θ e2 Ie = I0 ⋅ ⎜ ⎜ 4πε mRC 2 ⎟ ⎟ ⋅ 2 0 ⎝ ⎠
(θ表示强度分布的方向性)
2
公式讨论:
可见一束射线经电子散射后,其散射强 度在各个方向上是不同的:沿原X射线方 向上散射强度(2θ=0或2θ=π时)比垂 直原入射方向的强度(2θ=π/2时)大一 倍。 若只考虑电子本身的散射本领,即单位立 方体里对应的散射能量,OP=R=1, e 4 1 + cos 2 2θ 则有公式:
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